JPH0540439Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は、例えば薬品や樹脂原料等の粉粒体の
サンプルについての１項目以上の検査を自動で行
なう粉粒体サンプル検査装置に関するものであ
る。

（従来の技術） 従来、薬品や樹脂原料等の粉粒体のサンプルに
ついての、例えば金属異物混入の有無、着色異物
の混入数やその大きさ、水分率等の検査は、それ
ぞれ個別に人手を介して行なわれていた。このた
め、粉粒体サンプルについて複数項目の検査を行
なうには、手間や時間がかかり、検査中にサンプ
ルが変質したりするために、得られた検査データ
の精度も悪いものであつた。

そこで本件出願人は、粉粒体サンプルについて
上述したような複数項目の検査を連続して自動で
行なうことができる粉粒体サンプル検査装置を開
発し、既に実用新案登録出願（実願昭63−15481
号（実開平01−120644号））している。この粉粒
体サンプル検査装置は、第１４図に示すように、
まず粉粒体サンプルを連通管６０内を落下させな
がら金属異物の有無を金属検出器６１により検査
し、落下してきたサンプルを運搬手段、ここでは
ベルトコンベヤ６２の表面上に載せて所定距離運
搬させながらベルトコンベヤ６２の上方に設置し
た検査装置、ここでは水分計６３、ストロボ６５
付のテレビカメラ６４により水分率、着色異物の
混入数及びその大きさを検査するようにしたもの
である。

そして更に本件出願人は、検査後のサンプルが
検査前のサンプルに混ざるのを防止して信頼性の
高い検査データを得るため、検査後のサンプルを
上記運搬手段表面上からほぼ完全に除去できるよ
うにするために、第１４図に示すベルトコンベヤ
６２の代りに堅くて表面が平坦な回転テーブルを
用いた粉粒体サンプル検査装置を開発し、更に回
転テーブル表面上のサンプルについて着色異物の
検査を行なう際に上方からストロボ照射によるサ
ンプルの影が回転テーブル表面に生じるのを防止
してこの影が着色異物と間違つて検出されるのを
防止できるようにするために、回転テーブルとし
て光を透過可能な半透明なものを用い、回転テー
ブルの表裏両面からストロボを照射するようにし
た粉粒体サンプル検査装置を開発した。

しかしながら上記のような粉粒体サンプル検査
装置の回転テーブルを堅くて表面が平坦であるの
で、回転テーブルに振動が加わると、表面上に載
せられたサンプル粒子が転がつて移動して検査前
に回転テーブル表面上から落ちたり検査装置の下
を通らなかつたりするおそれがあり、このため回
転テーブル表面上に載せられたサンプルをその全
てにわたつて検査することができなくなるおそれ
があり、得られた検査データが信頼性に欠けるも
のとなるという問題があつた。

（考案の目的） 本考案は、上記のような問題点を解消して、信
頼性の高い検査データを得ることのできる粉粒体
サンプル検査装置を提供することを目的とする。

（考案の構成） 本願の第１の考案は、表面上に載せられた粉粒
体サンプルを所定距離運搬する回転テーブルと、
運搬中のサンプルについて所定項目の検査を行な
う少なくとも１種類の検査装置とを備え、粉粒体
サンプルの検査を自動で行なう粉粒体サンプル検
査装置であつて、上記回転テーブルの表面にサン
プル粒子が嵌り込んむ環状の溝を設けたことを特
徴とする粉粒体サンプル検査装置である。

また本願の第２の考案は、上記第１の考案の回
転テーブルとして光を透過可能な半透明のものを
用い、検査装置としてサンプル中の着色異物の混
入数、大きさの少なくとも一方を検査するもので
あつて、テレビカメラと、回転テーブルの表裏両
面からサンプルを照らすよう配設されたストロボ
とを有する着色異物検査装置を用い、環状の溝
を、回転テーブルを加工し且つその厚さを回転テ
ーブルの裏面からストロボを照射した際に回転テ
ーブル表面に影が生じないような厚さに加工して
設けた粉粒体サンプル検査装置である。

（作用） 本願の第１の考案においては、回転テーブル表
面の溝にサンプル粒子が嵌り込むので、回転テー
ブルに振動が加わつてもサンプル粒子がテーブル
表面上を転がつて移動することはない。

また本願の第２の考案においては、上記第１の
考案と同様にサンプル粒子が転がつて移動するこ
とはなく、しかも溝の部分の回転テーブルの厚さ
が回転テーブルの裏面側からストロボを照射した
際に回転テーブル表面に影が生じないような厚さ
に加工されているので、無色異物の検査において
回転テーブルの表裏両面側からストロボ照射した
際に、回転テーブル表面に溝による影が生じるこ
とはなく、この影が着色異物と間違つて検出され
ることはない。

（実施例） 以下、本考案の実施例を図について説明する。
第１図は本考案の一実施例による粉粒体サンプル
検査装置を示す一部断面側面図、第２図はその正
面図、第３図はその平面図である。また第４図は
本実施例の回転テーブル１を示す一部縦断面図、
第５図はその上面図である。

回転テーブル１は、ガラス板７１の表面に光を
透過可能で堅くて半透明な乳白色のアクリル膜７
２を積層した２層構造をした円板状であり、全体
としては半透明となつている。そしてアクリル膜
７２には、断面逆台形状の溝７３がアクリル膜７
２を折曲げ加工して第５図に示すように環状に形
成されており、溝７３はここでは、サンプル粒子
７４の径より少し小さい深さＤ及びサンプル粒子
７４が２個並んで嵌り込むような幅Ｒを有するよ
う形成されている。なおアクリル膜７２の溝７３
以外の表面は平坦になつている。そして溝７３を
構成するアクリル膜７２のテーパ状部分７２ａの
膜厚は、回転テーブル１の裏面（第４図中ガラス
板７１の下面）側から溝７３の部分にストロボを
照射してもアクリル膜７２表面に影が生じないよ
うな厚さ、即ちアクリル膜７２の溝７３の部分を
上方からテレビカメラで投影してもテーパ状部分
７２ａによる影が検知されないような厚さに加工
されている。具体的にはテーパ状部分７２ａの鉛
直方向の膜厚Ｔ１が溝７３を構成しない部分のア
クリル膜７２の膜厚Ｔ２と略等しくなるように形
成されている。

また第６図は第１図の−矢視図である。第
６図において、回転テーブル１の周辺には、回転
テーブル１表面の溝７３にサンプルが嵌り込むよ
うにサンプルを供給する供給装置２、溝７３内の
サンプルの静電気を除去する静電除去器３、サン
プル中の着色異物の混入数及びその大きさを検出
する着色異物検査装置４、サンプル中の着色異物
を吸引除去する着色異物除去器５、及び回転テー
ブル１表面上からサンプルを吸引除去する２つの
同じサンプル除去器６，７が配設されている。

回転テーブル１の下部には第７図に示すような
回転駆動機構８が設けられている。回転駆動機構
８は、鉛直に設置され回転テーブル１の中心部に
連結された回転軸９と、回転軸９を所定の速度で
回転させるモータ１０とを備えている。

第８図は第６図の矢視図であり、供給装置２
を示す。１１はトラフであり、トラフ１１は断面
四角形の筒状体であり、その一端の上方にはホツ
パ１２が、下方にはトラフ１１に振動を与える電
磁コイル１３が設けられている。ホツパ１２の下
底排出口１２ａはトラフ１１の上面に形成された
開口を通つてトラフ１１内に位置している。トラ
フ１１の他端は回転テーブル１上に位置してお
り、第６図の矢視図である第９図に示すように
なつている。即ち上記他端部は長さ方向に閉じて
おり、下面に長さ方向Ｌ寸法の突出筒状部１１ａ
が連通して設けられている。そして突出筒状部１
１ａは下方に開いており、その下方開口面は溝７
３を覆うように位置して回転テーブル１表面に面
しており、下方開口面と回転テーブル１表面との
間には溝７３の底から下方開口面までの垂直距離
がサンプル粒子の径より小さくなるような隙間が
隔てられている。また突出筒状部１１ａの回転テ
ーブル１の回転方向側の面の下部には高さ方向Ｈ
寸法の開口１１ｂが形成されており、開口１１ｂ
の両側にはそれぞれ突出片１１ｃが上記回転方向
側に突出して設けられている。そしてここでは上
記Ｌ寸法は溝７３の幅Ｒより少し大きめに、上記
Ｈ寸法は溝７３の底から開口１１ｂの上辺までの
垂直距離がサンプル粒子の径より少し大きめとな
るよう設定されている。

第１０図は第６図の矢視図であり、着色異物
検査装置４を示す。この着色異物検査装置４はテ
レビカメラ１４と２つのストロボ１５ａ，１５ｂ
とを備えている。ストロボ１５ａはテレビカメラ
１４と共に回転テーブル１の上方に設置され、ス
トロボ１５ｂは回転テーブル１の下方にストロボ
１５ａに対向して設置されている。１６はテレビ
カメラ１４、ストロボ１５ａ，１５ｂを上下方向
に移動可能に支持するスタンドである。

着色異物除去器５は第６図に示すように、サイ
クロン１８に吸引エジエクタ１７が連通されてお
り、エジエクタ１７はその吸引口が回転テーブル
１表面に近接し且つ面して設けられており、エア
ーコンプレツサー（図示せず）から送られてくる
空気（例えば４Kg／cm²の圧力）によりエジエクタ
１７から回転テーブル１表面上のサンプルを吸引
するようになつている。またサイクロン１８の上
方には空気吹出しホース１９が連通され、下底排
出口には吸引されてサイクロン１８で空気と分離
された着色異物を収容する袋１８ａ（第１図）が
連結されている。そして着色異物除去器５は、着
色異物検査装置４で検出された着色異物がエジエ
クタ１７の噴出口直前に来た時にエジエクタ１７
からの吸引を行なうように、着色異物検査装置４
及び回転駆動機構８に連動して設けられている。

第１１図は第６図のXI矢視図であり、サンプル
除去器６を示す。２０は吸引エジエクタであり、
これは吸引管２１、空気送入管２２及びバルブ２
３からなつている。吸引管２１は一端がサイクロ
ン２４に連通され、他端の吸引口２１ａが回転テ
ーブル１表面上のサンプルを確実に吸引できる位
置まで回転テーブル１表面に近接されており且つ
吸引口２１ａの面が回転テーブル１表面と平行に
なるよう設けられている。空気送入管２２は一端
がエアーコンプレツサー（図示せず）に連結さ
れ、他端が吸引管２１の吸引口２１ａ側の部分に
吸引口２１ａとは反対側に向けて空気を送入する
よう連結されている。バルブ２３は空気送入管２
２内の空気の流れを調節するものである。２５は
サイクロン２４の下底排出口に連結して設けられ
たポリエチレンの袋、２６はサイクロン２４の上
方に連通して設けられた空気吹出しホースであ
り、このホース２６は着色異物除去器５のホース
１９と共に集塵器（図示せず）に連結されてい
る。なおサンプル除去器７もサンプル除去器６と
同じ構成のものである。

また第１図において、サンプルをホツパ１２ま
で供給する装置の構成は第１４図に示す例と同様
である。即ちホツパ１２上方のフレーム４１には
ホツパ４２が貫通して設けられ、ホツパ４２の上
開口にはサイクロン４３が設けられている。ホツ
パ４２の側部にはロードセル４４が接触せられ、
ロードセル４４はフレーム４１に固定されてい
る。サイクロン４３の側部にはサンプル輸送管４
５の一端が吹出しノズル４６を介して連通されて
いる。また輸送管４５の他端にはオンライン（図
示せず）上の粉粒体をサンプリングするサンプリ
ングノズル（図示せず）が連結され、輸送管４５
の途中には開閉弁４７が設けられている。またサ
イクロン４３の上部には空気吹出し管４８が連通
されている。ホツパ４２の下底排出口からは連通
管６０が真下に伸びてホツパ１２に連通されてい
る。連通管６０の上端部にはボールバルブ４９及
びこれを調節するバルブ調節器５０が設けられ、
連通管６０の途中には連通管６０内を落下してく
るサンプル中の金属異物の有無を検査するための
金属検出器６１が設けられている。また金属検出
器６１の出口の連通管部分６０ａはジヤバラで構
成されている。５１はホツパ１２の蓋である。

また第１図において、３１は検査データをプリ
ントアウトするプリンター、３２はテレビカメラ
１４からの影像が映し出されるモニター、３３は
装置全体の動きを操作し又検査データを記憶する
コンピユータ、３３ａはそのキーボード、３４は
影像信号処理器、３５は画像解析器であり、これ
らはテレビカメラ１４からの影像信号を画像解析
してサンプル中の着色異物の混入数及びその大き
さを判断するものである。３６はストロボ１５
ａ，１５ｂのサイクル等を制御するストロボ本
体、３７は電源の調整を行なう電源フイルタであ
る。

次に動作について説明する。第１図において、
開閉弁４７が開いた状態で、オンライン（図示せ
ず）上を流れる粉粒体がサンプリングノズル（図
示せず）でサンプリングされて空気流とともにサ
ンプル輸送管４５を通つて送られてくると、粉粒
体サンプルは、吹出しノズル４６からサイクロン
４３内に吹出され、サイクロン４３内を旋回しな
がら空気と分離される。分離されたサンプルはホ
ツパ４２内に溜り、空気は空気吹出し管４８から
排出される。溜つたサンプルの量はロードセル４
４により計量され、ある程度の量のサンプルが溜
ると、開閉弁４７が閉じ、バルブ調節器５０によ
りボールバルブ４９が調節されて検査に要する所
定量のサンプルがホツパ４２から連続して一定量
ずつ排出され、連通管６０内を落下する。このと
き金属検出器６１により落下していくサンプル中
の金属異物の有無が検査される。落下してきたサ
ンプルはホツパ１２内に溜る。このときホツパ１
２内の空気はジヤバラで構成されている連通管部
分６０ａから排出される。

ホツパ１２内に溜められたサンプルは、第８図
に示す電磁コイル１３により振動されるトラフ１
１により一定量ずつ切出され、トラフ１１内を回
転テーブル１側に徐々に送られる。送られてきた
サンプルは第９図に示す突出筒状部１１ａ内を落
下して溝７３に嵌り込んでいき、開口１１ｂを通
され突出片１１ｃにより方向決めされることによ
り溝７３内に上下に重なることなく２列に整列し
て嵌込まれた状態にされる。

溝７３内に嵌り込んだサンプル粒子は、回転駆
動機構８（第７図）により所定の速度で回転する
回転テーブル１により運搬され、まず静電除去器
３（第６図）の下を通つてその静電気が除去さ
れ、次に着色異物検査装置４（第１０図）のテレ
ビカメラ１４の下を通る。その際サンプルはスト
ロボ１５ａ，１５ｂにより間欠的に照らされなが
ら撮影されサンプル中の着色異物の個数及びその
大きさが測定される。このとき回転テーブル１
（第４図）を構成するガラス板７１は透明であり、
アクリル膜７２は半透明であるためにストロボ１
５ｂは弱いながらも溝７３内のサンプルを裏面側
から照らすこととなる。即ちサンプルは回転テー
ブル１の表裏両面側から照らされることとなるた
め、回転テーブル１表面上、即ちアクリル膜７２
表面上にストロボ光によるサンプルの影は生じな
い。しかもアクリル膜７２のテーパ状部分７２ａ
の膜厚は、回転テーブル１の裏面側から溝７３の
部分にストロボ１５ｂ（第１０図）を照射して上
方からテレビカメラ１４で撮影してもアクリル膜
７２表面に影が検知されないような厚さに加工さ
れているので、アクリル膜７２表面上に溝７３に
よる影は生じないこととなる。従つて着色異物と
間違つてサンプルの影や溝７３による影が検出さ
れることはない。

そしてサンプル中の着色異物は、着色異物除去
器５（第６図）において、吸引エジエクタ１７に
より吸引されてサイクロン１８内に吹出され、サ
イクロン１８内を旋回しながら空気と分離され
る。分離された着色異物はサイクロン１８に連結
されている袋１８ａ（第１図）に溜められ、空気
は空気吹出しホース１９から排出される。

着色異物が除去されたサンプルは、まずサンプ
ル除去器６（第１１図）によつて回転テーブル１
表面上から吸引除去される。即ちエアーコンプレ
ツサー（図示せず）から例えば４Kg／cm²の圧力で
空気が吸引管２１内に送入されると、吸引口２１
ａに吸引力が生じ、吸引口２１ａから回転テーブ
ル１表面上のサンプルが吸引され、吸引管２１を
通つてサイクロン２４内に送られることとなる。
そして送られてきたサンプルはサイクロン２４内
を旋回しながら空気と分離され、分離されたサン
プルはサイクロン２４に連結されている袋２５に
溜められ、空気は空気吹出しホース２６から排出
される。このとき回転テーブル１の表面、即ちア
クリル膜７２の表面は堅いので、吸引エジエクタ
２０からの吸引によつて回転テーブル１が撓んで
吸引口２１ａが塞がれるようなことはない。また
回転テーブル１の表面は平坦であり、エジエクタ
２０の吸引口２１ａの面が回転テーブル１表面と
平行となるよう設けられているので、エジエクタ
２０からの吸引力は回転テーブル１表面に対し均
等に作用することとなり、エジエクタ２０の吸引
口２１ａの下にあるサンプルの全て、即ち溝７３
内のサンプル粒子の全てに吸引力が及ぶこととな
る。そして更にサンプル除去器７によつても同様
にサンプルの吸引除去が行なわれる。

（考案の効果） 以上のように本考案の粉粒体サンプル検査装置
によれば、検査されるサンプル粒子は溝７３に嵌
り込むので、回転テーブル１に振動が加わつて
も、回転テーブル１表面上をサンプル粒子が転が
つて移動するのを防止でき、供給されてきたサン
プルをその全てについて検査することができ、検
査データの信頼性を高めることができる。しかも
サンプル粒子は２列に整列された状態で検査され
るので、検査装置は常に同じ状態で運搬されてく
る検査処理に適した量のサンプルを検査処理する
ことができ、検査を良好に行なうことができ、検
査データの信頼性をさらに高めることができる。

また回転テーブル１は半透明であり、着色異物
検査装置４による検査においては２つのストロボ
１５ａ，１５ｂにより回転テーブル１の表裏両面
側からサンプルを照らすようにしており、しかも
アクリル膜７２のテーパ状部分７２ａの膜厚を、
回転テーブル１の裏面側から溝７３の部分にスト
ロボ１５ｂを照射して上方からテレビカメラ１４
で撮影してもアクリル膜７２表面に影が検知され
ないような厚さに加工しているので、回転テーブ
ル１表面上にストロボ光によるサンプルの影や溝
７３による影が生じるのを防止でき、従つてこの
影を着色異物と間違つて検出するのを防止でき、
着色異物検査の信頼性を向上させることができ
る。

更に回転テーブル１は堅くてその表面が平坦で
あるので、サンプル除去器６による吸引によつて
回転テーブル１が撓んだりすることはなく、従つ
て吸引エジエクタ２０の吸引口２１ａをサンプル
を確実に吸引できる位置まで回転テーブル１表面
に近接させることができ、しかもサンプル除去器
６の吸引力を回転テーブル１表面に対し均等に作
用させることができ、回転テーブル１表面上のサ
ンプルをほぼ完全に除去することができる。しか
も同じ構成のサンプル除去器６，７により連続し
てサンプル除去を行なうようにしているので、よ
り完全にサンプルを除去することができる。

更にサンプル中の着色異物は着色異物除去器５
により除去されて袋１８ａに溜められるので、着
色異物の性状について別により詳しい検査を行な
うことができる。

（別の実施例） 上記実施例では回転テーブル１としてガラス板
７１と半透明樹脂、ここではアクリル膜７２とか
らなる２層構造のものを用いているが、これは１
層構造のものでもよく、この場合は１層構造のも
のを折曲げ加工し且つ上記実施例と同様に溝によ
る影が生じないような厚さに加工して溝を形成す
る。

また上記実施例では溝７３をアクリル膜７２を
折曲げ加工して形成しているが、これは着色異物
の検査を行なわない場合には、第１２図に示す溝
８３のように上記実施例より少し厚めのアクリル
膜８２の表面を掘りこむようにして形成したもの
でもよい。またその際の溝の形状は溝７３や溝８
３のような断面逆台形状のものに限るものではな
く、サンプル粒子が嵌り込むものであればどのよ
うな形状のものであつてもよく、例えば第１３図
に示す溝９３のように断面が広角のＶ字形状であ
つてもよい。但し溝の深さはサンプル粒子の径よ
り小さいものとする必要がある。もちろん上記実
施例のようにアクリル膜７２を折曲げ加工して形
成する場合でもその形状は溝７３のような断面逆
台形状に限るものではなく、例えば断面が広角の
Ｖ字形状であつてもよい。但しアクリル膜７２の
溝の部分の膜厚は溝７３と同様に裏面側からスト
ロボを照射しても表面に影が生じないような厚さ
とする必要がある。

また溝の幅はサンプル粒子２個が並んで嵌り込
むものに限らず、サンプル粒子１個、あるいは１
つの検査装置で一度に検査できる範囲であれば３
個以上が並んで嵌り込むような幅のものであつて
もよい。

また上記実施例では回転テーブル１としてガラ
ス板７１と半透明樹脂、ここではアクリル膜７２
とからなる２層構造のものを用いているが、着色
異物の検査を行なわない場合にはこれ以外の材料
からなるもの、或は１層構造のものを用いてもよ
い。

また回転テーブルの形状は円板状に限るもので
はない。

また回転テーブル１表面上のサンプルの検査装
置としては着色異物検査装置４のみを設けている
が、この他に例えば水分率を測定する水分計を例
えば供給装置２と静電除去器３の間に設けてもよ
く、更には他の検査装置を設けてもよい。またサ
ンプルがホツパ１２内に溜められる前に金属検出
器６１による検査を行なつているが、これは省略
しても構わない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の粉粒体サンプル検査装置を示
す一部断面側面図、第２図はその正面図、第３図
はその上面図、第４図は回転テーブルを示す一部
縦断面図、第５図はその上面図、第６図は第１図
の−矢視図、第７図は回転駆動機構を示す縦
断面図、第８図は第６図の矢視図、第９図は第
６図の矢視図、第１０図は第６図の矢視図、
第１１図は第６図のXI矢視図、第１２図は本考案
の別の実施例による回転テーブルを示す一部縦断
面図、第１３図は本考案の更に別の実施例による
回転テーブルを示す一部縦断面図、第１４図は本
件出願人が既に出願済みの粉粒体サンプル検査装
置を示す一部断面側面図である。１……回転テー
ブル、７１……ガラス板、７２……アクリル膜、
７３……溝、４……着色異物検査装置、６，７…
…サンプル除去器、１４……テレビカメラ、１５
ａ，１５ｂ……ストロボ、２０……吸引エジエク
タ。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 表面上に載せられた粉粒体サンプルを所定距
   離運搬する回転テーブルと、運搬中のサンプル
   について所定項目の検査を行なう少なくとも１
   種類の検査装置とを備え、粉粒体サンプルの検
   査を自動で行なう粉粒体サンプル検査装置であ
   つて、上記回転テーブルの表面にサンプル粒子
   が嵌り込む環状の溝を設けたことを特徴とする
   粉粒体サンプル検査装置。 (2) 光を透過可能な半透明の回転テーブルと、サ
   ンプル中の着色異物の混入数、大きさの少なく
   とも一方を検査するものであつて、テレビカメ
   ラと、回転テーブルの表裏両面からサンプルを
   照らすよう配設されたストロボとを有する着色
   異物検査装置とを備え、環状の溝を、回転テー
   ブルを加工し且つその厚さを回転テーブルの裏
   面側からストロボを照射した際に回転テーブル
   表面に影が生じないような厚さに加工して設け
   た実用新案登録請求の範囲第１項記載の粉粒体
   サンプル検査装置。