JPH11300300A - 基板処理方法および同装置 - Google Patents

基板処理方法および同装置

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JPH11300300A
JPH11300300A JP11511998A JP11511998A JPH11300300A JP H11300300 A JPH11300300 A JP H11300300A JP 11511998 A JP11511998 A JP 11511998A JP 11511998 A JP11511998 A JP 11511998A JP H11300300 A JPH11300300 A JP H11300300A
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JP
Japan
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substrate
processing liquid
processing
ultrasonic vibration
main surface
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JP11511998A
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Tsugio Nakamura
次雄 中村
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板の表裏両面を超音波振動を与えた処理液
によって処理しながらも、装置価格やランニングコスト
を低減させ、しかも装置の耐久性を向上させる。 【解決手段】 搬送機構16により基板Wを搬送しつ
つ、搬送機構16の上方および下方に配設された一対の
水洗ノズル18a,18bにより基板Wの表裏両面に純
水を吹き付けて基板Wを洗浄するようにした。上側水洗
ノズル18aからは超音波振動を付与した純水を基板W
に吹き付け、下側水洗ノズル18bからは超音波振動を
付与しない純水を基板Wに吹き付けるようにした。ま
た、各ノズル18a,18bによる純水の吹き付け位置
は、基板Wを挟んで上下に対向するように設定した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示器用基板
等のFPD(Flat Panel Display)用基板、フォトマス
ク用ガラス基板、半導体基板等の基板に対して超音波振
動を与えた処理液を供給して洗浄、剥離等の処理を基板
に施す基板処理装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、液晶表示器用基板等の処理工
程においては、例えば、搬送中の基板の表裏両面に向か
ってノズルから洗浄液(処理液)を吹き付けて洗浄する
ことが行われており、特に、近年では、洗浄効果をより
高めるべく、特開平7−204593号公報に開示され
るように超音波振動を与えた洗浄液を基板の表裏両面に
吹き付けることが行われている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記公報に
開示されている従来のものでは、基板の搬送経路を挟ん
だ対向位置に超音波ノズルを配置して基板の表裏両面に
洗浄液を吹き付けるようにしているため、超音波振動が
ノズル間で相互に影響し合い、超音波ノズルの耐久性を
低下させるという問題がある。
【0004】また、超音波振動を与えた洗浄液を用いて
洗浄処理を施すことは洗浄効果を高める上では極めて有
効であるが、超音波ノズル自体が高価で、また消費電力
が嵩むため、装置価格やランニングコストを高める一つ
の原因になるという問題もある。
【0005】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたものであり、基板の表裏両面を超音波振動を与えた
処理液によって処理しながらも、装置価格やランニング
コストを低減することができ、しかも装置の耐久性を向
上させることができる基板処理方法および同装置を提供
することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の基板処理方法は、基板の一方側の主面に超
音波振動を付与した第1の処理液を供給する一方、他方
側の主面に超音波振動を付与していない第1の処理液と
同一又は異なる種類の第2の処理液を供給するととも
に、一方側の主面に供給された第1の処理液の超音波振
動が他方側の主面に供給された第2の処理液に伝播する
ように各主面に処理液を供給して基板を処理するように
したものである(請求項1)。
【0007】この方法によれば、一方側の主面に供給さ
れた第1の処理液の超音波振動が基板を透過して他方側
の主面に供給された第2の処理液に伝播し、これにより
基板の両主面が超音波振動を付与された処理液によって
処理されることとなる。
【0008】また、上記課題を解決するために、本発明
の基板処理装置は、基板に処理液を供給して基板を処理
する基板処理装置において、基板の一方側の主面に超音
波振動を付与した第1の処理液を供給する第1の処理液
供給手段と、基板の他方側の主面に超音波振動を付与し
ない第1の処理液と同一又は異なる種類の第2の処理液
を供給する第2の処理液供給手段とを設けるとともに、
一方側の主面に供給した第1の処理液の超音波振動が他
方側の主面に供給した第2の処理液に伝播するように各
処理液供給手段を構成したものである(請求項2)。
【0009】この装置によれば、請求項1の基板処理方
法を良好に実施することができる。特に、このような装
置においては、第1の処理液の供給位置が上記第2の処
理液の供給位置と基板を挟んで対向するように各処理液
供給手段を構成するのが望ましい(請求項3)。このよ
うにすれば、超音波振動が良好に伝播し、処理効果が高
められる。
【0010】また、基板の他方側の主面を超音波振動を
付与していない処理液に浸漬した状態で、一方側の主面
に超音波振動を付与した処理液を吹き付けるように各処
理液供給手段を構成するようにしてもよい(請求項
4)。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を用いて説明する。図1は、本発明が適用される基板処
理装置を概略的に示している。この図に示す基板処理装
置10は、例えば、ガラス基板Wを搬送しながらこの基
板Wに薬液や純水等の処理液を順次供給して各種処理を
施すように構成されており、基板Wの搬送方向における
上流側(同図では左側)から順に薬液処理部12a、水
洗処理部12b及び乾燥処理部12cを備えている。
【0012】各処理部12a〜12cは、それぞれ箱型
の処理槽を有しており、搬送機構16により基板Wを搬
送しつつ、各処理槽に形成された開口部14を介して隣
設される処理部に基板Wを受け渡すように構成されてい
る。搬送機構16は、ローラコンベアであって、搬送方
向に並列に軸支される複数のローラ17と、モータを駆
動源としてこれらのローラ17を同期して回転させる図
外の駆動機構とを備えている。そして、これらのローラ
17で基板Wを水平に支持して搬送するように構成され
ている。
【0013】上記薬液処理部12aは、例えば、基板W
の表面(図1では上面)に所定の薬液処理を施すもので
あり、図示を省略するが、処理槽内には搬送中の基板表
面に対向して薬液供給用ノズルが配設されている。
【0014】上記水洗処理部12bは、薬液処理後の基
板Wに純水を吹き付けて洗浄、つまり薬液処理による処
理残渣等を除去するもので、その処理槽内には、搬送中
の基板Wの表裏両面に向かって純水を吹き付けるための
上下一対の水洗ノズル(上側水洗ノズル18a、下側水
洗ノズル18b)が搬送機構16を挟んで配設されてい
る。各ノズル18a、18bは、いずれも基板Wの幅方
向(図1では紙面に直交する方向)に細長のスリット状
の噴出口を有したノズルで、純水供給管20a,20b
およびポンプ等を介して図外の貯水タンクに接続されて
いる。
【0015】各水洗ノズル18a、18bのうち、基板
Wの表面に純水を吹き付ける上側水洗ノズル18aに
は、図示を省略するが振動子が搭載されており、処理時
には、この振動子に高周波電圧が印加されることによ
り、超音波振動を伴った純水を噴出するようになってい
る。つまり、この上側水洗ノズル18a等により本発明
の第1の処理液供給手段が構成されている。上側水洗ノ
ズル18aは、図2に示すよに基板Wの搬送方向におけ
る上流側に向かって純水を吹き付けるように鉛直方向に
対して所定の角度αだけ傾斜して設けられている。な
お、当実施の形態ではこの角度αが20°〜30°に設
定されている。
【0016】一方、基板の裏面に純水を吹き付ける下側
水洗ノズル18bには、上記のような振動子は搭載され
ておらず、この下側水洗ノズル18bからは超音波振動
を伴わない純水が噴出されるようになっている。つま
り、この下側水洗ノズル18b等により本発明の第2の
処理液供給手段が構成されている。
【0017】下側水洗ノズル18bは、基板Wの下方か
ら鉛直上向きに純水を吹き付けるように設けられてお
り、しかも、図2に示すように、基板Wを挟んで上側水
洗ノズル18aによる純水の吹き付け位置と同一箇所に
純水を吹き付けるように吹き付け位置が設定されてい
る。すなわち、上側水洗ノズル18aと下側水洗ノズル
18bとは、基板表面に向けて純水が供給される位置と
基板裏面に向けて純水が供給される位置とが基板Wを挟
んで対向するように配置されている。
【0018】上記乾燥処理部12cは、基板Wにエアを
吹き付けて水洗処理により基板Wに付着した純水を除去
して乾燥させるもので、その処理層内には、搬送中の基
板Wの表裏両面に向かってエアを吹き付けるための上下
一対のエアノズル22a,22bが搬送機構16を挟ん
で配設されている。これらエアノズル22a,22b
は、いずれも基板Wの幅方向に細長のスリット状の噴出
口を有したノズルで、エア供給管24a,24bを介し
て図外の気体供給源に接続されるとともに、基板Wの搬
送方向における上流側に向かってエアを吹き付けるよう
に鉛直方向に対して所定の角度だけ傾斜して設けられて
いる。
【0019】以上の基板処理装置10によれば、薬液処
理部12aで薬液処理を終えた基板Wは水洗処理部12
bに搬送され、ここで、純水による洗浄処理が施され
る。この際、上述のように上側水洗ノズル18aから基
板Wの表面に超音波振動を伴った純水が供給されると、
その超音波振動が基板Wを透過して下側水洗ノズル18
bにより基板Wの裏面に供給された純水に伝播すること
となる。そのため、基板Wの表面にのみ超音波振動を伴
った純水を供給するようにしているが、実際には基板W
の裏面も超音波振動を伴った純水により洗浄され、その
結果、基板Wの裏面についても表面と同レベルの洗浄処
理が施されることとなる。
【0020】こうして水洗処理部12bでの洗浄処理が
終了した基板Wは、次いで乾燥処理部12cへと搬送さ
れ、ここで乾燥処理が施された後、例えば、図外の搬送
機構により次工程の装置へと搬出される。
【0021】このように上記基板処理装置10の水洗処
理部12bでは、超音波振動が基板Wを透過して伝播す
る現象を利用し、上述のように基板Wの表面にのみ超音
波振動を与えた純水を供給しながらも、実際には基板W
の裏面についても超音波振動を伴った純水により洗浄処
理を施すようにしているので、洗浄効果として、従来の
この種の装置、つまり、基板の表裏両面にいわゆる超音
波ノズルにより超音波振動を伴った純水を供給する装置
と同レベルの洗浄効果を得ることができる。そのため、
同レベルの洗浄効果を得ながらも、超音波ノズルが一つ
で済む分、従来装置に比べて装置自体を安価に提供する
ことができ、また、稼働中の消費電力を抑えてランニン
グコストを低減することができる。
【0022】しかも、超音波ノズルが一つであるため、
従来の装置のように上下の各超音波ノズル間で超音波振
動が相互に影響し合うということもなく、そのためノズ
ルの耐久性を向上させることができるという特徴もあ
る。
【0023】ところで、上記の基板処理装置10は、本
発明に係る基板処理装置の一の実施の形態であって、そ
の具体的な構成は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適
宜変更可能である。
【0024】例えば、上記実施の形態では、上下側各水
洗ノズル18a、18bによる純水の吹き付け位置が基
板Wを挟んで上下に同一箇所となるようにしているが、
超音波振動が伝播する限り、これらの位置を基板Wの搬
送方向に相互にオフセットするようにしても構わない。
なお、吹き付け位置をオフセットする場合、基板Wの種
類等によっても多少異なるが、該オフセット寸法L(図
2参照)を5mm以内に設定するのが望ましい。また、下
側水洗ノズル18bについては、図2の破線に示すよう
に、基板Wの搬送方向における上流側に向かって純水を
吹き付けるように、鉛直方向に対して傾斜した状態で下
側水洗ノズル18bを設けるようにしてもよい。要は、
超音波振動を良好に伝播させて基板裏面における洗浄処
理を適切に行い得るように水洗ノズル18a、18bに
よる純水の吹き付け位置や角度等を選定するようにすれ
ばよい。
【0025】また、上記の実施の形態では、水洗処理部
12bにおいて、各水洗ノズル18a、18bにより基
板Wの表裏両面に純水を吹き付けるようにしているが、
例えば、下側水洗ノズル18bを設ける代わりに処理槽
内に純水を貯留可能に構成し、水洗処理時には、図3に
示すように、基板Wの裏面を純水に浸漬した状態で、基
板Wの表面に上側水洗ノズル18aにより超音波振動を
伴った純水を供給するような構成を採用してもよい。こ
のような構成によっても、図1および図2に示した装置
と同様の洗浄効果を得ることが可能である。
【0026】さらに、上記の実施の形態では、上側水洗
ノズル18aにより基板Wの表面に超音波振動を付与し
た純水を供給し、下側水洗ノズル18bにより基板Wの
裏面に超音波振動を付与しない純水を供給するようにし
いるが、勿論、逆の構成を採用するようにしてもよい。
この場合、例えば、下側水洗ノズル18bを上側水洗ノ
ズル18aに対して基板Wの搬送方向における下流側に
十分に離間して配置し、まず、上側水洗ノズル18aに
より図4に示す如く基板Wの表面に純水を盛るように供
給しておき、基板Wの搬送に伴い下側水洗ノズル18b
により基板Wの裏面に超音波振動を付与した純水を供給
するようにしてもよい。この場合にも、基板W上に盛ら
れた純水に超音波振動が伝播するため同様の効果を得る
ことができる。なお、この構成の場合には、乾燥処理部
12cへの搬出までに基板W上に盛られた純水を除去す
るように、再度、基板Wの表面に純水を吹き付けるよう
に構成するのが望ましい。
【0027】なお、上記の実施の形態では、本発明を基
板Wの水洗処理およびその装置に適用した例について説
明したが、勿論、剥離処理やエッチング処理等およびそ
の装置に適用することも可能である。
【0028】また、上記の実施の形態では、基板表面に
第1の処理液(純水)を供給するとともに、基板の裏面
に第1の処理液と同一種類の第2の処理液(純水)を供
給しているが、第1および第2の処理液を相互に異なる
種類のものを用いて基板処理を行うようにしてもよい。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、基板の
一方側の主面に超音波振動を付与した第1の処理液を供
給する一方、他方側の主面に超音波振動を付与していな
い上記第1の処理液と同一又は異なる種類の第2の処理
液を供給し、一方側の主面に供給された第1の処理液の
超音波振動が他方側の主面に供給された第2の処理液に
伝播するように各主面に処理液を供給して基板を処理す
るようにしたので、基板の表裏両面に超音波振動を伴っ
た処理液を供給して基板を処理する従来の装置と同レベ
ルの処理効果を得ながらも、安価でランニングコストの
低い装置を提供することができる。しかも、基板の一方
側の主面側にのみ超音波振動を発生させる装置(つま
り、超音波ノズル等)を設置すればよいため、基板の両
主面側に超音波振動の発生装置を設置する必要がある従
来の方法のように超音波振動の各発生装置間で相互に超
音波振動が影響し合うということがなく、そのため装置
の耐久性を有効に向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用される基板処理装置を示す模式図
である。
【図2】上側水洗ノズルおよび下側水洗ノズルの配置、
純水の吹き付け位置を説明する図である。
【図3】基板処理装置における水洗処理部の別の例を説
明する図である。
【図4】基板処理装置における水洗処理部の別の例を説
明する図である。
【符号の説明】
10 基板処理装置 12a 薬液処理部 12b 水洗処理部 12c 乾燥処理部 16 搬送機構 18a 上側水洗ノズル 18b 下側水洗ノズル 22a,22b エアノズル W 基板

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板の一方側の主面に超音波振動を付与
    した第1の処理液を供給する一方、他方側の主面に超音
    波振動を付与していない上記第1の処理液と同一又は異
    なる種類の第2の処理液を供給するとともに、上記一方
    側の主面に供給された第1の処理液の超音波振動が他方
    側の主面に供給された第2の処理液に伝播するように各
    主面に処理液を供給して基板を処理することを特徴とす
    る基板処理方法。
  2. 【請求項2】 基板に処理液を供給して基板を処理する
    基板処理装置において、基板の一方側の主面に超音波振
    動を付与した第1の処理液を供給する第1の処理液供給
    手段と、基板の他方側の主面に超音波振動を付与しない
    上記第1の処理液と同一又は異なる種類の第2の処理液
    を供給する第2の処理液供給手段とを設けるとともに、
    上記一方側の主面に供給した第1の処理液の超音波振動
    が他方側の主面に供給した第2の処理液に伝播するよう
    に上記各処理液供給手段を構成したことを特徴とする基
    板処理装置。
  3. 【請求項3】 上記第1の処理液の供給位置が上記第2
    の処理液の供給位置と基板を挟んで対向するように各処
    理液供給手段を構成したことを特徴とする請求項2記載
    の基板処理装置。
  4. 【請求項4】 基板の上記他方側の主面を超音波振動を
    付与していない処理液に浸漬した状態で、上記一方側の
    主面に超音波振動を付与した処理液を吹き付けるように
    各処理液供給手段を構成したことを特徴とする請求項2
    記載の基板処理装置。
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