JPH11337622A - 回路検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 回路検査装置を複雑、大型化することなく、
安価なコストで各接触子を被検査回路に向けて進退移動
させることのできる回路検査装置を提供する。 【解決手段】 被検査回路Ｐの所定部位に接触する接触
子６と、この接触子６を摺動自在に保持する保持体４
と、この保持体４を複数支持する支持体１８と、前記保
持体４を前記支持体１８に取り付ける取付部材２とを有
し、前記接触子６を前記被検査回路Ｐの前記所定部位に
接触させて前記被検査回路Ｐの導通検査を行う回路検査
装置において、取付部材２の周りにコイル９を設け、こ
のコイル９を通過する方向に進退移動自在に保持体４を
設けて、取付部材２と前記コイル９と前記保持体４とで
ソレノイド構造体を形成した。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板や集
積回路（ＩＣ）、大規模集積回路（ＬＳＩ）等に形成さ
れた被検査回路の導通検査を行う回路検査装置に関し、
特に、被検査回路の所定部位に接触子を接触させて当該
部位の導通検査を行うことができる、簡単かつコンパク
トな構成の回路検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】プリント基板や集積回路（ＩＣ）、大規
模集積回路（ＬＳＩ）等に形成された被検査回路の導通
検査を行う回路検査装置が知られている。図２および図
３は回路検査装置の従来例で、図２は装置の全体構成を
説明する概略図、図３は図２に示した回路検査装置の検
査部の構成を説明する縦断面図である。

【０００３】回路検査装置は、装置本体のフレーム等に
設けられた支持体１８と、この支持体１８に複数配置さ
れた検査部１′とから概略構成される。支持体１８は、
前記フレーム等に昇降自在に設けられ、前記フレーム等
に設けられたソレノイドやシリンダ等の駆動体１９の駆
動によって被検査回路Ｐに向けて昇降させられる。検査
部１′は、被検査回路Ｐの所定の部位に接触する接触子
６と、この接触子６をソケット６ｄ内に収容して摺動自
在に保持する保持体４と、接触子６を常時被検査回路Ｐ
側に付勢する付勢手段としてのばね６ａとから構成され
る。保持体４の一方側（被検査回路Ｐ側）には、接触子
６が挿入される穴７が形成され、この穴７の中にばね６
ａを嵌装して接触子６が挿入されている。

【０００４】被検査回路Ｐの導通検査を行う際には、駆
動体１９を駆動させて支持体１８を下降させ、接触子６
の先端６ｂを被検査回路Ｐの所定部位に押し当て、所定
の検査電流を被検査回路に流して行う。検査終了後は、
駆動体１９を駆動させて支持体１８とともに接触子６を
上昇させる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した従来
の回路検査装置は、支持体に設けられた複数の接触子
が、駆動体２０の駆動によって支持体１８とともに一体
になって昇降するものであり、任意の検査部１′の接触
子６のみを被検査回路Ｐの所定部位に接触させて当該部
位のみの検査を行うということはできない。

【０００６】そこで、図４に示す別の従来例のように、
各検査部１′の接触子６を被検査回路Ｐに対して進退移
動できるように、前記フレーム等に固定した支持体１８
に、接触子６の個々に応じて駆動体２０，２０・・を設
け、各駆動体２０，２０・・の進退移動するロッドの先
端に接触子６を取り付けた回路検査装置が提案されてい
る。このような回路検査装置によれば、任意の接触子６
のみを被検査回路Ｐの所定部位に接触させて当該部位の
みの検査を行うことが可能になる。しかしながら、この
回路検査装置では、多数個の駆動体２０，２０・・が装
置から張り出すので装置が大型化し、かつ構成も複雑と
なって装置のコストも高くなるという問題がある。

【０００７】本発明は、上記の問題点にかんがみてなさ
れたもので、装置構成を複雑、大型化することなく、安
価なコストで各接触子を被検査回路に向けて進退移動さ
せることのできる回路検査装置を提供しようとするもの
である。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の回路検査装置は以下のように構成した。

【０００９】請求項１に記載の回路検査装置は、被検査
回路の所定部位に接触する接触子と、この接触子を摺動
自在に保持する保持体と、この保持体を装置本体に取り
付ける取付部材とを有する検査部を複数有し、前記接触
子を前記被検査回路の前記所定部位に接触させて前記被
検査回路の導通検査を行う回路検査装置において、前記
取付部材の周りにコイルを巻回し、前記保持体を前記コ
イルと直交する方向に進退移動自在に設けて、前記取付
部材と前記コイルと前記保持体とでソレノイド構造体を
形成した。この構成により、任意の検査部の接触子を被
検査回路に接触させて所望の部位の導通検査を行うこと
ができる。また、駆動体としてソレノイドを選択し、か
つ、前記取付部材と前記保持体等でソレノイド構造体を
構成することにより、回路検査装置の内部に駆動体を組
み込むことが可能になって、回路検査装置の構成を簡単
かつコンパクトにし、装置のコストも低廉なものとする
ことができる。

【００１０】請求項２に記載の回路検査装置は、前記装
置本体に取り付けられる複数の前記検査部の全部または
一部に前記ソレノイド構造体を設けて構成した。検査部
の全部にソレノイド構造体を採用することにより、被検
査回路のあらゆる箇所について部分的な導通検査を行う
ことができ、また、一部のみにソレノイド構造体を採用
することにより、装置のコストを低く抑えることができ
る。

【００１１】請求項３に記載の回路検査装置は、前記取
付部材は、前記装置本体に取り付けられ貫通穴を有する
ケースと、前記貫通穴に嵌め込まれた非導電性の筒状体
と、この筒状体の周りに巻回されたコイルとからなり、
前記保持体は磁性体から形成されて前記筒状体の貫通穴
に移動自在に挿入されて構成されている。このように構
成することにより、コイルと保持体と取付部材とでソレ
ノイド構造体を形成することができ、コイルに通電する
ことにより可動鉄心である保持体が進退移動する。これ
によって、任意の検査部の接触子を被検査回路に接触さ
せて所望の部位の導通検査を行うことができる。

【００１２】請求項４に記載の回路検査装置は、前記取
付部材は、前記装置本体に取り付けられ貫通穴を有する
ケースと、前記貫通穴に嵌め込まれた筒状体と、この筒
状体の周りに巻回されたコイルと、前記筒状体の貫通穴
の中に挿入された筒状の非導電性のガイド部材とからな
り、前記保持体は磁性体から形成され、前記ガイド部材
の貫通穴に移動自在に挿入されて構成されている。この
ように構成することにより、前記保持体は前記ガイド部
材に案内されて進退移動するので、保持体を精密に進退
移動させることが可能になり、ＩＣやＬＳＩ等に形成さ
れた微細な被検査回路にも本発明を適用することが可能
になる。

【００１３】請求項５に記載の回路検査装置は、前記保
持体を非磁性体として形成し、前記保持体の周りに磁性
体から形成された部材を設けて構成した。このように構
成することにより、保持体の周りに鉄片等の磁性体を設
けるだけでそのまま従来の保持体を使用できるので、新
たに保持体を形成する必要がなくなり、安価に本発明を
実施することが可能になる。

【００１４】請求項６に記載の回路検査装置は、被検査
回路の所定部位に接触する接触子と、この接触子を摺動
自在に保持する保持体と、この保持体を装置本体に取り
付ける取付部材とを有する検査部を複数有し、前記接触
子を前記被検査回路の前記所定部位に接触させて前記被
検査回路の導通検査を行う回路検査装置において、前記
取付部材の周囲に磁石を配置し、前記保持体にコイルを
巻回して前記コイルと直交する方向に進退移動自在に設
けて、前記取付部材と前記保持体と前記磁石とでソレノ
イド構造体を形成して構成した。この構成によっても、
コイルに通電すれば保持体が進退移動して、任意の検査
部の接触子を被検査回路に接触させて所望の部位の導通
検査を行うことができる。また、前記取付部材と前記保
持体等でソレノイド構造体を構成することにより、回路
検査装置の内部に駆動体を組み込むことが可能になっ
て、回路検査装置の構成を簡単かつコンパクトにし、回
路検査装置のコストも低廉なものとすることができる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、この発明の回路検査装置の
好適な一実施形態を、図面にしたがって詳細に説明す
る。図１はこの発明の回路検査装置の一実施形態にかか
り、検査部の縦断面図である。なお、以下の説明におい
て「磁性」とはコイルを励磁させたときに磁化する性質
を有することを意味する。

【００１６】図１に示すように、この発明の回路検査装
置は、プリント基板やＩＣ，ＬＳＩ等に形成された被検
査回路の所定部位に接触する接触子６と、この接触子６
を図１の左右方向ＡＢに摺動自在に保持する保持体４
と、この保持体４を図示しない支持体に取り付ける取付
部材２とからなる検査部１を前記支持体に複数取り付け
て構成されている。前記支持体は、装置本体のフレーム
等の固定部に取り付けられている。

【００１７】接触子６は、被検査回路に接触する先端部
６ｂと、接触子６の外周面上に設けられ保持体４と接触
子６とを電気的に絶縁状態にするソケット６ｄとを有し
ている。取付部材２には貫通穴３が形成され、この貫通
穴３にプラスチックやセラミック等の非導電性の部材で
形成された筒状体１０ａが嵌め込まれている。そして、
この筒状体１０ａの周囲のホビン９ａの周りにコイル９
が巻回されている。

【００１８】保持体４は、鉄などの磁性体から形成さ
れ、筒状体１０ａの穴内に挿入されている。保持体４
は、筒状体１０ａの穴内周面に案内されながら、図中Ａ
Ｂ方向に進退移動自在である。保持体４の一側（図面の
右側）には、接触子６の外径とほぼ一致する内径を有す
る穴７が形成されている。この穴７の底部に圧縮コイル
ばね６ａが嵌装され、さらに接触子６が挿入される。穴
７の開口部には接触子６が抜け出ないようにストッパが
取り付けられる。

【００１９】この態様により、接触子６は圧縮コイルば
ね６ａによって常時一側に付勢される。保持体４の他側
からは、穴７に連通する貫通穴５が明けられ、接触子６
に接続された信号線８がこの貫通穴５を通って検査部１
の外方に延出する。また、取付部材２の他方側には端末
部材１２が取り付けられ、この端末部材１２の他側にば
ね受け部材１７がねじ部１７ａによって螺着されてい
る。

【００２０】保持体４の他端にはＥリング１３が取り付
けられ、このＥリング１３に当接するばね受け部材１４
とばね受け部材１７との間に圧縮コイルばね１５が嵌装
されている。従って、保持体４は圧縮コイルばね１５に
よって常時他方側（図中左側）に付勢される。なお、保
持体４が鉄等の導電性部材で形成されている場合には、
絶縁のために保持体４が当接するばね受け部材１７や端
末部材１２は非導電性部材で形成されなければならな
い。

【００２１】上記構成の保持体４は、取付部材２の貫通
穴３内に挿入される。取付部材２の貫通穴３の一方側の
開口には、環状のストッパ部材１１が取り付けられ、圧
縮コイルばね１５の付勢力によって保持体４が取付部材
２から抜け出ないようにしている。ストッパ部材１１は
通常鉄等の磁性体から形成されるが、保持体４が鉄等の
導電性部材で形成されている場合には、ストッパ部材１
１と保持体４とを電気的に絶縁状態とするため、ストッ
パ１１の貫通穴３の内側にプラスチックやゴム等の絶縁
部材１０ｂを設ける必要がある。なお、支持体１８に設
けられる複数個の検査部１のうち、全部を上記構成とし
てもよいし、一部のみを上記構成としてもよい。

【００２２】次に、上記構成の本発明の回路検査装置の
作用を説明する。被検査回路の導通検査を行う際は、コ
イル９に直流又は交流の電流を流して励磁させ、可動鉄
心である保持体４を圧縮コイルばね１５の付勢力に抗し
て一方側へ移動させる。これにより、検査部１の接触子
６が前記被検査回路の所定部位に押し当てられる。

【００２３】前記被検査回路の特定部位のみの導通検査
を行うような場合は、当該部位の導通検査を行う検査部
１以外の検査部１への電源の供給を遮断すればよい。こ
れによって、検査部１は圧縮コイルばね１５の付勢力に
よって速やかに被検査回路から離脱する。このようにし
て、任意の検査部１以外の検査部１のコイル９への電流
を遮断することにより、所望の部位の導通検査を行うこ
とが可能になる。

【００２４】この発明の好適な実施形態について説明し
てきたが、この発明は上記の実施形態により何ら限定さ
れるものではない。例えば、支持体１８はフレーム等装
置の固定部に設けられ、コイル９に通電することによっ
て保持体４を被検査回路側に移動させるものとして説明
したが、支持体１８を先に説明した従来技術と同様に進
退移動自在とし、ソレノイドの駆動によって接触子６を
被検査回路から離脱させるように構成してもよい。

【００２５】また、上記の実施形態では、保持体４は鉄
などの磁性体から形成するものとして説明したが、保持
体４をプラスチックやセラミック等の非磁性体で形成
し、保持体４の周囲に鉄等の磁性体から形成された部材
（例えば鉄片）を取り付けるようにしてもよい。さら
に、筒状体１０ａの周囲に環状の磁石を配置し、保持体
４にコイルを巻き付けるものとして構成してもよい。こ
の構成によっても、コイルに通電すれば保持体４を進退
移動させて任意部位の導通検査を行うことができる。

