JP4526811B2 - Ｘ線検出器の制御方法およびｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
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Description
本発明は、Ｘ線検出器の制御方法およびＸ線ＣＴ（Computer Tomography）装置に関し、さらに詳しくは、データの信頼性を高めることが出来るＸ線検出器の制御方法およびＸ線ＣＴ装置に関する。
従来のＸ線ＣＴ装置では、Ｘ線検出器の各エレメントのデータが異常か否かを判定し、あるエレメント（異常エレメントと呼ぶ）が出力したデータ（異常データと呼ぶ）が異常と判定された場合、異常エレメントの近傍に位置するエレメント（近傍エレメントと呼ぶ）が出力したデータ（近傍データと呼ぶ）を用いて補間データを算出し、その補間データで異常データを代替している（例えば、特許文献１参照。）。
従来のＸ線ＣＴ装置では、近傍データが正常であると仮定している。
しかし、異常エレメントの異常電位が近傍エレメントに漏洩するなど、近傍エレメントが異常エレメントから何らかの影響を受けていると、近傍データが、異常とは判定されないまでも、正常ではない場合もある。この場合、正常ではない近傍データから算出した補間データも正常ではなく、データの信頼性が低い問題点がある。
そこで、本発明の目的は、データの信頼性を高めることが出来るＸ線検出器の制御方法およびＸ線ＣＴ装置を提供することにある。
しかし、異常エレメントの異常電位が近傍エレメントに漏洩するなど、近傍エレメントが異常エレメントから何らかの影響を受けていると、近傍データが、異常とは判定されないまでも、正常ではない場合もある。この場合、正常ではない近傍データから算出した補間データも正常ではなく、データの信頼性が低い問題点がある。
そこで、本発明の目的は、データの信頼性を高めることが出来るＸ線検出器の制御方法およびＸ線ＣＴ装置を提供することにある。
第１の観点では、本発明は、Ｘ線検出器の各エレメントから出力されたデータが異常か否かを判定し、異常と判定したデータに対応するエレメントを接地することを特徴とするＸ線検出器の制御方法を提供する。
上記第１の観点によるＸ線検出器の制御方法では、異常エレメントを接地するから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。
上記第１の観点によるＸ線検出器の制御方法では、異常エレメントを接地するから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。
第２の観点では、本発明は、Ｘ線検出器の各エレメントから出力されたデータが異常か否かを判定し、異常と判定したデータに対応するエレメントおよびその周囲に位置するエレメントを少なくとも接地することを特徴とするＸ線検出器の制御方法を提供する。
上記第２の観点によるＸ線検出器の制御方法では、異常エレメントおよびその周囲のエレメントを接地するから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。
上記第２の観点によるＸ線検出器の制御方法では、異常エレメントおよびその周囲のエレメントを接地するから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。
第３の観点では、本発明は、Ｘ線検出器の各エレメントから出力されたデータが異常か否かを判定し、異常と判定したデータに対応するエレメントおよびそれと同じ検出器列のエレメントであって前記異常と判定したデータに対応するエレメントに隣接するエレメントを少なくとも接地することを特徴とするＸ線検出器の制御方法を提供する。
上記第３の観点によるＸ線検出器の制御方法では、異常エレメントおよび異常エレメントを含む検出器列の隣接エレメントを接地するから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。
上記第３の観点によるＸ線検出器の制御方法では、異常エレメントおよび異常エレメントを含む検出器列の隣接エレメントを接地するから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。
第４の観点では、本発明は、Ｘ線検出器の各エレメントから出力されたデータが異常か否かを判定し、異常と判定したデータに対応するエレメントおよびそれと同じチャネル番号のエレメントであって前記異常と判定したデータに対応するエレメントに隣接するエレメントを少なくとも接地することを特徴とするＸ線検出器の制御方法を提供する。
上記第４の観点によるＸ線検出器の制御方法では、異常エレメントおよび異常エレメントと同じチャネル番号の隣接エレメントを接地するから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。
上記第４の観点によるＸ線検出器の制御方法では、異常エレメントおよび異常エレメントと同じチャネル番号の隣接エレメントを接地するから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。
第５の観点では、本発明は、上記構成のＸ線検出器の制御方法において、前記接地したエレメントの近傍に位置するエレメントから出力されたデータを基に代替データを算出し、前記接地したエレメントのデータとすることを特徴とするＸ線検出器の制御方法を提供する。
上記第５の観点によるＸ線検出器の制御方法では、接地したエレメントの近傍に位置するエレメントのデータから代替データを算出し、接地したエレメントのデータと置換するから、データの連続性が担保され、アーチファクトの発生を抑制できる。また、代替データの信頼性を向上できる。
上記第５の観点によるＸ線検出器の制御方法では、接地したエレメントの近傍に位置するエレメントのデータから代替データを算出し、接地したエレメントのデータと置換するから、データの連続性が担保され、アーチファクトの発生を抑制できる。また、代替データの信頼性を向上できる。
第６の観点では、本発明は、Ｘ線検出器の各エレメントから出力されたデータが異常か否かを判定する異常判定手段と、異常と判定したデータに対応するエレメントを接地するための接地手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第６の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第１の観点によるＸ線検出器の制御方法を好適に実施することが出来る。
上記第６の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第１の観点によるＸ線検出器の制御方法を好適に実施することが出来る。
第７の観点では、本発明は、Ｘ線検出器の各エレメントから出力されたデータが異常か否かを判定する異常判定手段と、異常と判定したデータに対応するエレメントおよびその周囲に位置するエレメントを少なくとも接地するための接地手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第７の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第２の観点によるＸ線検出器の制御方法を好適に実施することが出来る。
上記第７の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第２の観点によるＸ線検出器の制御方法を好適に実施することが出来る。
第８の観点では、本発明は、Ｘ線検出器の各エレメントから出力されたデータが異常か否かを判定する異常判定手段と、異常と判定したデータに対応するエレメントおよびそれと同じ検出器列のエレメントであって前記異常と判定したデータに対応するエレメントの近傍に位置するエレメントを少なくとも接地するための接地手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第８の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第３の観点によるＸ線検出器の制御方法を好適に実施することが出来る。
上記第８の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第３の観点によるＸ線検出器の制御方法を好適に実施することが出来る。
第９の観点では、本発明は、Ｘ線検出器の各エレメントから出力されたデータが異常か否かを判定する異常判定手段と、異常と判定したデータに対応するエレメントおよびそれと同じチャネル番号のエレメントであって前記異常と判定したデータに対応するエレメントの近傍に位置するエレメントを少なくとも接地するための接地手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第９の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第４の観点によるＸ線検出器の制御方法を好適に実施することが出来る。
上記第９の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第４の観点によるＸ線検出器の制御方法を好適に実施することが出来る。
第１０の観点では、本発明は、上記構成のＸ線ＣＴ装置において、前記接地したエレメントの近傍に位置するエレメントから出力されたデータを基に代替データを算出し前記接地したエレメントのデータとするデータ置換手段を具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１０の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第５の観点によるＸ線検出器の制御方法を好適に実施することが出来る。
上記第１０の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第５の観点によるＸ線検出器の制御方法を好適に実施することが出来る。
本発明のＸ線検出器の制御方法およびＸ線ＣＴ装置によれば、異常エレメントの近傍に位置する近傍エレメントのデータの信頼性を向上できる。また、近傍エレメントのデータを基に算出した代替データの信頼性を向上できる。
以下、図に示す実施の形態により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
図１は、実施例１に係るＸ線ＣＴ装置１００の構成説明図である。
このＸ線ＣＴ装置１００は、操作コンソール１と、寝台装置１０と、走査ガントリ２０とを具備している。
このＸ線ＣＴ装置１００は、操作コンソール１と、寝台装置１０と、走査ガントリ２０とを具備している。
操作コンソール１は、操作者の入力を受け付ける入力装置２と、Ｘ線検出器の制御処理や画像再構成処理などを実行する中央処理装置３と、走査ガントリ２０で取得したデータを収集するデータ収集バッファ５と、データから再構成した画像を表示するＣＲＴ６と、プログラムやデータや画像を記憶する記憶装置７とを具備している。
寝台装置１０は、被検体を乗せて走査ガントリ２０のボア（空洞部）に入れ出しするテーブル１２を具備している。テーブル１２は、寝台装置１０に内蔵するモータで昇降および直線移動される。
走査ガントリ２０は、Ｘ線管２１と、Ｘ線コントローラ２２と、コリメータ２３と、Ｘ線検出器２４と、ＤＡＳ（Data Acquisition System）２５と、Ｘ線コントローラ２２，コリメータ２３，ＤＡＳ２５の制御を行う回転側コントローラ２６と、制御信号などを操作コンソール１や寝台装置１０とやり取りする制御コントローラ２９と、スリップリング３０とを具備している。
図２に示すように、Ｘ線検出器２４は、複数の検出器列を有するマルチ検出器である。
Ｘ線検出器２４の各エレメントｄのデータは、各信号線Ｌを介して、ＤＡＳ２５の各前置アンプＡへと出力される。
また、各信号線Ｌには、それぞれ接地スイッチＳが接続されている。これらの接地スイッチＳは、Ｘ線コントローラ２２を介して、中央処理装置３により制御される。
Ｘ線検出器２４の各エレメントｄのデータは、各信号線Ｌを介して、ＤＡＳ２５の各前置アンプＡへと出力される。
また、各信号線Ｌには、それぞれ接地スイッチＳが接続されている。これらの接地スイッチＳは、Ｘ線コントローラ２２を介して、中央処理装置３により制御される。
図３は、Ｘ線ＣＴ装置１００の動作を示すフロー図である。
ステップＰ１では、Ｘ線ＣＴ装置１００は、事前スキャンによりプリデータを収集する。
なお、撮影スタート直後に収集したデータ（画像再構成に使用しないデータ）をプリデータとしてもよい。
ステップＰ１では、Ｘ線ＣＴ装置１００は、事前スキャンによりプリデータを収集する。
なお、撮影スタート直後に収集したデータ（画像再構成に使用しないデータ）をプリデータとしてもよい。
ステップＰ２では、中央処理装置３は、各エレメントｄのプリデータが異常か否かを判定し、１つでも異常データがあればステップＰ３１へ進み、全てのプリデータが異常でなければステップＰ４へ進む。
