JPH11295236A - チップの6面検査装置 - Google Patents

チップの6面検査装置

Info

Publication number
JPH11295236A
JPH11295236A JP10110155A JP11015598A JPH11295236A JP H11295236 A JPH11295236 A JP H11295236A JP 10110155 A JP10110155 A JP 10110155A JP 11015598 A JP11015598 A JP 11015598A JP H11295236 A JPH11295236 A JP H11295236A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
concave portion
camera
rotor
inlet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10110155A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4007526B2 (ja
Inventor
Shigeru Kubota
滋 窪田
Masahiro Kubo
雅宏 久保
Haruhisa Okada
晴久 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Nitto Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Kogyo Co Ltd filed Critical Nitto Kogyo Co Ltd
Priority to JP11015598A priority Critical patent/JP4007526B2/ja
Publication of JPH11295236A publication Critical patent/JPH11295236A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4007526B2 publication Critical patent/JP4007526B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】チップを良品、不良品に分別し、不良品を排除
するための、チップの6面検査装置を提供する。 【解決手段】フィダー等で搬送してくるチップを、高速
間欠回転する円板の円周部にチップ装填用の凹部を形成
したローターの各凹部に1個宛分離装填して搬送するよ
うに備え、該ローターの凹部に相対した前方、上方、及
び下方の位置に検査用のカメラ、、を備え、上記
凹部より後位の凹部に相対した前方位置にチップを通す
シュート孔の導入口を開口し、U形シュートはシュート
孔をU形に形成すると共に導入口から排出口の中間で9
0°捻じって形成してチップが導入口から排出口に至る
間にその前、後面を180°反転すると共に上、下、
左、右面を90°回転するように備え、U形シュートの
後位の凹部に相対した前方、上方、及び下方の位置に検
査用のカメラ、、を備えた、チップの6面検査装
置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はチップ(各種小形電
子部品、例えば、コンデンサ、レジスタ、その他)の
内、6面体のチップの製造工程において、該チップの6
面(前、後、上、下、左、右の各面)をCCDカメラ等
のチップ検査用のカメラで検査して、チップの各面の外
部形状、傷、欠損、汚れ、その他の欠陥を検査して、チ
ップを良品、不良品に分別し、不良品を排除するため
の、チップの6面検査装置に係る。
【0002】
【従来技術】従来、チップの傷、欠損、汚れ等の欠陥を
目視で検査して、チップを良品、不良品に分別すること
が広く行われ、最初は1面(上面)だけ、次で2面(上
面と下面)の検査を行っていたが、チップの極小化
(例、0603型は長さ0.6mm、幅0.3mmの長
方形)が進行するに従って目視検査が困難となり、また
最終製品(例、テレビ、ビデオ等)になってからチップ
を原因とするトラブルが発生した場合の重大性から、チ
ップの検査精度の向上が希求されてきて、近時はカメラ
を使用してチップの4面、若しくは6面の全てを検査す
ることが行われている。
【0003】然して、従来のカメラを使用したチップの
6面検査装置は、例えば、図7に示すように、フィダー
2aからのチップtを円周部の凹部3aに1個宛装填し
て搬送する水平ローター1aと円周部の凹部3a、3b
を垂直に交叉して垂直ローター1bを設置し、水平ロー
ター1aの円周部の凹部3aに相対した前方、上方、及
び下方の位置に備えたカメラa、a、aでチップ
tの前面、上面、及び下面の3面を検査したのち、該検
査済みチップを水平ローター1aの凹部3aから垂直ロ
ーター1bの凹部3bに乗り換えて搬送して、該垂直ロ
ーター1bの凹部3bに相対した上方、左方、及び右方
の位置に備えたカメラa、a、aでチップtの後
面、右面、及び左面を検査して、チップtの6面を検査
したのち、検査結果によってチップtを良品と不良品に
分別するようにしたものである。
【0004】
【従来技術の課題】上記の従来装置には下記のような課
題があり、その有効な解決が希求されていた。 イ、精密で高価なローターを2個必要とするためコスト
高である。 ロ、2個のローターを設置するため設置スペースを要
し、装置が大形となる。 ハ、高速間欠回転(毎分1000〜2000ステップ)
する2個のローターのタイミングの設定が難しく、チッ
プの乗り換え時にトラブルを発生しやすい。 ニ、2個のローターで搬送して、ようやくチップの6面
を検査し、良、不良分別を行うものであるため、検査ス
ピード、分別スピードが遅く、高速処理化を阻害してい
る。
【0005】
【本発明が解決した課題】そこで、本発明は、1個のロ
ーター上でチップの6面検査をできるようにした、チッ
プの6面検査装置を開発して、上記従来の課題を解決し
たものである。
【0006】即ち、本発明は、ローターの凹部周辺に3
台宛6台のカメラを備え、当初3台のカメラでチップの
3面を検査し、検査済みチップを凹部からU形シュート
を通過させてチップの前、後面の転換及び上、下、左、
右面の90°回転をして凹部へ戻し、その姿勢転換した
チップの3面を3台のカメラで検査して、もって、チッ
プの6面を同一ローター上で検査できるようにした装置
を提供して従来の課題を解決したものである。
【0007】
【課題を解決する手段】本発明は、フィダー等で搬送し
てくるチップを、高速間欠回転する円板の円周部にチッ
プ装填用の凹部を形成したローターの各凹部に1個宛分
離装填して搬送するように備え、該ローターの凹部に相
対した前方、上方、及び下方の位置に検査用のカメラ
、、を備え、
【0008】上記凹部より後位の凹部に相対した前方位
置にチップを通すシュート孔の導入口を開口し、該凹部
より後位の凹部に相対した前方位置に排出口を開口した
パイプ状のU形シュートを備え、
【0009】該U形シュートはシュート孔をU形に形成
すると共に導入口から排出口の中間で90°捻じって形
成してチップが導入口から排出口に至る間にその前、後
面を180°反転すると共に上、下、左、右面を90°
回転するように備え、
【0010】U形シュートの後位の凹部に相対した前
方、上方、及び下方の位置に検査用のカメラ、、
を備えたものであり、
【0011】ローターの間欠回転で各凹部に装填したチ
ップを搬送する過程で、カメラでチップの前面、カメ
ラで上面、カメラで下面をそれぞれ検査し、3面検
査済みのチップを凹部からU形シュートを通過して前、
後面を反転すると共に、上、下、左、右面を90°回転
して凹部へ戻し、カメラで該チップの後面、カメラ
で左面、カメラで右面を検査することにより、チップ
の6面を検査するようにしたことを特徴とする、チップ
の6面検査装置によって課題を解決したものである。
【0012】
【実施例】本発明の実施例を説明する。(図1〜図6参
照) フィダー2等で搬送してくるチップtを、高速間欠回転
する円板の円周部にチップ装填用の凹部3を形成したロ
ーター1の各凹部3に1個宛分離装填して搬送するよう
に備え、該ローター1の凹部3に相対した前方、上方、
及び下方の位置に検査用のカメラ、、を備え、
【0013】上記凹部3より後位の凹部3に相対した前
方位置にチップtを通すシュート孔4aの導入口4bを
開口し、該凹部より後位の凹部に相対した前方位置に排
出口4cを開口したパイプ状のU形シュート4を備え、
【0014】該U形シュート4はシュート孔4aをU形
に形成すると共に導入口4bから排出口4cの中間で9
0°捻じって形成して、チップtが導入口4bから排出
口4cに至る間にその前、後面を180°反転すると共
に上、下、左、右面を90°回転するように備え、
【0015】U形シュート4の後位の凹部3に相対した
前方、上方、及び下方の位置に検査用のカメラ、、
を備えたものであり、
【0016】ローター1の間欠回転で各凹部3に装填し
たチップtを搬送する過程で、カメラでチップtの前
面、カメラで上面、カメラで下面をそれぞれ検査
し、3面検査済みのチップtを凹部3からU形シュート
4を通過して前、後面を反転すると共に、上、下、左、
右面を90°回転して凹部3へ戻し、カメラで該チッ
プtの後面、カメラで左面、カメラで右面を検査す
ることにより、チップtの6面を検査するようにしたチ
ップの6面検査装置である。
【0017】上記実施例装置の態様をより詳細に説明す
ると、例えば、ローター1の各凹部3に、吸気溝5に連
通した吸気孔6を配設して、各凹部3に装填したチップ
tを吸着保持するように備え、
【0018】また、下方位置に備えたカメラまたは
に相対した凹部3の上面に吸気口7をあけてチップtを
吸着保持するように備えると共に、該凹部3の下面のベ
ース8にチップtの下面、右面をカメラまたはで検
査するための窓9をあけて備える。
【0019】U形シュート4の導入口4bに相対した位
置の凹部3に噴気口10を備えて、凹部3のチップtを
噴気口10の噴気力で導入口4bへ吹き込むと共に、搬
出口4cに相対した凹部3の吸気孔6の吸気力と共働し
てU形シュート4内のチップtを移送し凹部3に戻し装
填するように備えたものである。
【0020】
【U形シュート】U形シュートは本発明「チップの6面
検査装置」の一部として使用するだけでなく、チップを
ローターの各凹部に1個宛分離装填して搬送する各種の
装置におけるチップの姿勢転換手段として汎用できるも
のである。
【0021】即ち、U形シュート4は、チップtを通過
させるシュート孔4a(横断面形状をチップの横断面形
状に見合った方形若しくは長方形に形成。)を貫通した
パイプをU字形に曲成し、ローター1の凹部3に相対し
た前方位置に導入口4bを開口し、該凹部3より後位の
凹部3に相対した前方位置に排出口4cを開口して備え
たものであり、
【0022】
【チップの前、後面を180°反転】ローターの凹部の
チップを該U形シュートの導入口から排出口へ通過させ
て凹部へ戻すと、チップの前、後面が転換した状態を装
填され、
【0023】
【前後面反転、上下左右面を90°回転】U形シュート
のシュート孔を導入口から排出口の中間で90°捻じっ
て形成して、ローターの凹部のチップを導入口から排出
口へ通過させて凹部へ戻すようにすると、チップの前、
後面が転換されると共に、上、下、左、右面が90°回
転した状態で凹部に装填され、
【0024】
【前後面反転、上下面反転】U形シュートのシュート孔
を導入口から排出口の中間で180°捻じって形成し
て、ローターの凹部のチップを導入口から排出口へ通過
させて凹部へ戻すようにすると、チップの前、後面が転
換されると共に、上、下、左、右面が180°回転、即
ちチップの表、裏面が転換された状態で凹部に戻し装填
されるように備えたものである。
【0025】
【作用】フィダー等2からローター1の各凹部3へチッ
プtを1個宛分離装填して高速ステップ搬送し、凹部3
の前方位置のカメラで凹部3のチップtの前面を検査
し、次のステップで上方位置のカメラで上面を検査
し、次のステップで下方位置のカメラで下面を検査す
る。
【0026】下面検査のとき、吸気口7がチップtを上
方に吸着保持すると共に、カメラの検査は下面の窓9
を通して行う。
【0027】上記3面検査済みのチップtの凹部3がU
形シュート4の導入口4bに相対すると同時に噴気口1
0の噴気力で凹部3のチップtが導入口4bに吹き込ま
れ、同時に排出口4cに相対した凹部3の吸気孔6の吸
気力が共働して、チップtは排出口4cへ移送され、そ
の間にチップtの前、後面を180°転換すると共に、
上、下、左、右面を90°回転した姿勢となって凹部3
へ戻される。
【0028】続くステップで凹部3の前方位置のカメラ
で再装填されたチップtの後面を検査し、次のステッ
プで上方位置のカメラで左面を検査し、次のステップ
で下方位置のカメラで右面を検査する。
【0029】右面検査のとき、前記の下面検査と同様
に、吸気口7がチップtを上方に吸着保持すると共に、
カメラの検査は下面の窓9を通して行う。
【0030】上記で6面検査を終了したチップtは、そ
の後のステップ搬送の途中で、6面検査結果による良品
チップと不良品チップの分別に従って、不良品チップを
ローター外へ排除し、良品チップをローター外へ取り出
し収納するものである。
【0031】
【効果】1個のローターの円周部上でチップの6面検査
を行うことができるので、ローターが1個だけで済ん
で、コストが安く、設置スペースが小さく、検査分別ス
ピードが早い、極めて高効率の装置を提供し得る。
【0032】U形シュートを通過させるだけで、チップ
の前、後面の転換、上、下、左、右面の転換を自在に行
うことができる優れた利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例装置の構成概略を示す平面図。
【図2】チップの6面(前、後、上、下、左、右面)を
示す斜視図。
【図3】図2のチップをU形シュートを通過して、前、
後面を180°転換し、上、下、左、右面を90°回転
した状態の斜視図。
【図4】カメラでチップの前面、カメラで後面を検
査する状態を示す一部拡大断面図。
【図5】カメラでチップの上面、カメラで左面を検
査する状態を示す一部拡大断面図。
【図6】カメラでチップの下面、カメラで右面を検
査する状態を示す一部拡大断面図。
【図7】従来装置の斜視図。
【符号の説明】
t チップ 1 ローター 2 フィダー等 3 凹部 4 U形シュート 4a シュート孔 4b 導入口 4c 排出口 5 吸気溝 6 吸気孔 7 吸気口 8 ベース 9 窓 10 噴気口

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】フィダー等で搬送してくるチップを、高速
    間欠回転する円板の円周部にチップ装填用の凹部を形成
    したローターの各凹部に1個宛分離装填して搬送するよ
    うに備え、該ローターの凹部に相対した前方、上方、及
    び下方の位置に検査用のカメラ、、を備え、 上記凹部より後位の凹部に相対した前方位置にチップを
    通すシュート孔の導入口を開口し、該凹部より後位の凹
    部に相対した前方位置に排出口を開口したパイプ状のU
    形シュートを備え、 該U形シュートはシュート孔をU形に形成すると共に導
    入口から排出口の中間で90°捻じって形成してチップ
    が導入口から排出口に至る間にその前、後面を180°
    反転すると共に上、下、左、右面を90°回転するよう
    に備え、 U形シュートの後位の凹部に相対した前方、上方、及び
    下方の位置に検査用のカメラ、、を備えたもので
    あり、 ローターの間欠回転で各凹部に装填したチップを搬送す
    る過程で、カメラでチップの前面、カメラで上面、
    カメラで下面をそれぞれ検査し、3面検査済みのチッ
    プを凹部からU形シュートを通過して前、後面を反転す
    ると共に、上、下、左、右面を90°回転して凹部へ戻
    し、カメラで該チップの後面、カメラで左面、カメ
    ラで右面を検査することにより、チップの6面を検査
    するようにしたことを特徴とする、 チップの6面検査装置。
  2. 【請求項2】ローターの各凹部に、吸気溝に連通した吸
    気孔を配設して、各凹部に装填したチップを吸着保持す
    るように備え、 また、下方位置に備えたカメラに相対した凹部の上面に
    吸気口をあけてチップを吸着保持するように備えると共
    に、該凹部の下面のベース板にチップの下面、右面をカ
    メラで検査するための窓をあけた、 請求項1のチップの6面検査装置。
  3. 【請求項3】U形シュートの導入口に相対した位置の凹
    部に噴気口を備えて、凹部のチップを噴気口の噴気力で
    導入口へ吹き込むと共に、搬出口に相対した凹部の吸気
    孔の吸気力と共働してU形シュート内のチップを移送し
    凹部に戻し装填するように備えた、 請求項1のチップの6面検査装置。
  4. 【請求項4】U形シュートは、チップを通過させるシュ
    ート孔を貫通したパイプをU字形に曲成し、ローターの
    凹部に相対した前方位置に導入口を開口し、該凹部より
    後位の凹部に相対した前方位置に排出口を開口して備え
    たものであり、 ローターの凹部のチップを該U形シュートの導入口から
    排出口へ通過させて凹部へ戻すと、チップの前、後面が
    転換した状態で装填され、 U形シュートのシュート孔を導入口から排出口の中間で
    90°捻じって形成して、ローターの凹部のチップを導
    入口から排出口へ通過させて凹部へ戻すようにすると、
    チップの前、後面が転換されると共に、上、下、左、右
    面が90°回転した状態に装填され、 U形シュートのシュート孔を導入口から排出口の中間で
    180°捻じって形成して、ローターの凹部のチップを
    導入口から排出口へ通過させて凹部へ戻すようにする
    と、チップの前、後面が転換されると共に、上、下、
    左、右面が180°回転、即ちチップの表裏が転換され
    た状態で凹部に装填されるように備えたものである、 チップ分離搬送ローターのチップ姿勢転換用U形シュー
    ト。
JP11015598A 1998-04-06 1998-04-06 チップの6面検査装置 Expired - Lifetime JP4007526B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11015598A JP4007526B2 (ja) 1998-04-06 1998-04-06 チップの6面検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11015598A JP4007526B2 (ja) 1998-04-06 1998-04-06 チップの6面検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11295236A true JPH11295236A (ja) 1999-10-29
JP4007526B2 JP4007526B2 (ja) 2007-11-14

Family

ID=14528458

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11015598A Expired - Lifetime JP4007526B2 (ja) 1998-04-06 1998-04-06 チップの6面検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4007526B2 (ja)

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002054478A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-11 Yient Co., Ltd. Apparatus for inspecting surface mounted chip
WO2002054479A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-11 Yient Co., Ltd Chip sorting unit used for apparatus for inspecting surface mounted chip
WO2002054480A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-11 Yeint Co., Ltd Lighting system used in apparatus for inspecting surface mounted chip
WO2004112455A1 (en) * 2003-06-13 2004-12-23 Wintec Co., Ltd. Method and apparatus for electronic part inspection
WO2006042633A1 (de) * 2004-10-20 2006-04-27 Ief Werner Gmbh Vorrichtung zur optischen prüfung von elektronischen bauteilen
JP2007071775A (ja) * 2005-09-08 2007-03-22 Tokyo Weld Co Ltd 外観検査装置
KR100725485B1 (ko) 2005-12-28 2007-06-07 윈텍 주식회사 전자부품 검사 시스템
JP2009216698A (ja) * 2008-02-07 2009-09-24 Camtek Ltd 対象物の複数の側面を画像化するための装置および方法
JP2011185670A (ja) * 2010-03-05 2011-09-22 Tdk Corp 外観検査装置
JP2011232040A (ja) * 2010-04-23 2011-11-17 Murata Mfg Co Ltd 外観検査装置
WO2012141491A2 (ko) * 2011-04-12 2012-10-18 한국기술교육대학교 산학협력단 부품 공급장치
WO2016080061A1 (ja) * 2014-11-21 2016-05-26 上野精機株式会社 外観検査装置
KR20170007638A (ko) * 2015-07-10 2017-01-19 삼성전기주식회사 외관 검사 장치
WO2017063838A1 (de) * 2015-10-16 2017-04-20 Muehlbauer GmbH & Co. KG Vorrichtung und verfahren zum selbstjustieren einer bauteilhandhabungsvorrichtung für elektronische bauteile
WO2017063837A1 (de) * 2015-10-16 2017-04-20 Muehlbauer GmbH & Co. KG Bauteilhandhabungsvorrichtung
WO2018188731A1 (de) * 2017-04-11 2018-10-18 Muehlbauer GmbH & Co. KG Bauteil-empfangseinrichtung mit optischem sensor
WO2024077645A1 (zh) * 2022-10-12 2024-04-18 河北圣昊光电科技有限公司 一种六面检测机构及检测装置
EP4394851A1 (en) * 2022-12-30 2024-07-03 ASML Netherlands B.V. Recess-based pick and place for heterogeneous integration

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109490312B (zh) * 2018-11-01 2021-07-09 昆山市泽荀自动化科技有限公司 应用于电感检测设备的检测调试方法

Cited By (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002054479A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-11 Yient Co., Ltd Chip sorting unit used for apparatus for inspecting surface mounted chip
WO2002054480A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-11 Yeint Co., Ltd Lighting system used in apparatus for inspecting surface mounted chip
KR100375983B1 (ko) * 2000-12-29 2003-03-15 주식회사옌트 표면 실장용 칩 검사 장치
WO2002054478A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-11 Yient Co., Ltd. Apparatus for inspecting surface mounted chip
WO2004112455A1 (en) * 2003-06-13 2004-12-23 Wintec Co., Ltd. Method and apparatus for electronic part inspection
WO2006042633A1 (de) * 2004-10-20 2006-04-27 Ief Werner Gmbh Vorrichtung zur optischen prüfung von elektronischen bauteilen
TWI414781B (zh) * 2005-09-08 2013-11-11 Tokyo Weld Co Ltd 外觀檢查裝置
JP2007071775A (ja) * 2005-09-08 2007-03-22 Tokyo Weld Co Ltd 外観検査装置
KR100725485B1 (ko) 2005-12-28 2007-06-07 윈텍 주식회사 전자부품 검사 시스템
JP2009216698A (ja) * 2008-02-07 2009-09-24 Camtek Ltd 対象物の複数の側面を画像化するための装置および方法
JP2011185670A (ja) * 2010-03-05 2011-09-22 Tdk Corp 外観検査装置
JP2011232040A (ja) * 2010-04-23 2011-11-17 Murata Mfg Co Ltd 外観検査装置
WO2012141491A2 (ko) * 2011-04-12 2012-10-18 한국기술교육대학교 산학협력단 부품 공급장치
WO2012141491A3 (ko) * 2011-04-12 2013-01-10 한국기술교육대학교 산학협력단 부품 공급장치
KR101242225B1 (ko) * 2011-04-12 2013-03-11 한국기술교육대학교 산학협력단 부품 공급장치
WO2016080061A1 (ja) * 2014-11-21 2016-05-26 上野精機株式会社 外観検査装置
KR20170007638A (ko) * 2015-07-10 2017-01-19 삼성전기주식회사 외관 검사 장치
EP3576138A1 (de) * 2015-10-16 2019-12-04 Mühlbauer GmbH & Co. KG. Bauteilhandhabungsvorrichtung
US11232961B2 (en) 2015-10-16 2022-01-25 Muehlbauer GmbH & Co. KG Component handling device for removing components from a structured supply
US10529601B2 (en) 2015-10-16 2020-01-07 Muehlbauer GmbH & Co. KG Receiving system for components
TWI704851B (zh) * 2015-10-16 2020-09-11 德商紐豹有限責任合資公司 自主調整式電子元件操控裝置的裝置和方法
CN108352346A (zh) * 2015-10-16 2018-07-31 米尔鲍尔有限两合公司 用于电子元件的元件操控装置的自主调整的设备和方法
WO2017063838A1 (de) * 2015-10-16 2017-04-20 Muehlbauer GmbH & Co. KG Vorrichtung und verfahren zum selbstjustieren einer bauteilhandhabungsvorrichtung für elektronische bauteile
KR20190073613A (ko) * 2015-10-16 2019-06-26 뮐바우어 게엠베하 운트 콤파니 카게 부품 핸들링 시스템
US10347514B2 (en) 2015-10-16 2019-07-09 Muehlbauer GmbH & Co. KG Device and method for self-adjustment of a component-handling device for electronic components
CN108352346B (zh) * 2015-10-16 2022-09-30 米尔鲍尔有限两合公司 用于电子元件的元件操控装置的自主调整的设备和方法
KR20180071318A (ko) * 2015-10-16 2018-06-27 뮐바우어 게엠베하 운트 콤파니 카게 부품 핸들링 시스템
KR20180071264A (ko) * 2015-10-16 2018-06-27 뮐바우어 게엠베하 운트 콤파니 카게 전자 부품용 부품-핸들링 장치의 자가-조절 장치 및 방법
US10804123B2 (en) 2015-10-16 2020-10-13 Muehlbauer GmbH & Co. KG Component handling system
WO2017063837A1 (de) * 2015-10-16 2017-04-20 Muehlbauer GmbH & Co. KG Bauteilhandhabungsvorrichtung
US11217465B2 (en) 2017-04-11 2022-01-04 Muehlbauer GmbH & Co. KG Component receiving device with optical sensor
WO2018188731A1 (de) * 2017-04-11 2018-10-18 Muehlbauer GmbH & Co. KG Bauteil-empfangseinrichtung mit optischem sensor
WO2024077645A1 (zh) * 2022-10-12 2024-04-18 河北圣昊光电科技有限公司 一种六面检测机构及检测装置
WO2024141219A1 (en) * 2022-12-30 2024-07-04 Asml Netherlands B.V. Recess-based pick and place for heterogeneous integration
EP4394851A1 (en) * 2022-12-30 2024-07-03 ASML Netherlands B.V. Recess-based pick and place for heterogeneous integration

Also Published As

Publication number Publication date
JP4007526B2 (ja) 2007-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH11295236A (ja) チップの6面検査装置
US6748104B1 (en) Methods and apparatus for machine vision inspection using single and multiple templates or patterns
US9029725B2 (en) Packaged chip detection and classification device
KR100979721B1 (ko) 반도체 다이의 검사 및 분류 일체화장치
JP2000266521A (ja) 外観検査装置
JP3515435B2 (ja) ワーク検査装置及び検査方法
JP2007007608A (ja) 微小物体検査装置
WO2004036197A1 (ja) ガラス壜の検査装置
JP4241439B2 (ja) チップ型電子部品の取扱い装置
JP4887523B2 (ja) 多面体検査用フィーダー及び多面体検査装置
TW201636123A (zh) 輸送物檢查系統和輸送裝置
TWI276592B (en) Feeder and polyhedral inspection instrument for polyhedral inspection
JP2004154660A (ja) 搬送装置
JP5106139B2 (ja) 部品の外観検査装置
JP4381723B2 (ja) キャップの外観検査装置
JP4785245B2 (ja) 微小物体検査装置
JP2002243654A (ja) 製品検査装置及び該製品検査装置を用いた製品検査方法
JP3817926B2 (ja) チップ部品の自動分離供給装置
JPH08247740A (ja) チップ部品の外観検査装置
JP3973116B2 (ja) チップの4面検査装置
JP2002107306A (ja) チップコンデンサ外観・電気特性検査方法および装置
JPH0875667A (ja) チップ部品外観検査装置
JP2001163435A (ja) チップの設定面整列搬送装置
JP2003194724A (ja) ワークの外観検査装置および外観検査方法
JP2989663B2 (ja) 筒状体内側壁面撮像装置及び筒状体内側壁面検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050405

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070404

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070508

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070709

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070821

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070824

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100907

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110907

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120907

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130907

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term