JPH11302026A - 不純物金属遮蔽用耐熱性合成シリカガラス 及びその製造方法 - Google Patents
不純物金属遮蔽用耐熱性合成シリカガラス 及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH11302026A JPH11302026A JP12672898A JP12672898A JPH11302026A JP H11302026 A JPH11302026 A JP H11302026A JP 12672898 A JP12672898 A JP 12672898A JP 12672898 A JP12672898 A JP 12672898A JP H11302026 A JPH11302026 A JP H11302026A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silica glass
- synthetic silica
- heat
- shielding
- resistant synthetic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C3/00—Glass compositions
- C03C3/04—Glass compositions containing silica
- C03C3/06—Glass compositions containing silica with more than 90% silica by weight, e.g. quartz
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B19/00—Other methods of shaping glass
- C03B19/14—Other methods of shaping glass by gas- or vapour- phase reaction processes
- C03B19/1415—Reactant delivery systems
- C03B19/1438—Reactant delivery systems for delivering and depositing additional reactants as liquids or solutions, e.g. solution doping of the article or deposit
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B2201/00—Type of glass produced
- C03B2201/02—Pure silica glass, e.g. pure fused quartz
- C03B2201/03—Impurity concentration specified
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B2201/00—Type of glass produced
- C03B2201/06—Doped silica-based glasses
- C03B2201/20—Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B2201/00—Type of glass produced
- C03B2201/06—Doped silica-based glasses
- C03B2201/20—Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine
- C03B2201/23—Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine doped with hydroxyl groups
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B2201/00—Type of glass produced
- C03B2201/06—Doped silica-based glasses
- C03B2201/30—Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi
- C03B2201/32—Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi doped with aluminium
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B2201/00—Type of glass produced
- C03B2201/06—Doped silica-based glasses
- C03B2201/30—Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi
- C03B2201/40—Doped silica-based glasses doped with metals, e.g. Ga, Sn, Sb, Pb or Bi doped with transition metals other than rare earth metals, e.g. Zr, Nb, Ta or Zn
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2201/00—Glass compositions
- C03C2201/06—Doped silica-based glasses
- C03C2201/08—Doped silica-based glasses containing boron or halide
- C03C2201/11—Doped silica-based glasses containing boron or halide containing chlorine
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2201/00—Glass compositions
- C03C2201/06—Doped silica-based glasses
- C03C2201/20—Doped silica-based glasses containing non-metals other than boron or halide
- C03C2201/23—Doped silica-based glasses containing non-metals other than boron or halide containing hydroxyl groups
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2201/00—Glass compositions
- C03C2201/06—Doped silica-based glasses
- C03C2201/30—Doped silica-based glasses containing metals
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2201/00—Glass compositions
- C03C2201/06—Doped silica-based glasses
- C03C2201/30—Doped silica-based glasses containing metals
- C03C2201/32—Doped silica-based glasses containing metals containing aluminium
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2201/00—Glass compositions
- C03C2201/06—Doped silica-based glasses
- C03C2201/30—Doped silica-based glasses containing metals
- C03C2201/40—Doped silica-based glasses containing metals containing transition metals other than rare earth metals, e.g. Zr, Nb, Ta or Zn
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2201/00—Glass compositions
- C03C2201/06—Doped silica-based glasses
- C03C2201/30—Doped silica-based glasses containing metals
- C03C2201/50—Doped silica-based glasses containing metals containing alkali metals
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2203/00—Production processes
- C03C2203/40—Gas-phase processes
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Glass Compositions (AREA)
- Glass Melting And Manufacturing (AREA)
Abstract
処理に使用する治具に好適に用いられ、当該熱処理にお
ける不純物金属元素、特に、Na、K、Liの遮蔽性に
優れ、失透がない上に粒状構造を有することなくかつ均
一で滑らかな表面形状の耐熱性合成シリカガラスを提供
する。 【解決手段】 OH基含有量が10〜300wtppm
の高純度合成シリカガラスにジルコニウム1〜100wt
ppm 及びアルミニウム1〜100wtppm を粒状構造を生
成することなく均一にドープせしめてなるようにした。
Description
特に、Na、K、Liの遮蔽性に優れた耐熱性合成シリ
カガラス及びその製造方法に関し、さらに詳細には、特
にシリコンウェハー等半導体材料の熱処理に使用する治
具、すなわち、ウエハーボート、チャンバー及び炉心管
等、或いは、紫外線用光学材料の熱処理に使用する治
具、すなわち、レンズブランクスセッター、炉床板及び
炉心管等に用いられる耐熱性合成シリカガラス及びその
製造方法に関するものである。
熱処理、または紫外線用光学材料の熱処理に使用される
高温電気炉は、一般に、内側にアルミナ、ムライト、ジ
ルコニア等の耐火材が張られている。これらの耐火材は
製造工程において各種のバインダーを使って成型される
ため、高濃度の不純物、特にNaを含有している。
等の被熱処理物を高温電気炉で熱処理する場合には、こ
の被熱処理物と上記耐火材との間にシリカガラス治具を
介在させて行うが、該耐火材に含まれているNaはその
拡散係数が大きいため、Naがシリカガラス治具を媒体
としてシリコンウエハーや紫外線用光学材料等の被熱処
理物に拡散し、これらを汚染してしまうという問題があ
った。
願人は、OH基含有量が10〜500wtppmのシリカガ
ラスマトリックス中に高純度ジルコニウムの微粒子が2
0〜10,000wtppm及び酸化アルミニウムの微粒子
が20〜5,000wtppm均一に分散させることによっ
て、不純物金属、特にアルカリ金属元素やアルカリ土類
金属元素による汚染の起こらない不純物金属遮蔽性シリ
カガラスを既に提案した(特開平10−017334
号)。
法上、シリカ粉体を主原料とするものであり、製法が限
定されている他に、酸化ジルコニウム及び酸化アルミニ
ウムを微粒子の形でドープさせるため、気泡含有量が多
いという問題やガラス化時に粒状構造が残存するといっ
た問題を有していた。このシリカガラスの粒状構造の残
存は、熱処理における失透の要因にもなっている。
均一性の問題であり、ガラス化時に溶融された微粒子
が、ガラス化後も粒子の構造が残存し、粒子径が0.5
μm以上であって光学顕微鏡で観察されるものを指して
いる。粒状構造を示すシリカガラスの表面形状の一例の
顕微鏡写真を図2に示してある。
ウム微粒子、酸化アルミニウム微粒子を均一に混合する
ことが非常に困難であり、しばしばこれら2種類の微粒
子が凝集し、不均一なガラスが得られる場合があった。
その結果、得られたシリカガラスの不純物金属遮蔽性が
不十分であったり、部分的に再結晶、失透を起こすこと
があった。
性が劣ることや、失透する問題があり、特に高温の熱処
理用途の部材としては不向きであった。
来技術の問題点に鑑みなされたもので、半導体材料の熱
処理や紫外線用光学材料の熱処理に使用する治具に好適
に用いられ、当該熱処理における不純物金属元素、特
に、Na、K、Liの遮蔽性に優れ、失透がない上に粒
状構造を有することなくかつ均一で滑らかな表面形状の
耐熱性合成シリカガラス及びその合成シリカガラスを効
率よく製造することのできる方法を提供することを目的
とする。
に、本発明の不純物金属遮蔽用耐熱性合成シリカガラス
は、OH基含有量が10〜300wtppmの高純度合成シ
リカガラスにジルコニウム1〜100wtppm 及びアルミ
ニウム1〜100wtppm を粒状構造を生成することなく
均一にドープせしめてなることを特徴とする。ただし、
ドープ溶液濃度と実際に生成したガラス中のドープ濃度
とは異なり、従ってガラスに所定濃度ドープさせるため
の必要なドープ溶液濃度の調整が必要である。
カガラスの熱処理時における不純物金属の遮断性を向上
させることができる。Zr4+はSi−O結合中に組み込
まれ、そのイオン半径がSi4+より大きいことからアル
カリ金属イオンの拡散を遮蔽する作用がある。
ープするとAl3+イオン周辺の電荷平衡が崩れ、正電荷
の補償が必要とされる状態となり、高温電気炉にて熱処
理中に不純物金属をトラップし、半導体製品等の汚染を
一層少なくする作用がある。また、ジルコニウム及びア
ルミニウムを共ドープすることによって、高温下での耐
再結晶性が高くなり、900℃〜1300℃の高温処理
においても耐熱性が高く、強度劣化が少なく、治具用シ
リカガラスとして好ましい性能を付与することができ
る。
が各々1wtppm未満になると本発明の効果を達成するこ
とができない。一方、これらの含有量が各々100wtpp
m を越えるとシリカガラスの製造時のガラス化が困難に
なり、かつ熱処理中に再結晶化し易いという不利があ
る。
プ量をそれぞれ10〜50wtppmに設定することによっ
て、該合成シリカガラスの熱処理時における耐失透性を
さらに向上させることができる。
300wtppm 含有するが、これによって、該合成シリカ
ガラスの熱処理時の粘性度を向上させることができる
上、900〜1300℃の高温で半導体製品を長時間加
熱しても熱処理雰囲気中に存在する不純物金属、特にア
ルカリ金属がシリカガラス中のOH基又はH+イオンと
イオン交換し、優先的にシリカガラス中に取り込まれ、
半導体製品を汚染することが少なくなる。
用がなく、また300wtppmを超えるとシリカガラスの
粘性度が低下し(耐熱性の低下)、熱処理時に被熱処理
物と融着したり、或いは変形を起こすため好ましくな
い。
300℃程度の範囲であり、シリコンウエハー等の半導
体材料や紫外線用光学材料の熱処理に使用される高温電
気炉の一般的な処理温度条件である。
ラスは、珪素化合物原料から火炎加水分解法のスート再
溶融法によって製造されるのが好ましい。
ルコニウムイオン及びアルミニウムイオンを含む溶液を
用いて均一にドープされるのが好ましい。
ラスに含まれるCl基は、1000wtppm 以下であるの
が好ましい。Cl基含有量が1000wtppmを超えると
Cl基が、シリカガラス中でSi−Cl構造を形成し、
粘性度の低下(耐熱性の低下)をもたらし好ましくな
い。
ラスのLi、Na及びKの含有量がそれぞれ50wtppb
以下でありかつFe、Ni及びCuの含有量がそれぞれ
10wtppb 以下であることが好ましい。
ラスの1000℃におけるNaの拡散係数が1×10
-10cm2/sec 以下であることが好ましい。
ラスの1280℃における粘性度が1011.6ポアズ以上
であることが好ましい。1280℃における粘性度が1
011.6ポアズ未満であると、耐熱性も低下するため好ま
しくない。
成シリカガラスは、原料の珪素化合物を酸水素火炎加水
分解法によって作成したシリカガラスのスート体に、い
わゆるソリューションドーピング法等によって、ジルコ
ニウム及びアルミニウムを各々イオンの形で存在する溶
液からスート体へ均一にドープし、このスート体をガラ
ス化して形成、即ちスート再溶液法によって形成するの
が好ましい。
珪素が通常用いられる。
ルコニウム及びアルミニウムを各々イオンの形で存在す
る溶液から均一にドープする場合には、当該シリカガラ
スのスート体をジルコニウム塩、例えば二塩化酸化ジル
コニウム(IV)八水和物、二硝酸酸化ジルコニウム(IV)八
水和物及びアルミニウム塩、例えば塩化アルミニウム六
水和物、硝酸アルミニウム九水和物の水溶液に浸漬して
行い、該水溶液には必要に応じてアルコール等の極性溶
媒を添加してもよい。
シリカガラス中において共存していることが好ましく、
ジルコニウム及びアルミニウムが上記の含有量範囲でそ
れぞれ存在することによって、900〜1300℃の高
温下でのシリカガラスの耐再結晶性や耐熱性が向上し、
強度劣化も低減できる。
カガラスの製造方法は、(a)珪素化合物原料を用いて
火炎加水分解法によって非晶質シリカ母材即ちスート体
を製造する工程、(b)このスート体をジルコニウム化
合物及びアルミニウム化合物の溶液に浸漬することによ
ってこのスート体にジルコニウム及びアルミニウムを均
一にドープせしめる工程、(c)このジルコニウム及び
アルミニウムが均一にドープされたスート体を乾燥させ
る工程、(d)この乾燥したスート体を減圧雰囲気下で
透明ガラス化する工程、とからなることを特徴とする。
スの製造に所謂スート再溶融法を適用することによって
粒状構造を有することなくかつ均一で滑らかな表面形状
の不純物金属遮蔽用耐熱性合成シリカガラスを効率よく
製造することが可能である。
に説明する。
中で加水分解するCVD法(火炎加水分解法)により、
すす状シリカ微粒子をターゲット上に堆積させて非晶質
シリカ母材(スート)を作成し、当該スート体をZr濃
度及びAl濃度を表1に示すように変動させたドープ溶
液に浸漬させた後、大気圧下で100〜200℃で乾燥
して水分を除去した。
rrの減圧下で1650℃で真空熱処理炉内で加熱するこ
とによって透明ガラス化を行って、不純物金属遮蔽用耐
熱性合成シリカガラスをそれぞれ作成した。
1に示した不純物元素についての不純物濃度、OH基濃
度、Naの拡散係数、粘性度、耐失透性、Na汚染量を
それぞれ測定して表1に示した。
〜4の合成シリカガラスのZr及びAlの含有量はいず
れも1〜100wtppmの範囲に収まっており、さらにL
i、Na及びKの含有量はそれぞれ50wtppb以下、か
つFe、Cu及びNiの含有量はそれぞれ10wtppb以
下で、Clの含有量も30wtppm以下に抑えられ、かつ
OH基は90又は80wtppmであり、いずれも良好な範
囲に調整されていた。
4の合成シリカガラスのNaの拡散係数は低い数値を示
しており、この合成シリカガラスを媒体として熱処理を
行う場合にNaが被熱処理物へ拡散し、それを汚染する
という不都合は抑制される。また、実施例1〜4の合成
シリカガラスの粘性度は低下しておらず、したがって耐
熱性も低下していないことが確認できた。
の耐失透性も良好であり、特に実施例2及び3の合成シ
リカガラスの失透は非常に少なかった。さらにまた、N
a汚染量も極めて低い値に抑えられていることがわかっ
た。
鏡写真(倍率50倍)をとったところ、図1に示したよ
うに均一で滑らかな表面形状を有することが確認でき
た。
ープ溶液に浸漬しなかったこと以外は実施例1〜4と同
様にして合成シリカガラスを作成した。得られた合成シ
リカガラスについて実施例1〜4と同様に各種性能を測
定し、表2に示した。
ラスのLi、Na、K、Fe、Cu及びNiの含有量は
実施例1〜4と同様であり、またClの含有量も30wt
ppm以下に抑えられかつOH基も260wtppmでいずれも
良好であるが、Zr及びAlがいずれも0.05wtppm
以下と本発明の規定外であった。
合成シリカガラスのNaの拡散係数は、実施例1〜4に
比較して増大しており、粘性度もやや低下していた。ま
た、この合成シリカガラスの失透は著しく、かつNa汚
染量も増大していた。
ープ溶液に浸漬することなく、塩素雰囲気中で脱水化し
た以外は実施例1〜4と同様にして合成シリカガラスを
作成した。得られた合成シリカガラスについて実施例1
〜4と同様に各種性能を測定し、表2に示した。
ラスのLi、Na、K、Fe、Cu及びNiの含有量は
実施例1〜4と同様であるが、Zr及びAlがいずれも
0.05wtppm以下と本発明の規定外である他に、Cl
含有量が1800wtppmと高く、OH基濃度が1wtppm以
下と低すぎるものであった。
合成シリカガラスのNaの拡散係数は実施例1と同等で
ありかつ粘性度はわずかに低下している程度であるが、
失透が著しい上にNa汚染量も増大していた。
r濃度400wtppmのドープ溶液に浸漬した以外は、実
施例1〜4と同様にして合成シリカガラスを作成した。
得られた合成シリカガラスについて実施例1〜4と同様
に各種性能を測定し、表2に示した。
ラスのLi、Na、K、Fe、Cu、Ni、Cl及びO
H基の含有量は実施例1〜4と同様であるが、Zr及び
Alがいずれも100wtppmを超えて本発明の規定外で
あった。
合成シリカガラスのNaの拡散係数は実施例1以下であ
りかつ粘性度はわずかに低下している程度であるが、失
透が著しい上にNa汚染量も増大していた。
素火炎加水分解法の直接法でZr及びAlのドープを行
うことなく合成シリカガラスを作成した。得られた合成
シリカガラスについて実施例1〜4と同様に各種性能を
測定し、表2に示した。
ラスのLi、Na、K、Fe、Cu及びNiの含有量は
実施例1〜4と同様であり、またCl含有量も130と
良好であるが、Zr及びAlがいずれも0.05wtppm
以下と本発明の規定外である他に、OH基含有量も65
0wtppmと高いものであった。
合成シリカガラスのNaの拡散係数は実施例1〜4に比
較して増大し、粘性度についても大幅に低下していた。
また、この合成シリカガラスの失透は著しく、かつNa
汚染量も増大していた。
ベルヌイ法によりシリカガラス〔商品名:Heralu
x、信越石英(株)〕を作成した。得られたシリカガラ
スについて実施例1〜4と同様に各種性能を測定し、表
3に示した。
のAlは本発明の規定内であり、Cl及びOH基含有量
も良好であるが、Zrの含有量が低くまたLi、Na、
K、Fe、Cu及びNiの濃度はいずれも高すぎるもの
であった。
シリカガラスのNaの拡散係数は実施例1〜4に比較し
て増大しており、粘性度もやや低下していた。また、こ
のシリカガラスの失透は若干認められる程度であった
が、Na汚染量は大幅に増大していた。
融法によりシリカガラス〔商品名:Heralux−
E、信越石英(株)〕を作成した。得られたシリカガラ
スについて実施例1〜4と同様に各種性能を測定し、表
3に示した。
のAlは本発明の規定内であり、Cl及びOH基含有量
も良好であるが、Zrの含有量が低く、またLi、N
a、K、Fe、Cu及びNiの濃度はいずれも高すぎる
ものであった。
シリカガラスのNaの拡散係数は、実施例1〜4と比較
して増大していたが、粘性度の低下はなかった。また、
このシリカガラスの失透は若干認められる程度であった
が、Na汚染量は大幅に増大していた。
調整したシリカ粉であって、その粒径が10〜200μ
mの合成クリストバライト粉に粒径が0.1〜10μm
の範囲のZrO2100wtppm 及びAl2 O3 100wtp
pm を配合して、V型混合器で均一に混合した後、該混
合物を加熱溶融してシリカガラスを作成した。得られた
シリカガラスについて実施例1〜4と同様に各種性能を
測定し、表3に示した。
のZr及びAlは本発明の規定内に収まっており、また
Cl及びOH基含有量も良好であるが、Li、Na、
K、Fe、Cu及びNiの濃度はいずれも高すぎるもの
であった。
シリカガラスのNaの拡散係数は実施例1〜4と同等で
あり、粘性度の低下もなかったが、失透が著しく、また
Na汚染量も増大していた。このシリカガラスの顕微鏡
写真(倍率50倍)をとったところ、図2に示したよう
に粒状構造を有する表面形状を呈していることがわかっ
た。
ての各評価項目は以下の方法によってそれぞれ測定また
は評価した。
D.B.Fraser;Journal ofApplied Physics,Vol.37,p.3911
(1966)〕
0×5mm、鏡面仕上げの測定対象ガラス試料を作成
し、その上に食塩水を塗り、100℃で乾燥し、次いで
大気中において1000℃で50時間加熱処理を行った
後、LMA法(Laser Micro Analysis法) により当該ガ
ラス試料表面から深さ方向におけるNa拡散濃度分布を
測定し、フィックの法則により拡散係数を求める。
(小林啓二、横田良助;窯業協会誌、第76巻、第7
号、1968年、第218〜223頁)
温大気炉中にて1300℃で100時間熱処理を施し、
熱処理後の試料の失透の程度を目視により評価する。目
視判定の評価は次の通りである。 ◎:失透が非常に少ないことを示す。 :失透が若干認められたことを示す。 ×:失透が著しいことを示す。
ガラス試料(ガラス板)(厚さ10mm)を高温大気炉
の底部に設置し、当該ガラス板の中央部に標準シリカガ
ラス試料〔商品名 Heralux−LA、信越石英
(株)〕を配置し、1100℃で1000時間熱処理を
施し、熱処理後、標準シリカガラス試料を回収し、Na
汚染量測定を行った。
シリカガラスは、半導体材料の熱処理や紫外線用光学材
料の熱処理における不純物金属元素、特に、Na、K、
Liの遮蔽性に優れ、失透がない上に粒状構造を有する
ことなくかつ均一で滑らかな表面形状を有しており、上
記熱処理に使用する治具に好適に用いられるという効果
を奏する。また、本発明方法によれば、上記した優れた
性能を有する合成シリカガラスを効率良く製造できると
いう効果が達成される。
の表面形状を示す顕微鏡写真である。
面形状を示す顕微鏡写真である。
Claims (9)
- 【請求項1】 OH基含有量が10〜300wtppmの高
純度合成シリカガラスにジルコニウム1〜100wtppm
及びアルミニウム1〜100wtppm を粒状構造を生成す
ることなく均一にドープせしめてなることを特徴とする
不純物金属遮蔽用耐熱性合成シリカガラス。 - 【請求項2】 前記ジルコニウムを10〜50wtppm 及
び前記アルミニウムを10〜50wtppm ドープするよう
にしたことを特徴とする請求項1記載の不純物金属遮蔽
用耐熱性合成シリカガラス。 - 【請求項3】 珪素化合物原料から火炎加水分解法のス
ート再溶融法によって製造されることを特徴とする請求
項1又は2に記載の不純物金属遮蔽用耐熱性合成シリカ
ガラス。 - 【請求項4】 前記ジルコニウム及びアルミニウムがジ
ルコニウムイオン及びアルミニウムイオンを含む溶液を
用いて均一にドープされることを特徴とする請求項1〜
3のいずれか1項記載の不純物金属遮蔽用耐熱性合成シ
リカガラス。 - 【請求項5】 Cl基が1000wtppm 以下であること
を特徴とする請求項1〜4のいずれか1項記載の不純物
金属遮蔽用耐熱性合成シリカガラス。 - 【請求項6】 Li、Na及びKの含有量がそれぞれ5
0wtppb 以下でありかつFe、Ni及びCuの含有量が
それぞれ10wtppb 以下であることを特徴とする請求項
1〜5のいずれか1項記載の不純物金属遮蔽用耐熱性合
成シリカガラス。 - 【請求項7】 1000℃におけるNaの拡散係数が1
×10-10cm2/sec 以下であることを特徴とする請求項
1〜6のいずれか1項記載の不純物金属遮蔽用耐熱性合
成シリカガラス。 - 【請求項8】 1280℃における粘性度が1011.6ポ
アズ以上であることを特徴とする請求項1〜7のいずれ
か1項記載の不純物金属遮蔽用耐熱性合成シリカガラ
ス。 - 【請求項9】(a)珪素化合物原料を用いて火炎加水分
解法によって非晶質シリカ母材即ちスート体を製造する
工程、(b)このスート体をジルコニウム化合物及びア
ルミニウム化合物の溶液に浸漬することによってこのス
ート体にジルコニウム及びアルミニウムを均一にドープ
せしめる工程、(c)このジルコニウム及びアルミニウ
ムが均一にドープされたスート体を乾燥させる工程、
(d)この乾燥したスート体を減圧雰囲気下で透明ガラ
ス化する工程、とからなることを特徴とする請求項1〜
8のいずれか1項記載の不純物金属遮蔽用耐熱性合成シ
リカガラスの製造方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12672898A JP3393063B2 (ja) | 1998-04-21 | 1998-04-21 | 不純物金属遮蔽用耐熱性合成シリカガラス及びその製造方法 |
DE1999118001 DE19918001C2 (de) | 1998-04-21 | 1999-04-21 | Hitzbeständiges, synthetisches Quarzglas und Herstellungsverfahren dafür |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12672898A JP3393063B2 (ja) | 1998-04-21 | 1998-04-21 | 不純物金属遮蔽用耐熱性合成シリカガラス及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11302026A true JPH11302026A (ja) | 1999-11-02 |
JP3393063B2 JP3393063B2 (ja) | 2003-04-07 |
Family
ID=14942413
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12672898A Expired - Fee Related JP3393063B2 (ja) | 1998-04-21 | 1998-04-21 | 不純物金属遮蔽用耐熱性合成シリカガラス及びその製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3393063B2 (ja) |
DE (1) | DE19918001C2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002356347A (ja) * | 2001-06-01 | 2002-12-13 | Tosoh Corp | ジルコニウムの均一な分散性を有する石英ガラス、その製造方法、これを用いた部材及び装置 |
JP2009046328A (ja) * | 2007-08-15 | 2009-03-05 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | 光触媒用シリカガラス及び光触媒用シリカガラスの製造方法 |
JP2009051677A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | 耐化学性シリカガラス及び耐化学性シリカガラスの製造方法 |
US8841664B2 (en) | 2011-03-04 | 2014-09-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
JP2018014486A (ja) * | 2016-06-06 | 2018-01-25 | インフィネオン テクノロジーズ アーゲーInfineon Technologies Ag | パワー半導体素子を処理するためのエネルギフィルタ |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19956570B4 (de) * | 1999-11-24 | 2005-03-24 | Heraeus Tenevo Ag | Verfahren für die Herstellung eines Quarzglaskörpers |
DE60028091T2 (de) * | 2000-02-07 | 2006-12-21 | Tokyo Electron Ltd. | Quarzglasbauteil für halbleiterherstellungsanlage und verfahren zur metalluntersuchung in einem quarzglasbauteil |
US6887576B2 (en) | 2000-08-23 | 2005-05-03 | Herseus Quarzglas GmbH & Co. KG | Quartz glass body having improved resistance against plasma corrosion, and method for production thereof |
US6672111B2 (en) | 2001-12-21 | 2004-01-06 | Corning Incorporated | Method and apparatus for adding metals to fused silica |
JP4316589B2 (ja) * | 2006-06-16 | 2009-08-19 | 東京電波株式会社 | 人工水晶部材およびその製造方法、ならびにそれを用いた光学素子 |
JP5106090B2 (ja) * | 2007-12-26 | 2012-12-26 | 信越石英株式会社 | 光触媒用シリカガラス及びその製造方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2544933B2 (ja) * | 1987-07-11 | 1996-10-16 | 新興化学工業株式会社 | 電気絶縁用粘着テ−プの製造方法 |
-
1998
- 1998-04-21 JP JP12672898A patent/JP3393063B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-04-21 DE DE1999118001 patent/DE19918001C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002356347A (ja) * | 2001-06-01 | 2002-12-13 | Tosoh Corp | ジルコニウムの均一な分散性を有する石英ガラス、その製造方法、これを用いた部材及び装置 |
JP2009046328A (ja) * | 2007-08-15 | 2009-03-05 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | 光触媒用シリカガラス及び光触媒用シリカガラスの製造方法 |
JP2009051677A (ja) * | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | 耐化学性シリカガラス及び耐化学性シリカガラスの製造方法 |
US8841664B2 (en) | 2011-03-04 | 2014-09-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
JP2018014486A (ja) * | 2016-06-06 | 2018-01-25 | インフィネオン テクノロジーズ アーゲーInfineon Technologies Ag | パワー半導体素子を処理するためのエネルギフィルタ |
US10242840B2 (en) | 2016-06-06 | 2019-03-26 | Infineon Technologies Ag | Energy filter for processing a power semiconductor device |
US10403468B2 (en) | 2016-06-06 | 2019-09-03 | Infineon Technologies Ag | Energy filter for processing a power semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3393063B2 (ja) | 2003-04-07 |
DE19918001C2 (de) | 2001-10-04 |
DE19918001A1 (de) | 1999-10-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101378748B1 (ko) | 용융 석영 유리 및 그 제조 방법 | |
JP5394734B2 (ja) | 半導体ウエハを処理するための石英ガラスからなる保持器および保持器の製造方法 | |
US5236483A (en) | Method of preparing silica glass | |
US3804608A (en) | Method for making glass ceramic materials | |
JP4951040B2 (ja) | シリカ容器及びその製造方法 | |
JP5118007B2 (ja) | シリカ容器及びその製造方法 | |
EP0293064B1 (en) | Sol-gel method for making ultra-low expansion glass | |
JP3393063B2 (ja) | 不純物金属遮蔽用耐熱性合成シリカガラス及びその製造方法 | |
JP2005194118A (ja) | シリカガラス | |
JP5167073B2 (ja) | シリカ容器及びその製造方法 | |
JP4700340B2 (ja) | 失透の制御された溶融石英物品 | |
JPH11310423A (ja) | 合成石英ガラスおよびその製造方法 | |
EP0854116A2 (en) | Cristobalite-contained silica glass, and silica glass jig made of same | |
JPS63236723A (ja) | 半導体工業用石英ガラス製品 | |
GB2181727A (en) | Method of preparing a silica glass member | |
JP2000191329A (ja) | エキシマレ―ザ―用光学石英ガラスの製造方法 | |
JPH06219768A (ja) | 石英ガラス材及びその製造法 | |
JP2000314034A (ja) | 高純度結晶質無機繊維、その成形体及びその製造方法 | |
JP2000143258A (ja) | ArFエキシマレ―ザ―リソグラフィ―用合成石英ガラスの製造方法 | |
JP3187510B2 (ja) | 半導体ウエハ熱処理用部材の製造方法 | |
JP2931742B2 (ja) | オパ−ルグラスセラミックおよびその製造方法 | |
JPH0952719A (ja) | 合成石英ガラス母材の製造方法 | |
JP2777858B2 (ja) | 半導体熱処理用シリカガラス管およびその製造方法 | |
JPH1017334A (ja) | 不純物金属遮蔽性シリカガラス及びその製造方法 | |
JP4329130B2 (ja) | 高純度アルミナシリカジルコニア繊維及び耐火断熱材 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20021226 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090124 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090124 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100124 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110124 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110124 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120124 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120124 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130124 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130124 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140124 Year of fee payment: 11 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |