JP2869610B2 - 電解質分析計の校正方法 - Google Patents
電解質分析計の校正方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、全血、血清、血漿、
尿、透析液などに含まれるＮａ+ ，Ｋ+ ，Ｃｌ- などの
電解質を分析する分析計の校正方法に関する。
尿、透析液などに含まれるＮａ+ ，Ｋ+ ，Ｃｌ- などの
電解質を分析する分析計の校正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】血液に含まれるＮａ+ などの電解質を分
析する電解質分析計として、例えば実公平３−４８５３
０号公報などに開示された所謂流通型の電解質分析計が
ある。図３は、このような電解質分析計の構成を概略的
に示すもので、この図において、１はサンプリング部で
ある。このサンプリング部１は次のように構成されてい
る。すなわち、２は測定部で、被検体に含まれるＫ+ ，
Ｃｌ- ，Ｎａ+ のイオン濃度をそれぞれ検出するための
カリウム電極Ｋ，塩素電極Ｃｌ、ナトリウム電極Ｎａお
よびこれらのイオン電極Ｋ，Ｃｌ，Ｎａに共通の比較電
極Ｒと、測定部１の入口側に設けられる液検出センサＬ
Ｂよりなる。なお、前記各イオン電極Ｋ，Ｃｌ，Ｎａの
詳細な構造は、例えば実公平３−２１４８１号公報、実
公平４−８３６３号公報、実公平４−８３６４号公報な
どに記載されているところである。
析する電解質分析計として、例えば実公平３−４８５３
０号公報などに開示された所謂流通型の電解質分析計が
ある。図３は、このような電解質分析計の構成を概略的
に示すもので、この図において、１はサンプリング部で
ある。このサンプリング部１は次のように構成されてい
る。すなわち、２は測定部で、被検体に含まれるＫ+ ，
Ｃｌ- ，Ｎａ+ のイオン濃度をそれぞれ検出するための
カリウム電極Ｋ，塩素電極Ｃｌ、ナトリウム電極Ｎａお
よびこれらのイオン電極Ｋ，Ｃｌ，Ｎａに共通の比較電
極Ｒと、測定部１の入口側に設けられる液検出センサＬ
Ｂよりなる。なお、前記各イオン電極Ｋ，Ｃｌ，Ｎａの
詳細な構造は、例えば実公平３−２１４８１号公報、実
公平４−８３６３号公報、実公平４−８３６４号公報な
どに記載されているところである。
【０００３】３は測定部２より下流側に設けられ、測定
部２に対して被検体、標準液および比較電極内部液（例
えばＫＣｌ溶液）などを適宜導入するためのペリスタポ
ンプである。４は測定部２より上流側に設けられるロー
タリバルブよりなる液切換部で、液と液との間に空気ま
たは不活性ガスよりなる気泡を介在させるものである。
５は液切換部４より上流側に設けられ、複数のサンプル
カップ６を保持するターンテーブル７およびサンプルカ
ップ６内に収容された被検液を吸い上げるサンプルプロ
ーブ８よりなるサンプルチェンジャーである。
部２に対して被検体、標準液および比較電極内部液（例
えばＫＣｌ溶液）などを適宜導入するためのペリスタポ
ンプである。４は測定部２より上流側に設けられるロー
タリバルブよりなる液切換部で、液と液との間に空気ま
たは不活性ガスよりなる気泡を介在させるものである。
５は液切換部４より上流側に設けられ、複数のサンプル
カップ６を保持するターンテーブル７およびサンプルカ
ップ６内に収容された被検液を吸い上げるサンプルプロ
ーブ８よりなるサンプルチェンジャーである。
【０００４】９は上述のように構成されたサンプリング
部１の各部を制御するサンプリング部制御部で、測定部
２からのＬＢセンサ信号、Ｋ信号、Ｃｌ信号、Ｎａ信
号、Ｒ信号が入力される。そして、１０はＣＰＵで、サ
ンプリング部制御部９を始め、図外の表示装置やプリン
ターなどの出力装置などを含む装置全体を制御すると共
に、サンプリング部制御部９からの信号や図外の入力装
置からの入力に基づいて演算したり、その結果をメモリ
するものである。
部１の各部を制御するサンプリング部制御部で、測定部
２からのＬＢセンサ信号、Ｋ信号、Ｃｌ信号、Ｎａ信
号、Ｒ信号が入力される。そして、１０はＣＰＵで、サ
ンプリング部制御部９を始め、図外の表示装置やプリン
ターなどの出力装置などを含む装置全体を制御すると共
に、サンプリング部制御部９からの信号や図外の入力装
置からの入力に基づいて演算したり、その結果をメモリ
するものである。
【０００５】なお、１１，１２はイオン濃度が異なる標
準液を収容した容器、１３は比較電極内部液を収容した
容器、１４は測定部２から排出される廃液を収容する容
器である。
準液を収容した容器、１３は比較電極内部液を収容した
容器、１４は測定部２から排出される廃液を収容する容
器である。
【０００６】このように構成された電解質分析計によれ
ば、ターンテーブル７に被検体を収容したサンプルカッ
プ６を載置し、測定スイッチ（図外）を押すだけで、複
数の被検体における電解質濃度を自動的に測定すること
ができる。
ば、ターンテーブル７に被検体を収容したサンプルカッ
プ６を載置し、測定スイッチ（図外）を押すだけで、複
数の被検体における電解質濃度を自動的に測定すること
ができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の電解
質分析計においては、被検体における電解質濃度を自動
的に測定を連続的に行っているうちに、イオン電極Ｋ，
Ｃｌ，Ｎａの不斉電位が、図４（Ａ）に示すように、ド
リフトすることがある。この不斉電位のドリフトは、ゼ
ロ点の変化と考えることができ、これは一点校正によっ
て校正を行うことができる。
質分析計においては、被検体における電解質濃度を自動
的に測定を連続的に行っているうちに、イオン電極Ｋ，
Ｃｌ，Ｎａの不斉電位が、図４（Ａ）に示すように、ド
リフトすることがある。この不斉電位のドリフトは、ゼ
ロ点の変化と考えることができ、これは一点校正によっ
て校正を行うことができる。
【０００８】なお、イオン電極においては、不斉電位の
ドリフトの他に、感度も変化するが、これは傾きが変化
するものと考えることができ、この感度校正は、２点、
つまり、イオン濃度の異なる２つの標準液（図３におい
て符号１１，１２で示す容器に収容されている）を用い
て、例えば１日１回程度校正を行うものであるが、ここ
では関係がないので詳しい説明は省略する。
ドリフトの他に、感度も変化するが、これは傾きが変化
するものと考えることができ、この感度校正は、２点、
つまり、イオン濃度の異なる２つの標準液（図３におい
て符号１１，１２で示す容器に収容されている）を用い
て、例えば１日１回程度校正を行うものであるが、ここ
では関係がないので詳しい説明は省略する。
【０００９】さて、前記不斉電位のドリフトを補正する
ため、従来のこの種の電解質分析計にあっては、ｎ個の
被検体を測定する毎に一点校正を行うことができるよう
に構成されている。この場合、ｎ＝１にした場合、つま
り、被検体を１つ測定する毎に一点校正を行うようにし
た場合、精度の高い測定を行うことができるが、測定毎
に校正するため、時間がかかるといった不都合がある。
ため、従来のこの種の電解質分析計にあっては、ｎ個の
被検体を測定する毎に一点校正を行うことができるよう
に構成されている。この場合、ｎ＝１にした場合、つま
り、被検体を１つ測定する毎に一点校正を行うようにし
た場合、精度の高い測定を行うことができるが、測定毎
に校正するため、時間がかかるといった不都合がある。
【００１０】そこで、一般的には、電解質分析計におい
ては、被検体を１０〜２０測定する毎に校正を行うよう
にしているが、校正後と校正前とにおいて同一の被検体
を測定しても測定値が異なる。図４（Ｂ）はこのことを
説明するための図で、例えば５被検体毎に校正を行った
場合、ある被検体の校正前の測定値は同図において符号
ｐ1 に示すようになっているが、同じ被検体を校正後に
測定した値は同図において符号ｐ2 で示すようになり、
校正後急に値が変わったように見え、測定全体として考
えてみた場合、測定精度が悪いといった不都合があっ
た。
ては、被検体を１０〜２０測定する毎に校正を行うよう
にしているが、校正後と校正前とにおいて同一の被検体
を測定しても測定値が異なる。図４（Ｂ）はこのことを
説明するための図で、例えば５被検体毎に校正を行った
場合、ある被検体の校正前の測定値は同図において符号
ｐ1 に示すようになっているが、同じ被検体を校正後に
測定した値は同図において符号ｐ2 で示すようになり、
校正後急に値が変わったように見え、測定全体として考
えてみた場合、測定精度が悪いといった不都合があっ
た。
【００１１】本発明は、上述の事柄に留意してなされた
もので、その目的は、精度の高い測定値を短時間に得る
電解質分析計の校正方法を提供することにある。
もので、その目的は、精度の高い測定値を短時間に得る
電解質分析計の校正方法を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明においては次のような手段を採用している。
一つの手段は、複数の被検体を連続測定した後、一点校
正を行うことにより、イオン電極の不斉電位のドリフト
を補正するようにした電解質分析計の校正方法におい
て、測定中に、測定値が１被検体毎に表示されるととも
に、測定値を１被検体毎にメモリしておき、校正毎の電
位差をそれらの校正が行われるまでの間の測定数で除算
し、この除算によって得られた値を用いてメモリしてい
た複数分の各測定値を補正するようにし、更に、測定後
の一点校正が行われた時点で補正された複数分の各測定
値が一気にプリントアウトされるようにしている。他の
手段は、複数の被検体を連続測定した後、一点校正を行
うことにより、イオン電極の不斉電位のドリフトを補正
するようにした電解質分析計の校正方法において、測定
中に、測定値が１被検体毎に表示されるとともに、測定
値を１被検体毎にメモリしておき、校正毎の電位差をそ
れらの校正が行われるまでの時間で除算し、この除算に
よって得られた値を用いてメモリしていた複数分の各測
定値を補正するようにし、更に、測定後の一点校正が行
われた時点で補正された複数分の各測定値が一気にプリ
ントアウトされるようにしている。
め、本発明においては次のような手段を採用している。
一つの手段は、複数の被検体を連続測定した後、一点校
正を行うことにより、イオン電極の不斉電位のドリフト
を補正するようにした電解質分析計の校正方法におい
て、測定中に、測定値が１被検体毎に表示されるととも
に、測定値を１被検体毎にメモリしておき、校正毎の電
位差をそれらの校正が行われるまでの間の測定数で除算
し、この除算によって得られた値を用いてメモリしてい
た複数分の各測定値を補正するようにし、更に、測定後
の一点校正が行われた時点で補正された複数分の各測定
値が一気にプリントアウトされるようにしている。他の
手段は、複数の被検体を連続測定した後、一点校正を行
うことにより、イオン電極の不斉電位のドリフトを補正
するようにした電解質分析計の校正方法において、測定
中に、測定値が１被検体毎に表示されるとともに、測定
値を１被検体毎にメモリしておき、校正毎の電位差をそ
れらの校正が行われるまでの時間で除算し、この除算に
よって得られた値を用いてメモリしていた複数分の各測
定値を補正するようにし、更に、測定後の一点校正が行
われた時点で補正された複数分の各測定値が一気にプリ
ントアウトされるようにしている。
【００１３】
【作用】測定値をメモリしておき、校正毎の電位差（ド
リフト量）を測定数で除算し、その係数を用いて、メモ
リしていた測定値を補正するのである。今、同一サンプ
ルを測定したときの電極出力について、図２を例にして
説明する。この図において、Ａは測定電極の出力の変化
を表すグラフ、また、Ｂは一点校正電位の変化を表すグ
ラフである。そして、測定直前の一点校正電位をＥf 、
ｎ（＞１）個測定後の一点校正電位をＥn 、最初の一点
校正後ａ個目の測定電位をＥa 、校正間隔をｎ（＞１）
とすると、演算後のａ個目の電位Ｅa ’は、下記の式で
表される。 Ｅa ’＝Ｅa −（Ｅn −Ｅf ）×ａ／（ｎ＋１） なお、校正間隔ｎとは、一点校正と次の一点校正との間
に測定する測定数と同じで、図２に示した例では、ｎ＝
５となる。
リフト量）を測定数で除算し、その係数を用いて、メモ
リしていた測定値を補正するのである。今、同一サンプ
ルを測定したときの電極出力について、図２を例にして
説明する。この図において、Ａは測定電極の出力の変化
を表すグラフ、また、Ｂは一点校正電位の変化を表すグ
ラフである。そして、測定直前の一点校正電位をＥf 、
ｎ（＞１）個測定後の一点校正電位をＥn 、最初の一点
校正後ａ個目の測定電位をＥa 、校正間隔をｎ（＞１）
とすると、演算後のａ個目の電位Ｅa ’は、下記の式で
表される。 Ｅa ’＝Ｅa −（Ｅn −Ｅf ）×ａ／（ｎ＋１） なお、校正間隔ｎとは、一点校正と次の一点校正との間
に測定する測定数と同じで、図２に示した例では、ｎ＝
５となる。
【００１４】そして、前記関係式を用いて各測定値を補
正することにより、図４（Ｃ）に示すように、ドリフト
が補正された測定値を得ることができる。
正することにより、図４（Ｃ）に示すように、ドリフト
が補正された測定値を得ることができる。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
【００１６】本発明に係る電解質分析計の校正方法が適
用される電解質分析計の構成は、図３に示した電解質分
析計と変わるところがなく、図１のフローチャートで示
される手順によって校正が行われるように、プログラム
されている。すなわち、この図１は、ターンテーブル７
に保持されているサンプルカップ６全体、つまり、１タ
ーンテーブル分の測定に適用される測定および校正の手
順を示すものである。
用される電解質分析計の構成は、図３に示した電解質分
析計と変わるところがなく、図１のフローチャートで示
される手順によって校正が行われるように、プログラム
されている。すなわち、この図１は、ターンテーブル７
に保持されているサンプルカップ６全体、つまり、１タ
ーンテーブル分の測定に適用される測定および校正の手
順を示すものである。
【００１７】そして、前記電解質分析計においては、そ
のターンテーブル７には最大６０の被検体（サンプルカ
ップ６）を載せることができ、一点校正は例えば３０番
目の被検体の測定終了後に行われるように初期設定され
ている。もっとも、一点校正が行われる間隔、つまり、
何番目の被検体のときに一点校正を行うかは任意であ
り、２〜６０まで可変である。本例では、校正間隔を５
とし５被検体毎に一点校正を行っており、ターンテーブ
ル７には４３の被検体を載せている。このような設定の
ときも、前記フローチャートに示すように、測定の最初
と最後には必ず一点校正が行われ、演算できるように構
成されている。測定結果は、例えば測定途中（本例では
５，１０，１５，２０，２５，３０，３５，４０番目の
被検体）および最後の被検体（本例では４３番目の被検
体）の測定後の一点校正が行われた時点でそれまでの値
を一気にプリントアウトされる。また、画面には、演算
前の値が１被検体毎に表示され、被検体などの異常がな
いかを参考にモニターできる。なお、この値はプリント
アウトされた結果とは異なる。
のターンテーブル７には最大６０の被検体（サンプルカ
ップ６）を載せることができ、一点校正は例えば３０番
目の被検体の測定終了後に行われるように初期設定され
ている。もっとも、一点校正が行われる間隔、つまり、
何番目の被検体のときに一点校正を行うかは任意であ
り、２〜６０まで可変である。本例では、校正間隔を５
とし５被検体毎に一点校正を行っており、ターンテーブ
ル７には４３の被検体を載せている。このような設定の
ときも、前記フローチャートに示すように、測定の最初
と最後には必ず一点校正が行われ、演算できるように構
成されている。測定結果は、例えば測定途中（本例では
５，１０，１５，２０，２５，３０，３５，４０番目の
被検体）および最後の被検体（本例では４３番目の被検
体）の測定後の一点校正が行われた時点でそれまでの値
を一気にプリントアウトされる。また、画面には、演算
前の値が１被検体毎に表示され、被検体などの異常がな
いかを参考にモニターできる。なお、この値はプリント
アウトされた結果とは異なる。
【００１８】このように構成された電解質分析計におい
ては、測定中に何回か一点校正を行い、それらの間でド
リフトした値を測定値にフィードバックして演算を行う
ことにより、イオン電極Ｋ，Ｃｌ，Ｎａのドリフトを補
正することができる。すなわち、同一サンプルを測定し
たときの電極出力について、図２を例にして説明する
と、測定直前の一点校正電位をＥf 、ｎ（＞１）個測定
後の一点校正電位をＥn、最初の一点校正後ａ個目の測
定電位をＥa 、校正間隔をｎ（＞１）とすると、演算後
のａ個目の電位Ｅa ’は、下記の式で表される。 Ｅa ’＝Ｅa −（Ｅn −Ｅf ）×ａ／（ｎ＋１）
ては、測定中に何回か一点校正を行い、それらの間でド
リフトした値を測定値にフィードバックして演算を行う
ことにより、イオン電極Ｋ，Ｃｌ，Ｎａのドリフトを補
正することができる。すなわち、同一サンプルを測定し
たときの電極出力について、図２を例にして説明する
と、測定直前の一点校正電位をＥf 、ｎ（＞１）個測定
後の一点校正電位をＥn、最初の一点校正後ａ個目の測
定電位をＥa 、校正間隔をｎ（＞１）とすると、演算後
のａ個目の電位Ｅa ’は、下記の式で表される。 Ｅa ’＝Ｅa −（Ｅn −Ｅf ）×ａ／（ｎ＋１）
【００１９】この関係式を用いて各測定値を補正するこ
とにより、図４（Ｃ）に示すように、ドリフトが補正さ
れた測定値を得ることができる。
とにより、図４（Ｃ）に示すように、ドリフトが補正さ
れた測定値を得ることができる。
【００２０】ところで、上述の実施例においては、校正
毎の電位差をそれらの校正が行われるまでの間の測定数
で除算し、この除算によって得られた値を用いて各測定
値を補正するようにしている。これは、測定数毎の時間
がほぼ等しいということに基づいているのであるが、図
４からも理解されるように、実際には測定時間間隔（あ
る時点における一点校正から次に一点校正が行われるま
での時間）に基づいて演算する方がより正確な結果が得
られる。
毎の電位差をそれらの校正が行われるまでの間の測定数
で除算し、この除算によって得られた値を用いて各測定
値を補正するようにしている。これは、測定数毎の時間
がほぼ等しいということに基づいているのであるが、図
４からも理解されるように、実際には測定時間間隔（あ
る時点における一点校正から次に一点校正が行われるま
での時間）に基づいて演算する方がより正確な結果が得
られる。
【００２１】そこで、例えば図２に示す例において、測
定直前の時間（一点校正電位Ｅf を示した時間）を基準
とし、この基準時間からａ個目までの時間をａt 、基準
時間後ｎ（＞１）個測定後一点校正を行うまでの時間を
ｎt とするとき、前記関係式は、下記のように表され
る。 Ｅa ’＝Ｅa −（Ｅn −Ｅf ）×ａt ／ｎt
定直前の時間（一点校正電位Ｅf を示した時間）を基準
とし、この基準時間からａ個目までの時間をａt 、基準
時間後ｎ（＞１）個測定後一点校正を行うまでの時間を
ｎt とするとき、前記関係式は、下記のように表され
る。 Ｅa ’＝Ｅa −（Ｅn −Ｅf ）×ａt ／ｎt
【００２２】この関係式を用いて各測定値を補正するこ
とにより、ドリフトが補正された測定値を得ることがで
きる。
とにより、ドリフトが補正された測定値を得ることがで
きる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、従来の校正方法と異なり、精度の高い測定値を得る
ことができる。そして、被検体を１つ測定する毎に一点
校正を行う場合に比べて、短時間で測定することができ
る。
は、従来の校正方法と異なり、精度の高い測定値を得る
ことができる。そして、被検体を１つ測定する毎に一点
校正を行う場合に比べて、短時間で測定することができ
る。
【図１】本発明に係る電解質分析計の校正方法の手順の
一例を示すフローチャートである。
一例を示すフローチャートである。
【図２】同一の被検体を測定したときの電極出力図であ
る。
る。
【図３】本発明方法が適用される電解質分析計の構成を
概略的に示す図である。
概略的に示す図である。
【図４】（Ａ）はドリフトした場合の同一の被検体を測
定した場合の測定値を示す図、（Ｂ）は５被検体毎に校
正を行った場合の測定値を示す図、（Ｃ）は本発明方法
における関係式を用いて補正を行った後の測定値を示す
図である。
定した場合の測定値を示す図、（Ｂ）は５被検体毎に校
正を行った場合の測定値を示す図、（Ｃ）は本発明方法
における関係式を用いて補正を行った後の測定値を示す
図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−231256（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−259156（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 27/26 381
Claims (2)
- 【請求項１】 複数の被検体を連続測定した後、一点校
正を行うことにより、イオン電極の不斉電位のドリフト
を補正するようにした電解質分析計の校正方法におい
て、測定中に、測定値が１被検体毎に表示されるととも
に、測定値を１被検体毎にメモリしておき、校正毎の電
位差をそれらの校正が行われるまでの間の測定数で除算
し、この除算によって得られた値を用いてメモリしてい
た複数分の各測定値を補正するようにし、更に、測定後
の一点校正が行われた時点で補正された複数分の各測定
値が一気にプリントアウトされることを特徴とする電解
質分析計の校正方法。 - 【請求項２】 複数の被検体を連続測定した後、一点校
正を行うことにより、イオン電極の不斉電位のドリフト
を補正するようにした電解質分析計の校正方法におい
て、測定中に、測定値が１被検体毎に表示されるととも
に、測定値を１被検体毎にメモリしておき、校正毎の電
位差をそれらの校正が行われるまでの時間で除算し、こ
の除算によって得られた値を用いてメモリしていた複数
分の各測定値を補正するようにし、更に、測定後の一点
校正が行われた時点で補正された複数分の各測定値が一
気にプリントアウトされることを特徴とする電解質分析
計の校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7894993A JP2869610B2 (ja) | 1993-03-13 | 1993-03-13 | 電解質分析計の校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7894993A JP2869610B2 (ja) | 1993-03-13 | 1993-03-13 | 電解質分析計の校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06265512A JPH06265512A (ja) | 1994-09-22 |
| JP2869610B2 true JP2869610B2 (ja) | 1999-03-10 |
Family
ID=13676147
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7894993A Expired - Fee Related JP2869610B2 (ja) | 1993-03-13 | 1993-03-13 | 電解質分析計の校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2869610B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102809590A (zh) * | 2011-06-02 | 2012-12-05 | 深圳中科优瑞医疗科技有限公司 | 一种用于电解质分析仪锂离子测试的方法 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6127460B2 (ja) * | 2012-11-12 | 2017-05-17 | オムロンヘルスケア株式会社 | 電気化学的センサ |
| CN102914565B (zh) * | 2012-11-14 | 2015-03-18 | 深圳市锦瑞电子有限公司 | 电解质分析仪的定标方法 |
| KR101855007B1 (ko) * | 2016-12-09 | 2018-05-04 | 광운대학교 산학협력단 | 센서의 신호 정확도 향상을 위한 보정 방법 |
| CN107688047B (zh) * | 2017-08-18 | 2019-08-23 | 梅州康立高科技有限公司 | 一种后定标校准离子浓度的方法 |
-
1993
- 1993-03-13 JP JP7894993A patent/JP2869610B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102809590A (zh) * | 2011-06-02 | 2012-12-05 | 深圳中科优瑞医疗科技有限公司 | 一种用于电解质分析仪锂离子测试的方法 |
| CN102809590B (zh) * | 2011-06-02 | 2014-10-08 | 深圳中科优瑞医疗科技有限公司 | 一种用于电解质分析仪锂离子测试的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06265512A (ja) | 1994-09-22 |
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