JPH1126591A - 機能ブロック、半導体集積回路装置、及び集積回路のシミュレーション方法 - Google Patents

機能ブロック、半導体集積回路装置、及び集積回路のシミュレーション方法

Info

Publication number
JPH1126591A
JPH1126591A JP9182705A JP18270597A JPH1126591A JP H1126591 A JPH1126591 A JP H1126591A JP 9182705 A JP9182705 A JP 9182705A JP 18270597 A JP18270597 A JP 18270597A JP H1126591 A JPH1126591 A JP H1126591A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
output
terminal
signal
block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9182705A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3469046B2 (ja
Inventor
Fumio Sudo
文夫 須藤
Takao Shijo
貴夫 四條
Hiroki Muroga
啓希 室賀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Information Systems Japan Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Information Systems Japan Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Information Systems Japan Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP18270597A priority Critical patent/JP3469046B2/ja
Priority to US09/111,703 priority patent/US6218861B1/en
Publication of JPH1126591A publication Critical patent/JPH1126591A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3469046B2 publication Critical patent/JP3469046B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/24Marginal checking or other specified testing methods not covered by G06F11/26, e.g. race tests

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ブロックの入出力間遅延を簡単に見積もるこ
とができる機能ブロックを提供することである。 【解決手段】 機能ブロックを構成する回路構成要素の
入力端子と出力端子に、フリップフロップ回路を接続
し、機能ブロックに入力される信号をこのフリップフロ
ップで同期をとった後に入力し、出力側は、フリップフ
ロップで同期をとった後に出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ASIC(App
lication Specific Integra
ted Circuit)内に設けられた機能ブロッ
ク、この機能ブロックを複数個搭載した半導体集積回
路、及び機能ブロックを複数個搭載した集積回路のシミ
ュレーション方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体集積回路を利用し、各種の
システムを構成しようとするユーザは、所望とするシス
テムを実現するのに、CPUやメモリ、周辺制御用回路
等の各機能毎に作られた複数の集積回路チップを、プリ
ント基板上で配置配線して構成する手法をとってきた。
【0003】半導体集積回路の微細化技術が進歩して数
百万トランジスタを1チップ上に製造することが可能と
なった現在では、これら複数の集積回路チップを1チッ
プ上に構成することが可能となってきている(シリコン
・オン・システムから、システム・オン・シリコンへの
変化)。
【0004】このシステム・オン・シリコンへの変化に
対応するために、集積回路を製造する側では、CPUや
各種周辺制御回路等、いわゆる機能ブロックを多数取り
揃え、回路情報及びレイアウト情報を予め作り、ライブ
ラリ化を行っている。ユーザからの新規の集積回路開発
依頼に対しては、これらのライブラリを用いて迅速な開
発を行う体制が採られている。また、ユーザの仕様を満
足する製品を確実に製造するために、製造前の段階から
動作シミュレーンョンを行い、検証をとることが行われ
ている。
【0005】図4は、従来の機能ブロックの一例を示す
概要図である。
【0006】この機能ブロック200は、ファンクショ
ン部210と、このファンクション部210に接続され
る多数の入力端子221−0〜221−m及び出力端子
231−0〜231−nとを備えている。ファンクショ
ン部210は、複数のロジック部210−0〜210−
kから構成されている。
【0007】ファンクション部210の入出力側には、
フリップフロップが散在している。例えば入力端子22
1−0とロジック部210−0との間には、フリップフ
ロップ251が接続され、ロジック部210−1と出力
端子231−1との間にはフリップフロップ252が接
続されている。
【0008】フリップフロップ251,252のクロッ
ク端子には、入力端子222から入力されたシステムク
ロックCLKがバッファ241を介して供給され、さら
にそのリセット端子には、入力端子223から入力され
たシステムリセットRSTがバッファ242を介して供
給される。同時に、このシステムクロックCLK及びシ
ステムリセットRSTはファンクション部210にも与
えられる。
【0009】そして、各入力端子221−0〜221−
mには、外部より入力信号IN0〜INmがそれぞれ入
力され、各出力端子231−0〜231−nからは、フ
ァンクション部210からの出力信号OUT0〜OUT
nがそれぞれ出力される。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
半導体集積回路では、1チップに作り込む機能ブロック
群の巨大化や高速動作の要求から、回路構造が複雑にな
り、機能ブロックに対する入力から出力までの遅延時間
を正確に見積もることが困難になっている。その結果、
シミュレーションによる検証が難しいものになってきて
いる。
【0011】例として、2入力NANDゲートについて
説明する。一方の入力端子Aに対する信号変化から出力
変化までの遅延と、他方の入力端子Bに対する信号変化
から出力変化までの遅延とが異なっている。特に高速動
作が要求される製品の場合は、この遅延時間の差も厳密
に定義をしてシミュレーションを行わなければならな
い。このようなゲート回路が多数組み込まれた機能ブロ
ックは、多数の入力信号を持つため、ある状態の入力か
ら出力までの遅延時間を定義するのが非常に困難なもの
になってくる。
【0012】この例として、ファンクション部210の
持つロジック部210−kに入力される入力信号IN
2,INmと出力OUTnの関係を以下に述べる。
【0013】ロジック部210−kに入力される経路P
6,Pk及び出力される経路には、フリップフロップな
どの同期回路を含まないため、入力端子221−1,2
21−2へ入力される信号IN2,INmの変化が、あ
る遅延時間の後に出力信号OUTnとして出力端子23
1−nに出力される。但し、この遅延時間は、入力信号
が“1”から“0”に変化したのか、“0”から“1”
に変化したのかで異なってくる。これは遅延時間に入力
の状態依存性があるからである。加えて、入力信号IN
2の信号が変化したのか、入力信号INmの信号が変化
したのかでも異なってくる。これは、遅延時間に経路依
存性があるからである。この様に入力から出力までが非
同期の回路で形成されている経路は、遅延時間の定義が
困難である。
【0014】また、入力端子221−0へ与えられる信
号IN0は、一旦フリップフロップ251に入力し同期
がとられてから、ロジック部210−0に入力されてい
る。しかし、この場合もフリッブフロップ251のQ出
力から出力端子231−0までの遅延が定義困難であ
る。
【0015】ロジック部201−1に関しては、出力側
にフリップフロップ252が接続されている。出力につ
いては同期がとれるが、入力については同期回路を含ん
でないため、入力端子221−1に与えられる入力信号
IN1が他の機能ブロックなどからの信号であった場合
に、その入力されるタイミングが異なり、結果的に誤っ
たデータがこのフリップフロップ252に保持されてし
まうことも考えられる。
【0016】ASICは、この様な機能ブロックを多数
組み合わせて構成されている。このため、機能ブロック
Aの出力が機能ブロックBに入力される場合は、機能ブ
ロックAで生じる遅延時間が機能ブロックAに与えられ
る入力の状態によって異なるる。そのため、機能ブロッ
クAの出力が機能ブロックBに入力された場合は、機能
ブロックBの入力の時間的制約に違反し、機能ブロック
Bが誤動作を引き起こす可能性がある。
【0017】また、機能ブロックAの出力と機能ブロッ
クBの入力を接続する配線によって生じる信号の遅延
も、集積回格の微細化、及び高速動作の要求からは無視
できない大きさになってきている。このため、機能ブロ
ック単体での動作が保証できているとしても、機能ブロ
ックを複数組み合わせて動作を行わせる場合、動作が保
証できなくなる可能性がある。
【0018】このような点から、シミュレーションによ
る動作確認は非常に困難となっているのが現状である。
また、シミュレーションによって誤動作が確認できた場
合には、これを修正し完全な動作を行うようにする必要
があるが、従来では、機能ブロック間を接続する配線上
にタイミング調整回路(バッファ)を挿入するなどして
配線遅延を小さくする程度の修正しかできないのが実状
である。すなわち、機能ブロック本体を修正して誤動作
をなくすことは、機能ブロックをユーザの開発依頼毎に
新たに開発するのと同様のコストと時間がかかるため、
機能ブロックライブラリを揃えてユーザの開発依頼に迅
速に応えるという開発手法に逆行する。
【0019】図5は、上述のタイミング調整回路を挿入
した例を示す概要図である。
【0020】同図において、機能ブロック300と40
0間は、配線S1〜Snを介して接続されている。さら
に、クロック基幹線500から分岐したクロック支線が
前記機能ブロック300,400にそれぞれ供給され、
また、例えば配線S2,Skには上述したタイミング調
整回路510,511が挿入されている。なお、図中3
10,410はファンクション部である。310−0〜
310−kはファンクション部310に設けられたロジ
ック部であり、311,312は同期回路である。同様
に410−0〜410−kはファンクション部410に
設けられたロジック部であり、411〜413は同期回
路である。
【0021】本発明は、上述の如き従来の問題点を解決
するためになされたもので、その目的は、ブロックの入
出力間遅延を簡単に見積もることができる機能ブロック
を提供することである。またその他の目的は、機能ブロ
ックを複数組み合わせて動作を行わせる場合において、
確実に動作する半導体集積回路装置を提供することであ
る。さらに、その他の目的は、機能ブロックを複数組み
合わせて動作を行わせる場合において、動作シミュレー
ションを簡単なものとすることができる集積回路のシミ
ュレーション方法を提供することである。
【0022】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第1の発明である機能ブロックの特徴は、M個のブ
ロック入力端子及びN個のブロック出力端子と、前記各
ブロック入力端子側から入力される信号に対して出力を
生成して前記ブロック出力端子側へ供給するファンクシ
ョン部とを備え、且つASIC内に設けられた機能ブロ
ックにおいて、第1の入力端子、第1の出力端子及び第
1の制御用端子を有するY(Y≦M−1)個の第1の信
号保持回路から構成され、この各信号保持回路の第1の
制御用端子が共通の第1の制御信号線に接続された第1
の信号保持回路群と、第2の入力端子、第2の出力端子
及び第2の制御用端子を有するZ(Z≦N)個の第2の
信号保持回路から構成され、この各信号保持回路の第2
の制御用端子が共通の第2の制御信号線に接続された第
2の信号保持回路群とを設け、前記ブロック入力端子の
内のY個を前記第1の信号保持回路群の各第1の入力端
子にそれぞれ直接接続し、該Y個のブロック入力端子か
ら該第1の信号保持回路群へ入力された信号を、前記第
1の制御信号線に供給される第1の制御信号により同期
をとった後に前記第1の出力端子から前記ファンクショ
ン部の入力側へ入力すると共に、前記ブロック出力端子
の内のZ個を前記第2の信号保持回路群の各第2の出力
端子にそれぞれ接続し、前記ファンクション部の出力側
から出力された信号を該第2の信号保持回路群の前記第
2の入力端子に入力して、前記第2の制御信号線に供給
される第2の制御信号により同期をとった後に前記第2
の出力端子から出力し、前記第1及び第2の制御信号の
内の少なくとも1つを前記ファンクション部へ入力する
構成にしたことにある。
【0023】この第1の発明によれば、所定の信号を除
いて全ブロック入力端子への入力信号を一旦第1の信号
保持回路群で受け、ファンクション部と共通な第1の制
御信号で同期をとった後にファンクション部の入力側へ
入力し、その出力側に関しては、一旦第2の信号保持回
路群に入力し、第2の制御信号で同期をとった後に出力
する。これによって、この機能ブロックの入出力間遅延
を、第1及び第2の制御信号の周期を単位として簡単に
定義することができるようになる。
【0024】第2の発明である機能ブロックの特徴は、
上記第1の発明において、前記第1と第2の制御信号は
同一信号であり、この信号を前記ファンクション部に入
力する構成にしたことにある。
【0025】この第2の発明によれば、機能ブロックの
入出力が完全同期の形で構成され、機能ブロックの入出
力間遅延を、より簡単に定義することができるようにな
る。
【0026】第3の発明である機能ブロックの特徴は、
上記第1または第2の発明において、前記第1の信号保
持回路は、前記第1の入力端子及び前記第1の出力端子
とは別に第3の入力端子及び第3の出力端子を有し、前
記第1の信号保持回路群は、隣接する前記各第1の信号
保持回路の前記第3の入力端子と前記第3の出力端子と
を順次接続して構成し、前記第2の信号保持回路は、前
記第2の入力端子及び前記第2の出力端子とは別に第4
の入力端子及び第4の出力端子を有し、前記第2の信号
保持回路群は、隣接する前記各第2の信号保持回路の前
記第4の入力端子と前記第4の出力端子とを順次接続し
て構成したことにある。
【0027】この第3の発明によれば、第1及び第2の
信号保持回路の構成が入力端子と出力端子を2個ずつ有
するもので、そのうちの一方の端子が隣接する信号保持
回路に接続されて、個々の第1の信号保持回路及び個々
の第2の信号保持回路がそれぞれ直列接続している場合
において、上記第1の発明と同様の作用を呈する。
【0028】第4の発明である半導体集積回路装置の特
徴は、上記第1乃至第3の発明の機能ブロックを複数個
の備え、同一のシステムクロックにより各機能ブロック
の入出力間を完全同期に構成したことにある。
【0029】この第4の発明によれば、上記第1乃至第
3の発明と同様の作用を呈するほか、機能ブロックの出
力は、システムクロックによって同期のとれた形で出力
できるようになるため、この出力が入力される機能ブロ
ック側でも、タイミングの設定がしやすくなる。
【0030】第5の発明である集積回路のシミュレーシ
ョン方法の特徴は、複数の機能ブロックを備えた集積回
路における前記各機能ブロックの入出力を完全同期にし
て、これら機能ブロックの入出力間遅延をクロックの同
期を単位として定義し、この定義結果に基づいてシミュ
レーション時の前記各機能ブロックをモデル化するよう
にしたものである。
【0031】この第5の発明によれば、各機能ブロック
での信号の遅延が簡単なモデルで表現される。
【0032】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係
るAISC内機能ブロックの構成を示す概要図である。
【0033】この機能ブロック10は、AISC内の一
機能ブロックとして構成され、図4に示したものと同様
に複数のロジック部から成るファンクション部11と、
ブロック入力端子21−0,21−1,21−2,…,
21−m及びブロック出力端子31−0,31−1,3
1−2,…,31−nとを備えている。さらに、入力側
には、システムクロックCLK入力用の入力端子22
と、システムリセットRST入力用の入力端子23が設
けられ、出力側には、システムクロックCLK出力用の
入力端子32が設けられている。
【0034】そして、本発明の特徴を成す入力部フリッ
プフロップ群50と出力部フリップフロップ群60が、
それぞれファンクション部11とブロック入力端子21
−0〜21−m間、及びファンクション部11とブロッ
ク出力端子31−0〜31−n間にそれぞれ接続されて
いる。ここで、入力部フリップフロップ群50は、入力
端子D、出力端子Q及びシステムクロック用端子をそれ
ぞれ1個備えたフリップフロップ51−0,51−1,
51−2,…,51−mが前記ブロック入力端子21−
0〜21−mにそれぞれ対応して設けられている。この
ブロック入力端子21−0〜21−mは、入力部フリッ
プフロップ群50の各入力端子Dに直接接続され、該入
力部フリップフロップ群50の各出力端子Qからは、フ
ァンクション部11の入力信号IN0’〜INm’とな
る信号が出力されるようになっている。
【0035】出力部フリップフロップ群60は、前記入
力部フリップフロップ群50と同一構成のフリップフロ
ップ61−1〜61−nと、その出力端子に接続された
出力バッファ62−1〜62−nとで構成されている。
なお、フリップフロップ61−1〜61−nは、ファン
クション部11の出力信号OUT0’〜OUTn’にそ
れぞれ対応して設けられている。
【0036】一方、入力端子22,23からはシステム
クロックCLK及びシステムリセットRSRがそれぞれ
入力され、これらの信号は、ファンクション部11に与
えられると同時に、バッファ41,42を介して入力部
フリップフロップ群50及び出力部フリップフロップ群
60の各フリップフロップ51−0〜51−m,61−
0〜61−mにそれぞれ供給されるようになっている。
なお、システムクロック信号CLKは、バッファ63を
介して出力端子32から外部へ出力される。
【0037】以上のように構成される本実施形態の機能
ブロック10では、ファンクション部11への入力の
内、システムクロックCLK及びシステムリセットRS
Tを除く全入力端子21−0〜21−mへの入力信号I
N0〜INmを一旦フリップフロップ51−0〜51−
mで受け、ファンクション部11と共通なCLK信号で
同期をとった後にファンクション部11へ入力する。
【0038】また、出力側に関しては、システムクロッ
クアウト用(CLK OUT)など一部の出力信号を除
いて、ファンクション部11からの出力信号OUT0’
〜OUTn’を一旦フリップフロップ61−1〜61−
nに入力し、CLK信号で同期をとった後に出力バッフ
ァ62−1〜62−nを介して外部へ出力する。
【0039】このように、機能ブロックを構成する回路
構成要素の入力端子と出力端子に、フリップフロップ回
路を接続し、機能ブロックに入力される信号をこのフリ
ップフロップで同期をとった後に入力し、出力側は、フ
リップフロップで同期をとった後に出力することによ
り、機能ブロックの入出力間遅延をクロックCLKの周
期を単位として簡単に定義することができるようにな
る。すなわち、入力信号の状態依存性及び経路依存性に
よる遅延時間の変動を機能ブロックの外部から見えなく
することができるので、シミュレーション時のこれら機
能ブロックをモデル化するのが容易になる。
【0040】なお、本実施形態では、機能ブロック全体
が1つのシステムクロックで同期動作をすることを示し
ている。回路機能の持つ必要性から2系統或いはそれ以
上の系統のシステムクロックで動作するものであって
も、入力側のフリップフロップ群、出力側のフリップフ
ロップ群がそれぞれ同一の系統で同期をとっているもの
であれば、これは本発明の趣旨に沿うものである。
【0041】また、本実施形態では、入力側のフリップ
フロップ群、出力側のフリップフロップ群、及びファン
クション部が同一のクロック配線に接続されているが、
これらに駆動力調整用のバッファが挿入されていても、
同一の信号であることには変わりはない。さらには、入
力側のフリップフロップ群及び出力側のフリップフロッ
プ群を構成する各フリップフロップが入力端子と出力端
子を2個ずつ有するもので、そのうちの一方の端子が隣
接するフリップフロップに接続されて、個々のフリップ
フロップが直列接続しているような場合であっても、上
述の利点を享受することができる。
【0042】図2は、本発明の第2実施形態に係る半導
体集積回路装置の要部構成を示す概要図であり、上記図
1に示すような入出力完全同期型の機能ブロック同士を
接続した場合を表わしている。図中の70,80は機能
ブロック、71,81はファンクション部、72は入力
フリップフロップ群、82は出力フリップフロップ群で
ある。また、73−1〜73−k,83−1〜83−k
はフリップフロップ、S1〜Skは配線である。
【0043】まず、入出力が完全同期な形で構成されて
いない従来型の機能ブロック同士を接続した場合につい
て、前述した図5に示す例を用いて説明する。
【0044】図5中の信号経路S3は、機能ブロック3
00側の出力側が同期設計ではなく、機能ブロック40
0側の入力に同期設計がなされている例である。CLK
信号の立ち上りでフリップフロップ312からのデータ
が機能ブロック300のロジック部310−2に入力さ
れ、ある遅延時間の後に出力端子から出力され、配線を
通って機能ブロック400側の入力フリップフロップ4
12に入力される。この時、先のCLK信号の立ち上り
の次の立ち上りの時に、このS3信号はフリップフロッ
プ412に取り込まれる。
【0045】この場合、機能ブロック300と機能ブロ
ック400が正確に信号を伝達するためには、以下の式
が成り立たなければならない。
【0046】
【数1】 Tlogic+Tline+Tsetup<CLK1周期 …(1) ここで、Tlogicは、機能ブロック300側の入力
が変化してからそれが出力されるまでの遅延時間であ
り、Tlineは、機能ブロック300と機能ブロック
400を接続する配線によって生じる遅延である。ま
た、機能ブロック400側の入力フリップフロップ41
2で信号が確実に同期できるためには、システムクロッ
クCLKの立ち上りより所定時間だけ早く入力信号が確
定していなければならない。Tsetupは、この場合
の前記所定時間である。
【0047】上記(1)式で示すように遅延時間(Tl
ogic,Tline)とフリップフロップ412の持
つ時間的制約(Tsetup)の総和が、システムクロ
ックCLKの1周期よりも短い場合は、機能ブロック3
00と400間で信号が正確に伝達できることになる。
【0048】しかし、遅延時間の状態依存性や経路依存
性のため、前記Tlogicが一定にならない。高速動
作を要求される集積回路では、わずかの遅延時間の変動
によって、この条件式を満たさなくなることが起こり得
る。集積回路の使用されている環境(外周温度、駆動電
圧の変化)による遅延時間の変化、また集積回路の動作
時に生じる遅延の状態依存や経路依存により、ある状況
では動作していた機能ブロックが、別の状況では動作を
しなくなることが起こり得る。これ以外の経路について
も、状況によって変化の起こり得る遅延を含むことが明
白であり、ここでは説明を省略する。
【0049】これに対して、図2に示すように、入出力
が完全同期な形で構成された機能ブロック70,80同
士を接続する本実施形態の場合では、上記(1)式で表
される各項の内、Tlogicを除去、或いは非常に小
さく変動の少ないものとして考えることができる。これ
は、ファンクション部71の出力信号を保持する出力部
フリップフロップ群72の各フリップフロップ73−1
〜73−kの出力が駆動力調整のための出力バッファ7
4−1〜74−kを介してのみ機能ブロック70の出力
となるので、前述した遅延時間の変化をもたらす要因の
一つの経路依存性を除去できるためである。さらに、フ
リップフロップ73−1〜73−kからの出力は一律に
定義ができるので、機能ブロック70,80間の接続で
信号の正確な伝達ができるかの確認は、機能ブロック7
0,80間の配線によって生じる遅延だけに注目すれば
よいことになる。なお、この点は、前記出力バッファ7
4−1〜74−kを設けないで、各フリップフロップ7
3−1〜73−kの出力が直接、機能ブロック70の出
力となる場合も、同様であることは述べるまでもない。
【0050】本実施形態では、機能ブロックの出力は、
システムクロックCLKによって同期のとれた形で出力
できるようになるため、この出力が入力される機能ブロ
ック側でもタイミングの設定がしやすくなる。これによ
って、機能ブロックを複数個使用する集積回路の動作シ
ミュレーションを簡単化でき、確実に動作する集積回路
を簡単に構成できる。また、図5に示したタイミング調
整回路510,511のような回路を省略することもで
きる。
【0051】図3は、本発明の機能ブロックを複数適用
したASICの概観図である。
【0052】このASICは、機能ブロック110,1
20,130と、ランダム回路140とで構成されてい
る。各機能ブロック110,120,130は、上記第
1実施形態に示すような入力フリップフロップ群11
1,121,131及び出力フリップフロップ群11
2,122,132をそれぞれ備えている。
【0053】そして、ランダム回路140の出力側と機
能ブロック110,120の各入力フリップフロップ群
111,121とがデータバス/アドレスバス151で
接続され、ランダム回路140の入力側と機能ブロック
110,130の各出力フリップフロップ群112,1
32とがデータバス/アドレスバス152で接続されて
いる。さらに、機能ブロック120の出力フリップフロ
ップ群122と機能ブロック130の入力フリップフロ
ップ群131とがランダム回路140に接続されたデー
タバス153を介して接続されている。
【0054】そして、各機能ブロック110〜130の
入力フリップフロップ群111〜131及び出力フリッ
プフロップ群112〜132には、同一のシステムクロ
ックが供給され、完全同期の形で構成されている。
【0055】このように、機能ブロックの入出力を完全
同期の形で構成するのは、各機能ブロックでの信号の遅
延を簡単なモデルで表現できるため、個々の機能ブロッ
クの動作を確実にすることのみならず、複数の機能ブロ
ックを1つのチップ上にまとめて大規模な集積回路を構
成する本例のような場合でも、その動作シミュレーショ
ンを簡単に行うことができる。これにより、確実に動作
する半導体集積回路装置を簡単に構成することが可能に
なる。
【0056】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
である機能ブロックによれば、機能ブロックの入出力間
遅延を簡単に見積もることが可能になる。
【0057】第2の発明である機能ブロックによれば、
上記第1の発明において、第1と第2の制御信号は同一
信号であり、この信号を前記ファンクション部に入力す
る構成にしたので、機能ブロックの入出力間遅延を、よ
り簡単に見積もることが可能になる。
【0058】第3の発明である機能ブロックによれば、
第1及び第2の信号保持回路の構成が入力端子と出力端
子を2個ずつ有するもので、そのうちの一方の端子が隣
接する信号保持回路に接続されて、個々の第1の信号保
持回路及び個々の第2の信号保持回路がそれぞれ直列接
続している場合において、上記第1の発明と同様の効果
を奏する。
【0059】第4の発明である半導体集積回路装置によ
れば、上記第1乃至第3の発明の機能ブロックを複数個
の備え、同一のシステムクロックにより各機能ブロック
の入出力間を完全同期に構成したので、上記第1乃至第
3の発明と同様の効果を奏し、機能ブロックを複数組み
合わせて動作を行わせる場合において、その動作シミュ
レーションを簡単に行うことができる。これにより、確
実に動作する半導体集積回路装置を簡単に構成すること
が可能になる。
【0060】第5の発明である集積回路のシミュレーシ
ョン方法によれば、機能ブロックを複数個使用する集積
回路の動作シミュレーションにおいて、機能ブロックを
モデル化するのが容易となり、動作シミュレーションを
簡単なものとすることができる。これにより、確実に動
作する集積回路を簡単に構成することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係るAISC内機能ブ
ロックの構成を示す概要図である。
【図2】本発明の第2実施形態に係る半導体集積回路装
置の要部構成を示す概要図である。
【図3】本発明の機能ブロックを複数適用したASIC
の概観図である。
【図4】従来の機能ブロックの一例を示す概要図であ
る。
【図5】従来の半導体集積回路装置の要部構成を示す概
要図である。
【符号の説明】
