JPH11278834A - 導電性透明酸化物 - Google Patents

導電性透明酸化物

Info

Publication number
JPH11278834A
JPH11278834A JP10086599A JP8659998A JPH11278834A JP H11278834 A JPH11278834 A JP H11278834A JP 10086599 A JP10086599 A JP 10086599A JP 8659998 A JP8659998 A JP 8659998A JP H11278834 A JPH11278834 A JP H11278834A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
oxide
transparent oxide
type
conductive transparent
conductivity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10086599A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3850978B2 (ja
Inventor
Hiroshi Kawazoe
博司 川副
Hideo Hosono
秀雄 細野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Science and Technology Agency
Original Assignee
Japan Science and Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Science and Technology Corp filed Critical Japan Science and Technology Corp
Priority to JP08659998A priority Critical patent/JP3850978B2/ja
Publication of JPH11278834A publication Critical patent/JPH11278834A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3850978B2 publication Critical patent/JP3850978B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Light Receiving Elements (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)
  • Manufacturing Of Electric Cables (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 平面型表示装置用等の透明電極をはじめ、透
明半導体素子としての応用展開が可能な、新しい導電性
透明酸化物を実現する。 【解決手段】 組成式ABO2 (A:1価の陽イオンと
なる元素、B:3価の陽イオンとなる元素、O:酸素)
で示されるデラフォサイト系酸化物とし、Aは、1価の
Cu又はAgで、Bは、Al、Ga、In、Sc、Y、
及びLaからなる群から選択される元素の1種とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、導電性透明酸化
物に関するものである。さらに詳しくは、この発明は、
平面型表示装置用等の透明電極をはじめ、透明半導体素
子としての応用展開が可能な、新しい導電性透明酸化物
に関するものである。
【0002】
【従来の技術とその課題】光学的に透明な酸化物は、そ
の大きなバンドギャップ(約3eV)がゆえに電気絶縁
体である。可視域での高い透過率と導電性は、多くの場
合、相反する性質として認識されている。だが、注目す
べき例外として、ITO、AZO等の透明で導電性を示
す物質が幾つか存在し、透明電極素材として実際に応用
されてもいる。これらITO、AZO等の導電性透明酸
化物は、ギャップ上の伝導帯に2×1021/cm3 以下の
濃度の電子がドープされたものものであり、光学的には
透明でありながら、金属的導電性を示す。
【0003】このような導電性透明酸化物については、
新たな物質の探索が精力的に進められている。この発明
は、以上の通りの事情に鑑みてなされたものであり、全
く新たな導電性透明酸化物を提供することを目的として
いる。
【0004】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の課題
を解決するものとして、組成式ABO2 (A:1価の陽
イオンとなる元素、B:3価の陽イオンとなる元素、
O:酸素)で示されるデラフォサイト系酸化物であっ
て、Aは、1価のCu又はAgで、Bは、Al、Ga、
In、Sc、Y、及びLaからなる群から選択される元
素の1種であり、透明で導電性を示すことを特徴とする
導電性透明酸化物を提供する。
【0005】
【発明の実施の形態】以下、この発明の導電性透明酸化
物についてさらに詳しく説明する。これまでに知られて
いる導電性透明酸化物は、ITO、AZOをはじめその
全てがn型導電性のみを示す。そこで、この発明の発明
者らは、p型導電性を示す導電性透明酸化物の存在を検
証してみた。
【0006】p型導電性を示す導電性透明酸化物がこれ
までに存在しなかったのは、酸化物の電子構造上の特徴
に端を発している。つまり、酸化物では、価電子帯上端
部の電子は酸素イオン上に局在するのである。言い換え
るならば、この価電子帯上端部における電子の酸素イオ
ン上への局在を解消すれば、p型導電性が実現される可
能性がある。
【0007】そこで、酸化物を構成する陽イオン種に
は、酸素イオンの2p電子レベルのエネルギーにほぼ匹
敵する閉殻電子構造を持つ陽イオンが適当であり、原子
内励起に従う着色を起こさないCu+ 及びAg+ が選択
される。Cu+ 及びAg+ の電子配置は、それぞれ、3
104s0 、4d105s0 であり、d100 の等電子配
置を持つ。d10電子は閉殻電子と呼ばれるが、これらC
+ 及びAg+ のd10電子のエネルギーは、同様な等電
子配置を持つ陽イオンの中で最も高い。等電子配置を持
つ陽イオンであっても、その酸化物は、酸素の電気陰性
度が大きいために、通常大きなバンドギャップを持ち、
電気絶縁体となりやすい。しかしながら、Cu+ 及びA
+ のd10電子のエネルギーは十分高く、酸素イオン上
の2p6 電子と重なり合う可能性がある。
【0008】次に、酸化物については、酸素イオンと金
属イオンの結合の共有原子価が高くなる結晶構造が適当
である。そのような結晶構造には、Cu2 Oがp型導電
性の酸化物である事実から、酸素イオンが正四面体型と
なるイオン配位が選択される。さらに、結晶構造として
は、Cu+ 同士、Ag+ 同士の相互作用の空間的次元性
を低減させるのが適当でもある。隣接するCu+ やAg
+ 上のd10電子間に及ぼす直接相互作用は、バンドギャ
ップを縮小するおそれがあるからである。次元数の低減
により、バンドギャップは拡大され、可視光の吸収は起
こらなくなる。
【0009】以上の観点からp型導電性を示す導電性透
明酸化物として、組成式ABO2 (Aは、Cu又はA
g)で示されるデラフォサイト系酸化物が選択される。
B元素には、化学量論から見て、3価の陽イオンとなる
IIIa族及びIIIb族に属するAl、Ga、In、
Sc、Y、及びLaが選択される。図1は、デラフォサ
イト系酸化物の結晶構造の一例を示した結晶構造図であ
る。
【0010】この図1は、CuAlO2 の結晶構造を示
しているが、この結晶構造においてCu+ 及びO2-の周
りの対称性は、O2-の場合、近接する陽イオンが1個の
Cu + と3個のAl3+であることを除けば、Cu2 Oの
それに等しい。一方、各イオンは、c軸に垂直な平面に
位置し、2次元の層状構造が形成されている。このた
め、Cu+ 上のd10電子間相互作用が2次元に低減され
ており、CuAlO2 のバンドギャップはCu2 Oより
も拡大される。なお、結晶構造中の繰り返し単位は、c
軸方向にCu−O−Al−O−Cuとなっている。
【0011】この組成式ABO2 で示されるデラフォサ
イト系酸化物(A:Cu又はAg、B:Al、Ga、I
n、Sc、Y、又はLaの1種)は、後述する実施例に
示すように、p型導電性を示す導電性透明酸化物である
ことが実際に確認された。正孔が何に由来するのか今の
ところ解明されていないが、過剰酸素に起因すると考え
られる。過剰酸素となるモデルのは2通りあり、一つ
は、陽イオン欠損で、他の一つは、隙間酸素の存在であ
る。これらはいずれもCu2 Oについて報告されている
ことであるが、デラフォサイト系酸化物にも同様のこと
があてはまると推測される。
【0012】その一方で、上記デラフォサイト系酸化物
には、ITO、AZO等と同じn型導電性を示すものも
あることが確認された。いずれにしても、以上の知見か
ら、全く新しい組成を有する導電性透明酸化物が存在す
ることが明らかになったのである。この新規組成を有す
るデラフォライト系の導電性透明酸化物は、従来のIT
O、AZO等と同様に、平面型表示装置用等の透明電極
はもちろんのこと、pn接合を形成することにより、透
明なトランジスタ等の透明半導体素子が実現される可能
性がある。たとえば、窓上に配置される太陽電池などの
実現の可能性もある。
【0013】そして、非常に興味深いことに、このデラ
フォライト系の導電性透明酸化物は、低い伝導性しか認
められていないものの、pn両型の導電性をも示すので
ある。また、デラフォライト系の導電性透明酸化物は、
適当な元素を添加し、B元素及び酸素を一部置換するこ
とによって、より高い導電性を示す。p型導電性のため
には、B元素の置換には、IIa族及びIIb族の元素
が適当であり、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zn、
又はCdの1種以上の添加が例示される。酸素の置換に
は、Nが適当である。一方、n型導電性のためには、B
元素に対してIVa族及びIVb族の元素が適当であ
り、Si、Ge、Sn、Ti、Zr、又はHfの1種以
上が例示される。酸素に対してはFが適当である。具体
的な置換対象及び置換元素は、たとえば表1、表2に示
すことができる。
【0014】
【表1】
【0015】
【表2】
【0016】以下にこの発明の導電性透明酸化物の実施
例を示す。もちろん、この発明は、以下の実施例に限定
されるものではない。
【0017】
【実施例】(実施例1)Cu2 OとAl2 3 、Cu2
OとGa2 3 をそれぞれ固相反応させ、CuAlO2
及びCuGaO2 の粉末を合成した。次いで、これらの
粉末から焼結体を作製し、これをターゲットとしてRF
スパッタリング法により、Ar/O2 雰囲気下に各々の
薄膜を室温においてSiO2 ガラス基板上に作製した。
これらの薄膜は非晶質であったため、CuAlO2 につ
いてはN2 ガス下700℃で12時間、CuGaO2
2 ガス下800℃で12時間アニールした。
【0018】そして、得られたそれぞれの薄膜につい
て、X線回折、光透過率、及び電気伝導度の温度依存性
を測定した。光透過率の測定は、可視光からこれに近接
する赤外領域で行った。電気伝導度の測定は、直流2端
子法により行った。図2、図3、及び図4は、各々、C
uAlO2 の測定結果を示している。図2は、CuAl
2 の焼結体及び薄膜のX線回折図である。
【0019】回折パターンに見られるピークから、いず
れも、R3m空間群に属するデラフォサイト構造である
とが確認される。薄膜には、さらに、(001)面上に
配向する傾向が見られ、単相であることも確認される。
図3は、CuAlO2 の光透過率の測定結果を示した光
透過率−波長相関図及び(αhν)2 −hν相関図であ
る。
【0020】この図3からCuAlO2 の光学的バンド
ギャプは3.0eV以上であり、可視域での透明性が確
認される。図4は、CuAlO2 の電気伝導度の温度依
存性を示したlog σ−温度相関図である。図4に示した
温度依存曲線から、CuAlO2 は、半導体的な温度依
存性を示すことが確認される。また、高温域での活性化
エネルギーを大まかに見積もると、ほぼ0.2eV程度
であり、バンドギャップの半分以下であることが分か
る。価電子帯における正孔伝搬が示唆される。150K
以下の低温域では、図4図中に合わせて示したように、
電気伝導度は、ほぼT1/4 法則に従う。これらの事実
は、また、フェルミレベルに近いギャップ準位の存在を
示唆している。
【0021】なお、室温での電気伝導度σは0.95×
10-1Scm -1 であった。さらに、ホール係数を測定し
たところ、CuAlO2 のホール係数Rhは、+48.
6cm3 -1であった。p型導電性であることが示唆され
る。これら電気伝導度及びホール係数の測定結果から、
キャリア濃度N1.3×1017cm-3及びホール移動度μ
10.4cm2 -1-1が得られる。
【0022】そして、室温度のゼーベック係数を測定し
たところ、CuAlO2 のゼーベック係数Sは、+18
3μV/Kであった。p型導電性であることがまた示唆
される。以上の結果から見て、CuAlO2 は、透明で
導電性を示すデラフォサイト系酸化物であると認められ
る。しかも、このCuAlO2 は、p型導電性を示す導
電性透明酸化物であるとも認められる。
【0023】CuGaO2 についても、CuAlO2
全く同様に、p型導電性を示すデラフォサイト系導電性
透明酸化物であると認められた。(実施例2)イオン交
換法により合成したAgInO2 粉末から焼結体を作製
した。この焼結体をターゲットとし、RFスパッタリン
グ法により、薄膜を、Ar/O2 雰囲気下に400℃の
SiO2 基板上に作製した。成膜条件は以下の通りとし
た。
【0024】 RFパワー :180W スパッタ圧 :0.1torr スパッタ圧比:Ar/O2 =40/10 成膜時間 :30分 ターゲット−基板間距離:25mm 次いで、この薄膜をO2 ガス下500℃で12時間アニ
ールした。
【0025】同様に、Snを5%添加(ドープ)した薄
膜も作製した。これらの薄膜について、ICP組成分析
を行うとともに、実施例1と同様にして、X線回折によ
り相の同定を行うとともに、光吸収スペクトルを320
0〜200nmの範囲で測定した。また、直流2端子法に
よる電気伝導度、並びに室温におけるゼーベック係数の
測定も合わせて行った。これらの結果を示したのが、図
5、図6、及び図7である。
【0026】ICP組成分析の結果は、以下の表3に示
す通りであった。
【0027】
【表3】
【0028】図5に示した薄膜X線回折パターンから
は、各々の薄膜が単相からなることが確認される。ま
た、図6に示した光吸収スペクトルから、光学的バンド
ギャップは4.4eVと求められ、可視域で透明である
ことが確認される。図7に示した電気伝導度の温度依存
曲線からは、AgInO2 薄膜は、室温付近において1
-4S/cm程度の電気伝導度を示した。一方、Sn添加
AgInO2 薄膜は、6.0×100 S/cmという高い
電気伝導度を示した。
【0029】これらいずれの薄膜もゼーベック係数Sは
負の値となり、n型導電性であることが確認される。S
n添加AgInO2 のゼーベック係数は、−70μV/
Kであった。なお、Sn添加AgInO2 のホール係数
Rh、キャリア濃度N、及びホール移動度μは、それぞ
れ、−2.3×10-1 cm3-1、2.7×1019c
m -3 、0.47cm2 -1-1であった。
【0030】以上の測定結果から総合的に見て、AgI
nO2 は、透明で導電性を示すデラフォサイト系酸化物
であり、n型導電性を示す導電性透明酸化物であると認
められる。さらに、SnによるInの一部置換は、n型
導電性を向上させるとも認められる。 (実施例3)Ca、Cd、及びSrを各々1%添加する
以外は、実施例2と同様にして薄膜を成膜した。また、
Caについては3、5、及び7%の添加も試みた。
【0031】図8、図9、及び図10は、各々、このよ
うにして得られた薄膜のX線回折図、光透過率−波長相
関図、及びlog σ−温度相関図である。いずれの薄膜の
場合にも、室温付近で約10-2−10-3S/cmという高
い電気伝導度を示し、また、ゼーベック係数は正の値と
なった。これらの結果から、p型のAgInO2 が実現
されることが確認される。
【0032】
【発明の効果】以上詳しく説明した通り、この発明によ
って、新規な導電性透明酸化物が提供される。また、p
型導電性を示す全く新しい導電性透明酸化物も提供され
る。この導電性透明酸化物は、従来のITO、AZO等
と同様に平面型表示装置用等の透明電極はもちろんのこ
と、透明半導体素子としての応用も可能であり、透明ト
ランジスタや窓上に配置される太陽電池などの実現が期
待される。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の導電性透明酸化物の一例として示し
たCuAlO2 の結晶構造図である。
【図2】CuAlO2 の焼結体及び薄膜のX線回折図で
ある。
【図3】CuAlO2 の光透過率の測定結果を示した光
透過率−波長相関図及び(αhν)2 −hν相関図であ
る。
【図4】CuAlO2 の電気伝導度の温度依存性を示し
たlog σ−温度相関図である。
【図5】AgInO2 薄膜及びSn添加AgInO2
膜のX線回折図である。
【図6】AgInO2 及びSn添加AgInO2 の光透
過率の測定結果を示した光透過率−波長相関図及び(α
hν)2 −hν相関図である。
【図7】AgInO2 及びSn添加AgInO2 の電気
伝導度の温度依存性を示したlog σ−温度相関図であ
る。
【図8】Ca添加AgInO2 薄膜のX線回折図であ
る。
【図9】Ca添加AgInO2 の光透過率−波長相関図
である。
【図10】Ca、Cd、Srをそれぞれ添加したAgI
nO2 のlog σ−温度相関図である。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 組成式ABO2 (A:1価の陽イオンと
    なる元素、B:3価の陽イオンとなる元素、O:酸素)
    で示されるデラフォサイト系酸化物であって、Aは、1
    価のCu又はAgで、Bは、Al、Ga、In、Sc、
    Y、及びLaからなる群から選択される元素の1種であ
    り、透明で導電性を示すことを特徴とする導電性透明酸
    化物。
  2. 【請求項2】 p型導電性を示す請求項1記載の導電性
    透明酸化物。
  3. 【請求項3】 Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zn、
    及びCdからなる群から選択される1種以上の元素が添
    加され、B元素が一部置換された請求項2記載の導電性
    透明酸化物。
  4. 【請求項4】 n型導電性を示す請求項1記載の導電性
    透明酸化物。
  5. 【請求項5】 Si、Ge、Sn、Ti、Zr、及びH
    fからなる群から選択される1種以上の元素が添加さ
    れ、B元素が一部置換された請求項4記載の導電性透明
    酸化物。
  6. 【請求項6】 p型及びn型の両導電性を示す請求項1
    記載の導電性透明酸化物。
JP08659998A 1998-03-31 1998-03-31 導電性透明酸化物 Expired - Fee Related JP3850978B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08659998A JP3850978B2 (ja) 1998-03-31 1998-03-31 導電性透明酸化物

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08659998A JP3850978B2 (ja) 1998-03-31 1998-03-31 導電性透明酸化物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11278834A true JPH11278834A (ja) 1999-10-12
JP3850978B2 JP3850978B2 (ja) 2006-11-29

Family

ID=13891486

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08659998A Expired - Fee Related JP3850978B2 (ja) 1998-03-31 1998-03-31 導電性透明酸化物

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3850978B2 (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261294A (ja) * 2001-02-28 2002-09-13 Japan Science & Technology Corp 透明酸化物p−n接合ダイオード
JP2005116791A (ja) * 2003-10-08 2005-04-28 Toshiba Corp 巨大磁気抵抗効果素子
JP2005183984A (ja) * 2003-12-17 2005-07-07 Hewlett-Packard Development Co Lp トランジスタ素子
JP2006287189A (ja) * 2005-03-30 2006-10-19 Samsung Electro Mech Co Ltd 3族窒化物発光素子
JP2009224136A (ja) * 2008-03-14 2009-10-01 Tdk Corp 発光素子
US7951348B2 (en) * 2001-04-03 2011-05-31 Northwestern University p-Type transparent conducting oxides and methods for preparation
JP2013023419A (ja) * 2011-07-22 2013-02-04 Nippon Shokubai Co Ltd ベーマイトナノロッドおよびその製造方法、アルミナナノロッドおよびその製造方法、並びに、CuAlO2膜およびその製造方法
KR20140095106A (ko) 2011-11-30 2014-07-31 가부시키가이샤 리코 p형 산화물, p형 산화물 제조용 조성물, p형 산화물의 제조 방법, 반도체 소자, 표시 소자, 영상 표시 장치, 및 시스템
JP2015099908A (ja) * 2013-10-17 2015-05-28 中部電力株式会社 熱電変換材料
JP2016522315A (ja) * 2013-04-26 2016-07-28 エルジー・ケム・リミテッド 導電性パターン形成用組成物、これを用いた導電性パターンの形成方法と、導電性パターンを有する樹脂構造体
JP2017126607A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 株式会社リコー 酸化物半導体
US9761673B2 (en) 2011-03-31 2017-09-12 Ricoh Company, Ltd. Amorphous p-type oxide for a semiconductor device
WO2020066926A1 (ja) * 2018-09-28 2020-04-02 国立大学法人名古屋工業大学 デラフォサイト型Cu系複合酸化物膜及び複合材料

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261294A (ja) * 2001-02-28 2002-09-13 Japan Science & Technology Corp 透明酸化物p−n接合ダイオード
US7951348B2 (en) * 2001-04-03 2011-05-31 Northwestern University p-Type transparent conducting oxides and methods for preparation
JP2005116791A (ja) * 2003-10-08 2005-04-28 Toshiba Corp 巨大磁気抵抗効果素子
JP2005183984A (ja) * 2003-12-17 2005-07-07 Hewlett-Packard Development Co Lp トランジスタ素子
JP2006287189A (ja) * 2005-03-30 2006-10-19 Samsung Electro Mech Co Ltd 3族窒化物発光素子
JP2009224136A (ja) * 2008-03-14 2009-10-01 Tdk Corp 発光素子
US9761673B2 (en) 2011-03-31 2017-09-12 Ricoh Company, Ltd. Amorphous p-type oxide for a semiconductor device
KR20180037302A (ko) 2011-03-31 2018-04-11 가부시키가이샤 리코 p형 산화물, p형 산화물 제조용 조성물, p형 산화물의 제조 방법, 반도체 소자, 표시 소자, 화상 표시 장치, 및 시스템
US10236349B2 (en) 2011-03-31 2019-03-19 Ricoh Company, Ltd. P-type oxide, p-type oxide-producing composition, method for producing p-type oxide, semiconductor device, display device, image display apparatus, and system
US10923569B2 (en) 2011-03-31 2021-02-16 Ricoh Company, Ltd. P-type oxide, p-type oxide-producing composition, method for producing p-type oxide, semiconductor device, display device, image display apparatus, and system
JP2013023419A (ja) * 2011-07-22 2013-02-04 Nippon Shokubai Co Ltd ベーマイトナノロッドおよびその製造方法、アルミナナノロッドおよびその製造方法、並びに、CuAlO2膜およびその製造方法
KR20140095106A (ko) 2011-11-30 2014-07-31 가부시키가이샤 리코 p형 산화물, p형 산화물 제조용 조성물, p형 산화물의 제조 방법, 반도체 소자, 표시 소자, 영상 표시 장치, 및 시스템
US9536957B2 (en) 2011-11-30 2017-01-03 Ricoh Company, Ltd. P-type oxide, composition for producing p-type oxide, method for producing p-type oxide, semiconductor element, display element, image display device, and system
JP2016522315A (ja) * 2013-04-26 2016-07-28 エルジー・ケム・リミテッド 導電性パターン形成用組成物、これを用いた導電性パターンの形成方法と、導電性パターンを有する樹脂構造体
JP2015099908A (ja) * 2013-10-17 2015-05-28 中部電力株式会社 熱電変換材料
JP2017126607A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 株式会社リコー 酸化物半導体
US10141185B2 (en) 2016-01-12 2018-11-27 Ricoh Company, Ltd. Oxide semiconductor, coating liquid, method of forming oxide semiconductor film, semiconductor element, display element, image display device and image display system
WO2020066926A1 (ja) * 2018-09-28 2020-04-02 国立大学法人名古屋工業大学 デラフォサイト型Cu系複合酸化物膜及び複合材料
JPWO2020066926A1 (ja) * 2018-09-28 2021-08-30 国立大学法人 名古屋工業大学 デラフォサイト型Cu系複合酸化物膜及び複合材料

Also Published As

Publication number Publication date
JP3850978B2 (ja) 2006-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Kawazoe et al. Transparent conducting oxides based on the spinel structure
Nandy et al. A review on Cu2O and CuI-based p-type semiconducting transparent oxide materials: promising candidates for new generation oxide based electronics
Banerjee et al. Recent developments in the emerging field of crystalline p-type transparent conducting oxide thin films
Tate et al. p-Type oxides for use in transparent diodes
Kawazoe et al. Generation of electron carriers in insulating thin film of MgIn2O4 spinel by Li+ implantation
Otabe et al. n-type electrical conduction in transparent thin films of delafossite-type AgInO 2
Aihara et al. Sulfurization temperature dependences of photovoltaic properties in Cu2SnS3-based thin-film solar cells
Kawazoe et al. Transparent p-type conducting oxides: design and fabrication of pn heterojunctions
Palmer et al. Conductivity and transparency of ZnO/SnO2-cosubstituted In2O3
Ellmer et al. ZnO and its applications
JP3850978B2 (ja) 導電性透明酸化物
WO2010021106A1 (ja) 半導体装置、半導体装置の製造方法、トランジスタ基板、発光装置、および、表示装置
Folmer et al. Structural and solar conversion characteristics of the (Cu2Se) x (In2Se3) 1− x system
Moriga et al. Transparent conducting amorphous Zn–Sn–O films deposited by simultaneous dc sputtering
JPS62122011A (ja) 透明導電膜の製造方法
EP2866232A1 (en) Transparent conducting film and preparation method thereof
Ni et al. Structural, electrical and optical properties of p-type transparent conducting SnO 2: Zn film
Wang et al. Binary copper oxides as photovoltaic absorbers: recent progress in materials and applications
EP1325169A2 (en) Magnetic transparent conducting oxide film and method of making
Tajima et al. Photovoltaic properties of Cu2ZnSnS4 cells fabricated using ZnSnO and ZnSnO/CdS buffer layers
JP2007031178A (ja) CdTe系酸化物薄膜及びその形成方法
Cho et al. Influence of lithium doping on the electrical properties and ageing effect of ZnSnO thin film transistors
JP4146062B2 (ja) p型酸化物半導体およびその製造方法
Van Eek et al. Investigation of material properties and thermal stabilities of magnetron-sputter-deposited ZnO: Al/Ag/ZnO: Al transparent conductive coatings for thin-film solar cell applications
Wang et al. Effect of postdeposition oxidation and subsequent reduction annealing on electric and optical properties of amorphous ZnO–SnO2 transparent conducting films

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040922

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041102

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041228

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060809

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060831

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100908

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110908

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120908

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130908

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees