JPH11258407A - 反射防止フイルム - Google Patents
反射防止フイルムInfo
- Publication number
- JPH11258407A JPH11258407A JP10076685A JP7668598A JPH11258407A JP H11258407 A JPH11258407 A JP H11258407A JP 10076685 A JP10076685 A JP 10076685A JP 7668598 A JP7668598 A JP 7668598A JP H11258407 A JPH11258407 A JP H11258407A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- sio
- layer
- transparent plastic
- refractive index
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 73
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 claims abstract description 29
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 claims abstract description 29
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 29
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 12
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 6
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 8
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 abstract 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 48
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 10
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 7
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 6
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 5
- 208000028659 discharge Diseases 0.000 description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VDRSDNINOSAWIV-UHFFFAOYSA-N [F].[Si] Chemical compound [F].[Si] VDRSDNINOSAWIV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 3
- 229920002284 Cellulose triacetate Polymers 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N [(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5-diacetyloxy-3-[(2s,3r,4s,5r,6r)-3,4,5-triacetyloxy-6-(acetyloxymethyl)oxan-2-yl]oxy-6-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5,6-triacetyloxy-2-(acetyloxymethyl)oxan-3-yl]oxyoxan-2-yl]methyl acetate Chemical compound O([C@@H]1O[C@@H]([C@H]([C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O)O[C@H]1[C@@H]([C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@@H](COC(C)=O)O1)OC(C)=O)COC(=O)C)[C@@H]1[C@@H](COC(C)=O)O[C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N 0.000 description 2
- 239000002519 antifouling agent Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 2
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 2
- ZDQNWDNMNKSMHI-UHFFFAOYSA-N 1-[2-(2-prop-2-enoyloxypropoxy)propoxy]propan-2-yl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OC(C)COC(C)COCC(C)OC(=O)C=C ZDQNWDNMNKSMHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N Acrylonitrile Chemical compound C=CC#N NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000298 Cellophane Polymers 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane Chemical compound CCC(CO)(CO)CO ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N [2-(hydroxymethyl)-3-prop-2-enoyloxy-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(CO)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003373 anti-fouling effect Effects 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000003851 corona treatment Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N hexane-1,6-diol Chemical compound OCCCCCCO XXMIOPMDWAUFGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 1
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010849 ion bombardment Methods 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 229920006289 polycarbonate film Polymers 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920006290 polyethylene naphthalate film Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000010186 staining Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- KKEYFWRCBNTPAC-UHFFFAOYSA-L terephthalate(2-) Chemical compound [O-]C(=O)C1=CC=C(C([O-])=O)C=C1 KKEYFWRCBNTPAC-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Silicon Compounds (AREA)
- Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)
Abstract
される反射防止フイルムを提供する。 【解決手段】 透明プラスチックフイルム基材上に、
(ハードコート層を介して、)少なくとも光吸収性層と
低屈折率層を積層した反射防止フイルムであって,透明
プラスチックフイルム基材(または該基材上のハードコ
ート層)と光吸収性層との間に、、SiOXNY薄膜層を
設けた反射防止フイルム。
Description
に優れた、LCDやCRT、プラズマデイスプレイ等の
表示体の表面反射を低減させる反射防止フイルムに関す
る。
ハードコート層を介して、複数の無機光学薄膜を積層し
た反射防止フイルムはLCDやCRT、プラズマデイス
プレイ等の表示体の表面反射を低減させる多層薄膜積層
反射防止フイルムとして多用されこれらの層構成も多数
提案されている。また透明基材上に光吸収性層とシリカ
等の低屈折率層が設けられた光吸収性層の反射防止フイ
ルムも提案されこれらの層構成も多数提案されている。
これらの従来提案されている反射防止フイルムは、実用
上、基材としての透明プラスチックフイルムと、または
透明プラスチックフイルム上に設けられたハードコート
層と、無機光学薄膜または光吸収性層との密着性が不十
分である場合が多く、また前記の密着力が十分な場合該
反射防止フイルムの表面硬度が不十分なため、傷、割れ
等の不良が発生する場合が多かった。
め無機光学薄膜層や光吸収性層の下地として基材として
の透明プラスチックフイルムに、有機系や無機系のプラ
イマー層を設けることも提案されているが、それらのう
ち、代表的なアルコキシシラン加水分解縮合樹脂、メラ
ミン樹脂、チタネート系化合物からのものがあるが、密
着力は或程度向上するが表面硬度が不十分である。
られている窒化チタン、窒化珪素、ジルコニア、アルミ
ナ、等を無機光学薄膜積層体や光吸収性層の下地として
基材としての透明プラスチックフイルムに施した場合に
は、表面硬度において満足し得るものが得られても、無
機光学薄膜積層体と下地との密着力において満足し得る
ものがなかった。さらに、透明プラスチックフイルムや
下地の表面をグロー放電等でプラズマ処理して後、無機
光学薄膜積層体や光吸収性層を設けることも提案されて
いるが、密着力の向上は見られても、表面硬度において
不満足な場合が多かった。本発明は、前記の密着力と表
面硬度とを同時に満足する光吸収性層を利用した反射防
止フイルムを提供せんとするものである。
明プラスチックフイルム上に、光吸収性層が設けられた
反射防止フイルムであって、透明プラスチックフイルム
と光吸収性層との間にSiOXNY薄膜を設けたことを特
徴とする反射防止フイルムであり、550nmにおける
反射率が1.0%以下である前記の反射防止フイルムで
あり、SiOXNY薄膜がX/Y=10.0からX/Y=
0.1であるSiOXNY薄膜である前記の反射防止フイ
ルムである。
かじめハードコート膜が形成され、その上にSiOXNY
薄膜、光吸収性層、低屈折率層が設けられた前記の反射
防止フイルムであり、低屈折率層上に更に、珪素とフッ
素とを含有するシリコン・フッ素系コート剤のコート膜
が形成されている前記の反射防止フイルムである。本発
明は、透明プラスチックフイルムまたは下地を設けた透
明プラスチックフイルム上に光吸収性層を設けてなる反
射防止フイルムにおいて、透明プラスチックフイルムと
光吸収性層との間にSiOXNY薄膜を設けてなる反射防
止フイルムとする反射防止フイルムあり、密着力と表面
硬度とを同時に満足させ、かつ膜の厚さの低減を得る反
射防止フイルムである。本発明の反射防止フイルムは5
50nmにおける反射率が1.0%以下であり、好まし
くは0.7%以下であり、更に好ましくは0.5%以下
のものである。
イルムとしては、透明性のある無機光学薄膜積層時に、
寸法的にも、化学的にも耐え得るものであれば特に限定
されるものではないが、例えば、ポリエチレンテレフタ
レートフイルム、ポリエチレンナフタレートフイルム、
ポリカーボネートフイルム、トリアセチルセルロースフ
イルム、(メタ)アクリロニトリルフイルム、ポリエー
テルサルフォンフルム、ポリフェニレンスルフィッドフ
ルム、等が挙げられる。これらのフイルムは、透明性に
おいて優れた値を有するものたとえば全光透過率で85
%以上のもの、また耐熱性においても150℃での収縮
率が全方向で2%以下のもの、また光学的に異方性のな
いもの、が好適に使用される。