10,70,80 機能ブロック 11,71,81 ファンクション部 21−0〜21−m ブロック入力端子 31−0〜31−n ブロック出力端子 50,82 入力部フリップフロップ群 51−0〜51−m,73−1〜73−k,83−1〜
83−k フリップフロップ 60,72 出力部フリップフロップ群 RST システムリセット CLK システムクロック
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 室賀 啓希 神奈川県川崎市幸区堀川町580番1号 株 式会社東芝半導体システム技術センター内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 M個のブロック入力端子及びN個のブロ
    ック出力端子と、前記各ブロック入力端子側から入力さ
    れる信号に対して出力を生成して前記ブロック出力端子
    側へ供給するファンクション部とを備え、且つASIC
    内に設けられた機能ブロックにおいて、 第1の入力端子、第1の出力端子及び第1の制御用端子
    を有するY(Y≦M−1)個の第1の信号保持回路から
    構成され、この各信号保持回路の第1の制御用端子が共
    通の第1の制御信号線に接続された第1の信号保持回路
    群と、 第2の入力端子、第2の出力端子及び第2の制御用端子
    を有するZ(Z≦N)個の第2の信号保持回路から構成
    され、この各信号保持回路の第2の制御用端子が共通の
    第2の制御信号線に接続された第2の信号保持回路群と
    を設け、 前記ブロック入力端子の内のY個を前記第1の信号保持
    回路群の各第1の入力端子にそれぞれ直接接続し、該Y
    個のブロック入力端子から該第1の信号保持回路群へ入
    力された信号を、前記第1の制御信号線に供給される第
    1の制御信号により同期をとった後に前記第1の出力端
    子から前記ファンクション部の入力側へ入力すると共
    に、 前記ブロック出力端子の内のZ個を前記第2の信号保持
    回路群の各第2の出力端子にそれぞれ接続し、前記ファ
    ンクション部の出力側から出力された信号を該第2の信
    号保持回路群の前記第2の入力端子に入力して、前記第
    2の制御信号線に供給される第2の制御信号により同期
    をとった後に前記第2の出力端子から出力し、 前記第1及び第2の制御信号の内の少なくとも1つを前
    記ファンクション部へ入力する構成にしたことを特徴と
    する機能ブロック。
  2. 【請求項2】 前記第1と第2の制御信号は同一信号で
    あり、この信号を前記ファンクション部に入力する構成
    にしたことを特徴とする請求項1記載の機能ブロック。
  3. 【請求項3】 前記第1の信号保持回路は、前記第1の
    入力端子及び前記第1の出力端子とは別に第3の入力端
    子及び第3の出力端子を有し、前記第1の信号保持回路
    群は、隣接する前記各第1の信号保持回路の前記第3の
    入力端子と前記第3の出力端子とを順次接続して構成
    し、 前記第2の信号保持回路は、前記第2の入力端子及び前
    記第2の出力端子とは別に第4の入力端子及び第4の出
    力端子を有し、前記第2の信号保持回路群は、隣接する
    前記各第2の信号保持回路の前記第4の入力端子と前記
    第4の出力端子とを順次接続して構成したことを特徴と
    する請求項1または請求項2記載の機能ブロック。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至請求項3記載の機能ブロッ
    クを複数個の備え、同一のシステムクロックにより各機
    能ブロックの入出力間を完全同期に構成したことを特徴
    とする半導体集積回路装置。
  5. 【請求項5】 複数の機能ブロックを備えた集積回路に
    おける前記各機能ブロックの入出力を完全同期にして、
    これら機能ブロックの入出力間遅延をクロックの同期を
    単位として定義し、 この定義結果に基づいてシミュレーション時の前記各機
    能ブロックをモデル化することを特徴とする集積回路の
    シミュレーション方法。
JP18270597A 1997-07-08 1997-07-08 機能ブロック、および半導体集積回路装置 Expired - Lifetime JP3469046B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18270597A JP3469046B2 (ja) 1997-07-08 1997-07-08 機能ブロック、および半導体集積回路装置
US09/111,703 US6218861B1 (en) 1997-07-08 1998-07-08 Functional block and semiconductor integrated circuit architected by a plurality of functional blocks in combination

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18270597A JP3469046B2 (ja) 1997-07-08 1997-07-08 機能ブロック、および半導体集積回路装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1126591A true JPH1126591A (ja) 1999-01-29
JP3469046B2 JP3469046B2 (ja) 2003-11-25

Family

ID=16123004

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18270597A Expired - Lifetime JP3469046B2 (ja) 1997-07-08 1997-07-08 機能ブロック、および半導体集積回路装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6218861B1 (ja)
JP (1) JP3469046B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007023551A1 (ja) * 2005-08-25 2007-03-01 Fujitsu Limited 半導体集積回路及びその製造方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7856543B2 (en) 2001-02-14 2010-12-21 Rambus Inc. Data processing architectures for packet handling wherein batches of data packets of unpredictable size are distributed across processing elements arranged in a SIMD array operable to process different respective packet protocols at once while executing a single common instruction stream
US6459298B1 (en) * 2001-08-07 2002-10-01 Geneticware Co., Ltd. Structure of controlled pipeline logic
US7103526B2 (en) * 2002-10-16 2006-09-05 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for adapting a simulation model to expose a signal internal to the model to a client application
JP2006012008A (ja) * 2004-06-29 2006-01-12 Oki Electric Ind Co Ltd タイミングモデル、及びそれを用いたlsi設計方法
JP2007164286A (ja) * 2005-12-09 2007-06-28 Sony Corp 情報信号処理装置、機能ブロックおよび機能ブロックの制御方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07112147B2 (ja) * 1989-11-13 1995-11-29 三菱電機株式会社 半導体集積回路
US5259006A (en) * 1990-04-18 1993-11-02 Quickturn Systems, Incorporated Method for substantially eliminating hold time violations in implementing high speed logic circuits or the like
US5815726A (en) * 1994-11-04 1998-09-29 Altera Corporation Coarse-grained look-up table architecture

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007023551A1 (ja) * 2005-08-25 2007-03-01 Fujitsu Limited 半導体集積回路及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US6218861B1 (en) 2001-04-17
JP3469046B2 (ja) 2003-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7444606B2 (en) Method for designing semiconductor integrated circuit, semiconductor integrated circuit and program for designing same
JP2005513626A (ja) 混在する領域クロック用のクロックツリーシンセシス
US8897083B1 (en) Memory interface circuitry with data strobe signal sharing capabilities
WO2023051217A1 (zh) 集成电路的时序约束方法、装置、电子设备及芯片
JP2008140821A (ja) 半導体装置および半導体装置の設計方法
US6425115B1 (en) Area efficient delay circuits
US20090271747A1 (en) Logic circuit designing device, logic circuit designing method and logic circuit designing program for asynchronous logic circuit
US20070129923A1 (en) Dynamic synchronizer simulation
US6711089B2 (en) Method and apparatus for performing signal synchronization
US20100315134A1 (en) Systems and methods for multi-lane communication busses
JPH1126591A (ja) 機能ブロック、半導体集積回路装置、及び集積回路のシミュレーション方法
CN112906338A (zh) 对物理分区结构进行时钟设计的方法、系统、介质和程序
WO2023071651A1 (zh) 电路调整方法、装置、电子设备、存储介质及电路
JPH10133768A (ja) クロックシステム、半導体装置、半導体装置のテスト方法、及びcad装置
US7797653B2 (en) Circuit verification apparatus, circuit verification method, and signal distribution method for the same
US6275068B1 (en) Programmable clock delay
US6023767A (en) Method for verifying hold time in integrated circuit design
JP2000353939A (ja) クロック信号同期式フリップフロップ回路
US5649177A (en) Control logic for very fast clock speeds
US20030115554A1 (en) Storage medium for recording interface specification definition
JP2007109773A (ja) 大規模半導体集積回路装置
JP3614758B2 (ja) クロック位相調整システム及びクロックツリー設計方法
JP3703655B2 (ja) タイミング信号発生回路
JP4743427B2 (ja) 回路動作検証方法
Hussain et al. An interface for open-drain bidirectional communication in field programmable interconnection networks

Legal Events

Date Code Title Description
S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070905

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080905

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080905

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090905

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090905

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100905

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110905

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110905

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120905

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120905

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130905

Year of fee payment: 10

EXPY Cancellation because of completion of term