なお、プリデータが異常か否かの判定は、例えばプリデータの値が所定の範囲外か否かや、判定対象プリデータに対応するエレメントｄの近傍に位置するエレメントｄのプリデータの平均値と判定対象プリデータの差の絶対値が所定の閾値以上か否かなどにより行うことが出来る。
なお、プリデータが異常か否かの判定は、例えばプリデータの値が所定の範囲外か否かや、判定対象プリデータに対応するエレメントｄの近傍に位置するエレメントｄのプリデータの平均値と判定対象プリデータの差の絶対値が所定の閾値以上か否かなどにより行うことが出来る。
ステップＰ３１では、中央処理装置３は、異常と判定したプリデータに対応する接地スイッチＳをオンにし、異常と判定したプリデータに対応するエレメントｄを接地する。
例えば、図４に示すように、エレメントｄj,i のプリデータが異常と判定され、他のエレメントｄのプリデータが異常でないと判定された場合、接地スイッチＳj,i をオンにし、エレメントｄj,i を接地する。そして、ステップＰ４へ進む。
例えば、図４に示すように、エレメントｄj,i のプリデータが異常と判定され、他のエレメントｄのプリデータが異常でないと判定された場合、接地スイッチＳj,i をオンにし、エレメントｄj,i を接地する。そして、ステップＰ４へ進む。
ステップＰ４では、Ｘ線ＣＴ装置１００は、画像を生成するために必要なデータセットを収集する。
ステップＰ５１では、中央処理装置３は、接地したエレメントｄがあれば、そのエレメントの近傍のエレメントのデータから代替データを算出し、接地したエレメントのデータを置換し、ステップＰ６へ進む。
例えば、図４に示すように、エレメントｄj,i が接地されている場合、エレメントｄj,i の周囲のエレメントｄj-1,i-1、ｄj-1,i、ｄj-1,i+1、ｄj,i-1、ｄj,i+1、ｄj+1,i-1、ｄj+1,i、ｄj+1,i+1 のデータから二次元補間処理により代替データを算出し、それをエレメントｄj,i のデータとする。
なお、接地したエレメントｄがなければ、ステップＰ６へ進む。
例えば、図４に示すように、エレメントｄj,i が接地されている場合、エレメントｄj,i の周囲のエレメントｄj-1,i-1、ｄj-1,i、ｄj-1,i+1、ｄj,i-1、ｄj,i+1、ｄj+1,i-1、ｄj+1,i、ｄj+1,i+1 のデータから二次元補間処理により代替データを算出し、それをエレメントｄj,i のデータとする。
なお、接地したエレメントｄがなければ、ステップＰ６へ進む。
ステップＰ６では、中央処理装置３は、データセットから画像を再構成する。そして、処理を終了する。
実施例１に係るＸ線ＣＴ装置１００によれば、異常エレメントを発見し、その異常エレメントを接地してしまうから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。また、近傍エレメントのデータから算出した代替データの信頼性を向上できる。
図５は、実施例２に係るＸ線ＣＴ装置の動作を示すフロー図である。
ステップＰ１〜Ｐ６のうち、ステップＰ３２，Ｐ５２以外は、実施例１と同じであるので、説明を省略する。
ステップＰ１〜Ｐ６のうち、ステップＰ３２，Ｐ５２以外は、実施例１と同じであるので、説明を省略する。
ステップＰ３２では、中央処理装置３は、異常と判定したプリデータに対応するエレメントｄおよびその周囲のエレメントｄに対応する接地スイッチＳをオンにし、異常と判定したプリデータに対応するエレメントｄおよびその周囲のエレメントｄを接地する。
例えば、図６に示すように、エレメントｄj,i のプリデータが異常と判定された場合、接地スイッチＳj-1,i-1、Ｓj-1,i、Ｓj-1,i+1、Ｓj,i-1、Ｓj,i、Ｓj,i+1、Ｓj+1,i-1、Ｓj+1,i、Ｓj+1,i+1 をオンにし、エレメントｄj-1,i-1、ｄj-1,i、ｄj-1,i+1、ｄj,i-1、ｄj,i、ｄj,i+1、ｄj+1,i-1、ｄj+1,i、ｄj+1,i+1 を接地する。そして、ステップＰ４へ進む。
例えば、図６に示すように、エレメントｄj,i のプリデータが異常と判定された場合、接地スイッチＳj-1,i-1、Ｓj-1,i、Ｓj-1,i+1、Ｓj,i-1、Ｓj,i、Ｓj,i+1、Ｓj+1,i-1、Ｓj+1,i、Ｓj+1,i+1 をオンにし、エレメントｄj-1,i-1、ｄj-1,i、ｄj-1,i+1、ｄj,i-1、ｄj,i、ｄj,i+1、ｄj+1,i-1、ｄj+1,i、ｄj+1,i+1 を接地する。そして、ステップＰ４へ進む。
ステップＰ５２では、中央処理装置３は、接地したエレメントｄがあれば、そのエレメントの近傍のエレメントのデータから代替データを算出し、接地したエレメントのデータを置換し、ステップＰ６へ進む。
ここで、近傍のエレメントは、例えば図６に示すエレメントｄj-1,i-1、ｄj-1,i、ｄj-1,i+1、ｄj,i-1、ｄj,i+1、ｄj+1,i-1、ｄj+1,i、ｄj+1,i+1 の周囲のエレメントとする。
なお、接地したエレメントｄがなければ、ステップＰ６へ進む。
ここで、近傍のエレメントは、例えば図６に示すエレメントｄj-1,i-1、ｄj-1,i、ｄj-1,i+1、ｄj,i-1、ｄj,i+1、ｄj+1,i-1、ｄj+1,i、ｄj+1,i+1 の周囲のエレメントとする。
なお、接地したエレメントｄがなければ、ステップＰ６へ進む。
実施例２に係るＸ線ＣＴ装置によれば、異常エレメントを発見し、その異常エレメントおよびその周囲のエレメントを接地してしまうから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。また、近傍エレメントのデータから算出した代替データの信頼性を向上できる。
図７は、実施例３に係るＸ線ＣＴ装置の動作を示すフロー図である。
ステップＰ１〜Ｐ６のうち、ステップＰ３３，Ｐ５３以外は、実施例１と同じであるので、説明を省略する。
ステップＰ１〜Ｐ６のうち、ステップＰ３３，Ｐ５３以外は、実施例１と同じであるので、説明を省略する。
ステップＰ３３では、中央処理装置３は、異常と判定したプリデータに対応するエレメントｄおよびそれと同じ検出器列のエレメントｄであって異常と判定したプリデータに対応するエレメントｄに隣接するエレメントｄに対応する接地スイッチＳをオンにし、異常と判定したプリデータに対応するエレメントｄおよび同じ検出器列の隣接するエレメントｄを接地する。
例えば、図８に示すように、エレメントｄj,i のプリデータが異常と判定された場合、接地スイッチＳj,i-1、Ｓj,i、Ｓj,i+1 をオンにし、エレメントｄj,i-1、ｄj,i、ｄj,i+1 を接地する。そして、ステップＰ４へ進む。
例えば、図８に示すように、エレメントｄj,i のプリデータが異常と判定された場合、接地スイッチＳj,i-1、Ｓj,i、Ｓj,i+1 をオンにし、エレメントｄj,i-1、ｄj,i、ｄj,i+1 を接地する。そして、ステップＰ４へ進む。
ステップＰ５３では、中央処理装置３は、接地したエレメントｄがあれば、そのエレメントの近傍のエレメントのデータから代替データを算出し、接地したエレメントのデータを置換し、ステップＰ６へ進む。
ここで、近傍のエレメントは、例えば図８に示すようにエレメントｄj-1,i-1、ｄj-1,i、ｄj-1,i+1、ｄj+1,i-1、ｄj+1,i、ｄj+1,i+1 とする。
なお、接地したエレメントｄがなければ、ステップＰ６へ進む。
ここで、近傍のエレメントは、例えば図８に示すようにエレメントｄj-1,i-1、ｄj-1,i、ｄj-1,i+1、ｄj+1,i-1、ｄj+1,i、ｄj+1,i+1 とする。
なお、接地したエレメントｄがなければ、ステップＰ６へ進む。
実施例３に係るＸ線ＣＴ装置によれば、異常エレメントを発見し、その異常エレメントを含む検出器列の隣接するエレメントを接地してしまうから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。また、近傍エレメントのデータから算出した代替データの信頼性を向上できる。
図９は、実施例４に係るＸ線ＣＴ装置の動作を示すフロー図である。
ステップＰ１〜Ｐ６のうち、ステップＰ３４，Ｐ５４以外は、実施例１と同じであるので、説明を省略する。
ステップＰ１〜Ｐ６のうち、ステップＰ３４，Ｐ５４以外は、実施例１と同じであるので、説明を省略する。
ステップＰ３４では、中央処理装置３は、異常と判定したプリデータに対応するエレメントｄおよびそれと同じチャネル番号のエレメントｄであって異常と判定したプリデータに対応するエレメントｄに隣接するエレメントｄに対応する接地スイッチＳをオンにし、異常と判定したプリデータに対応するエレメントｄおよび同じチャネル番号の隣接するエレメントｄを接地する。
例えば、図１０に示すように、エレメントｄj,i のプリデータが異常と判定された場合、接地スイッチＳj-1,i、Ｓj,i、Ｓj+1,i をオンにし、エレメントｄj-1,i、ｄj,i、ｄj+1,i を接地する。そして、ステップＰ４へ進む。
例えば、図１０に示すように、エレメントｄj,i のプリデータが異常と判定された場合、接地スイッチＳj-1,i、Ｓj,i、Ｓj+1,i をオンにし、エレメントｄj-1,i、ｄj,i、ｄj+1,i を接地する。そして、ステップＰ４へ進む。
ステップＰ５４では、中央処理装置３は、接地したエレメントｄがあれば、そのエレメントの近傍のエレメントのデータから代替データを算出し、接地したエレメントのデータを置換し、ステップＰ６へ進む。
ここで、近傍のエレメントは、例えば図１０に示すようにエレメントｄj-1,i-1、ｄj-1,i+1、ｄj,i-1、ｄj,i-1、ｄj+1,i-1、ｄj+1,i+1 とする。
なお、接地したエレメントｄがなければ、ステップＰ６へ進む。
ここで、近傍のエレメントは、例えば図１０に示すようにエレメントｄj-1,i-1、ｄj-1,i+1、ｄj,i-1、ｄj,i-1、ｄj+1,i-1、ｄj+1,i+1 とする。
なお、接地したエレメントｄがなければ、ステップＰ６へ進む。
実施例４に係るＸ線ＣＴ装置によれば、異常エレメントを発見し、その異常エレメントと同じチャネル番号の隣接するエレメントを接地してしまうから、異常エレメントの異常電位が漏洩するなどの影響を近傍エレメントが受けなくなる。これにより、近傍データの信頼性を向上できる。また、近傍エレメントのデータから算出した代替データの信頼性を向上できる。
本発明のＸ線検出器の制御方法およびＸ線ＣＴ装置は、ＣＴ画像の画質を向上させるのに利用できる。
１ 操作コンソール
３ 中央処理装置
２０ 走査ガントリ
２４ Ｘ線検出器
１００ Ｘ線ＣＴ装置
ｄ エレメント
Ｌ 信号線
Ｓ 接地スイッチ
３ 中央処理装置
２０ 走査ガントリ
２４ Ｘ線検出器
１００ Ｘ線ＣＴ装置
ｄ エレメント
Ｌ 信号線
Ｓ 接地スイッチ
Claims (2)
- Ｘ線検出器の各エレメントから出力されたプリデータが異常か否かを判定し、前記異常と判定したプリデータに対応するエレメント、前記異常と判定したプリデータに対応するエレメントと該エレメントの周囲に位置するエレメント、前記異常と判定したプリデータに対応するエレメントと該エレメントに隣接する同じ検出器列のエレメント、及び前記異常と判定したプリデータに対応するエレメントと該エレメントに隣接する同じチャネル番号のエレメントの何れかを接地し、画像を生成するための収集したデータセットに含まれるデータにおいて、前記接地したエレメントの近傍に位置する前記異常でないと判定したプリデータに対応するエレメントから出力されたデータを基に代替データを算出し、前記接地したエレメントのデータとすることを特徴とするＸ線検出器の制御方法。
- Ｘ線検出器の各エレメントから出力されたデータが異常か否かを判定する異常判定手段と、前記異常と判定したプリデータに対応するエレメント、前記異常と判定したプリデータに対応するエレメントと該エレメントの周囲に位置するエレメント、前記異常と判定したプリデータに対応するエレメントと該エレメントに隣接する同じ検出器列のエレメント、及び前記異常と判定したプリデータに対応するエレメントと該エレメントに隣接する同じチャネル番号のエレメントの何れかを接地するための接地手段と、画像を生成するための収集したデータセットに含まれるデータにおいて、前記接地したエレメントの近傍に位置する前記異常でないと判定したプリデータに対応するエレメントから出力されたデータを基に代替データを算出し前記接地したエレメントのデータとするデータ置換手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
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2003
- 2003-12-11 JP JP2003413496A patent/JP4526811B2/ja not_active Expired - Lifetime
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