JPH11330958A - 位相検出装置 - Google Patents

位相検出装置

Info

Publication number
JPH11330958A
JPH11330958A JP11067686A JP6768699A JPH11330958A JP H11330958 A JPH11330958 A JP H11330958A JP 11067686 A JP11067686 A JP 11067686A JP 6768699 A JP6768699 A JP 6768699A JP H11330958 A JPH11330958 A JP H11330958A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
circuit
delayed
output
output signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11067686A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4216393B2 (ja
Inventor
Carl L Shurboff
カール・エル・シュアボフ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Motorola Solutions Inc
Original Assignee
Motorola Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Motorola Inc filed Critical Motorola Inc
Publication of JPH11330958A publication Critical patent/JPH11330958A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4216393B2 publication Critical patent/JP4216393B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/085Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
    • H03L7/089Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
    • H03L7/0891Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses the up-down pulses controlling source and sink current generators, e.g. a charge pump
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03DDEMODULATION OR TRANSFERENCE OF MODULATION FROM ONE CARRIER TO ANOTHER
    • H03D13/00Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations
    • H03D13/003Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations in which both oscillations are converted by logic means into pulses which are applied to filtering or integrating means
    • H03D13/004Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations in which both oscillations are converted by logic means into pulses which are applied to filtering or integrating means the logic means delivering pulses at more than one terminal, e.g. up and down pulses
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/085Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
    • H03L7/089Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 同相条件付近でループに等量の電荷を提供す
る位相検出器を提供する。 【解決手段】 位相検出器回路500は、第1フリップ
フロップ502,第2フリップフロップ504,第1チ
ャージ・ポンプ506および第2チャージ・ポンプ50
8を具備する。フリップフロップの一方が、被受信刻時
信号に応答してチャージ・ポンプを直接的にイネーブル
にする。第1遅延回路512は、被遅延出力信号と第2
フリップフロップからの出力信号を合成するANDゲート
510への第1フリップフロップからの出力信号を遅延
させる。ANDゲートの出力は、第2遅延回路514にお
いて遅延され、被遅延リセット信号を生成する。このリ
セット信号が両方のフリップフロップを同時にリセット
し、チャージ・ポンプをディスエーブルにする。位相検
出器回路は、同相条件付近で位相ロック・ループに与え
られる電荷量の均衡をとり、位相検出器の線形化を改善
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、一般に位相検出装置に
関する。さらに詳しくは、本発明は位相ロック・ループ
において位相差信号を生成する改善された位相検出装置
に関する。
【0002】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】位相
検出器回路は、2つの入力信号間の位相差を検出するた
めによく用いられる。典型的な用途の1つに、基準発振
器からの基準信号とループ帰還信号との間の位相差を検
出するための位相ロック・ループ(PLL: phase locked
loop)がある。位相検出器回路の出力は、基準信号とPL
Lの出力信号との間の位相関係を調整するために用いら
れる。
【0003】1つの位相検出器回路は、2つのD型フリ
ップフロップ,遅延素子およびANDゲートを備える。フ
リップフロップのD入力は高論理レベルに接続される。
1つのフリップフロップは、基準信号により刻時(cloc
k)され、もう一方のフリップフロップはPLLの電圧制御
発振器(VCO: voltage controlled oscillator)からの
帰還信号によって刻時される。フリップフロップの出力
は共に論理積演算され、その結果が遅延素子において遅
延されて、一方のフリップフロップをリセットするため
に用いられる。もう一方のフリップフロップは、遅延さ
れないANDゲートからの結果によりリセットされる。各
フリップフロップは、チャージ・ポンプをイネーブルに
(可能化)する。1つのチャージ・ポンプがVCOに対し
て正の電流を提供し、もう一方のチャージ・ポンプがVC
Oに負の電流を提供する。基準信号と帰還信号との間の
位相不一致を修正するために電荷が加えられる。
【0004】位相検出器回路は、一般的に大半の用途に
関して充分なものである。しかし、特に同相条件付近で
は、チャージ・ポンプによりVCOに加えられる、あるい
はそこから減じられる電荷に不均衡がある。その結果、
位相ノイズが生まれる。位相ノイズの量は、n-分周シ
ンセサイザ(fractional-n synthesizer)など特定の用
途においては容認できるものではない。n-分周シンセ
サイザの位相ノイズを最適化するためには、特定の位相
オフセットに関してループに等しい量の電荷を加える
か、減じなければならない。従来技術による位相検出器
回路は、この目的のためには不充分である。
【0005】従って、同相条件付近でループに等量の電
荷を提供する位相検出器が当技術において必要とされ
る。
【0006】
【実施例】図1を参照して、これは位相検出器回路10
0のブロック図を示す。位相検出器回路100は、第1
格納回路すなわちD型フリップフロップ102と、第2
格納回路すなわちD型フリップフロップ104と、第1
チャージ・ポンプ106と、第2チャージ・ポンプ10
8とを具備する。位相検出器回路100は、第1遅延回
路110,第2遅延回路112,第3遅延回路114,
第4遅延回路116およびANDゲート118をさらに備
える。
【0007】第1フリップフロップ102は、正の電源
などの高論理レベルに接続されるデータ入力120と、
基準クロック信号Frを受信するよう構築されるクロック
入力122とを有する。第1フリップフロップ102
は、リセット入力124と出力126をさらに有する。
第2フリップフロップ104も同様に構築され、高論理
レベルに結合されるデータ入力130と可変クロック信
号Fvを受信するよう構築されるクロック入力132とを
有する。第2フリップフロップ104は、リセット入力
134と出力136とをさらに有する。
【0008】第1チャージ・ポンプ106は、第1フリ
ップフロップ102の出力126に第4遅延回路116
を介して結合されるイネーブル入力140を有する。第
1チャージ・ポンプ106は、位相検出器回路100の
出力142に結合される出力を有する。第2チャージ・
ポンプ108は、第2フリップフロップ104の出力1
36に第2遅延回路112を介して結合されるイネーブ
ル入力144を有する。第2チャージ・ポンプ108
も、位相検出器回路100の出力142に結合される。
第1チャージ・ポンプ106は、イネーブル信号がイネ
ーブル入力140に印加されると、正の極性を有するア
ップ電流を出力142に与える。同様に、第2チャージ
・ポンプは、イネーブル入力144にイネーブル信号が
印加されるとそれに応答して、負の極性を有するダウン
電流を出力142に与える。チャージ・ポンプの設計は
従来通りである。
【0009】遅延回路とANDゲートは、出力142に供
給される電荷量を等しくすることにより位相検出器回路
100を線形化するように構築される。位相検出器回路
100とそれが採用される回路の位相ノイズを最適化す
るためには、特定の位相オフセットに関して位相ロック
・ループ(PLL)に等しい量の電荷を与え、減じなけれ
ばならない。電荷の等化は、位相検出器のリセット経路
内の等しくない遅延回路に加えることにより行われる。
【0010】ANDゲート118は、第1フリップフロッ
プ102の出力126に結合される第1入力と第2フリ
ップフロップ104の出力136に結合される第2入力
とを有する。ANDゲート118は、出力150をさらに
有する。第3遅延回路114は、ANDゲート118の出
力150に結合される。第3遅延回路114は、第1遅
延回路110と第2フリップフロップ104のリセット
入力134とに結合される出力152を有する。第1遅
延回路110は、第1フリップフロップ102のリセッ
ト入力124に結合される出力154を有する。
【0011】第3遅延回路114は、第2チャージ・ポ
ンプ108によって与えられるダウン電流の最小パルス
幅をセットするために用いられる。第1遅延回路110
および第3遅延回路114により与えられる遅延の総量
がアップ電流の最小パルス幅をセットするために用いら
れる。
【0012】図2は、位相ロック・ループ(PLL)と共
に用いられる図1の位相検出器回路の動作を示すタイミ
ング図である。図2において、第2遅延回路112と第
4遅延回路116は、0秒の遅延にセットされ、PLLは
ロック状態にない。図2,図3および図4は、FRと示さ
れる基準クロックと、FVと示されるPLLの出力からの可
変クロックと、IUPと示されるアップ電流と、IDNと示さ
れるダウン電流とを示す。横軸は時間を示す。図2にお
いて、ループがロック状態にないので、アップ電流はダ
ウン電流よりも継続時間が長い。
【0013】図3において、ループがロックし、ループ
に加えられる正味の電荷がゼロになるように出力信号の
位相が調整される。これを実現するためには、第2遅延
回路112と第4遅延回路116とを0秒の継続時間に
セットして、ダウン電流パルス継続時間を長くする。ア
ップ電流パルスとダウン電流パルスは時間的には一致し
ないので、ループのノイズ底が低下する。従って、第2
遅延回路112を加えて、アップ電流およびダウン電流
を再整合しなければならない。この効果を図4に示す。
【0014】ある用途においては、20nsもパルスを遅
延させながら1nsの最小ダウン電流パルス幅を処理する
ように第2遅延回路112を設計しなければならない。
これを行うには、電流キャパシタまたは/および抵抗キ
ャパシタ遅延を介してリセット・フリップフロップを用
いることにより、パルスの各端を同量だけ遅延させる。
パルス端は再合成されて、総パルスを形成する。この目
的に適した回路は、図10に関連して後述する。
【0015】再び図1を参照して、ダウン電流の経路に
置かれた第2遅延回路112の追加論理を均衡にするた
めに第4遅延回路116が加えられる。それぞれの遅延
