JPH1161405A - スパッタリング装置 - Google Patents

スパッタリング装置

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JPH1161405A
JPH1161405A JP21481997A JP21481997A JPH1161405A JP H1161405 A JPH1161405 A JP H1161405A JP 21481997 A JP21481997 A JP 21481997A JP 21481997 A JP21481997 A JP 21481997A JP H1161405 A JPH1161405 A JP H1161405A
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JP
Japan
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target
magnetic field
generating means
field generating
sputtering
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JP21481997A
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English (en)
Inventor
Atsuhiro Abe
淳博 阿部
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Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 効率的にかつ経済的なスパッタリング装置
を提供すること提供すること。 【解決手段】 真空容器11内にカソード電極15を設
けて対象物に対してスパッタリングを行うスパッタリン
グ装置10において、カソード電極15は、対象物に対
向して設けられており、対象物に金属磁性体又は非磁性
体を薄膜形成するためのターゲット21と、ターゲット
20の表面上に磁場を形成するための磁場発生手段26
と、磁場発生手段26に接続されており、磁場発生手段
26を移動する移動手段28とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スパッタリング装
置の改良、特にテープ状の対象物に対して効率よくスパ
ッタリングを行うスパッタリング装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】液晶基板やテープ状の磁気情報記録媒体
を作製する際、薄膜形成手段としてスパッタリング技術
が多く用いられており、特に成膜速度が速く生産性に優
れているマグネトロン方式が一般的に採用されている。
マグネトロンスパッタリング装置は電界に交差する磁界
を発生させることにより、電界の陰極から放出された電
子にサイクロン運動を行わせて放電用ガスと衝突させ、
ターゲット上に高密度のプラズマを作りターゲットに衝
突させることで比較的低電圧で膜成長速度を高めること
のできるスパッタリング装置である。
【0003】図9は、従来のマグネトロンスパッタリン
グ装置におけるカソード電極の一例を示している。図9
のカソード電極1は、ケース2、ターゲット3、バッキ
ングプレート4、磁石5a、5b、冷却手段6等からな
っている。図9のカソード電極1は矩形型のカソード電
極であって、図示しない真空容器内に収容されている。
真空容器内には例えばアルゴンガス(Ar)等の放電用
ガスが導入されている。
【0004】図9のカソード電極1はその外側をケース
2により覆われており、図9のカソード電極1の上面側
にはターゲット3が設けられている。図9のターゲット
3は対象物に対して薄膜を形成する金属磁性材料からな
っており、アルゴンガスが電子と衝突して発生したアル
ゴンイオンがターゲットに衝突することにより、ターゲ
ット原子が飛び出しテープ状の対象物に薄膜を形成す
る。図9のターゲット3はバッキングプレート4と接着
しており、バッキングプレート4内には冷却手段6が配
置されている。図9の冷却手段6は冷却水導入管6a、
6bを有しており、冷却水がバッキングプレート4を冷
却することによりバッキングプレート4に接着している
ターゲット3の温度を下げ、ターゲット3とバッキング
プレートをプラズマ熱から保護している。
【0005】図9のバッキングプレート4の下部には、
ターゲット3上に磁界を発生させるための磁石5a、5
bが設けられている。図9の磁石5aはターゲット3の
中央部に位置するように配置されており、磁石5bはタ
ーゲット3の周辺部に位置するように配置されている。
図9の磁石5a、5bは互いに異なる極性の磁石であり
磁石5aから磁石5bに向かう磁界を形成している。電
界と磁石5a、5bの磁場により電界の負の電極から発
生した電子はサイクロン運動をする。そして、サイクロ
ン運動をしている電子とアルゴンガスが衝突することに
よりアルゴンイオンが形成され、アルゴンイオンがター
ゲット3とイオン衝突することによりターゲット原子が
放出し、対象物に付着することで薄膜が形成される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところでイオンはアル
ゴンガスがサイクロン運動する電子と衝突することによ
り発生するので、イオン濃度はサイクロン運動している
運動している電子の運動量と対応したものになる。また
イオンがターゲットに衝突することによりターゲット原
子が放出するため、イオン濃度がターゲットのスパッタ
リングに対応している。結果としてサイクロン運動して
いる電子の運動量が大きい領域ががターゲット上でスパ
ッタされやすい領域となる。磁石5a、5bの形成する
磁場の平行成分が大きい領域がサイクロン運動している
電子の密度が大きくなるので、図9の磁場の平行成分の
下側の部分がターゲット上でスパッタされやすい領域と
なる。図9のカソード電極1を用いてスパッタリングを
行うと、図10の磁石5a、5bに挟まれた領域は高い
プラズマ濃度によりスパッタリングが行われる領域(エ
ロージョン領域)が形成され、その他の領域では非エロ
ージョン領域となる。エロージョンとはマグネットの発
生する磁界がターゲット表面付近で湾曲しプラズマを閉
じこめているため、プラズマ濃度の高い部分のみが集中
的にスパッタリングされる現象をいう。
【0007】しかし、従来のスパッタリング装置におい
て、図10のエロージョン領域ターゲットが薄膜を形成
するために使用される領域が狭くターゲット使用効率
(使用前のターゲットの容積に対する消耗容積の割合)
は10%〜15%程度にすぎないという問題がある。さ
らにエロージョン領域でターゲットが消耗されてしまう
と、ターゲット上に消耗されている領域が10%〜15
%にすぎないにもかかわらず、ターゲットを交換しなけ
ればならずターゲットの寿命が短いという問題がある。
そして、プラズマ領域が低い部分はスパッタ膜が付着
し、ダストの原因となり基板やフィルムにダメージを与
えたり、付着した膜が絶縁膜である場合はそれが帯電し
てアーキングを起こし、基板に損傷を与えるという問題
がある。
【0008】そこで本発明は上記課題を解消し、効率的
にかつ経済的なスパッタリング装置を提供することを目
的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明にあ
っては、真空容器内にカソード電極を設けて対象物に対
してスパッタリングを行うスパッタリング装置におい
て、カソード電極は、対象物に対向して設けられてお
り、対象物に金属磁性体又は非磁性体を薄膜形成するた
めのターゲットと、ターゲットの表面上に磁場を形成す
るための磁場発生手段と、磁場発生手段に接続されてお
り、磁場発生手段を移動する移動手段と、を備えるスパ
ッタリング装置により、達成される。
【0010】本発明では、ターゲット表面に磁場を形成
している磁場発生手段を移動手段により移動させる。こ
れによりターゲット表面の磁場がターゲット上を移動す
ることで磁場に形成されるプラズマが磁場の移動ととも
に移動し、ターゲットの広い領域にわたってスパッタリ
ングを行うことができる。よってターゲットの使用効率
が向上するとともに、スパッタリングがなされないター
ゲット上の領域に汚れが蓄積することがなくすことがで
きる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明
の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨
の記載がない限り、これらの形態に限られるものではな
い。
【0012】図1は、本発明のスパッタリング装置の好
ましい実施の形態を示すシステム図であり、図1を参照
してスパッタリング装置10について詳しく説明する。
図1のスパッタリング装置10は、真空容器11、テー
プ巻出し部12、テープ巻取り部13、冷却ローラ1
4、カソード電極15、真空手段16、気体流入装置1
7等を有している。
【0013】図1の真空容器11は真空手段16に接続
されており、真空手段16が真空容器11内の空気を排
出することにより真空容器11内を真空に保っている。
図1の真空容器11内には気体流入手段17が配置され
ており、気体流入手段17は真空容器11内にアルゴン
ガス(Ar)等の放電用ガスを流入する。図1のアルゴ
ンガスがイオン化してカソード電極15のターゲット2
0とイオン衝突する事によりスパッタリングが行われ
る。
【0014】図1の真空容器11内には、テープ巻出し
部12、テープ巻取り部13等が配置されている。図1
