JPH11174011A - アンモニア濃度計 - Google Patents

アンモニア濃度計

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JPH11174011A
JPH11174011A JP36265297A JP36265297A JPH11174011A JP H11174011 A JPH11174011 A JP H11174011A JP 36265297 A JP36265297 A JP 36265297A JP 36265297 A JP36265297 A JP 36265297A JP H11174011 A JPH11174011 A JP H11174011A
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ammonia
ammonia concentration
solution
conductivity
calibration
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JP36265297A
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Atsushi Tanaka
敦志 田中
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KOSU KK
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KOSU KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 アンモニア水溶液中のアンモニア濃度を
簡便に、迅速に、かつ連続的に測定できるアンモニア濃
度計を提供する。 【解決手段】 アンモニア水溶液の導電率を測定するプ
ローブ2およびアンプ3と、測定した導電率を検量線L
を用いてアンモニア濃度に換算するCPU4とを有して
おり、測定範囲内の中間的な値の1点Pにおいて校正値
を入力することにより、前記CPU4は測定範囲全域に
おいて検量線Lを校正可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、アンモニア水溶
液、特に半導体ウェハの洗浄など高純度であることを必
要されるアンモニア水溶液の濃度を測定するアンモニア
濃度計に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、従来から行われるアンモニア濃
度の測定方法として、滴定中和法、比色法、アンモニア
電極法などがあった。滴定中和法は測定対象となるアン
モニア水溶液のサンプルを取りこれを酸性の溶液によっ
て中和することにより中和に必要となった酸性の溶液の
量からアンモニア濃度を測定する方法であり、比色法は
測定対象のサンプルに対してネスラー試薬を滴下し、そ
の色の変化によってアンモニア濃度を測定する方法であ
る。
【0003】図5は、アンモニア電極法のプローブ20
を示す図であり、pH応答素子21と塩化物イオン応答
素子22とを一体化し、内部液として一定濃度の塩化ア
ンモニウム溶液23を入れた後ガス透過性膜24で覆
い、これを固定した構造である。このプローブ20を測
定対象のアンモニア水溶液に入れることにより、アンモ
ニア水溶液内のアンモニアがガス透過性膜24を透過す
るために、内部液と膜24の界面でアンモニア濃度が変
化するためにpHが変化し、このpHの変化に基づいて
アンモニア水溶液のアンモニア濃度を測定する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記従来の
滴定中和法と比色法はアンモニア濃度を比較的正確に測
定できるが、測定対象のアンモニア水溶液をサンプリン
グする必要があったので時間がかかるだけでなく、アン
モニア濃度を連続的に測定することができなかった。
【0005】また、アンモニア電極法は汚染物質である
塩化アンモニウム溶液23などの内部液がガス透過性膜
24を透過したり、漏れ出たりすることがあった。特に
塩素などの汚染物質が漏れた場合には、アンモニア水溶
液を半導体ウェハの洗浄に用いることができなくなるの
で、このアンモニア電極法を半導体ウェハ洗浄のための
アンモニア水溶液の濃度測定に用いることができなかっ
た。さらに、アンモニア電極法による測定は定期的に校
正する必要があり、たとえ汚染物質が漏れなかったとし
てもメンテナンスに手間がかかることは避けられなかっ
た。
【0006】このような不都合があるため、従来はアン
モニア水溶液の濃度を汚染することなく連続測定するこ
とができなかった。そこで、半導体ウェハの洗浄のため
に、たとえば0.5wt%の濃度のアンモニア水溶液を
必要とする場合には、アンモニア水の原液(濃度約28
〜30wt%)を水で60倍に希釈することにより得て
いるが、アンモニア水の原液も時間の経過とともに濃度
が変動するために常に一定の濃度のアンモニア水溶液で
ウェハを洗浄することは困難であった。
【0007】この発明は、上述の事柄を考慮に入れてな
されたものであって、その目的とするところは、アンモ
ニア水溶液中のアンモニア濃度を簡便に、迅速に、かつ
連続的に測定できるアンモニア濃度計を提供することに
ある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のアンモニア濃度計は、アンモニア水溶液の
導電率を測定するプローブおよびアンプと、測定した導
電率を検量線を用いてアンモニア濃度に換算する信号処
理部とを有しており、測定範囲内の中間的な値の1点に
おいて校正値を入力することにより、前記信号処理部は
測定範囲全域において検量線を校正可能であることを特
徴としている。
【0009】上記構成によれば、導電率を測定するプロ
ーブをアンモニア水溶液に浸漬するだけでアンモニア濃
度を測定できるので、測定対象のアンモニア水溶液から
サンプルを取出す必要がない。したがって、測定時間を
短縮でき、連続測定が可能となる。また、導電率を測定
するプローブからは汚染物質が何も出ないので、アンモ
ニア水溶液を汚染することもない。
【0010】アンモニア濃度計を校正するときは、アン
モニア濃度が既知のアンモニア水溶液を測定して、一点
を校正することにより、検量線の曲がりを測定範囲全域
にわたって補正できるので、校正作業を極めて簡略化す
ることができる。すなわち、ユーザによる直線性改善の
ための操作に関する負担を軽減できる。また、校正値を
入力した点を基準にしているので、校正点データを必ず
通過する検量線を作成できる。
【0011】さらに、前記検量線が、測定範囲の両端お
よび中間的な値における各対応関係をスプライン補間に
より曲がり補正することにより求めた曲線である場合に
は、各測定点の間もより正確な値を得ることができる。
したがって、測定範囲の両端および測定範囲内の中間的
な値の1点において校正するときに、測定していない導
電率に対しても精度良く予想された検量線を用いてアン
モニア濃度に変換できる。
【0012】
【発明の実施の形態】発明の実施の形態を図面を参照し
ながら説明する。図1は、本発明のアンモニア濃度計1
の実施形態の例を示すもので、このアンモニア濃度計1
は導電率を測定する例えば2極のプローブ2と、これを
アンモニア濃度計本体1aに接続するケーブル2aと、
プローブ2からの入力信号を増幅するアンプ3と、アン
プ3から出力される導電率を検量線Lを用いてアンモニ
ア濃度に変換する例えばCPUからなる信号処理部4
(以下、CPUという)と、CPU4において演算され
たアンモニア濃度を表示する表示部5と、CPU4に対
して信号入力を行なうキー入力部6とからなっている。
【0013】図2は、このアンモニア濃度計1を用いて
アンモニア濃度を測定し、薬液調整を行なうウェハ洗浄
装置7の構成を示す概略図である。図2において、8は
ウェハ洗浄用液(アンモニア水)、9はこのアンモニア
水8を蓄える洗浄槽、10は工業用アンモニア水の原
液、11はこの原液10を蓄える洗浄液貯槽、12は原
液10を洗浄槽9に注入するためのポンプ、13は希釈
用水を供給する蛇口、14は攪拌用スクリュー、15は
攪拌モータ、16は前記アンモニア濃度計1からのアン
モニア濃度出力に基づいてポンプ12に制御信号17を
送るアンモニア濃度制御部である。
【0014】洗浄槽9内で混合されたアンモニア水8は
洗浄槽9に取り付けられた前記プローブ2によってその
導電率が測定されており、この導電率をアンモニア濃度
計本体1aにおいてアンモニア濃度に変換し、これを表
示部5に表示する。また、これと同時にアンモニア濃度
制御部16に対してアンモニア濃度信号を出力している
ので、これが例えば0.5wt%になるように前記ポン
プ12に対する制御信号17を送ることにより、洗浄槽
8内のアンモニア濃度を常に適正に保つことができる。
【0015】本発明のアンモニア濃度計1はそのプロー
ブ2が導電率計の2極の電極であるので、プローブ2か
ら汚染物質が流れ出ることが全くなく、アンモニア水溶
液8を汚すことがないので、半導体ウェハの洗浄液のよ
うな高純度を要求するアンモニア水溶液8の濃度測定に
適している。また、従来のアンモニア電極法のように頻
繁にメンテナンスをする必要がないので、それだけ手間
を省くことができる。さらに、迅速かつ連続してアンモ
ニア濃度を測定できるので、本例のように測定したアン
モニア濃度を用いて濃度制御を可能とする。
【0016】なお、本発明のアンモニア濃度計1はプロ
ーブ2の種類を2極に限定するものではなく、4極のプ
ローブや電磁誘導法を用いたプローブであってもよい。
特に電磁誘導法を用いたプローブは汚れに強く、金属な
どとの接触がないので、メンテナンスを最小限に抑える
ことができて好ましい。
【0017】図3はアンモニア水溶液における導電率と
アンモニア濃度との関係を示すグラフである。図3にお
いて○印、+印および□印は、それぞれ異なるメーカ
A,B,Cが提供するアンモニア水溶液を希釈し、それ
ぞれのアンモニア濃度のときにおける導電率を測定した
値を示すものである。アンモニア水溶液はその種類にし
たがって含まれる不純物が若干異なるため、電離の度合
いなどに違いが生じる。このため、全てのアンモニア水
溶液の濃度に対する導電率を一律に定めることは精度の
低下を招くことになる。
【0018】上述した3種類のアンモニア水溶液の場
合、導電率とアンモニア濃度との関係は、アンモニア濃
度が0wt%のときと2.0wt%のときにどのアンモ
ニア水溶液を用いても同一の導電率を示すように変化す
る。そして、何れのアンモニア水溶液を用いたとしても
検量線LまたはL’は、滑らかな弓状に湾曲する曲線を
描くように変化する。
【0019】そこで、検量線L,L’の求め方には各種
の方法がある。例えば、各測定値のデータを基に最小自
乗法を用いてN次関数による近似を求める方法や、多点
折れ線近似法を用いて求めることも可能であるが、本例
ではアンモニア濃度が0wt%(最小値)となる点と、
2.0wt%(ウェハの洗浄用アンモニア水8の濃度を
測定するためには最大値が2wt%あれば十分である)
となる点と、中間的な値における導電率−アンモニア濃
度の対応関係を1点求めて、これら3点における測定値
を通過するようなスプライン曲線を演算により求めて、
この曲線を検量線L,L’とする。
【0020】図3に示すように、A社のアンモニア水の
導電率とアンモニア濃度の関係はおよそ検量線L’のラ
イン上にある。また、B社およびC社のアンモニア水の
導電率とアンモニア濃度の関係はおよそ検量線Lのライ
ン上にある。今、本発明のアンモニア濃度計1がB社,
C社(+印,□印)のアンモニア水に合わせて検量線L
を求め、この検量線Lに基づいてアンモニア濃度を演算
しているとする。この場合、当然ながら検量線Lを用い
て、A社のアンモニア水の濃度を測定した場合に、アン
モニア濃度計1の表示部5に表示される値には誤差が生
じる。
【0021】そこで、本発明のアンモニア濃度計1の校
正方法を図1〜3を参照しながら説明する。例えば、A
社のアンモニア水の導電率が575μS/cmであると
き、検量線Lを用いて演算したアンモニア濃度計1は表
示部5(図1,2に図示)に0.60wt%と表示す
る。ところが、実際は0.70wt%である。
【0022】したがって、使用する原液10(図2に図
示)を入れ換えたときに、利用者はアンモニア水溶液の
サンプルをとり、これを滴定中和法、比色法、アンモニ
ア電極法などによって測定してアンモニア濃度計1を校
正すればよい。例えば、上述した例の場合、利用者は、
図1に示すアップダウンキー6aを用いて表示部5の表
示を0.60wt%から0.70wt%にして、ENT
キー6bを押すことにより校正を行うことができる。
【0023】CPU4は入力された測定範囲内の中間的
な値における導電率とアンモニア濃度の対応関係と、測
定範囲の両端における導電率とアンモニア濃度の対応関
係の3点を用いてスプライン補間により曲がりを補正し
てアンモニア濃度計1を校正し、以後は校正された検量
線L’を用いてアンモニア濃度を測定する。
【0024】つまり、測定範囲内の中間的な値1点Pに
おいて校正値をキー入力することにより、アンモニア濃
度計1をハード的に調節することなく、測定範囲全域に
おいて検量線を校正可能であるから、利用者のメンテナ
ンスにかかる負担を最小限に抑えることができる。さら
に、校正した検量線L’は必ず校正した値を通る曲線と
なり、校正ポイントPにおける精度を可及的に引き上げ
ることができる。
【0025】なお、測定範囲内の中間的な値を複数点求
めてこれらによるスプライン補間をすることにより、よ
り精度良く測定することが容易に考えられるが、校正作
業が煩雑化するので好ましくない。また、スプライン関
数を用いて演算された検量線L,L’は3点における対
応関係を入力するだけでも十分の精度を得ている。加え
て、上述した例のように、アンモニア濃度が既定の濃度
値(上述の例では0.50wt%)になるように制御す
るためのアンモニア濃度計1を得る場合は、測定範囲の
両端および既定のアンモニア濃度値(0.50wt%)
に対応する導電率の3点以上の対応関係を基準に校正す
ることは無駄である。
【0026】上述した例では検量線L,L’を、測定範
囲の両端および中間的な値の3点における測定値のスプ
ライン補間によって求めているが、本発明はこれに限ら
れるものではない。すなわち、図4に示すように、検量
線L,L’を複数の測定点P0 〜P10の値を多点折れ線
近似によって求めてCPU4による処理速度を速くして
もよい。
【0027】図4に示すように多点折れ線近似を用いる
場合、測定範囲内の中間的な値1点P(P7 )における
校正を行うときには、校正点P7 より導電率が小さい全
ての測定点P1 〜P6 における濃度値を導電率の大きさ
に比例する比率でそれぞれ調節し、校正点より導電率が
大きい全ての測定点P8 ,P9 における濃度値を導電率
の最大値(2.0wt%の時の導電率)との差に比例す
る比率でそれぞれ調節する。このようにすることによ
り、測定範囲内の中間的な値の1点において校正値を入
力して、測定範囲全域において検量線Lを校正すること
が可能となる。
【0028】さらに、各測定値P0 〜P10のデータを基
に最小自乗法を用いてN次関数による近似を求める方法
についても同様に、各測定値P0 〜P10の値を校正点P
7 の値を基に補正したのちに最小自乗法を行ってもよ
い。このようにすることにより、最小自乗法を用いてN
次関数による近似を求める方法においても、測定範囲内
の中間的な値の1点において校正値を入力して、測定範
囲全域において検量線L,L’を校正することが可能と
なる。
【0029】なお、上述した各例には詳述していない
が、一般的に溶液の導電率は温度によって大きく変化す
るので、CPU4は検量線L,L’をアンモニア水溶液
8の温度によって補償していることは言うまでもない。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、導電率を測定するプローブをアンモニア水溶液に浸
漬するだけでアンモニア濃度を測定できるので、測定時
間を短縮でき、連続測定が可能となる。また、導電率測
定用の電極からは汚染物質が何も出ないので、アンモニ
ア水溶液を汚染することがない。加えて、測定範囲内の
一点を校正することにより、検量線の曲がりを測定範囲
全域にわたって補正できるので、校正作業を極めて簡略
化することができ、ユーザによるメンテナンス作業に関
する負担を可及的に軽減できる。また、検量線は校正値
を入力した点を基準に補正するので、校正点データを必
ず通過する検量線を作成できる。
【0031】前記検量線が、測定範囲の両端および中間
的な値における各対応関係をスプライン補間により曲が
り補正することにより求めた曲線である場合には、各測
定点の間もより正確な値を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のアンモニア濃度計の全体を示す図であ
る。
【図2】前記アンモニア濃度計を用いてアンモニア濃度
を測定し、薬液調整を行なうウェハ洗浄装置を示す概略
図である。
【図3】本発明のアンモニア濃度計で用いる検量線を示
す図である。
【図4】前記検量線の別の例をしめす図である。
【図5】アンモニア電極法によりアンモニアの濃度を測
定するプローブの例を示す図である。
【符号の説明】
1…アンモニア濃度計、2…プローブ、3…アンプ、4
…信号処理部、アンモニア水溶液8、L,L’…検量
線、P…中間的な値の一点。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アンモニア水溶液の導電率を測定するプ
    ローブおよびアンプと、測定した導電率を検量線を用い
    てアンモニア濃度に換算する信号処理部とを有してお
    り、測定範囲内の中間的な値の1点において校正値を入
    力することにより、前記信号処理部は測定範囲全域にお
    いて検量線を校正可能であることを特徴とするアンモニ
    ア濃度計。
  2. 【請求項2】 前記検量線が、測定範囲の両端および中
    間的な値における各対応関係をスプライン補間により曲
    がり補正することにより求めた曲線である請求項1に記
    載のアンモニア濃度計。
JP36265297A 1997-12-13 1997-12-13 アンモニア濃度計 Pending JPH11174011A (ja)

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