の他の要素も同様に一致しなければならない。
【0016】図1の位相検出器回路100は、改善され
た線形化を行うので、従来の位相検出器に比べて性能も
改善される。しかし、このような回路はモノリシック集
積回路の形で他の回路と一体化することが望ましい。こ
のような用途においては、使用される回路構成量を最小
限に抑えて、それにより集積回路の表面上の必要な面積
を最小限に抑えることが望ましい。さらに、回路の総消
費電力を最小限に抑えることが望ましい。従って、この
ような用途に関しては別の設計が好ましい。
【0017】図5は、本発明による位相検出器回路50
0のブロック図である。位相検出器回路500は、第1
格納回路すなわちフリップフロップ502と、第2格納
回路すなわち第2フリップフロップ504とを具備す
る。格納回路は、D型フリップフロップとして図示され
るが、他種のフリップフロップを含めて任意の適切な回
路構造を用いることができる。図示されるD型フリップ
フロップは回路面積と電力消費を削減しつつ、適切な動
作を行う。各格納回路は、図5ではそれぞれR,Qと標
識されるリセット入力と出力とを有する。第1フリップ
フロップ502は、リセット入力520と出力522を
有する。第2フリップフロップ504はリセット入力5
24と出力526を有する。格納回路はいずれも、図5
ではClkと標識されるクロック入力も有する。第1フリ
ップフロップ502は、基準クロック信号を受信するよ
う設定されるクロック入力528を有する。第2フリッ
プフロップ504は、可変速度クロック信号を受信する
よう設定されるクロック入力530を有する。第1フリ
ップフロップ502は、図5ではDと標識され、正の電
源電位に接続されるデータ入力532を有する。同様
に、第2フリップフロップ504は正の電源電位に接続
されるDと標識されるデータ入力534を有する。フリ
ップフロップのD入力は、他の適切な電位または時間可
変信号に接続してもよい。しかし、その目的は、受信さ
れるクロック信号に応答してフリップフロップのQ出力
に高論理レベルが提示されることである。その後、Q出
力は、Rリセット入力に印加されるリセット(RESET)
信号により低論理レベルにリセットされる。
【0018】位相検出器回路500は、第1格納回路す
なわち第1フリップフロップ502の出力522に結合
され、第1格納回路からの第1出力信号に応答してアッ
プ電流を提供する第1チャージ・ポンプ506をさらに
備える。アップ電流は、図5ではIUPと標識される。第
1チャージ・ポンプ506は、第1出力信号が第1値を
有するときアップ電流を提供し、第1出力信号が第2値
を有するときはアップ電流を提供しないので、第1出力
信号は第1チャージ・ポンプ506にとってイネーブル
信号として機能する。位相検出器回路500は、第1格
納回路すなわち第1フリップフロップ502の出力52
2に結合されて、第1格納回路からの出力信号に応答し
て被遅延出力信号を生成する第1遅延回路512をさら
に備える。位相検出器回路500は、第2格納回路すな
わち第2フリップフロップ504の出力526に結合さ
れて第2格納回路からの第2出力信号に応答してダウン
電流を提供する第2チャージ・ポンプ508をさらに備
える。ダウン電流は、図5においてはIDNと標識され
る。第2チャージ・ポンプ508は、第2出力信号が第
1値を有するときダウン電流を提供し、第2出力信号が
第2値を有するときはダウン電流を提供しないので、第
2出力信号は第2チャージ・ポンプ508にとってイネ
ーブル信号として機能する。第1チャージ・ポンプ50
6も第2チャージ・ポンプ508も従来のものである。
【0019】位相検出器回路500は、ANDゲート51
0をさらに具備する。ANDゲート510は、第1遅延回
路512の出力540に結合される第1入力と、第2格
納回路すなわち第2フリップフロップ504の出力52
6に結合される第2入力と、出力542とを有する。AN
Dゲート510は、被遅延出力信号を第2出力信号と合
成してリセット信号を生成する回路を形成する。最後
に、位相検出器回路500は、第2遅延回路514を有
する。第2遅延回路514はANDゲートの出力542に
結合される入力と、格納回路のリセット入力すなわち第
1フリップフロップ502のリセット入力520および
第2フリップフロップ504のリセット入力524に結
合される出力とを有する。第2遅延回路514は、リセ
ット信号を遅延させて、被遅延リセット信号を生成す
る。この信号が実質的に同時に両フリップフロップのR
リセット入力に印加される。
【0020】位相検出器回路500は、出力536にお
いて、基準クロック信号と可変クロック信号との間の位
相差に関連する出力信号を提供する。図示される実施例
においては、出力信号は、所定の強度と可変継続時間を
有する電流である。クロック入力530における可変ク
ロック信号の位相がクロック入力528における基準ク
ロック信号の位相よりも進んでいる場合は、正味の電荷
が出力532に減じられる。可変クロック信号の位相が
基準クロック信号の位相より遅れる場合は、正味の電荷
は出力532から加えられる。かくして、位相検出器回
路500は位相ロック・ループ(PLL)などの回路で用
いるのに適するが、他の用途も同様に有する。
【0021】動作中は、フリップフロップはリセット条
件にある。フリップフロップのデータ入力における高論
理レベルが被受信クロックパルスと、フリップフロップ
502のクロック入力528における基準クロック信号
と、第2フリップフロップ504のクロック入力503
における可変クロック信号とのそれぞれによりQ出力に
刻時される。Q出力が高論理レベルになると、高論理レ
ベルは個々のチャージ・ポンプに対するイネーブル信号
として働く。出力522の高論理レベルに応答して、第
1チャージ・ポンプ506はループに電荷を加え始め
る。出力526における高論理レベルに応答して、第2
チャージ・ポンプはループから電荷を減じ始める。
【0022】第1遅延回路512,第2遅延回路514
およびANDゲート510を備えるリセット回路は次のよ
うに動作する。第2フリップフロップの出力526にお
ける信号が高になるとすぐに、ANDゲート510への第
2入力が高論理レベルになる。この信号は図5ではRDN
と標識される。第1フリップフロップ502の出力52
2からの信号は、20nsなど所定の継続時間だけ第1遅
延回路512において遅延される。この継続時間が過ぎ
ると、図5でRUPと標識される被遅延出力信号がANDゲー
ト510の第1入力に印加される。ANDゲート510に
対する両方の入力が高になると、出力542が高にな
り、リセット信号を提供する。しかし、リセット信号は
第2の所定の継続時間だけ第2遅延回路により遅延され
る。この継続時間が過ぎると、被遅延リセット信号は、
第1フリップフロップ502のリセット入力520と第
2フリップフロップ504のリセット入力524とに、
実質的に同時に印加される。被遅延リセット信号の印加
により、両方のフリップフロップがリセット条件にリセ
ットされ、この場合、出力522と出力526とは低論
理レベルになる。これにより第1チャージ・ポンプ50
6および第2チャージ・ポンプ508はディスエーブル
(不能)になる。
【0023】図6は、位相ロック・ループと共に動作さ
れる図5の位相検出器回路500の動作を示すタイミン
グ図である。図6における動作と同様に、第1遅延回路
512の所定の遅延は0秒にセットされ、第1遅延回路
512を迂回するのと等価となる。図6においては、可
変クロックFVと基準クロックFRの立ち上がり端が一致
し、出力電流IDN,IUPは同時にt1においてオンになる。
遅延がゼロであると、2つのフリップフロップ(図5)
は同時にリセットされ、2つの出力電流は同時にt2にお
いてオフになる。パルス幅t1〜t2は第2遅延回路514
の継続時間と一致し、図示される実施例においては1ns
の継続時間となる。
【0024】図7は、位相ロック・ループと共に動作さ
れる図5の位相検出器回路500の動作を示すタイミン
グ図である。図7においては、第1遅延回路512の継
続時間が0秒より大きい継続時間にセットされる。ここ
でも、可変クロックFVと基準クロックFRの立ち上がり端
が時刻t1において一般的に一致して、信号が同相であり
PLLがロックされることを示す。これもt1において、第
1チャージ・ポンプ506と第2チャージ・ポンプ50
8(図5)がイネーブルになり、ループに電流の供給を
始め、信号RDNはANDゲート510に対する第2入力にお
いて高になる。第1遅延回路512の継続時間が過ぎる
と、時刻t2において、ANDゲート510への第1入力の
信号RDNが高になり、ANDゲート510の出力542にお
けるリセット信号を開始する。第2遅延回路514の継
続時間が過ぎると、時刻t3において図5および図7でリ
セットと標識される被遅延リセット信号が高になり、2
つのフリップフロップをリセットする。リセットされる
と、第1フリップフロップ502の出力522における
信号は低になり、第1チャージ・ポンプ506をオフに
する。また、第2フリップフロップ504の出力526
における信号RDNが低になり、第2チャージ・ポンプ5
08をオフにする。かくして、ループがロック状態にあ
り、第1遅延回路512を迂回しないので、位相検出器
回路500は、実質的に等しいアップ電流とダウン電流
パルスを生成する。
【0025】図8は、位相ロック・ループと共に動作さ
れる図5の位相検出器回路500の動作を示すタイミン
グ図である。図8においては、可変クロック信号FVは基
準クロック信号FRに遅れ、正味の電荷がループに加えら
れる。時刻t1において、基準クロック信号FRが第1フリ
ップフロップ502(図5)のクロック入力528にお
いて高になる。Q出力522が直ちに高になり、第1チ
ャージ・ポンプ506がイネーブルになって、ループに
対しアップ電流IUPを送り始める。その後、時刻t2にお
いて位相ずれ可変クロック信号FVが到着し、第2チャー
ジ・ポンプ508がイネーブルになってダウン電流IDN
を提供する。ANDゲート510の第2入力である信号RDN
は、直ちに高になるが、ANDゲート510の第1入力で
ある信号RU Pは、第1遅延回路512の継続時間の間は
低に留まる。RUPは時刻t3において高になる。時刻t4
おいて、第2遅延回路514の継続時間の後で、図5お
よび図8ではリセットと示される被遅延リセット信号が
高になり、2つのフリップフロップがリセットされる。
2つのチャージ・ポンプは直ちにディスエーブルにな
り、アップ電流とダウン電流は中断される。
【0026】図9は、位相ロック・ループと共に動作さ
れる図5の位相検出器回路500の動作を示すタイミン
グ図である。図9においては、可変クロック信号FVは基
準クロック信号FRより進み、正味の電荷がループから減
じられる。時刻t1において、可変クロック信号FVが高に
なり、第2チャージ・ポンプ508がイネーブルにな
り、ANDゲート510(図5)の第2入力におけるリセ
ット信号RDNが高になる。その後、時刻t2において基準
クロック信号FRが高になり、アップ電流がループに供給
される。時刻t3において、第1遅延回路512の継続時
間の後で、ANDゲート510の第1入力におけるリセッ
ト信号RUPが高になり、リセット信号はANDゲート510
の出力542においてアサートされる。時刻t4におい
て、第2遅延回路514の継続時間の後で、被遅延リセ
ット信号リセットがフリップフロップ502のリセット
入力520と、フリップフロップ504のリセット入力
524とに印加される。フリップフロップがリセットさ
れ、チャージ・ポンプがディスエーブルになって、アッ
プ電流とダウン電流とは両方とも中断される。
【0027】図10は、図1の位相検出器回路100ま
たは図5の位相検出器回路500内に用いることのでき
る遅延回路1000のブロック図である。遅延回路10
00は、第1フリップフロップ1002,第1遅延素子
1004,第2フリップフロップ1006,第2遅延素
子1008,インバータ1010,インバータ101
2,NORゲート1014,NANDゲート1016およびイ
ンバータ1018を備える。第1フリップフロップ10
02と第2フリップフロップ1006は、図示される実
施例においてはD型フリップフロップであるが、他の回
路および他種のフリップフロップを用いてもよい。
【0028】第1フリップフロップ1002は、図10
ではDと標識されるデータ入力1020,クロック入力
1022,Rと標識されるリセット入力1024および
Qと標識される出力1026を有する。データ入力10
20は、正の基準電位に接続されて、常に高論理入力を
受信する。クロック入力1022は、遅延回路1000
への入力1030からクロック信号を受信するよう構築
される。出力1026は、第1遅延素子1004に結合
される。位相検出器回路と共に用いられると、第1フリ
ップフロップ1002は、第1被刻時回路を形成し、こ
の回路は第1フリップフロップ502(図5)などの第
1格納回路から出力信号を受信して、それに応答して第
1被刻時信号を生成する。
【0029】同様に、第2フリップフロップ1006
は、正の基準電位に接続されるデータ入力1032,ク
ロック入力1034,リセット入力1036および出力
1038を有する。クロック入力1034は、インバー
タ1018における反転後に入力1030からクロック
信号を受信するよう構築される。かくして、第1フリッ
プフロップ1002と第2フリップフロップ1006
は、入力1030におけるクロック信号の対向する位相
に応答して動作する。出力1038は、第2遅延素子1
008に結合される。
【0030】第1遅延素子1004と第2遅延素子10
08は、各フリップフロップから受信される信号を所定
量だけ遅延するよう動作する。各遅延素子は、抵抗−キ
ャパシタ(R−C)遅延または電流−キャパシタ遅延から
形成することができる。図示される実施例においては、
2つの遅延素子は、実質的に等しく、約20nsの遅延を
加える。図5の位相検出器回路500などの位相検出器
回路と共に用いられると、第1遅延素子1004は、第
1フリップフロップ1002からの第1被刻時信号を遅
延させて被遅延第1信号を生成し、第2遅延素子100
8は、第2フリップフロップ1006からの第2被刻時
信号を遅延させて被遅延第2信号を生成する。
【0031】第1遅延素子1004の出力は、NANDゲー
ト1016の第1入力とインバータ1010とに送られ
る。インバータ1010は、被遅延出力信号を反転し
て、それをNORゲート1014の第1入力に送る。第2
遅延素子1008の出力はインバータ1012で反転さ
れ、NANDゲート1016の第2入力とNORゲート101
4の第2入力とに送られる。インバータ1010,イン
バータ1012およびNORゲート1014は共に第1合
成回路1048を形成する。第1合成回路1048は、
第1遅延素子1004からの被遅延第1信号および第2
遅延素子1008からの被遅延第2信号に応答して、線
路1040上にリセット信号を生成する。リセット信号
は、第1フリップフロップ1002のリセット入力10
24と、第2フリップフロップ1006のリセット入力
1036とに送られる。フリップフロップをリセットす
る際に起こる可能性のある電気的信号不良を防ぐため
に、2つのインバータ、すなわちインバータ1050と
インバータ1052がNORゲート1014と第2フリッ
プフロップ1006のリセット入力1036との間の経
路に挿入される。
【0032】NANDゲート1016は、第1遅延素子10
04からの被遅延信号と第2遅延素子1008からの被
反転遅延信号とを受信し、それらを論理的に合成して遅
延回路1000の出力1042において出力信号を形成
する。出力信号は、入力信号に対して遅延される。被受
信パルスに関して、パルスの立ち上がり端は第1フリッ
プフロップ1002,第1遅延素子1004およびNAND
ゲート1016を含む経路において遅延される。パルス
の立ち下がり端は、インバータ1018,第2フリップ
フロップ1006,第2遅延素子1008およびNANDゲ
ート1016を含む経路において遅延される。好ましく
は、この2つの経路遅延は実質的に等しいので、パルス
は延びることも縮むこともない。かくしてNANDゲート1
016は、第2合成回路を形成する。この回路は第1遅
延素子1004からの被遅延第1信号と第2遅延素子1
008からの被遅延第2素子の合成に応答して、被遅延
出力信号を生成する。
【0033】図11は、図5の位相検出器回路500を
用いることができる位相ロック・ループ(PLL)110
0を示す。PLL1100は、位相検出器回路500,低
域通過フィルタ1102,電圧制御発振器(VCO)11
04および分周器1106を具備する。PLL1100
は、入力1110において所定の周波数を有する基準信
号F Rを受信し、出力1112において良好に制御された
周波数を有する出力信号を提供する。
【0034】位相検出器回路500は、入力1110か
ら基準信号FRを、分周器1106から可変周波数信号FV
を受信する。位相検出器回路500は、基準信号FRの位
相と可変周波数信号FVの位相との間の差を検出する。位
相検出器回路500は、位相差に関連し、位相差を最小
限に抑えるように調整された出力を生成する。低域通過
フィルタ1102は、この信号を濾波して帯域幅を狭
め、この信号をVCO104に送る。被濾波位相差信号に
応答して、VCO1104は出力信号の位相または周波数
を調整する。出力信号が分周器106に帰還され、分周
器は位相検出器回路500内の比較のために可変周波数
信号を生成する。
【0035】上記からわかるように、本発明は同相条件
付近で位相ロック・ループに与えられる電荷量の均衡を
とる位相検出器回路を提供する。チャージ・ポンプが同
一のリセット・パルスを用いてリセットされ、それによ
ってPLLに供給される電流パルスの一致を保証する。電
力消費,回路面積および遅延素子を精密に整合する必要
性がなくなり、生産と稼働のコストが安い回路が作成さ
れる。
【0036】本発明の特定の実施例が図示および説明さ
れたが、改良も可能である。たとえば、種々の図面内の
組合せ論理は改変し、なおかつ実質的に同じ機能性を維
持することができる。従って、添付の請求項においては
本発明の精神および範囲に入るこれらすべての変更およ
び改良を包含するものである。
【0037】新規と思われる本発明の特徴を添付の請求
項に詳細に明記する。本発明は、その更なる目的および
利点と共に、以下の説明を添付の図面に関連して参照す
ることにより良く理解頂けよう。いくつかの図面におい
ては、同様の参照番号は等しい要素を識別するものであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】位相検出器回路のブロック図である。
【図2】図1の位相検出器回路の動作を示すタイミング
図である。
【図3】図1の位相検出器回路の動作を示すタイミング
図である。
【図4】図1の位相検出器回路の動作を示すタイミング
図である。
【図5】位相検出器回路のブロック図である。
【図6】図5の位相検出器回路の動作を示すタイミング
図である。
【図7】図5の位相検出器回路の動作を示すタイミング
図である。
【図8】図5の位相検出器回路の動作を示すタイミング
図である。
【図9】図5の位相検出器回路の動作を示すタイミング
図である。
【図10】図5の位相検出器回路に用いる遅延回路のブ
ロック図である。
【図11】図5の位相検出器回路を採用する位相ロック
・ループ(PLL)のブロック図である。
【符号の説明】
500 位相検出器回路 502,504 フリップフロップ(格納回路) 506,508 チャージ・ポンプ 510 ANDゲート 512,514 遅延回路 520,524 リセット入力 522,526 出力 528,530 クロック入力 532,534 データ入力 536 位相検出器回路の出力 540 遅延回路の出力 542 ANDゲートの出力 RESET リセット CURRENT OUTPUT 電流出力

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 位相ロック・ループ(1100)におい
    て用いる差分信号を生成する改善された位相検出装置
    (500)であって、前記位相検出装置(500)は、
    各々がリセット入力(520,524)と出力(52
    2,526)とを有する第1格納回路(502)および
    第2格納回路(504)を有し、前記第1格納回路(5
    02)は基準クロック信号を受信するよう構成されるク
    ロック入力(528)を有し、前記第2格納回路(50
    4)は可変クロック信号を受信するよう構成されるクロ
    ック入力(530)を有する装置であって:前記第1格
    納回路(502)の前記出力(522)に結合され、前
    記第1格納回路(502)からの第1出力信号に応答し
    てアップ電流を提供する第1チャージ・ポンプ(50
    6);前記第1格納回路(502)の前記出力(52
    2)に結合され、前記第1格納回路(502)からの前
    記出力信号に応答して被遅延出力信号を生成する第1遅
    延回路(512);前記第2格納回路(504)の前記
    出力(526)に結合され、前記第2格納回路(50
    4)からの第2出力信号に応答してダウン電流を提供す
    る第2チャージ・ポンプ(508);前記被遅延出力信
    号と前記第2出力信号とを合成してリセット信号を生成
    する回路(510);および前記リセット信号を遅延さ
    せて被遅延リセット信号を生成する第2遅延回路(51
    4)であって、前記第1格納回路のリセット入力(52
    0)と前記第2格納回路のリセット入力(524)とに
    結合される前記第2遅延回路(514);によって構成
    されることを特徴とする位相検出装置(500)。
  2. 【請求項2】 前記第1格納回路(502)および前記
    第2格納回路(504)が、高論理レベルに結合される
    データ入力(532,534)を有するD型フリップフ
    ロップ回路によってそれぞれ構成されることを特徴とす
    る請求項1記載の位相検出装置(500)。
  3. 【請求項3】 前記被遅延リセット信号が前記第1格納
    回路のリセット入力(520)と前記第2格納回路のリ
    セット入力(524)とに実質的に同時に提供されるこ
    とを特徴とする請求項1記載の位相検出装置(50
    0)。
  4. 【請求項4】 前記第1遅延回路(512)が:前記第
    1格納回路(502)から前記第1出力信号を受信し、
    それに応答して第1被刻時信号を生成する第1被刻時回
    路(1002);前記第1被刻時信号を遅延して被遅延
    第1信号を生成する第1遅延素子(1004);前記第
    1格納回路(502)から前記第1出力信号の反転信号
    を受信し、それに応答して第2被刻時信号を生成する第
    2被刻時回路(1006);前記第2被刻時信号を遅延
    して被遅延第2信号を生成する第2遅延素子(100
    8);前記被遅延第1信号と前記被遅延第2信号とに応
    答してリセット信号を生成する第1合成回路(104
    8)であって、前記第1被刻時回路(1002)と前記
    第2被刻時回路(1006)とが前記リセット信号に応
    答して初期条件にリセットされる第1合成回路(104
    8);および前記被遅延第1信号と前記被遅延第2信号
    の合成に応答して、前記被遅延出力信号を生成する第2
    合成回路(1016);によって構成されることを特徴
    とする請求項1記載の位相検出装置(500)。
  5. 【請求項5】 前記第1遅延回路(512)が前記第1
    合成回路(1048)と前記第2被刻時回路(100
    6)との間に結合されて、前記第1被刻時回路(100
    2)のリセットに相対して前記第2被刻時回路(100
    6)のリセットを遅延させる第3遅延回路(1050,
    1052)によってさらに構成されることを特徴とする
    請求項4記載の位相検出装置(500)。
  6. 【請求項6】 位相差を検出し、位相差信号を生成する
    方法であって:基準クロック信号と可変クロック信号を
    受信する段階;前記基準クロック信号に応答して第1出
    力信号を生成する段階;前記可変クロック信号に応答し
    て第2出力信号を生成する段階;前記第2出力信号およ
    び被遅延第1出力信号に応答してリセット信号を生成す
    る段階;前記リセット信号に応答して前記第1出力信号
    および前記第2出力信号をリセットする段階;および前
    記第1出力信号および前記第2出力信号に応答して前記
    位相差信号を生成する段階;によって構成されることを
    特徴とする方法。
  7. 【請求項7】 前記第1出力信号を遅延させて、前記被
    遅延第1出力信号を生成する段階によってさらに構成さ
    れることを特徴とする請求項6記載の方法。
  8. 【請求項8】 前記第1出力信号を遅延させる前記段階
    が:前記第1出力信号を用いて第1信号を刻時する段
    階;前記第1信号に応答して第1被遅延信号を生成する
    段階;前記第1出力信号を用いて第2信号を刻時する段
    階;前記第2信号に応答して第2被遅延信号を生成する
    段階;前記第1被遅延信号および前記第2被遅延信号の
    合成に応答して、前記第1信号および前記第2信号をリ
    セットする段階;および前記第1被遅延信号および前記
    第2被遅延信号を合成して、前記被遅延第1出力信号を
    生成する段階;によって構成されることを特徴とする請
    求項7記載の方法。
  9. 【請求項9】 前記第1出力信号に応答して前記位相差
    信号としてアップ電流を生成し、前記第2出力信号に応
    答して前記位相差信号としてダウン電流を生成する段階
    によってさらに構成されることを特徴とする請求項6記
    載の方法。
  10. 【請求項10】 前記第1出力信号および前記第2出力
    信号をリセットする前に、前記リセット信号を所定の遅
    延時間だけ遅延させる段階によってさらに構成されるこ
    とを特徴とする請求項8記載の方法。
JP06768699A 1998-03-17 1999-03-15 位相検出装置 Expired - Fee Related JP4216393B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US042753 1998-03-17
US09/042,753 US6049233A (en) 1998-03-17 1998-03-17 Phase detection apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11330958A true JPH11330958A (ja) 1999-11-30
JP4216393B2 JP4216393B2 (ja) 2009-01-28

