JPH11253438A

JPH11253438A - Ｘ線ｃｔ装置

Info

Publication number: JPH11253438A
Application number: JP10063579A
Authority: JP
Inventors: Katsuyuki Taguchi; 克行田口; Manabu Hiraoka; 学平岡
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1998-03-13
Filing date: 1998-03-13
Publication date: 1999-09-21
Anticipated expiration: 2018-03-13
Also published as: JP4245204B2

Abstract

(57)【要約】【課題】隣接素子に故障の影響が及んでいる場合でも
故障素子及び故障の影響の及んだ検出素子のデータを補
正し補正の精度を向上することを課題とする。【解決手段】複数断面の投影データによる二次元デー
タに基づき複数の検出器列の内の異常により故障した故
障検出器に対して二次元補正処理を施す故障素子補正部
３１ａにおいて、端面判定部３７ａは、故障素子の位置
が検出器２３の検出器列端であるかどうかを判定し、隣
接素子影響判定部３９ａは、操作部１２からの影響無し
操作信号に基づき故障素子が隣接素子に故障の影響を及
ぼないと判定し、補間処理部４１ａは、複数の隣接素子
の良品データに基づく複数種類の二次元補間処理を有
し、端面判定部３７ａの判定結果、及び隣接素子影響判
定部３９ａの判定結果に応じて複数種類の二次元補間処
理の内のいずれか１つの二次元補間処理を選択し、選択
された二次元補間処理を故障素子に対して施す。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線ＣＴ装置に係
り、特に、２列以上の検出器列を有し、ある検出素子の
異常に対して補正を行うＸ線ＣＴ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】（１）シングルスライスＣＴ近年、Ｘ線ＣＴ装置は、図１７（ａ）に示すように、扇
状のＸ線ビーム（ファンビーム）を発生するＸ線焦点１
０１と、ファン状あるいは直線状に多数のチャンネル、
例えば１０００チャンネルの検出素子を１列に並べた検
出器１０３とを有するシングルスライスＣＴが主流であ
る。

【０００３】このＸ線焦点１０１と検出器１０３とを被
検体の周囲に回転させ、被検体を通過したＸ線強度のデ
ータ（投影データと称する）を収集する。１回転で例え
ば１０００回投影データを収集し、このデータに基づい
て画像再構成する。

【０００４】（２）マルチスライスＣＴ一方、高精細に広範囲を高速に撮影したいという要求か
ら、図１７（ｂ）に示すように、検出器が１列ではな
く、被検体の体軸方向にも複数列、例えば、２列、４
列、あるいは１００列配列された２次元検出器アレイ１
０５を有するマルチスライスＣＴも提案されている。

【０００５】この２次元検出器アレイ１０５を用いて、
１スキャン動作で複数スライス分の投影データをデータ
収集し、複数の断層画像（ボリュームデータ）を得るこ
とができる。

【０００６】また、データ収集系は、検出器（以下、検
出素子と称する。）とデータ収集装置（ＤＡＳ）で構成
されており、図１８に示すように、各検出素子１１０
は、Ｘ線を光に変換するシンチレータ１１１と、このシ
ンチレータ１１１で得られた光を電荷に変換するフォト
ダイオード１１３とで構成される。そして、ＤＡＳ１１
５は、フォトダイオード１１３で得られた電荷を蓄積
し、Ａ／Ｄ変換によりディジタルデータに変換する。

【０００７】しかしながら、シングルスライスＣＴにお
いて、ある素子に関係するデータ収集系の構成物の何れ
かが故障すると、その故障素子のディジタルデータは得
られなくなる。

【０００８】例えば、図１９に示すように、検出素子１
１０ｋに故障が発生し、その検出素子１１０ｋのフォト
ダイオード１１３ｋの電荷が“×”印で示すようにＤＡ
Ｓ１１５ｋに電荷が流れず、その電荷が太い矢印Ｐで示
すように、検出素子１１０ｋに隣接する検出素子１１０
ｋ_-1のフォトダイオード１１３ｋ_-1及び検出素子１１０
ｋ₊₁のフォトダイオード１１３ｋ₊₁に流れる場合があ
る。この場合には、検出素子１１０ｋ_-1及び検出素子１
１０ｋ₊₁が故障素子１１０ｋの影響を受ける。

【０００９】また、例えば、図２０に示すように、検出
素子１１０ｋに故障が発生し、その検出素子１１０ｋの
フォトダイオード１１３ｋの電荷が太い矢印Ｑで示すよ
うにグランド（Ｇで示す。）に流れ、その電荷が検出素
子１１０ｋ_-1のフォトダイオード１１３ｋ_-1及び検出素
子１１０ｋ₊₁のフォトダイオード１１３ｋ₊₁に流れない
場合もある。この場合には、検出素子１１０ｋ_-1及び検
出素子１１０ｋ₊₁が故障素子１１０ｋの影響を受けな
い。

【００１０】このように、図１９及び図２０に示すよう
に、故障の原因によって、故障素子の電荷が隣接素子に
流れる場合と、故障素子の電荷が流れない場合がある。

【００１１】また、多数のチャンネルの検出素子は、例
えば６０チャンネル毎のブロックから構成されている
が、このブロックを越えて故障の影響は他のブロックに
伝搬しない。このため、図２１に示すように、例えばブ
ロックＢｍの検出素子Ｃｍ₁が故障素子（“×”印で示
す。）で且つブロック端面の場合にはその故障素子Ｃｍ
₁の影響は、ブロックＢｍ_-1には及ばず、検出素子Ｃｍ₂
（“△”印で示す。）だけに及ぶ。

【００１２】そこで、シングルスライスＣＴにおいて、
ある検出素子が故障すると、故障素子１１０ｋに対して
隣接素子１１０ｋ_-1のデータと隣接素子１１０ｋ₊₁のデ
ータを補間し、得られた補間データを故障素子１１０ｋ
のデータとして処理するデータ補正処理が知られてい
る。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、故障素
子の故障の影響が隣接素子にまで及んだ場合には、隣接
素子よりも更に外側の検出素子のデータを用いて補正す
ることが考えられるが、故障素子と補正に用いる検出素
子との距離が遠くなってしまい、補正の精度が悪かっ
た。

【００１４】本発明は、隣接素子に故障の影響が及んで
いる場合でも故障素子及び故障の影響の及んだ検出素子
のデータを補正して補正の精度を向上することのできる
Ｘ線ＣＴ装置を提供することを課題とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】本発明は前記課題を解決
するために以下の構成とした。本発明は、被検体に向け
て多方向からＸ線を曝射するＸ線源と、多チャンネルの
検出器を有し且つ被検体の体軸方向に複数の検出器列が
配列され、被検体を透過した透過Ｘ線を検出する検出手
段と、この検出手段の前記複数の検出器列で検出された
透過Ｘ線に基づく被検体の複数断面の投影データを収集
する収集手段と、この収集手段で収集された複数断面の
投影データに基づき被検体の複数の断層画像を再構成す
る再構成手段とを備えたＸ線ＣＴ装置において、前記収
集手段で収集された複数断面の投影データによる二次元
データに基づき前記複数の検出器列の内の異常により故
障した故障検出器に対して二次元補正処理を施す補正手
段を備えることを特徴とする。

【００１６】この発明によれば、補正手段が収集手段で
収集された複数断面の投影データによる二次元データに
基づき複数の検出器列の内の異常により故障した故障検
出器に対して二次元補正処理を施すので、故障検出器の
データの補正の精度を向上することができる。

【００１７】また、前記補正手段は、前記故障検出器が
この故障検出器に隣接する複数の隣接検出器に故障の影
響を及ぼした場合に前記故障検出器に最も近く且つ前記
故障検出器の影響を受けてない複数の検出器の良品デー
タに基づき前記故障検出器及び前記複数の隣接検出器に
対して二次元補間処理を施す補間処理手段を備えること
を特徴とする。

【００１８】この発明によれば、補間処理手段は、故障
検出器が複数の隣接検出器に故障の影響を及ぼした場合
に故障検出器に最も近く且つ故障検出器の影響を受けて
ない複数の検出器の良品データに基づき故障検出器及び
複数の隣接検出器に対して二次元補間処理を施すので、
隣接検出器に故障の影響が及んでいる場合でも故障検出
器及び影響の及んだ隣接検出器のデータを補正でき、し
かも故障検出器に最も近く且つ故障検出器の影響を受け
ない複数の検出器の良品データを用いて補間処理を行う
から、さらに補正の精度を向上することができる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明のＸ線ＣＴ装置の実
施の形態を図面を参照して詳細に説明する。

【００２０】＜第１の実施の形態＞図１は、本発明の第
１の実施の形態のＸ線ＣＴ装置の概略構成を示すシステ
ム構成図である。図１において、第１の実施の形態のＸ
線ＣＴ装置１０は、システム制御部１１、操作部１２、
架台・寝台制御部１３、寝台移動部１５、Ｘ線制御装置
１７、高電圧発生装置１９、Ｘ線ビーム発生源２１、検
出器２３、回転架台２５、データ収集部２７、収集デー
タ記憶装置２９、故障素子補正部３１ａ、画像再構成部
４５、表示部４７を有している。

【００２１】このＸ線ＣＴ装置１０は、Ｘ線ビーム発生
源２１を被検体の回りに回転させながらＸ線ビームを曝
射させるとともに、被検体を体軸方向に移動させて、被
検体を螺旋状にスキャンする（ヘリカルスキャン）もの
である。

【００２２】システム制御部１１は、図示しない入力装
置を用いて入力されたスライス厚、回転速度等のヘリカ
ルスキャン条件の内、回転速度とスライス厚とファン角
等を架台・寝台制御信号として架台・寝台制御部１３に
対して出力する。システム制御部１１は、Ｘ線ビーム発
生を制御するＸ線ビーム発生制御信号をＸ線制御装置１
７に対して出力する。

【００２３】システム制御部１１は、Ｘ線ビームの検出
のタイミングを示す検出制御信号をデータ収集部２７に
対して出力する。システム制御部１１は、データ収集の
ためのデータ収集制御信号をデータ収集部２７に対して
出力する。さらに、システム制御部１１は、検出器内の
ある故障素子に対して２次元補正するためのデータ補正
のタイミングを示す補正制御信号を故障素子補正部３１
ａに対して出力する。

【００２４】操作部１２は、オペレータが操作するもの
で、オペレータがデータを観察して検出器内の故障素子
が隣接素子に影響がないと判断した場合、または故障素
子が隣接素子に影響がある判断した場合のそれぞれに応
じて、影響無し操作信号、影響有り操作信号をシステム
制御部１１を介して故障素子補正部３１ａに出力する。
また、オペレータは操作部１２により複数の故障素子の
内の補正すべき故障素子のみを選択操作できるようにな
っている。

【００２５】架台・寝台制御部１３は、システム制御部
１１により出力された架台、寝台制御信号に基づき回転
架台２５を回転させると共に、寝台移動信号を寝台移動
部１５に対して出力する。

【００２６】寝台移動部１５は、架台・寝台制御部１３
により出力された寝台移動信号に基づき、回転架台２５
の１回転当たりの寝台１５ａの移動量を求め、この移動
量で寝台１５ａを移動させる。この寝台１５ａは体軸方
向（スライス方向）に移動するようになっている。

【００２７】Ｘ線制御装置１７は、システム制御部１１
により出力されたＸ線ビーム発生制御信号に基づき、高
電圧発生装置１９による高電圧発生のタイミングを制御
する。高電圧発生装置１９は、Ｘ線ビームを曝射させる
ための高電圧をＸ線制御部１７からの制御信号に従って
Ｘ線ビーム発生源２１に供給する。

【００２８】Ｘ線ビーム発生源２１は、高電圧発生装置
１９から供給された高電圧によってスライス方向に厚み
を持った扇状のＸ線ビームを被検体に向けて多方向から
曝射する。検出器２３は、Ｘ線ビーム発生源２１から曝
射され、被検体を透過したＸ線ビームを検出する。

【００２９】検出器２３は、図１４（ｂ）に示すよう
に、多チャンネルの検出素子を有し且つスライス方向に
複数配列された２次元検出器アレイからなる。また、検
出器２３は、多チャンネルの検出素子が複数のブロック
から構成され、且つ複数の検出列がいくつかのスライス
ブロックから構成されている。各列については、従来の
シングルスライスＣＴ用検出器と同様に１，０００チャ
ンネル程度の検出器がＸ線ビーム発生源２１の焦点を中
心として円弧状に配置される。

