JPH08304324A - 試料水のベース濃度補正方法 - Google Patents
試料水のベース濃度補正方法Info
- Publication number
- JPH08304324A JPH08304324A JP7129280A JP12928095A JPH08304324A JP H08304324 A JPH08304324 A JP H08304324A JP 7129280 A JP7129280 A JP 7129280A JP 12928095 A JP12928095 A JP 12928095A JP H08304324 A JPH08304324 A JP H08304324A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 試料水のベース濃度の如何を問わず、コスト
安に誤差のない校正をおこなえる校正方法を提供する。 【構成】 試料水のベース濃度を、Ｘ＝（Ａ×Ｃ）／
（Ａ−Ｃ）なる演算式で補正する。ここに、Ａ：校正濃
度、Ｃ：試料水の見かけの濃度、Ｘ：試料水の真の濃度
である。
安に誤差のない校正をおこなえる校正方法を提供する。 【構成】 試料水のベース濃度を、Ｘ＝（Ａ×Ｃ）／
（Ａ−Ｃ）なる演算式で補正する。ここに、Ａ：校正濃
度、Ｃ：試料水の見かけの濃度、Ｘ：試料水の真の濃度
である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は試料水のベース濃度を演
算により補正する方法に関する。
算により補正する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】水質分析計の校正方法の一つに、既知濃
度標準液添加法がある。この方法は、試料水に標準液を
添加して、低濃度の校正液を作成して標準液校正をおこ
なうものである。図２に同方法がおこなわれる水質分析
計の構成を示す。
度標準液添加法がある。この方法は、試料水に標準液を
添加して、低濃度の校正液を作成して標準液校正をおこ
なうものである。図２に同方法がおこなわれる水質分析
計の構成を示す。
【０００３】この校正方法では、試料水流量と標準液の
添加量（ポンプの吐出量）の比率に応じて標準液が試料
水によって希釈されるため、外部からのコンタミネーシ
ョンの影響を受けることなく低濃度の校正液を作成でき
る利点があった。なお、図２において、符号１は測定セ
ル、２，３は電極、４はマイクロコンピュータ、５は撹
拌槽、６は試料液供給ライン、７はオーバーフロー槽、
８は標準液槽である。
添加量（ポンプの吐出量）の比率に応じて標準液が試料
水によって希釈されるため、外部からのコンタミネーシ
ョンの影響を受けることなく低濃度の校正液を作成でき
る利点があった。なお、図２において、符号１は測定セ
ル、２，３は電極、４はマイクロコンピュータ、５は撹
拌槽、６は試料液供給ライン、７はオーバーフロー槽、
８は標準液槽である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の校
正方法では、試料水のベース濃度が、標準液濃度に比し
て無視できない場合、つまり試料水のベース濃度が比較
的大である場合には校正値に誤差が生じることがあっ
た。
正方法では、試料水のベース濃度が、標準液濃度に比し
て無視できない場合、つまり試料水のベース濃度が比較
的大である場合には校正値に誤差が生じることがあっ
た。
【０００５】このような校正誤差を回避するために、校
正液として純水を用いる場合には、そのための構成が複
雑になり、かつ操作が面倒で、校正のためのコストが高
くなってしまう難点があった。
正液として純水を用いる場合には、そのための構成が複
雑になり、かつ操作が面倒で、校正のためのコストが高
くなってしまう難点があった。
【０００６】本発明はこのような実情に鑑みてなされ、
試料水のベース濃度の如何を問わず、コスト安に誤差の
ない校正をおこなえる試料水のベース濃度補正方法を提
供することを目的としている。
試料水のベース濃度の如何を問わず、コスト安に誤差の
ない校正をおこなえる試料水のベース濃度補正方法を提
供することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の課題を
解決するための手段を以下のように構成している。すな
わち、イオン電極法を測定原理とする水質分析計におい
て、既知濃度標準液添加法により校正をおこなう場合、
まず、試料水に標準液を添加して水質分析計に校正液を
導入し、指示値が安定した時点で、校正液におけるセン
サの起電力を、試料水量と標準液の希釈比率によって定
まる校正濃度Ａに合わせ、次いで、試料水の起電力を測
定してネルンストの式から検量線を作成し、その検量線
から試料水の見かけの濃度Ｃを求めた後、Ｘ＝（Ａ×
Ｃ）／（Ａ−Ｃ）なる演算式から試料水の真の濃度Ｘを
算出し、これを上記校正濃度Ａに加算して上記検量線を
補正することを特徴としている。
解決するための手段を以下のように構成している。すな
わち、イオン電極法を測定原理とする水質分析計におい
て、既知濃度標準液添加法により校正をおこなう場合、
まず、試料水に標準液を添加して水質分析計に校正液を
導入し、指示値が安定した時点で、校正液におけるセン
サの起電力を、試料水量と標準液の希釈比率によって定
まる校正濃度Ａに合わせ、次いで、試料水の起電力を測
定してネルンストの式から検量線を作成し、その検量線
から試料水の見かけの濃度Ｃを求めた後、Ｘ＝（Ａ×
Ｃ）／（Ａ−Ｃ）なる演算式から試料水の真の濃度Ｘを
算出し、これを上記校正濃度Ａに加算して上記検量線を
補正することを特徴としている。
【０００８】
【作用】試料水のベース濃度の補正をおこなうので、校
正誤差がなくなり、また、その校正精度は、試料水の濃
度に制約されないため、純水を校正用として用いる必要
がなくなる。
正誤差がなくなり、また、その校正精度は、試料水の濃
度に制約されないため、純水を校正用として用いる必要
がなくなる。
【０００９】
【実施例】以下に、本発明の実施例を詳細に説明する。
本実施例では、既知濃度標準液添加法を用いて校正する
場合に、下記の方法により試料水のベース濃度の補正を
おこなう。まず、試料水に標準液を添加して、分析計に
校正液を流し、指示値が安定したら、校正液におけるセ
ンサの起電力を、試料水のベース濃度Ｘ（未知）に関係
なく、試料水量と標準液の希釈比率により定まる校正濃
度Ａに合わせる（値を入力する）。
本実施例では、既知濃度標準液添加法を用いて校正する
場合に、下記の方法により試料水のベース濃度の補正を
おこなう。まず、試料水に標準液を添加して、分析計に
校正液を流し、指示値が安定したら、校正液におけるセ
ンサの起電力を、試料水のベース濃度Ｘ（未知）に関係
なく、試料水量と標準液の希釈比率により定まる校正濃
度Ａに合わせる（値を入力する）。
【００１０】次いで、試料水を測定して、試料水の起電
力を読み取り、ネルンストの式により検量線（図１参
照）を作成し、その検量線から、試料水濃度Ｃを求め
る。試料水濃度Ｃを下記の（１）式に代入して、試料水
濃度Ｘを算出する。 Ｘ＝（Ａ×Ｃ）／（Ａ−Ｃ） … （１） ここに、Ａ：校正濃度、Ｃ：試料水の見かけの濃度、
Ｘ：試料水の真の濃度である。
力を読み取り、ネルンストの式により検量線（図１参
照）を作成し、その検量線から、試料水濃度Ｃを求め
る。試料水濃度Ｃを下記の（１）式に代入して、試料水
濃度Ｘを算出する。 Ｘ＝（Ａ×Ｃ）／（Ａ−Ｃ） … （１） ここに、Ａ：校正濃度、Ｃ：試料水の見かけの濃度、
Ｘ：試料水の真の濃度である。
【００１１】そして、校正濃度に試料水濃度Ｘを加算し
て、検量線を検量線に修正する。この結果、試料水
のベース濃度Ｘは補正され、誤差がなくなる。以上の操
作をマイクロコンピュータによる演算処理でおこなう。
なお、この演算式は、ネルンストの式が成立する濃度領
域において有効であり、また、校正時、温度一定である
ことが必要条件となる。
て、検量線を検量線に修正する。この結果、試料水
のベース濃度Ｘは補正され、誤差がなくなる。以上の操
作をマイクロコンピュータによる演算処理でおこなう。
なお、この演算式は、ネルンストの式が成立する濃度領
域において有効であり、また、校正時、温度一定である
ことが必要条件となる。
【００１２】以下に、上述の演算式（１）の考え方等に
ついて説明する。例えばナトリウムイオン計では、既知
濃度標準液添加法を校正方法として用いている。これは
試料水に標準液を連続的に添加して、試料水と標準液の
流量比によって標準液が試料水により希釈され、低濃度
の校正液を計器に流して校正をおこなう方法である。
ついて説明する。例えばナトリウムイオン計では、既知
濃度標準液添加法を校正方法として用いている。これは
試料水に標準液を連続的に添加して、試料水と標準液の
流量比によって標準液が試料水により希釈され、低濃度
の校正液を計器に流して校正をおこなう方法である。
【００１３】この場合、添加する標準液量は、試料水流
量に対して、無視できる流量にするため試料水流量の約
１／１００以下に設定する。また、試料水のベース値も
希釈後の校正濃度に対し、無視できるオーダーであるこ
とが望ましい。上記演算式（１）は、試料水のベース値
が無視できないオーダーである場合に適用しても、校正
誤差を発生させないようにすることを目的としており、
以下のような考え方に基づいている。
量に対して、無視できる流量にするため試料水流量の約
１／１００以下に設定する。また、試料水のベース値も
希釈後の校正濃度に対し、無視できるオーダーであるこ
とが望ましい。上記演算式（１）は、試料水のベース値
が無視できないオーダーである場合に適用しても、校正
誤差を発生させないようにすることを目的としており、
以下のような考え方に基づいている。
【００１４】図１にて、試料水の真のベース値をＸとす
る。校正液Ａにより１点校正をおこなう場合、校正濃度
は、Ａ＋Ｘとなる（検量線に相当）。ところが、ベー
ス値Ｘを無視して、校正濃度Ａ（本来は、Ａ＋Ｘで校正
しなければならないのに）で校正した場合（検量線
）、試料水における電極起電力により見かけの値Ｃ
が、試料水の測定値として計器に表示されることとな
る。
る。校正液Ａにより１点校正をおこなう場合、校正濃度
は、Ａ＋Ｘとなる（検量線に相当）。ところが、ベー
ス値Ｘを無視して、校正濃度Ａ（本来は、Ａ＋Ｘで校正
しなければならないのに）で校正した場合（検量線
）、試料水における電極起電力により見かけの値Ｃ
が、試料水の測定値として計器に表示されることとな
る。
【００１５】真の試料水濃度Ｘを求めるには、検量線
を検量線に修正する必要がある。ここで検量線にお
けるＡ＋ＸおよびＡと電極起電力との関係は、ネルンス
トの式より下記の（２）、（３）式に示される。 Ｅ(A+X) ＝Ｅ0 ＋Ｓ・ｌｏｇ（Ａ＋Ｘ） … （２） Ｅ(A) ＝Ｅ0 ＋Ｓ・ｌｏｇ（Ａ） … （３） ここに、Ｅ(A+X) ：校正濃度Ａ＋Ｘにおける電極起電
力、Ｅ(A) ：校正濃度Ａにおける電極起電力、Ｅ0 ：電
極の基準電位、Ｓ：電極感度（＝２．３０３・Ｒ・Ｔ／
Ｆ、尚、Ｒは気体定数、Ｔは絶対温度、Ｆはファラディ
ー定数である。）。
を検量線に修正する必要がある。ここで検量線にお
けるＡ＋ＸおよびＡと電極起電力との関係は、ネルンス
トの式より下記の（２）、（３）式に示される。 Ｅ(A+X) ＝Ｅ0 ＋Ｓ・ｌｏｇ（Ａ＋Ｘ） … （２） Ｅ(A) ＝Ｅ0 ＋Ｓ・ｌｏｇ（Ａ） … （３） ここに、Ｅ(A+X) ：校正濃度Ａ＋Ｘにおける電極起電
力、Ｅ(A) ：校正濃度Ａにおける電極起電力、Ｅ0 ：電
極の基準電位、Ｓ：電極感度（＝２．３０３・Ｒ・Ｔ／
Ｆ、尚、Ｒは気体定数、Ｔは絶対温度、Ｆはファラディ
ー定数である。）。
【００１６】（２）、（３）式より、 ΔＥ＝Ｅ(A+X) −Ｅ(A) ＝Ｓ・ｌｏｇ｛（Ａ＋Ｘ）／Ａ｝ … （４） 一方、試料水ベース値について、真の濃度Ｘと見かけの
計測値Ｃの関係は、検量線よりΔＥ分だけ電極電位を
シフトすれば、Ｃ→Ｘとなり、下記の（５）式が成立す
る。 ΔＥ＝Ｓ・ｌｏｇ（Ｘ／Ｃ） … （５） （４）、（５）式より、 Ｓ・ｌｏｇ｛（Ａ＋Ｘ）／Ａ｝＝Ｓ・ｌｏｇ（Ｘ／Ｃ） … （６） （Ａ＋Ｘ）／Ａ＝Ｘ／Ｃ … （７） ∴ Ｃ＝Ａ・Ｘ／（Ａ＋Ｘ） … （８） Ｘについて式を変更すると、（８）式は、前記（１）式
になる。ここに、Ａは既知の校正液濃度であり、Ｃは、
最初に検量線より求められる試料水の見かけの計測値
である。ＡとＣより試料水の真の濃度（ベース値）が、
演算式（１）より求めることができるのである。
計測値Ｃの関係は、検量線よりΔＥ分だけ電極電位を
シフトすれば、Ｃ→Ｘとなり、下記の（５）式が成立す
る。 ΔＥ＝Ｓ・ｌｏｇ（Ｘ／Ｃ） … （５） （４）、（５）式より、 Ｓ・ｌｏｇ｛（Ａ＋Ｘ）／Ａ｝＝Ｓ・ｌｏｇ（Ｘ／Ｃ） … （６） （Ａ＋Ｘ）／Ａ＝Ｘ／Ｃ … （７） ∴ Ｃ＝Ａ・Ｘ／（Ａ＋Ｘ） … （８） Ｘについて式を変更すると、（８）式は、前記（１）式
になる。ここに、Ａは既知の校正液濃度であり、Ｃは、
最初に検量線より求められる試料水の見かけの計測値
である。ＡとＣより試料水の真の濃度（ベース値）が、
演算式（１）より求めることができるのである。
【００１７】上述した演算プログラムを、図２に示すよ
うな水質分析計に接続させたマイクロコンピュータ（Ｃ
ＰＵ）４に組み込むことにより、装置を変更することな
く、また、純水を用いることなく、試料水のベース濃度
の如何を問わず、コスト安に、誤差のない校正をおこな
うことができる。
うな水質分析計に接続させたマイクロコンピュータ（Ｃ
ＰＵ）４に組み込むことにより、装置を変更することな
く、また、純水を用いることなく、試料水のベース濃度
の如何を問わず、コスト安に、誤差のない校正をおこな
うことができる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の試料水の
ベース濃度補正方法によれば、試料水のベース濃度を演
算処理によって補正するので、校正誤差がなくなり、信
頼性の高い測定値を得ることができる。
ベース濃度補正方法によれば、試料水のベース濃度を演
算処理によって補正するので、校正誤差がなくなり、信
頼性の高い測定値を得ることができる。
【００１９】また、その校正精度が、試料水の濃度に制
約されないことから、純水を用いて校正する等の操作が
不要となり、分析に要するコストが低減できる。
約されないことから、純水を用いて校正する等の操作が
不要となり、分析に要するコストが低減できる。
【図１】本発明の補正方法における試料水ベース濃度の
補正について説明するための検量線のグラフである。
補正について説明するための検量線のグラフである。
【図２】水質分析計の基本的な構成図である。
Ａ…校正濃度、Ｃ…試料水の見かけの濃度、Ｘ…試料水
の真の濃度。
の真の濃度。
Claims (1)
- 【請求項１】 イオン電極法を測定原理とする水質分析
計において、既知濃度標準液添加法により校正をおこな
う場合、まず、試料水に標準液を添加して水質分析計に
校正液を導入し、指示値が安定した時点で、校正液にお
けるセンサの起電力を、試料水量と標準液の希釈比率に
よって定まる校正濃度Ａに合わせ、次いで、試料水の起
電力を測定してネルンストの式から検量線を作成し、そ
の検量線から試料水の見かけの濃度Ｃを求めた後、Ｘ＝
（Ａ×Ｃ）／（Ａ−Ｃ）なる演算式から試料水の真の濃
度Ｘを算出し、これを上記校正濃度Ａに加算して上記検
量線を補正することを特徴とする試料水のベース濃度補
正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7129280A JPH08304324A (ja) | 1995-04-29 | 1995-04-29 | 試料水のベース濃度補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7129280A JPH08304324A (ja) | 1995-04-29 | 1995-04-29 | 試料水のベース濃度補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08304324A true JPH08304324A (ja) | 1996-11-22 |
Family
ID=15005685
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7129280A Pending JPH08304324A (ja) | 1995-04-29 | 1995-04-29 | 試料水のベース濃度補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08304324A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022027193A (ja) * | 2020-07-31 | 2022-02-10 | 株式会社常光 | イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系の補正方法及び該補正方法を備えた電解質計測機器 |
-
1995
- 1995-04-29 JP JP7129280A patent/JPH08304324A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022027193A (ja) * | 2020-07-31 | 2022-02-10 | 株式会社常光 | イオン選択性電極法を原理とする電解質計測系の補正方法及び該補正方法を備えた電解質計測機器 |
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