JPH11176920A - 静電吸着装置 - Google Patents

静電吸着装置

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JPH11176920A
JPH11176920A JP9362824A JP36282497A JPH11176920A JP H11176920 A JPH11176920 A JP H11176920A JP 9362824 A JP9362824 A JP 9362824A JP 36282497 A JP36282497 A JP 36282497A JP H11176920 A JPH11176920 A JP H11176920A
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Japan
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dielectric layer
electrostatic
insulating dielectric
volume resistivity
electrostatic chuck
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JP9362824A
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Kenichi Arai
健一 新井
Yoshihiro Kubota
芳宏 久保田
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Original Assignee
Shin Etsu Chemical Co Ltd
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    • Y10T279/23Chucks or sockets with magnetic or electrostatic means

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 静電吸着部の絶縁性誘電体層の体積固有抵抗
値を下げて静電力を高めると共に、電圧の印加を止めた
時の離脱能力の劣化がなく、半導体デバイスに対する不
純物汚染がなく、絶縁性誘電体層に微小クラックやポア
が残存しない耐電圧特性にも優れた静電吸着装置を提供
する。 【解決手段】 絶縁性誘電体層2で被覆されている導電
体電極1に電圧を印加して絶縁性誘電体層に試料を静電
吸着させる静電吸着装置7において、絶縁性誘電体層の
主成分が、25℃における体積固有抵抗値が1×1014
Ω・cm以上の高抵抗セラミックス粉末に、TiO2
2.5〜5重量%及び5重量%以下のTiNの粉末を添
加し、混練、成形、焼成した焼結体であり、かつ焼結体
の25℃における体積固有抵抗値を1×108 〜8×1
13Ω・cmとした静電吸着装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、静電チャック、特
には導電性、半導電性または絶縁性の対象物を低温から
高温まで強く静電的に吸着保持し、容易に脱着すること
ができる、半導体や液晶の製造プロセス等に有用とされ
る静電吸着装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体や液晶の製造プロセス、特にドラ
イエッチング、イオン注入、蒸着等の工程については近
年その自動化、ドライ化が進んでおり、従って、真空条
件下で行われる製造工程も増加してきている。
【0003】また、基板としてのシリコンウエーハやガ
ラス基板などはその大口径化が進み、回路の高集積化、
微細化に伴って、パターニング時の位置精度も益々重要
視されてきている。そのため、基板の搬送や吸着固定に
は真空チャックが使用されているが、この真空チャック
は真空条件下では圧力差がないために使用できず、ま
た、非真空下では基板を吸着することはできるが、吸着
部分が局部的に吸引されるために、吸引された基板には
部分的な歪みを生じ、高精度な位置合せができないとい
う欠点があるため、最近の半導体や液晶の製造プロセス
には不適当なものとされている。
【0004】このような欠点を改善したものとして、静
電気力を利用して、基板を搬送したり、これを吸着固定
する静電吸着装置が注目され、使用され始めており、最
近の半導体、液晶の製造プロセスではデバイスの微細化
に伴って、基板であるウエーハやガラス板の平坦度が益
々重視され、その矯正に静電吸着装置を利用することも
検討されてきている。
【0005】このような基板の平坦度の矯正には極めて
大きな静電力が必要とされ、そのためにはアルミナのよ
うな絶縁体にチタニア(TiO2 )を混合して体積固有
抵抗値を下げて静電吸着力を向上させるということが提
案されている(特開昭62−94953号、特開平2−
206147号、特開平3−147843号、特開平3
−204924号、各公報参照)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たように静電力を高めるために、静電吸着部の絶縁性誘
電体層にチタニアを混ぜたアルミナを使用すると、体積
固有抵抗値が下がり、微小電流が流れ、ジョンソン・ラ
ーベック効果により静電力は向上するが、チタニアが半
導体物質であるために、電荷の移動速度が遅くなって、
体積固有抵抗値を適正化しても電圧の印加を止めた時の
応答特性(飽和吸着力到達時間、残留吸着力消滅時間)
が劣るようになり、試料が吸着面から容易に脱着できな
くなってしまう。この応答特性の劣化は、低温で使用に
した時に顕著になるという欠点がある。
【0007】また、体積固有抵抗値を例えば、1×10
8 Ω・cmにするためにはTiO2を25重量%程度混
合する必要があるが、半導体の製造プロセスにおいては
このような不純物の混入は極力避けなければならない。
また、吸着する半導体ウエーハが室温以上では、体積固
有抵抗値が低過ぎるために、吸着装置からウエーハに大
きなリーク電流が流れてウエーハの回路が破壊されると
いう問題点があった。さらに、チタニアとアルミナとの
熱膨張係数の差から焼結後のアルミナに微小クラックが
残存していたり、ポアが発生していたりして、耐電圧が
低いという問題点があった。
【0008】本発明は、このような問題点に鑑みなされ
たもので、絶縁性誘電体層として、半導体デバイスに対
してダメージを与えるような不純物の添加を極力抑える
と共に、静電吸着部の絶縁性誘電体層の体積固有抵抗値
を下げて静電吸着力を高め、電圧の印加を止めた時の脱
着能力の劣化がなく、微小クラックやポアが残存しない
耐電圧特性にも優れた静電吸着装置を提供することを主
目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るため、本発明の請求項1に記載した発明は、絶縁性誘
電体層で被覆されている導電体電極に電圧を印加して、
該絶縁性誘電体層に試料を静電吸着させる静電吸着装置
において、該絶縁性誘電体層の主成分が、25℃におけ
る体積固有抵抗値が1×1014Ω・cm以上の高抵抗セ
ラミックス粉末に、チタニア(TiO2 )を2.5〜5
重量%及び5重量%以下の窒化チタン(TiN)の粉末
を添加し、混練、成形、焼成した焼結体であり、かつ該
焼結体の25℃における体積固有抵抗値を1×108
8×1013Ω・cmとしたことを特徴とする静電吸着装
置である。
【0010】このように、絶縁性誘電体層の主成分を、
25℃における体積固有抵抗値が1×1014Ω・cm以
上の高抵抗セラミックス粉末に、チタニア(TiO2
を2.5〜5重量%及び5重量%以下の窒化チタン(T
iN)の粉末を添加し、混練、成形、焼成した焼結体と
すれば、該焼結体中あるいは粒界でTiO2 とTiNま
たはAl23 とTiNの間等でオキシナイトライドの
形成が起こり、焼結体の電気的性質が安定化し、該焼結
体の25℃における体積固有抵抗値を1×108 〜8×
1013Ω・cmの範囲内に簡単にかつ正確に制御するこ
とができ、電荷の移動速度がTiO2 だけを添加した場
合より速くなり、静電吸着力が強く均一になり、脱着応
答特性が速く、特に離脱が容易であり、熱膨張係数も小
さく、焼結後の絶縁性誘電体層中に微小クラックやポア
が残存しない耐電圧特性の高い静電吸着部を形成するこ
とができる。
【0011】本発明の請求項2に記載した発明は、前記
高抵抗セラミックスの種類を、少なくともアルミナ、窒
化アルミニウム、酸化ジルコニウムから選択される1種
のセラミックス、または2種以上の混合物とすることが
できる。
【0012】絶縁性誘電体層のセラミックスとしてこの
ような材質を選択すれば、前記TiO2 とTiNを配合
することによって高い静電吸着力が得られると共に耐熱
性、プラズマ耐久性が高いものとなる。また、セラミッ
クスに配合するTiO2 、TiNとセラミックスとの間
に存在する熱膨張率の差を出来るだけ小さくすることが
できるので、焼結後の静電吸着部の吸着面に歪みを生じ
たり、割れやクラックを発生することはなく、耐電圧特
性が改善され、ひいては、吸着固定している半導体ウエ
ーハやガラス板等の基板に歪み、割れ、クラック等の欠
陥の発生を大幅に減らすことができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を詳細
に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではな
い。本発明者らは、静電吸着装置において、静電吸着力
は強いが、脱着が十分機能せず、また、TiO2 の添加
が半導体プロセスに対して不純物の増加となるのを防止
するには、絶縁性誘電体層の材質を改質することが必要
と考え、材質をセラミックスにTiO2 及びTiNを特
定量配合したものとすれば、静電吸着力は強く、脱着が
十分機能すると共に、絶縁性誘電体層に微小クラックや
ポアが発生することなく、耐電圧も低下しない長寿命
で、高性能な静電吸着装置を作製できることを見出し、
諸条件を精査して本発明を完成させたものである。
【0014】本発明の静電吸着装置の一例として、図1
にその縦断面図を示した。この静電吸着装置7は、双極
型電極1を絶縁性誘電体層2で被覆した板状構造を有す
る静電吸着部4を、プレート部5の上面に接着剤層3を
介して接合したもので、外部電源からリード線6を通し
て電極1に電圧を印加すると、静電吸着部4の上面に置
かれた試料、例えば半導体ウエーハとの間に静電力が発
生し、ウエーハを強力に吸着保持あるいは平坦度を矯正
保持することができる。
【0015】本発明の静電吸着部4を構成する絶縁性誘
電体層2の主成分は、25℃における体積固有抵抗値が
1×1014Ω・cm以上の高抵抗セラミックス粉末に、
チタニア(TiO2 )を2.5〜5重量%及び5重量%
以下の窒化チタン(TiN)の粉末を添加し、混練、成
形、焼成した焼結体であり、かつ該焼結体の25℃にお
ける体積固有抵抗値を1×108 〜8×1013Ω・cm
とするのがよい。
【0016】このような配合で焼結体を作製すると、該
焼結体中あるいは粒界でTiO2 とTiNまたはAl2
3 とTiNの間等でオキシナイトライドの形成が起こ
り、焼結体の電気的性質が安定化し、該焼結体の25℃
における体積固有抵抗値を1×108 〜8×1013Ω・
cmの範囲内に簡単にかつ正確に制御することができ、
電荷の移動速度がTiO2 だけを添加した場合より速く
なり、静電吸着力が強く均一になり、脱着も容易で、熱
膨張係数も小さく、焼結後の絶縁性誘電体層中に微小ク
ラックやポアが残存しない耐電圧特性の高い静電吸着部
4を形成することができる。
【0017】前述のように、従来の技術では、アルミナ
(Al23 )に対してチタニア(Ti2 O)を数〜2
5重量%混合して絶縁性誘電体層の体積固有抵抗値を常
温で109 〜1011Ω・cm程度に調整して静電力を向
上させていたが、チタニアが半導体物質であるために、
電荷の移動速度が遅くなって、体積固有抵抗値を適正化
しても電圧の印加を止めた時の応答特性(飽和吸着力到
達時間、残留吸着力消滅時間)が劣るようになり、試料
が吸着面から容易に離脱できなくなってしまう。また、
チタニアとアルミナとの熱膨張係数の差から焼結後のア
ルミナに微小クラックやポアが発生していたりして、耐
電圧が低くなるという問題点があった。
【0018】このような観点から、セラミックスの体積
固有抵抗値を適性な値に下げるための添加物について、
チタニア以外の化合物について調査、探索した結果、T
iO2 とTiNとを混合添加することが極めて有効であ
ることを見出し、添加量と体積固有抵抗値の関係を求
め、静電吸着部としての諸物性を確認し、さらに半導体
ウエーハに対する影響を調査した上で採用した。
【0019】また、静電吸着部4の絶縁性誘電体層2の
セラミックスには、25℃における体積固有抵抗値が1
×1014Ω・cm以上の高抵抗セラミックス粉末がよ
く、酸化アルミニウム(アルミナ)、窒化アルミニウ
ム、酸化ジルコニウムから選択される1種、または、2
種以上の混合物を使用することができる。そして、本発
明では、上記したように、これらのセラミックスにTi
2 及びTiNを配合して体積固有抵抗値を所望の値に
調整し、静電力の強い絶縁性誘電体層を形成することが
できる。
【0020】この静電吸着部4を構成する絶縁性誘電体
層2の体積固有抵抗値は、使用する温度により適正な値
があり、例えば、吸着保持される半導体ウエーハの温度
が25℃以下の時には、絶縁性誘電体層の体積固有抵抗
値が、1×108 〜1×1012Ω・cm程度であれば、
静電力が充分に発揮されデバイスダメージも起こらな
い。
【0021】静電チャック用の絶縁性誘電体としては、
その25℃における体積固有抵抗値を1×108 〜8×
1013Ω・cmmの範囲内、特には1010〜1012とす
るのが好ましいが、これを実現するために絶縁性セラミ
ックスに添加するTiO2 及びTiNの添加量は、Ti
2 2.5重量%未満及びTiN無添加では少な過ぎて
抵抗値が下がらず、静電力が弱くてウエーハを保持出来
ず、TiO2 5重量%超過及びTiN5重量%超過では
抵抗値が下がり過ぎ、静電力が強過ぎて半導体デバイス
にダメージが発生することになるので、TiO2 は2.
5〜5重量%及びTiNは5重量%以下の範囲で添加混
合するのが良い。
【0022】そして、上記条件下、すなわち、TiO2
及びTiN混合セラミックスを主成分とする絶縁性誘電
体層は、該絶縁性誘電体層を形成する焼結体中あるいは
粒界でTiO2 とTiNまたはAl23 とTiNの間
等でオキシナイトライドの形成が起こり、焼結体の電気
的性質が安定化し、該焼結体の25℃における体積固有
抵抗値が1×108 〜8×1013Ω・cmの範囲内の静
電吸着部について、電荷の移動速度がTiO2 だけを添
加した場合より速くなり、静電吸着力が強く均一になる
と共に、そのウエーハの離脱は電圧の印加を切断すると
同時に吸着力は消滅し、容易に離脱できるので、静電気
的吸着・離脱応答特性は極めて良好なものとなってい
る。
【0023】なお、静電力は、一般に次式、 F=A・ε・(V/t)2 [(ここにF:静電力(C)、ε:誘電率(F/m)、
V:印加電圧(v)、t:厚さ(μm)、A:定数]で
表される。この絶縁体中には副成分として高誘電体のセ
ラミックス粉末、例えば、チタン酸バリウム、チタン酸
鉛、チタン酸ジルコニウム、PLZT(ジルコン酸チタ
ン酸鉛ランタン)、シリカ、マグネシア等を、被吸着物
である半導体デバイスにダメージを発生させない程度で
あれば添加しても構わない。
【0024】この静電吸着部4を製造する方法の一例と
しては、先ず、セラミックス粉末にバインダー、溶剤を
混練してグリーンシートを作り、この一面に金属粉末ペ
ーストを用いてスクリーン印刷で電極1を印刷する。次
いで、別のグリーンシートを重ね合せて、高圧プレスで
加圧して一体化し、高温で焼結して焼結体とし、最後に
この焼結体の両面を精密に研磨して板状の静電吸着部4
を得る。別の例としては、電極1として金属板または導
電性セラミックスシートを用意し、この両面に絶縁性セ
ラミックスを所望の厚さまで溶射して板状に成形した
後、この両面を高精度に研磨して静電吸着部4を作るこ
とができる。
【0025】本発明の静電吸着部4を構成する導電体電
極1の材料としては、アルミニウム、鉄、銅、銀、金、
チタン、タングステン、モリブデン、白金等の金属、グ
ラファイト、カーボン、炭化けい素、窒化チタン、炭化
チタン等の導電性セラミックスから選択される1種また
は2種以上の合金或はこれらの混合焼結体が使用され
る。
【0026】この電極1を形成するには、スクリーン印
刷法、溶射法、フォトリソグラフィー或はメッキ法等が
使用される。そして、この吸着用電場を形成するには、
被吸着物を一方の電極とし、もう片方の電極を静電吸着
部4内に置いた単極型のものとするか、または、静電吸
着部4内に二つの電極を配置した双極型としてもよい。
【0027】この静電吸着部4に静電力を発生させるた
めには、内部電極1に電圧を印加する必要があるため、
電極を被覆するセラミックスの一部に内部電極1に通じ
る穴を設け、外部電源から電極にリード線を配線してい
る。電極の材質が、銅、白金、ニッケルメッキや金メッ
キを施したタングステン等のように半田付けが可能な場
合には、静電チャック使用温度以上の融点を持つ半田に
より電極にリード線を半田付けしている。また、この電
極がグラファイト、タングステン、窒化チタン等のよう
に半田付け不可能な材質の場合には、セラミックスの熱
膨張率に合致した合金等でネジ付きピンを孔部に通して
電極に銀ロウ付けする構造がとられている。
【0028】ここで、プレート部5は、前記静電吸着部
4が薄い板状で破損し易いので、先ず第一に補強材とし
て貼り合わせる補強板であり、次いで一般的には熱伝導
が良好で放熱し易いもの、かつ、熱膨張係数が小さくて
静電吸着部に歪み、反り等を与えないものがよく、酸化
アルミニウム、窒化アルミニウム、窒化けい素、酸化け
い素、酸化ジルコニウム、酸化チタン、サイアロン、窒
化ほう素および炭化けい素等から選択される1種のセラ
ミックス、または2種以上の混合焼結体が好ましい。ま
た、これらセラミックス板とAl、Cu、Ti等の金属
板またはステンレス等の合金板とを一体化した積層板も
使用することができる。
【0029】前記静電吸着部4とプレート部5の接合に
は、通常耐熱性の高い、熱硬化性合成樹脂接着剤が使用
される。特に、常温において液状のものを用いれば、静
電吸着部とプレート部の接合が均一に容易に行えるし、
あらゆる形態のものに適用できる。この液状接着剤の塗
布には、スピンコート、バーコート、スプレーコートな
どの塗装方法が使用される。
【0030】
【実施例】以下、本発明の実施例を挙げて具体的に説明
するが、本発明はこれらに限定されるものではない。 (実施例)アルミナ(Al23 )粉末93重量%、シ
リカ粉末4重量%、マグネシア3重量%からなるセラミ
ックス混合物100重量部に、TiO2 粉末2.5重量
部とTiN粉末1.5重量部、ブチラール樹脂8重量
部、エタノール60重量部およびフタル酸ジオクチル1
0重量部を添加した後、ボールミル中で24時間混練し
てスラリーを作製した。
【0031】次いで、このスラリーを真空脱泡機で処理
して、その溶剤の一部を蒸発させて粘度30,000c
psとし、ドクターブレードを用いて厚さ1mmのグリ
ーンシートを作り、それから直径が160mmの円板2
枚を切り出し、その内1枚にタングステンペーストを用
いてスクリーン印刷により双極型電極を2.5mmの間
隔で同心円状に印刷した。また、残る1枚のグリーンシ
ートの中心部に直径2mmの孔を開け電極との接合部と
した。
【0032】そして、電極を印刷したグリーンシートの
印刷面上に、前記孔を設けたもう1枚のグリーンシート
を重ね合せ、100℃に加熱したプレスで30kg/c
2の圧力をかけて一体化し、その後、水素15容量
%、窒素85容量%の雰囲気ガス中で1,650℃の温
度で焼結し、得られた焼結体の両面を研磨し、厚さ1m
mの静電吸着部を作製した。このものの25℃における
体積固有抵抗値を測定した所、2×1011Ω・cmであ
った。また、焼結セラミックス層には、微小クラック、
ポア、反り等は見られなかった。
【0033】次いで、静電吸着部の中心の穴から見える
タングステン電極にニッケルメッキおよび金メッキを施
し、これにリード線を2本、融点350℃の半田で半田
付けして、静電吸着装置を作製した。
【0034】次に、この静電吸着装置に直径6インチの
シリコンウエーハを載置し、ウエーハの温度が0℃とな
るように冷却しながら、リード線間にDC±1kVの電
圧を印加して静電力テスターでその静電力を測定した
所、6kg/cm2 の大きさで、ウエーハの平坦度矯正
に充分なものであった。また、印加電圧を切断した所、
素早く追従してウエーハを離脱させることができた。
【0035】(比較例)実施例におけるTiO2 及びT
iNの代わりにチタニア(TiO2 )を5.5重量部添
加混合したものを使用した他は、実施例と同様に処理し
て静電吸着部を作製し、このものの25℃における体積
固有抵抗値を測定した所、1×1014Ω・cmであっ
た。また、耐熱性を見るために、ウエーハ温度が100
℃になるように加熱しながら静電力テスターでその静電
力を測定したところ、1kg/cm2 であり、実用上不
十分な値であった。また、静電吸着部の応答が悪かっ
た。
【0036】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
るものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明
の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同
一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いか
なるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
【0037】
【発明の効果】本発明の静電吸着装置は、試料を静電吸
着する静電吸着部の絶縁性誘電体層の主な材質を、体積
固有抵抗値が1×1014Ω・cm以上の高抵抗セラミッ
クス粉末に、チタニア(TiO2 )を2.5〜5重量%
及び5重量%以下の窒化チタン(TiN)の粉末を添加
し、混練、成形、焼成した焼結体とし、かつ該焼結体の
体積固有抵抗値を1×108 〜8×1013Ω・cmの範
囲に制御したもので、静電吸着力が強く均一で、脱着応
答特性に優れ、不純物が少ないので半導体デバイスにダ
メージを与えることが極めて少ない。また熱膨張係数も
小さいので、焼結後の基材中に微小クラックやポアの残
存しない耐電圧特性にも優れた高性能を発揮するものと
なり、産業上その利用価値は極めて高いものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の静電吸着装置の一例を示す縦断面図で
ある。
【符号の説明】
1…電極、 2…絶縁性誘電体層、 3…接着剤層、 4…静電吸着部、 5…プレート部、 6…リード線、 7…静電吸着装置。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁性誘電体層で被覆されている導電体
    電極に電圧を印加して、該絶縁性誘電体層に試料を静電
    吸着させる静電吸着装置において、該絶縁性誘電体層の
    主成分が、25℃における体積固有抵抗値が1×1014
    Ω・cm以上の高抵抗セラミックス粉末に、チタニア
    (TiO2 )を2.5〜5重量%及び5重量%以下の窒
    化チタン(TiN)の粉末を添加し、混練、成形、焼成
    した焼結体であり、かつ該焼結体の25℃における体積
    固有抵抗値を1×108 〜8×1013Ω・cmとしたこ
    とを特徴とする静電吸着装置。
  2. 【請求項2】 前記高抵抗セラミックスが、少なくとも
    アルミナ、窒化アルミニウム、酸化ジルコニウムから選
    択される1種のセラミックス、または2種以上の混合物
    であることを特徴とする請求項1に記載した静電吸着装
    置。
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