【００３０】回転架台２５は、Ｘ線ビーム発生源２１と
検出器２３とを保持する。また、回転架台２５は、図示
しない架台回転機構により、Ｘ線ビーム発生源２１と検
出器２３との中間点を通る回転軸を中心にして回転され
る。

【００３１】これにより、Ｘ線ビーム発生源２１と検出
器２３との対向配置を保ちながら、Ｘ線ビーム発生源２
１及び検出器２３が被検体の周囲を回転するので、被検
体の複数断面の断層画像の再構成に要する被検体に関す
る多方向の投影データを収集できる。

【００３２】このタイプのＣＴは、いわゆる第３世代
（Ｒ／Ｒ方式）と称される。なお、回転架台２５として
は、このタイプに限定されず、３６０°にわたって検出
器が被検体の周囲に配列され、Ｘ線ビーム発生源２１の
みが回転するいわゆる第４世代（Ｒ／Ｓ方式）であって
もよい。また、検出器に加えてＸ線ビーム発生源２１も
３６０°にわたって被検体の周囲に配置されるいわゆる
第５世代（Ｓ／Ｓ方式）であってもよい。

【００３３】データ収集部２７は、システム制御部１１
により出力されたデータ収集制御信号に基づき、検出器
２３の各検出器からの出力電流を増幅した後、デジタル
データに変換することによりＸ線パス毎のＸ線透過率に
反映した投影データを収集し出力する。収集データ記憶
装置２９は、データ収集部２７によって収集された複数
断面の投影データを記憶する。

【００３４】故障素子補正部３１ａは、収集データ記憶
装置２９に記憶された複数断面の投影データによる二次
元データ基づき、多チャンネルで且つ複数配列された検
出器２３の中から故障素子を検出し、この故障素子に隣
接する隣接素子の投影データを用いて故障素子の投影デ
ータに対して二次元補正処理を施す。

【００３５】画像再構成部４５は、故障素子補正部３１
ａで補正された複数断面の投影データに基づいて被検体
の複数の断層画像を再構成する。表示部４７は、画像再
構成部４５により再構成された被検体の複数の断層画像
を図示しないモニタ上に表示する。

【００３６】次に、故障素子補正部３１ａの詳細な構成
を説明する。故障素子補正部３１ａは、メモリ３３、中
央処理装置（ＣＰＵ）３４ａを有して構成され、ＣＰＵ
３４ａは、故障素子検出部３５、端面判定手段としての
端面判定部３７ａ、影響判定手段としての隣接素子影響
判定部３９ａ、補間処理手段としての補間処理部４１ａ
を有する。

【００３７】メモリ３３は、収集データ記憶装置２９か
ら送られてくる複数断面（複数スライス）の投影データ
を記憶する。故障素子検出部３５は、メモリ３３から出
力される複数断面の投影データに基づき、多チャンネル
で且つ複数配列された検出器２３の中から故障素子を検
出する。

【００３８】この場合、例えば、前回のデータと今回の
データとのサブトラクションを行い、差があった場合に
は検出素子の故障を検出でき、その故障素子の位置もわ
かる。また、オペレータがデータを観察し、そのデータ
から故障素子を検出することもできる。

【００３９】端面判定部３７ａは、故障素子検出部３５
で検出された故障素子の位置が検出器２３の検出器列端
であるかどうかを判定する。隣接素子影響判定部３９ａ
は、操作部１２からの影響無し操作信号に基づき故障素
子が隣接素子に故障の影響を及ぼないと判定する。故障
素子が隣接素子に影響を及ぼすとは、故障素子の光また
は電荷が隣接素子に伝達されることを意味する。

【００４０】なお、前回のデータと今回のデータとのサ
ブトラクションを行うことにより故障素子を検出し、そ
の故障素子のデータに対する隣接素子のデータの変化値
により、故障素子が隣接素子に影響を及ぼすかどうかを
判断しても良い。この場合、故障素子が隣接素子に影響
を及ぼす場合には、隣接素子のデータは増加しており、
故障素子が隣接素子に影響を及ぼない場合には、隣接素
子のデータは変化していないからである。

【００４１】補間処理部４１ａは、複数の隣接素子の良
品データに基づく複数種類の二次元補間処理を有し、端
面判定部３７ａの判定結果、及び隣接素子影響判定部３
９ａの判定結果に応じて複数種類の二次元補間処理の内
のいずれか１つの二次元補間処理を選択し、選択された
二次元補間処理を故障素子に対して施す。二次元補間処
理とは、複数の隣接素子の良品データを補間し、得られ
た補間データを故障素子のデータとする処理である。

【００４２】次に、このように構成された第１の実施の
形態のＸ線ＣＴ装置の動作を図面を参照して説明する。
第１の実施の形態では、隣接素子に故障素子の影響がな
く、且つスライス方向ブロック端がない場合の例を説明
する。

【００４３】まず、Ｘ線ビーム発生源２１と検出器２３
とが、被検体の周囲を回転すると、データ収集部２７
は、複数断面の断層画像に対応する被検体の複数断面の
投影データを検出器２３から収集し、収集された被検体
の複数断面の投影データは、収集データ記憶装置２９に
記憶される。さらに、被検体の複数断面の投影データ
は、故障素子補正部３１ａ内のメモリ３３に記憶され
る。

【００４４】さらに、操作部１２は、影響無し操作信号
を出力するので、隣接素子影響判定部３９ａは、操作部
１２からの影響無し操作信号に基づき故障素子が隣接素
子に影響を及ぼさないと判断する。

【００４５】次に、図２に示す故障素子の３つのケー
ス、図３に示す３種類の補正処理、図４に示すフローチ
ャートを参照して故障素子のデータ補正処理を説明す
る。ここでは、図２（ａ），図２（ｂ），図２（ｃ）に
対応して、ケースＪ，ケースＫ，ケースＬの例を示す。
図３（ａ），図３（ｂ），図３（ｃ）に対応して、処理
Ｍ，処理Ｎ，処理Ｏの例を示す。

【００４６】図２において、“×”印の検出素子は、故
障素子を示し、太線は、チャンネル方向のブロック端、
検出器列端を示す。故障素子は、ケースＪでは、２列目
または３列目であり、ケースＫでは、４列目であり、ケ
ースＬでは、１列目である。

【００４７】次に、図４のフローチャートを参照して故
障素子のデータ補正処理を説明する。まず、端面判定部
３７ａは、故障素子検出部３５で検出された故障素子の
位置が検出器２３の検出器列端かどうかを判定し（ステ
ップＳ１１）、検出器列端であれば、故障素子が上端か
どうかを判定する（ステップＳ１３）。

【００４８】故障素子が上端であれば、ケースＬに該当
し、補間処理部４１ａは、ケースＬに対応する処理Ｏを
実行する（ステップＳ１５）。処理Ｏでは、図３（ｃ）
に示すように“○”印で示す３つの隣接素子の良品デー
タを補間し、得られた補間データを“×”印で示す故障
素子のデータとして補正処理する。すなわち、故障素子
のデータを補間データに置換する。

【００４９】次に、故障素子が上端でなければ、ケース
Ｋに該当し、ケースＫに対応する処理Ｎを実行する（ス
テップＳ１７）。処理Ｎでは、図３（ｂ）に示すように
“○”印で示す３つの隣接素子の良品データを補間し、
得られた補間データを“×”印で示す故障素子のデータ
として補正処理する。

【００５０】さらに、故障素子が検出器列端でなけれ
ば、ケースＪに該当し、ケースＪに対応する処理Ｍを実
行する（ステップＳ１９）。処理Ｍでは、図３（ａ）に
示すように“○”印で示す４つの隣接素子の良品データ
を補間し、得られた補間データを“×”印で示す故障素
子のデータとして補正処理する。

【００５１】さらに、ステップＳ１５，ステップＳ１
７，ステップ１９の処理が終了すると、全ての補正すべ
き故障素子の補正を終了したかどうかを判定し（ステッ
プＳ２１）、補正すべき故障素子があれば、次の故障素
子を選択し（ステップＳ２３）、ステップＳ１１から再
び処理を実行する。なお、全ての故障素子を補正せず
に、補正すべき故障素子を選択し、選択された故障素子
のみを補正しても良い。

【００５２】このように、故障素子に隣接する隣接素子
の二次元の良品データ（複数列の隣接素子の良品デー
タ）を用いて故障素子のデータを補正するので、補正の
精度を向上することができる。

【００５３】また、故障素子が隣接素子に影響を及ぼさ
ない場合に、故障素子の位置が検出器列端であるかどう
かを判断し、その判断結果に応じてデータ補正処理の方
法を自動的に選択し、各ケースに対応した補正処理によ
って故障素子のデータを補正するので、適切な補正がな
されるから、さらに、補正の精度を向上することができ
る。

【００５４】＜第２の実施の形態＞次に、本発明のＸ線
ＣＴ装置の第２の実施の形態を説明する。図５は、本発
明のＸ線ＣＴ装置の第２の実施の形態の概略構成を示す
システム構成図である。第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装
置は、第１の実施の形態のＸ線ＣＴ装置に対して故障素
子補正部３１ｂの構成が異なるのみでその他の構成は同
一構成であるので、同一部分には同一符号を付する。第
２の実施の形態は、隣接素子に故障素子の影響が及び、
且つスライス方向ブロック端がない場合の例である。

【００５５】故障素子補正部３１ｂは、メモリ３３、Ｃ
ＰＵ３４ｂを有し、ＣＰＵ３４ｂは、故障素子検出部３
５、端面判定部３７ｂ、隣接素子影響判定部３９ｂ、補
間処理部４１ｂを有する。メモリ３３、及び故障素子検
出部３５の処理は、第１の実施の形態のそれらと同一処
理であるので、その説明を省略する。

【００５６】端面判定部３７ｂは、故障素子検出部３５
で検出された故障素子の位置が検出器２３の検出器列端
であるかどうかを判定するとともに、故障素子の位置が
検出器２３のチャンネル方向のブロック端であるかどう
かを判定する。検出列端の位置情報はメモリ３３に記憶
された投影データに含まれる複数列の検出器の列情報に
基づき得られ、ブロック端の位置情報は投影データに含
まれる多チャンネルのチャンネル情報に基づき得られ
る。隣接素子影響判定部３９ｂは、操作部１２からの影
響有り操作信号に基づき故障素子が隣接素子に影響を及
ぼすと判定する。

【００５７】補間処理部４１ｂは、故障素子に最も近く
且つ故障素子の影響を受けていない複数の検出素子の二
次元の良品データに基づく複数種類の二次元補間処理を
有し、端面判定部３７ｂの判定結果、及び隣接素子影響
判定部３９ｂの判定結果に応じて複数種類の二次元補間
処理の内のいくつかの二次元補間処理を選択し、選択さ
れたいくつかの二次元補間処理を故障素子及び影響を受
けた検出素子（以下、影響素子と称する。）に対して施
す。なお、二次元補間処理は、○印の良品データを用い
た１次補間あるいは０次補間で行うが、ｓｐｌｉｎｅ補
間などの非線形補間、多点補間を用いても良い。

【００５８】次に、第２の実施の形態のデータ補正処理
を図面を参照して説明する。まず、操作部１２は、影響
有り操作信号を出力するので、隣接素子影響判定部３９
ｂは、操作部１２からの影響有り操作信号に基づき故障
素子が隣接素子に影響を及ぼすと判断する。

【００５９】次に、図６に示す故障素子の９つのケー
ス、図７に示す１２種類の補正処理、図８に示すフロー
チャートを参照して故障素子及び影響素子のデータ補正
処理を説明する。ここでは、図６（ａ）乃至図６（ｉ）
に対応して、ケースＡ乃至ケースＩの例を示す。

【００６０】図６において、“×”印の検出素子は、故
障素子を示し、“△”印の検出素子は、故障素子によっ
て影響された影響素子である。図６からもわかるよう
に、影響素子は、故障素子に隣接する隣接素子であっ
て、且つそのブロック端を越えて他のブロック端に影響
しない。

【００６１】ケースＡ乃至ケースＣでは、故障素子は２
列目または３列目である。ケースＤ乃至ケースＦでは、
故障素子は４列目である。ケースＧ乃至ケースＩでは、
故障素子は１列目である。１つのブロックは、例えば２
４チャンネルであり、ケースＢ，Ｃ，Ｅ，Ｆ，Ｈ，Ｉに
おける太線は、チャンネル方向のブロック端、検出器列
端を示す。

