JPH11204843A - 熱電素子の製造方法 - Google Patents

熱電素子の製造方法

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JPH11204843A
JPH11204843A JP10008398A JP839898A JPH11204843A JP H11204843 A JPH11204843 A JP H11204843A JP 10008398 A JP10008398 A JP 10008398A JP 839898 A JP839898 A JP 839898A JP H11204843 A JPH11204843 A JP H11204843A
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JP
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thermoelectric semiconductor
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thermoelectric
type
type thermoelectric
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JP10008398A
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English (en)
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Masayasu Uga
正泰 宇賀
Hisato Hiraishi
久人 平石
Shigeru Watanabe
渡辺  滋
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Citizen Watch Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ゼーベック効果を利用した発電装置に用いる
熱電素子ブロックあるいはペルチェ効果を利用した冷却
装置に用いる熱電素子ブロックにおいて、従来、熱電素
子ブロックを形成したときに、外観的にはn型熱電半導
体とp型熱電半導体とを識別できなかった。 【解決手段】 上記課題を解決するため、熱電素子ブロ
ックのn型熱電半導体素片とp型熱電半導体素片の回り
にダミー素片57を置くことにより、n型熱電半導体5
1とp型熱電半導体52との外観から識別することがで
きるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、熱勾配をかけるこ
とによって発電するゼーベック効果を利用した発電装置
に用いる熱電素子、あるいは電流を流すことによって温
度差を発生させるペルチェ効果を利用した冷却装置に用
いる熱電素子の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】熱電対はその両端に温度差を与えること
により電圧を発生する。これがゼーベック効果であり、
この電圧を電気エネルギーとして取り出すことで発電装
置が得られる。このような熱電発電によれば熱エネルギ
ーから電気エネルギーへの変換が直接できるため、廃熱
利用に代表されるような熱エネルギーの有効的な利用法
として注目されている。
【0003】一方、熱電対に電流を流すと一端で発熱、
他端で吸熱が起こる。これがペルチェ効果であり、この
吸熱現象を利用して冷却装置が得られる。このような冷
却装置は、機構部品を含まずかつ小型化も可能なことか
ら、ポータブルな冷蔵庫あるいはレーザーや集積回路な
どの局部冷却器として活用されている。
【0004】発電装置や冷却装置に用いられる熱電素子
としては、たとえば図15に示した構造が、特開昭63
―20880号公報に開示されている。
【0005】図15は交互の列をなして規則的に配置さ
れたn型熱電半導体素片551およびp型熱電半導体素
片552が絶縁体554により一体化された熱電素子ブ
ロック553である。
【0006】熱電素子はこの熱電素子ブロック553の
上面と下面に電極を蒸着などによって形成し、n型熱電
半導体素片551とp型熱電半導体素片552とを交互
に直列接続して完成する。
【0007】さて、この熱電素子ブロック553の配置
では、図から明らかなように、仮にn型熱電半導体素片
551とp型熱電半導体素片552の配置が逆になった
場合も両型の半導体材料の色がほぼ同一であるため配置
の違いを外観から識別することはできない。
【0008】このため、一般には、電極形成後に熱勾配
をかけテスタなどで極性を確認してから、外部への引き
出し線を配線する方法をとる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】前記のような従来例に
おける熱電素子ブロックの熱電半導体素片の配置では、
電極形成後の熱電素子の極性がはっきりしないという問
題がある。このため熱電素子から外部への引き出し線の
プラス、マイナスが逆になることがあり、実装形態の変
更を余儀なくされたり、誤って逆配線になり使えなくな
ることがある。さらに、熱電素子ブロックの段階で微細
な探針を用いてテスタなどで熱電半導体の測定をしプラ
ス、マイナスを確認しなければならず、工程が増える。
さらにテスタで測定した後プラス、マイナスがわかるよ
うに保管しなければならない。
【0010】(発明の目的)本発明の目的は、従来の熱
電素子で問題であった前述の極性の不明瞭さという問題
を解決することが可能な熱電素子の製造方法を提供する
ことにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の熱電素子の製造方法は、およそ長さの等し
い第1の導電型の棒状熱電半導体素片、および第2の導
電型の棒状熱電半導体素片のそれぞれをマトリックス状
に規則性を持って配置し、第1および第2の熱電半導体
素片群の外側にダミー素片を配置して固定した熱電素子
ブロックを作製する工程と、熱電素子ブロック内に形成
されたp型熱電半導体素片とn型熱電半導体素片を電気
的に直列に接続するための電極を形成する工程と、を有
することを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の熱電素子の製造方
法における最適な実施形態を図面を用いて説明する。こ
こでは、第1の導電型の熱電半導体をn型熱電半導体と
し、第2の導電型の熱電半導体をp型熱電半導体として
説明するが、それらは逆であってもよい。
【0013】〔第1の実施形態:図1、図2、図3、図
4、図5、図6、図7〕本発明の第1の実施形態におけ
る熱電素子の製造方法について、図1と図2と図3と図
4と図5と図6と図7とを用いて説明する。はじめに、
図1に示すようにn型熱電半導体ブロック1とp型熱電
半導体ブロック2とを用意する。n型熱電半導体ブロッ
ク1およびp型熱電半導体ブロック2は、加工後に、そ
れぞれ棒形状のn型熱電半導体素片51およびp型熱電
半導体素片52となる半導体ブロックである。
【0014】この実施形態では、n型熱電半導体ブロッ
ク1として、BiTeの焼結体、p型熱電半導体ブロッ
ク2としてBiTeSbの焼結体を用い、大きさはn型
熱電半導体ブロックの場合は12.5mm×12mm×
4mmでありp型熱電半導体ブロックの場合は12mm
×12mm×4mmとする。
【0015】続いて図2に示す工程では、n型熱電半導
体ブロック1に縦溝26を形成し、縦隔壁27を残して
n型溝入ブロック21とする。同様に、p型熱電半導体
ブロック2からp型溝入ブロック22を形成するが、こ
のとき、n型溝入ブロック21とp型溝入ブロック22
とで、縦溝のピッチを同一とする。
【0016】このとき、n型溝入ブロック21の縦隔壁
27の長さはp型溝入ブロック22の縦隔壁24の長さ
より長くなる。このように縦隔壁24と縦隔壁27との
長さを変えることにより最終的に完成した熱電素子ブロ
ックは、同種類の熱電半導体素片が1列に並び、列の長
い方がn型熱電半導体素片51であり、列の短い方がp
型熱電半導体素片52であることが容易に識別できるこ
とになる。
【0017】なお、一方の溝入ブロックの縦溝の幅が他
方のブロックの縦隔壁の幅よりも大きくなるようにもし
ておくが、これは、後述の工程でn型溝入ブロック21
とp型溝入ブロック22を嵌め合わせるために必要な条
件である。
【0018】また、縦溝23,26の加工はワイヤーソ
ーによる研磨加工により行う。
【0019】ワイヤーソーのワイヤー断面は円形である
ため、縦溝23、26の溝底は正確には曲面となるが、
ここでは図面の都合上、図2においては平らな底として
図示した。
【0020】それぞれの熱電半導体ブロックに、深さ3
mm(外形の4mmが厚さ方向)、ピッチ120μm、
の縦溝を形成し、このとき、溝幅はn型の縦溝26と、
p型の縦溝23ともに70μmである。
【0021】図3の工程においては、図2に示したn型
溝入ブロック21の縦溝26にp型溝入ブロック22の
縦隔壁24を挿入し組み合わせて一体化する。組み合わ
せた2つのブロックは嵌合部に接着層32を設けて固着
