JPH11241022A - 感光性ポリイミド前駆体組成物及びこれを用いた半導体素子 - Google Patents

感光性ポリイミド前駆体組成物及びこれを用いた半導体素子

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JPH11241022A
JPH11241022A JP4559498A JP4559498A JPH11241022A JP H11241022 A JPH11241022 A JP H11241022A JP 4559498 A JP4559498 A JP 4559498A JP 4559498 A JP4559498 A JP 4559498A JP H11241022 A JPH11241022 A JP H11241022A
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JP
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polyimide precursor
precursor composition
photosensitive polyimide
polyamic acid
photosensitive
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JP4559498A
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English (en)
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Akihiro Sasaki
顕浩 佐々木
Susumu Kawakami
晋 川上
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Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高速現像、高解像、高寸法精度の感光性ポリ
イミド前駆体組成物、耐熱性ポリイミド及び高信頼性半
導体素子を提供する。 【解決手段】 一般式(1) 【化1】 (式中、Xは4価の有機基、Yは2価の有機基を示す)
で示される繰り返し単位を有し、イミド化率が0〜15
%であるポリアミド酸と、塩錯体を介して前記ポリアミ
ド酸のカルボキシル基にイオン結合しうるアミノ基と付
加重合性不飽和二重結合を有する化合物とを含有してな
る感光性ポリイミド前駆体組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高解像、高寸法精
度パターンの形成が可能な感光性ポリイミド前駆体組成
物及びこれを用いた半導体素子に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体工業にあっては、従来より
無機材料を用いて行われていた層間絶縁材料として、ポ
リイミド樹脂等のような耐熱性に優れた有機物が、その
特性を生かして使用されてきている。しかし、半導体集
積回路やプリント基板上の回路パターン形成は、基材表
面へのレジスト材の造膜、所定箇所への露光、エッチン
グ等により不要箇所の除去、基板表面の洗浄作業等の煩
雑で多岐にわたる工程を経てパターン形成が行われるこ
とから、露光、現像によるパターン形成後も必要な部分
のレジストを絶縁材料としてそのまま残して用いること
ができる耐熱感光材料の開発が望まれている。
【0003】これらの材料として、例えば、感光性ポリ
イミド、環化ポリブタジエン等をべースポリマとした耐
熱感光材料が提案されており、特に感光性ポリイミド
は、その耐熱性が優れていることや不純物の排除が容易
であること等の点から特に注目されている。また、この
ような感光性ポリイミドとしては、ポリイミド前駆体と
重クロム酸塩からなる系(特公昭49−17374号公
報)が最初に提案されたが、この材料は、実用的な光感
度を有するとともに膜形成能が高い等の長所を有する反
面、保存安定性に欠け、ポリイミド中にクロムイオンが
残存すること等の欠点があり、実用には至らなかった。
【0004】このような問題を回避するために、例え
ば、ポリイミド前駆体に感光基を有する化合物を混合す
る方法(特開昭54−109828号公報)、ポリイミ
ド前駆体中の官能基と感光基を有する化合物の官能基と
を反応させて感光基を付与させる方法(特開昭56−2
4343号公報、特開昭60−100143号公報等)
などが提案されている。しかし、これらの感光性ポリイ
ミド前駆体は耐熱性、機械特性に優れる芳香族系モノマ
を基本骨格に用いており、そのポリイミド前駆体自体の
吸収のため、紫外領域での透光性が低く、露光部におけ
る光化学反応を充分効果的に行うことができず、低感度
であったり、パターンの形状が悪化するという問題があ
った。また、最近では、半導体の高集積化に伴い、加工
ルール(寸法)が益々小さくなり、より高い解像度が求
められる傾向にある。
【0005】そのため、従来の平行光線を用いるコンタ
クト/プロキシミテイ露光機から、ミラープロジェクシ
ョンと呼ばれる1:1投影露光機、さらにステッパと呼
ばれる縮小投影露光機が用いられるようになってきてい
る。ステッパは、超高圧水銀灯の高出力発振線、エキシ
マレーザのような単色光を利用するものである。これま
でステッパとしては、超高圧水銀灯のg−1ineと呼
ばれる可視光(波長:435nm)を使ったg線ステッ
パが主流であったが、さらに加工ルール微細化の要求に
対応するため、使用するステッパの波長を短くすること
が必要である。そのため、使用する露光機は、g線ステ
ッパ(波長:435nm)からi線ステッパ(波長:3
65nm)に移行しつつある。
【0006】しかし、コンタクト/プロキシミテイ露光
機、ミラープロジェクション投影露光機、g線ステッパ
用に設計された従来の感光性ポリイミドのべースポリマ
では、先に述べた理由により透明性が低く、特にi線
(波長:365nm)での透過率はほとんどないため、
i線ステッパでは、まともなパターンが得られない。ま
た、半導体素子の高密度実装方式であるLOC(リード
オンチップ)に対応して表面保護用ポリイミド膜はさら
に厚膜のものが求められているが、厚膜の場合には、透
過性が低い問題はさらに深刻になる。このため、i線透
過率が高く、i線ステッパにより良好なパターン形状を
有するポリイミドパターンが得られる感光性ポリイミド
が強く求められている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は高解像、高寸
法精度となる感光性ポリイミド前駆体組成物を提供し、
さらにそれと同時に耐熱性に優れるポリイミドとなる感
光性ポリイミド前駆体組成物を提供することを目的と
し、かつそれらに基づく信頼性に優れる半導体素子を提
供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、一般式(1)
【化5】 (式中、Xは4価の有機基、Yは2価の有機基を示す)
で示される繰り返し単位を有し、イミド化率が0〜15
%であるポリアミド酸と、塩錯体を介して前記ポリアミ
ド酸のカルボキシル基にイオン結合しうるアミノ基と付
加重合性不飽和二重結合を有する化合物とを含有してな
る感光性ポリイミド前駆体組成物に関する。
【0009】また本発明は、一般式(1)のYがフッ素
原子を含有する2価の有機基である、前記の感光性ポリ
イミド前駆体組成物に関する。また本発明は、ポリアミ
ド酸のイミド化率が0〜5%である前記の感光性ポリイ
ミド前駆体組成物に関する。
【0010】また本発明は、一般式(1)のXが、
【化6】 である繰り返し単位と
【化7】 又は
【化8】 で示される繰り返し単位を有する前記の感光性ポリイミ
ド前駆体組成物に関する。
【0011】さらに本発明は、前記の感光性ポリイミド
前駆体組成物から形成されるポリイミド膜を有してなる
半導体素子に関する。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明においてポリアミド酸は、
一般式(1)で示される繰り返し単位を有し、かつイミ
ド化率が0〜15%である。イミド化率は0〜10%が
好ましく、0〜5%がより好ましい。ここでイミド化率
とは、ポリアミド酸におけるイミド閉環している割合を
示すものであり、その値はポリアミド酸のカルボキシル
基を電位差滴定装置で定量して求めることができる。感
光性ポリイミド前駆体組成物において、ポリアミド酸を
使用しているものは一般にイミド化率は20%程度であ
る。イミド化率が15%を超えると感光基の導入量が低
下し、感光性ポリイミド前駆体組成物から得られたパタ
ーンの解像度、寸法精度が著しく低下する。
【0013】本発明においてポリアミド酸は、テトラカ
ルボン酸無水物とジアミンとを、必要に応じて用いる有
機溶媒中で、開環重付加反応させることにより合成する
ことができる。従って、一般式(1)におけるXは、テ
トラカルボン酸残基、Yはジアミン残基であることが好
ましく、共に、芳香環(ベンゼン環、ナフタレン環な
ど)を含む基であることが好ましい。本発明におけるポ
リアミド酸としては、前記一般式(1)以外の繰り返し
単位を有する場合、その一部がイミド化した単位のみで
あることが好ましい。上記テトラカルボン酸無水物とし
ては、例えば、2,3,5,6−ベンゼンテトラカルボ
ン酸、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン
酸、オキシジフタル酸、3,3’,4,4’−ベンゾフ
ェノンテトラカルボン酸、1,2,5,6−ナフタレン
テトラカルボン酸、2,3,6,7−ナフタレンテトラ
カルボン酸、1,4,5,8−ナフタレンテトラカルボ
ン酸、2,3,5,6−ピリジンテトラカルボン酸、
3,4,9,10−ペリレンテトラカルボン酸、スルホ
ニルジフタル酸、p−ターフェニル−3,3’,4,
4’−テトラカルボン酸、m−ターフェニル−3,
3’,4,4’−テトラカルボン酸、1,1,1,3,
3,3−ヘキサフルオロ−2,2−ビス(2,3−又は
3,4−ジカルボキシフェニル)プロパン、2,2−ビ
ス(2,3−又は3,4−ジカルボキシフェニル)プロ
パン、2,2−ビス{4’−(2,3−又は3,4−ジ
カルボキシフェノキシ)フェニル}プロパン、1,1,
1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2,2−ビス{4’
−(2,3−又は3,4−ジカルボキシフェノキシ)フ
ェニル}プロパン、下記一般式(2)
【0014】
【化9】
【0015】(式中、R11及びR12は一価の炭化水素基
を示し、それぞれ同一でも異なっていてもよく、sは1
以上の整数である)で表されるテトラカルボン酸等の芳
香族テトラカルボン酸の無水物などが挙げられ、これら
は単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。
【0016】これらの中では、
【化10】 で示される残基を与えるものが好ましく、特に
【化11】 で示される基と
【化12】 又は
【化13】 で示される基を与えるテトラカルボン酸を併用すると、
光透過率、低熱膨張性、パターン性等に優れ好ましく、
その比は前者/後者(モル比)で1/9〜9/1が好ま
しい。テトラカルボン酸の無水物以外に、例えば、テト
ラカルボン酸、テトラカルボン酸塩化物等を用いること
もできる。ジアミンの反応の相手としては、反応性等の
点から、テトラカルボン酸二無水物が好ましい。
【0017】ジアミンとしては、特に制限はなく、例え
ば、2,2’−ジフルオロ−4,4’−ジアミノジフェ
ニル、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,
4’−ジアミノジフェニル、2,2’,6,6’−テト
ラフルオロ−4,4’−ジアミノジフェニル、4,4’
−(又は3,4’−、3,3’−、2,4’−、2,
2’−)ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−(又
は3,4’−、3,3’−、2,4’−、2,2’−)
ジアミノジフェニルメタン、4,4’−(又は3,4’
−、3,3’−、2,4’−、2,2’−)ジアミノジ
フェニルスルホン、4,4’−(又は3,4’−、3,
3’−、2,4’−、2,2’−)ジアミノジフェニル
スルフィド、パラフェニレンジアミン、メタフェニレン
ジアミン、p−キシリレンジアミン、m−キシリレンジ
アミン、o−トリジン、o−トリジンスルホン、4,
4’−メチレン−ビス−(2,6−ジエチルアニリ
ン)、4,4’−メチレン−ビス−(2,6−ジイソプ
ロピルアニリン)、2,4−ジアミノメシチレン、1,
5−ジアミノナフタレン、4,4’−ベンゾフェノンジ
アミン、ビスー{4−(4’−アミノフェノキシ)フェ
ニル}スルホン、1,1,1,3,3,3−ヘキサフル
オロ−2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、
2,2−ビス{4−(4’−アミノフェノキシ)フェニ
ル}プロパン、3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミ
ノジフェニルメタン、3,3’,5,5’−テトラメチ
ル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、ビス{4−
(3’−アミノフェノキシ)フェニル}スルホン、2,
2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン等が挙げら
れ、これらは単独で又は2種類以上を組み合わせて使用
される。これらの中で、フッ素原子を含有するジアミン
を用いると、特別な反応形態をとることなく、本発明の
イミド化率に調整することが可能であり、しかも優れた
光透過性、パターン性等を有するので好ましい。中でも
フッ素原子が芳香環に直接結合したものが効果が高く好
ましい。また、下記一般式(3)
【0018】
【化14】
【0019】(式中、R13及びR14は二価の炭化水素基
を示し、それぞれ同一でも異なっていてもよく、R15
びR16は一価の炭化水素基を示し、それぞれ同一でも異
なっていてもよく、tは1以上の整数である)で表され
るジアミノポリシロキサン等の脂肪族ジアミンを全ジア
ミンの1〜20モル%併用すると塗膜の接着性にも優れ
るので好ましい。
【0020】前記開環重付加反応に使用する有機溶媒と
しては、生成するポリイミド前駆体を完全に溶解する極
性溶媒が好ましく、例えば、N−メチル−2−ピロリド
ン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチル
ホルムアミド、ジメチルスルホキシド、テトラメチル尿
素、ヘキサメチルリン酸トリアミド、γ−ブチロラクト
ン等が挙げられる。また、この極性溶媒以外の、ケトン
類、エステル類、ラクトン類、エーテル類、ハロゲン化
炭化水素類、炭化水素類等も使用することができ、例え
ば、アセトン、ジエチルケトン、メチルエチルケトン、
メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、酢酸メチ
ル、酢酸エチル、酢酸ブチル、シュウ酸ジエチル、マロ
ン酸ジエチル、ジエチルエーテル、エチレングリコール
ジメチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエー
テル、テトラヒドロフラン、ジクロロメタン、1,2−
ジクロロエタン、1,4−ジクロロブタン、トリクロロ
エタン、クロロベンゼン、o−ジクロロベンゼン、ヘキ
サン、ヘプタン、オクタン、ベンゼン、トルエン、キシ
レン等が挙げられる。これらの有機溶媒は、単独で又は
2種類以上を組み合わせて使用される。
【0021】反応温度、時間は特に制限されないが、本
発明のイミド化率を達成するためには、冷却下に反応さ
せたり、テトラカルボン酸二無水物とジアミンのモル比
を調整したり、前述のようにフッ素含有ジアミンを用い
る等の方法をとることができる。
【0022】本発明の感光性ポリイミド前駆体組成物
は、前記ポリイミド前駆体に、アミノ基と付加重合性二
重結合を有する化合物を配合して塩錯体を形成させるこ
とにより感光性を付与することにより得られる。
【0023】本発明においてアミノ基と付加重合性二重
結合を有する化合物としては、アミノ基を有するアクリ
ル系化合物が好ましく、例えば、N,N−ジメチルアミ
ノエチルメタクリレート、N,N−ジエチルアミノエチ
ルメタクリレート、N,N−ジメチルアミノプロピルメ
タクリレート、N,N−ジエチルアミノプロピルメタク
リレート、N,N−ジメチルアミノエチルアクリレー
ト、N,N−ジエチルアミノエチルアクリレート、N,
N−ジメチルアミノプロビルアクリレート、N,N−ジ
エチルアミノプロピルアクリレート、N,N−ジメチル
アミノエチルアクリルアミド、N,N−ジメチルアミノ
エチルアクリルアミド等が挙げられる。これらは単独で
又は2種類以上を組み合わせて使用される。
【0024】アミノ基と付加重合性二重結合を有する化
合物の使用量は、ポリアミド酸の量に対して、1〜20
0重量%とすることが好ましく、5〜150重量%とす
ることがより好ましい。この使用量が、1重量%未満で
あると、光感度が劣る傾向があり、200重量%を超え
ると、耐熱性、フィルムの機械特性等が劣る傾向があ
る。
【0025】また、本発明の感光性ポリイミド前駆体組
成物には、必要に応じて、光開始剤を含有することがで
きる。光開始剤としては、例えば、ミヒラーズケトン、
ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテ
ル、ベンゾインイソプロピルエーテル、2−t−ブチル
アントラキノン、2−エチルアントラキノン、4,4,
−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、アセトフェ
ノン、ベンゾフェノン、チオキサントン、2,2−ジメ
トキシ−2−フェニルアセトフェノン、1−ヒドロキシ
シクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−[4−
(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−1−プ
ロパノン、ベンジル、ジフェニルジスルフィド、フェナ
ンスレンキノン、2−イソプロピルチオキサントン、リ
ボフラビンテトラブチレート、2,6−ビス(p−ジエ
チルアミノベンザル)−4−メチル−4−アザシクロヘ
キサノン、N−エチル−N−(p−クロロフェニル)グ
リシン、N−フェニルジエタノールアミン、2−(o−
エトキシカルボニル)オキシイミノ−1,3−ジフェニ
ルプロパンジオン、1−フェニル−2−(o−エトキシ
カルボニル)オキシイミノプロパン−1−オン、3,
3,4,4,−テトラ(t−ブチルパーオキシカルボニ
ル)ベンゾフェノン、3,3,−カルボニルビス(7−
ジエチルアミノクマリン)、ビス(シクロペンタジエニ
ル)−ビス−[2,6−ジフルオロ−3−(ピリ−1−
イル)フェニル]チタン等が挙げられる。これらは単独
で又は2種類以上を組み合わせて使用される。
【0026】光開始剤の使用量は、ポリアミド酸の量に
対して、0.01〜30重量%とすることが好ましく、
0.05〜10重量%とすることがより好ましい。この
使用量が、0.01重量%未満では、光感度が劣る傾向
があり、30重量%を超えると、フィルムの機械特性が
劣る傾向がある。
【0027】また、本発明の感光性ポリイミド前駆体組
成物には、必要に応じて、付加重合性化合物を含有する
ことができる。付加重合性化合物としては、例えば、ジ
エチレングリコールジアクリレート、トリエチレングリ
コールジアクリレート、テトラエチレングリコールジア
クリレート、ジエチレングリコールジメタクリレート、
トリエチレングリコールジメタクリレート、テトラエチ
レングリコールジメタクリレート、トリメチロールプロ
パンジアクリレート、トリメチロールプロパントリアク
リレート、トリメチロールプロパンジメタクリレート、
トリメチロールプロパントリメタクリレート、1,4−
ブタンジオールジアクリレート、1,6−ヘキサンジオ
ールジアクリレート、1,4−ブタンジオールジメタク
リレート、1,6−ヘキサンジオールメタクリレート、
ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリス
リトールテトラアクリレート、ペンタエリスリトールト
リメタクリレート、ペンタエリスリトールテトラメタク
リレート、スチレン、ジビニルベンゼン、4−ビニルト
ルエン、4−ビニルピリジン、N−ビニルピロリドン、
2−ヒドロキシエチルアクリレート、2−ヒドロキシエ
チルメタクリレート、1,3−アクリロイルオキシ−2
−ヒドロキシプロパン、1,3−メタクリロイルオキシ
−2−ヒドロキシプロパン、メチレンビスアクリルアミ
ド、N,N−ジメチルアクリルアミド、N−メチロール
アクリルアミド等が挙げられる。これらの中では、2以
上の付加重合性基を有するものが好ましい。これらは単
独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。
【0028】付加重合性化合物の使用量は、ポリアミド
酸の量に対して、1〜200重量%とすることが好まし
い。この使用量が、1重量%未満では、現像液への溶解
性も含んだ感光特性が劣る傾向があり、200重量%を
超えると、フィルムの機械特性が劣る傾向がある。ま
た、本発明の感光性ポリイミド前駆体組成物には、必要
に応じて、アジド化合物を含有することができる。アジ
ド化合物としては、例えば、
【0029】
【化15】
【0030】
【化16】
【0031】等が挙げられる。これらは単独で又は2種
類以上を組み合わせて使用される。アジド化合物の使用
量は、ポリアミド酸の量に対して、0.01〜30重量
%とすることが好ましく、0.05〜10重量%とする
ことがより好ましい。この使用量が、0.01重量%未
満では、光感度が劣る傾向があり、30重量%を超える
と、フィルムの機械特性が劣る傾向がある。
【0032】また、本発明の感光性ポリイミド前駆体組
成物には、保存時の安定性を高めるために、ラジカル重
合禁止剤又はラジカル重合抑制剤を含有することができ
る。ラジカル重合禁止剤又はラジカル重合抑制剤として
は、例えば、p−メトキシフェノール、ジフェニル−p
−ベンゾキノン、ベンゾキノン、ハイドロキノン、ピロ
ガロール、フェノチアジン、レソルシノール、オルトジ
ニトロベンゼン、パラジニトロベンゼン、メタジニトロ
ベンゼン、フェナントラキノン、N−フェニル−1−ナ
フチルアミン、N−フェニル−2−ナフチルアミン、ク
ペロン、フェノチアジン、2,5−トルキノン、タンニ
ン酸、パラベンジルアミノフェノール、ニトロソアミン
類等が挙げられる。これらは単独で又は2種類以上を組
み合わせて使用される。
【0033】ラジカル重合禁止剤又はラジカル重合抑制
剤の使用量は、ポリアミド酸の量に対して、0.01〜
30重量%とすることが好ましく、0.05〜10重量
%とすることがより好ましい。この使用量が、0.01
重量%未満であると、保存時の安定性が劣る傾向があ
り、30重量%を超えると、光感度及びフィルムの機械
特性が劣る傾向がある。本発明において感光性ポリイミ
ド前駆体組成物は、そのプリベーク膜の、N−メチルピ
ロリドン75重量%とメタノール25重量%の混合液を
溶解液とした場合の溶解速度を、0.1〜0.3(μm
/sec)となるように調整することが好ましく、0.
15〜0.25(μm/sec)がより好ましい。溶解
速度が0.1(μm/sec)未満の場合、未露光部の
溶解性が低いため、露光部との溶解度差が小さく、良好
なパターンが得られない傾向にあり、また、溶解速度が
0.3(μm/sec)を越えると露光部が若干溶解
し、寸法精度が低下する傾向にある。
【0034】本発明の感光性ポリイミド前駆体組成物
は、浸漬法、スプレー法、スクリーン印刷法、回転塗布
法等によってシリコンウエハー、金属基板、セラミック
基板等の基材上に塗布され、溶剤の大部分を加熱乾燥す
ることにより粘着性のない塗膜とすることができる。こ
の塗膜の膜厚には特に制限はないが、回路特性等の点か
ら、4〜50μmであることが好ましく、6〜40μm
であることがより好ましく、10〜40μmであること
が特に好ましく、20〜35μmであることが極めて好
ましい。この塗膜上に、所望のパターンが描かれたマス
クを通して活性光線又は化学線を照射する等してパター
ン状に露光後、未露光部を適当な現像液で現像して溶解
し、除去することにより、所望のレリーフパターンを得
ることができる。
【0035】本発明の感光性ポリイミド前駆体組成物
は、i−線ステッパ用に特に好適であるが、照射する活
性光線又は化学線としては、i−線ステッパ以外に、例
えば、超高圧水銀灯を用いるコンタクト/プロキシミテ
イ露光機、ミラープロジェクション露光機、g−線ステ
ッパ、その他の紫外線、可視光源、X線、電子線等も使
用することができる。現像液としては、例えば、良溶媒
(N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルア
セトアミド、N−メチル−2−ピロリドン等)、前記良
溶媒と貧溶媒(低級アルコール、ケトン、水、芳香族炭
化水素等)との混合溶媒、塩基性溶液(水酸化テトラメ
チルアンモニウム水溶液、トリエタノールアミン水溶液
等)が挙げられる。現像液は、特にN−メチルピロリド
ンとメタノールの混合液が好ましく、その比が75/2
5(重量比)のものが最も好ましい。
【0036】現像後は、必要に応じて、水又は貧溶媒で
リンスを行い、100℃前後で乾燥し、パターンを安定
なものとすることが好ましい。また、このレリーフパタ
ーンを、加熱することによりパターン化された高耐熱性
ポリイミドを形成することができる。この時の加熱温度
は、150〜500℃とすることが好ましく、200〜
400℃とすることがより好ましい。この加熱温度が、
150℃未満であると、ポリイミド膜の機械特性及び熱
特性が低下する傾向があり、500℃を超えると、ポリ
イミド膜の機械特性及び熱特性が低下する傾向がある。
また、この時の加熱時間は、0.05〜10時間とする
ことが好ましい。この加熱時間が、0.05時間未満で
あると、ポリイミド膜の機械特性及び熱特性が低下する
傾向があり、10時間を超えると、ポリイミド膜の機械
特性及び熱特性が低下する傾向がある。
【0037】本発明の感光性ポリイミド前駆体組成物
は、前述のようにしてパターンを形成することにより半
導体用表面保護膜、多層配線板の層間絶縁膜等に使用す
ることができる。
【0038】本発明の半導体素子は、前記感光性ポリイ
ミド前駆体組成物を用いて得られる表面保護膜又は層間
絶縁膜を有するものである。本発明の半導体素子におい
ては、さらに本発明の感光性ポリイミド前駆体組成物を
用いたポリイミドパターンをマスクとして用いて、ドラ
イエッチングによりパッシベーション膜を加工すること
もできる。パッシベーション膜の加工とは、通常、外部
からの化学的な影響を防ぐために、SiO、SiN等の
無機物を用いて形成されているパッシベーション膜の導
通部開口を行う加工のことである。なお、このパッシベ
ーション膜の上に残存するポリイミドパターンは、封止
剤からの物理的影響を防ぎ、表面保護膜としても機能す
る。
【0039】また、前記パッシベーション膜の加工は、
ボンディングパットの上と補償回路の上のパッシベーシ
ョン膜をドライエッチング等で除去する加工であること
が、歩留向上等の点から好ましい。
【0040】
【実施例】以下、実施例等により本発明を説明する。 合成例1〜6 攪拌機及び温度計を備えた100mlのフラスコに、表
1に示したジアミン成分及びN−メチル−2−ピロリド
ンを加え、室温で攪拌溶解し、この溶液に表1に示した
酸成分を添加し、30時間攪拌し、粘稠なポリイミド前
駆体の溶液を得た。さらに、この溶液を、70℃で5時
間加熱し、粘度を80ポイズ(固形分25重量%)に調
節し、ポリイミド前駆体の溶液(PAA−1〜PAA−
6)とした。なお、ジアミン成分、酸成分及びN−メチ
ル−2−ピロリドンの各使用量は、表1に合わせて示し
た。
【0041】なお、粘度は、E型粘度計(東機産業
(株)製、EHD型)を使用し、温度25℃、回転数
2.5rpmで測定した。また、得られたポリイミド前
駆体の溶液(PAA−1〜PAA−6)を乾燥させたも
のを、KBr法により、赤外吸収スペクトル(日本電子
(株)製、JIR−100型)を測定したところ、いず
れも、1600cm-1付近にアミド基のC=Oの吸収
と、3300cm-1付近にN−Hの吸収が確認された。
【0042】
【表1】 <略号>ODPA:オキシジフタル酸二無水物、s−B
PDA:3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボ
ン酸二無水物、p−TPDA:p−ターフェニル−3,
3’,4,4’−テトラカルボン酸二無水物、DFA
P:2,2’−ジフルオロ−4,4’−ジアミノジフェ
ニル、TFDB:2,2’−ビス(トリフルオロメチ
ル)−4,4’−ジアミノジフェニル、DMAP:2,
2’−ジメチル−4,4’−ジアミノジフェニル、DD
E:ジアミノジフェニルエーテル、NMP:N−メチル
−2−ピロリドン
【0043】実施例1〜3及び比較例1〜3 合成例1〜6で得られた、各ポリイミド前駆体(PAA
−1〜PAA−6)の溶液10gに対して、2,6−ビ
ス(4’−アジドベンザル)−4−カルボキシシクロヘ
キサノン(CA)0.027g、4,4’−ビス(ジエ
チルアミノ)ベンゾフェノン(EAB)0.027g及
び1−フェニル−2−(o−エトキシカルボニル)オキ
シイミノプロパン−1−オン(PDO)0.054gを
加え、さらに、ポリイミド前駆体のカルボキシル基と当
量のジメチルアミノプロピルメタクリレート(MDA
P)を加え、攪拌混合して、実施例1〜3及び比較例1
〜3に供する均一な感光性樹脂組成物溶液を得た。
【0044】
【化17】
【0045】得られた感光性樹脂組成物溶液を、フィル
タ濾過し、それぞれシリコンウエハ上に滴下しスピンコ
ートした。次いで、ホットプレートを用いて、80℃で
100秒間更に95℃で100秒間加熱し、20μmの
塗膜を形成した後、パターンマスクし、i線ステッパで
露光した。これを、さらに115℃で60秒間加熱し、
N−メチル−2−ピロリドン/メタノール(75/25
(重量比))の混合溶液を用いて、バドル現像し、これ
を、100℃で30分間、200℃で30分間、400
℃で60分間加熱して、ポリイミドのレリーフパターン
を得た。得られたポリイミドのレリーフパターンの一部
について、KBr法により、赤外吸収スペクトルを測定
したところ、1780cm-1付近にイミドの特性吸収が
確認された。
【0046】合成例1〜6で得られた各ポリイミド前駆
体(PAA−1〜PAA−6)のイミド化率と感光性組
成物のプリベイク後の溶解速度と前記で得られたレリー
フパターンの解像度及び寸法ずれを以下の方法により評
価し、これらの評価結果を表2に示した。イミド化率
は、得られた各ポリイミド前駆体(PAA−1〜PAA
−6)の樹脂溶液を平沼産業製電位差滴定装置(COM
TITE−900)でカルボキシル基を測定した。溶解
速度は、感光性組成物をシリコンウェハ上にスピンコー
トし、80℃で100秒間、さらに95℃で100秒間
乾燥して得られた塗膜(膜厚15μm)を、N−メチル
−2−ピロリドン/メタノール(75/25(重量
比))の混合溶液に浸漬し、目視で溶解する時間(干渉
縞が消えるまでの時間)を測定した。解像度は、スルホ
ールテストパターンを用いて、現像可能なスルホールの
最小の大きさとして評価した。寸法ずれは、現像後の1
00μm角パターン寸法を顕微鏡で測定し、マスク寸法
との差を寸法ずれとした。
【0047】次に、上記の実施例1〜3及び比較例1〜
3で得られたレリーフパターンを100℃で30分間、
200℃で30分間、窒素雰囲気下400℃で60分間
加熱してポリイミドパターンを得た。実施例1〜3のレ
リーフパターンから得られたポリイミドパターンは、レ
リーフパターンのパターン形状及び解像度が良好であっ
た。比較例1〜3のレリーフパターンから得られたポリ
イミドパターンは、解像度が不良であり、好ましくない
パターン形状を有していた。
【0048】
【表2】
【0049】実施例4 2,6−ビス(4’−アジドベンザル)−4−カルボキ
シシクロヘキサノンを使用しなかった以外は、実施例1
と同様に組成物を製造し評価したところ、実施例1とほ
ぼ同等の良好な結果を得た。
【0050】実施例5 2,6−ビス(4’−アジドベンザル)−4−カルボキ
シシクロヘキサノンを使用しなかった以外は、実施例3
と同様に組成物を製造し評価したところ、実施例3とほ
ぼ同等の良好な結果を得た。
【0051】
【発明の効果】請求項1〜3記載の発明によれば、高解
像、高寸法精度となり、さらに耐熱性に優れ、低イミド
化率かつ高速溶解性の感光性ポリイミド前駆体組成物が
得られる。請求項4記載の発明によれば、請求項1、2
及び3記載の発明の効果に加え、高光透過性でかつ低熱
膨張性のポリイミド前駆体組成物が得られる。請求項5
記載の発明によれば、信頼性に優れる半導体素子が得ら
れる。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一般式(1) 【化1】 (式中、Xは4価の有機基、Yは2価の有機基を示す)
    で示される繰り返し単位を有し、イミド化率が0〜15
    %であるポリアミド酸と、塩錯体を介して前記ポリアミ
    ド酸のカルボキシル基にイオン結合しうるアミノ基と付
    加重合性不飽和二重結合を有する化合物とを含有してな
    る感光性ポリイミド前駆体組成物。
  2. 【請求項2】 一般式(1)のYがフッ素原子を含有す
    る2価の有機基である、請求項1記載の感光性ポリイミ
    ド前駆体組成物。
  3. 【請求項3】 ポリアミド酸のイミド化率が0〜5%で
    ある請求項1又は2記載の感光性ポリイミド前駆体組成
    物。
  4. 【請求項4】 一般式(1)のXが、 【化2】 である繰り返し単位と 【化3】 又は 【化4】 で示される繰り返し単位を有する請求項1、2又は3記
    載の感光性ポリイミド前駆体組成物。
  5. 【請求項5】 請求項1、2、3又は4記載の感光性ポ
    リイミド前駆体組成物から形成されるポリイミド膜を有
    してなる半導体素子。
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