JPH11271455A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
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- JPH11271455A JPH11271455A JP7701598A JP7701598A JPH11271455A JP H11271455 A JPH11271455 A JP H11271455A JP 7701598 A JP7701598 A JP 7701598A JP 7701598 A JP7701598 A JP 7701598A JP H11271455 A JPH11271455 A JP H11271455A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 放射線測定装置において、ケミカル・ルミネ
ッセンスなどに起因する偽計数を判定して測定結果から
除外する。 【解決手段】 サンプル１０は、放射性試料に対して液
体シンチレータを混入してなるものである。その両側に
は二つの光電子増倍管１２，１４が設けられ、それらの
出力パルスは同時計数回路１６に入力されている。偽計
数推定回路２８においては、出力パルスのパルス幅及び
少なくとも一つの光電子増倍管からの出力パルスの計数
値に基づいて理論的に偽計数を推定している。減算器３
０ではその偽計数が全計数から除外され、これにより真
の計数が求められている。推定された偽計数を用いて計
測スペクトルから偽計数スペクトルが除去され、これに
より真のサンプルスペクトルが求められている。
ッセンスなどに起因する偽計数を判定して測定結果から
除外する。 【解決手段】 サンプル１０は、放射性試料に対して液
体シンチレータを混入してなるものである。その両側に
は二つの光電子増倍管１２，１４が設けられ、それらの
出力パルスは同時計数回路１６に入力されている。偽計
数推定回路２８においては、出力パルスのパルス幅及び
少なくとも一つの光電子増倍管からの出力パルスの計数
値に基づいて理論的に偽計数を推定している。減算器３
０ではその偽計数が全計数から除外され、これにより真
の計数が求められている。推定された偽計数を用いて計
測スペクトルから偽計数スペクトルが除去され、これに
より真のサンプルスペクトルが求められている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は放射線測定装置に関
し、特に、液体シンチレーションを利用して放射性試料
からの放射線を測定する装置に関する。
し、特に、液体シンチレーションを利用して放射性試料
からの放射線を測定する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術及びその課題】放射線測定装置である液体
シンチレーションカウンタにおいては、液体シンチレー
タとともに放射性試料がバイアルに収容され、そのバイ
アルからの光が光電子増倍管（ＰＭＴ）で検出される。
この場合、ノイズを排除するために、複数の光電子増倍
管の出力パルスについて同時計数が行われる。
シンチレーションカウンタにおいては、液体シンチレー
タとともに放射性試料がバイアルに収容され、そのバイ
アルからの光が光電子増倍管（ＰＭＴ）で検出される。
この場合、ノイズを排除するために、複数の光電子増倍
管の出力パルスについて同時計数が行われる。
【０００３】放射線の測定に当たって、偽計数を生じさ
せる要因としては、光電子増倍管内部での熱雑音、燐
光、ケミカル・ルミネッセンス（化学反応による発
光）、などが挙げられる。それらをダークノイズと総称
する場合もある。ここで、ケミカル・ルミネッセンスな
どによる発光は微弱であるために、通常、複数の光電子
増倍管で同時検出される確率は小さい。
せる要因としては、光電子増倍管内部での熱雑音、燐
光、ケミカル・ルミネッセンス（化学反応による発
光）、などが挙げられる。それらをダークノイズと総称
する場合もある。ここで、ケミカル・ルミネッセンスな
どによる発光は微弱であるために、通常、複数の光電子
増倍管で同時検出される確率は小さい。
【０００４】しかしながら、測定精度を向上させるため
には、ケミカル・ルミネッセンスによる光が偶発的に同
時計数（チャンス・コインシデンス）される確率も無視
できない。そこで、従来、ディレイド・コインシデンス
回路によって、出力パルスを若干ディレーさせてもとの
出力パルスと比較することにより、真の計数のみを推定
するようなことも行われている。すなわち、ダークノイ
ズのランダム性に基づきそれを相殺するものである。
には、ケミカル・ルミネッセンスによる光が偶発的に同
時計数（チャンス・コインシデンス）される確率も無視
できない。そこで、従来、ディレイド・コインシデンス
回路によって、出力パルスを若干ディレーさせてもとの
出力パルスと比較することにより、真の計数のみを推定
するようなことも行われている。すなわち、ダークノイ
ズのランダム性に基づきそれを相殺するものである。
【０００５】ところが、シンチレータにおいてアフター
パルスが生じている場合、それをケミカル・ルミネッセ
ンスなどによるパルスと誤認定してしまう可能性もあ
る。近年使用されているシンチレータの中にはアフター
パルスを比較的多く発生するものがあり、上記問題が顕
著になってきている。
パルスが生じている場合、それをケミカル・ルミネッセ
ンスなどによるパルスと誤認定してしまう可能性もあ
る。近年使用されているシンチレータの中にはアフター
パルスを比較的多く発生するものがあり、上記問題が顕
著になってきている。
【０００６】本発明は、上記従来の課題に鑑みなされた
ものであり、その目的は、放射線測定において、ケミカ
ル・ルミネッセンスなどに起因する偽計数を判定して測
定結果から除外することにより、真の計数を高精度に推
定することにある。
ものであり、その目的は、放射線測定において、ケミカ
ル・ルミネッセンスなどに起因する偽計数を判定して測
定結果から除外することにより、真の計数を高精度に推
定することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、液体シンチレータが混入された放射性試
料からの放射線を測定する放射線測定装置において、前
記放射性試料の近傍に設けられた複数の光電子増倍管
と、前記複数の光電子増倍管の出力パルスに対して同時
計数を行う同時計数部と、前記複数の光電子増倍管の出
力の内の少なくとも１つの出力パルスとそのパルス幅と
に基づいて偽計数成分を推定する偽計数推定部と、前記
同時計数部による同時計数結果から前記偽計数成分を除
外して真の計数値を推定する偽計数除外部と、を含むこ
とを特徴とする。
に、本発明は、液体シンチレータが混入された放射性試
料からの放射線を測定する放射線測定装置において、前
記放射性試料の近傍に設けられた複数の光電子増倍管
と、前記複数の光電子増倍管の出力パルスに対して同時
計数を行う同時計数部と、前記複数の光電子増倍管の出
力の内の少なくとも１つの出力パルスとそのパルス幅と
に基づいて偽計数成分を推定する偽計数推定部と、前記
同時計数部による同時計数結果から前記偽計数成分を除
外して真の計数値を推定する偽計数除外部と、を含むこ
とを特徴とする。
【０００８】上記構成によれば、偽計数推定部によって
計算により偽計数成分が推定され、実際の計数値から偽
計数成分が減算されて、真の計数値が推定される。
計算により偽計数成分が推定され、実際の計数値から偽
計数成分が減算されて、真の計数値が推定される。
【０００９】ここで、例えば２つの光電子増倍管を利用
して同時計数を行う場合、第１の光電子増倍管の計数値
をＬＯＧ１（Ｓ-1）とし、第２の光電子増倍管の計数値
をＬＯＧ２（Ｓ-1）とし、それらの光電子増倍管の出力
パルスに対して同時計数を行った場合のコインシデンス
成分をＣＯＩＮ（Ｓ-1）とし、光電子増倍管の出力パル
ス幅をτ（ｓ）とすれば、偽計数成分すなわち偶発同時
計数成分Ｎ（Ｓ-1）は理論的に以下の計算式によって算
出される。
して同時計数を行う場合、第１の光電子増倍管の計数値
をＬＯＧ１（Ｓ-1）とし、第２の光電子増倍管の計数値
をＬＯＧ２（Ｓ-1）とし、それらの光電子増倍管の出力
パルスに対して同時計数を行った場合のコインシデンス
成分をＣＯＩＮ（Ｓ-1）とし、光電子増倍管の出力パル
ス幅をτ（ｓ）とすれば、偽計数成分すなわち偶発同時
計数成分Ｎ（Ｓ-1）は理論的に以下の計算式によって算
出される。
【００１０】
【数１】 Ｎ＝２τ（ＬＯＧ１−ＣＯＩＮ）（ＬＯＧ２−ＣＯＩＮ）・・・（１） または Ｎ＝２τ（ＬＯＧ１−ＣＯＩＮ）2 ・・・（２） ちなみに、第３の光電子増倍管がある場合には、それに
よる計数値をＬＯＧ３（Ｓ-1）として、偶発同時計数成
分Ｎは以下のように求められられる。
よる計数値をＬＯＧ３（Ｓ-1）として、偶発同時計数成
分Ｎは以下のように求められられる。
【００１１】
【数２】 Ｎ＝２τ（ＬＯＧ１−ＣＯＩＮ）（ＬＯＧ２−ＣＯＩＮ） ＋２τ（ＬＯＧ１−ＣＯＩＮ）（ＬＯＧ３−ＣＯＩＮ） ＋２τ（ＬＯＧ２−ＣＯＩＮ）（ＬＯＧ３−ＣＯＩＮ） ・・・（３） または Ｎ＝６τ（ＬＯＧ１−ＣＯＩＮ）2 ・・・（４） なお、ＣＯＩＮが各ＬＯＧよりもかなり小さく、上記計
算式上において各ＬＯＧが支配的になることを考慮する
ならば、上記各式においてＣＯＩＮを削除しても、偽計
数成分を推定できることになる。上記τは例えば２×１
０-8Ｓ程度である。
算式上において各ＬＯＧが支配的になることを考慮する
ならば、上記各式においてＣＯＩＮを削除しても、偽計
数成分を推定できることになる。上記τは例えば２×１
０-8Ｓ程度である。
【００１２】よって、上記のような各計算式に基づいて
推定される偽計数成分を実際の計数値から除外すれば真
の計数値を推定可能である。
推定される偽計数成分を実際の計数値から除外すれば真
の計数値を推定可能である。
【００１３】本発明の好適な態様では、前記偽計数推定
部は、更に前記同時計数結果を併せて考慮して偽計数成
分を推定する。望ましくは、前記偽計数推定部は、すべ
ての光電子増倍管の出力を考慮して偽計数成分を推定す
る。望ましくは、前記真の計数値と前記偽計数成分の比
から測定精度を判定する手段を含む。例えば、測定精度
Ｘ＝偽計数成分／全計数×１００（％）と定義し、その
大きさに応じてランク（警告レベル）を決定してもよ
い。そのランクが表示されれば測定結果の確からしさを
把握できる。
部は、更に前記同時計数結果を併せて考慮して偽計数成
分を推定する。望ましくは、前記偽計数推定部は、すべ
ての光電子増倍管の出力を考慮して偽計数成分を推定す
る。望ましくは、前記真の計数値と前記偽計数成分の比
から測定精度を判定する手段を含む。例えば、測定精度
Ｘ＝偽計数成分／全計数×１００（％）と定義し、その
大きさに応じてランク（警告レベル）を決定してもよ
い。そのランクが表示されれば測定結果の確からしさを
把握できる。
【００１４】本発明の好適な態様では、偽計数スペクト
ルパターンを記憶しておくパターン記憶部と、前記偽計
数成分の大きさに基づいて前記偽計数スペクトルパター
ンの大きさを調整して偽計数スペクトルを推定するスペ
クトル推定手段と、測定された実際のスペクトルから前
記偽計数スペクトルを除外して真のサンプルスペクトル
を推定するスペクトル演算手段と、を含む。
ルパターンを記憶しておくパターン記憶部と、前記偽計
数成分の大きさに基づいて前記偽計数スペクトルパター
ンの大きさを調整して偽計数スペクトルを推定するスペ
クトル推定手段と、測定された実際のスペクトルから前
記偽計数スペクトルを除外して真のサンプルスペクトル
を推定するスペクトル演算手段と、を含む。
【００１５】上記構成によれば、推定された偽計数成分
の大きさから偽計数スペクトルが推定され、それを実際
のスペクトルから除外することによって真のサンプルス
ペクトルを自動的に推定できる。
の大きさから偽計数スペクトルが推定され、それを実際
のスペクトルから除外することによって真のサンプルス
ペクトルを自動的に推定できる。
【００１６】本発明によれば、ダークノイズなどによる
偶発同時計数の成分を排除して低バックグランド測定を
実現可能である。
偶発同時計数の成分を排除して低バックグランド測定を
実現可能である。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態を
図面に基づいて説明する。
図面に基づいて説明する。
【００１８】図１には、本発明に係る放射線測定装置の
好適な実施形態が示されており、図１は装置の全体構成
を示すブロック図である。
好適な実施形態が示されており、図１は装置の全体構成
を示すブロック図である。
【００１９】図１において、サンプル１０は、放射線を
発生する放射性物質を含有した液体試料であって、サン
プル１０には液体シンチレータが混入されている。これ
らの液体試料は例えばバイアル等の容器に収容されてい
る。本実施形態において、サンプル１０の両側には一対
の光電子増倍管１２，１４が設けられており、すなわ
ち、それらの光電子増倍管１２，１４はサンプル１０を
介して互いに対向配置されている。
発生する放射性物質を含有した液体試料であって、サン
プル１０には液体シンチレータが混入されている。これ
らの液体試料は例えばバイアル等の容器に収容されてい
る。本実施形態において、サンプル１０の両側には一対
の光電子増倍管１２，１４が設けられており、すなわ
ち、それらの光電子増倍管１２，１４はサンプル１０を
介して互いに対向配置されている。
【００２０】図１には二つの光電子増倍管が示されてい
るが、もちろん本発明は三つ以上の光電子増倍管によっ
て測定が行われる場合においても適用可能である。サン
プル１０において放射線が発生すると、それが液体シン
チレータの発光として光電子増倍管１２，１４にて検出
される。
るが、もちろん本発明は三つ以上の光電子増倍管によっ
て測定が行われる場合においても適用可能である。サン
プル１０において放射線が発生すると、それが液体シン
チレータの発光として光電子増倍管１２，１４にて検出
される。
【００２１】同時計数回路１６には、光電子増倍管１
２，１４から出力された出力パルスが入力されている。
同時計数回路１６は、それらの出力パルスが同時に得ら
れた場合にのみ同時パルスを出力する公知の回路であ
る。その同時パルスはカウンタ１８に入力され、そのカ
ウンタ１８によって単位時間当たりの計数率に相当する
計数値ＣＯＩＮが計測される。上述したように、同時計
数回路１６によれば、例えば光電子増倍管内部で発生す
る熱雑音などを排除して、サンプル１０にて生じた放射
線のみを計測することが可能となる。但し、上述したよ
うに、ケミカル・ルミネッセンス等のダークノイズ成分
も検出する可能性もあり、計数値ＣＯＩＮにはそのよう
なダークノイズなどによる偶発同時計数、すなわち偽計
数成分が含まれている可能性がある。
２，１４から出力された出力パルスが入力されている。
同時計数回路１６は、それらの出力パルスが同時に得ら
れた場合にのみ同時パルスを出力する公知の回路であ
る。その同時パルスはカウンタ１８に入力され、そのカ
ウンタ１８によって単位時間当たりの計数率に相当する
計数値ＣＯＩＮが計測される。上述したように、同時計
数回路１６によれば、例えば光電子増倍管内部で発生す
る熱雑音などを排除して、サンプル１０にて生じた放射
線のみを計測することが可能となる。但し、上述したよ
うに、ケミカル・ルミネッセンス等のダークノイズ成分
も検出する可能性もあり、計数値ＣＯＩＮにはそのよう
なダークノイズなどによる偶発同時計数、すなわち偽計
数成分が含まれている可能性がある。
【００２２】光電子増倍管１２の出力パルスはカウンタ
２０に入力され、一方、光電子増倍管１４からの出力パ
ルスはカウンタ２２に入力されている。これらのカウン
タ２０，２２によって出力パルスの計数が行われ、これ
により計数率に相当する計数値ＬＯＧ１及びＬＯＧ２が
求められている。
２０に入力され、一方、光電子増倍管１４からの出力パ
ルスはカウンタ２２に入力されている。これらのカウン
タ２０，２２によって出力パルスの計数が行われ、これ
により計数率に相当する計数値ＬＯＧ１及びＬＯＧ２が
求められている。
【００２３】減算器２４においては、ＬＯＧ１−ＣＯＩ
Ｎの計算が実行されており、これと同様に、減算器２６
においてはＬＯＧ２−ＣＯＩＮの計算が実行されてい
る。そして、その計算結果が偽計数推定回路２８に入力
されている。偽計数推定回路２８は、上述した（１）式
などの計算を実行して偽計数Ｎを推定演算する回路であ
る。すなわち偽計数の発生確率に従って偽計数を推定す
るものである。この偽計数の推定に当たっては、少なく
とも光電子増倍管１２，１４から出力される出力パルス
のパルス幅τといずれかの光電子増倍管１２，１４によ
る計数値が利用される。もちろん、理想的には上記の
（１）式に示した演算が実行される。もちろん、そのよ
うな演算に代えて上記の（２）式に示した計算やあるい
はその計算式からＣＯＩＮの項を除外した計算が実行さ
れる。
Ｎの計算が実行されており、これと同様に、減算器２６
においてはＬＯＧ２−ＣＯＩＮの計算が実行されてい
る。そして、その計算結果が偽計数推定回路２８に入力
されている。偽計数推定回路２８は、上述した（１）式
などの計算を実行して偽計数Ｎを推定演算する回路であ
る。すなわち偽計数の発生確率に従って偽計数を推定す
るものである。この偽計数の推定に当たっては、少なく
とも光電子増倍管１２，１４から出力される出力パルス
のパルス幅τといずれかの光電子増倍管１２，１４によ
る計数値が利用される。もちろん、理想的には上記の
（１）式に示した演算が実行される。もちろん、そのよ
うな演算に代えて上記の（２）式に示した計算やあるい
はその計算式からＣＯＩＮの項を除外した計算が実行さ
れる。
【００２４】減算器３０においては、カウンタ１８から
出力される計数値ＣＯＩＮから偽計数Ｎを減算する計算
が実行され、これにより真の計数が推定される。すなわ
ち理論的に求められる偽計数が実際に計測された計数値
から減算され、これによって真の計数値が推定されてい
る。
出力される計数値ＣＯＩＮから偽計数Ｎを減算する計算
が実行され、これにより真の計数が推定される。すなわ
ち理論的に求められる偽計数が実際に計測された計数値
から減算され、これによって真の計数値が推定されてい
る。
【００２５】従って、この図１に示す実施形態によれ
ば、ダークノイズなどによる偽計数を効果的に排除して
測定精度を高められるという利点がある。
ば、ダークノイズなどによる偽計数を効果的に排除して
測定精度を高められるという利点がある。
【００２６】判定回路３２は、全計数であるＣＯＩＮと
偽計数との比を演算することによっって測定精度も判定
する回路である。その判定結果に基づき警告レベルが決
定されており、例えばその警告レベルとして５段階評価
がなされる。このような警告レベル情報を例えば表示器
に表示することによって、真の計数値の確からしさを把
握することが可能となる。
偽計数との比を演算することによっって測定精度も判定
する回路である。その判定結果に基づき警告レベルが決
定されており、例えばその警告レベルとして５段階評価
がなされる。このような警告レベル情報を例えば表示器
に表示することによって、真の計数値の確からしさを把
握することが可能となる。
【００２７】二つの光電子増倍管１２，１４からの出力
パルスは、加算器３４に入力され、両者が加算された後
にその加算結果がスペクトラムアナライザ３６に入力さ
れている。なお、同時計数回路１６の出力をスペクトラ
ムアナライザ３６に入力し、同時計数回路１６の出力が
あるときのみ、加算器３４の加算結果を解析するゲート
として使用する。このスペクトラムアナライザ３６は、
周知のように放射線スペクトルを解析する装置である。
しかしながら、そのように求められる計測スペクトルに
は偽計数によるスペクトルも含まれる。そこで、本実施
形態においてはその偽計数スペクトルを除外するために
スペクトルパターン記憶部３８及び演算回路４０が設け
られている。
パルスは、加算器３４に入力され、両者が加算された後
にその加算結果がスペクトラムアナライザ３６に入力さ
れている。なお、同時計数回路１６の出力をスペクトラ
ムアナライザ３６に入力し、同時計数回路１６の出力が
あるときのみ、加算器３４の加算結果を解析するゲート
として使用する。このスペクトラムアナライザ３６は、
周知のように放射線スペクトルを解析する装置である。
しかしながら、そのように求められる計測スペクトルに
は偽計数によるスペクトルも含まれる。そこで、本実施
形態においてはその偽計数スペクトルを除外するために
スペクトルパターン記憶部３８及び演算回路４０が設け
られている。
【００２８】スペクトルパターン記憶部３８は、偽計数
スペクトルの基本パターンを記憶した記憶部である。演
算回路４０は、スペクトルパターン記憶部３８に記憶さ
れた偽計数スペクトルに対して偽計数推定回路２８から
出力された偽計数の大きさによる重み付けを行って偽計
数スペクトルを推定し、それをスペクトラムアナライザ
３６で求められた実際のスペクトルから減算することに
よって、真のサンプルスペクトルを演算する回路であ
る。その作用が図２に示されている。
スペクトルの基本パターンを記憶した記憶部である。演
算回路４０は、スペクトルパターン記憶部３８に記憶さ
れた偽計数スペクトルに対して偽計数推定回路２８から
出力された偽計数の大きさによる重み付けを行って偽計
数スペクトルを推定し、それをスペクトラムアナライザ
３６で求められた実際のスペクトルから減算することに
よって、真のサンプルスペクトルを演算する回路であ
る。その作用が図２に示されている。
【００２９】図２（Ａ）において、計測スペクトル１０
０は、スペクトラムアナライザ３６で求められた全計数
のスペクトルであって、それは理論的には真のサンプル
スペクトル１０２と偽計数スペクトル１０４との合成ス
ペクトルとして定義される。演算回路４０においては、
スペクトルパターン記憶部３８で発生された偽計数スペ
クトルの基本パターンに対して偽計数推定回路２８で求
められた偽計数の大きさに基づくパターンフィッティン
グを実行し、すなわちスペクトルパターンの重み付けを
行って偽計数スペクトル１０４Ａを推定する（（Ｂ）参
照）。そして、計測スペクトル１００から偽計数スペク
トル１０４Ａを減算することによって（Ｃ）に示すよう
に真のサンプルスペクトル１０２Ａの推定を行ってい
る。その真のサンプルスペクトルは表示器に表示される
ことになる。従って、上記実施形態によれば、真の計数
を推定できると共に、その真の計数に対応した真のサン
プルスペクトルも同時に表示できるという利点がある。
なお、上記実施形態では二つの光電子増倍管が用いられ
ていたが、もちろん三つ以上の光電子増倍管を用いて上
記同様の処理を行ってもよい。例えば、三つの光電子増
倍管が用いられる場合、上述した（３）式や（４）式に
基づく演算が実行され、これによって偽計数が推定され
る。
０は、スペクトラムアナライザ３６で求められた全計数
のスペクトルであって、それは理論的には真のサンプル
スペクトル１０２と偽計数スペクトル１０４との合成ス
ペクトルとして定義される。演算回路４０においては、
スペクトルパターン記憶部３８で発生された偽計数スペ
クトルの基本パターンに対して偽計数推定回路２８で求
められた偽計数の大きさに基づくパターンフィッティン
グを実行し、すなわちスペクトルパターンの重み付けを
行って偽計数スペクトル１０４Ａを推定する（（Ｂ）参
照）。そして、計測スペクトル１００から偽計数スペク
トル１０４Ａを減算することによって（Ｃ）に示すよう
に真のサンプルスペクトル１０２Ａの推定を行ってい
る。その真のサンプルスペクトルは表示器に表示される
ことになる。従って、上記実施形態によれば、真の計数
を推定できると共に、その真の計数に対応した真のサン
プルスペクトルも同時に表示できるという利点がある。
なお、上記実施形態では二つの光電子増倍管が用いられ
ていたが、もちろん三つ以上の光電子増倍管を用いて上
記同様の処理を行ってもよい。例えば、三つの光電子増
倍管が用いられる場合、上述した（３）式や（４）式に
基づく演算が実行され、これによって偽計数が推定され
る。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
放射線測定において、ケミカル・ルミネッセンス等に起
因する偶発同時計数による偽計数を判定して測定結果か
ら除外することにより真の計数を高精度に推定可能であ
る。
放射線測定において、ケミカル・ルミネッセンス等に起
因する偶発同時計数による偽計数を判定して測定結果か
ら除外することにより真の計数を高精度に推定可能であ
る。
【図１】 本発明に係る放射線測定装置の全体構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図２】 真のサンプルスペクトルの演算手法を示す説
明図である。
明図である。
１０ サンプル、１２，１４ 光電子増倍管、１６ 同
時計数回路、１８，２０，２２ カウンタ、２４，２
６，３０ 減算器、２８ 偽計数推定回路、３４加算
器、３６ スペクトラムアナライザ。
時計数回路、１８，２０，２２ カウンタ、２４，２
６，３０ 減算器、２８ 偽計数推定回路、３４加算
器、３６ スペクトラムアナライザ。
Claims (5)
- 【請求項１】 液体シンチレータが混入された放射性試
料からの放射線を測定する放射線測定装置において、 前記放射性試料の近傍に設けられた複数の光電子増倍管
と、 前記複数の光電子増倍管の出力パルスに対して同時計数
を行う同時計数部と、 前記複数の光電子増倍管の出力の内の少なくとも１つの
出力パルスとそのパルス幅とに基づいて偽計数成分を推
定する偽計数推定部と、 前記同時計数部による同時計数結果から前記偽計数成分
を除外して真の計数値を推定する偽計数除外部と、 を含むことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の装置において、 前記偽計数推定部は、更に前記同時計数結果を併せて考
慮して偽計数成分を推定することを特徴とする放射線測
定装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の装置において、 前記偽計数推定部は、すべての光電子増倍管の出力を考
慮して偽計数成分を推定することを特徴とする放射線測
定装置。 - 【請求項４】 請求項１記載の装置において、 前記真の計数値と前記偽計数成分の比から測定精度を判
定する手段を含むことを特徴とする放射線測定装置。 - 【請求項５】 請求項１記載の装置において、 偽計数スペクトルパターンを記憶しておくパターン記憶
部と、 前記偽計数成分の大きさに基づいて前記偽計数スペクト
ルパターンの大きさを調整して偽計数スペクトルを推定
するスペクトル推定手段と、 測定された実際のスペクトルから前記偽計数スペクトル
を除外して真のサンプルスペクトルを推定するスペクト
ル演算手段と、 を含むことを特徴とする放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7701598A JP3301958B2 (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7701598A JP3301958B2 (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 放射線測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11271455A true JPH11271455A (ja) | 1999-10-08 |
| JP3301958B2 JP3301958B2 (ja) | 2002-07-15 |
Family
ID=13621942
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7701598A Expired - Lifetime JP3301958B2 (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3301958B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006067977A1 (ja) * | 2004-12-21 | 2006-06-29 | Rion Co., Ltd. | 粒子計数器 |
| JP2012013563A (ja) * | 2010-07-01 | 2012-01-19 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線測定装置 |
| JP2016109526A (ja) * | 2014-12-05 | 2016-06-20 | 株式会社日立製作所 | 放射線計測装置、放射線計測における偶発同時計数成分算定方法、及び放射線計測方法 |
| WO2018056266A1 (ja) * | 2016-09-26 | 2018-03-29 | 株式会社日立製作所 | 液体シンチレーションカウンタ及び液体シンチレーション計測方法 |
-
1998
- 1998-03-25 JP JP7701598A patent/JP3301958B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006067977A1 (ja) * | 2004-12-21 | 2006-06-29 | Rion Co., Ltd. | 粒子計数器 |
| JP2006177687A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Rion Co Ltd | 粒子計数器 |
| US7755760B2 (en) | 2004-12-21 | 2010-07-13 | Rion Co., Ltd. | Particle counter for measuring floating particles which can effectively reduce false counts |
| JP2012013563A (ja) * | 2010-07-01 | 2012-01-19 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線測定装置 |
| JP2016109526A (ja) * | 2014-12-05 | 2016-06-20 | 株式会社日立製作所 | 放射線計測装置、放射線計測における偶発同時計数成分算定方法、及び放射線計測方法 |
| WO2018056266A1 (ja) * | 2016-09-26 | 2018-03-29 | 株式会社日立製作所 | 液体シンチレーションカウンタ及び液体シンチレーション計測方法 |
| JP2018054331A (ja) * | 2016-09-26 | 2018-04-05 | 株式会社日立製作所 | 液体シンチレーションカウンタ |
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