JP3076384B2 - イオン濃度分析装置 - Google Patents
イオン濃度分析装置Info
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Description
【０００１】［発明の目的］
【０００２】
【産業上の利用分野】本発明はイオン電極を用いて液体
中のイオン濃度を分析するイオン濃度分析装置に関す
る。
中のイオン濃度を分析するイオン濃度分析装置に関す
る。
【０００３】
【従来の技術】イオン濃度を分析する装置の１つとし
て、従来、イオン電極を用いたイオン濃度分析装置が知
られている。
て、従来、イオン電極を用いたイオン濃度分析装置が知
られている。
【０００４】このイオン濃度分析装置はイオン電極を校
正液によって校正した後、前記イオン電極に被測定液を
導いてそのとき発生する電極電位を測定し、この測定結
果に基づいて前記被測定液のイオン濃度を演算してこれ
を表示したり、記録したりする。
正液によって校正した後、前記イオン電極に被測定液を
導いてそのとき発生する電極電位を測定し、この測定結
果に基づいて前記被測定液のイオン濃度を演算してこれ
を表示したり、記録したりする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のイオン濃度分析装置においては、次に述べるよ
うな問題があった。
た従来のイオン濃度分析装置においては、次に述べるよ
うな問題があった。
【０００６】すなわち、図３に示す如く被測定液中に測
定対象となるイオンに対応する特定イオン（妨害イオ
ン）が存在しないときには、被測定液中の測定対象イオ
ンの濃度と電極電位との関係を示すグラフがＡ部および
Ｂ部に示すようにネルンスト応答にしたがった直線とな
る。
定対象となるイオンに対応する特定イオン（妨害イオ
ン）が存在しないときには、被測定液中の測定対象イオ
ンの濃度と電極電位との関係を示すグラフがＡ部および
Ｂ部に示すようにネルンスト応答にしたがった直線とな
る。
【０００７】しかし、一定濃度の妨害イオンを含む試料
を測定すると、被測定液中の測定対象イオンの濃度と電
極電位との関係を示すグラフがＡ部およびＣ部、Ｄ部に
示すような曲線になる。
を測定すると、被測定液中の測定対象イオンの濃度と電
極電位との関係を示すグラフがＡ部およびＣ部、Ｄ部に
示すような曲線になる。
【０００８】つまり、被測定イオンの濃度が低くなる
と、妨害イオンの影響が大きくなり、被測定液中の測定
対象イオンの濃度と電極電位との関係がネルンスト応答
にならなくなり、Ｄ部のように平らな部分ができてしま
う。
と、妨害イオンの影響が大きくなり、被測定液中の測定
対象イオンの濃度と電極電位との関係がネルンスト応答
にならなくなり、Ｄ部のように平らな部分ができてしま
う。
【０００９】このため、従来のイオン濃度分析装置を用
いた測定方法では、このような試料を測定不能として処
理し、誤測定が発生しないようにしている。
いた測定方法では、このような試料を測定不能として処
理し、誤測定が発生しないようにしている。
【００１０】しかしながら、このよう方法では、測定対
象となる試料が限定されてしまい、測定効率が低下して
しまうという問題があった。
象となる試料が限定されてしまい、測定効率が低下して
しまうという問題があった。
【００１１】本発明は上記の事情に鑑み、妨害イオンが
混入した試料でも、測定対象となるイオンの濃度を測定
することができるイオン濃度分析装置を提供することを
目的としている。
混入した試料でも、測定対象となるイオンの濃度を測定
することができるイオン濃度分析装置を提供することを
目的としている。
【００１２】［発明の構成］
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明によるイオン濃度分析装置は、被測定液中に
含まれる測定対象イオンの濃度を測定する被測定イオン
電極と、前記被測定液中に含まれる前記測定対象イオン
以外の予め決められているイオンの濃度を測定する他イ
オン電極と、この他イオン電極および前記被測定イオン
電極の測定値に基づいて、ネルンスト応答による測定範
囲内かどうか判定し、ネルンスト応答による測定範囲内
のとき、ネルンストの応答による検量線を用いて前記被
測定液中に含まれている測定対象イオンの濃度を演算す
る演算部とを具備したことを特徴としている。
めに本発明によるイオン濃度分析装置は、被測定液中に
含まれる測定対象イオンの濃度を測定する被測定イオン
電極と、前記被測定液中に含まれる前記測定対象イオン
以外の予め決められているイオンの濃度を測定する他イ
オン電極と、この他イオン電極および前記被測定イオン
電極の測定値に基づいて、ネルンスト応答による測定範
囲内かどうか判定し、ネルンスト応答による測定範囲内
のとき、ネルンストの応答による検量線を用いて前記被
測定液中に含まれている測定対象イオンの濃度を演算す
る演算部とを具備したことを特徴としている。
【００１４】
【作用】上記の構成において、演算部によって他イオン
電極および被測定イオン電極の測定値に基づいてネルン
スト応答による測定範囲内であることを判定して被測定
液中に含まれている測定対象イオンの濃度を演算するこ
とにより、妨害イオンが混入した被測定液でも測定対象
となるイオンの濃度を測定する。
電極および被測定イオン電極の測定値に基づいてネルン
スト応答による測定範囲内であることを判定して被測定
液中に含まれている測定対象イオンの濃度を演算するこ
とにより、妨害イオンが混入した被測定液でも測定対象
となるイオンの濃度を測定する。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の詳細な説明に先だって、本発
明の測定原理を説明する。
明の測定原理を説明する。
【００１６】まず、本発明においては、試料中に測定対
象イオンとともに、妨害イオンが存在しているとき、測
定対象イオンの濃度と、被測定イオン電極に発生する電
位との関係を調べた。
象イオンとともに、妨害イオンが存在しているとき、測
定対象イオンの濃度と、被測定イオン電極に発生する電
位との関係を調べた。
【００１７】そして、被測定イオン電極としてアンモニ
ア（ＮＨ4 + ）電極を使用してアンモニアイオン（ＮＨ
4 + ）を測定対象イオンとし、妨害イオンとしてカリウ
ムイオン（Ｋ+ ）が存在する試料を測定したとき、図２
に示すグラフを得た。
ア（ＮＨ4 + ）電極を使用してアンモニアイオン（ＮＨ
4 + ）を測定対象イオンとし、妨害イオンとしてカリウ
ムイオン（Ｋ+ ）が存在する試料を測定したとき、図２
に示すグラフを得た。
【００１８】このグラフから明らかなように、カリウム
イオン（Ｋ+ ）の濃度が“１０-1mol/l （＝Ｍ）”であ
る試料のときには、アンモニアイオン（ＮＨ4 + ）の濃
度が“１０-1Ｍ”〜“１０-3Ｍ”の範囲で、図３のＣ部
と同様なグラフとなる。
イオン（Ｋ+ ）の濃度が“１０-1mol/l （＝Ｍ）”であ
る試料のときには、アンモニアイオン（ＮＨ4 + ）の濃
度が“１０-1Ｍ”〜“１０-3Ｍ”の範囲で、図３のＣ部
と同様なグラフとなる。
【００１９】同様に、カリウムイオン（Ｋ+ ）の濃度が
“１０-2Ｍ”である試料のときには、アンモニアイオン
（ＮＨ4 + ）の濃度が“１０-2Ｍ”〜“１０-4Ｍ”の範
囲で、図３のＣ部と同様なグラフとなり、またカリウム
イオン（Ｋ+ ）の濃度が“１０-3Ｍ”である試料のとき
には、アンモニアイオン（ＮＨ4 + ）の濃度が“１０-3
Ｍ”〜“１０-5Ｍ”の範囲で、図３のＣ部と同様なグラ
フとなる。
“１０-2Ｍ”である試料のときには、アンモニアイオン
（ＮＨ4 + ）の濃度が“１０-2Ｍ”〜“１０-4Ｍ”の範
囲で、図３のＣ部と同様なグラフとなり、またカリウム
イオン（Ｋ+ ）の濃度が“１０-3Ｍ”である試料のとき
には、アンモニアイオン（ＮＨ4 + ）の濃度が“１０-3
Ｍ”〜“１０-5Ｍ”の範囲で、図３のＣ部と同様なグラ
フとなる。
【００２０】この結果、
【００２１】
【数１】
【００２２】によって示される“α”の値が“１”以上
の場合には、図３のＡ部に相当し、“α”の値が“１／
１００”〜“１”の場合には、図３のＣ部に相当し、
“α”の値が“１／１００”以下の場合には、図３のＤ
部に相当することが分かった。
の場合には、図３のＡ部に相当し、“α”の値が“１／
１００”〜“１”の場合には、図３のＣ部に相当し、
“α”の値が“１／１００”以下の場合には、図３のＤ
部に相当することが分かった。
【００２３】そこで、本発明においては、測定対象イオ
ンの濃度とともに、妨害イオンの濃度を測定した後、前
記（１）式に基づいて“α”の値がどの範囲かを判定
し、この判定結果に基づいてＡ部に相当するときには、
ネルンストの応答による検量線を用いて測定対象イオン
の濃度を算出し、またＤ部に相当するときには、測定不
能とすることにした。
ンの濃度とともに、妨害イオンの濃度を測定した後、前
記（１）式に基づいて“α”の値がどの範囲かを判定
し、この判定結果に基づいてＡ部に相当するときには、
ネルンストの応答による検量線を用いて測定対象イオン
の濃度を算出し、またＤ部に相当するときには、測定不
能とすることにした。
【００２４】次に、上述した測定原理に基づく、本発明
の実施例を図面を参照しながら詳細に説明する。
の実施例を図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２５】図１は本発明によるイオン濃度分析装置の
一実施例を示すブロック図である。
一実施例を示すブロック図である。
【００２６】この図に示すイオン濃度分析装置はポンプ
１と、液貯留部２と、測定部３と、排液貯留部４と、比
較演算器５と、表示器６とを備えており、ポンプ１を動
作させて液貯留部２から被測定液７を汲み出すととも
に、測定部３によって前記被測定液７中の測定対象とな
るイオンの濃度と妨害イオンの濃度とを測定した後、前
記被測定液７を排液貯留部４に排出する。そして、前記
測定部３の測定結果に基づいて前記被測定液７中の測定
対象イオンの濃度を演算してこの演算結果を表示器６上
に表示する。
１と、液貯留部２と、測定部３と、排液貯留部４と、比
較演算器５と、表示器６とを備えており、ポンプ１を動
作させて液貯留部２から被測定液７を汲み出すととも
に、測定部３によって前記被測定液７中の測定対象とな
るイオンの濃度と妨害イオンの濃度とを測定した後、前
記被測定液７を排液貯留部４に排出する。そして、前記
測定部３の測定結果に基づいて前記被測定液７中の測定
対象イオンの濃度を演算してこの演算結果を表示器６上
に表示する。
【００２７】ポンプ１は前記測定部３の校正を行なうと
きや被測定液７中に含まれている測定対象イオンの測定
動作を行なうときにオン状態にされるポンプであり、オ
ン状態となっているとき、測定部３に接続されている流
路１０を介して液貯留部２から第１校正液８や第２校正
液９、被測定液７を汲み出し、これを測定部３に供給す
るとともに、測定部３から排出される第１校正液８や第
２校正液９、被測定液７を排液貯留部４に導く。
きや被測定液７中に含まれている測定対象イオンの測定
動作を行なうときにオン状態にされるポンプであり、オ
ン状態となっているとき、測定部３に接続されている流
路１０を介して液貯留部２から第１校正液８や第２校正
液９、被測定液７を汲み出し、これを測定部３に供給す
るとともに、測定部３から排出される第１校正液８や第
２校正液９、被測定液７を排液貯留部４に導く。
【００２８】液貯留部２は被測定液７を貯留している被
測定液タンク１１と、高濃度の測定対象イオンや妨害イ
オンを含む第１校正液８を貯留している第１校正液タン
ク１２と、低能度の測定対象イオンや妨害イオンを含む
第２校正液９を貯留している第２校正液タンク１３と、
これら被測定液タンク１１に貯留されている被測定液７
または第１校正液タンク１２に貯留されている第１校正
液８、第２校正液タンク１３に貯留されている第２校正
液９のいずれか１つを選択する２つの三方弁１４、１５
とを備えており、前記ポンプ１がオン状態となったと
き、被測定液７または第１校正液８、第２校正液９のい
ずれか１つを三方弁１４、１５によって選択するととも
に、これを前記流路１０を介して前記測定部３に供給す
る。
測定液タンク１１と、高濃度の測定対象イオンや妨害イ
オンを含む第１校正液８を貯留している第１校正液タン
ク１２と、低能度の測定対象イオンや妨害イオンを含む
第２校正液９を貯留している第２校正液タンク１３と、
これら被測定液タンク１１に貯留されている被測定液７
または第１校正液タンク１２に貯留されている第１校正
液８、第２校正液タンク１３に貯留されている第２校正
液９のいずれか１つを選択する２つの三方弁１４、１５
とを備えており、前記ポンプ１がオン状態となったと
き、被測定液７または第１校正液８、第２校正液９のい
ずれか１つを三方弁１４、１５によって選択するととも
に、これを前記流路１０を介して前記測定部３に供給す
る。
【００２９】測定部３は前記流路１０を介して供給され
た被測定液７または第１校正液８、第２校正液９を一
時、貯留する一時貯留容器１６と、この一時貯留容器１
６内に一時的に貯留されている被測定液７または第１校
正液８、第２校正液９中の測定対象イオンの濃度を測定
する被測定イオン電極１７と、前記一時貯留容器１６内
に一時的に貯留されている被測定液７または第１校正液
８、第２校正液９中の妨害イオンの濃度を測定する妨害
イオン電極１８と、前記一時貯留容器１６内に一時的に
貯留されている被測定液７または第１校正液８、第２校
正液９中の測定対象イオン濃度や妨害イオン濃度を測定
するとき比較電位を発生する比較電極２０とを備えてい
る。
た被測定液７または第１校正液８、第２校正液９を一
時、貯留する一時貯留容器１６と、この一時貯留容器１
６内に一時的に貯留されている被測定液７または第１校
正液８、第２校正液９中の測定対象イオンの濃度を測定
する被測定イオン電極１７と、前記一時貯留容器１６内
に一時的に貯留されている被測定液７または第１校正液
８、第２校正液９中の妨害イオンの濃度を測定する妨害
イオン電極１８と、前記一時貯留容器１６内に一時的に
貯留されている被測定液７または第１校正液８、第２校
正液９中の測定対象イオン濃度や妨害イオン濃度を測定
するとき比較電位を発生する比較電極２０とを備えてい
る。
【００３０】そして、前記流路１０を介して供給された
被測定液７または第１校正液８、第２校正液９を一時貯
留容器１６に一時的に貯留しながら、被測定イオン電極
１７や妨害イオン電極１８、比較電極２０によって測定
対象イオンの濃度や妨害イオン濃度を測定し、この測定
動作によって得られた電位を比較演算器５に供給すると
ともに、測定が終了した被測定液７または第１校正液
８、第２校正液９を流路１０を介して排液貯留部４に供
給する。
被測定液７または第１校正液８、第２校正液９を一時貯
留容器１６に一時的に貯留しながら、被測定イオン電極
１７や妨害イオン電極１８、比較電極２０によって測定
対象イオンの濃度や妨害イオン濃度を測定し、この測定
動作によって得られた電位を比較演算器５に供給すると
ともに、測定が終了した被測定液７または第１校正液
８、第２校正液９を流路１０を介して排液貯留部４に供
給する。
【００３１】排液貯留部４は１つの排液貯留容器２１を
備えており、前記流路１０を介して供給される排液、す
なわち前記測定部３から排出される被測定液７または第
１校正液８、第２校正液９を排液貯留容器２１内に貯留
する。
備えており、前記流路１０を介して供給される排液、す
なわち前記測定部３から排出される被測定液７または第
１校正液８、第２校正液９を排液貯留容器２１内に貯留
する。
【００３２】また、比較演算器５は各種の演算回路や表
示データ作成回路等を備えており、前記測定部３から供
給される測定結果、すなわち被測定イオン電極１７に発
生した電位および妨害イオン電極１８に発生した電位、
比較電極２０に発生した電位に基づいて被測定イオン電
極１７や妨害イオン電極１８、比較電極２０の出力を校
正する処理や前記被測定液７中の測定対象イオン濃度と
妨害イオン濃度の比率を演算する処理、この演算結果に
応じた判定条件で前記被測定液７中の測定対象イオン濃
度を演算する処理、この処理によって得られた測定対象
イオンの濃度データを前記表示器６に供給する処理等を
行なう。
示データ作成回路等を備えており、前記測定部３から供
給される測定結果、すなわち被測定イオン電極１７に発
生した電位および妨害イオン電極１８に発生した電位、
比較電極２０に発生した電位に基づいて被測定イオン電
極１７や妨害イオン電極１８、比較電極２０の出力を校
正する処理や前記被測定液７中の測定対象イオン濃度と
妨害イオン濃度の比率を演算する処理、この演算結果に
応じた判定条件で前記被測定液７中の測定対象イオン濃
度を演算する処理、この処理によって得られた測定対象
イオンの濃度データを前記表示器６に供給する処理等を
行なう。
【００３３】表示器６は前記比較演算器５から測定対象
となるイオンの濃度データが供給されたとき、これを表
示する。
となるイオンの濃度データが供給されたとき、これを表
示する。
【００３４】次に、図２に示すグラフを参照しながらこ
の実施例の動作を説明する。
の実施例の動作を説明する。
【００３５】《校正動作》校正動作においては、まず２
つの三方弁１４、１５が切り替えられて第１校正液８が
選択されるとともに、ポンプ１がオン状態にされる。
つの三方弁１４、１５が切り替えられて第１校正液８が
選択されるとともに、ポンプ１がオン状態にされる。
【００３６】これによって、第１校正液タンク１２内の
第１校正液８が汲み出されて測定部３の一時貯留容器１
６に貯留された後、被測定イオン電極１７および妨害イ
オン電極１８、比較電極２０によって前記第１校正液８
中にある測定対象イオンの濃度および妨害イオンの濃度
が測定され、この測定動作によって得られた各電位が比
較演算器５に供給されて記憶される。
第１校正液８が汲み出されて測定部３の一時貯留容器１
６に貯留された後、被測定イオン電極１７および妨害イ
オン電極１８、比較電極２０によって前記第１校正液８
中にある測定対象イオンの濃度および妨害イオンの濃度
が測定され、この測定動作によって得られた各電位が比
較演算器５に供給されて記憶される。
【００３７】この後、一時貯留容器１６内にある第１校
正液８が排液貯留部４の排液貯留容器２１内に排出され
て、ポンプ１がオフ状態にされる。
正液８が排液貯留部４の排液貯留容器２１内に排出され
て、ポンプ１がオフ状態にされる。
【００３８】次いで、２つの三方弁１４、１５が切り替
えられて第２校正液９が選択されるとともに、ポンプ１
がオン状態にされる。
えられて第２校正液９が選択されるとともに、ポンプ１
がオン状態にされる。
【００３９】これによって、第２校正液タンク１３内の
第２校正液９が汲み出されて測定部３の一時貯留容器１
６に貯留された後、被測定イオン電極１７および妨害イ
オン電極１８、比較電極２０によって前記第２校正液９
中にある測定対象イオンの濃度および妨害イオンの濃度
が測定され、この測定動作によって得られた各電位が比
較演算器５に供給され、これらの各電位と、記憶してい
る各電位とに基づいて前記被測定イオン電極１７の出力
および妨害イオン電極１８の出力、比較電極２０の出力
が校正される。
第２校正液９が汲み出されて測定部３の一時貯留容器１
６に貯留された後、被測定イオン電極１７および妨害イ
オン電極１８、比較電極２０によって前記第２校正液９
中にある測定対象イオンの濃度および妨害イオンの濃度
が測定され、この測定動作によって得られた各電位が比
較演算器５に供給され、これらの各電位と、記憶してい
る各電位とに基づいて前記被測定イオン電極１７の出力
および妨害イオン電極１８の出力、比較電極２０の出力
が校正される。
【００４０】この後、一時貯留容器１６内にある第２校
正液９が排液貯留部４の排液貯留容器２１内に排出され
て校正動作が終了する。
正液９が排液貯留部４の排液貯留容器２１内に排出され
て校正動作が終了する。
【００４１】《測定動作》測定動作においては、まず２
つの三方弁１４、１５が切り替えられて被測定液７が選
択されるとともに、ポンプ１がオン状態にされる。
つの三方弁１４、１５が切り替えられて被測定液７が選
択されるとともに、ポンプ１がオン状態にされる。
【００４２】これによって、被測定液タンク１１内の被
測定液７が汲み出されて測定部３の一時貯留容器１６に
貯留された後、被測定イオン電極１７および妨害イオン
電極１８、比較電極２０によって前記被測定液７中にあ
る測定対象イオンの濃度および妨害イオンの濃度が測定
され、この測定動作によって得られた各電位が比較演算
器５に供給される。
測定液７が汲み出されて測定部３の一時貯留容器１６に
貯留された後、被測定イオン電極１７および妨害イオン
電極１８、比較電極２０によって前記被測定液７中にあ
る測定対象イオンの濃度および妨害イオンの濃度が測定
され、この測定動作によって得られた各電位が比較演算
器５に供給される。
【００４３】そして、比較演算器５によって、これらの
各電位から測定対象イオンの濃度と、妨害イオンの濃度
と比“α”が演算されるとともに、この“α”の値が
“１”以上の場合には、ネルンストの応答による検量線
が用いられて測定対象イオンの濃度が算出され表示器６
に表示される。
各電位から測定対象イオンの濃度と、妨害イオンの濃度
と比“α”が演算されるとともに、この“α”の値が
“１”以上の場合には、ネルンストの応答による検量線
が用いられて測定対象イオンの濃度が算出され表示器６
に表示される。
【００４４】また、前記“α”の値が“１”以下の場合
には、測定不能と判定されてこれが表示器６に表示され
る。
には、測定不能と判定されてこれが表示器６に表示され
る。
【００４５】この後、一時貯留容器１６内にある被測定
液７が排液貯留部４の排液貯留容器２１内に排出され
て、ポンプ１がオフ状態にされる。
液７が排液貯留部４の排液貯留容器２１内に排出され
て、ポンプ１がオフ状態にされる。
【００４６】このようにこの実施例においては、測定対
象イオンの濃度とともに、妨害イオンの濃度を測定し、
これらの測定結果に基づいてネルンスト応答による測定
範囲内かどうかを判定し、ネルンスト応答による測定範
囲内のとき、ネルンストの応答による検量線を用いて測
定対象イオンの濃度を求めるようにしたので、妨害イオ
ンが混入した試料でも測定対象となるイオンの濃度を測
定することができる。
象イオンの濃度とともに、妨害イオンの濃度を測定し、
これらの測定結果に基づいてネルンスト応答による測定
範囲内かどうかを判定し、ネルンスト応答による測定範
囲内のとき、ネルンストの応答による検量線を用いて測
定対象イオンの濃度を求めるようにしたので、妨害イオ
ンが混入した試料でも測定対象となるイオンの濃度を測
定することができる。
【００４７】また、上述した実施例においては、（１）
式によって示される“α”の値が“１”以下のとき、測
定不能と判定するようにしているが、“α”の値が“１
／１００”〜“１”のとき、すなわち図３に示すＣ部に
相当するとき、測定対象イオンの濃度と、妨害イオンの
濃度とを予め測定して変換テーブルを作成し、実際の測
定動作で前記変換テーブルを参照しながら測定対象イオ
ンの濃度と、妨害イオンの濃度とに基づいて測定対象イ
オンの濃度を演算するようにしても良い。
式によって示される“α”の値が“１”以下のとき、測
定不能と判定するようにしているが、“α”の値が“１
／１００”〜“１”のとき、すなわち図３に示すＣ部に
相当するとき、測定対象イオンの濃度と、妨害イオンの
濃度とを予め測定して変換テーブルを作成し、実際の測
定動作で前記変換テーブルを参照しながら測定対象イオ
ンの濃度と、妨害イオンの濃度とに基づいて測定対象イ
オンの濃度を演算するようにしても良い。
【００４８】このようにすることにより、測定可能な範
囲をさらに拡げることができる。
囲をさらに拡げることができる。
【００４９】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、妨
害イオンが混入した試料でも測定対象となるイオンの濃
度を測定することができる。
害イオンが混入した試料でも測定対象となるイオンの濃
度を測定することができる。
【図１】本発明によるイオン濃度分析装置の一実施例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図２】本発明によるイオン濃度の測定原理例を示す表
図である。
図である。
【図３】従来から知られているイオン濃度分析装置の測
定不能例を示す表図である。
定不能例を示す表図である。
１ ポンプ ２ 液貯留部 ３ 測定部 ４ 排液貯留部 ５ 演算部（比較演算器） ７ 被測定液 １７ 被測定イオン電極と、 １８ 他イオン電極（妨害イオン電極）
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定液中に含まれる測定対象イオンの
濃度を測定する被測定イオン電極と、 前記被測定液中に含まれる前記測定対象イオン以外の予
め決められているイオンの濃度を測定する他イオン電極
と、 この他イオン電極および前記被測定イオン電極の測定値
に基づいて、ネルンスト応答による測定範囲内かどうか
判定し、ネルンスト応答による測定範囲内のとき、ネル
ンストの応答による検量線を用いて前記被測定液中に含
まれている測定対象イオンの濃度を演算する演算部と、 を具備したことを特徴とするイオン濃度分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03020961A JP3076384B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | イオン濃度分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03020961A JP3076384B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | イオン濃度分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04258753A JPH04258753A (ja) | 1992-09-14 |
| JP3076384B2 true JP3076384B2 (ja) | 2000-08-14 |
Family
ID=12041773
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03020961A Expired - Lifetime JP3076384B2 (ja) | 1991-02-14 | 1991-02-14 | イオン濃度分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3076384B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102393415B (zh) * | 2011-11-17 | 2013-07-17 | 江苏大学 | 一种温室作物氮钾含量测量装置及方法 |
-
1991
- 1991-02-14 JP JP03020961A patent/JP3076384B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04258753A (ja) | 1992-09-14 |
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