フイルムに直接SiOXNY薄膜を設けてもよいが、紫外
線硬化樹脂、電子線硬化樹脂、アルコキシシラン加水分
解縮合系樹脂、メラミン系樹脂、チタネート系化合物か
らのもの等のハードコート層を予め設けその上に、Si
OXNY薄膜を設ける方が好ましい場合が多い。これらハ
ードコート層の形成は、従来公知の樹脂を公知の方法で
施せばよいが、こららのハードコート層の硬度は鉛筆硬
度で2H以上であることが好ましい。これらのハードコ
ート層形成のための材料としては、(メタ)アクリレー
ト系アルコール変性多官能化合物、トリメチロールプロ
パン(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコール
ジアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレー
ト、1,6ヘキサンジオール(メタ)アクリレート等、
があげられるがこれらに限定されるものではない。
ードコート層)を設けた透明プラスチックフイルム上に
SiOXNY薄膜を設けるが、これらの表面をSiOXNY
薄膜を設けるに先立って予めプラズマ処理、イオンボン
バード処理、コロナ放電処理などを施し、密着性を更に
高めてもよいことは勿論である。ついで、透明プラスチ
ックフイルムまたは下地を設けた透明プラスチックフイ
ルム上に、最初にSiOXNY設けることが必須である。
該SiOXNY薄膜を設ける方法は、CVD,EB蒸着、
イオンプレーテイング、スパッタリング、等があるが、
例えばスパッタリングによりSiO、またはSiOとS
iO2混合物などのSi酸化物をターゲットとして用
い、窒素雰囲気下でSiOXNY薄膜を設ける方法であ
る。該薄膜において、X/Y=10.0からX/Y=
0.1であるSiOXNYであることが好ましく、より好
ましくはX/Y=5.0からX/Y=0.5であるSi
OXNYであり、さらに好ましくはX/Y=4.0からX
/Y=1.0であるSiOXNYである。
は満足し得るが表面硬度において不満足に成る場合があ
る。またからX/Yが0.1に満たないときには、表面
硬度において満足であるが密着力において不満足な場合
がある。該SiOXNY薄膜の厚さは、0.5nmから2
00nmであり、好ましくは2.0nmから50nmで
あり、これらの厚さは他の無機光学薄膜との組み合わせ
によって最適な反射防止フイルムとなるように適宜選択
使用される。SiOXNY薄膜上に、光吸収性層、低屈折
率層を順次スパッタリング、EB蒸着等の手段によって
形成するが、これらの光吸収性層の光吸収率は、10か
ら40%であり、光吸収性層としては1nmから25n
mの厚さのチタン、クロム、ジルコニウム、モリブデ
ン、ニッケル、金、銀、銅、ステンレス等の金属薄膜、
5nmから25nmの厚さのチタン、クロム、ジルコニ
ウム等の酸化物膜、窒化物膜が挙げられ、低屈折率膜と
しては、屈折率が1.6以下の、厚さ70nmから12
0nmの、例えばSiOX、MgFX(Xは、0.1から
2の数字である)等の膜が挙げられる。
ITO,TiO2等の屈折率が1.7以上の高屈折率層
を厚さ10nmから40nmで設けてもよい。前記のS
iOXNY薄膜上に設けられる光吸収性層の導電性により
反射防止フイルムの帯電性も改良され、電磁波シールド
性も付与され、実用上好ましい反射防止フイルムが得ら
れる。
設けることによって、無機光学薄膜積層の形成が終了
し、反射防止フイルムとしての反射防止機能を満足し得
る、かつ密着性、表面硬度の両方を満足し得る反射防止
フイルムが得られるが、実用上表示体に使用された時の
ために、最外層の低屈折率膜の上にさらに公知のフッ素
系コート剤、シリコン系コート剤、シリコン・フッ素系
コート剤等の防汚染コート層を設けることが好ましく、
なかでもシリコン・フッ素系コート剤が好ましく適用さ
れる。これらの防汚染コート層の厚さは、好ましくは1
00nm以下で、より好ましくは10nm以下であり、
さらに好ましくは5nm以下である。これらの防汚染コ
ート層の厚さが100nmを超えるときは、防汚染性の
初期値は優れているが、耐久性において劣るものとな
る。防汚染性とその耐久性のバランスから5nm以下が
最も好ましい。
る塗布液を塗布・予備乾燥・紫外線硬化して厚さ5ミク
ロンのハードコート層を形成した、厚さ80ミクロンの
トリアセチルセルロースフイルムの、該ハードコート層
を、真空室内でアルゴンガスを導入し4Paの圧で対向
するSUS電極にDC1.0KVを加えグロー放電処理
し、該処理されたハードコート層上にSiターゲットを
用いてアルゴン・酸素・窒素ガスを導入して、2Paの
圧で高周波スパッタを行い、厚さ16nmのSiO1N1
の膜を形成した、ついでTiターゲットを用いてアルゴ
ン・窒素ガスを導入して、0.5Paの圧でDCスパッ
タを行い、厚さ11nmのTiNの膜を形成した、つい
でITO(インジウム:錫=90:10)ターゲットを
用いてアルゴン・酸素ガスを導入して、0.5Paの圧
でDCスパッタを行い、厚さ23nmのITOの膜を形
成した、ついでSiターゲットを用いてアルゴン・酸素
ガスを導入して、2Paの圧で高周波スパッタを行い、
厚さ69nmのSiO2の膜を形成した、さらに、該S
iO2の膜上にシリコン・フッ素系防汚染剤である、パ
ーフルオロアルキル基含有シリコン系化合物を、厚さ
3.0nmとなるように塗布乾燥硬化せしめて防汚染層
を形成し、反射防止フイルムを得た。
る塗布液を塗布・予備乾燥・紫外線硬化して厚さ5ミク
ロンのハードコート層を形成した、厚さ188ミクロン
のポリエチレンテレフタレートフイルムの、該ハードコ
ート層を、真空室内でアルゴンガスを導入し4Paの圧
で対向するSUS電極にDC1.0KVを加えグロー放
電処理し、該処理されたハードコート層上にSiを坩堝
に入れ、5×10-4Paまで排気し、酸素・窒素ガスを
導入して、2×10-2Paの圧で真空中に設けたアンテ
ナに高周波(13.56MHz,1.5KW)をかけな
がら、EB蒸着を行い、厚さ16nmのSiO1N1の膜
を形成した、ついでTiを坩堝に入れ、窒素ガスを導入
して、2×10-2Paの圧で真空中に設けたアンテナに
高周波(13.56MHz,1.5KW)をかけなが
ら、EB蒸着を行い、厚さ10nmのTiNの膜を形成
した、ついでSiを坩堝に入れ、5×10-4Paまで排
気し、酸素ガスを導入して、1×10-2Paの圧で、E
B蒸着を行い、厚さ86nmのSiO2の膜を形成し
た、さらに、該SiO2の膜上にシリコン・フッ素系防
汚染剤である、パーフルオロアルキル基含有シリコン系
化合物を、厚さ3.0nmとなるように塗布乾燥硬化せ
しめて防汚染層を形成し、反射防止フイルムを得た。
以外は、実施例2と同様にして、反射防止フイルムを得
た。
以外は、実施例2と同様にして、反射防止フイルムを得
た。
例2と同様にして、反射防止フイルムを得た。
率、密着性、表面硬度の順に下記する。尚、反射率は5
50nm波長での入射角5度の反射率を、密着性はJI
Sによるセロテープ剥離碁盤目テストの測定値を、表面
硬度はJISによる鉛筆硬度の測定値を、それぞれ示
す。 *実施例1 0.4%、100/100、2H *実施例2 0.3%、100/100、3H *比較例1 0.3%、100/100、 H *比較例2 0.5%、 0/100、3H *比較例3 0.3%、 0/100、 H
(または下地を設けた透明プラスチックフイルム)上に
少なくとも光吸収性層と低屈折率層を設ける反射防止フ
イルムにおいて、透明プラスチックフイルム(または下
地を設けた透明プラスチックフイルム)と光吸収性層と
の間にSiOXNYを設けることで、反射防止性能は勿論
のこと、と透明プラスチックフイルム(または下地を設
けた透明プラスチックフイルム)と光吸収性層との密着
性、反射防止性薄膜積層の表面硬度においても優れた反
射防止フイルムが得られた。
Claims (5)
- 【請求項1】 透明プラスチックフイルム上に、少なく
とも光吸収性層と低屈折率層が設けられた反射防止フイ
ルムであって、透明プラスチックフイルムと光吸収性層
との間にSiOXNY薄膜を設けたことを特徴とする反射
防止フイルム。 - 【請求項2】 550nmにおける低屈折率層側の反射
率が1.0%以下である請求項1記載の反射防止フイル
ム。 - 【請求項3】 SiOXNY薄膜がX/Y=10.0から
X/Y=0.1であるSiOXNYである請求項1記載の
反射防止フイルム。 - 【請求項4】 透明プラスチックフイルムに、あらかじ
めハードコート膜が形成され、その上にSiOXNY薄
膜、光吸収性層および低屈折率層が設けられた請求項1
記載反射防止フイルム。 - 【請求項5】 最外層の低屈折率層上に更に、珪素とフ
ッ素とを含有するシリコン・フッ素系コート剤のコート
膜が形成されている請求項1記載の反射防止フイルム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07668598A JP3723682B2 (ja) | 1998-03-10 | 1998-03-10 | 反射防止フイルム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07668598A JP3723682B2 (ja) | 1998-03-10 | 1998-03-10 | 反射防止フイルム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11258407A true JPH11258407A (ja) | 1999-09-24 |
JP3723682B2 JP3723682B2 (ja) | 2005-12-07 |
Family
ID=13612313
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07668598A Expired - Lifetime JP3723682B2 (ja) | 1998-03-10 | 1998-03-10 | 反射防止フイルム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3723682B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001324601A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-22 | Asahi Glass Co Ltd | 反射防止体 |
JP2002243904A (ja) * | 2001-02-20 | 2002-08-28 | Toppan Printing Co Ltd | 光吸収性反射防止積層体、及びそれを用いた液晶表示装置 |
JP2002343260A (ja) * | 2001-05-04 | 2002-11-29 | Samsung Sdi Co Ltd | 基板とこの基板の製造方法及びこの基板を有するプラズマ表示装置 |
JP2010519586A (ja) * | 2007-02-23 | 2010-06-03 | エシロール アテルナジオナール カンパニー ジェネラーレ デ オプティック | 接着性および耐摩耗性が改善された非反射または反射コーティングで被覆された光学製品の製造方法 |
US8318245B2 (en) | 2007-02-23 | 2012-11-27 | Essilor International (Compagnie Generale D'optique) | Method for producing an optical article coated with an antireflection or a reflective coating having improved adhesion and abrasion resistance properties |
-
1998
- 1998-03-10 JP JP07668598A patent/JP3723682B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001324601A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-22 | Asahi Glass Co Ltd | 反射防止体 |
JP2002243904A (ja) * | 2001-02-20 | 2002-08-28 | Toppan Printing Co Ltd | 光吸収性反射防止積層体、及びそれを用いた液晶表示装置 |
JP2002343260A (ja) * | 2001-05-04 | 2002-11-29 | Samsung Sdi Co Ltd | 基板とこの基板の製造方法及びこの基板を有するプラズマ表示装置 |
JP2010519586A (ja) * | 2007-02-23 | 2010-06-03 | エシロール アテルナジオナール カンパニー ジェネラーレ デ オプティック | 接着性および耐摩耗性が改善された非反射または反射コーティングで被覆された光学製品の製造方法 |
US8318245B2 (en) | 2007-02-23 | 2012-11-27 | Essilor International (Compagnie Generale D'optique) | Method for producing an optical article coated with an antireflection or a reflective coating having improved adhesion and abrasion resistance properties |
US8846140B2 (en) | 2007-02-23 | 2014-09-30 | Essilor International (Compagnie Generale D'optique) | Method for producing an optical article coated with an antireflection or a reflective coating having improved adhesion and abrasion resistance properties |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3723682B2 (ja) | 2005-12-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4575384B2 (ja) | 透明導電性積層体および透明タッチパネル | |
EP1160080B1 (en) | Antireflection sheet and process for producing the same | |
EP3140355B1 (en) | Article with hardcoat and method of making the same | |
JP7455777B2 (ja) | 光学積層体および画像表示装置 | |
US20100215943A1 (en) | Antireflection film | |
TW201333986A (zh) | 透明導電性膜、透明導電性積層體及觸控式面板、與透明導電性膜之製造方法 | |
JP2003177209A (ja) | 減反射フィルム及び電子画像表示装置 | |
JP7130893B2 (ja) | 防汚層付き光学フィルム | |
JPWO2005100014A1 (ja) | 透明ガスバリア性積層フィルム | |
JP7185101B2 (ja) | 防汚層付き光学フィルム | |
JP2004341541A (ja) | 光学機能性膜、光学機能性フィルム、防眩性反射防止フィルム、その製造方法、偏光板および液晶表示装置 | |
JP2008268418A (ja) | 反射防止フィルム | |
CN112442205A (zh) | 层叠薄膜 | |
JP3723682B2 (ja) | 反射防止フイルム | |
KR102227369B1 (ko) | 폴더블 커버 윈도우용 박막 하드코팅 필름 제조방법 및 이에 따라 제조된 폴더블 커버 윈도우용 박막 하드코팅 필름 | |
KR20240044315A (ko) | 반사 방지 필름 및 그 제조 방법, 및 화상 표시 장치 | |
JP5463680B2 (ja) | 透明導電性フィルム | |
JP7169492B2 (ja) | 防汚層付き光学フィルム | |
JP2008105313A (ja) | ハードコート構造を備えた透明体、およびハードコート構造 | |
WO2023210368A1 (ja) | 反射防止フィルムおよび画像表示装置 | |
KR20200065912A (ko) | 눈부심 방지 기능을 갖는 고투명 배리어 필름 및 그 제조방법 | |
JPH11231127A (ja) | 反射防止フイルム | |
Narasimha Rao | Studies on thin film materials on acrylics for optical applications | |
JPH1062603A (ja) | 導電性を有する反射防止板およびこれを付与してなる光学部品 | |
WO2016051247A1 (ja) | アンチ二ュートンリング積層体およびそのアンチ二ュートンリング積層体を用いた静電容量式タッチパネル |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041101 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050621 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050802 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050913 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050916 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080922 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090922 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100922 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100922 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110922 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110922 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120922 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120922 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130922 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140922 Year of fee payment: 9 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |