JPH11238960A - プリント基板及び該プリント基板のはんだ付け方法 - Google Patents

プリント基板及び該プリント基板のはんだ付け方法

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JPH11238960A
JPH11238960A JP3683798A JP3683798A JPH11238960A JP H11238960 A JPH11238960 A JP H11238960A JP 3683798 A JP3683798 A JP 3683798A JP 3683798 A JP3683798 A JP 3683798A JP H11238960 A JPH11238960 A JP H11238960A
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JP
Japan
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land
printed circuit
circuit board
lands
warpage
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JP3683798A
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Rie Kato
利恵 加藤
Tatsuo Ietomi
辰夫 家富
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Sony Corp
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Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 はんだ付け時にリード浮きの発生しないプリ
ント基板を提供する。 【解決手段】 複数のリード4を有する電子部品2をは
んだ付けするこれらリードに対応した複数のランド3〜
3bを有するプリント基板1のランドの形状をプリント
基板1の反りに応じたはんだ盛り上がり量となるように
定める。ランドの形状をプリント基板の反りの大きいリ
ードの箇所ほど幅を小さするとリフローはんだ付け時に
溶融したはんだも盛り上がり量を大きくなり全体として
はんだ盛り上がり高さが一様になる。これによってプリ
ント基板に下反りがあってもはんだ付け時にリード浮き
が発生しない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板に反
りが発生しても部品のはんだ付け不良を防止したプリン
ト基板、プリント基板のはんだ付け方法及びプリント基
板のランド形状決定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図8(A)及び図8(B)に示すよう
に、従来、プリント基板1の表面実装において、電子部
品2のリード4を接続する同一形状のランド3上にクリ
ームはんだ5をメタルスクリーンによる印刷によって供
給し、そこに電子部品2のリード4を載せる形で電子部
品2を装着する。そして、矢印で示すリフロー方向に移
動させてリフロー炉における加熱によってクリームはん
だ4を溶融してプリント基板1側のランド3と電子部品
2側のリード4とを接合させた後、冷却工程において冷
却することではんだ付けを完了させている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前記リフローはんだ付
け工程において、リフロー炉は150〜240℃ではん
だを溶融しその後はんだを固めるために60〜80℃で
冷却するが、図8(B)に示すように、その温度差やプ
リント基板1に搭載する電子部品2の重さなどの影響に
よりプリント基板1に下反り1aが発生する。プリント
基板1が反ると電子部品2のリード4とクリームはんだ
5との間に隙間6ができ、特に多ピン化されたICやコ
ネクタ等の多ピン化電子部品においては、はんだ付後に
ランドの中央部分ほどリード浮き7が発生し易く、リー
ド浮きにならずともはんだによる接合が不十分で接触不
良を起こす原因となる。
【0004】そこで、従来は前記接触不良を防止するた
めに、バックアップピン等の反り防止金具を活用した
り、ランド面積を一定にしてクリームはんだ供給量を増
したりしたが、前者の方法では高密度実装基板では作業
工数が増大し、また後者の方法ではブリッジを引き起こ
す要因となり供給はんだ量に限界があった。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数のリード
を有する電子部品をはんだ付けするランドの形状を、基
板の反りに応じたはんだ盛り上がり量となるように定め
る。これによって基板に反りがあってもはんだ盛り上が
り量が一様になり、リード浮きが発生しなくなる。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図1
を参照しながら説明する。図1は、ピンコネクタ等の多
ピ化電子部品2のリードの配列に対応したプリント基板
1のランドの形状及びこれらランドに印刷したクリーム
はんだのはんだ盛り上がり量により前記問題点を解決し
た一例を示している。前記したように電子部品の長さに
もよるが、プリント基板1上では電子部品2のリード4
とプリント基板のランドに印刷したクリームはんだ間の
リード浮き不良は電子部品の中央部ほど発生し易い。
【0007】そこで、プリント基板1上の電子部品2の
リード4がはんだ付けされるランド配列の外側に位置す
るランド3からその内側に位置するランド3a、3bの
順にランド幅を小さくするとともに全てのランドの長さ
を同一にする。つまりプリント基板1の反りに応じてラ
ンド幅を小さく定める。ランド幅は基板の反り具合、電
子部品内の端子ピッチ間隔、部品占有面積等を考慮して
外側から順次小さくするか、複数グループに分割して順
次小さくするかを定める。このようにランド形状を定め
ると、各ランドに等量のクリームはんだ5を印刷しても
リフローはんだ付け時に幅の小さいランドほど溶融した
はんだが高く盛り上がってはんだの高さが一様になり、
プリント基板1の反りに対応したはんだの盛り上がり量
が得られ、はんだ付け後のリード浮き不良を解消でき
る。
【0008】この実施の形態ではランドの長さは全て同
一でその幅をプリント基板の反りに対応して変えている
が、幅を同一にしてプリント基板の反りに応じて長さを
かえても同様の効果が得られる。この場合は中央部の反
りが大きいランドほど長さを短くする。また、他の実施
の形態としてプリント基板作製時にランドは全て同一形
状にしてはんだレジストをランドに塗布してランドのは
んだ付け有効幅やはんだ付け有効長さを定めても同等の
効果が得られると共に従来のプリント基板をそのまま採
用できる。
【0009】以下、前記プリント基板の反り量を考慮し
たランド形状の決定方法について図2乃至図7を参照し
ながら説明する。図2にはランド形状決定方法の第1の
決定方法のステップの概略を示している。
【0010】〈ステップ1〉はんだ付けすべき電子部品
を全て載せた基板の反り量を測定する。この測定は、板
厚、材質が同一でサイズの類似した基板をレーザ変位計
などで行う。基本的にはリフロー時の基板の反りは部品
搭載基板の自重で決まり、基板の反りは基板下方向への
反りのみである。
【0011】〈ステップ2〉ランド面積を算出する。こ
こでランドへのはんだ供給量を固定し、はんだ溶融後の
はんだ盛り上がり量と、はんだ供給スクリーン開口とラ
ンド面積との比率の関係式より後述するようにランド面
積を算出する。
【0012】〈ステップ3〉ランド形状を検討する。こ
こで電子部品内の端子ピッチ間隔及び部品占有面積を考
慮し、ランド幅寸法かランド長さ寸法のいずれを変化さ
せるか検討する。この検討結果に基づいてランド形状を
決定する。
【0013】以下、前記各ステップについて具体的に説
明する。まず、ステップ1の基板反り量の測定は、図3
(A)に示すようにプリント基板1の特に多ピン化電子
部品のランドが配列されている近傍を基板反り量測定点
8として選択する。そして、前記各測定点における反り
量は、図3(B)に示すようにレーザ変位計9等を用い
て各測定点からの距離をそれぞれ測定して基準点(基板
の端部)の距離との差を求めることにより算出する。図
3(C)は測定点8に対応する、はんだ付けされる電子
部品2のリード4の位置、リード間長さL、最大反り量
Yを拡大して示している。
【0014】一例として、基板サイズが250mm×2
50mm、基板厚が1.0mm、基板材質FR−4(ガ
ラスエポキシ)材、L=50mmであるプリント基板を
測定した時の最大基板反り発生部の反り量=0.025
mmであった。該反り量は一見小さく見えるが多ピン化
電子部品ではランド間が極めて接近しているため、無視
できない反り量となる。
【0015】次に、ステップ2のランド面積の算出を図
4に示すスクリーン開口・ランド面積比率とはんだ盛り
上がり量の関係を示すグラフ用いて説明する。図4にお
いて横軸はスクリーン開口・ランドの面積比率を、縦軸
ははんだ盛り上がり量(mm)である。クリームはんだ
印刷時のスクリーン厚0.15mmでは、はんだ溶融後
約半分の厚さ0.075mmとなるため、はんだ盛り上
がり量の補正値は、図4のグラフから補正前のはんだ盛
り上がり量の式y=0.075xからはんだ盛り上がり
補正式y=0.075x−0.075なる式が得られ
る。なお、図4のグラフは原点を(0,0.6)として
いる。
【0016】前記補正式にスクリーン開口面積sとラン
ド面積pの比率を表わすx=s/pを代入してp=0.
075s/(y+0.075)の式が得られる。ここ
で、前記ランドの面積を算出する式を利用し、前記例示
した最大基板反り発生領域の各測定点での反り量の基板
に適用してみると、最大基板反り量は0.025mmで
あるから、スクリーン開口面積s=幅0.3mm×長さ
2.0mm=0.6mm2 のスクリーンでクリームはん
だをランドに印刷した場合は、p=0.075×0.6
/(0.025+0.075)=0.45mm2 とな
り、ランドの面積p=が算出される。このときx=s/
p=0.6/0.45=1.33となる。以下、同様の
方法でランド面積を他の反り発生部の測定点でも算出す
る。
【0017】前記グラフで求めたはんだ盛り上がり量の
補正値の式から求められる補正はんだ盛り上がり量は、
図5に示すように基本はんだ盛り上がり量0.075m
mに対し基板反りによって不足となる分を補うための補
正分はんだ盛り上がり量である。この量を前記算出した
ランドの面積pに基づいてランド形状を検討する。
【0018】ここで一例として求めた最大反り発生部で
のランド面積p=0.45mm2 の面積を電子部品の端
子長さ方向のランド寸法を固定にした場合の幅方向ラン
ド寸法を計算すると、例えば固定したランド長さ寸法が
2.0mmのとき、ランド幅寸法=0.45/2.0=
0.225mmとなる。以下同様に各リードに対応する
ランド寸法を基板の反り量より順次算出する。
【0019】このように算出されたランド寸法を基板毎
に計算してデータをROMなどに格納しておけば、該デ
ータを利用することにより基板の設計が容易になる。こ
こでは、ランド幅の決定は全てのランドについて行った
が、基板の反りを考慮してランドを複数のグループに分
割してグループ内の反りの平均値を求めてグループ内で
は同一のランド形状に決定しても同等の効果が得られ
た。
【0020】前記ランド形状の決定は、厳密に求める方
法であるが、次に簡易にランド幅を決定する方法を説明
する。この方法は、経験的に基板の反りの状態を見て、
一個の電子部品がはんだ付けされる複数のランドを中央
から左右に分けてさらに三等分し、中央のランドほどラ
ンド幅を狭くしてクリームはんだが盛り上がるようにす
れば大体の反りに代用できることを知見したものであ
る。
【0021】以下、68ピンコネクタの例で説明する。
図6には68ピンコネクタに対応する従来のランドの配
列を示している。各ランドの幅aは0.65mm、長さ
は3.25mmである。以下、枠10で囲んで図示した
部分の1ピンから中央の17ピンに対応するランド#1
〜#17に着目して説明する。
【0022】〈ステップ1〉図6(A)に示すランドの
一列分#1〜#34を二等分して2つのグループに分割
すると、34/2=17となり図6(B)に示すように
ランド#1〜#17が抽出される。
【0023】〈ステップ2〉二等分したランド配列を一
部を除いて等分になるように三分割(17÷3=5+6
+6)して3つのランドグループを作る。ここで図6
(C)に示すように三分割されたランドグループをそれ
ぞれグループA、グループB及びグループCとする。こ
の場合グループAのランド数を5とし、グループB及び
グループCのランド数をそれぞれ6になるように分割す
る。ここで割り切れるランド数の場合は三等分になるこ
とは言うまでもない。
【0024】〈ステップ3〉ここで最大ランド幅をa
(mm)として次のように各グループのランド幅を決定
する。まず、グループCのランド幅をa/2(=b)と
する。グループBのランド幅をb/2+b=3b/2=
3a/4とする。グループAのランド幅をaとする。前
記のように3分割してランド幅を定めてもリード浮きが
発生しないはんだ盛り上がり量が得られた。
【0025】一例としてピッチが1.27×16=2
0.32mm、ランド最大幅a=0.65mm、長さ
3.25mmでのランドの長さを固定して適用すると、
グループAのランド(#1〜#5)のランド幅a=0.
65mm、グループCのランド(#12〜#17)のラ
ンド幅a/2=0.325mm、グループBのランド
(#6〜#11)のランド幅3a/4=0.4875m
mとなり、図7に示すようなランド形状が得られる。
【0026】したがって、一列の34ピン全体に対応す
るランド#18〜#34まで対称に同等寸法となるよう
にランド形状を定めれば良い。つまり18〜23ピンに
対応するランドの幅はグループCと同じランド幅0.3
25mm、24〜29ピンに対応するランドの幅はグル
ープBと同じランド幅0.4875mm、30〜34ピ
ンに対応するランドの幅はグループAのランド幅0.6
5mmとなる。以下ピン35〜68についても同様に定
める。このようにランド幅を定めても、各ランドに等量
のクリームはんだを印刷して実験した結果、リード浮き
の防止に良好な結果が得られた。
【0027】前記実施の形態ではランドの形状を定める
にあたり、ランドの幅を変更する例で説明したが、ラン
ド幅を同一にしてランド長さを変更しても同様の効果が
得られる。
【0028】
【発明の効果】本発明は、プリント基板のランドの形状
を基板の反りに応じたはんだ盛り上がり量となるように
したから、基板に反りがあってもはんだ付け時にリード
浮きが発生せず、はんだ付け品質が向上する。また、プ
リント基板の反りに応じてプリント基板のランドの形状
を変更するだけであるから、新たな設備を必要としない
で従来使用している実装設備と実装工程をそのまま使用
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の説明図である。
【図2】本発明のランド形状決定の第1の方法の概略フ
ローを示す図である。
【図3】本発明の第1のランド形状決定方法におけるプ
リント基板の反り量測定の説明図である。
【図4】本発明の第1のランド形状決定方法におけるプ
リント基板の反り量に対応したはんだ盛り上がり補正数
値を求めるグラフである。
【図5】本発明の第1のランド形状決定方法における基
本はんだ盛り上がり量と補正分はんだ盛り上がり量の状
態を示す図である。
【図6】本発明のランド形状決定の第2の方法の説明図
である。
【図7】本発明のランド形状決定の第2の方法で得られ
たランド形状の一例を示す図である。
【図8】従来のランド形状を備えたプリント基板と電子
部品とのはんだ付けの問題点の説明図である。
【符号の説明】
1・・プリント基板 2・・電子部品 3、3a、3b
・・プリント基板のランド 4・・電子部品のリード
5・・クリームはんだ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のリードを有する電子部品をはんだ
    付けする前記リードに対応した複数のランドを有するプ
    リント基板において、前記複数のランドの形状をプリン
    ト基板の反りに応じたはんだ盛り上がり量となるように
    定めたことを特徴とするプリント基板。
  2. 【請求項2】 前記複数のランドの長さを同一とし、幅
    をプリント基板の反りに応じて定めたことを特徴とする
    請求項1のプリント基板。
  3. 【請求項3】 前記複数のランドの幅を同一とし、長さ
    をプリント基板の反りに応じて定めたことを特徴とする
    請求項1のプリント基板。
  4. 【請求項4】 前記ランドにはんだレジストを塗布して
    はんだ付けに有効なランドの形状を定めたことを特徴と
    する請求項1のプリント基板。
  5. 【請求項5】 複数のリードを有する電子部品をはんだ
    付けする前記リードに対応した複数のランドを有するプ
    リント基板の前記複数のランドの形状をプリント基板の
    反りに応じたはんだ盛り上がり量となるように定めたプ
    リント基板をリフローはんだ付けすることを特徴とする
    はんだ付け方法。
  6. 【請求項6】 複数のリードを有する電子部品をはんだ
    付けする前記リードに対応した複数のランドを有するプ
    リント基板において、前記複数のランドの形状をプリン
    ト基板の反りに応じたはんだ盛り上がり量となるように
    定めるランド形状決定方法において、部品を搭載した基
    板の自重による反り量を測定するステップ1と、前記測
    定した反り量と、ランドへのはんだ供給量を固定してリ
    フローはんだ付け工程におけるはんだ溶融後のはんだ盛
    り上がり量と、はんだ供給スクリーン開口と各ランド面
    積との比率とに基づいてランド面積を算出するステップ
    2と、前記ステップ2で算出したランド面積に基づいて
    ランドの形状を決定するステップ3とを有するランド形
    状決定方法。
  7. 【請求項7】 複数のリードを有する電子部品をはんだ
    付けする前記リードに対応した複数のランドを有するプ
    リント基板において、前記複数のランドの形状をプリン
    ト基板の反りに応じたはんだ盛り上がり量となるように
    定めるランド形状決定方法において、一列に配列された
    複数のランドを中央から二等分して2つのランドグルー
    プに分割するステップ1と、前記2つのグループに分割
    されたランドグループに属する複数のランドを三等分し
    て3つのランドグループに分割するステップ2と、前記
    ステップ2にて分割された3つのランドグループのう
    ち、基板の反りが小さい位置にあるランドグループのラ
    ンド幅をaとしたとき、基板の反りに対応して他のラン
    ドグループのランド幅をランドグループ順にa/2、3
    a/4と定めるステップとを有するランド形状決定方
    法。
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