JPH11190697A - 粉粒体中の異物検査方法および異物検査装置 - Google Patents
粉粒体中の異物検査方法および異物検査装置Info
- Publication number
- JPH11190697A JPH11190697A JP28543698A JP28543698A JPH11190697A JP H11190697 A JPH11190697 A JP H11190697A JP 28543698 A JP28543698 A JP 28543698A JP 28543698 A JP28543698 A JP 28543698A JP H11190697 A JPH11190697 A JP H11190697A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- granular material
- drum
- foreign matter
- powder
- conveyed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
(57)【要約】
【課題】 粉粒体中の異物の検査を自動的かつ再現良く
高精度に行なえる方法および装置を提供する。 【解決手段】粉粒体を例えば振動フィーダーに供給し
て、振動を与えながら搬送し、次いで振動フィーダーか
ら回転するドラム上に落下させ、ドラムの外周面をガイ
ドとして均一な層を形成させながら搬送し、光源から粉
粒体に光を照射して、粉粒体がドラム上から自由落下す
るまでに粉粒体の表面を撮像装置で撮像し、その画像信
号を画像処理装置により処理することにより粉粒体中の
異物の有無を判定する。
高精度に行なえる方法および装置を提供する。 【解決手段】粉粒体を例えば振動フィーダーに供給し
て、振動を与えながら搬送し、次いで振動フィーダーか
ら回転するドラム上に落下させ、ドラムの外周面をガイ
ドとして均一な層を形成させながら搬送し、光源から粉
粒体に光を照射して、粉粒体がドラム上から自由落下す
るまでに粉粒体の表面を撮像装置で撮像し、その画像信
号を画像処理装置により処理することにより粉粒体中の
異物の有無を判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば医薬品の
原末や顆粒などの粉粒体の製造工程などに発生あるいは
混入する異物の検査方法およびその検査装置に関するも
のである。
原末や顆粒などの粉粒体の製造工程などに発生あるいは
混入する異物の検査方法およびその検査装置に関するも
のである。
【０００２】この明細書において異物とは、汚れなどに
よる粉粒体自身の不良品も含むものとする。
よる粉粒体自身の不良品も含むものとする。
【０００３】
【従来の技術】従来、医薬品に使用する粉粒体中の異物
検査においては、選別板あるいは搬送ベルトコンベア上
に粉粒体を一定の厚さで薄く載せ、検査員が目視により
選別していたが、検査員の個人差、疲労などにより、精
度と能率が非常に悪かった。
検査においては、選別板あるいは搬送ベルトコンベア上
に粉粒体を一定の厚さで薄く載せ、検査員が目視により
選別していたが、検査員の個人差、疲労などにより、精
度と能率が非常に悪かった。
【０００４】この問題を解決するものとして、粉体や粉
粒体中の異物を検査する装置が多数提案されている。例
えば特開平２−４９１４７号公報に記載の装置は、粉体
を振動フィーダーに供給し、振動を与えながら移送して
粉体を所定の幅に拡げると共に平準化し、その排出端よ
り下方に設けられたベルトコンベア上に落下させ、ベル
トコンベア上を搬送される粉体を反射式ガスレーザース
キャニング検査器により検査し、その検査情報を分析し
て粉体中の異物を検知するものである。
粒体中の異物を検査する装置が多数提案されている。例
えば特開平２−４９１４７号公報に記載の装置は、粉体
を振動フィーダーに供給し、振動を与えながら移送して
粉体を所定の幅に拡げると共に平準化し、その排出端よ
り下方に設けられたベルトコンベア上に落下させ、ベル
トコンベア上を搬送される粉体を反射式ガスレーザース
キャニング検査器により検査し、その検査情報を分析し
て粉体中の異物を検知するものである。
【０００５】また、特開昭６１−１９１９４４号公報に
記載の粉粒体検査装置は、一対の透明回転体を前後に所
定の間隔をあけて設置し、回転体の間にガイド側板を設
けて粉粒体の落下通路を形成し、振動フィーダーから供
給される粉粒体がこの落下通路中を自由落下する際に撮
像装置で撮像し、その画像信号を処理することにより粉
粒体中の異物を検査し、検出された異物を選別装置によ
り排除するものである。
記載の粉粒体検査装置は、一対の透明回転体を前後に所
定の間隔をあけて設置し、回転体の間にガイド側板を設
けて粉粒体の落下通路を形成し、振動フィーダーから供
給される粉粒体がこの落下通路中を自由落下する際に撮
像装置で撮像し、その画像信号を処理することにより粉
粒体中の異物を検査し、検出された異物を選別装置によ
り排除するものである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】特開平２−４９１４７
号公報に記載の装置では、ベルトコンベアを使用してい
るため、両端のベルト回転軸とベルトとの間や、ベルト
の下に設けられる支持体とベルトとの間に摩擦が生じ、
装置自体から異物や汚れが発生し、それらが検査する粉
粒体と混じる可能性がある。
号公報に記載の装置では、ベルトコンベアを使用してい
るため、両端のベルト回転軸とベルトとの間や、ベルト
の下に設けられる支持体とベルトとの間に摩擦が生じ、
装置自体から異物や汚れが発生し、それらが検査する粉
粒体と混じる可能性がある。
【０００７】また、特開昭６１−１９１９４４号公報に
記載の粉粒体検査装置は粉粒体を垂直に落下させるもの
であるが、例えば医薬品の粒体の場合には粒子径が数十
μｍから数百μｍと大きさに幅があり、そのためこの装
置を用いる場合、落下通路の幅を最も大きい粒子径以上
に設定しなければならず、小さい粒子径の粒体を落下さ
せたとき、落下通路内をランダムに落下するためその粒
体を側面から撮像する際、粒に重なりが生じる場合があ
り、異物の検査を精密に行うことが困難である。
記載の粉粒体検査装置は粉粒体を垂直に落下させるもの
であるが、例えば医薬品の粒体の場合には粒子径が数十
μｍから数百μｍと大きさに幅があり、そのためこの装
置を用いる場合、落下通路の幅を最も大きい粒子径以上
に設定しなければならず、小さい粒子径の粒体を落下さ
せたとき、落下通路内をランダムに落下するためその粒
体を側面から撮像する際、粒に重なりが生じる場合があ
り、異物の検査を精密に行うことが困難である。
【０００８】この発明の目的は、上記の問題点を解決
し、装置自体からは異物や汚れを発生せず、粉粒体中の
異物の検査を自動的にかつ再現よく高精度に行なえる方
法および装置を提供することにある。
し、装置自体からは異物や汚れを発生せず、粉粒体中の
異物の検査を自動的にかつ再現よく高精度に行なえる方
法および装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明の粉粒体中の異
物検査方法は、粉粒体を搬送しながら平準化し、次いで
回転するドラム上に落下させ、ドラムの外周面をガイド
として均一な層を形成させながら搬送し、光源から粉粒
体に光を照射して、粉粒体がドラム上から自由落下する
までに粉粒体の表面を撮像装置で撮像し、その画像信号
を画像処理装置により処理して粉粒体中の異物の有無を
判定するものである。
物検査方法は、粉粒体を搬送しながら平準化し、次いで
回転するドラム上に落下させ、ドラムの外周面をガイド
として均一な層を形成させながら搬送し、光源から粉粒
体に光を照射して、粉粒体がドラム上から自由落下する
までに粉粒体の表面を撮像装置で撮像し、その画像信号
を画像処理装置により処理して粉粒体中の異物の有無を
判定するものである。
【００１０】好ましくは、この発明の粉粒体中の異物検
査方法は、粉粒体を振動フィーダーに供給して振動を与
えながら搬送し、次いで振動フィーダーから回転するド
ラム上に落下させ、ドラムの外周面をガイドとして均一
な層を形成させながら搬送し、光源から粉粒体に光を照
射して、粉粒体がドラム上から自由落下するまでに粉粒
体の表面を撮像装置で撮像し、その画像信号を画像処理
装置により処理して粉粒体中の異物の有無を判定するも
のである。
査方法は、粉粒体を振動フィーダーに供給して振動を与
えながら搬送し、次いで振動フィーダーから回転するド
ラム上に落下させ、ドラムの外周面をガイドとして均一
な層を形成させながら搬送し、光源から粉粒体に光を照
射して、粉粒体がドラム上から自由落下するまでに粉粒
体の表面を撮像装置で撮像し、その画像信号を画像処理
装置により処理して粉粒体中の異物の有無を判定するも
のである。
【００１１】この発明の粉粒体中の異物検査装置は、粉
粒体を搬送しながら平準化する粉粒体搬送平準化手段
と、粉粒体搬送平準化手段の排出端下方に設けられ落下
する粉粒体を回転搬送するドラムと、ドラム上を搬送さ
れる粉粒体に光を照射する光源と、ドラム上を搬送され
る粉粒体の表面を撮像する撮像装置と、撮像装置の画像
信号を処理して粉粒体中の異物の有無を判定する画像処
理装置とを備えているものである。
粒体を搬送しながら平準化する粉粒体搬送平準化手段
と、粉粒体搬送平準化手段の排出端下方に設けられ落下
する粉粒体を回転搬送するドラムと、ドラム上を搬送さ
れる粉粒体に光を照射する光源と、ドラム上を搬送され
る粉粒体の表面を撮像する撮像装置と、撮像装置の画像
信号を処理して粉粒体中の異物の有無を判定する画像処
理装置とを備えているものである。
【００１２】好ましくは、粉粒体搬送平準化手段とし
て、振動フィーダーが用いられる。
て、振動フィーダーが用いられる。
【００１３】好ましくは、この発明の粉粒体の異物検査
装置には、画像処理装置からの不良信号に応答して粉粒
体中の異物を排除するための異物排除手段がさらに備え
られる。
装置には、画像処理装置からの不良信号に応答して粉粒
体中の異物を排除するための異物排除手段がさらに備え
られる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施例を詳細に説明する。図１において、（２）はホ
ッパー（１）内に投入された被検粉粒体（以下、単に
「粉粒体」という）であり、ホッパー（１）は第一振動
フィーダー（３）上に設置されている。ホッパー（１）
の下部には開閉することにより、粉粒体（２）をホッパ
ー（１）から第一振動フィーダー（３）へ供給する供給
量を調節する仕切り板（１ａ）が設けられている。
の実施例を詳細に説明する。図１において、（２）はホ
ッパー（１）内に投入された被検粉粒体（以下、単に
「粉粒体」という）であり、ホッパー（１）は第一振動
フィーダー（３）上に設置されている。ホッパー（１）
の下部には開閉することにより、粉粒体（２）をホッパ
ー（１）から第一振動フィーダー（３）へ供給する供給
量を調節する仕切り板（１ａ）が設けられている。
【００１５】第一振動フィーダー（３）は、全長が約４
０ｃｍで、ホッパー（１）から供給される粉粒体（２）
に振動（一例として振幅：０．１〜０．５ｍｍ、振動
数：３０００〜４０００回／分）を与えて薄くならしな
がら、即ち平準化しながら搬送（搬送速度：約４ｃｍ／
秒）し、次の第二振動フィーダー（４）に供給するため
のもので、この第一振動フィーダー（３）には電磁式ま
たは機械式の振動フィーダーが用いられる。
０ｃｍで、ホッパー（１）から供給される粉粒体（２）
に振動（一例として振幅：０．１〜０．５ｍｍ、振動
数：３０００〜４０００回／分）を与えて薄くならしな
がら、即ち平準化しながら搬送（搬送速度：約４ｃｍ／
秒）し、次の第二振動フィーダー（４）に供給するため
のもので、この第一振動フィーダー（３）には電磁式ま
たは機械式の振動フィーダーが用いられる。
【００１６】第二振動フィーダー（４）は、粉粒体
（２）が落下する第一振動フィーダー（３）の一端の約
５ｃｍ下方に設けられ、第一振動フィーダー（３）によ
って薄くならされた粒粉体（２）に振動を与えてさらに
薄いシート状にならしながら搬送するもので、第一振動
フィーダー（３）と同種のものが用いられるが、搬送速
度は第一振動フィーダー（３）より速くする必要がある
（一例として約７ｃｍ／秒）。これら第一振動フィーダ
ー（３）および第二振動フィーダー（４）が、粉粒体搬
送平準化手段に該当する。なお、この実施例では振動フ
ィーダーを２つ設けているが、搬送距離を長くすること
により１つにしてもよい。
（２）が落下する第一振動フィーダー（３）の一端の約
５ｃｍ下方に設けられ、第一振動フィーダー（３）によ
って薄くならされた粒粉体（２）に振動を与えてさらに
薄いシート状にならしながら搬送するもので、第一振動
フィーダー（３）と同種のものが用いられるが、搬送速
度は第一振動フィーダー（３）より速くする必要がある
（一例として約７ｃｍ／秒）。これら第一振動フィーダ
ー（３）および第二振動フィーダー（４）が、粉粒体搬
送平準化手段に該当する。なお、この実施例では振動フ
ィーダーを２つ設けているが、搬送距離を長くすること
により１つにしてもよい。
【００１７】さらに、粉粒体搬送平準化手段として、上
記振動フィーダーの代わりに、ホッパーから供給される
粉粒体を傾斜板により搬送し、その途中に仕切り板を設
けて、傾斜板との間隔を約１ｍｍとすることで、粉粒体
を平準化し、搬送することもできる。
記振動フィーダーの代わりに、ホッパーから供給される
粉粒体を傾斜板により搬送し、その途中に仕切り板を設
けて、傾斜板との間隔を約１ｍｍとすることで、粉粒体
を平準化し、搬送することもできる。
【００１８】ドラム（５）は、表面が研磨されたプラス
チック樹脂製で、直径約３０ｃｍの円筒状に形成され
て、回転軸（５ａ）が設けられた円板がはめられてお
り、回転軸（５ａ）は図示しない動力源にベルトまたは
ギアーを介して接続されて、動力源の回転をドラム
（５）に伝えている。ドラム（５）は検査する粉粒体
（２）の色などによって異なるが、半透明かつ白色が好
ましい。このドラム（５）はアルミニウム製であっても
よい。ドラム（５）は粉粒体（２）が落下する第二振動
フィーダー（４）の一端の下方約１〜２ｍｍのところに
その円周部の最上端がくるように設けられている。この
ドラム（５）は、第二振動フィーダー（４）から粉粒体
（２）が搬送される方向（図１では反時計回り方向）に
回転する。ドラム（５）は第二振動フィーダー（４）か
ら供給される粉粒体（２）の種類や供給量に応じて、任
意に回転数（周速度）を変化させることができ、異物検
査をする上で、最適の粉粒体の厚みが得られるようにな
っている。ドラム（５）の好ましい回転数は、３０〜５
０ｒｐｍである。
チック樹脂製で、直径約３０ｃｍの円筒状に形成され
て、回転軸（５ａ）が設けられた円板がはめられてお
り、回転軸（５ａ）は図示しない動力源にベルトまたは
ギアーを介して接続されて、動力源の回転をドラム
（５）に伝えている。ドラム（５）は検査する粉粒体
（２）の色などによって異なるが、半透明かつ白色が好
ましい。このドラム（５）はアルミニウム製であっても
よい。ドラム（５）は粉粒体（２）が落下する第二振動
フィーダー（４）の一端の下方約１〜２ｍｍのところに
その円周部の最上端がくるように設けられている。この
ドラム（５）は、第二振動フィーダー（４）から粉粒体
（２）が搬送される方向（図１では反時計回り方向）に
回転する。ドラム（５）は第二振動フィーダー（４）か
ら供給される粉粒体（２）の種類や供給量に応じて、任
意に回転数（周速度）を変化させることができ、異物検
査をする上で、最適の粉粒体の厚みが得られるようにな
っている。ドラム（５）の好ましい回転数は、３０〜５
０ｒｐｍである。
【００１９】第二振動フィーダー（４）の一端から落下
する粉粒体（２）は、落下地点からドラム（５）の中心
角約４５度の円周上においてドラムの外周面をガイドと
して落下せずに搬送されて、中心角約２０〜４０度の円
周上において異物検査領域（Ａ）を形成する。
する粉粒体（２）は、落下地点からドラム（５）の中心
