JPH1127523A - 欠陥画素修正装置及び欠陥画素修正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 画像センサの歩留りを良くすると共に、塵、
埃、傷等の外的要因に起因する欠陥画素の画像データを
修正することができる欠陥画素修正装置及び欠陥画素修
正方法を得る。 【解決手段】 暗電流補正部１２４によりエリアＣＣＤ
スキャナ１２を構成するエリアＣＣＤの暗電流値を、シ
ェーディング補正部１２８により上記エリアＣＣＤのシ
ェーディングデータを、各々画素毎に測定すると共に、
測定された暗電流値、及びシェーディングデータに基づ
いて欠陥画素補正部１３０によりエリアＣＣＤの画素毎
の欠陥画素の判定を行って該判定結果を予めメモリ１３
１に記憶しておき、実際にエリアＣＣＤスキャナ１２に
より処理対象とする画像データが入力された場合には、
上記により記憶しておいた欠陥画素の判定結果に基づい
て、欠陥画素補正部１３０により欠陥補正対象画素を特
定し、該欠陥補正対象画素の画像データを該欠陥補正対
象画素の前後画素の画像データに基づいて生成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、欠陥画素修正装置
及び欠陥画素修正方法に係り、特に、画像を複数画素に
分割して読み取り画素毎に画像データを出力する画像セ
ンサの欠陥画素の画像データを修正する欠陥画素修正装
置及び欠陥画素修正方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、画像を複数画素に分割して読み取
り画素毎に画像データを出力するエリアＣＣＤ、ライン
ＣＣＤ等の画像センサ（イメージセンサ）が、ディジタ
ルラボシステム、ファクシミリ、光学的文字読取装置
（ＯＣＲ）、ビデオカメラ等の多くの機器において広く
使用されている。

【０００３】従来の画像センサは、画像データの各画素
に対応した複数の光電変換素子を備えており、光電変換
素子の受光面に入射する光量に比例して発生した電荷を
走査し、順次画像データとして出力する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の画像センサでは、画像センサを構成する複数の光電
変換素子の欠陥を１画素分も許容しないとすると、画像
センサの歩留りが悪く、従って画像センサが非常に高価
となる、という問題点があった。

【０００５】また、上記画像センサを構成する全ての光
電変換素子に欠陥がない場合においても、該画像センサ
を用いて画像データを読み取る際に、画像センサの受光
面付近に塵、埃、傷等が存在する場合、正しい画像デー
タが得られない、という問題点があった。

【０００６】また、上記画像センサを照明する際に、画
像センサの受光面全面に対して全く均一に照明すること
は非常に難しく、そのため出力される画像データには、
所謂明るさムラが発生するという問題点もあった。

【０００７】本発明は上記問題点を解消するために成さ
れたものであり、画像センサの歩留りを良くすると共
に、塵、埃、傷等の外的要因に起因する欠陥画素の画像
データを修正することができる欠陥画素修正装置及び欠
陥画素修正方法を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１記載の欠陥画素修正装置は、画像を複数画
素に分割して読み取り画素毎に画像データを出力する画
像センサの画素毎の暗電流値を測定する暗電流測定手段
と、前記画像センサの画素毎のシェーディングを補正す
るためのシェーディングデータを測定するシェーディン
グ測定手段と、前記暗電流測定手段により測定された暗
電流値が所定値以上であるか否かの判定、及び前記シェ
ーディング測定手段により測定されたシェーディングデ
ータが所定範囲外か否かの判定、の少なくとも一方の判
定に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の画像
データを該欠陥画素の周辺画素の画像データに基づいて
生成する欠陥画素補正手段と、を備えている。

【０００９】請求項１に記載の欠陥画素修正装置によれ
ば、画像を複数画素に分割して読み取り画素毎に画像デ
ータを出力する画像センサの画素毎の暗電流値が暗電流
測定手段により測定され、上記画像センサの画素毎のシ
ェーディングを補正するためのシェーディングデータが
シェーディング測定手段により測定され、さらに上記暗
電流測定手段により測定された暗電流値が所定値以上で
あるか否かの判定、及び上記シェーディング測定手段に
より測定されたシェーディングデータが所定範囲外か否
かの判定、の少なくとも一方の判定に基づいて欠陥画素
検出手段により欠陥画素が検出される。なお、上記暗電
流値は、画像センサの光入射側に光を入射しない状態に
おいて画像センサ内を流れる電流であり、上記シェーデ
ィングデータは画像データのシェーディング補正を行う
ために予め測定されて用いられるデータである。また、
上記所定値は、欠陥画素のない画像センサの画素毎の暗
電流値の分布等に基づいて、欠陥のない画素の暗電流値
として許容し得る上限の値として予め設定されるもので
あり、上記所定範囲は、欠陥画素のない画像センサの画
素毎のシェーディングデータの分布等に基づいて、欠陥
のない画素のシェーディングデータの範囲として許容し
得る範囲として予め設定されるものである。

【００１０】さらに請求項１に記載の欠陥画素修正装置
では、欠陥画素補正手段によって欠陥画素検出手段によ
り検出された欠陥画素の画像データが該欠陥画素の周辺
画素の画像データに基づいて生成される。

【００１１】このように、請求項１に記載の欠陥画素修
正装置によれば、予め画像センサの欠陥画素の検出が行
われ、検出された欠陥画素の画像データが該欠陥画素の
周辺画素の画像データに基づいて自動的に生成されるの
で、画像センサの画素の欠陥の数をある程度許容するこ
とができ、画像センサの歩留りを良くすることができる
と共に、塵、埃、傷等の外的要因に起因する欠陥画素の
画像データを修正することができる。

【００１２】請求項２記載の欠陥画素修正装置は、請求
項１記載の欠陥画素修正装置において、前記欠陥画素検
出手段により欠陥画素が検出された場合、アラームを発
生するアラーム発生手段をさらに備えている。

【００１３】このように、請求項２に記載の欠陥画素修
正装置によれば、請求項１記載の欠陥画素修正装置にお
いて、欠陥画素検出手段により欠陥画素が検出された場
合、アラームが発生されるので、オペレータに対して欠
陥画素の存在を確実に知らせることができる。従って、
本欠陥画素修正装置をハードコピー装置等の出力装置に
適用した場合は、無駄な出力をなくすことができ、ファ
クシミリ等の原稿送信装置に適用した場合は、読みにく
い原稿であることを送信する前にオペレータに対して知
らせることができる。

【００１４】なお、請求項３記載の欠陥画素修正装置の
ように、請求項１又は請求項２記載の欠陥画素修正装置
において、前記欠陥画素補正手段は、前記欠陥画素検出
手段により検出された欠陥画素の画像データを該欠陥画
素の近傍の画素の画像データ、及びランクフィルタの少
なくとも一方を用いて生成することが好ましい。ここ
で、上記欠陥画素の近傍の画素には、欠陥画素の前後２
近傍の画素、欠陥画素の上下２近傍の画素、欠陥画素の
４近傍の画素、欠陥画素の８近傍の画素等が含まれる。

【００１５】また、請求項４記載の欠陥画素修正装置の
ように、前記ランクフィルタはメディアンフィルタであ
ることが好ましい。メディアンフィルタは、処理対象画
素、及び処理対象画素の周囲８近傍の画素の中央値を処
理対象画素の画像データとするものであり、濃度が全体
的に低い画像データに対して適用すると効果が高い。

【００１６】また、請求項５記載の欠陥画素修正方法
は、画像を複数画素に分割して読み取り画素毎に画像デ
ータを出力する画像センサの画素毎の暗電流値、及び前
記画像センサの画素毎のシェーディングを補正するため
のシェーディングデータを予め測定すると共に、前記暗
電流値が所定値以上であるか否かの判定、及び前記シェ
ーディングデータが所定範囲外か否かの判定、の少なく
とも一方の判定に基づいて欠陥画素を検出し、検出され
た欠陥画素の画像データを該欠陥画素の周辺画素の画像
データに基づいて生成する。

【００１７】従って、請求項５記載の欠陥画素修正方法
は、請求項１記載の欠陥画素修正装置と同様に、予め画
像センサの欠陥画素の検出が行われ、検出された欠陥画
素の画像データが該欠陥画素の周辺画素の画像データに
基づいて自動的に生成されるので、画像センサの画素の
欠陥の数をある程度許容することができ、画像センサの
歩留りを良くすることができると共に、塵、埃、傷等の
外的要因に起因する欠陥画素の画像データを修正するこ
とができる。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
欠陥画素修正装置をディジタルラボシステムに適用した
場合の実施形態について説明する。

【００１９】まず、本実施形態に係るディジタルラボシ
ステムについて説明する。 （システム全体の概略構成）図１には本実施形態に係る
ディジタルラボシステム１０の概略構成が示されてお
り、図２にはディジタルラボシステム１０の外観が示さ
れている。図１に示すように、このラボシステム１０
は、エリアＣＣＤスキャナ１２、ラインＣＣＤスキャナ
１４、画像処理部１６、レーザプリンタ部１８、及びプ
ロセッサ部２０を含んで構成されており、エリアＣＣＤ
スキャナ１２及びラインＣＣＤスキャナ１４の少なくと
も一方と画像処理部１６は、図２に示す入力部２６とし
て一体化されており、レーザプリンタ部１８及びプロセ
ッサ部２０は、図２に示す出力部２８として一体化され
ている。

【００２０】エリアＣＣＤスキャナ１２及びラインＣＣ
Ｄスキャナ１４は、ネガフィルムやリバーサルフィルム
等の写真フィルムに記録されているフィルム画像を読み
取るためのものであり、例えばエリアＣＣＤスキャナ１
２は１３５サイズの写真フィルム、１１０サイズの写真
フィルム、及び透明な磁気層が形成された写真フィルム
（２４０サイズの写真フィルム：所謂ＡＰＳフィルム）
のフィルム画像を読取対象とし、ラインＣＣＤスキャナ
１４は１２０サイズ及び２２０サイズ（ブローニサイ
ズ）の写真フィルムのフィルム画像を読取対象とするこ
とができる。

【００２１】エリアＣＣＤスキャナ１２及びラインＣＣ
Ｄスキャナ１４は、上記の読取対象のフィルム画像を画
像センサとしてのエリアＣＣＤ又はラインＣＣＤで読み
取り、画像データを出力する。

【００２２】画像処理部１６は、エリアＣＣＤスキャナ
１２やラインＣＣＤスキャナ１４から出力された画像デ
ータ（スキャン画像データ）が入力されると共に、デジ
タルカメラでの撮影によって得られた画像データ、フィ
ルム画像以外の原稿（例えば反射原稿等）をスキャナで
読み取ることで得られた画像データ、コンピュータで生
成された画像データ等（以下、これらをファイル画像デ
ータと総称する）を外部から入力する（例えば、メモリ
カード等の記憶媒体を介して入力したり、通信回線を介
して他の情報処理機器から入力する等）ことも可能なよ
うに構成されている。

【００２３】画像処理部１６は、入力された画像データ
に対して各種の補正等の画像処理を行って、記録用画像
データとしてレーザプリンタ部１８へ出力する。また、
画像処理部１６は、画像処理を行った画像データを画像
ファイルとして外部へ出力する（例えばメモリカード等
の記憶媒体に出力したり、通信回線を介して他の情報処
理機器へ送信する等）も可能とされている。

【００２４】レーザプリンタ部１８はＲ、Ｇ、Ｂのレー
ザ光源を備えており、画像処理部１６から入力された記
録用画像データに応じて変調したレーザ光を印画紙に照
射して、走査露光によって印画紙に画像を記録する。ま
た、プロセッサ部２０は、レーザプリンタ部１８で走査
露光によって画像が記録された印画紙に対し、発色現
像、漂白定着、水洗、乾燥の各処理を施す。これによ
り、印画紙上に画像が形成される。

【００２５】（エリアＣＣＤスキャナの構成）次にエリ
アＣＣＤスキャナ１２の構成について説明する。図３に
はエリアＣＣＤスキャナ１２の光学系の概略構成が示さ
れている。この光学系は、ハロゲンランプやメタルハラ
イドランプ等から成り写真フィルム２２に光を照射する
光源３０を備えており、光源３０の光射出側には、写真
フィルム２２に照射する光の光量を調節するための絞り
３２、色分解フィルタユニット３４、写真フィルム２２
に照射する光を拡散光とする光拡散ボックス３６が順に
配置されている。色分解フィルタユニット３４は、Ｒ、
Ｇ、Ｂの色分解フィルタ３４Ｒ、３４Ｇ、３４Ｂが、図
３矢印Ａ方向に沿って回転可能とされたターレット３４
Ａに嵌め込まれて構成されている。

【００２６】写真フィルム２２は、フィルムキャリア３
８（図６参照、図３では図示省略）によってフィルム画
像の画面中心が光軸Ｌに一致するように位置決めされ
る。なお、図３では長尺状の写真フィルム２２を示して
いるが、１コマ毎にスライド用のホルダに保持されたス
ライドフィルム（リバーサルフィルム）やＡＰＳフィル
ムについては、各々専用のフィルムキャリアが用意され
ており（ＡＰＳフィルム用のフィルムキャリアは磁気層
に磁気記録された情報を読み取る磁気ヘッドを有してい
る）、これらの写真フィルムのフィルム画像を位置決め
することも可能とされている。

【００２７】写真フィルム２２を挟んで光源３０と反対
側には、光軸Ｌに沿って、フィルム画像を透過した光を
結像させるレンズユニット４０、ブラックシャッタ４
１、エリアＣＣＤ４２が順に配置されている。図３では
レンズユニット４０として単一のレンズのみを示してい
るが、レンズユニット４０は、実際には複数枚のレンズ
から構成されたズームレンズである。ブラックシャッタ
４１は、矢印Ｓ方向に回動可能とされており、エリアＣ
ＣＤ４２の画素毎の暗電流値を測定する際にエリアＣＣ
Ｄ４２の受光面への光の入射を遮断する等の役割りを有
している。エリアＣＣＤ４２は多数のＣＣＤセルがマト
リックス状に配列されたモノクロのＣＣＤであり、受光
面がレンズユニット４０の結像点位置に一致するように
配置されている。

【００２８】また、エリアＣＣＤ４２にはピエゾアクチ
ュエータ４４Ｘ、４４Ｙが取付けられている。ピエゾア
クチュエータは電圧を加えると歪んで変位を発生するも
のであり、ピエゾアクチュエータ４４Ｘ、４４Ｙは、変
位の発生方向がエリアＣＣＤ４２の画素の配列方向（図
３の矢印Ｘ方向及び矢印Ｙ方向）に沿うように配置され
ている。

【００２９】図４にはエリアＣＣＤスキャナ１２の電気
系の概略構成が示されている。コントロール基板には、
エリアＣＣＤスキャナ１２全体の制御を司るマイクロプ
ロセッサ４６が搭載されている。マイクロプロセッサ４
６にはモータドライバ４８が接続されており、モータド
ライバ４８には、絞り３２をスライド移動させる絞り駆
動モータ５０、色分解フィルタユニット３４のターレッ
ト３４Ａを回転させるフィルタ駆動モータ５４が接続さ
れている。

【００３０】マイクロプロセッサ４６は、図示しない電
源スイッチのオンオフに連動して光源３０を点消灯させ
る。また、マイクロプロセッサ４６は、エリアＣＣＤ４
２によるフィルム画像の読み取り（測光）を行う際に、
フィルタ駆動モータ５４によってターレット３４Ａを回
転させる。従ってフィルム画像は、エリアＣＣＤ４２に
より各成分色毎に順に読み取られることになる。またマ
イクロプロセッサ４６は、絞り駆動モータ５０により絞
り３２をスライド移動させ、エリアＣＣＤ４２に入射さ
れる光量を調節する。

【００３１】また、マイクロプロセッサ４６にはピエゾ
ドライバ６０を介してピエゾアクチュエータ４４Ｘ、４
４Ｙが接続されている。マイクロプロセッサ４６は、単
一のフィルム画像に対し、エリアＣＣＤ４２によって各
成分色毎に各々４回読み取りを行わせると共に、各回の
読み取りにおいて、ピエゾアクチュエータ４４Ｘ、４４
Ｙにより、エリアＣＣＤ４２の位置を図３のＸ方向又は
Ｙ方向に移動させる。

【００３２】また、マイクロプロセッサ４６にはバス６
２を介してＲＡＭ６４（例えばＳＲＡＭ）、ＲＯＭ６６
（例えば記憶内容を書換え可能なＲＯＭ）が接続されて
いると共に、モータドライバ６８が接続されている。モ
ータドライバ６８には、レンズユニット４０の複数枚の
レンズの位置を相対的に移動させることでレンズユニッ
ト４０のズーム倍率を変更するズーム駆動モータ７０、
レンズユニット４０全体を移動させることでレンズユニ
ット４０の結像点位置を光軸Ｌに沿って移動させるレン
ズ駆動モータ１０６が接続されている。マイクロプロセ
ッサ４６は、フィルム画像のサイズやトリミングを行う
か否か等に応じて、ズーム駆動モータ７０によってレン
ズユニット４０のズーム倍率を所望の倍率に変更する。

【００３３】一方、エリアＣＣＤ４２は、タイミングジ
ェネレータ７４と共にＣＣＤ基板に搭載されている。タ
イミングジェネレータ７４は、エリアＣＣＤ４２や後述
するＡ／Ｄ変換器８２等を動作させるための各種のタイ
ミング信号（クロック信号）を発生する。

【００３４】エリアＣＣＤ４２の信号出力端は、ＣＣＤ
基板に搭載された増幅器７６、コントロール基板に搭載
された増幅器７８、８０を介してＡ／Ｄ変換器８２に接
続されている。Ａ／Ｄ変換器８２の出力端は、相関二重
サンプリング回路（ＣＤＳ）８８を介してインタフェー
ス（Ｉ／Ｆ）回路９０に接続されている。ＣＤＳ８８で
は、フィードスルー信号のレベルを表すフィードスルー
データ及び画素信号のレベルを表す画素データを各々サ
ンプリングし、各画素毎に画素データからフィードスル
ーデータを減算する。そして、演算結果（各ＣＣＤセル
での蓄積電荷量に正確に対応する画素データ）を、Ｉ／
Ｆ回路９０を介してスキャン画像データとして画像処理
部１６へ順次出力する。

【００３５】また、モータドライバ６８には、ブラック
シャッタ４１を開閉させるシャッタ駆動モータ９２が接
続されている。エリアＣＣＤ４２の暗電流については、
後段の画像処理部１６で補正されるが、暗電流レベル
は、フィルム画像の読み取りを行っていないときに、マ
イクロプロセッサ４６がブラックシャッタ４１を閉止さ
せることで得ることができる。

【００３６】（ラインＣＣＤスキャナの構成）次にライ
ンＣＣＤスキャナ１４の構成について説明する。なお、
エリアＣＣＤスキャナ１２と同一の部分には同一の符号
を付して説明を省略し、エリアＣＣＤスキャナ１２と異
なる部分についてのみ説明する。

【００３７】図５にはラインＣＣＤスキャナ１４の光学
系の概略構成が示されている。この光学系は、光源３０
と光拡散ボックス３６との間に、絞り３２及び色分解フ
ィルタユニット３４に代えて、Ｃ（シアン）、Ｍ（マゼ
ンタ）、Ｙ（イエロー）の調光フィルタ１１４Ｃ、１１
４Ｍ、１１４Ｙが射出光の光軸Ｌに沿って順に設けられ
ており、エリアＣＣＤ４２に代えてラインＣＣＤ１１６
が設けられている。本実施形態では、ラインＣＣＤ１１
６として、ＣＣＤセルがライン状に配列されて成るＣＣ
Ｄセル列が３ライン設けられ、各ラインの光入射側に
Ｒ、Ｇ、Ｂの色分解フィルタの何れかが各々取付けられ
た３ラインカラーＣＣＤを用いている。

【００３８】ラインＣＣＤスキャナ１４の電気系の構成
については図示を省略するが、フィルタ駆動モータ５４
は、調光フィルタ１１４Ｃ、１１４Ｍ、１１４Ｙを各々
独立に移動可能とされている。また、ラインＣＣＤ１１
６からはＲ、Ｇ、Ｂの測光信号が並列に出力されるの
で、図４に示した増幅器７６、７８、８０、Ａ／Ｄ変換
器８２、ＣＤＳ８８から成る信号処理系も３系統設けら
れており、Ｉ／Ｆ回路９０からは、スキャン画像データ
としてＲ、Ｇ、Ｂの画像データが並列に出力される。

【００３９】（画像処理部の構成）次に画像処理部１６
の構成について図６を参照して説明する。画像処理部１
６は、エリアＣＣＤスキャナ１２に対応してエリアスキ
ャナ補正部１２０が設けられていると共に、ラインＣＣ
Ｄスキャナ１４に対応してラインスキャナ補正部１２２
が設けられている。なお図７は、エリアスキャナ補正部
１２０の詳細な構成を示す。

【００４０】図７に示すように、エリアスキャナ補正部
１２０には、入力端にエリアＣＣＤスキャナ１２の出力
端が接続された暗電流補正部１２４が設けられており、
暗電流補正部１２４の２つの出力端は各々濃度変換部１
２６の入力端、及び欠陥画素補正部１３０の一方の入力
端に接続されている。また、濃度変換部１２６の出力端
はシェーディング補正部１２８の入力端に接続されてお
り、シェーディング補正部１２８の出力端は欠陥画素補
正部１３０の他方の入力端に接続されている。

【００４１】また暗電流補正部１２４にはメモリ１２５
が、シェーディング補正部１２８にはメモリ１２９が、
欠陥画素補正部１３０にはメモリ１３１及びアラーム発
生手段としてのアラーム発生源１２７が、各々接続され
ている。

【００４２】暗電流補正部１２４は、エリアＣＣＤ４２
の光入射側に光を入射しない状態においてエリアＣＣＤ
４２内を流れる電流である暗電流をキャンセルするもの
であり、濃度変換部１２６は、暗電流補正部１２４から
出力された暗電流補正後の輝度値であるスキャン画像デ
ータを濃度値のスキャン画像データに変換するものであ
る。

【００４３】また、シェーディング補正部１２８は、写
真フィルム２２をフィルムキャリア３８に装着しない状
態でエリアＣＣＤ４２の光入射側にＲ、Ｇ、Ｂ各色毎の
均一な光を入射したときのエリアＣＣＤ４２の出力デー
タ（以下、シェーディングデータと称する）を用いて、
エリアＣＣＤ４２の画素毎の感度ばらつきの補正、及び
光源３０の照明むらの補正を行うものであり、さらに、
欠陥画素補正部１３０は、エリアＣＣＤ４２の欠陥画素
を検出し、該欠陥画素のスキャン画像データの補正を行
うものである。なお、上記欠陥画素は、エリアＣＣＤ４
２から出力されたスキャン画像データに何らかの原因で
欠陥がある画素をいい、この原因としては、エリアＣＣ
Ｄ４２のＣＣＤセル自体に欠陥がある、エリアＣＣＤ４
２の受光面付近に塵、埃、傷等が存在している等があ
る。また、上記暗電流補正部１２４が本発明の暗電流測
定手段に、上記シェーディング補正部１２８が本発明の
シェーディング測定手段に、上記欠陥画素補正部１３０
が本発明の欠陥画素検出手段及び欠陥画素補正手段に、
各々相当する。

【００４４】一方、ラインスキャナ補正部１２２は、上
記の暗電流補正部１２４、濃度変換部１２６、シェーデ
ィング補正部１２８、及び欠陥画素補正部１３０等から
成る信号処理系が３系統設けられており、ラインＣＣＤ
スキャナ１４から並列に出力されるＲ、Ｇ、Ｂの画像デ
ータを並列に処理する。但し、ラインスキャナ補正部１
２２における欠陥画素補正部１３０の動作は、エリアス
キャナ補正部１２０における欠陥画素補正部１３０の動
作と一部異なる部分があるが、これについては後述す
る。

【００４５】また、ラインＣＣＤ１１６は３本のライン
（ＣＣＤセル列）が写真フィルム２２の搬送方向に沿っ
て所定の間隔を空けて順に配置されているので、ライン
ＣＣＤスキャナ１４からＲ、Ｇ、Ｂの各成分色の画像デ
ータの出力が開始されるタイミングには時間差がある。
ラインスキャナ補正部１２２は、フィルム画像上で同一
の画素のＲ、Ｇ、Ｂの画像データが同時に出力されるよ
うに、各成分色毎に異なる遅延時間で画像データの出力
タイミングの遅延を行う。

【００４６】エリアスキャナ補正部１２０及びラインス
キャナ補正部１２２の出力端はセレクタ１３２（図６参
照）の入力端に接続されており、補正部１２０、１２２
から出力された画像データはセレクタ１３２に入力され
る。また、セレクタ１３２の入力端は入出力コントロー
ラ１３４のデータ出力端にも接続されており、入出力コ
ントローラ１３４からは、外部から入力されたファイル
画像データがセレクタ１３２に入力される。セレクタ１
３２の出力端は入出力コントローラ１３４、イメージプ
ロセッサ部１３６Ａ、１３６Ｂのデータ入力端に各々接
続されている。セレクタ１３２は、入力された画像デー
タを、入出力コントローラ１３４、イメージプロセッサ
部１３６Ａ、１３６Ｂの各々に選択的に出力可能とされ
ている。

【００４７】イメージプロセッサ部１３６Ａは、メモリ
コントローラ１３８、イメージプロセッサ１４０、３個
のフレームメモリ１４２Ａ、１４２Ｂ、１４２Ｃを備え
ている。フレームメモリ１４２Ａ、１４２Ｂ、１４２Ｃ
は各々単一のフィルム画像の画像データを記憶可能な容
量を有しており、セレクタ１３２から入力された画像デ
ータは３個のフレームメモリ１４２の何れかに記憶され
るが、メモリコントローラ１３８は、入力された画像デ
ータの各画素のデータが、フレームメモリ１４２の記憶
領域に一定の順序で並んで記憶されるように、画像デー
タをフレームメモリ１４２に記憶させる際のアドレスを
制御する。

【００４８】イメージプロセッサ１４０は、フレームメ
モリ１４２に記憶された画像データを取込み、階調変
換、色変換、画像の超低周波明るさ成分の階調を圧縮す
るハイパートーン処理、粒状を抑制しながらシャープネ
スを強調するハイパーシャープネス処理等の各種の画像
処理を行う。なお、上記の画像処理の処理条件は、オー
トセットアップエンジン１４４（後述）によって自動的
に演算され、演算された処理条件に従って画像処理が行
われる。イメージプロセッサ１４０は入出力コントロー
ラ１３４に接続されており、画像処理を行った画像デー
タは、フレームメモリ１４２に一旦記憶された後に、所
定のタイミングで入出力コントローラ１３４へ出力され
る。なお、イメージプロセッサ部１３６Ｂは、上述した
イメージプロセッサ部１３６Ａと同一の構成であるので
説明を省略する。

【００４９】ところで、本実施形態では個々のフィルム
画像に対し、エリアＣＣＤスキャナ１２又はラインＣＣ
Ｄスキャナ１４において読み取りを２回行う。１回目の
読み取り（以下、プレスキャンという）では、フィルム
画像の濃度が極端に低い場合（例えばネガフィルムにお
ける露光オーバのネガ画像）にも、エリアＣＣＤ４２又
はラインＣＣＤ１１６で蓄積電荷の飽和が生じないよう
に決定した読取条件（写真フィルムに照射する光のＲ、
Ｇ、Ｂの各波長域毎の光量、ＣＣＤの電荷蓄積時間）で
フィルム画像の読み取りが行われる。このプレスキャン
によって得られた画像データ（プレスキャン画像デー
タ）は、セレクタ１３２から入出力コントローラ１３４
に入力され、更に入出力コントローラ１３４に接続され
たオートセットアップエンジン１４４に出力される。

【００５０】オートセットアップエンジン１４４は、Ｃ
ＰＵ１４６、ＲＡＭ１４８（例えばＤＲＡＭ）、ＲＯＭ
１５０（例えば記憶内容を書換え可能なＲＯＭ）、入出
力ポート１５２を備え、これらがバス１５４を介して互
いに接続されて構成されている。

【００５１】オートセットアップエンジン１４４は、入
出力コントローラ１３４から入力された複数コマ分のフ
ィルム画像のプレスキャン画像データに基づいて、ファ
インスキャンによって得られた画像データ（ファインス
キャン画像データ）に対する画像処理の処理条件を演算
し、演算した処理条件をイメージプロセッサ部１３６の
イメージプロセッサ１４０へ出力する。この画像処理の
処理条件の演算では、撮影時の露光量、撮影光源種やそ
の他の特徴量から類似のシーンを撮影した複数のフィル
ム画像が有るか否か判定し、類似のシーンを撮影した複
数のフィルム画像が有った場合には、これらのフィルム
画像のファインスキャン画像データに対する画像処理の
処理条件が同一又は近似するように決定する。

【００５２】なお、画像処理の最適な処理条件は、画像
処理後の画像データを、レーザプリンタ部１８における
印画紙への画像の記録に用いるのか、外部へ出力するの
か等によっても変化する。画像処理部１６には２つのイ
メージプロセッサ部１３６Ａ、１３６Ｂが設けられてい
るので、例えば、画像データを印画紙への画像の記録に
用いると共に外部へ出力する等の場合には、オートセッ
トアップエンジン１４４は各々の用途に最適な処理条件
を各々演算し、イメージプロセッサ部１３６Ａ、１３６
Ｂへ出力する。これにより、イメージプロセッサ部１３
６Ａ、１３６Ｂでは、同一のファインスキャン画像デー
タに対し、互いに異なる処理条件で画像処理が行われ
る。

【００５３】更に、オートセットアップエンジン１４４
は、入出力コントローラ１３４から入力されたフィルム
画像のプレスキャン画像データに基づいて、レーザプリ
ンタ部１８で印画紙に画像を記録する際のグレーバラン
ス等を規定する画像記録用パラメータを算出し、レーザ
プリンタ部１８に記録用画像データ（後述）を出力する
際に同時に出力する。

【００５４】入出力コントローラ１３４はＩ／Ｆ回路１
５６を介してレーザプリンタ部１８に接続されている。
画像処理後の画像データを印画紙への画像の記録に用い
る場合には、イメージプロセッサ部１３６で画像処理が
行われた画像データは、入出力コントローラ１３４から
Ｉ／Ｆ回路１５６を介し記録用画像データとしてレーザ
プリンタ部１８へ出力される。また、オートセットアッ
プエンジン１４４はパーソナルコンピュータ１５８に接
続されている。画像処理後の画像データを画像ファイル
として外部へ出力する場合には、イメージプロセッサ部
１３６で画像処理が行われた画像データは、入出力コン
トローラ１３４からオートセットアップエンジン１４４
を介してパーソナルコンピュータ１５８に出力される。

【００５５】パーソナルコンピュータ１５８は、ＣＰＵ
１６０、メモリ１６２、ディスプレイ１６４及びキーボ
ード１６６（図２も参照）、ハードディスク１６８、Ｃ
Ｄ−ＲＯＭドライバ１７０、搬送制御部１７２、拡張ス
ロット１７４、画像圧縮／伸長部１７６を備えており、
これらがバス１７８を介して互いに接続されて構成され
ている。搬送制御部１７２はフィルムキャリア３８に接
続されており、フィルムキャリア３８による写真フィル
ム２２の搬送を制御する。また、フィルムキャリア３８
にＡＰＳフィルムがセットされた場合には、フィルムキ
ャリア３８がＡＰＳフィルムの磁気層から読み取った情
報（例えば画像記録サイズ等）が入力される。

【００５６】また、メモリカード等の記憶媒体に対して
データの読出し／書込みを行うドライバ（図示省略）
や、他の情報処理機器と通信を行うための通信制御装置
は、拡張スロット１７４を介してパーソナルコンピュー
タ１５８に接続される。入出力コントローラ１３４から
外部への出力用の画像データが入力された場合には、前
記画像データは拡張スロット１７４を介して画像ファイ
ルとして外部（前記ドライバや通信制御装置等）に出力
される。また、拡張スロット１７４を介して外部からフ
ァイル画像データが入力された場合には、入力されたフ
ァイル画像データは、オートセットアップエンジン１４
４を介して入出力コントローラ１３４へ出力される。こ
の場合、入出力コントローラ１３４では入力されたファ
イル画像データをセレクタ１３２へ出力する。

【００５７】なお、画像処理部１６は、プレスキャン画
像データ等をパーソナルコンピュータ１５８に出力し、
エリアＣＣＤスキャナ１２やラインＣＣＤスキャナ１４
で読み取られたフィルム画像をディスプレイ１６４に表
示したり、印画紙に記録することで得られる画像を推定
してディスプレイ１６４に表示し、キーボード１６６を
介してオペレータにより画像の修正等が指示されると、
これを画像処理の処理条件に反映することも可能とされ
ている。

【００５８】（レーザプリンタ部及びプロセッサ部の構
成）次にレーザプリンタ部１８及びプロセッサ部２０の
構成について説明する。図８には、レーザプリンタ部１
８の露光部の光学系の構成が示されている。レーザプリ
ンタ部１８は、レーザ光源２１０Ｒ、２１０Ｇ、２１０
Ｂの３個のレーザ光源を備えている。レーザ光源２１０
ＲはＲの波長のレーザ光を射出する半導体レーザ（Ｌ
Ｄ）で構成されている。また、レーザ光源２１０Ｇは、
ＬＤと、該ＬＤから射出されたレーザ光を１／２の波長
のレーザ光に変換する波長変換素子（ＳＨＧ）から構成
されており、ＳＨＧからＧの波長のレーザ光が射出され
るようにＬＤの発振波長が定められている。同様に、レ
ーザ光源２１０ＢもＬＤとＳＨＧから構成されており、
ＳＨＧからＢの波長のレーザ光が射出されるようにＬＤ
の発振波長が定められている。

【００５９】レーザ光源２１０Ｒ、２１０Ｇ、２１０Ｂ
のレーザ光射出側には、各々コリメータレンズ２１２、
音響光学光変調素子（ＡＯＭ）２１４が順に配置されて
いる。ＡＯＭ２１４は、入射されたレーザ光が音響光学
媒質を透過するように配置されていると共に、ＡＯＭド
ライバ２１６（図９参照）に接続されており、ＡＯＭド
ライバ２１６から高周波信号が入力されると、音響光学
媒質内を前記高周波信号に応じた超音波が伝搬し、音響
光学媒質を透過するレーザ光に音響光学効果が作用して
回折が生じ、前記高周波信号の振幅に応じた強度のレー
ザ光がＡＯＭ２１４から回折光として射出される。

【００６０】ＡＯＭ２１４の回折光射出側にはポリゴン
ミラー２１８が配置されており、各ＡＯＭ２１４から回
折光として各々射出されたＲ、Ｇ、Ｂの波長の３本のレ
ーザ光は、ポリゴンミラー２１８の反射面上の略同一の
位置に照射され、ポリゴンミラー２１８で反射される。
ポリゴンミラー２１８のレーザ光射出側にはｆθレンズ
２２０、平面ミラー２２２が配置されており、ポリゴン
ミラー２１８で反射された３本のレーザ光はｆθレンズ
２２０を透過し、平面ミラー２２２で反射されて印画紙
２２４に照射される。

【００６１】図９にはレーザプリンタ部１８及びプロセ
ッサ部２０の電気系の概略構成が示されている。レーザ
プリンタ部１８は画像データを記憶するフレームメモリ
２３０を備えている。フレームメモリ２３０はＩ／Ｆ回
路２３２を介して画像処理部１６に接続されており、画
像処理部１６から入力された記録用画像データ（印画紙
２２４に記録すべき画像の各画素毎のＲ、Ｇ、Ｂ濃度を
表す画像データ）はＩ／Ｆ回路２３２を介してフレーム
メモリ２３０に一旦記憶される。フレームメモリ２３０
はＤ／Ａ変換器２３４を介して露光部２３６に接続され
ていると共に、プリンタ部制御回路２３８に接続されて
いる。

【００６２】露光部２３６は、前述のようにＬＤ（及び
ＳＨＧ）から成るレーザ光源２１０を３個備えていると
共に、ＡＯＭ２１４及びＡＯＭドライバ２１６も３系統
備えており、ポリゴンミラー２１８、ポリゴンミラー２
１８を回転させるモータを備えた主走査ユニット２４０
が設けられている。露光部２３６はプリンタ部制御回路
２３８に接続されており、プリンタ部制御回路２３８に
よって各部の動作が制御される。

【００６３】印画紙２２４への画像の記録を行う場合、
プリンタ部制御回路２３８は、記録用画像データが表す
画像を走査露光によって印画紙２２４に記録するため
に、画像処理部１６から入力された画像記録用パラメー
タに基づき、記録用画像データに対して各種の補正を行
って走査露光用画像データを生成し、フレームメモリ２
３０に記憶させる。そして、露光部２３６のポリゴンミ
ラー２１８を回転させ、レーザ光源２１０Ｒ、２１０
Ｇ、２１０Ｂからレーザ光を射出させると共に、生成し
た走査露光用画像データをフレームメモリ２３０からＤ
／Ａ変換器２３４を介して露光部２３６へ出力させる。
これにより、走査露光用画像データがアナログ信号に変
換されて露光部２３６に入力される。

【００６４】ＡＯＭドライバ２１６は、入力されたアナ
ログ信号のレベルに応じてＡＯＭ２１４に供給する超音
波信号の振幅を変化させ、ＡＯＭ２１４から回折光とし
て射出されるレーザ光の強度をアナログ信号のレベル
（すなわち、印画紙２２４に記録すべき画像の各画素の
Ｒ濃度及びＧ濃度及びＢ濃度の何れか）に応じて変調す
る。従って、３個のＡＯＭ２１４からは印画紙２２４に
記録すべき画像のＲ、Ｇ、Ｂ濃度に応じて強度変調され
たＲ、Ｇ、Ｂのレーザ光が射出され、これらのレーザ光
はポリゴンミラー２１８、ｆθレンズ２２０、ミラー２
２２を介して印画紙２２４に照射される。

【００６５】そして、ポリゴンミラー２１８の回転に伴
って各レーザ光の照射位置が図８矢印Ｂ方向に沿って走
査されることにより主走査が成され、印画紙２２４が図
８矢印Ｃ方向に沿って一定速度で搬送されることにより
レーザ光の副走査が成され、走査露光によって印画紙２
２４に画像が記録される。走査露光によって画像が記録
された印画紙２２４はプロセッサ部２０へ送り込まれ
る。

【００６６】プリンタ部制御回路２３８にはプリンタ部
ドライバ２４２が接続されており、プリンタ部ドライバ
２４２には、露光部２３６に対して送風するファン２４
４、レーザプリンタ部に装填されたマガジンに収納され
ている印画紙をマガジンから引き出すためのマガジンモ
ータ２４６が接続されている。また、プリンタ部制御回
路２３８には、印画紙２２４の裏面に文字等をプリント
するバックプリント部２４８が接続されている。これら
のファン２４４、マガジンモータ２４６、バックプリン
ト部２４８はプリンタ部制御回路２３８によって作動が
制御される。

【００６７】また、プリンタ部制御回路２３８には、未
露光の印画紙２２４が収納されるマガジンの着脱及びマ
ガジンに収納されている印画紙のサイズを検出するマガ
ジンセンサ２５０、オペレータが各種の指示を入力する
ための操作盤２５２（図２も参照）、プロセッサ部２０
で現像等の処理が行われて可視化された画像の濃度を測
定する濃度計２５４、プロセッサ部２０のプロセッサ部
制御回路２５６が接続されている。

【００６８】プロセッサ部制御回路２５６には、プロセ
ッサ部２０の機体内の印画紙搬送経路を搬送される印画
紙２２４の通過の検出や、処理槽内に貯留されている各
種の処理液の液面位置の検出等を行う各種センサ２５８
が接続されている。

【００６９】また、プロセッサ部制御回路２５６には、
現像等の処理が完了して機体外に排出された印画紙を所
定のグループ毎に仕分けするソータ２６０（図２参
照）、処理槽内に補充液を補充する補充システム２６
２、ローラ等の洗浄を行う自動洗浄システム２６４が接
続されていると共に、プロセッサ部ドライバ２６６を介
して、各種ポンプ／ソレノイド２６８が接続されてい
る。これらのソータ２６０、補充システム２６２、自動
洗浄システム２６４、及び各種ポンプ／ソレノイド２６
８はプロセッサ部制御回路２５６によって作動が制御さ
れる。次に、ディジタルラボシステム１０における本発
明の欠陥画素修正装置としてのエリアスキャナ補正部１
２０（図６及び図７参照）、及びラインスキャナ補正部
１２２の作用を詳細に説明する。なお、エリアスキャナ
補正部１２０では、実際のフィルム画像に対する補正を
行うに先立って、暗電流補正部１２４による暗電流の測
定、シェーディング補正部１２８によるシェーディング
データの測定、及び欠陥画素補正部１３０による欠陥画
素の検出を行う。まず、これらについて説明する。

【００７０】暗電流補正部１２４では、エリアＣＣＤ４
２の光入射側がエリアＣＣＤ４２とレンズユニット４０
との間に設けられたブラックシャッタ４１により遮光さ
れている状態で、エリアＣＣＤスキャナ１２から出力さ
れたデータ（エリアＣＣＤ４２内部の暗電流に相当する
データであり、このデータを以下の説明では暗電流値と
称する）を画素毎にメモリ１２５に記憶しておくと共
に、該暗電流値を欠陥画素補正部１３０へ出力する。な
お、暗電流値は温度の変化に伴って大きく変化するの
で、この暗電流値の測定は比較的頻繁に、例えば写真フ
ィルム２２を交換する毎に繰り返して行うことが好まし
い。また、この暗電流値は非常に小さな値であるので、
測定時毎に複数回測定し、平均値を求めて利用すること
が好ましい。

【００７１】また、シェーディング補正部１２８では、
写真フィルム２２をフィルムキャリア３８に装着してい
ない状態でかつフィルタユニット３４における色分解フ
ィルタ３４Ｒ、３４Ｇ、３４Ｂの各々の中心を光源３０
（図３も参照）の光軸Ｌに略一致させるように各色分解
フィルタを位置させた状態、すなわち、エリアＣＣＤ４
２の受光面に対してＲ、Ｇ、Ｂ各色の均一な光を照射し
た状態においてエリアＣＣＤスキャナ１２から出力され
たフィルタ色毎、すなわちＲ、Ｇ、Ｂ各色毎の画像デー
タ（シェーディングデータ）を画素毎にメモリ１２９に
記憶しておくと共に、該Ｒ、Ｇ、Ｂ各色毎のシェーディ
ングデータを欠陥画素補正部１３０へ出力する。なお、
シェーディングデータは、暗電流値のように温度に大き
く依存するものではないので、暗電流値のように頻繁に
測定する必要はなく、例えばレンズ交換時、ズーム倍率
変更時、ラボシステム立ち上げ時等に測定する程度でよ
い。

【００７２】一方、欠陥画素補正部１３０では、暗電流
補正部１２４から画素毎の暗電流値が入力されると、該
暗電流値が所定値Ｂ₁ 以上であるか否かを画素毎に判定
することにより、判定対象画素が欠陥画素であるか否か
を判定し、該判定の結果をメモリ１３１に記憶する。図
１０は、各画素における暗電流値ｄ₁ の分布状態と所定
値Ｂ₁ の一例を示すものであり、同図の場合、暗電流値
ｄ₁ が所定値Ｂ₁ 以上である画素Ｘが欠陥画素であると
判定される。なお、所定値Ｂ₁ は、欠陥画素のないエリ
アＣＣＤの画素毎の暗電流値の分布等に基づいて、欠陥
のない画素の暗電流値として許容し得る上限の値として
予め設定されたものである。

【００７３】また、欠陥画素補正部１３０では、シェー
ディング補正部１２８からＲ、Ｇ、Ｂ各色毎のシェーデ
ィングデータが入力されると、該シェーディングデータ
の値が、所定の範囲内に収まっているか否かを判定する
ことにより、画素毎に欠陥画素であるか否かを判定し、
該判定の結果をＲ、Ｇ、Ｂ各色毎にメモリ１３１に記憶
する。図１１は、シェーディング補正部１２８から入力
されたＲ、Ｇ、Ｂ各色毎の画素毎のシェーディングデー
タｄ_s の分布状態と上記所定の範囲における上限値ｗ₁
及び下限値ｗ₂ の一例を示すものであり、同図の場合、
全ての画素のシェーディングデータが上限値ｗ₁ と下限
値ｗ₂ との間に収まっているので、欠陥画素はないもの
と判定される。なお、上限値ｗ₁ 及び下限値ｗ₂ は、欠
陥画素のないエリアＣＣＤの画素毎のシェーディングデ
ータの分布等に基づいて、欠陥のない画素のシェーディ
ングデータの範囲として許容し得る範囲として予め設定
されたものである。

【００７４】なお、本実施形態では、欠陥画素補正部１
３０における欠陥画素の判定結果のメモリ１３１への記
憶は、画素毎に図１２に示すような４ビットの記憶領域
をメモリ１３１に設け、暗電流値に基づく判定結果を上
記４ビットの先頭ビットに、色分解フィルタ３４Ｒ使用
時のシェーディングデータに基づく判定結果を上記４ビ
ットの２番目のビットに、色分解フィルタ３４Ｇ使用時
のシェーディングデータに基づく判定結果を上記４ビッ
トの３番目のビットに、色分解フィルタ３４Ｂ使用時の
シェーディングデータに基づく判定結果を上記４ビット
の４番目のビットに、各々記憶する。

【００７５】また、本実施形態では、判定対象画素が欠
陥画素であると判定された場合は１を、欠陥画素でない
と判定された場合は０を、各々対応するビット位置に記
憶する。従って図１２は、Ｇの色分解フィルタ３４Ｇ使
用時のシェーディングデータに基づいた判定のみにおい
て判定対象画素が欠陥画素であると判定された場合を示
している。

【００７６】また、欠陥画素補正部１３０では、暗電流
値及びシェーディングデータに基づいて検出された欠陥
画素が複数（例えば２個）連続した場合には、アラーム
発生源１２７によりアラームを発生し、これ以降の処理
を中止する旨の表示を行う。もちろん、ユーザによって
は、この表示を無視してこれ以降の処理を続行しても構
わない。

【００７７】次に、エリアスキャナ補正部１２０によ
り、実際にエリアＣＣＤスキャナ１２により入力された
フィルム画像の補正を行う際の作用を説明する。

【００７８】暗電流補正部１２４では、エリアＣＣＤス
キャナ１２からフィルム画像のＲ、Ｇ、Ｂ各色毎のスキ
ャン画像データが入力されると、該スキャン画像データ
から上記により予めメモリ１２５に記憶しておいた暗電
流値を画素毎に減ずることによって暗電流補正を行い、
濃度変換部１２６に出力する。

【００７９】濃度変換部１２６では、暗電流補正部１２
４から暗電流補正後のＲ、Ｇ、Ｂ各色毎のスキャン画像
データが入力されると、入力された各色毎のスキャン画
像データの対数をとることによって輝度値であるスキャ
ン画像データを濃度値のスキャン画像データに変換して
シェーディング補正部１２８に出力する。なお、この際
のスキャン画像データの輝度値から濃度値への変換は、
濃度変換部１２６に備えられた図示しないルックアップ
テーブルを用いて行う。

【００８０】シェーディング補正部１２８では、濃度変
換部１２６から濃度値に変換されたＲ、Ｇ、Ｂ各色毎の
スキャン画像データが入力されると、該スキャン画像デ
ータに対して次の（１）式の演算を行うことによってシ
ェーディング補正を行い、シェーディング補正後の各色
毎のスキャン画像データを欠陥画素補正部１３０に出力
する。

【００８１】 ＤＮ_out ＝ＤＮ_in−ＳＮ＋ＳＮ_min （１） ここで、ＤＮ_inは入力された補正対象画素のスキャン画
像データ、ＳＮは上記により予めメモリ１２９に記憶し
たＲ、Ｇ、Ｂ各色毎の補正対象画素のシェーディングデ
ータ、ＳＮ_min はＲ、Ｇ、Ｂ各色毎のシェーディングデ
ータの最小値、ＤＮ_out は出力するシェーディング補正
後の補正対象画素のスキャン画像データを示し、各デー
タとも濃度値のデータである。

【００８２】このように濃度変換部１２６による濃度値
への変換後にシェーディング補正を行うことによって、
濃度値への変換前のスキャン画像データ、すなわち輝度
値のスキャン画像データに対してシェーディング補正を
行う場合には、次の（２）式に示すように乗算及び除算
によって行われるシェーディング補正が、上記（１）式
に示すように減算及び加算のみによって簡易に行うこと
ができる。

【００８３】 ＤＫ_out ＝ＤＫ_in×ＳＫ_max ÷ＳＫ （２） ここで、ＤＫ_inは入力された補正対象画素のスキャン画
像データ、ＳＫはＲ、Ｇ、Ｂ各色毎の補正対象画素のシ
ェーディングデータ、ＳＫ_max はＲ、Ｇ、Ｂ各色毎のシ
ェーディングデータの最大値、ＤＫ_out は出力するシェ
ーディング補正後の補正対象画素のスキャン画像データ
を示し、各データとも輝度値のデータである。

【００８４】一方、欠陥画素補正部１３０では、シェー
ディング補正部１２８からシェーディング補正後のＲ、
Ｇ、Ｂ各色毎のスキャン画像データが入力されると、上
記により予めメモリ１３１に記憶しておいた画素毎の欠
陥画素の判定結果を参照して、暗電流値に基づく判定結
果及びシェーディングデータに基づくＲ、Ｇ、Ｂ各色毎
の判定結果のうち、１つでも欠陥画素であると判定され
ていた画素（以下、欠陥補正対象画素と称する）のスキ
ャン画像データについてはＲ、Ｇ、Ｂ各色のスキャン画
像データとも、該欠陥補正対象画素の周辺画素のスキャ
ン画像データを用いて補正を行う。

【００８５】なお、本実施形態における欠陥補正対象画
素の補正は次のように行う。欠陥補正対象画素が図１３
（Ａ）に示すようにスキャン画像データにおける端部に
位置していない場合は、欠陥補正対象画素の前後の画素
のスキャン画像データの平均値を欠陥補正対象画素のス
キャン画像データとして後段（セレクタ１３２）に出力
する。また、欠陥補正対象画素が図１３（Ｂ）に示すよ
うにスキャン画像データの左端に位置している場合は、
欠陥補正対象画素の右に接する画素のスキャン画像デー
タを欠陥補正対象画素のスキャン画像データとして上記
後段に出力する。さらに、欠陥補正対象画素が図１３
（Ｃ）に示すようにスキャン画像データの右端に位置し
ている場合は、欠陥補正対象画素の左に接する画素のス
キャン画像データを欠陥補正対象画素のスキャン画像デ
ータとして上記後段に出力する。

【００８６】図１４は、欠陥補正対象画素が図１３
（Ａ）に示すようにスキャン画像データにおける端部に
位置していない場合の、欠陥補正対象画素のスキャン画
像データを生成する回路の一例を示したものである。同
図に示すように、この回路は３段のレジスタ３００、３
０２、３０４と、レジスタ３００及びレジスタ３０４の
各々の出力端が接続された加算点３０６と、加算点３０
６の出力端及びレジスタ３０２の出力端が各々入力端Ａ
及び入力端Ｂに接続されたセレクタ３０８により構成さ
れている。なお、上記加算点３０６は、入力された２つ
のデータを加算して２で割ったもの、すなわちレジスタ
３００及び３０４に保持されたデータの平均値を出力す
る。またセレクタ３０８は、切換信号入力端に１が入力
された場合に入力端Ａに入力されたデータを出力し、切
換信号入力端に０が入力された場合に入力端Ｂに入力さ
れたデータを出力する。

【００８７】この回路では、シェーデング補正部１２８
から入力されたスキャン画像データにおける連続する３
画素分のスキャン画像データが、レジスタ３００、３０
２、及び３０４に各々保持される。また、セレクタ３０
８の切換信号入力端には、レジスタ３０２に処理対象と
する画素のスキャン画像データが保持されたタイミング
に同期して、処理対象とする画素に対応する４ビットの
データ（図１２参照）のうち、１ビットでも欠陥画素を
示す１が存在する場合に１を入力し、その他の場合は０
を入力するように構成されている。

【００８８】従って、処理対象とする画素が欠陥補正対
象画素である場合には、レジスタ３００及び３０４に保
持された、該処理対象とする画素の前後の画素のスキャ
ン画像データの平均値がセレクタ３０８から出力され、
処理対象とする画素が欠陥補正対象画素でない場合に
は、レジスタ３０２に保持された該処理対象とする画素
のスキャン画像データが、そのままセレクタ３０８から
出力される。

【００８９】なお、欠陥補正対象画素がスキャン画像デ
ータの左端または右端に位置している場合の欠陥補正対
象画素のスキャン画像データを生成するための回路につ
いては図示を省略するが、図１４に示した回路と同様
に、レジスタ及びセレクタ等を組み合わせることによっ
て簡易に構成することができる。

【００９０】一方、ラインスキャナ補正部１２２では、
暗電流補正、濃度変換、シェーディング補正、欠陥画素
検出については、エリアスキャナ補正部１２０における
処理と同様に行う。但し、ラインＣＣＤ１１６では、１
画素の欠陥画素によって、１列全て誤ったスキャン画像
データが出力されてしまうため、欠陥画素補正部１３０
において１画素でも欠陥画素が検出された場合には、ア
ラームを発生して、これ以降の処理を中止することが好
ましい。ここで、欠陥であることを判定するためのレベ
ルを変えて再び処理を行っても構わない。

【００９１】以上詳細に説明したように、本実施形態に
係る欠陥画素修正装置及び欠陥画素修正方法は、暗電流
値及びシェーディングデータに基づいて欠陥画素を検出
し、欠陥画素に対しては、当該欠陥画素の周辺画素のス
キャン画像データに基づいて当該欠陥画素のスキャン画
像データを生成しているので、エリアＣＣＤ４２の画素
の欠陥の数をある程度許容することができ、エリアＣＣ
Ｄ４２の歩留りを良くすることができると共に、塵、
埃、傷等の外的要因に起因する欠陥画素の画像データを
自動的に修正することができる。

【００９２】なお、本実施形態では、欠陥補正対象画素
の前後の画素のスキャン画像データを用いて欠陥補正対
象画素のスキャン画像データを生成する場合について説
明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例
えば図１５に示す欠陥補正対象画素に接する８近傍の画
素のスキャン画像データの平均値として欠陥補正対象画
素のスキャン画像データを生成してもよく、欠陥補正対
象画素、及び欠陥補正対象画素に接する８近傍の画素を
用いたメディアンフィルタ等のランクフィルタを用いて
欠陥補正対象画素のスキャン画像データを生成してもよ
く、さらにこれらの方法を組み合わせて欠陥補正対象画
素のスキャン画像データを生成してもよい。これらの方
法を組み合わせた場合の欠陥補正対象画素のスキャン画
像データの生成方法としては、例えば欠陥補正対象画素
の８近傍の画素の平均濃度が所定値より大きい場合に前
後２画素のスキャン画像データの平均値を用い、平均濃
度が所定値未満の場合にメディアンフィルタを用いる、
といった方法が挙げられる。

【００９３】また、本実施形態では、エリアスキャナ補
正部１２０において欠陥画素が複数（例えば２個）連続
して検出された場合にアラームを発生する場合について
説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、
欠陥画素が１つでも検出されたらアラームを発生する形
態としてもよいし、所定個以上連続して検出されたらア
ラームを発生する形態としてもよいし、さらに、ユーザ
の画質に対する要求程度に応じてアラームの発生頻度を
可変とする形態としてもよい。

【００９４】また、本実施形態では、暗電流値に基づく
欠陥画素の判定、及びシェーディングデータに基づく
Ｒ、Ｇ、Ｂ各色毎の欠陥画素の判定の何れか１つでも欠
陥画素であると判定された場合に当該画素の補正を行う
場合について説明したが、本発明はこれに限定されるも
のではなく、例えば全ての判定が欠陥画素であった場合
にのみ当該画素の補正を行う形態としてもよい。

【００９５】また、本実施形態では、暗電流値に基づく
欠陥画素の判定、及びシェーディングデータに基づく
Ｒ、Ｇ、Ｂ各色毎の欠陥画素の判定の何れか１つでも欠
陥画素であると判定された場合にＲ、Ｇ、Ｂ全てのスキ
ャン画像データを補正する場合について説明したが、本
発明はこれに限定されるものではなく、Ｒ、Ｇ、Ｂの何
れかのシェーディングデータに基づいて欠陥画素である
と判定された場合には、欠陥画素と判定された色のスキ
ャン画像データのみを補正するようにしてもよい。

【００９６】また、本実施形態では、暗電流補正部１２
４における暗電流値の測定回数、及びシェーディング補
正部１２８におけるシェーディングデータの測定回数
を、各々１回のみとした場合について説明したが、本発
明はこれに限定されるものではなく、双方とも複数回測
定し、平均値として求める形態としてもよい。この場
合、１回のみ測定する場合に比較して、処理時間がかか
る半面、より安定した値を得ることができる。

【００９７】さらに、本実施形態では、欠陥画素の判定
結果を、図１２に示したように、１画素毎に４ビットの
記憶領域に記憶する場合について説明したが、本発明は
これに限定されるものではなく、例えば欠陥画素と判定
された画素のみの位置を示すアドレスデータをメモリに
記憶する形態としてもよい。この場合、欠陥画素数が少
ない場合には、本実施形態の記憶方法に比較して、メモ
リ容量を小さくすることができる。

【００９８】なお、欠陥画素のスキャン画像データの補
正方法としてランクフィルタを用いる場合には、欠陥画
素のみではなく全ての画素のスキャン画像データについ
て適用することによって、結果的に欠陥画素のスキャン
画像データを補正させることも可能である。この場合、
本実施形態における欠陥画素補正部１３０における欠陥
画素の検出、及び検出結果のメモリへの記憶を行う必要
がなく、欠陥画素の検出のための時間、及び検出結果の
記憶のためのメモリを不要とすることができる。

【００９９】〔その他の実施形態〕次に本発明の他の実
施の形態について説明する。

【０１００】ＣＣＤ（エリアＣＣＤ、ラインＣＣＤ）の
各ＣＣＤセルからの出力データが入射光量に比例してい
ない（リニアリティが悪い）場合、セットアップ演算の
誤差が大きくなったり、色の再現性が悪くなったりす
る。特にＣＣＤを高速で駆動した場合には、ＣＣＤセル
や周辺回路の周波数特性の問題等からＣＣＤから安定し
た出力波形が得られない場合があり、これが原因となっ
てリニアリティが悪化する場合がある。このような問題
点を解消する方法として、ＣＣＤ周辺のアナログ回路の
周波数特性を改善する方法が考えられるが、この方法で
は、このために要する部品が高額である、回路の設計変
更や評価のための時間がかかる、効果を容易に得ること
ができない、等の問題点がある。

【０１０１】そこで本実施形態では、図１６に示すよう
に、エリアスキャナ補正部１２０における暗電流補正部
１２４の前段にエリアＣＣＤ４２のリニアリティを補正
するための直線性補正部１２３を設けている。

【０１０２】直線性補正部１２３では、予め複数の既知
の光量をエリアＣＣＤ４２に入射したときの各ＣＣＤセ
ルからの出力データを測定して、該出力データに基づい
て、エリアＣＣＤスキャナ１２から入力されたスキャン
画像データのリニアリティを補正できるようなルックア
ップテーブルを作成して記憶しておき、実際のフィルム
画像の読み取りの際には、エリアＣＣＤスキャナ１２か
ら入力された画素毎のスキャン画像データに対して、上
記ルックアップテーブルを用いて画素毎にリニアリティ
の補正を行った後、暗電流補正部１２４に出力する。

【０１０３】以上のように本実施形態では、ＣＣＤのリ
ニアリティを補正するための直線性補正部１２３を設け
たので、容易にリニアリティのよいスキャン画像データ
を得ることができる。

【０１０４】なお、本実施形態では、直線性補正部１２
３を暗電流補正部１２４の前段に設けた場合について説
明したが、図７における濃度変換部１２６に代えて、濃
度変換部１２６を構成する図示しない輝度値・濃度値変
換用のルックアップテーブルに、上記直線性補正部１２
３のルックアップテーブルの機能を兼用させた濃度変換
・直線性補正部１２６Ｂ（図１７参照）としても本実施
形態と同様の効果が得られると共に、この場合はさらに
本実施形態に比較して、直線性補正部１２３を不要とす
ることができるので、装置のコストを低下させることが
できる。

【０１０５】

【発明の効果】請求項１乃至請求項４の何れか１項記載
の欠陥画素修正装置及び請求項５記載の欠陥画素修正方
法によれば、予め画像センサの欠陥画素の検出が行わ
れ、検出された欠陥画素の画像データが該欠陥画素の周
辺画素の画像データに基づいて自動的に生成されるの
で、画像センサの画素の欠陥の数をある程度許容するこ
とができ、画像センサの歩留りを良くすることができる
と共に、塵、埃、傷等の外的要因に起因する欠陥画素の
画像データを修正することができる、という効果が得ら
れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施形態に係るディジタルラボシステムの概
略ブロック図である。

【図２】ディジタルラボシステムの外観図である。

【図３】エリアＣＣＤスキャナの光学系の概略構成図で
ある。

【図４】エリアＣＣＤスキャナの電気系の概略構成を示
すブロック図である。

【図５】ラインＣＣＤスキャナの光学系の概略構成図で
ある。

【図６】画像処理部の概略構成を示すブロック図であ
る。

【図７】エリアスキャナ補正部の詳細構成を示すブロッ
ク図である。

【図８】レーザプリンタ部の露光部の光学系の概略構成
図である。

【図９】レーザプリンタ部及びプロセッサ部の電気系の
概略構成を示すブロック図である。

【図１０】エリアＣＣＤの画素毎の暗電流値の分布状
態、及び所定値Ｂ₁ の一例を示すグラフである。

【図１１】エリアＣＣＤの画素毎のシェーディングデー
タの分布状態、及び所定範囲の上限値ｗ₁ 、下限値ｗ₂
の一例を示すグラフである。

【図１２】欠陥画素の判定結果の記憶領域を示す概略図
である。

【図１３】欠陥画素の補正方法を説明する概略図であ
る。

【図１４】欠陥画素の補正を行うための回路の一例を示
す回路図である。

【図１５】実施形態のその他の欠陥画素の補正方法を説
明する概略図である。

【図１６】その他の実施形態に係るエリアスキャナ補正
部の構成例を示すブロック図である。

【図１７】その他の実施形態に係るエリアスキャナ補正
部のその他の構成例を示すブロック図である。

【符号の説明】

１２０ エリアスキャナ補正部（欠陥画素修正装置） １２４ 暗電流補正部（暗電流測定手段） １２６ 濃度変換部 １２７ アラーム発生源（アラーム発生手段） １２８ シェーディング補正部（シェーディング測定
手段） １３０ 欠陥画素補正部（欠陥画素検出手段、欠陥画
素補正手段）

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 画像を複数画素に分割して読み取り画素
   毎に画像データを出力する画像センサの画素毎の暗電流
   値を測定する暗電流測定手段と、 前記画像センサの画素毎のシェーディングを補正するた
   めのシェーディングデータを測定するシェーディング測
   定手段と、 前記暗電流測定手段により測定された暗電流値が所定値
   以上であるか否かの判定、及び前記シェーディング測定
   手段により測定されたシェーディングデータが所定範囲
   外か否かの判定、の少なくとも一方の判定に基づいて欠
   陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、 前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の画像
   データを該欠陥画素の周辺画素の画像データに基づいて
   生成する欠陥画素補正手段と、 を備えた欠陥画素修正装置。
2. 【請求項２】 前記欠陥画素検出手段により欠陥画素が
   検出された場合、アラームを発生するアラーム発生手段
   をさらに備えた請求項１記載の欠陥画素修正装置。
3. 【請求項３】 前記欠陥画素補正手段は、前記欠陥画素
   検出手段により検出された欠陥画素の画像データを該欠
   陥画素の近傍の画素の画像データ、及びランクフィルタ
   の少なくとも一方を用いて生成する請求項１又は請求項
   ２記載の欠陥画素修正装置。
4. 【請求項４】 前記ランクフィルタはメディアンフィル
   タである請求項３記載の欠陥画素修正装置。
5. 【請求項５】 画像を複数画素に分割して読み取り画素
   毎に画像データを出力する画像センサの画素毎の暗電流
   値、及び前記画像センサの画素毎のシェーディングを補
   正するためのシェーディングデータを予め測定すると共
   に、前記暗電流値が所定値以上であるか否かの判定、及
   び前記シェーディングデータが所定範囲外か否かの判
   定、の少なくとも一方の判定に基づいて欠陥画素を検出
   し、 検出された欠陥画素の画像データを該欠陥画素の周辺画
   素の画像データに基づいて生成する欠陥画素修正方法。