【００６２】図７において、処理Ａは、“○”印の４つ
の隣接素子の良品データを補間したデータを“×”印の
故障素子のデータとする。処理Ｂは、“○”印の４列目
の左右の２つの隣接素子の良品データを補間したデータ
を“△”印の影響素子のデータとする。処理Ｃは、
“○”印の１列目の左右の２つの隣接素子の良品データ
を補間したデータを“△”印の影響素子のデータとす
る。

【００６３】処理Ｄは、“○”印の左端の上下の２つの
隣接素子の良品データを補間したデータを“△”印の影
響素子のデータとする。処理Ｅは、“○”印の右端の上
下の２つの隣接素子の良品データを補間したデータを
“△”印の影響素子のデータとする。

【００６４】処理Ｆは、“○”印の２列目または３列目
の左右の２つの隣接素子の良品データを補間したデータ
を４列目の“×”印の故障素子のデータとする。処理Ｇ
は、“○”印の２列目または３列目の左右の２つの隣接
素子の良品データを補間したデータを１列目の“×”印
の故障素子のデータとする。処理Ｈは、“○”印の２列
目または３列目の左右の２つの隣接素子の良品データを
補間したデータを“△”印の影響素子のデータとする。

【００６５】処理Ｆは、“○”印の２列目または３列目
の左右の２つの隣接素子の良品データを補間したデータ
を４列目の“×”印の故障素子のデータとする。処理Ｇ
は、“○”印の２列目または３列目の左右の２つの隣接
素子の良品データを補間したデータを１列目の“×”印
の故障素子のデータとする。処理Ｈは、“○”印の２列
目または３列目の左右の２つの隣接素子の良品データを
補間したデータを“△”印の影響素子のデータとする。

【００６６】処理Ｉは、“○”印の左端の２列目または
３列目の１つの隣接素子の良品データを“△”印の４列
目の影響素子のデータとする。処理Ｊは、“○”印の左
端の２列目または３列目の１つの隣接素子の良品データ
を“△”印の４列目の影響素子のデータとする。処理Ｋ
は、“○”印の左端の２列目または３列目の１つの隣接
素子の良品データを“△”印の１列目の影響素子のデー
タとする。処理Ｌは、“○”印の左端の２列目または３
列目の１つの隣接素子の良品データを“△”印の１列目
の影響素子のデータとする。

【００６７】次に、図８のフローチャートを参照して故
障素子及び隣接素子のデータ補正処理を説明する。ま
ず、端面判定部３７ｂは、故障素子検出部３５で検出さ
れた故障素子の位置が検出器２３の検出器列端かどうか
を判定し（ステップＳ３１）、検出器列端であれば、故
障素子が上端かどうかを判定する（ステップＳ３３）。

【００６８】故障素子が上端であれば、故障素子がブロ
ック端かどうかを判定し（ステップＳ３５）、ブロック
端であれば、故障素子が左端にあるかどうかを判定する
（ステップＳ３７）。左端にあれば、ケースＩに該当
し、補間処理部４１ｂは、ケースＩに対応する処理を実
行する（ステップＳ３９）。ケースＩでは、（１）式を
実行する。

【００６９】処理Ｇ＋処理Ｈ＋処理Ｌ・・・（１）ステップＳ３７で故障素子が左端でなければ、ケースＨ
に該当し、ケースＨに対応する処理を実行する（ステッ
プＳ４１）。ケースＨでは、（２）式を実行する。

【００７０】処理Ｇ＋処理Ｈ＋処理Ｋ・・・（２）ステップＳ３５で故障素子がブロック端でなければ、ケ
ースＧに該当し、ケースＧに対応する処理を実行する
（ステップＳ４３）。ケースＧでは、（３）式を実行す
る。

【００７１】処理Ｇ＋処理Ｈ＋処理Ｋ＋処理Ｌ・・・（３）ステップＳ３３で故障素子が上端でなければ、故障素子
がブロック端かどうかを判定し（ステップＳ４５）、ブ
ロック端であれば、故障素子が左端にあるかどうかを判
定する（ステップＳ４７）。左端にあれば、ケースＦに
該当し、ケースＦに対応する処理を実行する（ステップ
Ｓ４９）。ケースＦでは、（４）式を実行する。

【００７２】処理Ｆ＋処理Ｈ＋処理Ｊ・・・（４）ステップＳ４７で故障素子が左端になければ、ケースＥ
に該当し、ケースＥに対応する処理を実行する（ステッ
プＳ５１）。ケースＥでは、（５）式を実行する。

【００７３】処理Ｆ＋処理Ｈ＋処理Ｉ・・・（５）ステップＳ４５で故障素子がブロック端でなければ、ケ
ースＤに該当し、ケースＤに対応する処理を実行する
（ステップＳ５３）。ケースＤでは、（６）式を実行す
る。

【００７４】処理Ｆ＋処理Ｈ＋処理Ｉ＋処理Ｊ・・・（６）ステップＳ３１で故障素子が検出器列端でなければ、ケ
ースＡに該当し、ケースＡに対応する処理を実行する
（ステップＳ５５）。ケースＡでは、（７）式を実行す
る。

【００７５】処理Ａ＋処理Ｂ＋処理Ｃ＋処理Ｄ＋処理Ｅ・・・（７）なお、ケースＢでは、（８）式を実行する。

【００７６】処理Ａ＋処理Ｂ＋処理Ｃ＋処理Ｄ・・・（８）ケースＣでは、（９）式を実行する。

【００７７】処理Ａ＋処理Ｂ＋処理Ｃ＋処理Ｅ・・・（９）さらに、補正すべき故障素子があれば、次の故障素子を
選択し（ステップＳ５９）、ステップＳ３１から再び処
理を実行する。なお、全ての故障素子を補正せずに、補
正すべき故障素子を選択し、選択された故障素子のみを
補正しても良い。

【００７８】すなわち、従来のシングルスライスＣＴで
は、故障素子が隣接素子に影響を及ぼす場合に、隣接素
子のさらに外側の検出素子の良品データを用いて故障素
子及び影響素子のデータを補正していたので、故障素子
と外側の検出素子との距離が遠くなり、補正の精度が悪
かったが、第２の実施の形態では、故障素子に最も近く
且つ故障素子の影響を受けていない複数の検出素子の二
次元の良品データを用いて故障素子及び影響素子のデー
タを補正するので、補正の精度を向上することができ
る。