のテープ巻出し部12にはテープ状の非磁性支持体であ
るベースフィルムBFが巻かれており、テープ巻取り部
13が回転することによりテープ巻出し部12のベース
フィルムBFがテープ巻取り部13に巻かれていく。図
1の巻き出し部11と巻き取り部12の間には冷却ロー
ル14が設けられており、冷却ロール14の周辺部には
ベースフィルムBFが巻き付けられている。図1の冷却
ロール14には図示しない冷却手段と接続されており、
冷却手段は加熱した冷却ロール14の温度を下げスパッ
タリングの際に発生する熱によりベースフィルムBFが
溶解するのを防止することができる。図1の冷却ロール
14の下側には複数のカソード電極15が配置されてい
る。図1の冷却ロール14とカソード電極15は電極2
0aが接続されており、カソード電極15から冷却ロー
ル14に向かって電界を形成している。
【0015】図1のテープ巻取り部13が回転すること
により、テープ巻出し部12に巻かれているベースフィ
ルムBFが冷却ロール14の周辺部を通っている際に、
複数のカソード電極15によりベースフィルムBFに対
してスパッタリングを行い、ベース7フィルムBF上に
薄膜を形成する。
【0016】図2はカソード電極15の断面図、図3は
カソード電極15の上面図を示しており、図2と図3を
参照してカソード電極15について詳しく説明する。図
2のカソード電極15は図3に示すように矩形のカソー
ド電極であって、ターゲット20、バッキングプレート
21、ケース22、第1冷却手段25、磁場発生手段2
6、移動手段27等を有している。図2のカソード電極
15は外側をケース22で覆われており、図2のケース
22には側面部と底面部にそれぞれ絶縁硝子24a、2
4b、24c、24dが設けられている。図2のケース
22の底面部には磁場発生手段26を移動させる軸33
を設けるための穴22aが形成されている。
【0017】図2のターゲット20は金属磁性材料から
なっており、カソード電極15の上面部にはターゲット
20が配置されている。図2のターゲット20はバッキ
ングプレート21に接着して固定されている。図2のバ
ッキングプレート21は熱伝導性の優れた材質、例えば
銅などで形成されており、ターゲット20に対して熱を
伝えやすくしている。図2のバッキングプレート21は
第1冷却手段25が接続されており、第1冷却手段25
は2本のパイプ25a、25bを有している。図2のパ
イプ25aからは冷却水が矢印Z1方向に向かって流入
し、バッキングパイプ25bから冷却水が流出される。
バッキングプレート21に発生した熱を冷却水が奪いバ
ッキングプレート21を冷却することによりターゲット
20の温度を下げ、ターゲット20とバッキングプレー
ト21をプラズマ熱から保護している。バッキングプレ
ート21は下側に3つの空間21a、21b、21cを
有しており、この空間には磁場発生手段26が配置され
ている。この空間21a、21b、21cの大きさは磁
場発生手段25が後述するようにXY方向に移動する際
に、磁場発生手段26とバッキングプレート21が衝突
しない大きさを有している。
【0018】図2のバッキングプレート21は電極20
aのマイナス側と電気的に接続されており、図1の冷却
ローラ14は電極20aのプラス側に接続されている。
パッキングプレート21からローラ14に向かう電界を
形成し、この電界により、電極20aから電子が放出す
る。
【0019】図2と図3を参照して磁場発生手段26に
ついて詳しく説明する。図2の磁場発生手段26はYテ
ーブル27に固定されており、バッキングプレート21
の下部に設けられている。図2の磁場発生手段26は中
心部に磁石26aと周辺部に矩形の磁石26bを有して
いる。図2の磁場発生手段26は図4に示すように磁石
26aから磁石26bに向かって曲面状の磁場が形成し
ている。この磁場とターゲット20から冷却ロール14
に向かう電界により、磁場の閉曲面内に閉じこめてられ
ている電子がサイクロイド運動を行い、アルゴンガスと
衝突しイオンを発生する。図2の磁場発生手段26はY
テーブル30の上に配置されており、Yテーブル30が
XY方向に移動することで磁場発生手段26及び磁場発
生手段が形成するターゲット20上の磁場を移動させる
ことができる。
【0020】図2を参照して移動手段28について詳し
く説明する。図2の移動手段28は、Xテーブル29、
Yテーブル30、アクチュエータ31、軸33、リンク
34等を有している。図2のアクチュエータ31には軸
33が継手33aを介して接続されており、軸33は矢
印R1方向に回転する事ができる。図2の軸33は穴2
2aにはめ込まれている軸受22bに支持されており、
軸33の他端側はリンク34を接続し、軸33が回転す
るとリンク34もそれに同期して回転するようになって
いる。図2のアクチュエータ31の周辺部には第2冷却
