JPH11295236A - チップの6面検査装置 - Google Patents
チップの6面検査装置Info
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- JPH11295236A JPH11295236A JP10110155A JP11015598A JPH11295236A JP H11295236 A JPH11295236 A JP H11295236A JP 10110155 A JP10110155 A JP 10110155A JP 11015598 A JP11015598 A JP 11015598A JP H11295236 A JPH11295236 A JP H11295236A
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Abstract
するための、チップの6面検査装置を提供する。 【解決手段】フィダー等で搬送してくるチップを、高速
間欠回転する円板の円周部にチップ装填用の凹部を形成
したローターの各凹部に1個宛分離装填して搬送するよ
うに備え、該ローターの凹部に相対した前方、上方、及
び下方の位置に検査用のカメラ、、を備え、上記
凹部より後位の凹部に相対した前方位置にチップを通す
シュート孔の導入口を開口し、U形シュートはシュート
孔をU形に形成すると共に導入口から排出口の中間で9
0°捻じって形成してチップが導入口から排出口に至る
間にその前、後面を180°反転すると共に上、下、
左、右面を90°回転するように備え、U形シュートの
後位の凹部に相対した前方、上方、及び下方の位置に検
査用のカメラ、、を備えた、チップの6面検査装
置。
Description
子部品、例えば、コンデンサ、レジスタ、その他)の
内、6面体のチップの製造工程において、該チップの6
面(前、後、上、下、左、右の各面)をCCDカメラ等
のチップ検査用のカメラで検査して、チップの各面の外
部形状、傷、欠損、汚れ、その他の欠陥を検査して、チ
ップを良品、不良品に分別し、不良品を排除するため
の、チップの6面検査装置に係る。
目視で検査して、チップを良品、不良品に分別すること
が広く行われ、最初は1面(上面)だけ、次で2面(上
面と下面)の検査を行っていたが、チップの極小化
(例、0603型は長さ0.6mm、幅0.3mmの長
方形)が進行するに従って目視検査が困難となり、また
最終製品(例、テレビ、ビデオ等)になってからチップ
を原因とするトラブルが発生した場合の重大性から、チ
ップの検査精度の向上が希求されてきて、近時はカメラ
を使用してチップの4面、若しくは6面の全てを検査す
ることが行われている。
6面検査装置は、例えば、図7に示すように、フィダー
2aからのチップtを円周部の凹部3aに1個宛装填し
て搬送する水平ローター1aと円周部の凹部3a、3b
を垂直に交叉して垂直ローター1bを設置し、水平ロー
ター1aの円周部の凹部3aに相対した前方、上方、及
び下方の位置に備えたカメラa、a、aでチップ
tの前面、上面、及び下面の3面を検査したのち、該検
査済みチップを水平ローター1aの凹部3aから垂直ロ
ーター1bの凹部3bに乗り換えて搬送して、該垂直ロ
ーター1bの凹部3bに相対した上方、左方、及び右方
の位置に備えたカメラa、a、aでチップtの後
面、右面、及び左面を検査して、チップtの6面を検査
したのち、検査結果によってチップtを良品と不良品に
分別するようにしたものである。
題があり、その有効な解決が希求されていた。 イ、精密で高価なローターを2個必要とするためコスト
高である。 ロ、2個のローターを設置するため設置スペースを要
し、装置が大形となる。 ハ、高速間欠回転(毎分1000〜2000ステップ)
する2個のローターのタイミングの設定が難しく、チッ
プの乗り換え時にトラブルを発生しやすい。 ニ、2個のローターで搬送して、ようやくチップの6面
を検査し、良、不良分別を行うものであるため、検査ス
ピード、分別スピードが遅く、高速処理化を阻害してい
る。
ーター上でチップの6面検査をできるようにした、チッ
プの6面検査装置を開発して、上記従来の課題を解決し
たものである。
台宛6台のカメラを備え、当初3台のカメラでチップの
3面を検査し、検査済みチップを凹部からU形シュート
を通過させてチップの前、後面の転換及び上、下、左、
右面の90°回転をして凹部へ戻し、その姿勢転換した
チップの3面を3台のカメラで検査して、もって、チッ
プの6面を同一ローター上で検査できるようにした装置
を提供して従来の課題を解決したものである。
てくるチップを、高速間欠回転する円板の円周部にチッ
プ装填用の凹部を形成したローターの各凹部に1個宛分
離装填して搬送するように備え、該ローターの凹部に相
対した前方、上方、及び下方の位置に検査用のカメラ
、、を備え、
置にチップを通すシュート孔の導入口を開口し、該凹部
より後位の凹部に相対した前方位置に排出口を開口した
パイプ状のU形シュートを備え、
すると共に導入口から排出口の中間で90°捻じって形
成してチップが導入口から排出口に至る間にその前、後
面を180°反転すると共に上、下、左、右面を90°
回転するように備え、
方、上方、及び下方の位置に検査用のカメラ、、
を備えたものであり、
ップを搬送する過程で、カメラでチップの前面、カメ
ラで上面、カメラで下面をそれぞれ検査し、3面検
査済みのチップを凹部からU形シュートを通過して前、
後面を反転すると共に、上、下、左、右面を90°回転
して凹部へ戻し、カメラで該チップの後面、カメラ
で左面、カメラで右面を検査することにより、チップ
の6面を検査するようにしたことを特徴とする、チップ
の6面検査装置によって課題を解決したものである。
照) フィダー2等で搬送してくるチップtを、高速間欠回転
する円板の円周部にチップ装填用の凹部3を形成したロ
ーター1の各凹部3に1個宛分離装填して搬送するよう
に備え、該ローター1の凹部3に相対した前方、上方、
及び下方の位置に検査用のカメラ、、を備え、
方位置にチップtを通すシュート孔4aの導入口4bを
開口し、該凹部より後位の凹部に相対した前方位置に排
出口4cを開口したパイプ状のU形シュート4を備え、
に形成すると共に導入口4bから排出口4cの中間で9
0°捻じって形成して、チップtが導入口4bから排出
口4cに至る間にその前、後面を180°反転すると共
に上、下、左、右面を90°回転するように備え、
前方、上方、及び下方の位置に検査用のカメラ、、
を備えたものであり、
たチップtを搬送する過程で、カメラでチップtの前
面、カメラで上面、カメラで下面をそれぞれ検査
し、3面検査済みのチップtを凹部3からU形シュート
4を通過して前、後面を反転すると共に、上、下、左、
右面を90°回転して凹部3へ戻し、カメラで該チッ
プtの後面、カメラで左面、カメラで右面を検査す
ることにより、チップtの6面を検査するようにしたチ
ップの6面検査装置である。
ると、例えば、ローター1の各凹部3に、吸気溝5に連
通した吸気孔6を配設して、各凹部3に装填したチップ
tを吸着保持するように備え、
に相対した凹部3の上面に吸気口7をあけてチップtを
吸着保持するように備えると共に、該凹部3の下面のベ
ース8にチップtの下面、右面をカメラまたはで検
査するための窓9をあけて備える。
置の凹部3に噴気口10を備えて、凹部3のチップtを
噴気口10の噴気力で導入口4bへ吹き込むと共に、搬
出口4cに相対した凹部3の吸気孔6の吸気力と共働し
てU形シュート4内のチップtを移送し凹部3に戻し装
填するように備えたものである。
検査装置」の一部として使用するだけでなく、チップを
ローターの各凹部に1個宛分離装填して搬送する各種の
装置におけるチップの姿勢転換手段として汎用できるも
のである。
させるシュート孔4a(横断面形状をチップの横断面形
状に見合った方形若しくは長方形に形成。)を貫通した
パイプをU字形に曲成し、ローター1の凹部3に相対し
た前方位置に導入口4bを開口し、該凹部3より後位の
凹部3に相対した前方位置に排出口4cを開口して備え
たものであり、
チップを該U形シュートの導入口から排出口へ通過させ
て凹部へ戻すと、チップの前、後面が転換した状態を装
填され、
のシュート孔を導入口から排出口の中間で90°捻じっ
て形成して、ローターの凹部のチップを導入口から排出
口へ通過させて凹部へ戻すようにすると、チップの前、
後面が転換されると共に、上、下、左、右面が90°回
転した状態で凹部に装填され、
を導入口から排出口の中間で180°捻じって形成し
て、ローターの凹部のチップを導入口から排出口へ通過
させて凹部へ戻すようにすると、チップの前、後面が転
換されると共に、上、下、左、右面が180°回転、即
ちチップの表、裏面が転換された状態で凹部に戻し装填
されるように備えたものである。
プtを1個宛分離装填して高速ステップ搬送し、凹部3
の前方位置のカメラで凹部3のチップtの前面を検査
し、次のステップで上方位置のカメラで上面を検査
し、次のステップで下方位置のカメラで下面を検査す
る。
方に吸着保持すると共に、カメラの検査は下面の窓9
を通して行う。
形シュート4の導入口4bに相対すると同時に噴気口1
0の噴気力で凹部3のチップtが導入口4bに吹き込ま
れ、同時に排出口4cに相対した凹部3の吸気孔6の吸
気力が共働して、チップtは排出口4cへ移送され、そ
の間にチップtの前、後面を180°転換すると共に、
上、下、左、右面を90°回転した姿勢となって凹部3
へ戻される。
で再装填されたチップtの後面を検査し、次のステッ
プで上方位置のカメラで左面を検査し、次のステップ
で下方位置のカメラで右面を検査する。
に、吸気口7がチップtを上方に吸着保持すると共に、
カメラの検査は下面の窓9を通して行う。
の後のステップ搬送の途中で、6面検査結果による良品
チップと不良品チップの分別に従って、不良品チップを
ローター外へ排除し、良品チップをローター外へ取り出
し収納するものである。
を行うことができるので、ローターが1個だけで済ん
で、コストが安く、設置スペースが小さく、検査分別ス
ピードが早い、極めて高効率の装置を提供し得る。
の前、後面の転換、上、下、左、右面の転換を自在に行
うことができる優れた利点がある。
示す斜視図。
後面を180°転換し、上、下、左、右面を90°回転
した状態の斜視図。
査する状態を示す一部拡大断面図。
査する状態を示す一部拡大断面図。
査する状態を示す一部拡大断面図。
Claims (4)
- 【請求項1】フィダー等で搬送してくるチップを、高速
間欠回転する円板の円周部にチップ装填用の凹部を形成
したローターの各凹部に1個宛分離装填して搬送するよ
うに備え、該ローターの凹部に相対した前方、上方、及
び下方の位置に検査用のカメラ、、を備え、 上記凹部より後位の凹部に相対した前方位置にチップを
通すシュート孔の導入口を開口し、該凹部より後位の凹
部に相対した前方位置に排出口を開口したパイプ状のU
形シュートを備え、 該U形シュートはシュート孔をU形に形成すると共に導
入口から排出口の中間で90°捻じって形成してチップ
が導入口から排出口に至る間にその前、後面を180°
反転すると共に上、下、左、右面を90°回転するよう
に備え、 U形シュートの後位の凹部に相対した前方、上方、及び
下方の位置に検査用のカメラ、、を備えたもので
あり、 ローターの間欠回転で各凹部に装填したチップを搬送す
る過程で、カメラでチップの前面、カメラで上面、
カメラで下面をそれぞれ検査し、3面検査済みのチッ
プを凹部からU形シュートを通過して前、後面を反転す
ると共に、上、下、左、右面を90°回転して凹部へ戻
し、カメラで該チップの後面、カメラで左面、カメ
ラで右面を検査することにより、チップの6面を検査
するようにしたことを特徴とする、 チップの6面検査装置。 - 【請求項2】ローターの各凹部に、吸気溝に連通した吸
気孔を配設して、各凹部に装填したチップを吸着保持す
るように備え、 また、下方位置に備えたカメラに相対した凹部の上面に
吸気口をあけてチップを吸着保持するように備えると共
に、該凹部の下面のベース板にチップの下面、右面をカ
メラで検査するための窓をあけた、 請求項1のチップの6面検査装置。 - 【請求項3】U形シュートの導入口に相対した位置の凹
部に噴気口を備えて、凹部のチップを噴気口の噴気力で
導入口へ吹き込むと共に、搬出口に相対した凹部の吸気
孔の吸気力と共働してU形シュート内のチップを移送し
凹部に戻し装填するように備えた、 請求項1のチップの6面検査装置。 - 【請求項4】U形シュートは、チップを通過させるシュ
ート孔を貫通したパイプをU字形に曲成し、ローターの
凹部に相対した前方位置に導入口を開口し、該凹部より
後位の凹部に相対した前方位置に排出口を開口して備え
たものであり、 ローターの凹部のチップを該U形シュートの導入口から
排出口へ通過させて凹部へ戻すと、チップの前、後面が
転換した状態で装填され、 U形シュートのシュート孔を導入口から排出口の中間で
90°捻じって形成して、ローターの凹部のチップを導
入口から排出口へ通過させて凹部へ戻すようにすると、
チップの前、後面が転換されると共に、上、下、左、右
面が90°回転した状態に装填され、 U形シュートのシュート孔を導入口から排出口の中間で
180°捻じって形成して、ローターの凹部のチップを
導入口から排出口へ通過させて凹部へ戻すようにする
と、チップの前、後面が転換されると共に、上、下、
左、右面が180°回転、即ちチップの表裏が転換され
た状態で凹部に装填されるように備えたものである、 チップ分離搬送ローターのチップ姿勢転換用U形シュー
ト。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11015598A JP4007526B2 (ja) | 1998-04-06 | 1998-04-06 | チップの6面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP11015598A JP4007526B2 (ja) | 1998-04-06 | 1998-04-06 | チップの6面検査装置 |
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ID=14528458
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP11015598A Expired - Lifetime JP4007526B2 (ja) | 1998-04-06 | 1998-04-06 | チップの6面検査装置 |
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