角約４５度の円周上においてドラムの外周面をガイドと
して落下せずに搬送されて、中心角約２０〜４０度の円
周上において異物検査領域（Ａ）を形成する。
【００２０】静電気除去装置（６）は、粉粒体（２）の
静電気を除去するためのもので、スチーム、水、帯電防
止剤（界面活性剤を含む）、アルコール等の噴霧手段、
および／または既知のコロナ放電処理手段等が採用され
る。静電気除去装置（６）は第二振動フィーダー（４）
から粉粒体（２）が落下する付近の上方に設けられてい
るが、この場所以外にもホッパー（１）の受け入れ側開
口端上方、第一振動フィーダー（３）の上方、第二振動
フィーダー（４）の中央部上方および集塵ノズル（１
３）と第二振動フィーダー（４）の間などに別途設けて
もよい。
静電気を除去するためのもので、スチーム、水、帯電防
止剤（界面活性剤を含む）、アルコール等の噴霧手段、
および／または既知のコロナ放電処理手段等が採用され
る。静電気除去装置（６）は第二振動フィーダー（４）
から粉粒体（２）が落下する付近の上方に設けられてい
るが、この場所以外にもホッパー（１）の受け入れ側開
口端上方、第一振動フィーダー（３）の上方、第二振動
フィーダー（４）の中央部上方および集塵ノズル（１
３）と第二振動フィーダー（４）の間などに別途設けて
もよい。
【００２１】異物検査領域（Ａ）には、ラインセンサカ
メラ（７）、反射光源（８）、透過光源（９）および選
別ノズル（１０）が、ドラム（５）の中心軸を支点とし
て周回する扇板（１７）の上に一体連設されており、各
粉粒体毎に最適検査位置への調節を可能としている。な
お、この実施例では、これらを一体連設しているが、そ
れぞれを個々に最適位置に設けてもよい。
メラ（７）、反射光源（８）、透過光源（９）および選
別ノズル（１０）が、ドラム（５）の中心軸を支点とし
て周回する扇板（１７）の上に一体連設されており、各
粉粒体毎に最適検査位置への調節を可能としている。な
お、この実施例では、これらを一体連設しているが、そ
れぞれを個々に最適位置に設けてもよい。
【００２２】ドラム（５）上の異物検査領域（Ａ）の鉛
直上方には、粉粒体（２）の表面を撮像するためのライ
ンセンサカメラ（７）（撮像装置）が設けられている。
ラインセンサカメラ（７）は市販されているものが用い
られており、ドラム（５）の外側上方に設けられた反射
光源（８）よりドラム（５）上を搬送される粉粒体
（２）に光を照射して、粉粒体（２）からの反射光を入
射し、またドラム（５）の内側に設けた透過光源（９）
より粉粒体（２）に向って光を照射して、粉粒体（２）
の大きさのバラツキによる照度のバラツキを補正し、透
過した光を入射する。透過光源（９）は、粉粒体（２）
の物性により、反射板に替えることもできる。
直上方には、粉粒体（２）の表面を撮像するためのライ
ンセンサカメラ（７）（撮像装置）が設けられている。
ラインセンサカメラ（７）は市販されているものが用い
られており、ドラム（５）の外側上方に設けられた反射
光源（８）よりドラム（５）上を搬送される粉粒体
（２）に光を照射して、粉粒体（２）からの反射光を入
射し、またドラム（５）の内側に設けた透過光源（９）
より粉粒体（２）に向って光を照射して、粉粒体（２）
の大きさのバラツキによる照度のバラツキを補正し、透
過した光を入射する。透過光源（９）は、粉粒体（２）
の物性により、反射板に替えることもできる。
【００２３】異物検査領域（Ａ）が終了する付近のドラ
ム（５）の上方には、陽圧カバー（１４）およびガイド
板（１１）を貫いて選別ノズル（１０）の先端部が設け
られている。選別ノズル（１０）は真空源（１８）に接
続され、後述する真空制御装置（１６）からの信号によ
り、真空弁（１９）を開閉することにより粉粒体（２）
中に異物や汚れがある場合に、これらを吸引除去する。
選別ノズル（１０）は、この実施例では固定式のもので
あるが、これを可動式にして、ドラム上のある程度の範
囲にある粉粒体を吸引除去できるものにしてもよい。こ
れら選別ノズル（１０）、真空源（１８）、真空弁（１
９）および真空制御装置（１６）で異物排除手段を形成
している。
ム（５）の上方には、陽圧カバー（１４）およびガイド
板（１１）を貫いて選別ノズル（１０）の先端部が設け
られている。選別ノズル（１０）は真空源（１８）に接
続され、後述する真空制御装置（１６）からの信号によ
り、真空弁（１９）を開閉することにより粉粒体（２）
中に異物や汚れがある場合に、これらを吸引除去する。
選別ノズル（１０）は、この実施例では固定式のもので
あるが、これを可動式にして、ドラム上のある程度の範
囲にある粉粒体を吸引除去できるものにしてもよい。こ
れら選別ノズル（１０）、真空源（１８）、真空弁（１
９）および真空制御装置（１６）で異物排除手段を形成
している。
【００２４】ドラム（５）の円周上を搬送された粉粒体
（２）が自由落下を開始する付近のドラム（５）の上部
には、粉粒体（２）の飛散を防止し、良品シュート（１
２）に導くためのガイド板（１１）が設けられており、
さらに自由落下した粉粒体（良品）を良品回収容器（２
０）に導くための良品シュート（１２）が設けられてい
る。
（２）が自由落下を開始する付近のドラム（５）の上部
には、粉粒体（２）の飛散を防止し、良品シュート（１
２）に導くためのガイド板（１１）が設けられており、
さらに自由落下した粉粒体（良品）を良品回収容器（２
０）に導くための良品シュート（１２）が設けられてい
る。
【００２５】良品シュート（１２）の直後には集塵ノズ
ル（１３）が設けられ、吸引によりドラム（５）の外周
面の粉粒体（２）の付着による汚れを防止している。集
塵ノズル（１３）を設けてある周辺には粉粒体（２）の
特性に応じて各種の付着汚れ除去具（例えば、布拭き、
粘着ロール、静電気除去装置など）をさらに設けてもよ
い。なお、第一振動フィーダー（３）からドラム（５）
の異物検査領域（Ａ）を経て、良品シュート（１２）に
至るまでには陽圧カバー（１４）が設けられ、陽圧の空
気を吹き込むことにより、粉粒体（２）の飛散を防止し
ている。
ル（１３）が設けられ、吸引によりドラム（５）の外周
面の粉粒体（２）の付着による汚れを防止している。集
塵ノズル（１３）を設けてある周辺には粉粒体（２）の
特性に応じて各種の付着汚れ除去具（例えば、布拭き、
粘着ロール、静電気除去装置など）をさらに設けてもよ
い。なお、第一振動フィーダー（３）からドラム（５）
の異物検査領域（Ａ）を経て、良品シュート（１２）に
至るまでには陽圧カバー（１４）が設けられ、陽圧の空
気を吹き込むことにより、粉粒体（２）の飛散を防止し
ている。
【００２６】画像処理装置（１５）は、ラインセンサカ
メラ（７）で撮像された画像を処理して、粉粒体（２）
中の異物や汚れを検知するためのもので、例えば特開昭
６１−１９１９４４号公報に記載の既知の画像処理装置
が用いられており、粉粒体（２）中の異物や汚れに対応
して生ずる画像中の暗点あるいは輝点の有無を検知し、
これらの点が検出されると不良信号として真空制御装置
（１６）に送信する。
メラ（７）で撮像された画像を処理して、粉粒体（２）
中の異物や汚れを検知するためのもので、例えば特開昭
６１−１９１９４４号公報に記載の既知の画像処理装置
が用いられており、粉粒体（２）中の異物や汚れに対応
して生ずる画像中の暗点あるいは輝点の有無を検知し、
これらの点が検出されると不良信号として真空制御装置
（１６）に送信する。
【００２７】真空制御手段（１６）は、画像処理装置
（１５）からの不良信号に対応して、真空源（１８）の
弁（１９）に信号を送り、弁（１９）を開いて選別ノズ
ル（１０）内を真空状態にして粉粒体（２）中の異物や
汚れを吸引除去させるものである。選別ノズル（１０）
は、吸引ノズルと圧空吹き出しノズルとの組み合わせ構
造を持ち、画像処理装置（１５）からの不良信号に対応
して、粉粒体（２）中の異物や汚れを吸引除去させるも
のであってもよい。
（１５）からの不良信号に対応して、真空源（１８）の
弁（１９）に信号を送り、弁（１９）を開いて選別ノズ
ル（１０）内を真空状態にして粉粒体（２）中の異物や
汚れを吸引除去させるものである。選別ノズル（１０）
は、吸引ノズルと圧空吹き出しノズルとの組み合わせ構
造を持ち、画像処理装置（１５）からの不良信号に対応
して、粉粒体（２）中の異物や汚れを吸引除去させるも
のであってもよい。
【００２８】次にこの発明の異物検査装置を用いた粉粒
体中の異物検査方法について説明する。ホッパー（１）
内に投入された粉粒体（２）は、ホッパー（１）の供給
量調節用の仕切り板（１ａ）の開度を一定にすることに
より、第一振動フィーダー（３）へ搬送される。第一振
動フィーダー（３）に搬送された粉粒体（２）は振動に
よって薄くならされ、その末端部から第二振動フィーダ
ー（４）に落下する。第二振動フィーダー（４）に落下
した粉粒体（２）は振動を与えられさらに薄いシート状
にならされて搬送され、その末端部から回転しているド
ラム（５）上に落下する。ドラム（５）に供給された粉
粒体（２）は、ドラム（５）上を回転移送され、異物検
査領域（Ａ）へ送られる。異物検査領域（Ａ）に回転移
送された粉粒体（２）は、反射光源（８）および透過光
源（９）から光を照射され、ラインセンサカメラ（撮像
装置）（７）によって撮像され、撮像された画像は画像
処理装置（１５）に送られる。
体中の異物検査方法について説明する。ホッパー（１）
内に投入された粉粒体（２）は、ホッパー（１）の供給
量調節用の仕切り板（１ａ）の開度を一定にすることに
より、第一振動フィーダー（３）へ搬送される。第一振
動フィーダー（３）に搬送された粉粒体（２）は振動に
よって薄くならされ、その末端部から第二振動フィーダ
ー（４）に落下する。第二振動フィーダー（４）に落下
した粉粒体（２）は振動を与えられさらに薄いシート状
にならされて搬送され、その末端部から回転しているド
ラム（５）上に落下する。ドラム（５）に供給された粉
粒体（２）は、ドラム（５）上を回転移送され、異物検
査領域（Ａ）へ送られる。異物検査領域（Ａ）に回転移
送された粉粒体（２）は、反射光源（８）および透過光
源（９）から光を照射され、ラインセンサカメラ（撮像
装置）（７）によって撮像され、撮像された画像は画像
処理装置（１５）に送られる。
【００２９】搬送される粉粒体（２）のすべてが良品で
ある場合は、ラインセンサカメラ（７）により撮像され
た画像は、検査視野の全域にわたって同一明度となる。
ところが、粉粒体（２）中に不良品（汚れのある粉粒体
など）や異物等が混入していると、不良品や異物等は、
反射光量が良品と相違し、すなわち明度が良品と異なる
ことになり、そのときラインセンサカメラ（７）の画像
には不良品、異物に対応して暗点あるいは輝点が生じる
ことになる。そして、画像処理装置（１５）によって、
画像中の暗点あるいは輝点の有無を検出し、暗点あるい
は輝点があれば真空制御装置（１６）へ信号を送り、真
空制御装置（１６）は真空源（１８）の弁（１９）に信
号を送りこれを一定時間開き、選別ノズル（１０）から
不良品、異物が含まれている領域の粉粒体（２）をドラ
ム（５）上から自由落下する前に吸引除去する。一方、
良品の場合には、弁（１８）は閉じられており、粉粒体
（２）はガイド板（１１）により導かれて、ドラム
（５）上から良品シュート（１２）に自由落下し、良品
回収容器（２０）に収納される。
ある場合は、ラインセンサカメラ（７）により撮像され
た画像は、検査視野の全域にわたって同一明度となる。
ところが、粉粒体（２）中に不良品（汚れのある粉粒体
など）や異物等が混入していると、不良品や異物等は、
反射光量が良品と相違し、すなわち明度が良品と異なる
ことになり、そのときラインセンサカメラ（７）の画像
には不良品、異物に対応して暗点あるいは輝点が生じる
ことになる。そして、画像処理装置（１５）によって、
画像中の暗点あるいは輝点の有無を検出し、暗点あるい
は輝点があれば真空制御装置（１６）へ信号を送り、真
空制御装置（１６）は真空源（１８）の弁（１９）に信
号を送りこれを一定時間開き、選別ノズル（１０）から
不良品、異物が含まれている領域の粉粒体（２）をドラ
ム（５）上から自由落下する前に吸引除去する。一方、
良品の場合には、弁（１８）は閉じられており、粉粒体
（２）はガイド板（１１）により導かれて、ドラム
（５）上から良品シュート（１２）に自由落下し、良品
回収容器（２０）に収納される。
【００３０】
【発明の効果】この発明の粉粒体中の異物検査方法によ
れば、被験粉粒体を回転するドラム上に落下させ、ドラ
ムの外周面をガイドとして搬送するので、ドラムの回転
数（周速度）を変化することにより、粉粒体の供給量を
変えることなく、異物検査領域において検査に最適の粉
粒体の厚みを得ることができ、検査過程で異物や汚れを
発生することがない。そして、粉粒体がドラム上から自
由落下するまでに、光源から粉粒体に光を照射して粉粒
体の表面を撮像装置で撮像し、その画像信号を画像処理
装置により処理して粉粒体中の異物の有無を判定するの
で粉粒体の異物検査が確実に行なえる。
れば、被験粉粒体を回転するドラム上に落下させ、ドラ
ムの外周面をガイドとして搬送するので、ドラムの回転
数（周速度）を変化することにより、粉粒体の供給量を
変えることなく、異物検査領域において検査に最適の粉
粒体の厚みを得ることができ、検査過程で異物や汚れを
発生することがない。そして、粉粒体がドラム上から自
由落下するまでに、光源から粉粒体に光を照射して粉粒
体の表面を撮像装置で撮像し、その画像信号を画像処理
装置により処理して粉粒体中の異物の有無を判定するの
で粉粒体の異物検査が確実に行なえる。
【００３１】この発明の粉粒体中の異物検査装置によれ
ば、異物検査が自動的に、かつ再現良く高精度にできる
だけでなく、装置自体から異物や汚れを発生することが
ない。
ば、異物検査が自動的に、かつ再現良く高精度にできる
だけでなく、装置自体から異物や汚れを発生することが
ない。
【００３２】また、画像処理装置からの不良信号に応答
して、粉粒体中の異物を排除する異物排除手段をさらに
備えている場合には、検出された異物を確実に良品中か
ら排除できる。
して、粉粒体中の異物を排除する異物排除手段をさらに
備えている場合には、検出された異物を確実に良品中か
ら排除できる。
【図１】 この発明の一実施態様を示す説明図である。
１ ホッパー １ａ 仕切板 ２ 粉粒体 ３ 第一振動フィーダー ４ 第二振動フィーダー ５ ドラム ５ａ 回転軸 ６ 静電気除去装置 ７ ラインセンサカメラ（撮像装置） ８ 反射光源 ９ 透過光源 １０ 選別ノズル １１ ガイド板 １２ 良品シュート １３ 集塵ノズル １４ 陽圧カバー １５ 画像処理装置 １６ 真空制御手段 １７ 扇板 １８ 真空源 １９ 真空弁 ２０ 良品回収容器 Ａ 異物検査領域
Claims (5)
- 【請求項１】 粉粒体を搬送しながら平準化し、次いで
回転するドラム上に落下させ、ドラムの外周面をガイド
として均一な層を形成させながら搬送し、光源から粉粒
体に光を照射して、粉粒体がドラム上から自由落下する
までに粉粒体の表面を撮像装置で撮像し、その画像信号
を画像処理装置により処理して粉粒体中の異物の有無を
判定することを特徴とする粉粒体中の異物検査方法。 - 【請求項２】 粉粒体を振動フィーダーに供給して振動
を与えながら搬送し、次いで振動フィーダーから回転す
るドラム上に落下させ、ドラムの外周面をガイドとして
均一な層を形成させながら搬送し、光源から粉粒体に光
を照射して、粉粒体がドラム上から自由落下するまでに
粉粒体の表面を撮像装置で撮像し、その画像信号を画像
処理装置により処理して粉粒体中の異物の有無を判定す
ることを特徴とする、請求項１に記載の粉粒体中の異物
検査方法。 - 【請求項３】 粉粒体を搬送しながら平準化する粉粒体
搬送平準化手段と、粉粒体搬送平準化手段の排出端下方
に設けられ落下する粉粒体を回転搬送するドラムと、ド
ラム上を搬送される粉粒体に光を照射する光源と、ドラ
ム上を搬送される粉粒体の表面を撮像する撮像装置と、
撮像装置の画像信号を処理して粉粒体中の異物の有無を
判定する画像処理装置とを備えている粉粒体中の異物検
査装置。 - 【請求項４】 粉粒体搬送平準化手段が、振動フィーダ
ーである請求項３に記載の粉粒体中の異物検査装置。 - 【請求項５】 画像処理装置からの不良信号に応答し
て、粉粒体中の異物を排除する異物排除手段をさらに備
えている請求項３に記載の粉粒体中の異物検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28543698A JP3358560B2 (ja) | 1997-10-08 | 1998-10-07 | 粉粒体中の異物検査方法および異物検査装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9-275546 | 1997-10-08 | ||
| JP27554697 | 1997-10-08 | ||
| JP28543698A JP3358560B2 (ja) | 1997-10-08 | 1998-10-07 | 粉粒体中の異物検査方法および異物検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11190697A true JPH11190697A (ja) | 1999-07-13 |
| JP3358560B2 JP3358560B2 (ja) | 2002-12-24 |
Family
ID=26551511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28543698A Expired - Lifetime JP3358560B2 (ja) | 1997-10-08 | 1998-10-07 | 粉粒体中の異物検査方法および異物検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3358560B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7659984B2 (en) | 2001-12-18 | 2010-02-09 | Kba-Giori S.A. | Device for controlling material |
| WO2010055790A1 (ja) * | 2008-11-13 | 2010-05-20 | 住友電気工業株式会社 | 異物検出装置 |
| JP2010197240A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 粉粒体異物検査装置、異物検査方法 |
| JP2011521217A (ja) * | 2008-05-14 | 2011-07-21 | ビューラー・アクチエンゲゼルシャフト | 製粉設備において製粉物を特徴識別するためのシステムおよび方法 |
| JP2012007999A (ja) * | 2010-06-24 | 2012-01-12 | Fuji Electric Co Ltd | 粉粒体篩い装置を使用した粉粒体異物検査装置 |
| JP2012006710A (ja) * | 2010-06-24 | 2012-01-12 | Fuji Electric Co Ltd | 粉体切出装置及びこれを使用した粉体異物検査装置 |
| CN113457994A (zh) * | 2021-06-28 | 2021-10-01 | 无锡传奇科技有限公司 | 一种全自动医用活塞检测机 |
-
1998
- 1998-10-07 JP JP28543698A patent/JP3358560B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7659984B2 (en) | 2001-12-18 | 2010-02-09 | Kba-Giori S.A. | Device for controlling material |
| JP2011521217A (ja) * | 2008-05-14 | 2011-07-21 | ビューラー・アクチエンゲゼルシャフト | 製粉設備において製粉物を特徴識別するためのシステムおよび方法 |
| US8632025B2 (en) | 2008-05-14 | 2014-01-21 | Bühler AG | System and method for ground material characterization in a grinding system |
| WO2010055790A1 (ja) * | 2008-11-13 | 2010-05-20 | 住友電気工業株式会社 | 異物検出装置 |
| JP2010117263A (ja) * | 2008-11-13 | 2010-05-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 異物検査装置 |
| JP2010197240A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 粉粒体異物検査装置、異物検査方法 |
| JP2012007999A (ja) * | 2010-06-24 | 2012-01-12 | Fuji Electric Co Ltd | 粉粒体篩い装置を使用した粉粒体異物検査装置 |
| JP2012006710A (ja) * | 2010-06-24 | 2012-01-12 | Fuji Electric Co Ltd | 粉体切出装置及びこれを使用した粉体異物検査装置 |
| CN113457994A (zh) * | 2021-06-28 | 2021-10-01 | 无锡传奇科技有限公司 | 一种全自动医用活塞检测机 |
| CN113457994B (zh) * | 2021-06-28 | 2023-08-15 | 无锡传奇科技有限公司 | 一种全自动医用活塞检测机 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3358560B2 (ja) | 2002-12-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9975149B2 (en) | Device and method for sorting bulk material | |
| US8228493B2 (en) | Carrying device and appearance inspection device for test objects | |
| RU2594604C1 (ru) | Устройство для внутреннего осмотра емкости снизу сквозь донную часть | |
| JPH0249147A (ja) | 白色系粉体中の着色異物検査方法および装置 | |
| JP3358560B2 (ja) | 粉粒体中の異物検査方法および異物検査装置 | |
| JP5740852B2 (ja) | 粉体切出装置及びこれを使用した粉体異物検査装置 | |
| JPH0360381B2 (ja) | ||
| JP2001519028A (ja) | 透明容器内における散乱された汚れを検出するための装置 | |
| JPS61191944A (ja) | 粉粒体検査装置 | |
| JP2719410B2 (ja) | 粉末密封透明容器の自動検査装置 | |
| JP2001343330A (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH1035862A (ja) | 搬送装置及び外観検査装置 | |
| US5261285A (en) | Powder granule sample inspection apparatus | |
| JP2010197239A (ja) | 検査用照明装置、検査用照明装置の照明調光方法および粉粒体異物検査装置 | |
| JP3976916B2 (ja) | 粒状体検査処理装置 | |
| JP2012007999A (ja) | 粉粒体篩い装置を使用した粉粒体異物検査装置 | |
| JP4050942B2 (ja) | 外観検査装置 | |
| JP2603038Y2 (ja) | 粉粒体検査装置 | |
| KR102296418B1 (ko) | 비젼 검사장치 | |
| JPH0540439Y2 (ja) | ||
| JP2011220741A (ja) | 粉粒体検査装置 | |
| JP4638187B2 (ja) | 粉粒体検査方法及び粉粒体検査装置 | |
| JPH10272427A (ja) | 粉粒体の検査方法及び粉粒体検査装置 | |
| JPH0630305Y2 (ja) | 検査装置 | |
| JP2815633B2 (ja) | 米粒品位判別装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20020910 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071011 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081011 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091011 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101011 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111011 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111011 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121011 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121011 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121011 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131011 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131011 Year of fee payment: 11 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131011 Year of fee payment: 11 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |