JPH11344541A - 比較器のしきい値測定方法および比較器のしきい値測定装置 - Google Patents
比較器のしきい値測定方法および比較器のしきい値測定装置Info
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- JPH11344541A JPH11344541A JP10153115A JP15311598A JPH11344541A JP H11344541 A JPH11344541 A JP H11344541A JP 10153115 A JP10153115 A JP 10153115A JP 15311598 A JP15311598 A JP 15311598A JP H11344541 A JPH11344541 A JP H11344541A
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- comparator
- sine wave
- phase term
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Abstract
(57)【要約】
【課題】汎用性のある比較器しきい値測定手段を提供す
る。 【解決手段】しきい値測定装置は、測定対象である比較
器５に入力するための正弦波信号を発生する正弦波発生
器１０と、比較器５からの出力信号をフーリエ変換する
フーリエ変換器２０と、しきい値検出器３０と、求めた
しきい値を出力する出力部４０とを有していて、さら
に、しきい値検出器３０は、ワークエリアや後述する正
弦波テーブル３１０の記憶エリアとして機能する記憶部
３１と、しきい値の検出等の処理を行う処理部３５とを
備える。
る。 【解決手段】しきい値測定装置は、測定対象である比較
器５に入力するための正弦波信号を発生する正弦波発生
器１０と、比較器５からの出力信号をフーリエ変換する
フーリエ変換器２０と、しきい値検出器３０と、求めた
しきい値を出力する出力部４０とを有していて、さら
に、しきい値検出器３０は、ワークエリアや後述する正
弦波テーブル３１０の記憶エリアとして機能する記憶部
３１と、しきい値の検出等の処理を行う処理部３５とを
備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、比較器に設定され
たしきい値を測定するための方法および装置に関する。
たしきい値を測定するための方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のしきい値測定装置として、例えば
特開平５−１１９１２０号公報に記載されているものが
あった。この装置では、まず、測定対象である、２つの
レベルのしきい値を設定したコンパレータ回路（比較
器）に正弦波信号を入力し、これに対するコンパレータ
回路の出力信号を２種類のワンショットマルチバイブレ
ータ回路に入力させる。
特開平５−１１９１２０号公報に記載されているものが
あった。この装置では、まず、測定対象である、２つの
レベルのしきい値を設定したコンパレータ回路（比較
器）に正弦波信号を入力し、これに対するコンパレータ
回路の出力信号を２種類のワンショットマルチバイブレ
ータ回路に入力させる。
【０００３】そして、一方のワンショットマルチバイブ
レータ回路では、前記出力信号の立ち上がりの時に所定
時間間隔のパルスを出力し、他方のワンショットマルチ
バイブレータ回路では、前記出力信号の立ち下がり時に
所定時間間隔のパルスを出力する。さらに、２つのワン
ショットマルチバイブレータ回路の夫々に対して設けら
れたサンプルホールド回路が、対応するワンショットマ
ルチバイブレータ回路からのパルス出力をトリガとし
て、その時点でのコンパレータ回路からの出力信号をサ
ンプルホールドすることによって、コンパレータ回路に
設定された２つのレベルのしきい値を測定するようにし
ていた。
レータ回路では、前記出力信号の立ち上がりの時に所定
時間間隔のパルスを出力し、他方のワンショットマルチ
バイブレータ回路では、前記出力信号の立ち下がり時に
所定時間間隔のパルスを出力する。さらに、２つのワン
ショットマルチバイブレータ回路の夫々に対して設けら
れたサンプルホールド回路が、対応するワンショットマ
ルチバイブレータ回路からのパルス出力をトリガとし
て、その時点でのコンパレータ回路からの出力信号をサ
ンプルホールドすることによって、コンパレータ回路に
設定された２つのレベルのしきい値を測定するようにし
ていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような装置によれば、正弦波信号等の試験信号を直接
ホールドして、換言すれば試験信号の絶対値レベルを検
出して、しきい値を測定しているため、測定対象である
コンパレータ回路の前段に信号レベルを変換するレベル
変換用回路を配置してしきい値を測定する場合には、正
確にしきい値を測定することができなかった。
たような装置によれば、正弦波信号等の試験信号を直接
ホールドして、換言すれば試験信号の絶対値レベルを検
出して、しきい値を測定しているため、測定対象である
コンパレータ回路の前段に信号レベルを変換するレベル
変換用回路を配置してしきい値を測定する場合には、正
確にしきい値を測定することができなかった。
【０００５】本発明は、このような課題を解決するため
に創作されたもので、その目的は、汎用性のあるしきい
値測定手段を提供する点にある。
に創作されたもので、その目的は、汎用性のあるしきい
値測定手段を提供する点にある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１に係る発明は、複数のしきい値を設定可能
な比較器に設定されたしきい値を測定する方法であっ
て、しきい値を設定しない状態で前記比較器に正弦波信
号を入力してその出力信号のフーリエ変換結果の位相項
を共通位相項とするステップと、複数のしきい値を設定
した状態で前記比較器に前記正弦波信号を入力して各し
きい値に対する出力信号のフーリエ変換結果の位相項を
しきい値毎に求めるステップと、しきい値毎にその位相
項と共通位相項とを減じた位相を求めるステップと、こ
の求めた各位相に対応する前記正弦波信号の振幅を比較
器に設定されたしきい値として出力するステップと、を
含むことを特徴とする比較器のしきい値測定方法であ
る。
に、請求項１に係る発明は、複数のしきい値を設定可能
な比較器に設定されたしきい値を測定する方法であっ
て、しきい値を設定しない状態で前記比較器に正弦波信
号を入力してその出力信号のフーリエ変換結果の位相項
を共通位相項とするステップと、複数のしきい値を設定
した状態で前記比較器に前記正弦波信号を入力して各し
きい値に対する出力信号のフーリエ変換結果の位相項を
しきい値毎に求めるステップと、しきい値毎にその位相
項と共通位相項とを減じた位相を求めるステップと、こ
の求めた各位相に対応する前記正弦波信号の振幅を比較
器に設定されたしきい値として出力するステップと、を
含むことを特徴とする比較器のしきい値測定方法であ
る。
【０００７】また、本発明の他の態様である請求項２に
係る発明は、複数のしきい値を設定可能な比較器に設定
されたしきい値を測定する装置であって、前記比較器に
入力するための正弦波信号を発生する正弦波発生手段
と、前記比較器からの出力信号をフーリエ変換するフー
リエ変換手段と、しきい値を求める処理を行う処理手段
と、を備え、前記処理手段は、しきい値を設定しない状
態で前記比較器に前記正弦波発生手段が発生した正弦波
信号を入力してその出力信号のフーリエ変換結果の位相
項を共通位相項とする手段と、複数のしきい値を設定し
た状態で前記比較器に前記正弦波発生手段が発生した正
弦波信号を入力して、各しきい値に対する出力信号の前
記フーリエ変換手段によるフーリエ変換結果の位相項を
しきい値毎に求める手段と、しきい値毎にその位相項と
共通位相項とを減じた位相を求める手段と、この求めた
各位相に対応する前記正弦波発生手段が発生した正弦波
信号の振幅を比較器に設定されたしきい値として出力す
る手段と、を含んでなることを特徴とする比較器のしき
い値測定装置である。
係る発明は、複数のしきい値を設定可能な比較器に設定
されたしきい値を測定する装置であって、前記比較器に
入力するための正弦波信号を発生する正弦波発生手段
と、前記比較器からの出力信号をフーリエ変換するフー
リエ変換手段と、しきい値を求める処理を行う処理手段
と、を備え、前記処理手段は、しきい値を設定しない状
態で前記比較器に前記正弦波発生手段が発生した正弦波
信号を入力してその出力信号のフーリエ変換結果の位相
項を共通位相項とする手段と、複数のしきい値を設定し
た状態で前記比較器に前記正弦波発生手段が発生した正
弦波信号を入力して、各しきい値に対する出力信号の前
記フーリエ変換手段によるフーリエ変換結果の位相項を
しきい値毎に求める手段と、しきい値毎にその位相項と
共通位相項とを減じた位相を求める手段と、この求めた
各位相に対応する前記正弦波発生手段が発生した正弦波
信号の振幅を比較器に設定されたしきい値として出力す
る手段と、を含んでなることを特徴とする比較器のしき
い値測定装置である。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しつつ説明する。図１は、本発明の実施の形態に
係る比較器のしきい値測定装置のブロック構成図であ
り、図１に示すようにこのしきい値測定装置は、測定対
象である比較器５に入力するための正弦波信号を発生す
る正弦波発生器１０と、比較器５からの出力信号をフー
リエ変換するフーリエ変換器２０と、しきい値検出器３
０と、求めたしきい値を出力する出力部４０とを有し、
複数のしきい値を設定可能な比較器５に設定された各し
きい値を測定する。
を参照しつつ説明する。図１は、本発明の実施の形態に
係る比較器のしきい値測定装置のブロック構成図であ
り、図１に示すようにこのしきい値測定装置は、測定対
象である比較器５に入力するための正弦波信号を発生す
る正弦波発生器１０と、比較器５からの出力信号をフー
リエ変換するフーリエ変換器２０と、しきい値検出器３
０と、求めたしきい値を出力する出力部４０とを有し、
複数のしきい値を設定可能な比較器５に設定された各し
きい値を測定する。
【０００９】さらに、しきい値検出器３０は、ワークエ
リアや後述する正弦波テーブル３１０の記憶エリアとし
て機能する記憶部３１と、しきい値の検出等の処理を行
う処理部３５とを備えている。このしきい値測定装置
は、ＬＳＩ技術を用いたハードウエア構成で実現するこ
とはもちろんのこと、ＣＰＵ（中央処理装置）がＲＯＭ
等の記憶媒体に記憶された動作プログラムにしたがった
処理を行うようにしたソフトウエアでも実現可能であ
る。
リアや後述する正弦波テーブル３１０の記憶エリアとし
て機能する記憶部３１と、しきい値の検出等の処理を行
う処理部３５とを備えている。このしきい値測定装置
は、ＬＳＩ技術を用いたハードウエア構成で実現するこ
とはもちろんのこと、ＣＰＵ（中央処理装置）がＲＯＭ
等の記憶媒体に記憶された動作プログラムにしたがった
処理を行うようにしたソフトウエアでも実現可能であ
る。
【００１０】図３は、記憶部３１に記憶される正弦波テ
ーブル３１０の構成を示しており、この正弦波テーブル
３１０は、正弦波発生器１０が発生する正弦波信号の位
相と振幅とを対にして予め記憶しておいたものであり、
正弦波テーブル３１０に記憶する各位相の位相差は適宜
定めればよい。
ーブル３１０の構成を示しており、この正弦波テーブル
３１０は、正弦波発生器１０が発生する正弦波信号の位
相と振幅とを対にして予め記憶しておいたものであり、
正弦波テーブル３１０に記憶する各位相の位相差は適宜
定めればよい。
【００１１】また、図４上部に示すように、測定対象で
ある比較器５には、複数例えば３組のしきい値が設定可
能であり、一例として「しきい値ａ、しきい値ａ’」、
「しきい値ｂ、しきい値ｂ’」、および、「しきい値
ｃ、しきい値ｃ’」の３組のしきい値を設定するものと
する。正弦波信号の振幅値が高い方のしきい値（例えば
しきい値ａ）以上になった時にハイレベルの信号が比較
器５から出力され、一方、正弦波信号の振幅値が低い方
のしきい値（例えばしきい値ａ’）以下となったとき
に、ローレベルの信号が比較器５から出力されるよう、
即ち、比較器５がヒステリシス特性を有するように各組
のしきい値が設定可能になっている。
ある比較器５には、複数例えば３組のしきい値が設定可
能であり、一例として「しきい値ａ、しきい値ａ’」、
「しきい値ｂ、しきい値ｂ’」、および、「しきい値
ｃ、しきい値ｃ’」の３組のしきい値を設定するものと
する。正弦波信号の振幅値が高い方のしきい値（例えば
しきい値ａ）以上になった時にハイレベルの信号が比較
器５から出力され、一方、正弦波信号の振幅値が低い方
のしきい値（例えばしきい値ａ’）以下となったとき
に、ローレベルの信号が比較器５から出力されるよう、
即ち、比較器５がヒステリシス特性を有するように各組
のしきい値が設定可能になっている。
【００１２】したがって、図４に示すように、正弦波信
号を比較器５に入力すると、「しきい値ａ、しきい値
ａ’」、「しきい値ｂ、しきい値ｂ’」、および、「し
きい値ｃ、しきい値ｃ’」の夫々によって、符号、
、で示す信号が比較器５から出力される。
号を比較器５に入力すると、「しきい値ａ、しきい値
ａ’」、「しきい値ｂ、しきい値ｂ’」、および、「し
きい値ｃ、しきい値ｃ’」の夫々によって、符号、
、で示す信号が比較器５から出力される。
【００１３】さて、図１、２、４等を参照しつつしきい
値測定装置の動作について説明する。なお、始めは比較
器５にしきい値を設定しないでおくものとする。まず、
図２のステップ２００において、処理部３５が正弦波発
生器１０を駆動すると、正弦波発生器１０が正弦波信号
を発生し、発生された正弦波信号は比較器５に入力され
てその出力信号がフーリエ変換器２０によってフーリエ
変換される。処理部３５は、このフーリエ変換結果の位
相部を共通位相項として記憶部３１のワークエリアに記
憶する。図４中、符号で示すものは、しきい値を設定
しない比較器５の出力信号を示していて、共通位相項を
φｃで示している。
値測定装置の動作について説明する。なお、始めは比較
器５にしきい値を設定しないでおくものとする。まず、
図２のステップ２００において、処理部３５が正弦波発
生器１０を駆動すると、正弦波発生器１０が正弦波信号
を発生し、発生された正弦波信号は比較器５に入力され
てその出力信号がフーリエ変換器２０によってフーリエ
変換される。処理部３５は、このフーリエ変換結果の位
相部を共通位相項として記憶部３１のワークエリアに記
憶する。図４中、符号で示すものは、しきい値を設定
しない比較器５の出力信号を示していて、共通位相項を
φｃで示している。
【００１４】次に、図４に示すように、「しきい値ａ、
しきい値ａ’」、「しきい値ｂ、しきい値ｂ’」、およ
び、「しきい値ｃ、しきい値ｃ’」を比較器５に設定す
る。ステップ２１０において、処理部３５が正弦波発生
器１０を駆動すると、正弦波発生器１０が正弦波信号を
発生し、発生された正弦波信号が比較器５に入力される
と、「しきい値ａ、しきい値ａ’」、「しきい値ｂ、し
きい値ｂ’」、および、「しきい値ｃ、しきい値ｃ’」
の夫々によって、符号、、で示す信号が比較器５
から出力される。さらに、符号、、で示す信号が
フーリエ変換器２０によってフーリエ変換されると、処
理部３５は、各フーリエ変換結果の位相部を「φ1 ＋φ
ｃ」、「φ2 ＋φｃ」、「φ3 ＋φｃ」として記憶部３
１のワークエリアに格納することによって、しきい値毎
の位相項を検出する。
しきい値ａ’」、「しきい値ｂ、しきい値ｂ’」、およ
び、「しきい値ｃ、しきい値ｃ’」を比較器５に設定す
る。ステップ２１０において、処理部３５が正弦波発生
器１０を駆動すると、正弦波発生器１０が正弦波信号を
発生し、発生された正弦波信号が比較器５に入力される
と、「しきい値ａ、しきい値ａ’」、「しきい値ｂ、し
きい値ｂ’」、および、「しきい値ｃ、しきい値ｃ’」
の夫々によって、符号、、で示す信号が比較器５
から出力される。さらに、符号、、で示す信号が
フーリエ変換器２０によってフーリエ変換されると、処
理部３５は、各フーリエ変換結果の位相部を「φ1 ＋φ
ｃ」、「φ2 ＋φｃ」、「φ3 ＋φｃ」として記憶部３
１のワークエリアに格納することによって、しきい値毎
の位相項を検出する。
【００１５】次に、ステップ２２０において、処理部３
５は、ワークエリア内に格納してある、しきい値毎の位
相項「φ1 ＋φｃ」、「φ2 ＋φｃ」、「φ3 ＋φｃ」
と、共通位相項φｃとの減算処理を行い、この処理結果
である「φ1 」、「φ2 」、「φ3 」を各しきい値に対
する位相として記憶部３１のワークエリアに記憶する。
５は、ワークエリア内に格納してある、しきい値毎の位
相項「φ1 ＋φｃ」、「φ2 ＋φｃ」、「φ3 ＋φｃ」
と、共通位相項φｃとの減算処理を行い、この処理結果
である「φ1 」、「φ2 」、「φ3 」を各しきい値に対
する位相として記憶部３１のワークエリアに記憶する。
【００１６】そして、ステップ２３０において、処理部
３５は、ステップ２２０で求めた各位相に対する振幅を
正弦波テーブル３１０を索出して求めて、求めた振幅を
順次出力部４０に出力していく。これによって、ＣＲ
Ｔ、液晶ディスプレイ等の表示デバイスを出力部４０と
した場合には表示出力が行われ、また、プリンタ等の印
字装置を出力部４０とした場合には印刷出力を行われ
る。
３５は、ステップ２２０で求めた各位相に対する振幅を
正弦波テーブル３１０を索出して求めて、求めた振幅を
順次出力部４０に出力していく。これによって、ＣＲ
Ｔ、液晶ディスプレイ等の表示デバイスを出力部４０と
した場合には表示出力が行われ、また、プリンタ等の印
字装置を出力部４０とした場合には印刷出力を行われ
る。
【００１７】このようにして、しきい値を設定しない状
態で比較器５に正弦波信号を入力してその出力信号のフ
ーリエ変換結果の位相項を共通位相項とし、次に複数の
しきい値を設定した状態で比較器５に正弦波信号を入力
して各しきい値に対する出力信号のフーリエ変換結果の
位相項をしきい値毎に求め、さらに、しきい値毎にその
位相項と共通位相項とを減じた位相を求めて、この求め
た各位相に対応する正弦波信号の振幅を比較器５に設定
されたしきい値として出力することができる。
態で比較器５に正弦波信号を入力してその出力信号のフ
ーリエ変換結果の位相項を共通位相項とし、次に複数の
しきい値を設定した状態で比較器５に正弦波信号を入力
して各しきい値に対する出力信号のフーリエ変換結果の
位相項をしきい値毎に求め、さらに、しきい値毎にその
位相項と共通位相項とを減じた位相を求めて、この求め
た各位相に対応する正弦波信号の振幅を比較器５に設定
されたしきい値として出力することができる。
【００１８】したがって、この実施の形態によれば、従
来のように正弦波信号を入力した時に出力信号の絶対値
をサンプルホールドしてしきい値を求めていないため、
信号レベル変換回路が比較器５の前段に配置された場合
においても従来に比べて正確にしきい値を求めることが
可能となる。
来のように正弦波信号を入力した時に出力信号の絶対値
をサンプルホールドしてしきい値を求めていないため、
信号レベル変換回路が比較器５の前段に配置された場合
においても従来に比べて正確にしきい値を求めることが
可能となる。
【００１９】即ち、レベル変換回路によって、正弦波発
生器１０が発生した正弦波信号をレベル変換したものを
比較器に入力しても、その変換係数を把握しておけば、
共通位相項で、レベル変換で生じるずれを吸収すること
ができ、しきい値毎の位相項との差はレベル変換に関わ
らずしきい値に応じた値を求めることができるので、信
号レベル変換回路が比較器５の前段に配置された場合に
おいても従来に比べて正確にしきい値を測定することが
可能になる。
生器１０が発生した正弦波信号をレベル変換したものを
比較器に入力しても、その変換係数を把握しておけば、
共通位相項で、レベル変換で生じるずれを吸収すること
ができ、しきい値毎の位相項との差はレベル変換に関わ
らずしきい値に応じた値を求めることができるので、信
号レベル変換回路が比較器５の前段に配置された場合に
おいても従来に比べて正確にしきい値を測定することが
可能になる。
【００２０】なお、この実施の形態では、正弦波テーブ
ル３１０を予め作成しておくようにしたが、処理部３５
が、正弦波発生器１０が発生する正弦波信号の振幅およ
び位相を順次検出するように、例えば、振幅および位相
検出回路を設けこの回路から出力される検出信号を順次
入力して、位相と振幅とを対応付けたものを順次正弦波
テーブル３１０に自動格納させるようにすることも可能
である。
ル３１０を予め作成しておくようにしたが、処理部３５
が、正弦波発生器１０が発生する正弦波信号の振幅およ
び位相を順次検出するように、例えば、振幅および位相
検出回路を設けこの回路から出力される検出信号を順次
入力して、位相と振幅とを対応付けたものを順次正弦波
テーブル３１０に自動格納させるようにすることも可能
である。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１または２
に係る発明によれば、信号レベル変換回路が比較器の前
段に配置された場合においても、従来に比べて正確にし
きい値を測定することが可能になる。
に係る発明によれば、信号レベル変換回路が比較器の前
段に配置された場合においても、従来に比べて正確にし
きい値を測定することが可能になる。
【図１】本発明の実施の形態に係るしきい値測定装置の
ブロック構成図である。
ブロック構成図である。
【図２】処理部３５の動作説明図である。
【図３】正弦波テーブル３１０の構成図である。
【図４】比較器しきい値測定装置の動作説明図である。
５ 比較器 １０ 正弦波発生器 ２０ フーリエ変換器 ３０ しきい値検出器 ３１ 記憶部 ３５ 処理部 ４０ 出力部 ３１０ 正弦波テーブル
Claims (2)
- 【請求項１】 複数のしきい値を設定可能な比較器に設
定されたしきい値を測定する方法であって、 しきい値を設定しない状態で前記比較器に正弦波信号を
入力してその出力信号のフーリエ変換結果の位相項を共
通位相項とするステップと、 複数のしきい値を設定した状態で前記比較器に前記正弦
波信号を入力して各しきい値に対する出力信号のフーリ
エ変換結果の位相項をしきい値毎に求めるステップと、 しきい値毎にその位相項と共通位相項とを減じた位相を
求めるステップと、 この求めた各位相に対応する前記正弦波信号の振幅を比
較器に設定されたしきい値として出力するステップと、
を含むことを特徴とする比較器のしきい値測定方法。 - 【請求項２】 複数のしきい値を設定可能な比較器に設
定されたしきい値を測定する装置であって、 前記比較器に入力するための正弦波信号を発生する正弦
波発生手段と、 前記比較器からの出力信号をフーリエ変換するフーリエ
変換手段と、 しきい値を求める処理を行う処理手段と、を備え、 前記処理手段は、 しきい値を設定しない状態で前記比較器に前記正弦波発
生手段が発生した正弦波信号を入力してその出力信号の
フーリエ変換結果の位相項を共通位相項とする手段と、 複数のしきい値を設定した状態で前記比較器に前記正弦
波発生手段が発生した正弦波信号を入力して、各しきい
値に対する出力信号の前記フーリエ変換手段によるフー
リエ変換結果の位相項をしきい値毎に求める手段と、 しきい値毎にその位相項と共通位相項とを減じた位相を
求める手段と、 この求めた各位相に対応する前記正弦波発生手段が発生
した正弦波信号の振幅を比較器に設定されたしきい値と
して出力する手段と、を含んでなることを特徴とする比
較器のしきい値測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10153115A JPH11344541A (ja) | 1998-06-02 | 1998-06-02 | 比較器のしきい値測定方法および比較器のしきい値測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10153115A JPH11344541A (ja) | 1998-06-02 | 1998-06-02 | 比較器のしきい値測定方法および比較器のしきい値測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11344541A true JPH11344541A (ja) | 1999-12-14 |
Family
ID=15555306
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10153115A Withdrawn JPH11344541A (ja) | 1998-06-02 | 1998-06-02 | 比較器のしきい値測定方法および比較器のしきい値測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11344541A (ja) |
-
1998
- 1998-06-02 JP JP10153115A patent/JPH11344541A/ja not_active Withdrawn
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| Date | Code | Title | Description |
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| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050802 |