することで一体化ブロック3とする。
【0022】一体化ブロック3を作製する際の接着で注
意すべき点は、接着層32には2つのブロックの接合以
外に、n型溝入ブロック21とp型溝入ブロック22と
の間の電気的絶縁性を確保する働きをも持たせなければ
ならないことにある。
【0023】この実施形態では箱の中に一体化ブロック
を入れ、その嵌合部に接着剤を充填固化し接着層32を
形成する。その他、ワイヤーソーのような研磨加工によ
って縦溝23、26の内壁が非常に平滑に加工できた場
合には、流動性の高い接着剤中に固着前の一体化ブロッ
ク3を部分的に浸漬し、毛管現象により接着剤を縦溝2
6と縦隔壁24との隙間に充填すれば絶縁性は確保でき
る。
【0024】接着層32の接着剤としては、ここでは低
粘度の常温硬化型のエポキシ系の接着剤を用いることと
する。
【0025】図3の一体化ブロック3は、つぎに図4で
示した再度の溝加工工程によって横溝46を形成し、溝
入一体化ブロック43にする。横溝46の加工は、図2
での縦溝23,26の工程と同様にワイヤーソーによる
研磨加工で行い、残った部分が横隔壁47となる。本工
程での横溝46は縦溝26に交差した方向に形成するも
ので、一般的には図4に示したとおり直交させるのが最
適である。本実施形態では横溝の加工をp型熱電半導体
側もしくはn型熱電半導体側から行う。
【0026】横溝46は図4のように一体化ブロック3
のp型熱電半導体側の面から形成しても、これとは逆に
n型熱電半導体の面から形成してもよい。すなわち横溝
46は一体化ブロック3の上下いずれの側からでも形成
可能である。また横溝46の深さは、一体化ブロック3
でのn型熱電半導体の縦溝26や縦隔壁27とp型熱電
半導体の縦溝23や縦隔壁24の嵌合部を切断する箇所
まで形成することが好ましい。
【0027】横溝46の幅は、縦溝26とは異なり、な
るべく細くするのがよい。これは素子機能に直接かかわ
る熱電半導体が残るのは横隔壁47の部分であり、横溝
46の領域をできるだけ小さくするのが素子性能面から
好ましいからである。
【0028】したがって、この例においてはピッチ12
0μm、幅40μm、深さ4mmの横溝46を形成す
る。なお、溝幅40μmはワイヤーソー加工での細幅と
してほぼ限界値である。
【0029】上記の工程に続いて、横溝46にエポキシ
系の絶縁性樹脂を充填し硬化して絶縁樹脂層44を形成
する。そして、絶縁樹脂層44で固めた溝入一体化ブロ
ック43を、その上下面を研削などで除去し、n型熱電
半導体の縦溝26とp型熱電半導体の縦隔壁24との嵌
合部を残すように仕上げることで、図5の熱電素子ブロ
ック53が得られる。
【0030】絶縁体54は図3における接着層32と図
4において横溝46に充填した絶縁樹脂層44が一体と
なった部分を示している。
【0031】この状態の熱電素子ブロックの上面図を図
6に示す。この熱電素子ブロック53ではn型熱電半導
体素片51とp型熱電半導体素片52が交互に列をなす
ように規則的に並んでおり、n型熱電半導体素片51の
列がp型熱電半導体素片52の列より明らかに長く形成
されている。
【0032】このために、熱電素子ブロック53では外
見上から明確にn型熱電半導体素片51とp型熱電半導
体素片52とを識別でき、前記の熱電素子の極性にかか
わる問題を解決できる。
【0033】図7は熱電素子ブロック53に電極77を
形成して得られた熱電素子73の上面図(下面にも電極
は形成する)であり電極77によりn型とp型の熱電半
導体素片が交互に直列に接続される。そして、電極77
を形成していないn型熱電半導体素片はダミー素片57
として存在する。
【0034】電極77は蒸着により形成するがその工程
は次の通りである。ニッケルからなる金属板に開口部を
設け、上面におけるn型熱電半導体素片51とp型熱電
半導体素片52とが開口部の所定の位置に来るように位
置合わせをしてから熱電素子ブロック53の上面に金属
板を密着させて固定する。
【0035】続いてこの金属板を設けた面の熱電素子ブ
ロック53に蒸着を行う。蒸着は真空中でクロム100
nm、銅900nmの厚さで順次行う。これにより、熱
電素子ブロック53の上面には、図7に示すようなパタ
ーンで配線が形成される。配線は熱電素子ブロック53
の下面においても同様にして形成する。
【0036】そして引き出し線70、71を設けるが、
本実施形態ではp型熱電半導体素片からの引き出し線7
0の太さをn型熱電半導体素片からの引き出し線71よ
りも細くすることにより熱電素子73の極性が簡単に判
別できるようにした。
【0037】最後に、熱電素子73のダミー素片57と
して残っているn型熱電半導体を研磨または切断などに
よって取り除く。このことは熱電素子を小さくすること
により、装置に設置したときの占有面積を小さくするた
めでり、またダミー素片は熱伝導を促すため、その影響
を無くすためでもある。ただしこの工程を行わなくとも
熱電素子としての機能は果たす。
【0038】このように一連の熱電素子の製造工程の途
中に、形成される熱電素子ブロック53では、図6のよ
うにn型熱電半導体素片からなる列がp型熱電半導体素
片からなる列よりも長い。この長くはみ出た部分にある
n型熱電半導体素片がダミー素片となる。これにより、
熱電半導体素片の列の長い方がn型熱電半導体素片、短
い方がp型熱電半導体素片であることが容易に識別でき
る。またダミー素片以外の熱電半導体素片はストライプ
状に並んでおり、規則性をもって配置されている。
【0039】〔第2の実施形態:図6、図8、図9、図
10〕つぎに本発明の第2の実施形態における熱電素子
の製造方法を説明する。図6と図8と図9と図10とは
本実施形態の、第1の実施形態とは異なる製造方法であ
る。本実施形態の製造方法は第1の実施形態に開示した
方法とほぼ同様であるが、相違点としては、n型溝入ブ
ロック81の縦隔壁87とp型溝入ブロック82の縦隔
壁84の高さが異なる点と、二度目の溝加工を行うとき
の作製方向が異なる点である。一方の縦隔壁87と他方
の縦隔壁84の幅、長さは同じである。以下図を用いて
説明する。
【0040】まず図8で示すように、図2と同様にn型
熱電半導体ブロック1とp型熱電半導体ブロック2に縦
溝83,86を形成する。このとき双方のブロックは
幅、長さが同じで高さが異なるものを用いるのがよい。
形成されたn型溝入ブロック81の縦隔壁87とp型溝
入ブロック82の縦隔壁84の高さは、少なくともその
一部で、一方が他方のものよりも高くなるようにする。
ここでは全体で、縦隔壁87が縦隔壁84より高い場合
を示している。
【0041】つぎに二つの溝入ブロックを嵌め合わせ図
9のような一体化ブロック93を形成する。このとき二
つのブロックは嵌合部に接着層を設けて固定する。
【0042】その後図10で示した再度の溝加工工程に
より、図9に示した一体化ブロック93に、n型溝入ブ
ロック81とp型溝入ブロック82が並列してなる面か
ら、縦隔壁87と直角で、その長手方向と同じ方向に溝
146を作製する。第1の実施形態の場合とは溝加工す
る面が異なる。
【0043】そして絶縁樹脂により固着し、絶縁樹脂層
132を形成し、溝入一体化ブロック143とする。そ
の後横溝加工した面およびその裏面を研削などで除去
し、n型熱電半導体とp型熱電半導体の縦溝326と縦
隔壁327との嵌合部を残すように仕上げ、熱電素子ブ
ロックを形成する。作製した熱電素子ブロックは図6の
第1の実施形態のものと同様であり、ダミー素片以外の
熱電半導体素片はストライプ状に並んでおり、規則性を
もって配置されている。最後に熱電素子ブロックに電極
を形成し熱電素子を作製する。
【0044】〔第3の実施形態:図11、図12、図1
3〕本発明の第3の実施形態における熱電素子の製造方
法の熱電素子ブロックを図11と図12と図13を用い
て説明する。図13は熱電素子ブロックの上面図であ
る。
【0045】この実施形態の熱電素子製造方法につい
て、まず図11および図12を用いて説明する。本製造
方法は第1の実施形態で開示した方法とほぼ同様である
が、相違点としては、n型溝入ブロック121の縦隔壁
の数とp型溝入ブロック122の縦隔壁の数が異なる点
である。双方のブロックの縦隔壁の幅と、長さ、高さは
同じである。
【0046】まず図11では図2のときのようにn型熱
電半導体ブロック1とp型熱電半導体ブロック2に溝1
23、126を形成する。このとき双方のブロックは長
さが同じで幅が異なるものを用いるのがよい。
【0047】このとき、後で双方の溝入ブロックを嵌め
合わせることができるように、幅の短いp型溝入ブロッ
ク122の端から端まで縦溝を形成しておくか、また
は、p型溝入ブロックの両端を、縦溝を形成するときと
同一の深さか、または、より深く研磨しておく。
【0048】このように形成されたn型溝入ブロック1
21の縦隔壁127の数とp型溝入ブロック122の縦
隔壁124の数はn型の方がp型よりも多くなる。
【0049】つぎに二つの溝入ブロックを嵌め合わせ図
12のような一体化ブロック203を形成する。このと
き二つのブロックの嵌合部に絶縁樹脂を用いて固着し絶
縁樹脂層232を設けることで一体化ブロック203と
する。
【0050】その後、図12に示した一体化ブロック2
03に、縦溝と交差する横溝を作製し、溝入一体化ブロ
ックとする。そして横溝加工した面およびその裏面を研
削で除去し、n型熱電半導体とp型熱電半導体の縦溝2
26と縦隔壁227との嵌合部を残すように仕上げ、熱
電素子ブロックを形成する。最後に熱電素子ブロックに
電極を形成して熱電素子を形成する。
【0051】このように、一連の熱電素子の製造工程の
途中に形成される熱電素子ブロック53では、図13の
ように、n型熱電半導体素片51の列がp型熱電半導体
素片52の列よりも多くなっている。この多い部分がダ
ミー素片57となる。これにより、ダミー素片57以外
の熱電半導体素片はストライプ状に並んでおり、規則性
をもって配置されている。そして、熱電半導体素片の列
の多い方がn型熱電半導体、少ない方がp型熱電半導体
であることが容易に識別できる。なお、n型熱電半導体
とp型熱電半導体を逆転させて配置しても同様の効果が
ある。
【0052】〔第4の実施形態:図14〕本発明の第4
の実施形態における熱電素子の製造方法の熱電素子ブロ
ックを図14を用いて説明する。この実施形態ではn型
熱電半導体素片51およびp型熱電半導体素片52を市
松模様状に規則性をもって配置した熱電素子ブロックで
ある。図14は、例としてp型熱電半導体素片の横にダ
ミー素片57を置いたものである。
【0053】製造方法は棒状のn型熱電半導体素片とp
型熱電半導体を多数用意し、これらを治具を用いて個々
に一つ一つ並べてから接着剤で固める方法が考えられ
る。図14の様な配置にするとダミー素片57の隣にあ
るのがp型熱電半導体素片52であることがわかる。
【0054】このとき、n型熱電半導体とp型熱電半導
体が入れ替わっても同様である。また熱電半導体素片は
市松模様に配置する以外の配置でもよく、たとえば一部
ストライプ状、一部市松模様状のものでもよい。さら
に、ダミー素片57は熱電半導体でもその他の材質のも
のでもよく、視認可能なものであれば特に材料は問わな
い。そしてその設置個所は一つでも複数でもよく、形状
についても特には問わない。
【0055】またダミー素片57は発電もしくは吸熱に
はまったく関与しない。
【0056】
【発明の効果】上記のように熱電素子ブロックの回りに
ダミー素片を置くことにより固有の特徴を与え、配線電
極形成前にn型熱電半導体素片とp型熱電半導体素片の
位置を正確に確認できるようにし、配線電極や入出力端
子の位置を容易に決定することができる。このため外部
への引き出し線のプラス、マイナスが逆になることがな
い。また実装形態の変更の必要性もなく、誤って逆配線
になり使えなくなることもなくなる。さらに、熱電素子
ブロック段階でテスタなどで測定しプラス、マイナスを
確認する工程がいらなくなる。これにより熱電素子ブロ
ックでの保管も容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態における熱電素子の製
造方法のn型熱電半導体ブロックおよびp型熱電半導体
ブロックを示す斜視図である。
【図2】本発明の第1の実施形態における熱電素子の製
造方法の溝入ブロックを示す斜視図である。
【図3】本発明の第1の実施形態における熱電素子の製
造方法の一体化ブロックを示す斜視図である。
【図4】本発明の第1の実施形態における熱電素子の製
造方法の溝入一体化ブロックを示す斜視図である。
【図5】本発明の第1の実施形態における熱電素子の製
造方法の熱電素子ブロックを示す斜視図である。
【図6】本発明の第1および第2の実施形態における熱
電素子の製造方法の熱電素子ブロックの上面図である。
【図7】本発明の第1の実施形態における熱電素子の製
造方法の熱電素子の上面図である。
【図8】本発明の第2の実施形態における熱電素子の製
造方法の溝入ブロックを示す斜視図である。
【図9】本発明の第2の実施形態における熱電素子の製
造方法の一体化ブロックを示す斜視図である。
【図10】本発明の第2の実施形態における熱電素子の
製造方法の溝入一体化ブロックを示す斜視図である。
【図11】本発明の第3の実施形態における熱電素子の
製造方法の溝入ブロックを示す斜視図である。
【図12】本発明の第3の実施形態における熱電素子の
製造方法の一体化ブロックを示す斜視図である。
【図13】本発明の第3の実施形態における熱電素子の
製造方法の熱電素子ブロックの上面図である。
【図14】本発明の第4の実施形態における熱電素子の
製造方法の熱電素子ブロックの上面図である。
【図15】従来技術における熱電素子の製造方法の熱電
半導体ブロックを示す斜視図である。
【符号の説明】
1 n型熱電半導体ブロック 2 p型熱電半導体ブロック 3、93、203 一体化ブロック 21、81、121 n型溝入ブロック 22、82、122 p型溝入ブロック 23、26、83、86、123、126 縦溝 24、27、84、87、124、127 縦隔壁 51、151 n型熱電半導体素片 52、152 p型熱電半導体素片 53、153 熱電素子ブロック 54、154 絶縁体 57 ダミー素片

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 およそ長さの等しい第1の導電型の棒状
    熱電半導体素片、および第2の導電型の棒状熱電半導体
    素片のそれぞれをマトリックス状に規則性を持って配置
    し、第1および第2の熱電半導体素片群の外側に近接し
    てダミー素片を配置して導電体の棒状熱電半導体素片の
    極性がわかるように固定した熱電素子ブロックを作製す
    る工程と、 熱電素子ブロック内に形成されたp型熱電半導体素片と
    n型熱電半導体素片を電気的に直列に接続するための電
    極を形成する工程と、 を有することを特徴とする熱電素子の製造方法。
  2. 【請求項2】 第1の導電型の熱電半導体ブロック、お
    よび第2の導電型の熱電半導体ブロックのそれぞれに、
    同一ピッチでかつ異なる長さの縦溝を形成する、第1の
    溝加工を施す第1の溝加工工程と、 第1と第2の導電型の熱電半導体ブロックを第1の溝加
    工面で互いに嵌合する工程と、 嵌合部の空隙に第1の絶縁部材を充填し第1と第2の導
    電型の熱電半導体ブロックを固定し一体化ブロックとす
    る工程と、 一体化ブロックに第1の溝加工と交差する第2の溝加工
    を行う工程と、 第2の溝加工部に第2の絶縁部材を充填し固化させる工
    程と、 第2の絶縁部材を充填固化した一体化ブロックの第2の
    溝加工をした面とその裏面を除去し第1と第2の導電型
    の熱電半導体素片の端部を露出させる工程と、 第1と第2の熱電半導体素片を電気的に直列に接続する
    ための電極を前記露出させた端部間に形成する工程と、 を有することを特徴とする熱電素子の製造方法。
  3. 【請求項3】 第1の導電型の熱電半導体ブロック、お
    よび第2の導電型の熱電半導体ブロックのそれぞれに、
    同一ピッチでかつ互いの縦隔壁の数が異なるように縦溝
    を形成する、第1の溝加工を施す工程と、 第1と第2の導電型の熱電半導体ブロックを第1の溝加
    工面で互いに嵌合する工程と、 嵌合部の空隙に第1の絶縁部材を充填し第1と第2の導
    電型の熱電半導体ブロックを固定し一体化ブロックとす
    る工程と、 一体化ブロックに第1の溝加工と交差する第2の溝加工
    を施す工程と、 第2の溝加工部に第2の絶縁部材を充填し固化させる工
    程と、 第2の絶縁部材を充填固化した一体化ブロックの第2の
    溝加工をした面とその裏面を除去し第1と第2の導電型
    の熱電半導体素片の端部を露出させる工程と、 第1と第2の熱電半導体素片を電気的に直列に接続する
    ための電極を前記露出させた端部間に形成する工程と、 を有することを特徴とする熱電素子の製造方法。
  4. 【請求項4】 ダミー素片は、 発電もしくは吸熱にはまったく関与しないことを特徴と
    する請求項1または請求項2または請求項3記載の熱電
    素子の製造方法。
  5. 【請求項5】 熱電素子ブロックに残っているダミー素
    片を取り除く工程を有することを特徴とする請求項1ま
    たは請求項2または請求項3記載の熱電素子の製造方
    法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101123448B1 (ko) 2010-06-14 2012-03-23 윤동한 열전대를 이용한 고출력 광소자 가로등
DE102015107240B4 (de) 2014-05-09 2022-03-03 Analog Devices, Inc. Thermoelektrischer Energiesammler im Wafermaßstab und Verfahren zur Herstellung eines thermoelektrischen Sammlers

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101123448B1 (ko) 2010-06-14 2012-03-23 윤동한 열전대를 이용한 고출력 광소자 가로등
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