JP2001348663A - スパッタリング装置 - Google Patents

スパッタリング装置

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JP2001348663A
JP2001348663A JP2000172614A JP2000172614A JP2001348663A JP 2001348663 A JP2001348663 A JP 2001348663A JP 2000172614 A JP2000172614 A JP 2000172614A JP 2000172614 A JP2000172614 A JP 2000172614A JP 2001348663 A JP2001348663 A JP 2001348663A
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Tadahiro Morioka
督大 森岡
Atsuhiro Abe
淳博 阿部
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 スパッタリング装置における、ターゲット利
用効率及びスパッタ速度と、成膜厚の精度を向上する。 【解決手段】 磁気回路19に、蛇行した形状の内磁2
0と、内磁20の周囲に所定の間隔で配置された外磁2
1とを設ける。これにより、磁気回路19は、内磁20
及び外磁21が形成する磁力線23によって電子を束縛
し、ターゲット17表面に現れるエロージョン領域25
を蛇行しつつ閉じた曲線とすることで、従来のエロージ
ョン領域99と比較して曲線部100を大幅に増やす。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】 本発明は、スパッタリング装置
の技術分野に属し、特に磁気回路を備えるスパッタリン
グ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】スパッタ法は、真空蒸着法やCVD(Ch
emical Vapour Deposition)法と並び、光ディスクをは
じめとする光学記録媒体の反射膜や、磁気テープ等磁気
記録媒体の保護膜の作成などに広く応用されている薄膜
形成技術である。特にマグネトロンスパッタ法が考案さ
れて以降、成膜速度が向上し、ますますその有効性が高
まりつつある。
【0003】一般的なスパッタ法の過程を以下に示す。
まず各種真空ポンプで10-7Torr程度まで排気され
ている真空のチャンバ内に、Ar等の放電ガスを導入し
てチャンバ内の圧力を10-3Torr程度に保つ。この
とき、チャンバは接地されている。そして、チャンバ内
の放電ガスは、プラズマ化され、プラスに帯電した放電
ガスのイオンがターゲットに衝突する。この衝突によ
り、ターゲットの構成分子がターゲットより弾き出さ
れ、ターゲットに対向配置された被スパッタ材表面に付
着することにより、被スパッタ材表面にターゲットの材
質に応じた薄膜が形成される。
【0004】スパッタ法では、ターゲット付近における
陰極降下により、ターゲット表面上に電場が形成され、
その電気力線の向きはターゲットに対して垂直になる。
これに加えて、磁気回路を持つスパッタ法であるマグネ
トロンスパッタ法では、ターゲット裏面に磁気回路を配
置することによりターゲット表面上に磁場が形成され
る。スパッタ時に、ターゲットからターゲットの構成分
子とともに弾き出された電子である2次電子は、このタ
ーゲット表面上に生成された電場と磁場の影響によりロ
ーレンツ力を受けてサイクロイド運動を行う。この結
果、ターゲット表面上の空間に高エネルギーを有する電
子が多数拘束され、この空間において高密度プラズマが
生成される。ゆえに、マグネトロンスパッタ法は、放電
ガス圧が低くても高密度プラズマが生成できる。
【0005】以上のように、マグネトロンスパッタ法
は、比較的低い放電ガス圧でも高密度プラズマを生成す
ることができるため、ターゲットからスパッタされた原
子・分子が放電ガス原子による散乱を受けることなく被
スパッタ材に到達することができる。ゆえに、マグネト
ロンスパッタ法は、スパッタ速度を向上させる効果を持
つスパッタ法である。
【0006】ところで、磁気テープ上に保護膜を成膜す
る場合のように、マグネトロンスパッタ法によって比較
的広範囲にわたって薄膜を成膜する場合においては、矩
形形状のターゲットである矩形平板ターゲットが用いら
れる。
【0007】このような、矩形平板ターゲットを備える
従来のスパッタリング装置におけるカソードは、図9及
至図11に示すように、ターゲット92と、バッキング
プレート93と、磁気回路110とを備える。この磁気
回路110は、内磁94と、外磁95と、ヨーク96と
により構成される。なお、以下の説明では、従来のスパ
ッタリング装置の要部、すなわち図9及至図11に示す
ような、マグネトロンスパッタ法におけるカソードの近
傍についてのみ説明する。ここで、図9は、カソードの
概略斜視図である。つぎに、図10は、磁気回路110
を示すカソードの概略断面図であり、図11の中に示す
A−A線における概略断面図である。そして、図11
は、図10の中に示すB−B線における概略断面図であ
る。
【0008】ターゲット92は、図9に示すように、通
常バッキングプレート93に接着される。そして、負電
圧が、このバッキングプレート93に印加される。磁気
回路110は、図10に示すように、磁気回路110の
中央部にある内磁94と、この内磁94の周囲に配置さ
れ内磁94に対し逆の磁気極性を有する外磁95と、ヨ
ーク96とにより構成されている。また、磁気回路11
0は、図11に示すように、ターゲット92に対して裏
面側に配置されたヨーク96により、内磁94と、外磁
95とが磁気的に連結されているものである。そして、
ターゲット92表面上には、この磁気回路110により
半円状に形成される磁力線97が連なった、トンネル状
の形状をした磁場が形成される。すると、高密度プラズ
マ91は、ターゲット92の表面上に束縛される。
【0009】これにより、エロージョン領域99は、図
12に示すように、高密度プラズマ91の真下における
ターゲット92の表面に、所定の幅を持った閉曲線の形
状として形成される。このエロージョン領域99は、曲
線で構成される曲線部100と、直線で構成される直線
部101とからなる。
【0010】なお、従来のスパッタリング装置は、図1
3及至図15で示すように、図9及至図11に示すよう
な磁気回路110を複数備えるとする場合もある。ここ
で、図13及至図16においては、各部の構成が上述し
たスパッタリング装置と略々同等であるため、図9及至
図12と同一の符号を付して説明を省略する。
【0011】上記磁気回路110を2つ持つ磁気回路1
30は、図14に示すように、磁気回路110を並列に
配置したものとなっている。この場合にエロージョン領
域102は、図16に示すようにターゲット92の表面
に所定の幅を持ち、独立した2つの閉曲線の形状として
形成される。このために、磁気回路130を備えるカソ
ードは一般にダブルエロージョンカソードと称されてい
る。これに対して、上述した例のように、エロージョン
領域99が一つのカソードは、シングルエロージョンカ
ソードと称されている。
【0012】
【本発明が解決しようとする課題】従来のスパッタリン
グ装置において、エロージョン領域99は、図12に示
すように、磁気回路110が形成する磁力線の水平磁場
に沿って所定の幅を持った閉曲線として形成される。
【0013】また、従来のスパッタリング装置において
は、ターゲット92の表面におけるエロージョン領域9
9が、ターゲット92の全面に対し一部に限られ、しか
もエロージョン領域99内においてもスパッタ効率に偏
りができてしまう。これにより、被スパッタ材に形成さ
れる薄膜の膜厚分布に偏りがでるほか、ターゲット92
の利用効率を低下させてしまうという点が課題となって
いる。
【0014】そこで、本発明は、上述した従来の課題を
解決して磁気回路の配置を工夫することにより、スパッ
タ効率、スパッタ速度の向上と共に、ターゲットの利用
効率を向上するスパッタリング装置を提供することを目
的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
ために、本発明者は、鋭意検討した結果、エロージョン
領域の直線部と曲線部とではスパッタ効率が異なり曲線
部ほどスパッタ効率が高くなるという知見を得るに至っ
た。さらに、エロージョン領域の閉曲線の総延長が長く
なるほどスパッタ速度が向上するという知見を得るに至
った。そこで、本発明に係るスパッタリング装置は、こ
の知見に基づき、ターゲット裏面の磁気回路の配置を工
夫することにより、ターゲットの利用効率を向上するこ
とを可能とされている。
【0016】すなわち、本発明に係るスパッタリング装
置は、電源に接続されカソード電極としての機能を有す
るバッキングプレートと、バッキングプレート表面に接
着されるターゲットと、バッキングプレート裏面にター
ゲットに対向して配置される磁気回路とを備えている。
この磁気回路はターゲットの表面に現れるエロージョン
領域が蛇行しつつ閉じた閉曲線となるように配置されて
いる。
【0017】以上のように構成された本発明に係るスパ
ッタリング装置は、磁気回路が形成する磁力線によっ
て、ターゲット表面に現れるエロージョン領域を蛇行し
つつ閉じた閉曲線とすることにより曲線部を増やし、タ
ーゲット表面上の空間全体にわたって2次電子の存在確
率を高くすることができる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るスパッタリン
グ装置の実施の形態について、図面を参照しながら詳細
に説明する。なお、以下では、本発明に係るスパッタリ
ング装置を適用した一構成例を挙げている。
【0019】本発明を適用したスパッタリング装置は、
図1に示すように、チャンバ10と、電源11と、減圧
装置12とにより構成されている。
【0020】チャンバ10は、チャンバ10内部に、カ
ソード13と、被スパッタ材14と、支持部15とを備
えている。ここで、チャンバ10は、減圧装置12、例
えば、各種真空ポンプにより減圧される。また、チャン
バ10は、減圧後にチャンバ10内部に放電ガス16を
注入され、チャンバ10内の圧力を一定に保つ構造とな
っている。この放電ガス16は、例えば、Arガスであ
る。このとき、チャンバ10は、接地されている。
【0021】カソード13は、非磁性体、例えばグラフ
ァイトにより構成されたターゲット17と、バッキング
プレート18と、磁気回路19とにより構成されてい
る。ここで、ターゲット17は、バッキングプレート1
8表面に接着され、磁気回路19は、バッキングプレー
ト18裏面にターゲット17と対向するように設置され
ている。 電源11は、支持部15と、バッキングプレ
ート18とに接続されており、支持部15に対して正電
圧を印加するとともに、バッキングプレート18に対し
て負電圧を印加する。これにより、バッキングプレート
18と支持部15との間には、特に、バッキングプレー
ト18表面上において、陰極降下により電場が生じる。
そして、この電場の電気力線の向きは、ターゲット17
に対して垂直になる。
【0022】磁気回路19は、内磁20と、外磁21
と、ヨーク22とにより構成されており、バッキングプ
レート18及びターゲット17に対して、被スパッタ材
14とは反対側の面に対向して配置されている。内磁2
0と外磁21とは、ヨーク22により磁気的に接続され
ている。ここで、内磁20は、磁気回路19の中央に配
置され、外磁21は、内磁20を所定の間隔で取り囲む
ように配置され、内磁20と外磁21とは、互いに逆の
磁気極性である。この磁気回路19により形成された磁
場は、ターゲット17表面上の半円状の磁力線23で示
され、この磁力線23に閉じ込められるように、電場と
磁場とにより束縛された高密度プラズマ24が存在す
る。
【0023】なお、本発明に係るスパッタリング装置
は、基本的に従来のシングルエロージョンカソードにお
ける磁気回路110のみを変更したものであり、磁気回
路19以外のカソード構成の部品に関しては、何ら本質
的な変更を求めない。すなわち、ターゲット17、バッ
キングプレート18に関しては、従来のカソードと同様
の形状を有するものとする。なお、以下の説明において
は、ターゲット17を矩形形状としているが、本発明に
係るスパッタリング装置では、ターゲット17の形状を
限定しない。
【0024】つぎに、上述したカソード13について、
図2及至図5を参照しながら詳細に説明する。
【0025】カソード13は、上述したように負電圧が
印加されており、陰極降下により、表面に対して垂直方
向の電場が形成されている。カソード13を構成する磁
気回路19は、図3に示すように蛇行した形状を有し磁
気回路19の中央に配置された内磁20と、この内磁2
0を所定の間隔で取り囲むように配置された外磁21
と、ヨーク22とによって構成される。内磁20と外磁
21とは、図4に示すように、それぞれの底部をヨーク
22によって磁気的に連結されている。
【0026】磁気回路19は、内磁20と外磁21と
が、お互いに逆の磁気極性とされていることにより、内
磁20と外磁21との間に磁場を形成する。なお、磁気
回路19には、磁気回路19により形成される磁場の磁
束密度が、ターゲット17の表面上において、ターゲッ
ト17の表面方向に関して従来のものと同等の値となる
ように内磁20及び外磁21を選択する。なお、ここで
の内磁及び外磁は、例えば永久磁石としてもよいし、タ
ーゲット17に印加する磁界を可変とする電磁石として
もよい。
【0027】以上のように構成された磁気回路19は、
ターゲット17の表面上に半円状の磁場を形成する。こ
のときに生じる半円状の磁力線23は、図2に示すよう
に、蛇行した形状として連なり、トンネル状の構造とな
る。このトンネル状の構造は、磁気回路19により、蛇
行しつつ閉じた閉曲線となる。
【0028】この磁力線23の上部には、電場と磁場と
により束縛された高密度プラズマ24が存在し、この高
密度プラズマ24は、磁力線23のトンネル状の構造と
同様に蛇行した形状として連なり、パイプ状の構造とな
る。このパイプ状の構造もまた、蛇行しつつ閉じた閉曲
線となる。
【0029】つまり、本発明に係るスパッタ装置におい
ては、スパッタ時にターゲット17の表面より弾き出さ
れる2次電子が、電場と磁場の影響によるローレンツ力
を受けてサイクロイド運動を行う。この2次電子のサイ
クロイド運動は、磁場の形成する磁力線23のトンネル
状の構造に沿った蛇行した形状の軌道を示すので、2次
電子は、蛇行しつつ閉じた閉曲線の軌道を描きサイクロ
イド運動しつづけることになる。このため、電子は、こ
の蛇行しつつ閉じた閉曲線の上に、存在する確率が高く
なる。すなわち、磁力線23のトンネル状の構造の内部
に高密度プラズマ24が生成される。
【0030】このトンネル状磁場内部にて生成された高
密度プラズマ24に含まれる、プラスに帯電した放電ガ
スイオンは、ターゲット17表面上における、陰極降下
による電場によって加速され、ターゲット17に衝突す
る。これにより、ターゲット構成分子がスパッタされ
る。ゆえに、ターゲット17に対して、プラスイオンが
衝突する領域すなわちエロージョン領域25は、図5に
示すように所定の幅で蛇行しつつ閉じた閉曲線となる。
【0031】このエロ−ジョン領域25は、図5から明
らかなように、直線部101はほとんど排除されてお
り、また曲線部は曲率がほぼ同じ値の複数個の曲線から
構成されている。従って、このようなエロージョン領域
25の形状を形成するカソードの13においては、従来
のスッパッタリング装置におけるシングルエロージョン
カソードと比較して、エロージョン領域25の曲線部に
直線部がほとんど混在していないためにスパッタ効率が
高く、かつ曲線部の曲率はほぼ同じ値であるので均一性
の高いスパッタ効率を得ることが可能である。さらにカ
ソード13においては、エロージョン領域がターゲット
全面にわたり、このエロージョン領域の周長は、従来の
シングルエロージョンカソードと比較して、約1.7倍
長くすることができる。従って、スパッタ効率を向上さ
せ、ターゲットの有効利用ができる。
【0032】なお、上述した例では、蛇行した形状を有
する磁気回路19をカソード13内に組み込むことによ
り、スパッタ時にターゲット17の表面に現れるエロー
ジョン領域25を一つの蛇行しつつ閉じた閉曲線とみな
せるようにしたものであるが、同様の効果が得られるカ
ソードも可能である。
【0033】カソード13において磁気回路19は、例
えば図6に示すように、直線的に蛇行した形状、いわゆ
るジグザグ形状とした内磁61と、この内磁61の周囲
に所定の間隔に配置した外磁62とを備えるとしてもよ
い。また、磁気回路19は、図7に示すくし型の形状を
した内磁71と、この内磁71の周囲に所定の間隔で配
置した外磁72を備えるとしてもよい。これにより、上
述と同様の効果を得ることができる。
【0034】さらに、本発明に係るスパッタリング装置
は、上述した磁気回路19を駆動する磁気回路駆動部
(図示せず。)を備え、この磁気回路駆動部により、図
8中に2点鎖線で示すターゲット81に対して、矢印G
ないし矢印Hの方向に移動自在としてもよい。この場合
に、磁気回路19を、磁気回路駆動部によりターゲット
81に対して移動させながらスパッタを行うことによ
り、ターゲット81全面においてエロージョン量をさら
に均一化することが可能である。
【0035】また、従来から用いられてきたシングルエ
ロージョンカソードから、ダブルエロージョンカソード
に変化したのと同様に、スパッタ速度を向上させること
を目的として同一ターゲット裏面に本発明による磁気回
路19を複数配置してもよい。これにより、スパッタ速
度を大幅に向上させることが可能となる。
【0036】
【発明の効果】 以上で説明したように、
本研究に係るスパッタリング装置は、ターゲット裏面に
おける磁気回路の配置を工夫することにより、ターゲッ
ト表面に現れるエロージョン領域を蛇行しつつ閉じた閉
曲線となるようにしたものである。
【0037】これにより、ターゲット全面のエロージョ
ン領域の曲率の偏りを解消することができ、ターゲット
から放出される2次電子がサイクロイド運動をし得る軌
跡の長さを出来るだけ長くすることにより、ターゲット
表面に現れるエロージョン領域を表す閉曲線の総延長を
長くすることができる。従って、スパッタ速度を大幅に
向上させることが出来るとともに、薄膜の膜厚にむらを
少なくすことが出来る。またターゲット全面にわたって
平均的に高いスパッタ効率が得られることから、基板へ
の成膜量に対するターゲット寿命の向上をも期待するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明におけるスパッタ装置の概略図である。
【図2】同スパッタ装置のカソードを示す概略斜視図で
ある。
【図3】同スパッタ装置のカソードを示す概略水平断面
図である。
【図4】同スパッタ装置のカソードを示す概略垂直断面
図である。
【図5】同スパッタ装置のカソード内のターゲットを示
す概略平面図である。
【図6】同スパッタ装置のカソード内の磁気回路の例を
示す概略図である。
【図7】同スパッタ装置のカソード内の磁気回路の例を
示す概略図である。
【図8】同スパッタ装置のカソード内の磁気回路の例を
示す概略図である。
【図9】従来のカソードを示す概略斜視図である。
【図10】同カソードの概略水平断面図である。
【図11】同カソードの概略垂直断面図である。
【図12】同カソードのターゲットを示す概略平面図で
ある。
【図13】同カソードを示す概略斜視図である。
【図14】同カソードの概略水平断面図である。
【図15】同カソードの概略垂直断面図である。
【図16】同カソードのターゲットを示す概略平面図で
ある。
【符号の説明】
19 磁気回路、20 内磁、21 外磁

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源に接続されカソード電極としての機
    能を有するバッキングプレートと、このバッキングプレ
    ート表面に接着されるターゲットと、上記バッキングプ
    レート裏面に上記ターゲットに対向して配置される磁気
    回路とを備え、被スパッタ材に対してスパッタリングを
    行うスパッタリング装置において、 上記磁気回路は、上記ターゲットの表面に現れるエロー
    ジョン領域が蛇行しつつ閉じた閉曲線となるように配置
    されていることを特徴とするスパッタリング装置。
  2. 【請求項2】 上記ターゲットは、矩形形状とされてい
    ることを特徴とする請求項1記載のスパッタリング装
    置。
  3. 【請求項3】 上記磁気回路は、上記エロージョン領域
    の曲率が上記ターゲットの全面において偏りのないよう
    に配置されていることを特徴とする請求項1記載のスパ
    ッタリング装置。
  4. 【請求項4】 上記磁気回路は、スパッタ時に上記ター
    ゲット表面より放出される2次電子のサイクロイド運動
    による軌道の曲率が、上記ターゲットの全面において偏
    りのないように配置されていることを特徴とする請求項
    1記載のスパッタリング装置。
  5. 【請求項5】 上記磁気回路を複数備えることを特徴と
    する請求項1記載のスパッタリング装置。
  6. 【請求項6】 上記磁気回路を上記ターゲットに対して
    移動自在とする磁気回路駆動部を備えることを特徴とす
    る請求項1記載のスパッタリング装置。
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