手段31aが接続されている。図2の第2冷却手段31
aは2つのパイプを有しており、片側から冷却水を流入
し片側から冷却水を排水する事によりアクチュエータ3
1aの熱を外部に排出する。
【0021】図2のマグネットケース27の上にはガイ
ドレール29aが配置されており、ガイドレール29a
の上にはXテーブル29が設けられている。図2のXテ
ーブル29はガイドレール29aに沿って矢印X方向に
移動することができる。図2のXテーブル29の上には
ガイドレール30aが設けられており、ガイドレール3
0aの上にYテーブル30が配置されている。図2のY
テーブル30にはリンク34が接続されており、リンク
34が回転することによりYテーブル30がガイドレー
ル29a、30aにガイドされて矢印R1方向に回転す
る。
【0022】次に図1乃至図4を参照してスパッタリン
グ装置の動作について詳しく説明する。まず、図1の真
空容器11の内部は真空手段16によって真空に保たれ
ていると同時に、気体流入手段17により放電用ガスで
あるアルゴンガスが流入されている。この真空容器11
内でテープ状のベースフィルムBFが巻き出し部12か
ら冷却ロール14の周辺部を通って巻き取り部13に巻
かれていく。図1のベースフィルムBFが冷却ロール1
4の周辺部を通過する際に、冷却ロール14の下側に設
けられている複数のカソード電極15によりスパッタリ
ングがなされ、ベースフィルムBFに対して薄膜を形成
していく。このとき、冷却ロール14はスパッタリング
により生ずる熱によりベースフィルムBFが溶解しない
よう冷却手段により例えば−30℃に保たれている。図
1の冷却ロール14と複数のカソード電極15の間に電
極が接続されており、カソード電極15から冷却ロール
14に向かって電界が発生している。
【0023】次に図4のカソード電極15がベースフィ
ルムBFに対してスパッタリングを行う動作について詳
しく説明する。図1のカソード電極15と冷却ロール1
4の間に形成されている電界により負の電極側から電子
が放出される。電子は磁界と電界の影響を受けてサイク
ロン運動をし、放電用ガスであるアルゴンガスと衝突し
てアルゴンイオンを発生する。そして図3のアルゴンイ
オンがターゲット20に衝突することによりターゲット
20からターゲット原子が放出される。ターゲット原子
は電界の陽極側である冷却ロール14に引きつけられて
冷却ロール14の周辺部に巻かれているベースフィルム
BFに付着し薄膜を形成する。
【0024】このとき、アクチュエータ31が作動する
ことにより軸33、リンク34が回転する。すると図2
のリンク34に接続されているYテーブル30、磁場発
生手段26も回転し、ターゲット20上に形成されてい
る磁場もR1方向に回転する。これにより集中的にスパ
ッタリングが行われる領域(エロージョン領域)が磁場
発生手段26が移動することにより変化し、ターゲット
20の広い領域にわたってスパッタリングがなされる。
その具体的様子を図5乃至図7を参照して詳しく説明す
る。
【0025】まず、図5において、磁石26aから磁石
26bに向かう閉じた磁場を形成することにより磁場内
のプラズマ濃度、特に磁場の平行成分が大きい部分が高
くなる。このプラズマによりエロージョン領域が形成さ
れている。そこで図5(a)のようにアクチュエータを
作動させて磁場発生手段26を矢印R1方向に回転させ
る。するとエロージョン領域が図5(a)左上側に移動
する。
【0026】図6と図7ののように磁場発生手段26が
移動することによりプラズマ領域が移動しターゲット上
のスパッタリングされる領域が回転移動する。そして回
転運動させることによりX方向のターゲットの使用効率
を上げるだけでなく、Y方向にも移動することで全体の
ターゲット20の使用効率を著しく向上させることがで
きる。
【0027】このように、磁場発生手段26がR1方向
に回転することにより、磁場内に閉じこめられたプラズ
マも回転する。磁場に閉じこめられた高いプラズマが移
動することによりターゲット20上のスパッタされる領
域が図8のようにターゲット20全体にわたって広がる
のでターゲットの使用効率が約80%にまで向上させる
ことができる。つまり、従来は磁場が一定の領域でしか
発生しなかったために、ターゲットの一部の領域しかス
パッタリングされずターゲットの使用効率が低かった
が、磁場を移動させて濃度の高いプラズマをターゲット
20のほぼ全体にわたって移動させることで、ターゲッ
ト20に衝突することができるため高い使用効率を得る
ことができる。さらに、ターゲット20全体をスパッタ
領域として使用することができることで非エロージョン
領域にスパッタ膜が付着し、ターゲットが汚染されダス
トが発生することを防止し、非金属ターゲットの場合ア
ーキング等の異常放電を起こす回数が大幅に減少させる
ことができる。そして、ターゲットに再付着するスパッ
タ粒子はターゲット上にデポジッション膜を形成する
が、移動するプラズマによってクリーニングされ、フレ
ークの発生を減少させるためにターゲット表面からのダ
ストが大幅に減少され、記録磁性膜等の欠陥が許されな
い基板の場合には特に有効である。
【0028】ところで、本発明は、上記実施の形態に限
定されない。図1のスパッタリング装置10はカソード
電極15全体が真空容器11内に配置されている(イン
ターナルカソード)が、図2においてバッキングプレー
ト21よりも下側の部分を大気圧内に配置し、ターゲッ
ト20表面部分を真空容器内11に配置するようなスパ
ッタリング装置(エクスターナルカソード)に磁場発生
手段26が回転運動するカソード電極15を用いてもも
ちろんかまわない。また、上記実施の形態においては矩
形型のターゲットを用いているが丸形ターゲットを用い
てスパッタリングを行ってもよい。さらに、図2の磁場
発生手段26は永久磁石を用いているが電磁石、電磁コ
イル等を用いて閉じた磁場を発生するようにしてもかま
わない。本発明の実施の形態において、磁場発生手段は
回転運動をするが、エロージョンを最適化するため楕円
運動や四角に運動させたりしてもかまわない。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
効率的にかつ経済的なスパッタリング装置を提供するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のスパッタリング装置の好ましい実施の
形態を示すシステム図。
【図2】本発明のスパッタリング装置のカソード電極の
断面図を示す。
【図3】本発明のスパッタリング装置のカソード電極の
上面図を示す。
【図4】カソード電極の磁場発生手段が発生する磁場を
示す斜視図。
【図5】移動手段により磁場発生手段が移動することに
よりエロージョン領域が変化することを示す上面図。
【図6】移動手段により磁場発生手段が移動することに
よりエロージョン領域が変化することを示す上面図。
【図7】移動手段により磁場発生手段が移動することに
よりエロージョン領域が変化することを示す上面図。
【図8】本発明のスパッタリング装置におけるターゲッ
ト上のエロージョン領域を示す断面図。
【図9】従来のカソード電極の断面図。
【図10】従来のスパッタリング装置のターゲット上の
エロージョン領域を示す断面図。
【符号の説明】
10・・・スパッタリング装置、20・・・ターゲッ
ト、26・・・磁場発生手段、28・・・移動手段、2
9・・・Xテーブル、30・・・Yテーブル、31・・
・アクチュエータ、33・・・軸、34・・・リンク。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空容器内にカソード電極を設けて対象
    物に対してスパッタリングを行うスパッタリング装置に
    おいて、 カソード電極は、 対象物に対向して設けられており、対象物に金属磁性体
    又は非磁性体を薄膜形成するためのターゲットと、 ターゲットの表面上に磁場を形成するための磁場発生手
    段と、 磁場発生手段に接続されており、磁場発生手段を移動す
    る移動手段と、 を備えることを特徴とするスパッタリング装置。
  2. 【請求項2】 移動手段は、磁場発生手段を旋回移動さ
    せることを特徴とする請求項1に記載のスパッタリング
    装置。
  3. 【請求項3】 移動手段は、 軸と、軸の一端側に接続されており軸を回転させるため
    のアクチュエータと、軸の他端側に軸と直交するように
    固定されているリンクと、リンクに接続されており磁場
    発生手段が配置されているテーブルとを有しており、 アクチュエータの作動により軸と軸に固定されているリ
    ンクが回転し、リンクの軌跡に沿って磁場発生手段がタ
    ーゲット面に対して円弧を描くように旋回移動すること
    を特徴とする請求項2に記載のスパッタリング装置。
JP21481997A 1997-08-08 1997-08-08 スパッタリング装置 Pending JPH1161405A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009030109A (ja) * 2007-07-27 2009-02-12 Ulvac Japan Ltd 成膜装置及び成膜方法
JP2009046730A (ja) * 2007-08-20 2009-03-05 Ulvac Japan Ltd 成膜方法
CN103849845A (zh) * 2014-03-07 2014-06-11 东莞鑫泰玻璃科技有限公司 磁控溅射镀膜生产线

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