【００７９】また、故障素子が隣接素子に影響を及ぼす
場合に、故障素子の位置が検出器列端であるかどうかを
判断するとともに、ブロック端であるかどうかを判断
し、その判断結果に応じてデータ補正処理の方法を自動
的に選択し、各ケースに応じて、いくつかの補正処理を
組み合わせることによって故障素子及び影響素子のデー
タを補正するので、適切な補正がなされるから、さら
に、補正の精度を向上することができる。

【００８０】＜第３の実施の形態＞次に、本発明のＸ線
ＣＴ装置の第３の実施の形態を説明する。図９は、本発
明のＸ線ＣＴ装置の第３の実施の形態の概略構成を示す
システム構成図である。第３の実施の形態のＸ線ＣＴ装
置は、第１の実施の形態のＸ線ＣＴ装置に対して故障素
子補正部３１ｃの構成が異なるのみでその他の構成は同
一構成であるので、同一部分には同一符号を付する。第
３の実施の形態は、隣接素子に故障素子の影響が及び、
且つスライス方向ブロック端がある場合の例である。

【００８１】故障素子補正部３１ｃは、メモリ３３、Ｃ
ＰＵ３４ｃを有し、ＣＰＵ３４ｃは、故障素子検出部３
５、端面判定部３７ｃ、隣接素子影響判定部３９ｃ、補
間処理部４１ｃを有する。メモリ３３、及び故障素子検
出部３５の処理は、第１の実施の形態のそれらと同一処
理であるので、その説明を省略する。

【００８２】端面判定部３７ｃは、故障素子検出部３５
で検出された故障素子の位置が検出器２３のスライス方
向ブロック端かどうか、検出器列端であるかどうか、チ
ャンネル方向のブロック端であるかどうかを判定する。
隣接素子影響判定部３９ｃは、操作部１２からの影響有
り操作信号に基づき故障素子が隣接素子に影響を及ぼす
と判定する。

【００８３】補間処理部４１ｃは、故障素子に最も近く
且つ故障素子の影響を受けていない複数の検出素子の二
次元の良品データに基づく複数種類の二次元補間処理を
有し、端面判定部３７ｃの判定結果、及び隣接素子影響
判定部３９ｃの判定結果に応じて複数種類の二次元補間
処理の内のいくつかの二次元補間処理を選択し、選択さ
れたいくつかの二次元補間処理を故障素子及び影響素子
に対して施す。なお、二次元補間処理は、○印の良品デ
ータを用いた１次補間あるいは０次補間で行うが、ｓｐ
ｌｉｎｅ補間などの非線形補間、多点補間を用いても良
い。

【００８４】次に、第３の実施の形態の故障素子及び影
響素子のデータ補正処理を図面を参照して説明する。ま
ず、操作部１２は、影響有り操作信号を出力するので、
隣接素子影響判定部３９ｃは、操作部１２からの影響有
り操作信号に基づき故障素子が隣接素子に影響を及ぼす
と判断する。

【００８５】次に、図１０に示す故障素子の６つのケー
ス、図１１に示す５種類の補正処理、図１２に示すフロ
ーチャートを参照して故障素子及び影響素子のデータ補
正処理を説明する。ここでは、図１０（ａ）乃至図１０
（ｆ）に対応してケースＰ乃至ケースＵの例を示す。

【００８６】図１０において、“×”印の検出素子は、
故障素子を示し、“△”印の検出素子は、故障素子によ
って影響された影響素子である。縦の太線は、チャンネ
ル方向のブロック端を示し、横の太線は、スライス方向
ブロック端を示す。ここでは、故障素子の周囲の３×３
マトリックスを示す。なお、図１１における処理Ａ乃至
処理Ｅは、図７に示す処理Ａ乃至処理Ｅと同一であるの
で、その処理内容の説明は省略する。

【００８７】次に、図１２のフローチャートを参照して
故障素子及び影響素子のデータ補正処理を説明する。ま
ず、端面判定部３７ｃは、故障素子検出部３５で検出さ
れた故障素子の位置がスライス方向ブロック端かどうか
を判定し（ステップＳ７１）、スライス方向ブロック端
でなければ、前述した図８に示す第２の実施の形態の補
正処理を行う（ステップＳ７３）。

【００８８】一方、スライス方向ブロック端であれば、
故障素子が上端かどうかを判定する（ステップＳ７
５）。故障素子が上端であれば、故障素子がチャンネル
ブロック端かどうかを判定し（ステップＳ７７）、チャ
ンネルブロック端であれば、故障素子が左端にあるかど
うかを判定する（ステップＳ７９）。左端にあれば、ケ
ースＴに該当し、補間処理部４１ｃは、ケースＴに対応
する処理を実行する（ステップＳ８１）。ケースＴで
は、（１０）式を実行する。

【００８９】処理Ａ＋処理Ｂ＋処理Ｅ・・・（１０）ステップＳ７９で故障素子が左端でなければ、ケースＵ
に該当し、ケースＵに対応する処理を実行する（ステッ
プＳ８３）。ケースＵでは、（１１）式を実行する。

【００９０】処理Ａ＋処理Ｄ＋処理Ｂ・・・（１１）ステップＳ７７で故障素子がチャンネルブロック端でな
ければ、ケースＰに該当し、ケースＰに対応する処理を
実行する（ステップＳ８５）。ケースＰでは、（１２）
式を実行する。

【００９１】処理Ａ＋処理Ｂ＋処理Ｄ＋処理Ｅ・・・（１２）ステップＳ７５で故障素子が上端でなければ、故障素子
がチャンネルブロック端かどうかを判定し（ステップＳ
８７）、チャンネルブロック端であれば、故障素子が左
端にあるかどうかを判定する（ステップＳ８９）。左端
にあれば、ケースＲに該当し、ケースＲに対応する処理
を実行する（ステップＳ９１）。ケースＲは、（１３）
式を実行する。

【００９２】処理Ａ＋処理Ｃ＋処理Ｅ・・・（１３）ステップＳ８９で故障素子が左端になければ、ケースＱ
に該当し、ケースＱに対応する処理を実行する（ステッ
プＳ９３）。ケースＱでは、（１４）式を実行する。

【００９３】処理Ａ＋処理Ｃ＋処理Ｄ・・・（１４）ステップＳ８７で故障素子がチャンネルブロック端でな
ければ、ケースＳに該当し、ケースＳに対応する処理を
実行する（ステップＳ９５）。ケースＳでは、（１５）
式を実行する。

【００９４】処理Ａ＋処理Ｃ＋処理Ｄ＋処理Ｅ・・・（１５）さらに、補正すべき故障素子があれば、次の故障素子を
選択し（ステップＳ９９）、ステップＳ７１から再び処
理を実行する。なお、全ての故障素子を補正せずに補正
すべき故障素子を選択し選択された故障素子のみを補正
しても良い。

【００９５】このように、故障素子に最も近く且つ故障
素子の影響を受けていない複数の検出素子の二次元の良
品データを用いて故障素子及び影響素子のデータを補正
するので、補正の精度を向上することができる。

【００９６】また、故障素子が隣接素子に影響を及ぼす
場合で且つ故障素子の位置が検出器列端であるかどうか
と２つの方向のブロック端であるかどうかを判断し、そ
の判断結果に応じてデータ補正処理の方法を自動的に選
択し、各ケースに応じて、いくつかの補正処理を組み合
わせることによって故障素子及び影響素子のデータを補
正するので、適切な補正がなされるから、さらに、補正
の精度を向上することができる。

【００９７】＜第４の実施の形態＞次に、本発明のＸ線
ＣＴ装置の第４の実施の形態を説明する。図１０は、本
発明のＸ線ＣＴ装置の第４の実施の形態の概略構成を示
すシステム構成図である。第４の実施の形態のＸ線ＣＴ
装置は、第１の実施の形態のＸ線ＣＴ装置に対して補正
部３１ｄの構成が異なるのみでその他の構成は同一構成
であるので、同一部分には同一符号を付する。

【００９８】第４の実施の形態では、オペレータがデー
タを観察し、隣接素子に影響がない故障と判断した場合
には第１の実施の形態の補正処理を実行し、隣接素子に
影響がある故障と判断した場合には第２の実施の形態ま
たは第３の実施の形態の補正処理を実行することを特徴
とするものである。

【００９９】補正部３１ｄは、第１の実施の形態の補正
処理を実行する故障素子補正部３１ａ、第２の実施の形
態の補正処理を実行する故障素子補正部３１ｂ、第３の
実施の形態の補正処理を実行する故障素子補正部３１
ｃ、これら３つの故障素子補正部のいずれか１つを選択
する選択部４３を有する。

【０１００】このような構成によれば、オペレータがデ
ータを観察し、そのデータの状態を見て操作部１２を操
作して、いずれか１つの故障素子補正部を選択操作する
ための選択操作信号を出力する。すると、選択部４３
は、操作部１２からの選択操作信号によりいずれか１つ
の故障素子補正部を選択して選択された故障素子補正部
のみを作動させるので、その故障素子補正部によりデー
タ補正処理が実行されることになる。

【０１０１】このように、オペレータがデータを観察し
て、そのデータに応じて適切ないずれか１つの故障素子
補正部を選択できるので、そのデータに応じて適切な補
正処理が実行でき、さらに補正の精度が向上する。

【０１０２】＜第５の実施の形態＞次に、本発明のＸ線
ＣＴ装置の第５の実施の形態を説明する。図１４は、本
発明のＸ線ＣＴ装置の第５の実施の形態の概略構成を示
すシステム構成図である。第５の実施の形態のＸ線ＣＴ
装置は、第１の実施の形態のＸ線ＣＴ装置に対して補正
部３１ｅ、システム制御部１１ａの構成が異なるのみで
その他の構成は同一構成であるので、同一部分には同一
符号を付する。

【０１０３】第５の実施の形態では、故障素子補正部３
１ｅがメモリ３３、及び補間処理部４１ａを有し、シス
テム制御部１１ａが端面判定部３７ａ、及び隣接素子影
響判定部３９ａを有することを特徴とするものである。

【０１０４】このような構成によれば、システム制御部
１１ａ内の端面判定部３７ａの判定出力、及び隣接素子
影響判定部３９ａの判定出力に基づき補間処理部４１ａ
が、故障素子及び影響素子のデータを補正するので、第
１の実施の形態の効果と同様な効果が得られる。

【０１０５】＜第６の実施の形態＞次に、本発明のＸ線
ＣＴ装置の第６の実施の形態を説明する。図１５は、本
発明のＸ線ＣＴ装置の第６の実施の形態の概略構成を示
すシステム構成図である。第６の実施の形態のＸ線ＣＴ
装置は、第１の実施の形態のＸ線ＣＴ装置に対して補正
部３１ｆの構成が異なるのみでその他の構成は同一構成
であるので、同一部分には同一符号を付する。

【０１０６】故障素子補正部３１ｆは、メモリ３３、及
びＣＰＵ３４ｆを有し、ＣＰＵ３４ｆは、端面判定部３
７ａ、補間処理部４１ａを有することを特徴とするもの
である。また、操作部１２は、故障素子、及び影響素子
のそれぞれのチャンネル及びスライス位置情報を入力す
る。

【０１０７】図１６に故障素子及び影響素子を示す。
“×”印の各検出素子は、故障素子を示し、“△”印の
検出素子は、故障素子によって影響された影響素子であ
る。各故障素子及び各影響素子のチャンネル及びスライ
ス位置情報は、（ａ，ｂ）で表される。ａの値は、チャ
ンネル方向の番号であり、ｂの値は、スライス方向の番
号である。このチャンネル及びスライス位置情報によ
り、故障素子、影響素子が選択される。

【０１０８】端面判定部３７ａは、操作部１２から入力
されたチャンネル及びスライス位置情報に対応する故障
素子、影響素子の位置がスライスブロック端か、あるい
はチャンネルブロック端かを判定する。補間処理部４１
ａは、端面判定部３７ａの判定出力に基づき故障素子及
び影響素子のデータを補正するので、第１の実施の形態
の効果と同様な効果が得られる。

【０１０９】なお、本発明は前述した実施の形態に限定
されるものではない。第１の実施の形態乃至第６の実施
の形態では、故障素子補正部を収集データ記憶装置２９
の後に設けたが、例えば、故障素子補正部を収集データ
記憶装置２９の後に設ける代わりに、故障素子補正部
を、データ収集部２７と収集データ記憶装置２９との間
に設けてもよい。

【０１１０】また、第１の実施の形態乃至第６の実施の
形態では、ヘリカルスキャンに本発明を適用したが、例
えば、本発明はコンベンショナルスキャンに適用するこ
とも可能である。

【０１１１】

【発明の効果】本発明によれば、補正手段が収集手段で
収集された複数断面の投影データによる二次元データに
基づき複数の検出器列の内の異常により故障した故障検
出器に対して二次元補正処理を施すので、故障検出器の
データの補正の精度を向上することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態のＸ線ＣＴ装置の概
略構成を示すシステム構成図である。

【図２】隣接素子に影響がない場合の故障素子の３つの
ケースを示す図である。

【図３】隣接素子に影響がない場合の３種類の補正処理
を示す図である。

【図４】第１の実施の形態のデータ補正処理を示すフロ
ーチャートである。

【図５】本発明のＸ線ＣＴ装置の第２の実施の形態の概
略構成を示すシステム構成図である。

【図６】隣接素子に影響がある場合の故障素子の９つの
ケースを示す図である。

【図７】隣接素子に影響がある場合の１２種類の補正処
理を示す図である。

【図８】第２の実施の形態のデータ補正処理を示すフロ
ーチャートである。

【図９】本発明のＸ線ＣＴ装置の第３の実施の形態の概
略構成を示すシステム構成図である。

【図１０】隣接素子に影響がある場合で且つスライスブ
ロック端がある場合の故障素子の６つのケースを示す図
である。

【図１１】隣接素子に影響がある場合で且つスライスブ
ロック端がある場合の５種類の補正処理を示す図であ
る。

【図１２】第３の実施の形態のデータ補正処理を示すフ
ローチャートである。

【図１３】本発明のＸ線ＣＴ装置の第４の実施の形態の
概略構成を示すシステム構成図である。

【図１４】本発明のＸ線ＣＴ装置の第５の実施の形態の
概略構成を示すシステム構成図である。

【図１５】本発明のＸ線ＣＴ装置の第６の実施の形態の
概略構成を示すシステム構成図である。

【図１６】第６の実施の形態のＸ線ＣＴ装置の検出器に
おける故障素子及び影響素子を示す図である。

【図１７】シングルスライスＣＴ及びマルチスライスＣ
Ｔを示す図である。

【図１８】検出素子の構成図である。

【図１９】故障素子が隣接素子に故障の影響を及ぼす場
合の電荷の流れを示す図である。

【図２０】故障素子が隣接素子に故障の影響を及ぼさな
い場合の電荷の流れを示す図である。

【図２１】ブロック端での故障素子の故障の影響を示す
図である。

【符号の説明】

１０…Ｘ線ＣＴ装置、１１…システム制御部、１２…操
作部、１３…架台・寝台制御部、１５…寝台移動部、１
７…Ｘ線制御装置、１９…高電圧発生装置、２１…Ｘ線
ビーム発生源、２３…検出器、２５…回転架台、２７…
データ収集部、２９…収集データ記憶装置、３１ａ…故
障素子補正部、３３…メモリ、３４ａ…ＣＰＵ、３５…
故障素子検出部、３７ａ…端面判定部、３９ａ…隣接素
子影響判定部、４１ａ…補間処理部、４３…選択部、４
５…画像再構成部、４７…表示部。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被検体に向けて多方向からＸ線を曝射す
るＸ線源と、多チャンネルの検出器を有し且つ被検体の
体軸方向に複数の検出器列が配列され、被検体を透過し
た透過Ｘ線を検出する検出手段と、この検出手段の前記
複数の検出器列で検出された透過Ｘ線に基づく被検体の
複数断面の投影データを収集する収集手段と、この収集
手段で収集された複数断面の投影データに基づき被検体
の複数の断層画像を再構成する再構成手段とを備えたＸ
線ＣＴ装置において、前記収集手段で収集された複数断面の投影データによる
二次元データに基づき前記複数の検出器列の内の異常に
より故障した故障検出器に対して二次元補正処理を施す
補正手段を備えることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】前記補正手段は、前記故障検出器がこの
故障検出器に隣接する複数の隣接検出器に故障の影響を
及ぼした場合に前記故障検出器に最も近く且つ前記故障
検出器の影響を受けてない複数の検出器の良品データに
基づき前記故障検出器及び前記複数の隣接検出器に対し
て二次元補間処理を施す補間処理手段を備えることを特
徴とする請求項１記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項３】前記補間処理手段は、前記故障検出器が
前記複数の隣接検出器に故障の影響を及ぼない場合に前
記複数の隣接検出器の良品データに基づき前記故障検出
器に対して二次元補間処理を施すことを特徴とする請求
項２記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項４】前記補間処理手段は、前記故障検出器の
影響を受けてない複数の検出器の良品データに基づく複
数種類の二次元補間処理を有し、前記故障検出器が前記
複数の隣接検出器に故障の影響を及ぼした場合に前記複
数種類の二次元補間処理の中からいくつかの二次元補間
処理を選択し、前記故障検出器及び複数の隣接検出器に
対して選択されたいくつかの二次元補間処理を施すこと
を特徴とする請求項２記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項５】前記故障検出器の位置が検出器列の端面
かどうかを判定する端面判定手段を備え、前記補間処理手段は、前記端面判定手段の判定結果に基
づき前記いくつかの二次元補間処理を選択することを特
徴とする請求項４記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項６】前記多チャンネルの検出器が複数のチャ
ンネルブロックから構成され且つ前記複数の検出器列が
いくつかのスライスブロックから構成される場合に前記
故障検出器の位置がチャンネルブロック端及びスライス
ブロック端の少なくとも１つの端面かどうかを判定する
端面判定手段を備え、前記補間処理手段は、前記端面判定手段の判定結果に基
づき前記いくつかの二次元補間処理を選択することを特
徴とする請求項４または請求項５記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項７】前記故障検出器の位置が検出器列の端面
かどうかを判定する端面判定手段を備え、前記補間処理手段は、前記複数の隣接検出器の良品デー
タに基づく複数種類の二次元補間処理を有し、前記故障
検出器が前記複数の隣接検出器に故障の影響を及ぼない
場合に前記端面判定手段の判定結果に基づき前記複数種
類の二次元補間処理の中から１つの二次元補間処理を選
択し、前記故障検出器に対して選択された１つの二次元
補間処理を施すことを特徴とする請求項３記載のＸ線Ｃ
Ｔ装置。