JPH11317301A - チップ型部品及びチップ型部品の製造方法 - Google Patents

チップ型部品及びチップ型部品の製造方法

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JPH11317301A
JPH11317301A JP10137625A JP13762598A JPH11317301A JP H11317301 A JPH11317301 A JP H11317301A JP 10137625 A JP10137625 A JP 10137625A JP 13762598 A JP13762598 A JP 13762598A JP H11317301 A JPH11317301 A JP H11317301A
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color
chip
type component
predetermined
layer
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JP10137625A
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Inventor
Yasuyuki Oshima
泰幸 大島
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Taiyosha Electric Co Ltd
Original Assignee
Taiyosha Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 該チップ型部品が表向き、裏向きいずれに実
装される場合でも、反射光によるチップ型部品の有無や
ずれを検知することができるとともに、製造工程におけ
る表裏の判別も行うことができるチップ型部品を提供す
る。 【解決手段】 チップ抵抗器Aにおいて、保護層40の
色を、該チップ抵抗器Aが実装される基板に設けられる
シルクの一般の色である白色以外の色とし、また、同じ
く白色以外の色に形成された着色層50を絶縁基板10
の裏面に設ける。また、保護層40の色と着色層50の
色とは異なる色とする。よって、例えば、保護層40の
色を黒とし、着色層50の色を緑とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、チップ抵抗器等の
チップ型部品に関するものであり、特に、バルクワンバ
イワンやマルチ実装が行われるチップ型部品に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来のチップ抵抗器等のチップ型部品に
おいては、一般的に表面が黒色で、裏面が白色となる。
つまり、表面においては、チップ抵抗器の保護膜の色が
黒色で、裏面においては、チップ抵抗器のアルミナ基板
(絶縁基板)の色が白色となっている。そして、バルク
ワンバイワン及びマルチ実装において、該チップ抵抗器
は表向きに実装されたり、裏向きに実装されたりするこ
とがある。この場合、抵抗形成面側が表であるとする。
【0003】また、チップ型部品を実装後の基板検査と
して、CCDカメラを用いた画像認識や各種センサーを
用いた色相差による反射量の測定により該チップ型部品
の有無やずれを検査することが行われている。その検査
において、基板の部品実装部に白色のシルクを設けて、
チップ型部品面からの反射光量を測定することにより部
品が該部品実装部に配置されているか否かを測定する場
合がある。つまり、図10、図11に示すように、識別
範囲Rについての反射光量を測定することにより該チッ
プ型部品の有無やずれを検査する。また、従来よりチッ
プ型部品の製造段階において、表裏を判別する工程が行
われている。つまり、チップ型部品の表裏を白黒センサ
等で色相差による反射量の違いにより判別している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のよう
に、チップ型部品においては一般的に表面が黒色で、裏
面が白色であることから、該チップ型部品を表向きに実
装する場合には、所定の位置に配置されている場合に
は、上記反射光の測定位置、つまり、識別範囲R(図1
1参照)は黒色となり、チップ型部品が実装されていな
い場合や位置がずれている場合には、上記反射光の測定
位置は白色となるので、その反射光の光量の差により該
チップ型部品の有無やずれを検知することができる。
【0005】その一方で、該チップ型部品を裏向きに実
装する場合には、所定の位置に配置されている場合と、
チップ型部品が実装されていない場合や位置がずれてい
る場合には、ともに上記反射光の測定位置は白色となる
ので、該チップ型部品の有無やずれを検知することがで
きない。つまり、裏向きに実装する場合には、所定位置
にチップ型部品が配置されていても、図12に示すよう
に識別範囲Rは白色と判定されてしまう。また、上記の
ように、従来よりチップ型部品の製造段階において、表
裏を判別する工程が行われているので、そのための条件
も備えるようにする必要がある。
【0006】そこで、本発明は、該チップ型部品が表向
き、裏向きいずれに実装される場合でも、反射光による
チップ型部品の有無やずれを検知することができるとと
もに、製造工程における表裏の判別も行うことができる
チップ型部品を提供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は上記問題点を解
決するために創作されたものであって、第1には、チッ
プ型部品であって、該チップ型部品の表面の所定領域の
色である第1の色と、裏面の所定領域の色である第2の
色とが、該チップ型部品が実装される基板のシルクの色
以外の色に形成され、かつ、該第1の色と第2の色とが
互いに異なる色に形成されていることを特徴とする。こ
の第1の構成のチップ型部品においては、第1の色と第
2の色とが、該チップ型部品が実装される基板のシルク
の色以外の色に形成されているので、反射光量の測定等
により判定を行うことにより、基板のシルク位置に該チ
ップ型部品が実装されているか否かを判定することがで
きる。また、該第1の色と第2の色とが互いに異なる色
に形成されているので、反射光量の測定等により判定を
行うことにより、チップ型部品の表裏を判定することが
できる。
【0008】また、第2には、チップ型部品であって、
該チップ型部品の表面の所定領域の色である第1の色
と、裏面の所定領域の色である第2の色とが、白色以外
の色に形成され、かつ、該第1の色と第2の色とが互い
に異なる色に形成されていることを特徴とする。この第
2の構成のチップ型部品においては、第1の色と第2の
色とが、白色以外の色に形成されているので、反射光量
の測定等により判定を行うことにより、シルクの色が白
色の場合に、基板のシルク位置に該チップ型部品が実装
されているか否かを判定することができる。また、該第
1の色と第2の色とが互いに異なる色に形成されている
ので、反射光量の測定等により判定を行うことにより、
チップ型部品の表裏を判定することができる。
【0009】また、第3には、上記第2の構成におい
て、上記第2の色が、上記第1の色と白色との中間色で
あることを特徴とする。また、第4には、上記第2の構
成において、上記第1の色が、上記第2の色と白色との
中間色であることを特徴とする。
【0010】また、第5には、上記第1から第4までの
いずれかの構成において、上記チップ型部品が絶縁基板
を有し、該絶縁基板の裏面に、少なくともその表面が上
記第2の色に着色された着色層が設けられていることを
特徴とする。よって、この着色層の色を上記第2の色と
することにより、判定を行うことができる。
【0011】また、第6には、上記第5の構成におい
て、上記絶縁基板がアルミナ基板であり、上記着色層
が、該絶縁基板に積層されたセラミック基板であること
を特徴とする。また、第7には、上記第5又は第6の構
成において、上記着色層が、樹脂により形成されている
ことを特徴とする。
【0012】また、第8には、上記第5又は第6の構成
において、上記着色層が、着色ガラスにより形成されて
いることを特徴とする。また、第9には、上記第5から
第8までのいずれかの構成において、上記着色層の表面
が、艶消し状に形成されていることを特徴とする。
【0013】また、第10には、上記第1から第4まで
のいずれかの構成において、上記チップ型部品が絶縁基
板を有し、少なくとも該絶縁基板の裏面側が上記第2の
色に着色されていることを特徴とする。これにより、着
色層を設けることなく、基板のシルク位置に該チップ型
部品が実装されているか否かを判定することができ、ま
た、チップ型部品の表裏を判定することができる。ま
た、第11には、上記第1から第10までのいずれかの
構成において、上記第1の色が、上記チップ型部品に設
けられた保護層の表面の色であることを特徴とする。ま
た、第12には、上記第5から第9までのいずれかの構
成において、上記着色層の厚みが、左右に隣接する電極
層の厚みよりも小さく形成され、また、該チップ型部品
に設けられた保護層の厚みが、左右に隣接する電極層の
厚みよりも小さく形成されていることを特徴とする。よ
って、該チップ型部品の表面と裏面いずれを上にして基
板に実装しても、ツームストン現象が減少するととも
に、良好なセルフアライメント効果を得ることができ
て、チップ抵抗器の基板への実装率を向上させることが
できる。
【0014】また、第13には、チップ型部品であっ
て、該チップ型部品の表面の所定領域である第1所定領
域に光を照射した場合の反射光量と、該チップ型部品の
裏面の所定領域である第2所定領域に光を照射した場合
の反射光量と、該チップ型部品が実装される基板のシル
クに光を照射した場合の反射光量とが互いに異なるよう
に、上記第1所定領域と上記第2所定領域とが形成され
ていることを特徴とする。この第13の構成のチップ型
部品においては、上記第1所定領域に光を照射した場合
の反射光量(第1反射光量)と、上記第2所定領域に光
を照射した場合の反射光量(第2反射光量)と、該チッ
プ型部品が実装される基板のシルクに光を照射した場合
の反射光量(第3反射光量)とが互いに異なるように上
記第1所定領域と上記第2所定領域とが形成されている
ので、第1反射光量、第2反射光量のいずれかであるか
又は第3反射光量であるかを判定することにより、基板
のシルク位置に該チップ型部品が実装されているか否か
を判定することができる。また、第1反射光量であるか
又は第2反射光量であるかを判定することにより、チッ
プ型部品の表裏を判定することができる。
【0015】また、第14には、上記第13の構成にお
いて、上記第1所定領域と上記第2所定領域とに、所定
の色が付されていることを特徴とする。よって、上記第
1所定領域と上記第2所定領域とに所定の色を付すこと
により、基板のシルク位置に該チップ型部品が実装され
ているか否かを判定するとともに、チップ型部品の表裏
を判定することができる。また、第15には、上記第1
3又は第14の構成において、上記シルクの色が白色の
場合の該シルクに光を照射した場合の反射光量をsと
し、上記第1所定領域に光を照射した場合の反射光量を
Tとし、上記第2所定領域に光を照射した場合の反射光
量をUとした場合に、s>T,s>U,T≠Uであるこ
とを特徴とする。これにより、sとT、Uとを判定する
ためのしきい値と、TとUとを判定するためのしきい値
とを設定して判定を行うことにより、基板のシルク位置
に該チップ型部品が実装されているか否かを判定すると
ともに、チップ型部品の表裏を判定することができる。
また、第16には、上記第1から第15までのいずれか
の構成において、上記チップ型部品が、チップ抵抗器で
あることを特徴とする。
【0016】また、第17には、チップ型部品の製造方
法であって、シート状の絶縁基板に所定の素子を形成す
る工程と、上記所定の素子を保護する保護膜であって、
その表面に、該チップ型部品が実装される基板のシルク
の色以外の色である第1の色が付された保護膜を形成す
る工程と、上記所定の素子が形成された該シート状の絶
縁基板の裏面に、着色層であって、その表面に、該チッ
プ型部品が実装される基板のシルクの色以外の色であ
り、かつ、上記第1の色とは異なる色である第2の色が
付された着色層を形成する工程と、上記着色層が形成さ
れたシート状の絶縁基板を切断する工程と、を有するこ
とを特徴とする。この第17の製造方法により製造され
たチップ型部品においては、上記第1の色と、第2の色
とが、該チップ型部品が実装される基板のシルクの色以
外の色に形成されているので、反射光量の測定等により
判定を行うことにより、基板のシルク位置に該チップ型
部品が実装されているか否かを判定することができる。
また、該第1の色と第2の色とが互いに異なる色に形成
されているので、反射光量の測定等により判定を行うこ
とにより、チップ型部品の表裏を判定することができ
る。特に、絶縁基板の分割前にシート状の絶縁基板に上
記第1の色と第2の色とが付された状態となるので、分
割をはじめ分割以降の製造段階において、表裏を適切に
判定することができる。
【0017】また、第18には、チップ型部品の製造方
法であって、シート状の絶縁基板に所定の素子を形成す
る工程と、上記所定の素子を保護する保護膜であって、
その表面に、白色以外の色である第1の色が付された保
護膜を形成する工程と、上記所定の素子が形成された該
シート状の絶縁基板の裏面に、着色層であって、その表
面に、白色以外の色であり、かつ、上記第1の色とは異
なる色である第2の色が付された着色層を形成する工程
と、上記着色層が形成されたシート状の絶縁基板を切断
する工程と、を有することを特徴とする。この第18の
構成のチップ型部品においては、第1の色と第2の色と
が、白色以外の色に形成されているので、反射光量の測
定等により判定を行うことにより、シルクの色が白色の
場合に、基板のシルク位置に該チップ型部品が実装され
ているか否かを判定することができる。また、該第1の
色と第2の色とが互いに異なる色に形成されているの
で、反射光量の測定等により判定を行うことにより、チ
ップ型部品の表裏を判定することができる。特に、絶縁
基板の切断前にシート状の絶縁基板に上記第1の色と第
2の色とが付された状態となるので、切断に際して表裏
を適切に判定することができる。
【0018】また、第19には、チップ型部品の製造方
法であって、シート状の絶縁基板に所定の素子を形成す
る工程と、上記所定の素子を保護する保護膜であって、
その表面の所定領域に所定の光を照射した場合に、該チ
ップ型部品が実装される基板のシルクに該所定の光を照
射した場合の反射光量と異なる反射光量となる保護膜を
形成する工程と、上記所定の素子が形成された該シート
状の絶縁基板の裏面に、着色層であって、その表面に所
定の光を照射した場合に、該チップ型部品が実装される
基板のシルクに該所定の光を照射した場合の反射光量と
異なる反射光量となり、かつ、上記保護膜の所定領域に
該所定の光を照射した場合の反射光量とも異なる反射光
量となる着色層を形成する工程と、上記着色層が形成さ
れたシート状の絶縁基板を切断する工程とを有すること
を特徴とする。この第19の工程のチップ型部品におい
ては、保護膜と着色層とがともに、該チップ型部品が実
装される基板のシルクに該所定の光を照射した場合の反
射光量と異なる反射光量となるように形成されているの
で、反射光量の測定等により判定を行うことにより、シ
ルクの色が白色の場合に、基板のシルク位置に該チップ
型部品が実装されているか否かを判定することができ
る。保護膜と着色層とが互いに反射光量が異なるように
形成されているので、反射光量の測定等により判定を行
うことにより、チップ型部品の表裏を判定することがで
きる。特に、絶縁基板の切断前にシート状の絶縁基板に
上記保護膜と着色層とが付された状態となるので、切断
に際して表裏を適切に判定することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態としての実施
例を図面を利用して説明する。本発明に基づくチップ型
部品としてのチップ抵抗器Aは、図1に示されるよう
に、絶縁基板10と、電極部20と、抵抗体層30と、
保護層40と、着色層50とを有している。
【0020】ここで、上記絶縁基板10は、主にアルミ
ナで構成された略直方体形状であって、平面視すると略
長方形状を呈している。なお、この絶縁基板10がアル
ミナ基板の場合には、通常白色を呈している。
【0021】また、上記電極部20は、左右に一対設け
られており、図1に示すように、上面電極層22と、側
面電極層24と、ニッケルメッキ層26と、ハンダメッ
キ層28とを有している。ここで、上記上面電極層22
は、上記絶縁基板10上に対向して設けられている。ま
た、上記側面電極層24は、上記上面電極層22の一部
と、上記絶縁基板10の側面と、上記絶縁基板10の下
面の一部とを略均一の膜厚で覆っている。また、上記ニ
ッケルメッキ層26は、上記側面電極層24の上に略均
一の膜厚で設けられ、電気メッキが施されている。さら
に、上記ハンダメッキ層28は、上記ニッケルメッキ層
26の上に略均一の膜厚で設けられ、電気メッキが施さ
れている。
【0022】また、上記抵抗体層30は、上記絶縁基板
10及び上記一対の上面電極層22の一部と重合されて
形成されている。この抵抗体層30は、例えば、酸化ル
テニウム系等の抵抗ペーストを、上記の位置に略平滑状
に略均一の膜厚でスクリーン印刷して焼成して設けたも
のである。また、上記保護層40は、図1に示すよう
に、上記絶縁基板10の上面の一部と、上記一対の上面
電極層22の上面の一部と、上記抵抗体層30と重合す
るように形成されている。ここで、上記保護層40は、
黒色を呈している。つまり、該保護層40の少なくとも
表面は、黒色となっている。
【0023】また、上記着色層50は、上記チップ抵抗
器Aの下面に設けられている。つまり、該着色層50
は、上記チップ抵抗器Aの絶縁基板10の下面に設けら
れ、図6に示すように、上記電極部20間に隙間なく設
けられている。この着色層50は緑色を呈している。つ
まり、該着色層50の少なくとも表面は、緑色となって
いる。なお、この着色層50の上下幅は、図6に示すよ
うに、絶縁基板10の上下幅よりも若干小さくなってお
り、絶縁基板10においては、上下において所定幅の着
色層50が形成されていない領域が存在する。この着色
層50は、着色ガラスにより形成されている。なお、樹
脂を用いて着色層を形成するようにしてもよい。
【0024】この着色層50の製造段階は任意である
が、例えば、以下のようにする。すなわち、一次、二次
分割用スリットが形成された絶縁基板に上面電極層を形
成後、抵抗体層30を形成する。その後、必要に応じ該
抵抗体層30上に一次コート層を形成し(図1〜図4に
おいては、実際には、この一次コート層が存在すること
になる)、その後、トリミング溝を形成して抵抗値を修
正した後、保護膜40(二次コート層)を形成する。こ
の保護膜40を形成した後に、上記着色層50を形成す
るのである。つまり、抵抗体層30を覆うようにホウ珪
酸鉛ガラス系のガラスペーストを印刷して所定の温度で
焼成し、または、エポキシ、シリコン、ポリイミド系の
樹脂ペーストを印刷して所定の温度・時間で仮硬化さ
せ、その後所定の温度・時間で本硬化して保護膜40を
形成する。その後に、裏面に、ホウ珪酸鉛ガラス系のガ
ラスペーストを印刷して所定の温度で焼成し、または、
エポキシ、シリコン、ポリイミド系の樹脂ペーストを印
刷して所定の温度・時間で仮硬化させ、その後所定の温
度・時間で本硬化して着色層50を形成する。この着色
層50の形成後には、絶縁基板を一次分割用スリットに
沿って短冊状に分割することになる。
【0025】なお、上記着色層50における焼成又は本
硬化は、側面電極と同時に行うようにしてもよい。ま
た、二次コート層を印刷、乾燥(仮硬化)後に裏面の着
色層50を印刷、乾燥(仮硬化)し、保護膜40と同時
に焼成(本硬化)させてもよい。
【0026】上記構成のチップ抵抗器Aにおいては、基
板への実装に際して、ランド60間にチップ抵抗器Aを
配置した場合に、チップ抵抗器の有無やずれを正確に判
定することができる。つまり、該チップ抵抗器Aを表向
きに実装する場合には、保護層40が黒色を呈している
ので、正確に配置されていれば図5に示すような状態と
なり、識別範囲Rにおける反射光量は、シルク62の場
合の反射光量と明らかに異なるため、その両者の中間位
置にしきい値を設定しておけば、正確にチップ抵抗器の
有無やずれを判定することができる。また、該チップ抵
抗器Aを裏向きに実装した場合でも、着色層50が緑色
を呈しているので、正確に配置されていれば図6に示す
ような状態となり、識別範囲Rにおける反射光量は、シ
ルク62の場合の反射光量と明らかに異なるため、正確
にチップ抵抗器の有無やずれを判定することができる。
つまり、シルク(白色)に光を照射した場合の反射光量
をsとし、保護層40(黒色)に所定の光量の光を照射
した場合の反射光量をtとし、着色層50(緑色)に該
光を照射した場合の反射光量をuとした場合には、チッ
プ抵抗器の有無やずれの判定を行う際のしきい値Xを、
s>X>t、s>X>uと設定することによりチップ抵
抗器の有無やずれの判定を行うことができる。すなわ
ち、識別範囲Rに所定の光量の光を照射した場合の反射
光量が上記しきい値Xよりも小さければ、適切な位置に
チップ抵抗器が実装されており、一方、しきい値Xより
も大きければ、チップ抵抗器がいるか否か、所定位置か
らずれているか否かが判定できる。
【0027】また、上記構成のチップ抵抗器Aにおいて
は、表面の保護層40が黒色に形成され、裏面の着色層
50が緑色に形成されているので、チップ抵抗器Aの製
造段階における表裏の判別も適切に行うことができる。
【0028】つまり、チップ抵抗器の製造に際して、分
割用スリットを介して分割する処理を行うが、基板の分
割用スリットは表面にのみ形成されているか、あるい
は、表裏両面に形成されていたとしても、裏面のスリッ
トが補助的なものであるので、分割時には、シートの表
裏両面を判別する必要がある。つまり、表裏の判別が適
切でなく、通常分割する面の反対側から分割すると、ス
リットで分割できず寸法不良となってしまう。本実施例
のチップ抵抗器Aによれば、特に、上記のように、一次
分割用スリットに沿って分割する前に着色層50を設け
るようにすれば、表面の保護層40が黒色に、裏面の着
色層50が緑色に形成されているので、表面を黒、裏面
を白と判定するようにしきい値を設定すれば、適切に表
裏判別を行うことができる。つまり、保護層40(黒
色)に所定の光量の光を照射した場合の反射光量をtと
し、着色層50(緑色)に所定の光量の光を照射した場
合の反射光量をuとした場合には、表裏の判定を行う際
のしきい値Yを、u>Y>tと設定することによりチッ
プ抵抗器の有無やずれの判定を行うことができる。つま
り、識別範囲Rに所定の光量の光を照射した場合の反射
光が上記しきい値Yよりも小さければ、黒色であるとし
て表面と判定でき、一方、反射光が上記しきい値Yより
も大きければ、緑色であるとして裏面と判定できる。
【0029】また、チップ抵抗器が完成後、ケースに収
納したり、テーピングする際に、抵抗値を検査するとと
もに、必要に応じ出来栄えを検査するが、その際にも、
表面の保護層40が黒色に、裏面の着色層50が緑色に
形成されているので、適切に表面を判別して表面を揃え
ることが可能となる。
【0030】なお、上記の説明においては、着色層50
の上下幅が絶縁基板10の上下幅よりも若干小さくする
ものとして説明したが、これには限られず、図7に示す
ように、着色層50の上下幅と絶縁基板10の上下幅と
を略等しくするようにしてもよい。
【0031】また、上記着色層50は、上記に限られず
図2〜図4に示すように形成されていてもよい。つま
り、図2に示す場合は、着色層50が電極層20の下面
とは若干の隙間を介して設けられている場合である。こ
の場合には、底面視においては、図8や図9に示すよう
に着色層50が形成されていることになる。また、この
図2に示すチップ抵抗器Aにおいては、着色層50の厚
みが隣接する電極層20の厚みよりも小さくなってい
る。つまり、着色層50の厚みは、電極層20における
下面側の厚みよりも小さくなっており、チップ抵抗器A
を着色層50側を上にして配置した場合には、着色層5
0の上面は電極層20の上面側の表面よりも高くなって
いる。これにより、該チップ抵抗器Aの着色層50側が
下向きで基板に実装される場合には、ツームストン現象
が減少するとともに、良好なセルフアライメント効果を
得ることができて、チップ抵抗器の基板への実装率を向
上させることができる。また、保護層40の厚みを隣接
する電極層20の厚みよりも小さくして、保護層40の
高さを該電極層20の高さよりも低くすれば、同様の効
果を得ることができる。
【0032】また、図3に示す場合は、着色層50が絶
縁基板10と略同一の平面形状を呈し、図3に示す着色
層50の両端部分は、電極層20により覆われている場
合である。この図3の場合に、着色層50は、アルミナ
基板のグリーンシートに所定の色に着色したセラミック
グリーンシートをラミネートし焼成することにより形成
してもよいし、前述のように、着色ガラス層や樹脂層に
より形成してもよい。また、図4に示す場合は、着色層
50が、その上下幅については絶縁基板10と略同一
で、その左右幅については絶縁基板10よりも若干小さ
い形状を呈し、図4に示す着色層50の両端部分は、電
極層20により覆われている場合である。
【0033】なお、上記の説明においては、保護層40
を黒色、着色層50を緑色として説明したが、これには
限られず、保護層の色と着色層の色とが白色以外で、か
つ、互いに異なる色に形成されていればよい。つまり、
保護層の色と着色層の色とが白色以外の色に形成されて
いれば、チップ抵抗器の有無やずれを判定でき、また、
保護層の色と着色層の色とが異なる色により形成されて
いれば、表裏を判定することができる。つまり、反射光
量との関係でいえば、シルク(白色)に所定の光量の光
を照射した場合の反射光量をsとし、保護層40に所定
の光量の光を照射した場合の反射光量をTとし、着色層
50に所定の光量の光を照射した場合の反射光量をUと
した場合には、s>T、s>Uであり、T≠Uでれば、
s>X>T、s>X>Uとなるしきい値Xと、上記Tと
U間のしきい値Yを設定して測定を行うことによりチッ
プ抵抗器の有無やずれの判定とともに、チップ抵抗器の
表裏の判定を行うことができる。
【0034】よって、上記の条件を満たす場合として
は、裏面の色が保護層の色と白色の中間色である場合が
挙げられる。上記の保護層の色が黒色で着色層の色が緑
色である場合がこれに当たる。また、保護層の色が裏面
の色と白色の中間色である場合が挙げられる。この場合
の例としては、上記の保護層の色が緑色で着色層の色が
黒色である場合が当たる。
【0035】なお、シルクの色が白色でなくても、以下
のように色彩を設定すればよい。つまり、保護層の色と
着色層の色とが該シルクの色以外の色で、かつ、互いに
異なる色に形成されていればよい。つまり、保護層の色
と着色層の色とがシルクの色以外の色に形成されていれ
ば、チップ抵抗器の有無やずれを判定でき、また、保護
層の色と着色層の色とが異なる色により形成されていれ
ば、表裏を判定することができる。つまり、反射光量と
の関係でいえば、シルクに光を照射した場合の反射光量
をSとし、保護層40に光を照射した場合の反射光量を
Tとし、着色層50に光を照射した場合の反射光量をU
とした場合には、上記SとTとUとが互いに区別できる
ようになっていればよい。そして、上記SとT間のしき
い値と、上記SとU間のしきい値と、上記TとU間のし
きい値を設定しておけば、チップ部品の有無やずれの判
定とともに、チップ部品の表裏の判定を行うことができ
る。すなわち、シルクの色が任意の色であっても、保護
層の色と着色層の色とが該シルクの色以外の色で、か
つ、互いに異なる色に形成されていれば、チップ抵抗器
の有無やずれを判定でき、また、保護層の色と着色層の
色とが異なる色により形成されていれば、表裏を判定す
ることができるのである。
【0036】なお、シルクに光を照射した場合の反射光
量Sと、保護層40に光を照射した場合の反射光量T
と、着色層50に光を照射した場合の反射光量Uとを区
別する方法としては、上記のように色彩を所定の色に設
定することにより行う他に、色相を同じとしつつ、その
明度のみ又は明度と彩度とを調整することにより反射光
量を区別できるようにしてもよい。また、上記着色層5
0の反射光量を調節するために、着色層50の表面を艶
消し状とするようにしてもよい。
【0037】なお、上記の説明では、図1〜図4に示す
ように、着色層50を設けるものとして説明したが、絶
縁基板10の下面側の色彩自体を所定の色彩とするよう
にしてもよい。つまり、上記の場合で緑色の着色層50
を設ける代わりに、少なくとも下面が緑色となっている
絶縁基板10を使用することが考えられる。その場合
に、下面のみならず全体が緑色となっている絶縁基板を
使用するようにしてもよい。
【0038】
【発明の効果】本発明に基づくチップ型部品及びチップ
部品の製造方法によれば、チップ型部品が表向き、裏向
きいずれに実装される場合でも、反射光によるチップ型
部品の有無やずれを検知することができるとともに、製
造工程における表裏の判別も行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に基づくチップ抵抗器の構成を
示す断面図である。
【図2】本発明の他の実施例に基づくチップ抵抗器の構
成を示す断面図である。
【図3】本発明の他の実施例に基づくチップ抵抗器の構
成を示す断面図である。
【図4】本発明の他の実施例に基づくチップ抵抗器の構
成を示す断面図である。
【図5】本発明の実施例に基づくチップ抵抗器を表面を
上にして基板に実装する場合の状態を示す説明図であ
る。
【図6】本発明の実施例に基づくチップ抵抗器を裏面を
上にして基板に実装する場合の状態を示す説明図であ
る。
【図7】チップ抵抗器の裏面の状態の一例を示す底面図
である。
【図8】チップ抵抗器の裏面の状態の一例を示す底面図
である。
【図9】チップ抵抗器の裏面の状態の一例を示す底面図
である。
【図10】従来におけるチップ抵抗器の構成を示す断面
図である。
【図11】チップ抵抗器を実装する基板の状態を示す説
明図である。
【図12】従来におけるチップ抵抗器を裏面を上にして
基板に実装する場合の状態を示す説明図である。
【符号の説明】
A チップ抵抗器 10 絶縁基板 20 電極層 30 抵抗体層 40 保護層 50 着色層 60 ランド 62 シルク

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 チップ型部品であって、 該チップ型部品の表面の所定領域の色である第1の色
    と、裏面の所定領域の色である第2の色とが、該チップ
    型部品が実装される基板のシルクの色以外の色に形成さ
    れ、かつ、該第1の色と第2の色とが互いに異なる色に
    形成されていることを特徴とするチップ型部品。
  2. 【請求項2】 チップ型部品であって、 該チップ型部品の表面の所定領域の色である第1の色
    と、裏面の所定領域の色である第2の色とが、白色以外
    の色に形成され、かつ、該第1の色と第2の色とが互い
    に異なる色に形成されていることを特徴とするチップ型
    部品。
  3. 【請求項3】 上記第2の色が、上記第1の色と白色と
    の中間色であることを特徴とする請求項2に記載のチッ
    プ型部品。
  4. 【請求項4】 上記第1の色が、上記第2の色と白色と
    の中間色であることを特徴とする請求項2に記載のチッ
    プ型部品。
  5. 【請求項5】 上記チップ型部品が絶縁基板を有し、該
    絶縁基板の裏面に、少なくともその表面が上記第2の色
    に着色された着色層が設けられていることを特徴とする
    請求項1又は2又は3又は4に記載のチップ型部品。
  6. 【請求項6】 上記絶縁基板がアルミナ基板であり、上
    記着色層が、該絶縁基板に積層されたセラミック基板で
    あることを特徴とする請求項5に記載のチップ型部品。
  7. 【請求項7】 上記着色層が、樹脂により形成されてい
    ることを特徴とする請求項5又は6に記載のチップ型部
    品。
  8. 【請求項8】 上記着色層が、着色ガラスにより形成さ
    れていることを特徴とする請求項5又は6に記載のチッ
    プ型部品。
  9. 【請求項9】 上記着色層の表面が、艶消し状に形成さ
    れていることを特徴とする請求項5又は6又は7又は8
    に記載のチップ型部品。
  10. 【請求項10】 上記チップ型部品が絶縁基板を有し、
    少なくとも該絶縁基板の裏面側が上記第2の色に着色さ
    れていることを特徴とする請求項1又は2又は3又は4
    に記載のチップ型部品。
  11. 【請求項11】 上記第1の色が、上記チップ型部品に
    設けられた保護層の表面の色であることを特徴とする請
    求項1又は2又は3又は4又は5又は6又は7又は8又
    は9又は10に記載のチップ型部品。
  12. 【請求項12】 上記着色層の厚みが、左右に隣接する
    電極層の厚みよりも小さく形成され、また、該チップ型
    部品に設けられた保護層の厚みが、左右に隣接する電極
    層の厚みよりも小さく形成されていることを特徴とする
    5又は6又は7又は8又は9に記載のチップ型部品。
  13. 【請求項13】 チップ型部品であって、 該チップ型部品の表面の所定領域である第1所定領域に
    所定の光を照射した場合の反射光量と、該チップ型部品
    の裏面の所定領域である第2所定領域に該所定の光を照
    射した場合の反射光量と、該チップ型部品が実装される
    基板のシルクに該所定の光を照射した場合の反射光量と
    が互いに異なるように、上記第1所定領域と上記第2所
    定領域とが形成されていることを特徴とするチップ型部
    品。
  14. 【請求項14】 上記第1所定領域と上記第2所定領域
    とに、所定の色が付されていることを特徴とする請求項
    13に記載のチップ型部品。
  15. 【請求項15】 上記シルクの色が白色の場合の該シル
    クに光を照射した場合の反射光量をsとし、上記第1所
    定領域に光を照射した場合の反射光量をTとし、上記第
    2所定領域に光を照射した場合の反射光量をUとした場
    合に、s>T,s>U,T≠Uであることを特徴とする
    請求項13又は14に記載のチップ型部品。
  16. 【請求項16】 上記チップ型部品が、チップ抵抗器で
    あることを特徴とする請求項1又は2又は3又は4又は
    5又は6又は7又は8又は9又は10又は11又は12
    又は13又は14又は15に記載のチップ型部品。
  17. 【請求項17】 チップ型部品の製造方法であって、 シート状の絶縁基板に所定の素子を形成する工程と、 上記所定の素子を保護する保護膜であって、その表面
    に、該チップ型部品が実装される基板のシルクの色以外
    の色である第1の色が付された保護膜を形成する工程
    と、 上記所定の素子が形成された該シート状の絶縁基板の裏
    面に、着色層であって、その表面に、該チップ型部品が
    実装される基板のシルクの色以外の色であり、かつ、上
    記第1の色とは異なる色である第2の色が付された着色
    層を形成する工程と、 上記着色層が形成されたシート状の絶縁基板を切断する
    工程と、を有することを特徴とするチップ型部品の製造
    方法。
  18. 【請求項18】 チップ型部品の製造方法であって、 シート状の絶縁基板に所定の素子を形成する工程と、 上記所定の素子を保護する保護膜であって、その表面
    に、白色以外の色である第1の色が付された保護膜を形
    成する工程と、 上記所定の素子が形成された該シート状の絶縁基板の裏
    面に、着色層であって、その表面に、白色以外の色であ
    り、かつ、上記第1の色とは異なる色である第2の色が
    付された着色層を形成する工程と、 上記着色層が形成されたシート状の絶縁基板を切断する
    工程と、を有することを特徴とするチップ型部品の製造
    方法。
  19. 【請求項19】 チップ型部品の製造方法であって、 シート状の絶縁基板に所定の素子を形成する工程と、 上記所定の素子を保護する保護膜であって、その表面の
    所定領域に所定の光を照射した場合に、該チップ型部品
    が実装される基板のシルクに該所定の光を照射した場合
    の反射光量と異なる反射光量となる保護膜を形成する工
    程と、 上記所定の素子が形成された該シート状の絶縁基板の裏
    面に、着色層であって、その表面に所定の光を照射した
    場合に、該チップ型部品が実装される基板のシルクに該
    所定の光を照射した場合の反射光量と異なる反射光量と
    なり、かつ、上記保護膜の所定領域に該所定の光を照射
    した場合の反射光量とも異なる反射光量となる着色層を
    形成する工程と、 上記着色層が形成されたシート状の絶縁基板を切断する
    工程とを有することを特徴とするチップ型部品の製造方
    法。
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