JPH1172537A - 回路基板検査用インデックスライブラリの作成方法 - Google Patents
回路基板検査用インデックスライブラリの作成方法Info
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- JPH1172537A JPH1172537A JP9247851A JP24785197A JPH1172537A JP H1172537 A JPH1172537 A JP H1172537A JP 9247851 A JP9247851 A JP 9247851A JP 24785197 A JP24785197 A JP 24785197A JP H1172537 A JPH1172537 A JP H1172537A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 基板毎のデータファイルを作成する際、基板
に実装されている部品の同一性等を考慮することによ
り、データ入力の負担を少なくして、インデックスライ
ブラリの作成時間を短縮化し、検査をスピード化する。 【解決手段】 基板ファイル作成時に、その基板に関す
る最小測定項目データを実装されている各部品毎のデー
タ群にまとめて部品ファイルをそれぞれ作成し、基板フ
ァイルを部品ファイルの集合体として構成し、その部品
ファイル作成時に、先にファイルを作成した部品と同一
部品に関するファイルを作成する場合には、先に作成し
た部品ファイルを複写して用いる。
に実装されている部品の同一性等を考慮することによ
り、データ入力の負担を少なくして、インデックスライ
ブラリの作成時間を短縮化し、検査をスピード化する。 【解決手段】 基板ファイル作成時に、その基板に関す
る最小測定項目データを実装されている各部品毎のデー
タ群にまとめて部品ファイルをそれぞれ作成し、基板フ
ァイルを部品ファイルの集合体として構成し、その部品
ファイル作成時に、先にファイルを作成した部品と同一
部品に関するファイルを作成する場合には、先に作成し
た部品ファイルを複写して用いる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＸ−Ｙ方式インサーキッ
トテスタ等の回路基板検査装置に用いるインデックスラ
イブラリの作成方法に関する。
トテスタ等の回路基板検査装置に用いるインデックスラ
イブラリの作成方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、実装基板即ち多数の電子部品等を
半田付けしたプリント基板はインサーキットテスタを用
いて、その基板の必要な測定点に適宜ピンプローブの先
端を接触させ、それ等の各部品の有無を電気的に検出
し、或いは各部品の特性値を電気的に測定して基板の良
否の判定を行っている。特に、Ｘ−Ｙ方式インサーキッ
トテスタでは被検査基板を載せて固定する測定台上にＸ
−Ｙユニットを設置し、そのＸ軸方向に可動するアーム
の上にＹ軸方向に可動するＺ軸ユニットを備え、そのＺ
軸ユニットでピンプローブをＺ軸方向に可動可能に支持
している。そして、検査時にはＸ−Ｙユニットを制御し
て、ピンプローブを基板の上方からＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方
向にそれぞれ適宜移動し、予め設定した各測定点に順次
接触する。しかも、検査時には通常１部品毎に複数個の
測定点を同時に測定しなければならないので、インサー
キットテスタに測定点の数に一致する複数個のＸ−Ｙユ
ニットを備え付け、各Ｘ−Ｙユニットを個々的に制御し
て、それ等に備えたピンプローブの移動をそれぞれ行な
っている。
半田付けしたプリント基板はインサーキットテスタを用
いて、その基板の必要な測定点に適宜ピンプローブの先
端を接触させ、それ等の各部品の有無を電気的に検出
し、或いは各部品の特性値を電気的に測定して基板の良
否の判定を行っている。特に、Ｘ−Ｙ方式インサーキッ
トテスタでは被検査基板を載せて固定する測定台上にＸ
−Ｙユニットを設置し、そのＸ軸方向に可動するアーム
の上にＹ軸方向に可動するＺ軸ユニットを備え、そのＺ
軸ユニットでピンプローブをＺ軸方向に可動可能に支持
している。そして、検査時にはＸ−Ｙユニットを制御し
て、ピンプローブを基板の上方からＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方
向にそれぞれ適宜移動し、予め設定した各測定点に順次
接触する。しかも、検査時には通常１部品毎に複数個の
測定点を同時に測定しなければならないので、インサー
キットテスタに測定点の数に一致する複数個のＸ−Ｙユ
ニットを備え付け、各Ｘ−Ｙユニットを個々的に制御し
て、それ等に備えたピンプローブの移動をそれぞれ行な
っている。
【０００３】このようなＸ−Ｙ方式インサーキットテス
タを用いて基板の検査を行なう場合、キーボードに備え
られている数字キー、文字キー、ファンクションキー等
を操作して手入力により、検査の対象となる一基板に実
装されている複数の各部品の最小測定単位に関する項目
データを測定順に従って配列して書き込み、表１に示す
ようなデータファイルを作成して使用する。
タを用いて基板の検査を行なう場合、キーボードに備え
られている数字キー、文字キー、ファンクションキー等
を操作して手入力により、検査の対象となる一基板に実
装されている複数の各部品の最小測定単位に関する項目
データを測定順に従って配列して書き込み、表１に示す
ようなデータファイルを作成して使用する。
【表１】
【０００４】なお、Ｓは最小測定単位を示すステップ欄
であり、その欄に記入した番号は最小測定単位の測定順
位を示す。又、名前欄に記入したＲ1 は部品が番号1の
抵抗であること、ＩＣ１1-2、……ＩＣ１11-12はＩＣ１
により部品が番号１のＩＣ（集積回路）であり、1-2、
……11-12等によりＩＣ１の各単位測定時にピンプロー
ブが接触すべきＩＣ１のピン番号が１と２、……１１と
１２であること、Ｃ１は部品番号１のコンデンサである
こと、Ｌ１は部品が番号１のコイルであることをそれぞ
れ示す。
であり、その欄に記入した番号は最小測定単位の測定順
位を示す。又、名前欄に記入したＲ1 は部品が番号1の
抵抗であること、ＩＣ１1-2、……ＩＣ１11-12はＩＣ１
により部品が番号１のＩＣ（集積回路）であり、1-2、
……11-12等によりＩＣ１の各単位測定時にピンプロー
ブが接触すべきＩＣ１のピン番号が１と２、……１１と
１２であること、Ｃ１は部品番号１のコンデンサである
こと、Ｌ１は部品が番号１のコイルであることをそれぞ
れ示す。
【０００５】又、モード欄に記入したＲ−ＤＣは抵抗に
直流を加えて測定を行なうこと、ＯＰＥＮはピン間のオ
ープン状態を測定すること、Ｃ−ＣＣはコンデンサに定
電流を流して測定を行なうこと、Ｃ−ＣＶはコイルに定
電圧を加えて測定を行なうことをそれぞれ示す。又、基
準値欄には各単位の測定時における基準となる抵抗、静
電容量、インダクタンス等の各値を示す。又、Ｈ座標欄
には各単位の測定時における高電位側ピンプローブのＸ
−Ｙ座標を示し、Ｌ座標欄には各単位の測定時における
低電位側ピンプローブのＸ−Ｙ座標を示す。因みに、各
最小測定単位毎に上下限値、各種設定値等の項目データ
を追加することもできる。
直流を加えて測定を行なうこと、ＯＰＥＮはピン間のオ
ープン状態を測定すること、Ｃ−ＣＣはコンデンサに定
電流を流して測定を行なうこと、Ｃ−ＣＶはコイルに定
電圧を加えて測定を行なうことをそれぞれ示す。又、基
準値欄には各単位の測定時における基準となる抵抗、静
電容量、インダクタンス等の各値を示す。又、Ｈ座標欄
には各単位の測定時における高電位側ピンプローブのＸ
−Ｙ座標を示し、Ｌ座標欄には各単位の測定時における
低電位側ピンプローブのＸ−Ｙ座標を示す。因みに、各
最小測定単位毎に上下限値、各種設定値等の項目データ
を追加することもできる。
【０００６】通常、このような一基板のデータファイル
（基板ファイル）は１０００〜２０００ステップある
が、他の異なる基板のデータファイルを作成する際に
も、同様にして各最小測定単位の項目データをそれぞれ
全て手入力によって書き込んでいる。その際、先に作成
した基板ファイルに書き込まれている部品のデータ例え
ばＩＣ１に関する最小測定項目データと同一データを後
に作成する基板ファイルに書き込む場合でも、部品毎の
データという概念がないため、その同一ＩＣに関する最
小測定項目データを全て新たに手入力によって書き込む
のがごく一般的である。
（基板ファイル）は１０００〜２０００ステップある
が、他の異なる基板のデータファイルを作成する際に
も、同様にして各最小測定単位の項目データをそれぞれ
全て手入力によって書き込んでいる。その際、先に作成
した基板ファイルに書き込まれている部品のデータ例え
ばＩＣ１に関する最小測定項目データと同一データを後
に作成する基板ファイルに書き込む場合でも、部品毎の
データという概念がないため、その同一ＩＣに関する最
小測定項目データを全て新たに手入力によって書き込む
のがごく一般的である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに最小測定単位毎にデータを扱うと、他の異なる基板
に同一の部品が実装されていて、同一の検査をしたいと
き等においても、各基板ファイルでデータが全て別扱い
になるため、一度入力したデータの再利用が不可能であ
り、データ入力の負担が大きく問題がある。
うに最小測定単位毎にデータを扱うと、他の異なる基板
に同一の部品が実装されていて、同一の検査をしたいと
き等においても、各基板ファイルでデータが全て別扱い
になるため、一度入力したデータの再利用が不可能であ
り、データ入力の負担が大きく問題がある。
【０００８】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、検査の対象となる複数の異なる
基板毎に検査に必要なデータファイルを作成する際、基
板に実装されている部品の同一性等を考慮することによ
り、データ入力の負担を少なくして、作成時間を短縮化
し、検査をスピード化できる回路基板用インデックスラ
イブラリの作成方法を提供することを目的とする。
てなされたものであり、検査の対象となる複数の異なる
基板毎に検査に必要なデータファイルを作成する際、基
板に実装されている部品の同一性等を考慮することによ
り、データ入力の負担を少なくして、作成時間を短縮化
し、検査をスピード化できる回路基板用インデックスラ
イブラリの作成方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による回路基板検査用インデックスライブラ
リの作成方法では、検査の対象となる複数の異なる各基
板毎に、その基板に実装した複数の各部品の最小測定単
位に関する項目データを測定順位に従い配列して基板フ
ァイルを作成し、複数の基板ファイルを備えるという手
順を踏む。そして、それ等の各基板ファイル作成時に、
その基板に関する最小測定項目データを各部品毎のデー
タ群にまとめて部品ファイルをそれぞれ作成し、基板フ
ァイルを部品ファイルの集合体として構成し、その部品
ファイル作成時に、先にファイルを作成した部品と同一
部品に関するファイルを作成する場合には、先に作成し
た部品ファイルを複写して用いる。
に、本発明による回路基板検査用インデックスライブラ
リの作成方法では、検査の対象となる複数の異なる各基
板毎に、その基板に実装した複数の各部品の最小測定単
位に関する項目データを測定順位に従い配列して基板フ
ァイルを作成し、複数の基板ファイルを備えるという手
順を踏む。そして、それ等の各基板ファイル作成時に、
その基板に関する最小測定項目データを各部品毎のデー
タ群にまとめて部品ファイルをそれぞれ作成し、基板フ
ァイルを部品ファイルの集合体として構成し、その部品
ファイル作成時に、先にファイルを作成した部品と同一
部品に関するファイルを作成する場合には、先に作成し
た部品ファイルを複写して用いる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、発明の実施の形態を説明す
る。図１は本発明を適用したＸ−Ｙ方式インサーキット
テスタの大略構成を示すブロック図である。このＸ−Ｙ
方式インサーキットテスタ１０は操作部１２、Ｘ−Ｙ−
Ｚ制御部１４、測定部１６、コントローラ１８等からな
る。そして、操作部１２にはキーボード、表示装置、プ
リンタ、フロッピーディスクドライバ等の入出力機器を
備える。又、Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部１４により例えば２組の
Ｘ−Ｙユニットにをそれぞれ制御する。なお、各Ｘ−Ｙ
ユニットのＺ軸ユニットにはピンプローブ２０（２０
ａ、２０ｂ）をそれぞれ備え付けておく。又、測定部１
６には一般的な電気的測定回路等を備え、適宜の直流電
圧等をピンプローブ２０に与えて、それ等が接触する電
子部品のリードやパターン等に流れる電流等を検出する
と、抵抗、静電容量、インダクタンス等の測定を行なえ
る。
る。図１は本発明を適用したＸ−Ｙ方式インサーキット
テスタの大略構成を示すブロック図である。このＸ−Ｙ
方式インサーキットテスタ１０は操作部１２、Ｘ−Ｙ−
Ｚ制御部１４、測定部１６、コントローラ１８等からな
る。そして、操作部１２にはキーボード、表示装置、プ
リンタ、フロッピーディスクドライバ等の入出力機器を
備える。又、Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部１４により例えば２組の
Ｘ−Ｙユニットにをそれぞれ制御する。なお、各Ｘ−Ｙ
ユニットのＺ軸ユニットにはピンプローブ２０（２０
ａ、２０ｂ）をそれぞれ備え付けておく。又、測定部１
６には一般的な電気的測定回路等を備え、適宜の直流電
圧等をピンプローブ２０に与えて、それ等が接触する電
子部品のリードやパターン等に流れる電流等を検出する
と、抵抗、静電容量、インダクタンス等の測定を行なえ
る。
【００１１】又、コントローラ１８にはそれ等の操作部
１２、Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部１４、測定部１６等を制御する
ため、ＣＰＵ（中央処理装置）、ＲＯＭ（読み出し専用
メモリ）、ＲＡＭ（読み出し書き込み可能メモリ）、入
出力ポート、バスライン等から構成されているマイクロ
コンピュータを用いる。なお、ＣＰＵはマイクロコンピ
ュータの中心となる頭脳部に相当し、プログラムの命令
に従って全体に対する制御を実行すると共に、算術、論
理演算を行ない、その結果も一時的に記憶する。又、周
辺装置に対しても適宜制御を行なっている。ＲＯＭには
Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタの全体を制御するため
の制御プログラム等が格納されている。又、ＲＡＭは外
部から入力したデータ、各ピンプローブ２０を用いて検
出したデータ、それ等のデータからＣＰＵで演算したデ
ータ等の各種データを記憶する。
１２、Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部１４、測定部１６等を制御する
ため、ＣＰＵ（中央処理装置）、ＲＯＭ（読み出し専用
メモリ）、ＲＡＭ（読み出し書き込み可能メモリ）、入
出力ポート、バスライン等から構成されているマイクロ
コンピュータを用いる。なお、ＣＰＵはマイクロコンピ
ュータの中心となる頭脳部に相当し、プログラムの命令
に従って全体に対する制御を実行すると共に、算術、論
理演算を行ない、その結果も一時的に記憶する。又、周
辺装置に対しても適宜制御を行なっている。ＲＯＭには
Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタの全体を制御するため
の制御プログラム等が格納されている。又、ＲＡＭは外
部から入力したデータ、各ピンプローブ２０を用いて検
出したデータ、それ等のデータからＣＰＵで演算したデ
ータ等の各種データを記憶する。
【００１２】このようなＸ−Ｙ方式インサーキットテス
タ１０を用いて、複数通常は多数の異なる基板を検査す
る場合、先に検査用のインデックスライブラリを作成
し、フロッピーディスク等のメディアに記録する。その
際、検査の対象となる複数の異なる各基板毎にデータフ
ァイルの作成を行なうが、最初の基板についてデータフ
ァイルを作成する時、その基板上に例えば抵抗Ｒ１、集
積回路ＩＣ１、コンデンサＣ１、コイルＬ１等のいずれ
も異なる電子部品が実装されている場合、その基板に関
する最小測定単位項目データを測定順に従って全て手入
力により、表２の部品欄の番号で示すように各部品毎の
データ群にまとめて部品ファイルをそれぞれ作成し、４
つの部品ファイルから基板ファイルを構成する。なお、
この表２に示す基板ファイルは表１の基板ファイルに対
応するものであり、フォーマットを変換するだけで簡単
に作成できる。
タ１０を用いて、複数通常は多数の異なる基板を検査す
る場合、先に検査用のインデックスライブラリを作成
し、フロッピーディスク等のメディアに記録する。その
際、検査の対象となる複数の異なる各基板毎にデータフ
ァイルの作成を行なうが、最初の基板についてデータフ
ァイルを作成する時、その基板上に例えば抵抗Ｒ１、集
積回路ＩＣ１、コンデンサＣ１、コイルＬ１等のいずれ
も異なる電子部品が実装されている場合、その基板に関
する最小測定単位項目データを測定順に従って全て手入
力により、表２の部品欄の番号で示すように各部品毎の
データ群にまとめて部品ファイルをそれぞれ作成し、４
つの部品ファイルから基板ファイルを構成する。なお、
この表２に示す基板ファイルは表１の基板ファイルに対
応するものであり、フォーマットを変換するだけで簡単
に作成できる。
【表２】
【００１３】次に、他の異なる基板についてデータファ
イルを作成する時には、図２に示すように今入力しよう
としている部品が先にファイルを作成した部品と異なる
新規のものか判定する。異なる場合にはＹＥＳとなり当
然手入力するが、同一の場合にはＮＯとなり部品ファイ
ルキーを押し、今メディアに入っている部品ファイルの
一覧を表示する。そして、カーソルを移動しその位置に
より、例えば表２の部品ファイル２を選択し自動入力す
る。同様にして、更に他の異なる基板についても順次デ
ータファイルを作成していく。なお、最初の基板ファイ
ル作成時にも、今入力しようとしている部品が先にファ
イルを作成した部品と同一かの判定を常に行ない、同一
の場合には同様にして部品ファイルの自動入力を行なえ
る。
イルを作成する時には、図２に示すように今入力しよう
としている部品が先にファイルを作成した部品と異なる
新規のものか判定する。異なる場合にはＹＥＳとなり当
然手入力するが、同一の場合にはＮＯとなり部品ファイ
ルキーを押し、今メディアに入っている部品ファイルの
一覧を表示する。そして、カーソルを移動しその位置に
より、例えば表２の部品ファイル２を選択し自動入力す
る。同様にして、更に他の異なる基板についても順次デ
ータファイルを作成していく。なお、最初の基板ファイ
ル作成時にも、今入力しようとしている部品が先にファ
イルを作成した部品と同一かの判定を常に行ない、同一
の場合には同様にして部品ファイルの自動入力を行なえ
る。
【００１４】このようにして、異なる基板ファイル間或
いは同一の基板ファイル内における部品ファイルの作成
時に、先にファイルを作成した部品と同一部品に関する
ファイルを作成する場合、実装されている部品の同一性
更には検査の同一性までも考慮して、部品ファイルを自
動入力により複写すると、データ入力の負担を少なく
し、短時間で検査に必要なインデックスライブラリを作
成できる。そこで、インデックスライブラリを用いて、
基板の検査を実施する。その後、このようなインデック
スライブラリは各基板ファイルからそこに含まれる部品
ファイルを適宜読み出して、新たな基板ファイルの作成
に用いることができるため、保存して再使用に備える。
いは同一の基板ファイル内における部品ファイルの作成
時に、先にファイルを作成した部品と同一部品に関する
ファイルを作成する場合、実装されている部品の同一性
更には検査の同一性までも考慮して、部品ファイルを自
動入力により複写すると、データ入力の負担を少なく
し、短時間で検査に必要なインデックスライブラリを作
成できる。そこで、インデックスライブラリを用いて、
基板の検査を実施する。その後、このようなインデック
スライブラリは各基板ファイルからそこに含まれる部品
ファイルを適宜読み出して、新たな基板ファイルの作成
に用いることができるため、保存して再使用に備える。
【００１５】なお、上記インデックスライブラリの各基
板ファイルに含まれる部品ファイルはそのファイルを構
成する最小測定項目データの全てをそのまま基板ファイ
ル上に複写して用いるばかりでなく、その一部例えば表
２におけるＩＣ１のＳ３、８を削除して用い、又は座標
データを書き換えて用い、或いは測定データ（部品ファ
イルから座標データを除いた部分）のみを保存してお
き、複写後に座標データを書き込んで用いたり等するこ
とができる。
板ファイルに含まれる部品ファイルはそのファイルを構
成する最小測定項目データの全てをそのまま基板ファイ
ル上に複写して用いるばかりでなく、その一部例えば表
２におけるＩＣ１のＳ３、８を削除して用い、又は座標
データを書き換えて用い、或いは測定データ（部品ファ
イルから座標データを除いた部分）のみを保存してお
き、複写後に座標データを書き込んで用いたり等するこ
とができる。
【００１６】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、インデッ
クスライブラリを構成する基板ファイル間或いは同一基
板ファイル内で部品ファイルを自由に読み書きにより複
写して、一度作成した部品ファイルを何度でも再使用で
きる。それ故、基板に実装されている部品の同一性等を
考慮して一度作成した部品ファイルを使用することによ
り、データ入力の負担を少なくして、インデックスライ
ブラリの作成時間を短縮化し、検査をスピード化でき
る。
クスライブラリを構成する基板ファイル間或いは同一基
板ファイル内で部品ファイルを自由に読み書きにより複
写して、一度作成した部品ファイルを何度でも再使用で
きる。それ故、基板に実装されている部品の同一性等を
考慮して一度作成した部品ファイルを使用することによ
り、データ入力の負担を少なくして、インデックスライ
ブラリの作成時間を短縮化し、検査をスピード化でき
る。
【図１】本発明を適用したＸ−Ｙ方式インサーキットテ
スタの大略構成を示すブロック図である。
スタの大略構成を示すブロック図である。
【図２】同Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタのインデッ
クスライブラリ作成時における操作フローを示す図であ
る。
クスライブラリ作成時における操作フローを示す図であ
る。
１０…Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタ １２…操作部
１４…Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部 １６…測定部 １８…コン
トローラ ２０…ピンプローブ
１４…Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部 １６…測定部 １８…コン
トローラ ２０…ピンプローブ
Claims (1)
- 【請求項１】 検査の対象となる複数の異なる各基板毎
に、その基板に実装した複数の各部品の最小測定単位に
関する項目データを測定順位に従い配列して基板ファイ
ルを作成し、複数の基板ファイルを備える回路基板検査
用インデックスライブラリの作成方法において、上記各
基板ファイル作成時に、その基板に関する最小測定項目
データを各部品毎のデータ群にまとめて部品ファイルを
それぞれ作成し、基板ファイルを部品ファイルの集合体
として構成し、その部品ファイル作成時に、先にファイ
ルを作成した部品と同一部品に関するファイルを作成す
る場合には、先に作成した部品ファイルを複写して用い
ることを特徴とする回路基板検査用インデックスライブ
ラリの作成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9247851A JPH1172537A (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | 回路基板検査用インデックスライブラリの作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9247851A JPH1172537A (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | 回路基板検査用インデックスライブラリの作成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1172537A true JPH1172537A (ja) | 1999-03-16 |
Family
ID=17169606
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9247851A Pending JPH1172537A (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | 回路基板検査用インデックスライブラリの作成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1172537A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111537862A (zh) * | 2020-04-21 | 2020-08-14 | 青岛矽昌通信技术有限公司 | 一种pcba测试方法及其系统 |
-
1997
- 1997-08-28 JP JP9247851A patent/JPH1172537A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111537862A (zh) * | 2020-04-21 | 2020-08-14 | 青岛矽昌通信技术有限公司 | 一种pcba测试方法及其系统 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040625 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060308 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070313 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070731 |