JPH0540438Y2 - - Google Patents

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JPH0540438Y2
JPH0540438Y2 JP6730988U JP6730988U JPH0540438Y2 JP H0540438 Y2 JPH0540438 Y2 JP H0540438Y2 JP 6730988 U JP6730988 U JP 6730988U JP 6730988 U JP6730988 U JP 6730988U JP H0540438 Y2 JPH0540438 Y2 JP H0540438Y2
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powder
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Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案は、例えば薬品や樹脂原料等の粉粒体の
サンプルについての1項目以上の検査を自動で行
なう粉粒体サンプル検査装置に関するものであ
る。
(従来の技術) 従来、薬品や樹脂原料等の粉粒体のサンプルに
ついての、例えば金属異物混入の有無、着色異物
の混入数やその大きさ、水分率等の検査は、それ
ぞれ個別に人手を介して行なわれていた。このた
め、粉粒体サンプルについて複数項目の検査を行
なうには、手間や時間がかかり、検査中にサンプ
ルが変質したりするために、得られた検査データ
の精度も悪いものであつた。
そこで本件出願人は、粉粒体サンプルについて
上述したような複数項目の検査を連続して自動で
行なうことができる粉粒体サンプル検査装置を開
発し、既に実用新案登録出願(実願昭63−15481
号(実開平01−120644号))している。この粉粒
体サンプル検査装置は、第10図に示すように、
まず粉粒体サンプルを連通管60内を落下させな
がら金属異物の有無を金属検出器61により検査
し、落下してきたサンプルを運搬手段、ここでは
ベルトコンベヤ62の表面上に載せて所定距離運
搬させながらベルトコンベヤ62の上方に設置し
た検査装置により所定項目の検査を行なう。ここ
では水分計63により水分率を、及びストロボ6
5付のテレビカメラ64により着色異物の混入数
及びその大きさを検査するようにしたものであ
る。そしてベルトコンベヤ62表面上のサンプル
はベルトコンベヤ62の終点付近に設置されたサ
ンプル掻き取り器(図示せず)によりホツパ66
内に掻き落とされるようになつている。
しかしながら上記のような粉粒体サンプル検査
装置において通常用いられるベルトコンベヤ62
は、柔らかい布の表面にテフロンをコーテイング
したものを繋ぎ合せたものであるために、撓みや
すく、また繋ぎ目にサンプルが詰まつてしまうお
それがある。このためベルトコンベヤ62の表面
に上記サンプル掻き取り器を当接させてサンプル
を掻き落とそうとしてもベルトコンベヤ62が撓
んでしまつて上記サンプル掻き取り器がベルトコ
ンベヤ62の表面にしつかりと接触せず、繋ぎ目
に詰まつたサンプルはもちろんベルトコンベヤ6
2表面上のサンプルのホツパ66内への掻き落と
しが不完全なものとなるおそれがある。また上記
サンプル掻き取り器の代りにサンプル吸引器を用
いて吸引除去することも考えられるが、サンプル
を吸引すべく吸引エジエクタをベルトコンベヤ6
2表面に近接させるとベルトコンベヤ62が撓ん
で吸引エジエクタの吸引口を塞ぐおそれがあり、
これによつてもサンプル除去が不完全なものとな
るおそれがあり、従つて検査後のサンプルが検査
前のサンプルと混ざつてしまうおそれがあり、得
られた検査データが信頼性に欠けるものとなつて
しまうという問題があつた。
また着色異物の検査においては、ストロボ65
によりベルトコンベヤ62表面のサンプルを照ら
してテレビカメラ64により撮影されるようにし
ているため、ベルトコンベヤ62表面上にサンプ
ルの影ができ、この影が着色異物として検出され
てしまうおそれがあり、これによつても得られた
検査データが信頼性に欠けるものとなつてしまう
という問題があつた。
(考案の目的) 本考案は、上記のような問題点を解消して、信
頼性の高い検査データを得ることのできる粉粒体
サンプル検査装置を提供することを目的とする。
(考案の構成) 本願の第1の考案は、粉粒体のサンプルについ
ての1項目以上の検査を自動で行なう粉粒体サン
プル検査装置であつて、表面上に載せられた粉粒
体サンプルを所定距離運搬する運搬手段と、運搬
中のサンプルについての所定項目の検査を行なう
検査装置とを備えた粉粒体サンプル検査装置にお
いて、上記運搬手段として堅くて表面が平坦な回
転テーブルを設け、回転テーブル表面上から検査
後のサンプルを吸引除去するサンプル除去器を設
けたことを特徴とする粉粒体サンプル検査装置で
ある。
また本願の第2の考案は、粉粒体のサンプルに
ついての1項目以上の検査を自動で行なう粉粒体
サンプル検査装置であつて、表面上に載せられた
粉粒体サンプルを所定距離運搬する運搬手段と、
運搬中のサンプルについての着色異物の混入数、
大きさの少なくとも一方を検査する着色異物検査
装置を備えた粉粒体サンプル検査装置において、
上記運搬手段として光を透過可能な半透明の回転
テーブルを設け、上記着色異物検査装置としてス
トロボを備えたテレビカメラを設け、ストロボを
回転テーブルの表裏両面からサンプルを照らすよ
う配設したことを特徴とする粉粒体サンプル検査
装置である。
(作用) 本願の第1の考案においては、回転テーブルは
堅いものであるので、サンプル除去器の吸引エジ
エクタからの吸引によつて回転テーブルが撓んだ
りすることはなく、従つて吸引エジエクタの吸引
口はサンプルを確実に吸引できる位置まで回転テ
ーブル表面に近接し得ることとなる。また回転テ
ーブルはその表面が平坦であるので、サンプル除
去器の吸引力は上記吸引エジエクタの吸引口の面
する回転テーブル表面に対し均等に作用すること
となり、上記吸引口の下にあるサンプルの全てに
吸引力が及ぶこととなる。
また本願の第2の考案においては、回転テーブ
ルは半透明であり、サンプルは回転テーブルの表
裏両面から照らされるので、回転テーブル表面上
にサンプルの影は生じない。従つてサンプルの影
が着色異物として間違つて検出されることはな
い。
(実施例) 以下、本考案の実施例を図について説明する。
第1図は本考案の粉粒体サンプル検査装置を示す
一部断面側面図、第2図はその正面図、第3図は
その平面図である。また第4図は第1図の−
矢視図である。第4図において、回転テーブル1
の周辺には、回転テーブル1表面上にサンプルを
少量ずつ載せるよう供給する供給装置2、回転テ
ーブル1表面上に載せられたサンプルの静電気を
除去する静電除去器3、サンプル中の着色異物の
混入数及びその大きさを検出する着色異物検査装
置4、サンプル中の着色異物を吸引除去する着色
異物除去器5、及び回転テーブル1表面上からサ
ンプルを吸引除去する2つの同じサンプル除去器
6,7が配設されている。
回転テーブル1は、ガラス板の表面に光を透過
可能で半透明な乳白色のアクリル膜を積層した2
層構造をしており、表面が平坦な円板状である。
回転テーブル1の下部には第5図に示すような回
転駆動機構8が設けられている。回転駆動機構8
は、鉛直に設置され回転テーブル1の中心部に連
結された回転軸9と、回転軸9を所定の速度で回
転させるモータ10とを備えている。
第6図は第4図の矢視図であり、供給装置2
を示す。11はトラフであり、トラフ11は断面
四角形の筒状体であり、その一端の上方にはホツ
パ12が、下方にはトラフ11に振動を与える電
磁コイル13が設けられている。ホツパ12の下
底排出口12aはトラフ11の上面に形成された
開口を通つてトラフ11内に位置している。トラ
フ11の他端は回転テーブル1上に位置してお
り、第4図の矢視図である第7図に示すように
なつている。即ち上記他端部は長さ方向に閉じて
おり、下面に長さ方向L寸法の突出筒状部11a
が連通して設けられている。突出筒状部11aは
下方に開いており、その下方開口面は粉粒体サン
プルの粒径より小さい隙間を隔てて回転テーブル
1表面に面している。また突出筒状部11aの回
転テーブル1の回転方向側の面の下部には高さ方
向H寸法の開口11bが形成されており、開口1
1bの両側にはそれぞれ突出片11cが上記回転
方向側に突出して設けられている。そしてここで
は上記L寸法は粉粒体サンプルの粒径の2倍より
やや大きめに、上記H寸法は粉粒体サンプルの粒
径よりやや大きめに設定されており、突出筒状部
11a内で回転テーブル1表面上に載つた粉粒体
サンプルは開口11bを通ることによりサンプル
粒子が上下に重なることなく2列に整列された状
態となるようになつている。
第8図は第4図の矢視図であり、着色異物検
査装置4を示す。この着色異物検査装置4はテレ
ビカメラ14と2つのストロボ15a,15bと
を備えている。ストロボ15aはテレビカメラ1
4と共に回転テーブル1の上方に設置され、スト
ロボ15bは回転テーブル1の下方にストロボ1
5aに対向して設置されている。16はテレビカ
メラ14、ストロボ15a,15bを上下方向に
移動可能に支持するスタンドである。
着色異物除去器5は第4図に示すように、サイ
クロン18に吸引エジエクタ17が連通されてお
り、エジエクタ17はその吸引口が回転テーブル
1表面に近接し且つ面して設けられており、エア
ーコンプレツサー(図示せず)から送られてくる
空気(例えば4Kg/cm2の圧力)によりエジエクタ
17から回転テーブル1表面上のサンプルを吸引
するようになつている。またサイクロン18の上
方には空気吹出しホース19が連通され、下底排
出口には吸引されてサイクロン18で空気と分離
された着色異物を収容する袋18a(第1図)が
連結されている。そして着色異物除去器5は、着
色異物検査装置4で検出された着色異物がエジエ
クタ17の吸引口直下に来た時にエジエクタ17
からの吸引を行なうように、着色異物検査装置4
及び回転駆動機構8に連動して設けられている。
第9図は第4図の矢視図であり、サンプル除
去器6を示す。20は吸引エジエクタであり、こ
れは吸引管21、空気送入管22及びバルブ23
からなつている。吸引管21は一端がサイクロン
24に連通され、他端の吸引口21aが回転テー
ブル1表面上のサンプルを確実に吸引できる位置
まで回転テーブル1表面に近接されており且つ吸
引口21aの面が回転テーブル1表面と平行にな
るよう設けられている。空気送入管22は一端が
エアーコンプレツサー(図示せず)に連結され、
他端が吸引管21の吸引口21a側の部分に吸引
口21aとは反対側に向けて空気を送入するよう
連結されている。バルブ23は空気送入管22内
の空気の流れを調節するものである。25はサイ
クロン24の下底排出口に連結して設けられたポ
リエチレンの袋、26はサイクロン24の上方に
連通して設けられた空気吹出しホースであり、こ
のホース26は着色異物除去器5のホース19と
共に集塵器(図示せず)に連結されている。なお
サンプル除去器7もサンプル除去器6と同じ構成
のものである。
また第1図において、粉粒体サンプルをホツパ
12まで供給する装置の構成は第10図に示す例
と同様である。即ちホツパ12上方のフレーム4
1にはホツパ42が貫通して設けられ、ホツパ4
2の上開口にはサイクロン43が設けられてい
る。ホツパ42の側部にはロードセル44が接触
せられ、ロードセル44はフレーム41に固定さ
れている。サイクロン43の側部にはサンプル輸
送管45の一端が吹出しノズル46を介して連通
されている。また輸送管45の他端にはオンライ
ン(図示せず)上の粉粒体をサンプリングするサ
ンプリングノズル(図示せず)が連結され、輸送
管45の途中には開閉弁47が設けられている。
またサイクロン43の上部には空気吹出し管48
が連通されている。ホツパ42の下底排出口から
は連通管60が真下に伸びてホツパ12に連通さ
れている。連通管60の上端部にはボールバルブ
49及びこれを調節するバルブ調節器50が設け
られ、連通管60の途中には連通管60内を落下
してくるサンプル中の金属異物の有無を検査する
ための金属検出器61が設けられている。また金
属検出器61の出口の連通管部分60aはジヤバ
ラで構成されている。51はホツパ12の蓋であ
る。
また第1図において、31は検査データをプリ
ントアウトするプリンター、32はテレビカメラ
14からの影像が映し出されるモニター、33は
装置全体の動きを操作し又検査データを記憶する
コンピユータ、33aはそのキーボード、34は
影像信号処理器、35は画像解析器であり、これ
らはテレビカメラ14からの影像信号を画像解析
してサンプル中の着色異物の混入数及びその大き
さを判断するものである。36はストロボ15
a,15bのサイクル等を制御するストロボ本
体、37は電源の調整を行なう電源フイルタであ
る。
次に動作について説明する。第1図において、
開閉弁47が開いた状態で、オンライン(図示せ
ず)上を流れる粉粒体がサンプリングノズル(図
示せず)でサンプリングされて空気流とともにサ
ンプル輸送管45を通つて送られてくると、粉粒
体サンプルは、吹出しノズル46からサイクロン
43内に吹出され、サイクロン43内を旋回しな
がら空気と分離される。分離されたサンプルはホ
ツパ42内を溜り、空気は空気吹出し管48から
排出される。溜つたサンプルの量はロードセル4
4により計量され、ある程度の量のサンプルが溜
ると、開閉弁47が閉じ、バルブ調節器50によ
りボールバルブ49が調節されて検査に要する所
定量のサンプルがホツパ42から連続して一定量
ずつ排出され、連通管60内を落下する。このと
き金属検出器61により落下していくサンプル中
の金属異物の有無が検査される。落下してきたサ
ンプルはホツパ12内に溜る。このときホツパ1
2内の空気はジヤバラで構成されている連通管部
分60aから排出される。
ホツパ12内に溜められたサンプルは、第6図
に示す電磁コイル13により振動されるトラフ1
1により一定量ずる切出され、トラフ11内を回
転テーブル1側に徐々に送られる。送られてきた
サンプルは第7図に示す突出筒状部11a内を落
下して回転テーブル1表面上に載せられ、開口1
1bを通され突出片11cにより方向決めされる
ことにより上下に重なることなく一定方向に2列
に整列された状態にされる。
回転テーブル1表面上に整列されたサンプル
は、回転駆動機構8(第5図)により所定の速度
で回転する回転テーブル1により運搬され、まず
静電除去器3(第4図)の下を通つてその静電気
が除去され、次に着色異物検査装置4(第8図)
のテレビカメラ14の下を通る。その際サンプル
はストロボ15a,15bにより間欠的に照らさ
れながら撮影されサンプル中の着色異物の個数及
びその大きさが測定される。このとき回転テーブ
ル1を構成するガラス板は透明であり、アクリル
膜は半透明であるためにストロボ15bは弱いな
がらも回転テーブル1表面上のサンプルを裏面か
ら照らすこととなる。即ちサンプルは回転テーブ
ル1の表裏両面から照らされることとなるので、
回転テーブル1表面上にストロボ光によるサンプ
ルの影は生じないこととなり、この影が着色異物
と間違つて検出されることはない。
そしてサンプル中の着色異物は、着色異物除去
器5(第4図)において、吸引エジエクタ17に
より吸引されてサイクロン18内に吹出され、サ
イクロン18内を旋回しながら空気と分離され
る。分離された着色異物はサイクロン18に連結
されている袋18a(第1図)に溜められ、空気
は空気吹出しホース19から排出される。
着色異物が除去されたサンプルは、まずサンプ
ル除去器6(第9図)によつて回転テーブル1表
面上から吸引除去される。即ちエアーコンプレツ
サー(図示せず)から例えば4Kg/cm2の圧力で空
気が吸引管21内に送入されると、吸引口21a
に吸引力が生じ、吸引口21aから回転テーブル
1表面上のサンプルが吸引され、吸引管21を通
つてサイクロン24内に送られることとなる。そ
して送られてきたサンプルはサイクロン24内を
旋回しながら空気と分離され、分離されたサンプ
ルはサイクロン24に連結されている袋25に溜
められ、空気は空気吹出しホース26から排出さ
れる。このとき回転テーブル1の表面、即ちアク
リル膜の表面は堅いので、吸引エジエクタ20か
らの吸引によつて回転テーブル1が撓んで吸引口
21aが塞がれるようなことはない。また回転テ
ーブル1の表面は平坦であり、エジエクタ20の
吸引口21aの面が回転テーブル1表面と平行に
なるよう設けられているので、エジエクタ20か
らの吸引力は回転テーブル1表面に対し均等に作
用することとなり、エジエクタ20の吸引口21
aの下にあるサンプルの全てに吸引力が及ぶこと
となる。そして更にサンプル除去器7によつても
同様にサンプルの吸引除去が行なわれる。
(考案の効果) 以上のように本考案の粉粒体サンプル検査装置
によれば、検査されるサンプルが載せられる回転
テーブル1は堅くてその表面が平坦であるので、
サンプル除去器6による吸引によつて回転テーブ
ル1が撓んだりすることはなく、従つて吸引エジ
エクタ20の吸引口21aをサンプルを確実に吸
引できる位置まで回転テーブル1表面に近接させ
ることができ、しかもサンプル除去器6の吸引力
を回転テーブル1表面に対し均等に作用させるこ
とができ、回転テーブル1表面上のサンプルをほ
ぼ完全に除去することができる。従つて検査後の
サンプルが回転テーブル1表面上に残つたままと
なつて検査前のサンプルに混ざつてしまうのを防
止でき、検査データの信頼性を高めることができ
る。しかも同じ構成のサンプル除去器6,7によ
り連続してサンプル除去を行なうようにしている
ので、より完全にサンプルを除去することができ
る。
また回転テーブル1は半透明であり、着色異物
検査装置4による検査においては2つのストロボ
15a,15bにより回転テーブル1の表裏両面
からサンプルを照らすようにしているので、回転
テーブル1表面上にストロボ光によるサンプルの
影が生じるのを防止でき、従つてこの影を着色異
物と間違つて検出するのを防止でき、着色異物検
査の信頼性を向上させることができる。
しかも回転テーブル1表面上にはトラフ11に
よりサンプルを上下に重なることなく2列に整列
した状態で載せるようにしているので、検査装置
は常に同じ状態で運搬されてくる検査処理に適し
た量のサンプルを検査処理することができ、検査
を良好に行なわせることができ、検査データの信
頼性を高めることができる。
更にサンプル中の着色異物は着色異物除去器5
により除去されて袋18a(第1図)に溜められ
るので、着色異物の性状について別により詳しい
検査を行なうことができる。
(別の実施例) 上記実施例では回転テーブル1表面上のサンプ
ルの検査装置として着色異物検査装置4のみを設
けているが、この他に例えば水分率を測定する水
分計を例えば供給装置2と静電除去器3の間に設
けてもよく、更には他の検査装置を設けてもよ
い。またサンプルがホツパ12内に溜められる前
に金属検出器61による検査を行なつているが、
これは省略しても構わない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の粉粒体サンプル検査装置を示
す一部断面側面図、第2図はその正面図、第3図
はその上面図、第4図は第1図の−矢視図、
第5図は回転駆動機構を示す縦断面図、第6図は
第4図の矢視図、第7図は第4図の矢視図、
第8図は第4図の矢視図、第9図は第4図の
矢視図、第10図は本件出願人が既に出願済みの
粉粒体サンプル検査装置を示す一部断面側面図で
ある。1……回転テーブル、4……着色異物検査
装置、6,7……サンプル除去器、14……テレ
ビカメラ、15a,15b……ストロボ、20…
…吸引エジエクタ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 粉粒体のサンプルについての1項目以上の検
    査を自動で行なう粉粒体サンプル検査装置であ
    つて、表面上に載せられた粉粒体サンプルを所
    定距離運搬する運搬手段と、運搬中のサンプル
    についての所定項目の検査を行なう検査装置と
    を備えた粉粒体サンプル検査装置において、上
    記運搬手段として堅くて表面が平坦な回転テー
    ブルを設け、回転テーブル表面上から検査後の
    サンプルを吸引除去するサンプル除去器を設け
    たことを特徴とする粉粒体サンプル検査装置。 (2) 粉粒体のサンプルについての1項目以上の検
    査を自動で行なう粉粒体サンプル検査装置であ
    つて、表面上に載せられた粉粒体サンプルを所
    定距離運搬する運搬手段と、運搬中のサンプル
    についての着色異物の混入数、大きさの少なく
    とも一方を検査する着色異物検査装置を備えた
    粉粒体サンプル検査装置において、上記運搬手
    段として光を透過可能な半透明な回転テーブル
    を設け、上記着色異物検査装置としてストロボ
    を備えたテレビカメラを設け、ストロボを回転
    テーブルの表裏両面からサンプルを照らすよう
    配設したことを特徴とする粉粒体サンプル検査
    装置。
JP6730988U 1988-05-20 1988-05-20 Expired - Lifetime JPH0540438Y2 (ja)

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