JPH11304767A - 損傷検出装置 - Google Patents

損傷検出装置

Info

Publication number
JPH11304767A
JPH11304767A JP10634298A JP10634298A JPH11304767A JP H11304767 A JPH11304767 A JP H11304767A JP 10634298 A JP10634298 A JP 10634298A JP 10634298 A JP10634298 A JP 10634298A JP H11304767 A JPH11304767 A JP H11304767A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
waveform
detection
damage
breakage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10634298A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4057139B2 (ja
Inventor
Toshiro Ishida
敏郎 石田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nihon Tetra Pak KK
Original Assignee
Nihon Tetra Pak KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nihon Tetra Pak KK filed Critical Nihon Tetra Pak KK
Priority to JP10634298A priority Critical patent/JP4057139B2/ja
Publication of JPH11304767A publication Critical patent/JPH11304767A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4057139B2 publication Critical patent/JP4057139B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Containers Opened By Tearing Frangible Portions (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】損傷の検出精度を高くし、インナシール、プル
タブ等が破損することがないようにし、損傷を検出する
のに必要な検出用電圧を低くする。 【解決手段】被検体を挟んで配設された第1、第2の電
極と、所定の周波数で発生させられた原波形、及び所定
のパターンで発生させられた基本波形に基づいて検査波
形を形成する波形形成回路46と、前記検査波形に対応
させて検出用電圧を発生させ、該検出用電圧を前記第
1、第2の電極に印加する電圧印加手段と、前記第1、
第2の電極間に流れる放電電流に基づいて、前記被検体
に発生した損傷を検出する検出手段とを有する。そし
て、前記検出用電圧は、前記パターンに対応して振幅が
次第に大きくなる波形領域を備える。前記損傷の程度が
大きい場合、検出用電圧の振幅が小さいレベルで損傷を
検出することができるので、損傷の程度に応じた最も低
い検出用電圧で損傷を検出することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、損傷検出装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば、牛乳、清涼飲料水等の液
体食品が充填(てん)されたブリック型、多角形型等の
包装容器を製造する場合、包装機において可撓(とう)
性の積層体から成るウェブ状の包材を搬送しながら連続
的にチューブ状にし、該チューブ状の包材内に液体食品
を充填することによって包装容器を製造するようになっ
ている。
【0003】そして、包材製造機によって製造されたウ
ェブ状の包材は、リールの状態で包装機にセットされ、
繰出機によって繰り出されて包装機内を搬送され、縦方
向にシールされてチューブ状になる。また、チューブ状
の包材が下方に搬送される間に、上方から液体食品が包
材内に充填される。次に、該包材は両側から密封用ジョ
ーに挟持され、所定の間隔ごとに横方向にシールされ、
枕(まくら)状、袋状等の原型容器が形成される。続い
て、横方向にシールされた部分が切断され、各原型容器
はあらかじめ形成された折り目に沿って所定の形状に成
形され、一定量の液体食品を収容する複数の包装容器が
完成する。
【0004】ところで、小型の包装容器においては、収
容された液体食品を注出するために、包装容器の頂壁の
所定位置に注出口が形成され、該注出口にプルタブが貼
(ちょう)着されるようになっている。したがって、飲
用時に該プルタブを引き剥(は)がすことによって前記
注出口を開放することができる。そのために、注出口形
成装置が配設され、該注出口形成装置において、ウェブ
状の包材における所定の間隔ごとに、成形用の折り目が
形成されるとともにパンチ穴が形成され、該パンチ穴に
対応させてインナシール及びプルタブが熱融着によって
貼着されるようになっている。
【0005】この場合、インナシールは、熱融着に伴っ
て変形させられるので、変形部分にピンホール等の損傷
が発生しやすく、また、該損傷が発生することによって
シール不良が生じてしまう。そこで、前記インナシール
及びプルタブが貼着された後の包材を損傷検出装置に送
り、該損傷検出装置によって前記損傷を検出するように
している。そのために、前記損傷検出装置においては、
放電電極とアース電極とが所定の間隔を置いて配設さ
れ、前記放電電極とアース電極との間に包材を通し、か
つ、放電電極とアース電極との間に所定の周波数(50
〔Hz〕)及び所定の振幅で発生させた電圧を印加する
と、電圧に対応するコロナ放電が発生させられる。
【0006】この場合、前記損傷が発生していると、損
傷した部分にコロナ放電が集中してしまう。このとき、
前記放電電極とアース電極との間に流れる放電電流は、
通常のコロナ放電が発生しているときに流れる放電電流
より多い。したがって、放電電極とアース電極との間に
流れる放電電流を監視することによって、前記損傷を検
出することができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の損傷検出装置においては、放電電極とアース電極と
の間に印加される電圧が低すぎると前記損傷の検出頻度
が低くなってしまい、前記電圧が高すぎるとインナシー
ル、プルタブ等の損傷部分がコロナ放電のエネルギーに
よって破損してしまう。
【0008】本発明は、前記従来の損傷検出装置の問題
点を解決して、検出頻度を高くすることができ、インナ
シール、プルタブ等が破損することがなく、損傷を検出
するのに必要な検出用電圧を低くすることができる損傷
検出装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】そのために、本発明の損
傷検出装置においては、被検体を挟んで配設された第
1、第2の電極と、所定の周波数で発生させられた原波
形、及び所定のパターンで発生させられた基本波形に基
づいて検査波形を形成する波形形成回路と、前記検査波
形に対応させて検出用電圧を発生させ、該検出用電圧を
前記第1、第2の電極に印加する電圧印加手段と、前記
第1、第2の電極間に流れる放電電流に基づいて、前記
被検体に発生した損傷を検出する検出手段とを有する。
【0010】そして、前記検出用電圧は、前記パターン
に対応して振幅が次第に大きくなる波形領域を備える。
本発明の他の損傷検出装置においては、さらに、前記検
出用電圧のピーク値は予測される損傷の程度に対応させ
て設定される。本発明の更に他の損傷検出装置において
は、さらに、前記検出手段によって前記損傷が検出され
たときに、停止信号を電圧印加手段に対して出力し、前
記検出用電圧の印加を停止させる停止手段を有する。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら詳細に説明する。図2は本発明の
実施の形態における包装機の注出口形成装置の概略図、
図3は本発明の実施の形態におけるインナシールの貼着
状態を示す図である。図2に示されるように、ウェブ状
の包材11は、リール12の状態で包装機にセットさ
れ、図示されない繰出機によって繰り出され、包装機内
を矢印A方向に搬送される。
【0012】前記包材11は、紙基材の両面にポリエチ
レンが被覆された積層体で形成され、必要に応じてアル
ミニウム箔(はく)、バリヤ性樹脂等から成るバリヤー
層が形成され、図示されない包装容器の表面に相当する
部分に外装用の印刷が施される。前記繰出機によって繰
り出された包材11は、ターンローラ14、ダンサロー
ラ15、オフセットローラ16、フィードローラ17、
マガジンローラ18等を介してパンチ装置20に送られ
る。なお、21は前記包材11上に付された図示されな
いマークを検出するためのマークセンサであり、前記マ
ークを検出することによって包材11の位置が判定され
る。
【0013】前記パンチ装置20は、注出口となるパン
チ穴56を包材11の設定箇所に形成するためのもので
あり、包材11における垂直方向に搬送される部分に隣
接させて配設される。本実施の形態においては、例え
ば、一対のクリースローラ33a、33bによって包装
容器の2箱分の折り目を包材11に形成するようになっ
ている。したがって、前記包材11を停止させるたびに
一対のパンチ穴56を形成する必要があり、そのため
に、前記パンチ装置20も包材11の搬送方向に沿って
一対配設される。
【0014】前記包材11の搬送方向におけるパンチ装
置20より下流側には一対のインナシール貼着装置22
が配設される。そして、該インナシール貼着装置22の
インナテープリール23からポリエチレン製のインナテ
ープ24が繰り出され、該インナテープ24は、包材1
1の搬送方向に対して直角に搬送され、前記パンチ穴5
6に対応させて被検体としてのインナシール13が包装
容器の裏側から貼着される。
【0015】また、前記包材11の搬送方向におけるイ
ンナシール貼着装置22より下流側には一対のプルタブ
貼着装置25が配設される。そして、該プルタブ貼着装
置25のプルタブリール26から、アルミニウム箔にポ
リエチレンを被覆して形成されたプルタブテープ27が
繰り出され、包材11の搬送方向に対して直角に搬送さ
れ、前記パンチ穴56に対応させて図示されないプルタ
ブが包装容器の表側から貼着される。なお、本実施の形
態においては、クリースローラ33a、33b、パンチ
装置20、インナシール貼着装置22及びプルタブ貼着
装置25はそれぞれ一対ずつ配設されるようになってい
るが、単体で配設することもできる。また、クリースロ
ーラ33a、33bは必ずしも必要ではなく、包材11
にあらかじめ折り目を付けておくことができる。さら
に、前記プルタブテープ27はポリエチレンだけで形成
することもできる。
【0016】ところで、前記インナシール13は、熱融
着に伴って変形させられるので、変形部分にピンホール
等の損傷が発生しやすく、また、該損傷が発生すること
によってシール不良が生じてしまう。そこで、前記包材
11の搬送方向におけるプルタブ貼着装置25より下流
側には、前記損傷を検出するために、第1の電極として
の放電電極34、及び第2の電極としてのアース電極3
5から成るコロナ放電発生部31が配設される。前記放
電電極34及びアース電極35は所定の距離を置いて平
行に配設され、放電電極34とアース電極35との間を
包材11が搬送される。
【0017】また、前記包材11の搬送方向におけるコ
ロナ放電発生部31より下流側には前記一対のクリース
ローラ33a、33bが配設される。したがって、該ク
リースローラ33a、33bを回転させると、設定位置
で停止させられた包材11は、包装容器の2箱分の距離
だけ送られ、このとき、前記パンチ穴56の位置に対応
させて包装容器を形成するための折り目が形成される。
【0018】そして、折り目が形成された包材11は、
図示されない充填装置に搬送され、チューブ状にされ、
該チューブ状の包材11内に液体食品を充填することに
よって包装容器が製造される。次に、損傷検出装置につ
いて説明する。図1は本発明の実施の形態における損傷
検出装置のブロック図、図4は本発明の実施の形態にお
ける損傷検出装置の概略図、図5は本発明の実施の形態
における波形形成回路によって形成される検査波形を表
す図、図6は本発明の実施の形態における検出用電圧の
波形を表す図、図7は本発明の実施の形態におけるシー
ケンス制御回路の動作を示す図である。なお、図7にお
いて、横軸に時間を、縦軸に検出用電圧及びアラーム信
号を採ってある。
【0019】図4において、31はコロナ放電発生部で
あり、該コロナ放電発生部31は、先端を包材11に向
けて植設された複数の図示されないピンから成る放電電
極34、及び平坦(たん)なアース電極35から成る。
なお、前記各ピンはステンレス鋼によって形成され、各
ピンのピッチは2〜3〔mm〕にされる。そして、前記
包材11は、アース電極35上に載置され、かつ、放電
電極34及びアース電極35によって挟まれた状態で搬
送される。また、前記放電電極34は、支持機構36に
よって包材11の上方に支持され、かつ、支持機構36
を調整することによって矢印B、C方向に移動させられ
る。本実施の形態において、前記各ピンの先端と包材1
1との間の距離は2〔mm〕程度にされる。
【0020】前記放電電極34と昇圧トランス37とが
高圧ケーブルL1によって、アース電極35と昇圧トラ
ンス37とが高圧ケーブルL2によってそれぞれ接続さ
れるとともに、制御盤38と昇圧トランス37とがライ
ンL3、L4によって接続される。そして、前記コロナ
放電発生部31には、前記包材11に付された図示され
ないマークを検出するためのマークセンサ41が配設さ
れ、該マークセンサ41によって前記マークを検出する
ことにより、包材11の位置を判定することができる。
また、前記放電電極34に隣接させて温度センサ42が
配設され、該温度センサ42によってコロナ放電発生部
31の雰囲気温度が検出される。
【0021】次に、前記制御盤38の詳細について説明
する。図1において、11は包材、31はコロナ放電発
生部、34は放電電極、35はアース電極である。そし
て、前記放電電極34と昇圧トランス37とが高圧ケー
ブルL1によって、アース電極35と昇圧トランス37
とが高圧ケーブルL2によって接続される。また、44
は、所定の周波数、本実施の形態においては、500
〔Hz〕で、かつ、所定の振幅で交流の原波形を発生さ
せる原発振器、45は所定のパターンで発生させられた
直流の基本波形を発生させる波形発生回路、46は前記
基本波形を前記原波形によって変調し、図5に示される
ような検査波形を形成する波形形成回路である。
【0022】この場合、前記検査波形は、シーケンス制
御回路48から波形発生回路45に送られるオン・オフ
信号SG1がオンになるのに伴って、振幅が次第に大き
くなり、所定時間だけピーク値を保持した後、前記オン
・オフ信号SG1がオフになるのに伴って、振幅が次第
に小さくなる。なお、必要に応じて波形発生回路45に
よって発生させられる基本波形のパターンを変更し、前
記検査波形の振幅が次第に大きくされるときの変化率
(傾き)を変更することもできる。
【0023】そして、前記包材11の各インナシール1
3(図3)に対応させて前記オン・オフ信号SG1をオ
ン・オフさせることによって、各インナシール13に発
生した損傷を検出することができる。そのために、前記
マークセンサ41によってマークが検出され、包材11
の位置が判定され、包材11の位置に基づいて、コロナ
放電発生部31にインナシール13が到達するときの第
1のタイミング、及びコロナ放電発生部31からインナ
シール13が離れるときの第2のタイミングが設定さ
れ、前記第1のタイミングでオン・オフ信号SG1がオ
ンにされ、第2のタイミングでオン・オフ信号SG1が
オフにされる。
【0024】したがって、オン・オフを繰り返すことに
よって、包材11を搬送しながら連続的に前記損傷を検
出することができる。なお、前記シーケンス制御回路4
8には前記損傷を自動的に検出するための自動モード、
及び手動で検出するための手動モードを切り換えるため
の切換スイッチ49が配設される。また、図示されない
入力装置等から前記シーケンス制御回路48に外部信号
SG2が送られ、シーケンス制御回路48から図示され
ない表示装置等に出力信号SG3が送られる。
【0025】そして、前記波形形成回路46において形
成された検査波形は、増幅器51に送られて増幅され、
前記シーケンス制御回路48からの起動信号SG4に基
づいて昇圧トランス37に対して出力される。その結
果、該昇圧トランス37において電圧が変換され、昇圧
トランス37から高圧ケーブルL1、L2を介して放電
電極34とアース電極35との間に検出用電圧が印加さ
れて、放電電極34とアース電極35との間の空間にコ
ロナ放電が発生させられる。なお、前記増幅器51及び
昇圧トランス37によって電圧印加手段が構成される。
【0026】ところで、包材11及びインナシール13
は、紙基材、樹脂等によって形成される。したがって、
前記包材11を放電電極34とアース電極35との間に
置いたときに、前記インナシール13に損傷が発生して
いると、損傷した部分にコロナ放電が集中し、このと
き、前記放電電極34とアース電極35との間に流れる
放電電流(例えば、15〔mA〕)は、通常のコロナ放
電が発生しているときに流れる放電電流(例えば、2
〔mA〕)より多くなる。
【0027】したがって、放電電極34とアース電極3
5との間に流れる放電電流を検出手段としての放電電流
検出器52によって検出することができる。そして、前
記シーケンス制御回路48は、検出された放電電流と閾
(しきい)値とを比較し、放電電流が閾値より多い場合
に前記損傷を検出し、図7に示されるようにアラーム信
号を発生させる。
【0028】また、損傷が検出されると、前記放電電流
検出器52の図示されない停止手段は、増幅器51に対
して停止信号SG5を出力し、増幅器51から昇圧トラ
ンス37への検査波形の出力を停止させる。その結果、
図7に示されるように、放電電極34とアース電極35
との間への検出用電圧の印加も停止させられる。前記検
出用電圧のピーク値は、予測される損傷の程度に対応さ
せて前記増幅器51のゲインを調整することによって変
化させられ、例えば、ピンホールの径が0.02〔m
m〕以上のときに3〜3.5〔kV〕に、0.02〔m
m〕未満で0.01〔mm〕以上のときに3.5〜5
〔kV〕に、0.01〔mm〕未満であるときに5〜6
〔kV〕に設定される。したがって、検出用電圧のピー
ク値が必要以上に高くならないので、損傷検出装置の消
費電力を少なくすることができる。
【0029】そして、ピンホールの径が小さく、検出用
電圧を、例えば、6〔kV〕のように高くする必要があ
る場合、放電電流検出器52における検出感度を微調整
することができるように感度微調整器53が配設され
る。なお、該感度微調整器53においては、ディジタル
数値で検出感度を設定することができる。ところで、前
述されたように、前記波形形成回路46によって発生さ
せられる検査波形は図5に示されるように、オン・オフ
信号SG1がオンになると、振幅が次第に大きくされ、
所定時間だけピーク値を保持した後、前記オン・オフ信
号SG1がオフになると、振幅が次第に小さくされる。
【0030】したがって、昇圧トランス37から高圧ケ
ーブルL1、L2を介して放電電極34とアース電極3
5との間に印加される検出用電圧も、図6に示されるよ
うに、前記検査波形と同様に前記基本波形のパターンに
対応する形状を有し、振幅が次第に大きくされる第1の
波形領域AR1、所定時間だけピーク値を保持する第2
の波形領域AR2、及び振幅が次第に小さくされる第3
の波形領域AR3から成る。
【0031】ここで、損傷の程度が大きく、例えば、ピ
ンホールの径が大きい場合、検出用電圧の振幅が小さい
レベルV1でピンホールにコロナ放電が集中し、このと
き、前記放電電極34とアース電極35との間に流れる
放電電流が多くなり、損傷が検出される。また、損傷の
程度が小さく、例えば、ピンホールの径が小さい場合、
検出用電圧の振幅が大きいレベルV2でピンホールにコ
ロナ放電が集中し、このとき、前記放電電極34とアー
ス電極35との間に流れる放電電流が多くなり、損傷が
検出される。
【0032】その結果、損傷の程度に応じた最も短い時
間で損傷を検出することができ、検出頻度を高くするこ
とができる。また、損傷が検出されると、直ちに停止信
号SG5が出力され、増幅器51から昇圧トランス37
への検査波形の出力が停止させられるとともに、放電電
極34とアース電極35との間への検出用電圧の印加も
停止させられる。
【0033】したがって、損傷検出装置の処理時間を短
くすることができる。また、所定時間内において損傷を
検出する能力、すなわち、損傷検出装置の繰返し検査能
力を高くすることができる。しかも、原波形の周波数が
高くされるので、損傷検出装置の処理時間を短くするこ
とができるだけでなく、波形形成回路46の応答性を向
上させることができるので、安定した検査波形を精度良
く発生させることができる。さらに、検査波形の精度が
高くなる分、検出用電圧を精度良く発生させることがで
きるので、損傷の検出精度を高くし、損傷を確実に検出
することができる。
【0034】また、検出用電圧が徐々に高くされるの
で、損傷の検出を開始したときにインナシール13に加
わるショックを小さくすることができる。したがって、
損傷の検出に伴ってインナシール13、図示されないプ
ルタブ等が破損されることはない。次に、前記包材11
の位置と検出用電圧との関係について説明する。
【0035】図8は本発明の実施の形態における包材の
位置と検出用電圧との関係を示す図である。この場合、
実際は、放電電極34が固定され、包材11が搬送され
るが、便宜上、包材11を固定し、放電電極34を移動
させた状態を示す。図において、11は包材、13はイ
ンナシール、34は放電電極、56はパンチ穴、57は
プルタブ、58は前記放電電極34を構成するピンであ
る。該各ピン58の周囲に、損傷を検出することができ
る検査領域Qが形成される。なお、検出用電圧は便宜的
に極大値の推移で表される。
【0036】前記放電電極34が位置S1に置かれ、前
端のピン58がインナシール13の縁部13aより距離
δだけ手前に到達すると、オン・オフ信号SG1(図
1)がオンにされ、検出用電圧の振幅が大きくなり始め
る。次に、前記放電電極34が位置S2に置かれ、前端
のピン58がインナシール13の折曲部13bに到達す
ると、前記振幅がピーク値にされ、その後、前記オン・
オフ信号SG1がオフにされるまで振幅はピーク値に保
持される。
【0037】なお、本発明は前記実施の形態に限定され
るものではなく、本発明の趣旨に基づいて種々変形させ
ることが可能であり、それらを本発明の範囲から排除す
るものではない。
【0038】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、損傷検出装置においては、被検体を挟んで配設さ
れた第1、第2の電極と、所定の周波数で発生させられ
た原波形、及び所定のパターンで発生させられた基本波
形に基づいて検査波形を形成する波形形成回路と、前記
検査波形に対応させて検出用電圧を発生させ、該検出用
電圧を前記第1、第2の電極に印加する電圧印加手段
と、前記第1、第2の電極間に流れる放電電流に基づい
て、前記被検体に発生した損傷を検出する検出手段とを
有する。
【0039】そして、前記検出用電圧は、前記パターン
に対応して振幅が次第に大きくなる波形領域を備える。
この場合、前記損傷の程度が大きいときには、検出用電
圧の振幅が小さいレベルで損傷を検出することができる
ので、損傷の程度に応じた最も低い検出用電圧で損傷を
検出することができる。また、損傷検出装置の処理時間
を短くすることができ、検出頻度を高くすることができ
る。
【0040】そして、検出用電圧が徐々に高くされるの
で、損傷の検出を開始したときに被検体に加わるショッ
クを小さくすることができる。したがって、損傷の検出
に伴って被検体が破損されることはない。しかも、原波
形の周波数を高くすることによって、損傷検出装置の処
理時間を短くすることができるだけでなく、安定した検
査波形を精度良く発生させることができる。さらに、検
査波形の精度が高くなる分、検出用電圧を精度良く発生
させることができるので、損傷の検出精度を高くし、損
傷を確実に検出することができる。
【0041】本発明の他の損傷検出装置においては、さ
らに、前記検出用電圧のピーク値は予測される損傷の程
度に対応させて設定される。この場合、検出用電圧のピ
ーク値が必要以上に高くならないので、損傷検出装置の
消費電力を少なくすることができる。本発明の更に他の
損傷検出装置においては、さらに、前記検出手段によっ
て前記損傷が検出されたときに、停止信号を電圧印加手
段に対して出力し、前記検出用電圧の発生を停止させる
停止手段を有する。
【0042】この場合、損傷が検出されると、直ちに停
止信号が出力され、電圧印加手段からの検出用電圧の印
加を停止させる。したがって、損傷部分を大きく破壊し
てしまうのを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態における損傷検出装置のブ
ロック図である。
【図2】本発明の実施の形態における包装機の注出口形
成装置の概略図である。
【図3】本発明の実施の形態におけるインナシールの貼
着状態を示す図である。
【図4】本発明の実施の形態における損傷検出装置の概
略図である。
【図5】本発明の実施の形態における波形形成回路によ
って形成される検査波形を表す図である。
【図6】本発明の実施の形態における検出用電圧の波形
を表す図である。
【図7】本発明の実施の形態におけるシーケンス制御回
路の動作を示す図である。
【図8】本発明の実施の形態における包材の位置と検出
用電圧との関係を示す図である。
【符号の説明】
13 インナシール 34 放電電極 35 アース電極 37 昇圧トランス 46 波形形成回路 51 増幅器 52 放電電流検出器 AR1 第1の波形領域 AR2 第2の波形領域 AR3 第3の波形領域 SG5 停止信号

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)被検体を挟んで配設された第1、
    第2の電極と、(b)所定の周波数で発生させられた原
    波形、及び所定のパターンで発生させられた基本波形に
    基づいて検査波形を形成する波形形成回路と、(c)前
    記検査波形に対応させて検出用電圧を発生させ、該検出
    用電圧を前記第1、第2の電極に印加する電圧印加手段
    と、(d)前記第1、第2の電極間に流れる放電電流に
    基づいて、前記被検体に発生した損傷を検出する検出手
    段とを有するとともに、(e)前記検出用電圧は、前記
    パターンに対応して振幅が次第に大きくなる波形領域を
    備えることを特徴とする損傷検出装置。
  2. 【請求項2】 前記検出用電圧のピーク値は予測される
    損傷の程度に対応させて設定される請求項1に記載の損
    傷検出装置。
  3. 【請求項3】 前記検出手段によって前記損傷が検出さ
    れたときに、停止信号を電圧印加手段に対して出力し、
    前記検出用電圧の印加を停止させる停止手段を有する請
    求項1に記載の損傷検出装置。
JP10634298A 1998-04-16 1998-04-16 損傷検出装置 Expired - Fee Related JP4057139B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10634298A JP4057139B2 (ja) 1998-04-16 1998-04-16 損傷検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10634298A JP4057139B2 (ja) 1998-04-16 1998-04-16 損傷検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11304767A true JPH11304767A (ja) 1999-11-05
JP4057139B2 JP4057139B2 (ja) 2008-03-05

Family

ID=14431166

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10634298A Expired - Fee Related JP4057139B2 (ja) 1998-04-16 1998-04-16 損傷検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4057139B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002189021A (ja) * 2000-12-22 2002-07-05 Nihon Tetra Pak Kk 品質検査装置
JP2007170895A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Nihon Tetra Pak Kk シール状態検査装置及びシール状態検査方法
JP2007170893A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Nihon Tetra Pak Kk シール状態検査装置及びシール状態検査方法
JP2007170894A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Nihon Tetra Pak Kk シール状態検査装置及びシール状態検査方法
JP2007278933A (ja) * 2006-04-10 2007-10-25 Fujimori Kogyo Co Ltd フィルム付き成形品の検査方法
JP2011528758A (ja) * 2008-07-19 2011-11-24 プロゲオ モニタリング ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 構造用シールの密封性をチェックする方法および装置
CN108872785A (zh) * 2018-06-11 2018-11-23 海宁市金能电力实业有限公司 一种移动式高压电缆试验平台

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002189021A (ja) * 2000-12-22 2002-07-05 Nihon Tetra Pak Kk 品質検査装置
JP2007170895A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Nihon Tetra Pak Kk シール状態検査装置及びシール状態検査方法
JP2007170893A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Nihon Tetra Pak Kk シール状態検査装置及びシール状態検査方法
JP2007170894A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Nihon Tetra Pak Kk シール状態検査装置及びシール状態検査方法
JP4698406B2 (ja) * 2005-12-20 2011-06-08 日本テトラパック株式会社 シール状態検査装置及びシール状態検査方法
JP4698405B2 (ja) * 2005-12-20 2011-06-08 日本テトラパック株式会社 シール状態検査装置及びシール状態検査方法
JP2007278933A (ja) * 2006-04-10 2007-10-25 Fujimori Kogyo Co Ltd フィルム付き成形品の検査方法
JP2011528758A (ja) * 2008-07-19 2011-11-24 プロゲオ モニタリング ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 構造用シールの密封性をチェックする方法および装置
CN108872785A (zh) * 2018-06-11 2018-11-23 海宁市金能电力实业有限公司 一种移动式高压电缆试验平台
CN108872785B (zh) * 2018-06-11 2023-12-22 海宁市金能电力实业有限公司 一种移动式高压电缆试验平台

Also Published As

Publication number Publication date
JP4057139B2 (ja) 2008-03-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2388560B1 (en) Packaging and filling machine
JP4698405B2 (ja) シール状態検査装置及びシール状態検査方法
WO2003056290A1 (fr) Dispositif de controle d'etat etanche
BR122012019040B1 (pt) método e dispositivo para a aderência de pelo menos um receptáculo
JPH11304767A (ja) 損傷検出装置
US3530642A (en) Apparatus for sealing film
TW460398B (en) Control unit for checking the integrity of tear-off closing devices applied to respective openings in strip packaging material for producing aseptic sealed packages of pourable food products
US10946563B2 (en) Expanding foam presence sensor and related methods
JP2003194663A (ja) シール状態検査装置
EP0536447A1 (en) Exposure meter for use with induction heat sealing of containers
JP4919341B2 (ja) 包装充填装置
JP2000035373A (ja) フレキシブルパウチの検査機および検査方法
EP1347291B1 (en) Flaw detector
JPH08240569A (ja) 食品包装用シート及び食品密封容器のピンホール不良検査方法並びに装置
JP4726001B2 (ja) シール状態検査装置及びシール状態検査方法
JP5105505B2 (ja) 容器検査方法及び容器検査装置
JP2006084362A (ja) シール状態検査装置
JP4795090B2 (ja) 包材検査装置
JP6099450B2 (ja) 口栓の溶着判定手段を備えた充填包装機械
JP3971921B2 (ja) 流動食品の無菌密閉パッケージを製造するために包装材料のウェブに取り外し可能な開口装置を取り付けるユニット
JP2008137660A (ja) 包装充填装置
JP5570336B2 (ja) 検査装置および検査方法
JP4698406B2 (ja) シール状態検査装置及びシール状態検査方法
JPH09126939A (ja) 包装体における内容液の漏洩検査方法及びその装置
JP2004115113A (ja) 充填包装方法および充填包装装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050216

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070703

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070831

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071211

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071213

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101221

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101221

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111221

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111221

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121221

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131221

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131221

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131221

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131221

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131221

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees