JPH11352227A - 周波数信号形成用回路装置 - Google Patents

周波数信号形成用回路装置

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JPH11352227A
JPH11352227A JP11072407A JP7240799A JPH11352227A JP H11352227 A JPH11352227 A JP H11352227A JP 11072407 A JP11072407 A JP 11072407A JP 7240799 A JP7240799 A JP 7240799A JP H11352227 A JPH11352227 A JP H11352227A
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Gunter Flinspach
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な手段で種々の周波数を高精度で生成す
ることができるように構成することである。 【解決手段】 周波数発振器（基本クロックｆ０）か
ら、密に隣接する周波数（ｆ１とｆ１’、ｆ２とｆ
２’、ｆ３とｆ３’）を有する周波数ペアを導出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、異なる周波数を有
する少なくとも２つの信号の形成用回路装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】このような回路装置は例えば、対象物を
コリメートされたレーザー光ビームによって距離測定す
る装置に使用される。この種の測定装置は、とりわけ位
相差法により動作し、測定装置と対象物との間隔を検出
するために送信光ビームと、対象物により反射された受
信光ビームとの間の位相角が評価される。位相角は、対
象物と測定装置との距離に比例する。高い測定精度を得
るために、測定周波数をできるだけ大きく選択すること
が公知である。しかし測定の一義性は０から３６０゜の
間の位相角に対してだけ得られるから、ＤＥ４３０３８
０４Ａ１から、送信光ビームの高い変調周波数を、少な
くとも１つの別の、格段に低い送信光ビームの変調周波
数と交番させ、これにより０から３６０ｄの位相角度領
域にわたって高い変調周波数の測定領域を達成すること
が公知である。
【０００３】さらに、送信信号と受信信号との間の位相
差を検出するために、この位相差を比較的に低い周波数
へ混合によって変換し、このとき基本情報、すなわち送
信信号と受信信号との間の位相ずれはそのまま保持して
おくことが公知である。この測定周波数の混合を達成す
るために、送信信号ないし受信信号を次のような信号と
混合することが公知である。すなわち、混合結果が低周
波数領域にあり、問題なしに位相を測定することができ
るような比較的に低い周波数を有する信号と混合するの
である。このために必要な種々の周波数信号を生成する
ため、公知の回路装置は相応の数の周波数発振器を有し
ている。これと関連する回路コストおよび制御コストは
比較高く、個々の発振器間の僅かな較正エラーもすでに
信号誤差および結果誤差につながる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、簡単
な手段で種々の周波数を高精度で生成することができる
ように構成することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この課題は本発明によ
り、周波数発振器から、密に隣接する周波数を有する周
波数ペアを導出することにより解決される。
【０００６】種々の周波数をただ１つの周波数発振器
（基本クロック発振器）からデジタルで導出することに
より、これら周波数がすべて基本クロック発振器と同じ
ように自己相対精度を有する。有利には本発明の回路装
置は高調波を発生する。例えば表面波フィルタによる狭
帯域ろ波の後、ここから基本クロック発振器と同じ安定
性を有するさらに高い周波数が発生し、この周波数は１
００ＭＨｚ以上も可能である。さらに有利には、この基
本クロック発振器から導出された２つの周波数を相互に
混合すると、比較的に低い混合積が基本クロック発振器
と同じように安定し、追従制御を全く必要としない。単
に１つの基本クロック発振器から必要なすべての周波数
を導出することにより、異なる周波数を有する個々の信
号間の周波数エラーが除外される。なぜなら、これら周
波数はすべて発振器の基本周波数に共通に基づくものだ
からである。このことは、種々の周波数を合成的に周波
数シフトすることおよび／または分周により純粋にデジ
タル的に形成することにより可能となる。形成された高
調波は次に同じように合成的に、すなわち純粋にデジタ
ルでシフトされ、これにより高調波も基本クロック発振
器と同じ精度を有する。発生源が異なることにより、周
波数偏差に結び付くような個々の周波数信号間の僅かな
周波数差がこれにより確実に回避される。従って測定方
法は比較的に簡単でより正確である。密に隣接する周波
数を有する周波数ペアを得ることができる。ここで密に
隣接した周波数差とは、出発周波数から分周によっては
得ることのできない周波数差と理解されたい。
【０００７】本発明の別の有利な構成は従属請求項に記
載されている。
【０００８】
【実施例】周波数ｆにより以下、各信号Ｓが表される。
この信号は常時、直流電圧値にロックされているもので
はない。ここで信号Ｓは正弦波、矩形波、または制限さ
れた時間だけの正弦波または矩形波とすることができ
る。信号Ｓが矩形波であれば、基本振動周波数ｆの他に
別の周波数、いわゆる高調波が発生する。これについて
の理論は数学書から周知であり、ここでは詳細には説明
しない。
【０００９】信号が制限された時間の間だけ正弦波ない
し矩形波であるなら、これは位相が規則的順序で一定の
位相角だけずらされた信号であり、この信号も同じよう
に周波数と称することができる。数値ｆはこの場合、比
較的に大きな振幅で周波数スペクトル内で発生する周波
数を表す。この場合、周波数ｆの倍数でない周波数も発
生することができる。このような周波数も以下同じよう
に、高調波と称する。
【００１０】図１は、全体で１０により示された距離測
定装置の基本回路図である。この装置は光送信器１２ｍ
例えばレーザーダイオードと、光受信器１４、例えばフ
ォトダイオードを有する。光送信器によってコリメート
された可視連続レーザービームが送信信号１６として形
成され、この送信信号は対象物１８（以下、ターゲット
と称する）で可視である。対象物１８により送信信号は
光学法則に従って反射され、受信信号として光受信器１
４により受信される。光受信器１４には、ターゲット測
定に続いて、光学的スイッチ２２、例えば可動のフラッ
プを介して送信信号１６が直接、基準信号１６’として
供給される。
【００１１】距離測定装置１０を制御するために回路装
置２４が設けられている。この回路装置は水晶発振器５
２を有している。水晶発振器５２は基本周波数ｆ０（基
本クロック５２，図２）を生成し、この周波数から以下
詳細に説明するすべての周波数が導出される。これら周
波数は距離測定装置の動作のためのものである。距離測
定装置１０による距離測定の一義的領域を拡大するため
に、この測定装置は送信信号１６に対して全部で３つの
変調周波数により駆動される。送信信号１６自体は公知
のように振幅変調される。従って受信信号も同じように
振幅変調されている。光学的スイッチを既知の時点で切
り換えることにより、時間シーケンスに基づいて、瞬時
の光学的受信信号が光学スイッチから直接由来するもの
か、またはターゲットから由来するものかを一義的に識
別することができる。光受信器１４はそれ自体公知のア
バランシュ・フォトダイオードとして構成することがで
き、複数の周波数の混合を同時に行うことができる。こ
の種のアバランシュ・フォトダイオードの構成および作
用は公知であり、本発明では詳細に説明しない。
【００１２】水晶発振器５２には第１の切り替え可能な
分周器２８が配属されている。この分周器を介して、水
晶発振器５２により生成された周波数ｆ０は選択的に周
波数ｆ１０，周波数ｆ２０並びに周波数ｆ３０に分周さ
れる。ここで周波数ｆ１０，ｆ２０，ｆ３０は分周器に
よりそれぞれ達成される値であるとする。これら周波数
の少なくとも２つは同じであっても良い。これはとりわ
け、後置接続されたバンドパスフィルタ３２’、３
２”、３２"'で高調波が周波数ｆ１０，ｆ２０，ｆ３０
の少なくとも１つから取り出しろ波される場合に有利で
ある。分周器２８にはフィルタ３０が後置接続されてい
る。このフィルタは、周波数ｆ１に対するバンドパスフ
ィルタ３０’、周波数ｆ２に対する３０”、周波数ｆ３
に対する３０"'として構成されている。周波数ｆ１０ｆ
２０，ｆ３０，ｆ１，ｆ２，ｆ３に対しては次の関係が
成立する。
【００１３】ｆ１＝ｋ’・ｆ１０ ｆ２＝ｋ”・ｆ２０ ｆ３＝ｋ"'・ｆ３０ ｋ’、ｋ”、ｋ"'∈１....Ｎ；（Ｎ：任意の整数） フィルタ３０には増幅器３２が後置接続されている。こ
こで増幅器３２’は周波数ｆ１の信号に対して、増幅器
３２”は周波数ｆ２の信号に対して、増幅器３２"'は周
波数ｆ３の信号に対して構成されている。周波数ｆ１，
ｆ２，ｆ３の増幅された信号は加算素子３３を介して光
受信器１４に送出される。
【００１４】水晶発振器５２には第２の切り替え可能な
分周器が配属されており、この分周器は付加的なデジタ
ル回路装置３４を有する。分周器３４の出力側では周波
数ｆ１０’、ｆ２０’、ｆ３０’の信号を読み出すこと
ができる。これら周波数ｆ１０’、ｆ２０’、ｆ３０’
はデジタル回路装置３４により周波数ｆ５の位相でさら
に切り換えられる。このことにより周波数スペクトルに
は、複数の周波数ラインからなる混合が生じる。ここで
しゅうはすうｆ１０’、ｆ２０’、ｆ３０’の少なくと
も２つは同じにすることができる。これはとりわけ、後
置接続されたバンドパスフィルタ３６’、３６”、３
６"'で高調波を周波数ｆ１０’、ｆ２０’、ｆ３０’の
少なくとも１つから取り出しろ波する場合に有利であ
る。分周器３４にはバンドパスフィルタ３６が後置接続
されており、ここでフィルタ３６’は周波数ｆ１’の信
号に対して、フィルタ３６”は周波数ｆ２’の信号に対
して、フィルタ３６"'は周波数ｆ３’の信号に対して構
成されている。
【００１５】フィルタ３６には増幅器３８が後置接続さ
れており、ここで増幅器３８’は周波数ｆ１’の信号に
対して、増幅器３８”は周波数ｆ２’の信号に対して、
増幅器３８"'は周波数ｆ３’の信号に対して構成されて
いる。周波数ｆ１’、ｆ２’、ｆ３’の増幅された信号
は加算素子４０を介して光送信器１２に送出される。導
通接続された周波数ｆ１’、ｆ２’、ｆ３’に応じて、
送信信号１６は光送信器１２により変調される。
【００１６】光受信器１４には時間的に順次連続する順
序で、以下Ａと称する光学的信号と、各光学的信号と同
時に以下Ｂと称する電気信号が印加される。
【００１７】
【表１】
【００１８】このことにより公知のように、混合によっ
て評価信号４２への変換が行われる。この評価信号４２
は必要な基本情報を含んでいる。すなわち、一方ではＡ
／Ｄ変換器クロッ５３を基準にしたターゲット信号２０
の位相角を含んでおり、他方では時間的に続いてＡ／Ｄ
変換器クロックを基準にした基準信号１６’の位相角を
含んでいる。測定周波数毎に２つの位相角の差を形成す
ることにより、基準量が脱落する。なぜなら、基準量は
順次連続するすべての測定において不変だからである。
結果として測定周波数ペアｆ１’−ｆ１，ｆ２’−ｆ
２，ｆ３’−ｆ３毎に１つの位相角が得られる。すなわ
ち全体で３つの位相角が得られる。周波数ｆ１’、ｆ
２’、ｆ３のうちの最小周波数が、全体距離測定の一義
領域を定める。周波数ｆ１’、ｆ２’、ｆ３’の最大周
波数が所定の測定時間での最大可能測定精度を定める。
ｆ１’、ｆ２’、ｆ３’のうちの最大周波数と最小周波
数の間にある周波数は基本的には必要ない。しかしこの
周波数は有利には、最小周波数の測定精度が十分でない
場合に、最大周波数の測定結果をそれぞれの正しい領域
に割り当てるために使用する。後者は、最大周波数の一
義領域よりも大きい距離を測定する場合に必要である。
【００１９】周波数ｆ３は、高分解能で緩慢なＡ／Ｄ変
換器を使用できるように比較的小さく選択する。評価信
号４２はアンチエーリアスフィルタ４４を介して供給さ
れ、ここから増幅器４６を介してＡ／Ｄ変換器４８に供
給される。アンチエーリアスフィルタ４４は周波数ｆ４
の評価信号に対してバンドパスフィルタを形成する。変
換された評価信号４２はマイクロプロセッサ５０に供給
される。マイクロプロセッサは相応の計算機能、記憶機
能、計数機能等を、対象物１８と距離測定装置１０との
距離を検出するために有する。マイクロプロセッサ５０
を介して同時に、変換器クロック５３がＡ／Ｄ変換器４
８の制御のために生成される。さらに、変換器クロック
５３に対して少なくとも一時的に固定の関係にある、マ
イクロプロセッサ５０の周波数信号ｆ５（トリガ信号）
が、周波数ｆ１０，ｆ２０，ｆ３０を周波数ｆ１０’、
ｆ２０’、ｆ３０’にシフトするために使用される。
【００２０】図２は、距離測定装置１０のブロック回路
図における回路装置２４を示す。以下図２に基づいて、
この回路装置の周波数ｆ１０，ｆ２０，ｆ３０，ｆ１
０’、ｆ２０’、ｆ３０’の形成について詳細に説明す
る。図１と同じ部分には同じ参照符号が付してあり、再
度説明しない。
【００２１】図２から、周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３が周波
数ｆ４だけ周波数ｆ１’、ｆ２’、ｆ３’にシフトされ
ることが明らかであり、また周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３，
ｆ１’、ｆ２’、ｆ３’が周波数ｆ１０，ｆ２０，ｆ３
０，ｆ１０’、ｆ２０’、ｆ３０’から発生することが
明らかである。実施例では、周波数ｆ１０は１５ＭＨ
ｚ、周波数ｆ２０は１５ＭＨｚ、周波数ｆ３０は１．８
７５ＭＨｚ、周波数ｆ１は３１５ＭＨｚ、周波数ｆ２は
１５ＭＨｚ、周波数ｆ３は１．８７５ＭＨｚであること
が前提とされる。
【００２２】周波数ｆ４は２．９２９ｋＨｚである。こ
の周波数だけ周波数ｆ１，ｆ２，ｆ３がシフトされる。
従って周波数ｆ１’は３１４．９９７ＭＨｚ、周波数ｆ
２’は１４．９９７ＭＨｚ、周波数ｆ３’は１．８７２
ＭＨｚである。全部の周波数はマイクロプロセッサ５０
の周波数ｆ５のトリガ信号によってデジタルで形成され
る。実施例では、トリガ信号ｆ５は、周波数ｆ１が３１
５ＭＨｚで、周波数ｆ２が１５ＭＨｚであるとき、周波
数ｆ４の正確に４倍である。周波数ｆ３が１．８７５Ｍ
Ｈｚであるとき、トリガ周波数ｆ５は周波数ｆ４の３２
倍である。実施例では水晶発振器５２は周波数ｆ０＝６
０ＭＨｚを有する。別の実施例ではもちろん異なる周波
数も可能である。
【００２３】マイクロプロセッサは別個の周波数発振器
によりクロック制御される。しかしこの周波数発振器の
機能は下位的なものであり、詳細には説明しない。有利
にはプロセッサクロックはｆ０の分周によって得られ
る。
【００２４】基本クロック５２は分周器５８の入力側５
４，分周器３４の入力側５６および５８と６０に供給さ
れる。さらにマイクロプロセッサ５０は分周器２８入力
側６２並びに６４（３重入力側）および分周器３４の入
力側６６，６８，７０，７２（３重入力側）と接続され
ている。
【００２５】分周器２８は切替手段７４を有し、この切
替手段の入力側は入力側５４、およびこの切替手段の回
路出力側は分周器７６ないし分周器７８と接続されてい
る。分周器７６と７８は切替手段８０と接続されてお
り、この切替手段は３重入／出力スイッチとして構成さ
れている。切替手段８０の３つの回路入力側はそれぞれ
フィルタ３０’、３０”、３０"'の１つと接続されてお
り、また分周器７８は回路入力側と、分周器７６は切替
手段８０の２つの回路入力側と接続されている。
【００２６】切替手段７４と８０の制御は、マイクロプ
ロセッサ５０により入力側６２ないし６４に生成された
切替信号によって行われる。ここで切替手段７４はその
２つの切替位置に直接調整することができ、切替手段８
０は３つの切替素子により調整することができる。分周
器７６は、入力側５２を介して印加された基本クロック
５２の周波数ｆ０を１／３２に分周し、分周器７８は基
本クロックｆ０の周波数を１／４に分周する。従ってフ
ィルタ３０’、３０”、３０、"'を介して相応の周波数
ｆ１，ｆ２，ｆ３が取り出しろ波される。周波数ｆ１，
ｆ２，ｆ３は、切替手段８０の出力側に印加される信号
ｆ１０，ｆ２０，ｆ３０の高調波とすることができる。
【００２７】２８により示した構成群７４，７６，７
８，８０は有利には集積論理回路によって置換すること
ができる。切替および分周機能はこの場合、フリップフ
ロップ、ＡＮＤゲート、ＯＲゲート、排他的ＯＲゲート
および別の論理素子によって実現される。
【００２８】分周器３４は切替手段８２を有し、この切
替手段は入力側５６と接続されている。切替手段８２の
回路出力側は分周器８４ないし分周器８６と接続されて
いる。分周器８４の出力側はシフトレジスタ８８と、お
よび分周器８６の出力側はシフトレジスタ９０と接続さ
れている。分周器３４はさらに切替手段９２（３重入／
出力スイッチ）を有し、この切替手段の回路出力側はフ
ィルタ３６’、３６”、３６"'と接続されている。シフ
トレジスタ９０は切替手段９２の回路入力側と、シフト
レジスタ８８は切替手段９２の２つの回路入力側と接続
されている。切替手段８２ないし９２の切替素子はマイ
クロプロセッサ５０を介して制御される。ここで切替手
段８２は入力側５６を選択的に分周器８４または２６に
接続する。分周器８４は４の分周比を有し、分周器８９
は３２の分周比を有する。これにより入力側５６に印加
される基本クロック５２の周波数が低下される。
【００２９】シフトレジスタ８８と９０は入力側５８と
６０を介して基本クロック５２と接続されている。シフ
トレジスタ８８と９０にはさらに入力側６６と７０を介
してマイクロプロセッサのトリガ信号ｆ５（図１参照）
が印加される。相応してこの印加されるトリガ信号によ
り、シフトレジスタ８８ないし９０の入力側で分周され
た周波数が正確に１基本クロックだけシフトされる。位
相のこのシフトは、例えば基本クロックｆ０＝６０ＭＨ
ｚの例では２．９２９ｋＨｚの周波数領域に生じる。従
ってシフトレジスタ８８と９０によって周波数ｆ１
０’、ｆ２０’、ｆ３０’がデジタルで形成される。相
応の高調波をろ波することにより周波数ｆ１’，ｆ
２’、ｆ３’が発生する。
【００３０】３４で示された構成群８２，８４，８６，
８８，９０，９２は有利には集積論理回路によって置換
することができる。切替および分周機能はこの場合、フ
リップフロップ、ＡＮＤゲート、ＯＲゲート、排他的Ｏ
Ｒゲート、および別の論理素子によって実現される。
【００３１】説明した実施例では位相差測定を前提とし
ている。もちろん他の位相測定法、例えばゼロ通過測定
も可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】レーザー距離測定装置の基本ブロック図であ
る。
【図２】レーザー距離測定装置の詳細なブロック図であ
る。
【符号の説明】
１０ 距離測定装置 １２ 光送信器 １４ 光受信器 １６ 送信信号 １８ ターゲット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 イェルク シュティールレ ドイツ連邦共和国 ヴァルデンブーフ ベ ートーヴェンシュトラーセ 36 (72)発明者 ペーター ヴォルフ ドイツ連邦共和国 ラインフェルデン−エ ヒターディンゲン モルトケシュトラーセ 28 (72)発明者 グンター フリンスパッハ ドイツ連邦共和国 レオンベルク ラウフ ハイマー ヴェーク 10

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 異なる周波数を有する少なくとも２つの
    信号を形成するための回路装置において、 周波数発振器（基本クロックｆ０）から、密に隣接する
    周波数（ｆ１とｆ１’、ｆ２とｆ２’、ｆ３とｆ３’）
    を有する周波数ペアを導出する、ことを特徴とする回路
    装置。
  2. 【請求項２】 密に隣接する異なる周波数（ｆ１とｆ
    １’、ｆ２とｆ２’、ｆ３とｆ３’）を形成するために
    トリガ信号（ｆ５，６８）が使用される、請求項１記載
    の回路装置。
  3. 【請求項３】 信号（ｆ１’、ｆ２’、ｆ３’）の少な
    くとも１つはトリガ信号（ｆ５）により、基本クロック
    （ｆ０）により与えられる一定の時間インターバルだけ
    シフトされる、請求項１または２記載の回路装置。
  4. 【請求項４】 少なくとも２つの異なる周波数（ｆ１と
    ｆ１’、ｆ２とｆ２’、ｆ３とｆ３’）を形成するため
    のトリガ信号（ｆ５）は、発振器に従属する精度によっ
    て形成される、請求項１から３までのいずれか１項記載
    の回路装置。
  5. 【請求項５】 少なくとも１つの周波数（ｆ１，ｆ２，
    ｆ３，ｆ１’、ｆ２’、ｆ３’）は、基本クロック（ｆ
    ０，５２）から導出された少なくとも１つの周波数（ｆ
    １０，ｆ２０，ｆ３０，ｆ１０’、ｆ２０’、ｆ３
    ０’）からの高調波をろ波することにより形成される、
    請求項１から４までのいずれか１項記載の回路装置。
  6. 【請求項６】 すべての周波数（ｆ１，ｆ２，ｆ３）
    は、所属の周波数（ｆ１’、ｆ２’、ｆ３’）から正確
    に１周波数（ｆ４）だけシフトされている、請求項１か
    ら５までのいずれか１項記載の回路装置。
  7. 【請求項７】 マイクロプロセッサ（５０）により制御
    可能で、切替可能な分周器（２８，３４）を有する、請
    求項１から６までのいずれか１項記載の回路装置。
  8. 【請求項８】 分周器（２８）は少なくとも１つの周波
    数（ｆ１０，ｆ２０，ｆ３０）を生成するように構成さ
    れ、分周器（３４）は少なくとも１つのシフトされた周
    波数（ｆ１０’、ｆ２０’、ｆ３０’）を生成するよう
    に構成されている、請求項１から７までのいずれか１項
    記載の回路装置。
  9. 【請求項９】 分周器（２８，３４）は、複数の周波数
    （ｆ１０，ｆ２０，ｆ３０ないしｆ１０’、ｆ２０’、
    ｆ３０’）を生成するためにサブ分周器（７６，７８，
    ８０，８２）を有する、請求項１から８までのいずれか
    １項記載の回路装置。
  10. 【請求項１０】 分周器（２８，３４）は、周波数（ｆ
    １０，ｆ２０，ｆ３０ないしｆ１０’、ｆ２０’、ｆ３
    ０’）の１つを選択的に生成するため切替手段（７４，
    ８０，８２，９２）を有する、請求項１から９までのい
    ずれか１項記載の回路装置。
  11. 【請求項１１】 分周器（３４）は、周波数（ｆ４）だ
    けシフトするためにシフトレジスタ（８８，９０）を有
    し、 該シフトレジスタはマイクロプロセッサ（５０）のトリ
    ガ信号を介して制御可能であり、入力周波数を少なくと
    も１基本クロック（ｆ０）だけシフトする、請求項１か
    ら１０までのいずれか１項記載の回路装置。
  12. 【請求項１２】 分周器（２８，３４）には、周波数
    （ｆ１０，ｆ２０，ｆ３０ないしｆ１０’、ｆ２０’、
    ｆ３０’）を有する信号を帯域ろ波するためのフィルタ
    （３０，３６）が後置接続されている、請求項１から１
    １までのいずれか１項記載の回路装置。
  13. 【請求項１３】 形成された周波数（ｆ１０，ｆ２０，
    ｆ３０，ｆ１０’、ｆ２０’、ｆ３０’）の少なくとも
    １つの高調波をＳＡＷフィルタ（表面波フィルタ）によ
    ってろ波する、請求項１から１２までのいずれか１項記
    載の回路装置。
  14. 【請求項１４】 構成群（８２，８４，８６，８８，９
    ０，９２）を有する分周器（３４）は集積論理回路によ
    って実現されている、請求項１から１３までのいずれか
    １項記載の回路装置。
  15. 【請求項１５】 構成群（７４，７６，７８，８０）を
    有する分周器（２８）は集積論理回路によって実現され
    ている、請求項１から１４までのいずれか１項記載の回
    路装置。
  16. 【請求項１６】 距離測定装置（１０）のレーザー信号
    （１６）の変調周波数を生成するために使用する、請求
    項１から１５までのいずれか１項記載の回路装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005538385A (ja) * 2002-09-14 2005-12-15 ローベルト　ボツシユ　ゲゼルシヤフト　ミツト　ベシユレンクテル　ハフツング 測距方法及び測距装置
JP2006518037A (ja) * 2003-02-19 2006-08-03 ライカ ジオシステムズ アクチェンゲゼルシャフト 測地距離データを得る方法及び装置
KR100802969B1 (ko) 2000-11-30 2008-02-14 라이카 게오시스템스 아게 거리 측정 장치 내의 주파수 합성을 위한 방법 및 장치
KR100967530B1 (ko) 2002-08-03 2010-07-05 로베르트 보쉬 게엠베하 광학적 거리 측정 방법 및 장치
JP2011522216A (ja) * 2008-02-01 2011-07-28 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 対物距離計測方法及び装置
JP2016161411A (ja) * 2015-03-02 2016-09-05 株式会社トプコン 光波距離計

Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10232878B4 (de) 2002-07-19 2012-02-23 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Distanzmessung
DE10233604A1 (de) * 2002-07-24 2004-02-19 Alfred Brühn Parametrische Verstärkungstechnik als Verfahren zur hochempfindlichen Phasenmessung in Vorrichtungen und Geräten als universelle Sensor- und Brückenverstärker
DE10239435B4 (de) * 2002-08-28 2005-03-10 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung und Verfahren zur optischen Distanzmessung
DE10239448A1 (de) 2002-08-28 2005-06-16 Robert Bosch Gmbh Entfernungsmessgerät
DE10348104B3 (de) * 2003-10-16 2004-12-23 Leuze Electronic Gmbh + Co Kg Optischer Sensor
DE10350489B4 (de) * 2003-10-29 2005-10-13 Leuze Electronic Gmbh & Co Kg Optischer Sensor
US7230684B2 (en) * 2004-03-10 2007-06-12 Raytheon Company Method and apparatus for range finding with a single aperture
DE102004042466A1 (de) 2004-09-02 2006-03-23 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur optischen Distanzmessung
EP1863190B1 (en) * 2005-03-09 2016-11-02 Omron Corporation Distance measuring apparatus, distance measuring method, reflector and communication system
DE102006013707A1 (de) * 2006-03-24 2007-09-27 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zur Distanzmessung, sowie Verfahren zum Betrieb einer solchen Vorrichtung
DE102006031580A1 (de) 2006-07-03 2008-01-17 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Verfahren und Vorrichtung zum dreidimensionalen Erfassen eines Raumbereichs
DE102006061725A1 (de) 2006-12-28 2008-07-03 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zur Entfernungsmessung
GB0713413D0 (en) * 2007-07-11 2007-08-22 Qinetiq Ltd Phased based sensing
DE102009010465B3 (de) 2009-02-13 2010-05-27 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Laserscanner
DE102009012646A1 (de) 2009-03-11 2010-09-23 Amt Gmbh Abstandsmessung
US9551575B2 (en) 2009-03-25 2017-01-24 Faro Technologies, Inc. Laser scanner having a multi-color light source and real-time color receiver
DE102009015920B4 (de) 2009-03-25 2014-11-20 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102009035336B3 (de) 2009-07-22 2010-11-18 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102009035337A1 (de) 2009-07-22 2011-01-27 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen eines Objekts
US9113023B2 (en) 2009-11-20 2015-08-18 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with spectroscopic energy detector
US9210288B2 (en) 2009-11-20 2015-12-08 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with dichroic beam splitters to capture a variety of signals
US9529083B2 (en) 2009-11-20 2016-12-27 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional scanner with enhanced spectroscopic energy detector
DE102009057101A1 (de) 2009-11-20 2011-05-26 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102009055989B4 (de) 2009-11-20 2017-02-16 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102009055988B3 (de) 2009-11-20 2011-03-17 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9607239B2 (en) 2010-01-20 2017-03-28 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations
US9628775B2 (en) 2010-01-20 2017-04-18 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations
US9163922B2 (en) 2010-01-20 2015-10-20 Faro Technologies, Inc. Coordinate measurement machine with distance meter and camera to determine dimensions within camera images
US9879976B2 (en) 2010-01-20 2018-01-30 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine that uses a 2D camera to determine 3D coordinates of smoothly continuous edge features
CN102713498B (zh) 2010-01-20 2014-07-16 法罗技术股份有限公司 用于坐标测量机的安装装置
DE102010020925B4 (de) 2010-05-10 2014-02-27 Faro Technologies, Inc. Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102010032726B3 (de) 2010-07-26 2011-11-24 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102010032725B4 (de) 2010-07-26 2012-04-26 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102010032723B3 (de) 2010-07-26 2011-11-24 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
DE102010033561B3 (de) 2010-07-29 2011-12-15 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9168654B2 (en) 2010-11-16 2015-10-27 Faro Technologies, Inc. Coordinate measuring machines with dual layer arm
DE102012100609A1 (de) 2012-01-25 2013-07-25 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US8997362B2 (en) 2012-07-17 2015-04-07 Faro Technologies, Inc. Portable articulated arm coordinate measuring machine with optical communications bus
DE102012107544B3 (de) 2012-08-17 2013-05-23 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
GB2521312B (en) 2012-09-06 2016-07-06 Faro Tech Inc Laser scanner with additional sensing device
GB2522142A (en) 2012-09-14 2015-07-15 Faro Tech Inc Laser scanner with dynamical adjustment of angular scan velocity
US10067231B2 (en) 2012-10-05 2018-09-04 Faro Technologies, Inc. Registration calculation of three-dimensional scanner data performed between scans based on measurements by two-dimensional scanner
DE102012109481A1 (de) 2012-10-05 2014-04-10 Faro Technologies, Inc. Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung
US9513107B2 (en) 2012-10-05 2016-12-06 Faro Technologies, Inc. Registration calculation between three-dimensional (3D) scans based on two-dimensional (2D) scan data from a 3D scanner
JP6514920B2 (ja) * 2015-03-11 2019-05-15 株式会社トプコン 光波距離計
DE102015122844A1 (de) 2015-12-27 2017-06-29 Faro Technologies, Inc. 3D-Messvorrichtung mit Batteriepack
DE102016225411A1 (de) 2016-12-19 2018-06-21 Robert Bosch Gmbh Laserentfernungsmesser
CN114624692B (zh) * 2022-05-17 2022-07-19 成都市安比科技有限公司 一种基于相位差的无线测距方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56132580A (en) * 1980-03-10 1981-10-16 Tokyo Optical Co Ltd Light wave rangemeter
JPS60146525A (ja) * 1984-01-11 1985-08-02 Nec Corp 多周波クロツクジエネレ−タ
JPH0267031A (ja) * 1988-09-01 1990-03-07 Nec Home Electron Ltd 周波数ホッピング装置
JPH03190415A (ja) * 1989-12-20 1991-08-20 Fujitsu Ltd 周波数可変パルス発生器

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1264770A (ja) * 1970-12-03 1972-02-23
GB1348221A (en) * 1972-04-28 1974-03-13 Marconi Co Ltd Circuit arrangements for producing two closely spaced frequencies
FR2194076B1 (ja) * 1972-07-27 1976-10-29 Neo Tec Etude Applic Tech
HU177519B (en) * 1978-12-22 1981-10-28 Telefongyar Frequency synthetiser for generating pilot signals and subcarriers
GB2128048B (en) * 1982-10-01 1986-03-26 Racal Dana Instr Ltd Frequency synthesizer with a low-noise low-frequency output
DE3238896C1 (en) * 1982-10-21 1988-06-09 Messerschmitt-Boelkow-Blohm Gmbh, 8012 Ottobrunn, De Semi-active guidance method for missiles
DE3779621T2 (de) * 1987-03-31 1993-02-11 Benjamin Gavish Verfahren und vorrichtung zur ueberwachung von kleinen pikverschiebungen in einem frequenzspektrum.
US4959654A (en) * 1987-04-20 1990-09-25 Honeywell Inc. Digitally generated two carrier phase coded signal source
DE3852851D1 (de) * 1987-07-29 1995-03-09 Siemens Ag Vorrichtung zur Modulation der Intensität eines Korpuskularstrahls.
EP0386498B1 (en) * 1989-02-17 1996-06-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Oscillator
DE4303804C2 (de) * 1993-02-10 1996-06-27 Leuze Electronic Gmbh & Co Einrichtung zur Entfernungsmessung
JP3536073B2 (ja) * 1995-05-24 2004-06-07 アジレント・テクノロジーズ・インク 分周器

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56132580A (en) * 1980-03-10 1981-10-16 Tokyo Optical Co Ltd Light wave rangemeter
JPS60146525A (ja) * 1984-01-11 1985-08-02 Nec Corp 多周波クロツクジエネレ−タ
JPH0267031A (ja) * 1988-09-01 1990-03-07 Nec Home Electron Ltd 周波数ホッピング装置
JPH03190415A (ja) * 1989-12-20 1991-08-20 Fujitsu Ltd 周波数可変パルス発生器

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100802969B1 (ko) 2000-11-30 2008-02-14 라이카 게오시스템스 아게 거리 측정 장치 내의 주파수 합성을 위한 방법 및 장치
KR100967530B1 (ko) 2002-08-03 2010-07-05 로베르트 보쉬 게엠베하 광학적 거리 측정 방법 및 장치
JP2005538385A (ja) * 2002-09-14 2005-12-15 ローベルト　ボツシユ　ゲゼルシヤフト　ミツト　ベシユレンクテル　ハフツング 測距方法及び測距装置
US7599046B2 (en) 2002-09-14 2009-10-06 Robert Bosch Gmbh Method for determination of a distance and distance measuring device with improvement of the effective resolution of an A/D converter by phase modulation of the measured signal
JP4808965B2 (ja) * 2002-09-14 2011-11-02 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 測距方法及び測距装置
JP2006518037A (ja) * 2003-02-19 2006-08-03 ライカ ジオシステムズ アクチェンゲゼルシャフト 測地距離データを得る方法及び装置
US7982859B2 (en) 2003-02-19 2011-07-19 Leica Geosystems Ag Method and device for deriving geodetic distance data
JP2011522216A (ja) * 2008-02-01 2011-07-28 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド 対物距離計測方法及び装置
JP2016161411A (ja) * 2015-03-02 2016-09-05 株式会社トプコン 光波距離計

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Publication number Publication date
DE19811550A1 (de) 1999-09-23
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GB9904155D0 (en) 1999-04-14
GB2336493B (en) 2000-09-27
JP4727776B2 (ja) 2011-07-20

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