【００２６】また、筒状体１０ａは非導電性の部材で形
成するものとして説明したが、導電性の部材で形成して
もよく、この場合は筒状体１０ａの穴の中に非導電性の
ガイド部材を設ければよい。この場合、ガイド部材の内
周面を保持体４の外形に併せて精密に形成することによ
り、保持体４を正確に案内することが可能になり、Ｉ
Ｃ，ＬＳＩといった微細な被検査回路にも適用が可能に
なる。

【００２７】

【発明の効果】この発明の回路検査装置によれば、保持
体と取付部材とでソレノイド構造体を形成しているの
で、検査部内に駆動体を組込むことができ、装置の全体
構成をコンパクトなものにすることができる。また、そ
の構成も極めて簡単であるので、装置が複雑になること
もなく、多種多様な回路検査に適した安価な回路検査装
置を提供することができる。

【００２８】また、上述したように、検査部内に駆動体
が組み込まれるので、検査部の修理や点検が極めて容易
であり、保持体も取付部材の貫通穴に挿入されているだ
けなので、接触子が摩耗した場合にも容易に交換するこ
とができ、作業性にも優れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の回路検査装置の一実施形態にかか
り、検査部の縦断面図である。

【図２】回路検査装置の従来例で、回路検査装置の全体
構成を説明する図である。

【図３】図２の回路検査装置の検査部の縦断面図であ
る。

【図４】回路検査装置のさらに別の従来例である。

【符号の説明】

１，１′ 検査部 ２ 取付部材 ３ 貫通穴 ４ 保持体 ５ 貫通穴 ６ 接触子 ７ 穴 ９ コイル １０ａ 筒状体 １１，１２ ストッパ １５ ばね １８ 支持体 １９，２０ 駆動体

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検査回路の所定部位に接触する接触子
   と、この接触子を摺動自在に保持する保持体と、この保
   持体を装置本体に取り付ける取付部材とを有する検査部
   を複数有し、前記接触子を前記被検査回路の前記所定部
   位に接触させて前記被検査回路の導通検査を行う回路検
   査装置において、 前記取付部材の周りにコイルを巻回し、前記保持体を前
   記コイルと直交する方向に進退移動自在に設けて、前記
   取付部材と前記コイルと前記保持体とでソレノイド構造
   体を形成したこと、 を特徴とする回路検査装置。
2. 【請求項２】 前記装置本体に取り付けられる複数の前
   記検査部の全部または一部に前記ソレノイド構造体を設
   けたこと、 を特徴とする請求項１に記載の回路検査装置。
3. 【請求項３】 前記取付部材は、前記装置本体に取り付
   けられ貫通穴を有するケースと、前記貫通穴に嵌め込ま
   れた非導電性の筒状体と、この筒状体の周りに巻回され
   たコイルとからなり、前記保持体は磁性体から形成され
   て前記筒状体の貫通穴に移動自在に挿入されること、 を特徴とする請求項１または請求項２に記載の回路検査
   装置。
4. 【請求項４】 前記取付部材は、前記装置本体に取り付
   けられ貫通穴を有するケースと、前記貫通穴に嵌め込ま
   れた筒状体と、この筒状体の周りに巻回されたコイル
   と、前記筒状体の貫通穴の中に挿入された筒状の非導電
   性のガイド部材とからなり、前記保持体は磁性体から形
   成されて前記ガイド部材の貫通穴に移動自在に挿入され
   ること、 を特徴とする請求項１または２に記載の回路検査装置。
5. 【請求項５】 前記保持体を非磁性体として形成し、前
   記保持体の周りに磁性体から形成された部材を設けたこ
   と、 を特徴とする請求項３または４に記載の回路検査装置。
6. 【請求項６】 被検査回路の所定部位に接触する接触子
   と、この接触子を摺動自在に保持する保持体と、この保
   持体を装置本体に取り付ける取付部材とを有する検査部
   を複数有し、前記接触子を前記被検査回路の前記所定部
   位に接触させて前記被検査回路の導通検査を行う回路検
   査装置において、 前記取付部材の周囲に磁石を配置し、前記保持体にコイ
   ルを巻回して前記コイルと直交する方向に進退移動自在
   に設けて、前記取付部材と前記保持体と前記磁石とでソ
   レノイド構造体を形成したこと、 を特徴とする回路検査装置。