Family

ID=21923571

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP06768699A Expired - Fee Related JP4216393B2 (ja) 1998-03-17 1999-03-15 位相検出装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6049233A (ja)
JP (1) JP4216393B2 (ja)
KR (1) KR19990077940A (ja)
CN (1) CN1118939C (ja)
BR (1) BR9901014A (ja)
GB (1) GB2335557B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006165680A (ja) * 2004-12-02 2006-06-22 Elpida Memory Inc Pll回路
JP2010512063A (ja) * 2006-11-30 2010-04-15 クゥアルコム・インコーポレイテッド 位相同期ループのための線形位相周波数検出器およびチャージポンプ

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5815041A (en) * 1996-04-12 1998-09-29 Silicon Image, Inc. High-speed and high-precision phase locked loop having phase detector with dynamic logic structure
US6327319B1 (en) * 1998-11-06 2001-12-04 Motorola, Inc. Phase detector with frequency steering
DE19859515C1 (de) * 1998-12-22 2000-04-20 Siemens Ag Digitaler Phasen-Frequenz-Detektor
JP3707960B2 (ja) * 1999-07-23 2005-10-19 富士通株式会社 半導体装置
US6925428B1 (en) 2000-05-19 2005-08-02 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Multifunctional, multi-input, missile signal measurement apparatus
US6985551B1 (en) * 2000-05-30 2006-01-10 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Linear dead-band-free digital phase detection
US6690209B1 (en) 2000-09-28 2004-02-10 Infineon Technologies North America Corp. Phase detecting with parallel discharge paths
US6605935B2 (en) * 2001-03-21 2003-08-12 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Linear fast-locking digital phase detector
US7042970B1 (en) * 2001-06-15 2006-05-09 Analog Devices, Inc. Phase frequency detector with adjustable offset
US6771096B1 (en) * 2002-03-25 2004-08-03 Cypress Semiconductor Corp. Circuit, system, and method for using hysteresis to avoid dead zone or non-linear conditions in a phase frequency detector
KR100526349B1 (ko) * 2002-11-14 2005-11-08 엘지전자 주식회사 위상 검출회로
JP3737800B2 (ja) * 2002-12-25 2006-01-25 株式会社東芝 同期化回路
CN1309205C (zh) * 2003-05-12 2007-04-04 瑞昱半导体股份有限公司 用于数字锁相环系统的相位频率检测器
JP4082507B2 (ja) * 2003-07-22 2008-04-30 シャープ株式会社 位相同期回路
US6946887B2 (en) * 2003-11-25 2005-09-20 International Business Machines Corporation Phase frequency detector with programmable minimum pulse width
KR100711103B1 (ko) * 2004-12-22 2007-04-24 삼성전자주식회사 적응형 3상태 위상 주파수 검출기 및 검출방법과 이를이용한 위상동기루프
GB2427085A (en) * 2005-06-08 2006-12-13 Zarlink Semiconductor Ltd Variable signal delaying circuit, quadrature frequency converter and radio frequency tuner
US7633349B2 (en) * 2007-04-04 2009-12-15 Altera Corporation Phase frequency detectors generating minimum pulse widths
CN101699769B (zh) * 2009-10-27 2012-04-04 华为技术有限公司 一种锁相环环路带宽校准方法、系统及电子设备
EP2752993B1 (en) * 2013-01-04 2015-03-25 Nxp B.V. Phase frequency detector circuit
CN103916194B (zh) * 2013-01-05 2016-12-07 华为技术有限公司 相位调节器及波分复用相位调节方法
EP3066759A4 (en) * 2013-11-08 2017-06-14 Intel Corporation Apparatus to reduce power of a charge pump
TWI551057B (zh) * 2013-12-30 2016-09-21 慧榮科技股份有限公司 相位偵測器
US9712177B1 (en) * 2016-01-08 2017-07-18 Samsung Display Co., Ltd. Fractional PLL using a linear PFD with adjustable delay
US10623044B2 (en) * 2018-08-20 2020-04-14 Avago Technologies International Sales Pte. Limited Phase and frequency detection method and circuit
CN115179695B (zh) * 2022-08-16 2024-02-20 南京英锐创电子科技有限公司 信号检测电路及胎压监测系统

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4378509A (en) * 1980-07-10 1983-03-29 Motorola, Inc. Linearized digital phase and frequency detector
US4970475A (en) * 1990-03-28 1990-11-13 Motorola Inc. Linearized three state phase detector
DE4229148A1 (de) * 1992-09-01 1994-03-03 Sel Alcatel Ag Digitaler Phasenkomparator und Phasenregelkreis
EP0665650A1 (en) * 1994-01-31 1995-08-02 STMicroelectronics S.A. Low voltage high speed phase frequency detector
US5722052A (en) * 1996-02-28 1998-02-24 Motorola, Inc. Switching current mirror for a phase locked loop frequency synthesizer and communication device using same
DE19729634A1 (de) * 1997-07-10 1999-01-14 Lg Semicon Co Ltd Frequenzsynthesizer
US5892380A (en) * 1997-08-04 1999-04-06 Motorola, Inc. Method for shaping a pulse width and circuit therefor

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006165680A (ja) * 2004-12-02 2006-06-22 Elpida Memory Inc Pll回路
US7719331B2 (en) 2004-12-02 2010-05-18 Elpida Memory, Inc. PLL circuit
JP4673613B2 (ja) * 2004-12-02 2011-04-20 エルピーダメモリ株式会社 Pll回路
JP2010512063A (ja) * 2006-11-30 2010-04-15 クゥアルコム・インコーポレイテッド 位相同期ループのための線形位相周波数検出器およびチャージポンプ
JP2013059058A (ja) * 2006-11-30 2013-03-28 Qualcomm Inc 位相同期ループのための線形位相周波数検出器およびチャージポンプ

Also Published As

Publication number Publication date
KR19990077940A (ko) 1999-10-25
JP4216393B2 (ja) 2009-01-28
GB9905736D0 (en) 1999-05-05
GB2335557B (en) 2002-04-17
CN1238600A (zh) 1999-12-15
US6049233A (en) 2000-04-11
BR9901014A (pt) 2000-01-18
GB2335557A (en) 1999-09-22
CN1118939C (zh) 2003-08-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4216393B2 (ja) 位相検出装置
JP4741705B2 (ja) 遅延ロックループのための初期化回路
US6295328B1 (en) Frequency multiplier using delayed lock loop (DLL)
US6670833B2 (en) Multiple VCO phase lock loop architecture
KR940001724B1 (ko) 위상동기회로
JP2795323B2 (ja) 位相差検出回路
US4970475A (en) Linearized three state phase detector
JP4077979B2 (ja) 半導体集積回路装置
US7269217B2 (en) PWM controller with integrated PLL
US20060055434A1 (en) Phase frequency detector
JPH0993100A (ja) 位相比較器
JP2002100982A (ja) Dll回路
JP2010074859A (ja) 周波数逓倍回路
JPH07202690A (ja) クロック信号発生回路
US5357204A (en) One-shot clock generator circuit
US6674824B1 (en) Method and circuitry for controlling a phase-locked loop by analog and digital signals
JP2002026728A (ja) Pll回路のモード制御回路及び半導体装置
JP2002280898A (ja) Pll周波数シンセサイザ
US6853223B2 (en) Phase comparator and clock recovery circuit
TW525346B (en) Phase-locked loop circuit outputting clock signal having fixed phase difference with respect to input clock signal
US8432191B2 (en) Phase-locked loop having high-gain mode phase-frequency detector
US20050057314A1 (en) Device and method for detecting phase difference and PLL using the same
JP3258313B2 (ja) 集積回路フェーズロックドループ電荷ポンプ
JP2811994B2 (ja) 位相同期回路
Moon et al. A 62.5-250 MHz multi-phase delay-locked loop using a replica delay line with triply controlled delay cells

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20041217

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20051214

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060313

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060313

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080508

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080520

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080805

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080808

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080827

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20080922

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20081021

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081106

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111114

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121114

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121114

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131114

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees