JPH11143635A - 液晶タブレット装置 - Google Patents
液晶タブレット装置Info
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- JPH11143635A JPH11143635A JP31319397A JP31319397A JPH11143635A JP H11143635 A JPH11143635 A JP H11143635A JP 31319397 A JP31319397 A JP 31319397A JP 31319397 A JP31319397 A JP 31319397A JP H11143635 A JPH11143635 A JP H11143635A
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/045—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means using resistive elements, e.g. a single continuous surface or two parallel surfaces put in contact
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
- G06F1/32—Means for saving power
- G06F1/3203—Power management, i.e. event-based initiation of a power-saving mode
- G06F1/3234—Power saving characterised by the action undertaken
- G06F1/325—Power saving in peripheral device
- G06F1/3262—Power saving in digitizer or tablet
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 液晶ディスプレイのラインパルスに起因した
ノイズの悪影響を除去して座標測定精度を向上させると
ともに、座標測定に要する時間を短縮化する。 【解決手段】 液晶ディスプレイ１５上に透明なタブレ
ット１７が貼り合わされており、タブレット１７上にタ
ッチ指示された点の座標信号をＡ／Ｄコンバータ１８で
デジタルの座標データに変換し、ＣＰＵ１１に送出す
る。交流化信号Ｍの反転のタイミングではなく、液晶デ
ィスプレイコントロール回路１４が生成するラインパル
スＬＰがアクティブ（“Ｈ”）になったタイミングから
一定時間を待ってラインパルスＬＰに起因したノイズが
ゼロレベルへ減衰した後にＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／
Ｄ変換動作をスタートさせ、タブレット１７の指示点の
Ｘ座標データ・Ｙ座標データを得る。
ノイズの悪影響を除去して座標測定精度を向上させると
ともに、座標測定に要する時間を短縮化する。 【解決手段】 液晶ディスプレイ１５上に透明なタブレ
ット１７が貼り合わされており、タブレット１７上にタ
ッチ指示された点の座標信号をＡ／Ｄコンバータ１８で
デジタルの座標データに変換し、ＣＰＵ１１に送出す
る。交流化信号Ｍの反転のタイミングではなく、液晶デ
ィスプレイコントロール回路１４が生成するラインパル
スＬＰがアクティブ（“Ｈ”）になったタイミングから
一定時間を待ってラインパルスＬＰに起因したノイズが
ゼロレベルへ減衰した後にＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／
Ｄ変換動作をスタートさせ、タブレット１７の指示点の
Ｘ座標データ・Ｙ座標データを得る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子手帳や携帯情
報処理機器などに搭載されて、ペンタッチやフィンガー
タッチにより入力操作等を行う液晶タブレット装置に関
する。
報処理機器などに搭載されて、ペンタッチやフィンガー
タッチにより入力操作等を行う液晶タブレット装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】液晶タブレット装置は、液晶ディスプレ
イの上に座標読み取り装置としてのタブレットを貼り合
わせ、タブレットにおける入力と液晶ディスプレイの表
示出力とを一致させるように構成したものである。
イの上に座標読み取り装置としてのタブレットを貼り合
わせ、タブレットにおける入力と液晶ディスプレイの表
示出力とを一致させるように構成したものである。
【０００３】表示信号を液晶ドットに印加するときは直
流成分を付与することになるため、液晶の寿命劣化をも
たらす。そこで、液晶ドットに印加する電圧の極性を一
定時間おきに反転させて交流信号にするのが一般的であ
る。つまり、一定時間ごとに立ち上がり・立ち下がりを
繰り返す方形波である交流化信号（極性反転信号）を生
成し、液晶ドライバが出力する表示信号の極性を交流化
信号のエッジのタイミングで反転する状態でその表示信
号を液晶表示素子に与えるようにしている。
流成分を付与することになるため、液晶の寿命劣化をも
たらす。そこで、液晶ドットに印加する電圧の極性を一
定時間おきに反転させて交流信号にするのが一般的であ
る。つまり、一定時間ごとに立ち上がり・立ち下がりを
繰り返す方形波である交流化信号（極性反転信号）を生
成し、液晶ドライバが出力する表示信号の極性を交流化
信号のエッジのタイミングで反転する状態でその表示信
号を液晶表示素子に与えるようにしている。
【０００４】タブレットは、均一な抵抗分布を有する２
枚の透明な導電膜を微小間隔隔てて対向させ、一方の導
電膜には上下両辺に電極を設け、他方の導電膜には左右
両辺に電極を設け、互いに異なるタイミングで電極間に
電圧を印加してそれぞれの導電膜に一定の電流を流すこ
とによりＸ方向とＹ方向とに電圧勾配を作り出すように
したものである。ペン等でタブレットを圧迫すると、そ
の圧迫された指示点で２枚の導電膜が接触する。まず、
Ｘ方向に電圧勾配を作り、接触点での電圧値を読み取る
と、それがＸ座標の信号となる。次に、Ｙ方向に電圧勾
配を作り、接触点での電圧値を読み取ると、それがＹ座
標の信号となる。これらのＸ座標信号・Ｙ座標信号はア
ナログ信号であるため、Ａ／Ｄ変換によりデジタル信号
に変換されてＣＰＵに入力される。
枚の透明な導電膜を微小間隔隔てて対向させ、一方の導
電膜には上下両辺に電極を設け、他方の導電膜には左右
両辺に電極を設け、互いに異なるタイミングで電極間に
電圧を印加してそれぞれの導電膜に一定の電流を流すこ
とによりＸ方向とＹ方向とに電圧勾配を作り出すように
したものである。ペン等でタブレットを圧迫すると、そ
の圧迫された指示点で２枚の導電膜が接触する。まず、
Ｘ方向に電圧勾配を作り、接触点での電圧値を読み取る
と、それがＸ座標の信号となる。次に、Ｙ方向に電圧勾
配を作り、接触点での電圧値を読み取ると、それがＹ座
標の信号となる。これらのＸ座標信号・Ｙ座標信号はア
ナログ信号であるため、Ａ／Ｄ変換によりデジタル信号
に変換されてＣＰＵに入力される。
【０００５】液晶ディスプレイにおいて液晶ドットに印
加する表示信号を交流化信号に基づいて極性反転したと
き強いインパルス状の電磁波が発生し、この電磁波が液
晶ディスプレイに貼り合わされたタブレットの座標信号
に対してノイズとなって重畳し、座標測定精度の低下を
もたらすおそれがある。というのは、交流化信号による
表示信号の極性反転のタイミングとタブレット検出タイ
ミングとが非同期となっているために、双方のタイミン
グが一致する場合があり、そうなると、座標信号にノイ
ズが重畳されることになるためである。
加する表示信号を交流化信号に基づいて極性反転したと
き強いインパルス状の電磁波が発生し、この電磁波が液
晶ディスプレイに貼り合わされたタブレットの座標信号
に対してノイズとなって重畳し、座標測定精度の低下を
もたらすおそれがある。というのは、交流化信号による
表示信号の極性反転のタイミングとタブレット検出タイ
ミングとが非同期となっているために、双方のタイミン
グが一致する場合があり、そうなると、座標信号にノイ
ズが重畳されることになるためである。
【０００６】この不都合を解消するための技術として特
開平６−１６１６５８号公報に開示の液晶タブレット装
置がある。それは、交流化信号を所定時間遅延させる遅
延回路を設け、その遅延させた信号をタブレット検出タ
イミング信号としてタブレット駆動回路に導き、そのタ
ブレット検出タイミング信号のエッジでタブレット駆動
回路のＡ／ＤコンバータのＡ／Ｄ変換動作をスタートさ
せるように構成している。座標信号のＡ／Ｄ変換タイミ
ングを交流化信号のエッジすなわち表示信号極性反転の
タイミングからずれさせることができ、ノイズの重畳し
ないタイミングで座標信号をＡ／Ｄ変換することができ
る。
開平６−１６１６５８号公報に開示の液晶タブレット装
置がある。それは、交流化信号を所定時間遅延させる遅
延回路を設け、その遅延させた信号をタブレット検出タ
イミング信号としてタブレット駆動回路に導き、そのタ
ブレット検出タイミング信号のエッジでタブレット駆動
回路のＡ／ＤコンバータのＡ／Ｄ変換動作をスタートさ
せるように構成している。座標信号のＡ／Ｄ変換タイミ
ングを交流化信号のエッジすなわち表示信号極性反転の
タイミングからずれさせることができ、ノイズの重畳し
ないタイミングで座標信号をＡ／Ｄ変換することができ
る。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、交流化
信号は周波数が低く周期が長いために、これを遅延させ
たタブレット検出タイミング信号も同様に周期が長く、
座標信号のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるまでの待ち
時間が長くなり、タブレットに対する入力座標点の測定
に時間がかかるという問題がある。
信号は周波数が低く周期が長いために、これを遅延させ
たタブレット検出タイミング信号も同様に周期が長く、
座標信号のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるまでの待ち
時間が長くなり、タブレットに対する入力座標点の測定
に時間がかかるという問題がある。
【０００８】また、より根本的な問題として、液晶ディ
スプレイ側からタブレット側に与える電磁波ノイズは何
も交流化信号のエッジのタイミングだけではなく、液晶
ディスプレイの液晶ドット列に与えるラインパルス（ゲ
ートパルス信号）がアクティブになったときにも強いイ
ンパルス状の電磁波が発生し、その電磁波がタブレット
の座標信号に対してノイズとして重畳するおそれがあ
る。しかし、上記公報の従来技術では、このラインパル
スに起因したノイズによる悪影響を除去することはでき
ない。
スプレイ側からタブレット側に与える電磁波ノイズは何
も交流化信号のエッジのタイミングだけではなく、液晶
ディスプレイの液晶ドット列に与えるラインパルス（ゲ
ートパルス信号）がアクティブになったときにも強いイ
ンパルス状の電磁波が発生し、その電磁波がタブレット
の座標信号に対してノイズとして重畳するおそれがあ
る。しかし、上記公報の従来技術では、このラインパル
スに起因したノイズによる悪影響を除去することはでき
ない。
【０００９】さらに、交流化信号のエッジのタイミング
とラインパルスのアクティブのタイミングとが時間的に
重なると、座標信号に重畳するノイズはさらに大きなも
のとなるが、遅延回路による一定時間の遅延の後にタブ
レット検出タイミング信号を出力していたのでは、ノイ
ズが充分に減衰し切らないうちでの座標信号のＡ／Ｄ変
換動作のスタートとなってしまい、座標測定精度が低下
する。
とラインパルスのアクティブのタイミングとが時間的に
重なると、座標信号に重畳するノイズはさらに大きなも
のとなるが、遅延回路による一定時間の遅延の後にタブ
レット検出タイミング信号を出力していたのでは、ノイ
ズが充分に減衰し切らないうちでの座標信号のＡ／Ｄ変
換動作のスタートとなってしまい、座標測定精度が低下
する。
【００１０】本発明はこのような事情に鑑みて創案され
たものであって、液晶ディスプレイのラインパルスに起
因したノイズの悪影響を除去して座標測定精度を向上さ
せるとともに、座標測定に要する時間を短縮化すること
を目的としている。さらに、新たに採用した構成に派生
する問題点の解消を併せて図ることを目的としている。
たものであって、液晶ディスプレイのラインパルスに起
因したノイズの悪影響を除去して座標測定精度を向上さ
せるとともに、座標測定に要する時間を短縮化すること
を目的としている。さらに、新たに採用した構成に派生
する問題点の解消を併せて図ることを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明に係る請求項１の
液晶タブレット装置は、次のような構成となっている。
すなわち、液晶ディスプレイ上に透明なタブレットが貼
り合わされており、タブレット上にタッチ指示された点
の座標信号をＡ／Ｄコンバータでデジタルの座標データ
に変換するように構成されている。そして、液晶ディス
プレイコントロール回路が生成するラインパルスがアク
ティブになったタイミングから一定時間後にＡ／Ｄコン
バータの動作をスタートさせるように構成してある。一
定時間が経過する間にノイズは減衰し、その時間の経過
直後においてノイズは実質的にゼロとなっているから、
Ａ／Ｄ変換されたＸ座標データ・Ｙ座標データにはノイ
ズ成分は含まれておらず、座標測定精度が高いものとな
る。一定時間を待つ基点を周期の長い交流化信号のエッ
ジのタイミングとするのではなく、周期が短いラインパ
ルスのアクティブのタイミングを基点としているので、
どのようなタイミングでタブレットがタッチ指示された
としても、Ｘ座標信号・Ｙ座標信号のＡ／Ｄ変換動作を
スタートさせるまでの待ち時間が短くなり、タブレット
に対する入力座標点の測定に要する実時間を短縮化する
ことができる。さらに、より根本的な機能として、交流
化信号のエッジに起因したノイズの悪影響だけでなくラ
インパルスのアクティブ化に起因したノイズの悪影響を
も回避することができるのである。もちろん、交流化信
号のエッジのタイミングとラインパルスのアクティブ化
のタイミングとが時間的に重なった場合でも、ノイズの
悪影響を回避することができる。
液晶タブレット装置は、次のような構成となっている。
すなわち、液晶ディスプレイ上に透明なタブレットが貼
り合わされており、タブレット上にタッチ指示された点
の座標信号をＡ／Ｄコンバータでデジタルの座標データ
に変換するように構成されている。そして、液晶ディス
プレイコントロール回路が生成するラインパルスがアク
ティブになったタイミングから一定時間後にＡ／Ｄコン
バータの動作をスタートさせるように構成してある。一
定時間が経過する間にノイズは減衰し、その時間の経過
直後においてノイズは実質的にゼロとなっているから、
Ａ／Ｄ変換されたＸ座標データ・Ｙ座標データにはノイ
ズ成分は含まれておらず、座標測定精度が高いものとな
る。一定時間を待つ基点を周期の長い交流化信号のエッ
ジのタイミングとするのではなく、周期が短いラインパ
ルスのアクティブのタイミングを基点としているので、
どのようなタイミングでタブレットがタッチ指示された
としても、Ｘ座標信号・Ｙ座標信号のＡ／Ｄ変換動作を
スタートさせるまでの待ち時間が短くなり、タブレット
に対する入力座標点の測定に要する実時間を短縮化する
ことができる。さらに、より根本的な機能として、交流
化信号のエッジに起因したノイズの悪影響だけでなくラ
インパルスのアクティブ化に起因したノイズの悪影響を
も回避することができるのである。もちろん、交流化信
号のエッジのタイミングとラインパルスのアクティブ化
のタイミングとが時間的に重なった場合でも、ノイズの
悪影響を回避することができる。
【００１２】本発明に係る請求項２の液晶タブレット装
置は、次のような構成となっている。すなわち、液晶デ
ィスプレイ上に透明なタブレットが貼り合わされてお
り、タブレット上にタッチ指示された点の座標信号をＡ
／Ｄコンバータでデジタルの座標データに変換するよう
に構成されている。そして、カウント値としてタブレッ
ト測定回路のトランジスタなどのスイッチング素子が起
動してから安定するに足る時間に対応したカウント値を
設定しておく。液晶ディスプレイコントロール回路が生
成するラインパルスがアクティブになったタイミングか
らこのラインパルスの数をカウントし、そのカウント値
が前記の設定値になったときから一定時間後にＡ／Ｄコ
ンバータの動作をスタートさせるように構成してある。
タブレット測定回路を起動した後においてトランジスタ
などのスイッチング素子が安定化してから座標測定の処
理を開始するので、周期の短いラインパルスがアクティ
ブになったタイミングを一定時間の待ちの基点としてい
るにもかかわらず、ノイズの悪影響を回避して座標測定
精度を高い状態に保つことができる。
置は、次のような構成となっている。すなわち、液晶デ
ィスプレイ上に透明なタブレットが貼り合わされてお
り、タブレット上にタッチ指示された点の座標信号をＡ
／Ｄコンバータでデジタルの座標データに変換するよう
に構成されている。そして、カウント値としてタブレッ
ト測定回路のトランジスタなどのスイッチング素子が起
動してから安定するに足る時間に対応したカウント値を
設定しておく。液晶ディスプレイコントロール回路が生
成するラインパルスがアクティブになったタイミングか
らこのラインパルスの数をカウントし、そのカウント値
が前記の設定値になったときから一定時間後にＡ／Ｄコ
ンバータの動作をスタートさせるように構成してある。
タブレット測定回路を起動した後においてトランジスタ
などのスイッチング素子が安定化してから座標測定の処
理を開始するので、周期の短いラインパルスがアクティ
ブになったタイミングを一定時間の待ちの基点としてい
るにもかかわらず、ノイズの悪影響を回避して座標測定
精度を高い状態に保つことができる。
【００１３】本発明に係る請求項３の液晶タブレット装
置は、上記請求項１または請求項２において、液晶ディ
スプレイコントロール回路が生成する交流化信号の反転
を検出し、その反転検出があったときは他の条件が満た
されていてもＡ／Ｄコンバータの動作をスタートさせな
いように構成してある。交流化信号が反転したタイミン
グでは座標測定の処理を避けるから、交流化信号の反転
に起因した大きなノイズによる座標測定の誤差の影響を
受けないですむ。また、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタ
ートするのを待つ一定時間として、ラインパルスがアク
ティブになったことに起因する相対的に小さいノイズが
減衰するのを待つより短い時間を設定すことが可能とな
り、早めにＡ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次
のラインパルスがアクティブになるまでの間の時間が長
く、その時間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることが
できる。
置は、上記請求項１または請求項２において、液晶ディ
スプレイコントロール回路が生成する交流化信号の反転
を検出し、その反転検出があったときは他の条件が満た
されていてもＡ／Ｄコンバータの動作をスタートさせな
いように構成してある。交流化信号が反転したタイミン
グでは座標測定の処理を避けるから、交流化信号の反転
に起因した大きなノイズによる座標測定の誤差の影響を
受けないですむ。また、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタ
ートするのを待つ一定時間として、ラインパルスがアク
ティブになったことに起因する相対的に小さいノイズが
減衰するのを待つより短い時間を設定すことが可能とな
り、早めにＡ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次
のラインパルスがアクティブになるまでの間の時間が長
く、その時間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることが
できる。
【００１４】本発明に係る請求項４の液晶タブレット装
置は、ラインパルスのアクティブのタイミングからノイ
ズが減衰するまでの時間をカウントするカウンタを備え
ており、このカウンタがカウントアップしたときにそれ
までホールト（停止）状態にしていたＣＰＵに割り込み
をかけ、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせるよう
に構成してある。ノイズが減衰するまでの時間をカウン
トするカウンタがカウントアップするまではＣＰＵをホ
ールトさせておくので、電力消費を抑えることができ
る。
置は、ラインパルスのアクティブのタイミングからノイ
ズが減衰するまでの時間をカウントするカウンタを備え
ており、このカウンタがカウントアップしたときにそれ
までホールト（停止）状態にしていたＣＰＵに割り込み
をかけ、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせるよう
に構成してある。ノイズが減衰するまでの時間をカウン
トするカウンタがカウントアップするまではＣＰＵをホ
ールトさせておくので、電力消費を抑えることができ
る。
【００１５】本発明に係る請求項５の液晶タブレット装
置は、上記請求項４において、タブレット測定回路のス
イッチング素子が起動してから安定するまでの時間をカ
ウントするカウンタを備え、このカウンタがカウント開
始したときからＣＰＵをホールトし、このカウンタがカ
ウントアップした後にラインパルスのアクティブ後にノ
イズが減衰するまでの時間をカウントするようにしたも
のである。タブレット測定回路を起動した後においてト
ランジスタなどのスイッチング素子が安定化してから座
標測定の処理を開始するので、周期の短いラインパルス
がアクティブになったタイミングを一定時間の待ちの基
点としているにもかかわらず、ノイズの悪影響を回避し
て座標測定精度を高い状態に保つことができる。また、
ＣＰＵのホールト開始のタイミングが早く、電力消費を
よりよく抑制する。
置は、上記請求項４において、タブレット測定回路のス
イッチング素子が起動してから安定するまでの時間をカ
ウントするカウンタを備え、このカウンタがカウント開
始したときからＣＰＵをホールトし、このカウンタがカ
ウントアップした後にラインパルスのアクティブ後にノ
イズが減衰するまでの時間をカウントするようにしたも
のである。タブレット測定回路を起動した後においてト
ランジスタなどのスイッチング素子が安定化してから座
標測定の処理を開始するので、周期の短いラインパルス
がアクティブになったタイミングを一定時間の待ちの基
点としているにもかかわらず、ノイズの悪影響を回避し
て座標測定精度を高い状態に保つことができる。また、
ＣＰＵのホールト開始のタイミングが早く、電力消費を
よりよく抑制する。
【００１６】本発明に係る請求項６の液晶タブレット装
置は、上記請求項４または請求項５において、カウンタ
に対してカウントアップ値を設定するレジスタを備えて
いる。液晶タブレット装置の機種が変更になったり仕様
が変更になり、ノイズの持続時間が変化したり、タブレ
ット測定回路のスイッチング素子の安定時間が変化した
としても、それぞれの機種・仕様に合わせて、カウント
アップ値を計算し、プログラムに組み込んでおけば、様
々の機種・仕様に汎用的に対応することができる。
置は、上記請求項４または請求項５において、カウンタ
に対してカウントアップ値を設定するレジスタを備えて
いる。液晶タブレット装置の機種が変更になったり仕様
が変更になり、ノイズの持続時間が変化したり、タブレ
ット測定回路のスイッチング素子の安定時間が変化した
としても、それぞれの機種・仕様に合わせて、カウント
アップ値を計算し、プログラムに組み込んでおけば、様
々の機種・仕様に汎用的に対応することができる。
【００１７】本発明に係る請求項７の液晶タブレット装
置は、上記請求項４から請求項６までのいずれかにおい
て、ノイズが減衰するまでの時間をカウントするカウン
タの起動がラインパルスの入力無しのために行われない
場合でも、そのカウンタの起動をシステムクロックの所
定値のカウントアップに基づいて実行するように構成し
てある。ラインパルスが出力されない液晶ディスプレイ
が非駆動の状態であっても、タブレットにタッチ指示し
たときには、その指示点の座標測定の処理が実行され
る。
置は、上記請求項４から請求項６までのいずれかにおい
て、ノイズが減衰するまでの時間をカウントするカウン
タの起動がラインパルスの入力無しのために行われない
場合でも、そのカウンタの起動をシステムクロックの所
定値のカウントアップに基づいて実行するように構成し
てある。ラインパルスが出力されない液晶ディスプレイ
が非駆動の状態であっても、タブレットにタッチ指示し
たときには、その指示点の座標測定の処理が実行され
る。
【００１８】本発明に係る請求項８の液晶タブレット装
置は、上記請求項４において、ノイズが減衰するまでの
時間をカウントするカウンタがカウントアップしたとき
にＡ／Ｄコンバータをカウンタ出力により直接に動作さ
せ、そのＡ／Ｄ変換動作の終了までＣＰＵをホールトす
るように構成してある。Ａ／ＤコンバータのＡ／Ｄ変換
動作が終了するまでＣＰＵをホールトすることができる
ので、電力消費をより削減することができる。また、Ｃ
ＰＵのホールト状態でＡ／Ｄ変換するので、ノイズがよ
り少ない状態でのＡ／Ｄ変換が可能となり、精度がアッ
プする。
置は、上記請求項４において、ノイズが減衰するまでの
時間をカウントするカウンタがカウントアップしたとき
にＡ／Ｄコンバータをカウンタ出力により直接に動作さ
せ、そのＡ／Ｄ変換動作の終了までＣＰＵをホールトす
るように構成してある。Ａ／ＤコンバータのＡ／Ｄ変換
動作が終了するまでＣＰＵをホールトすることができる
ので、電力消費をより削減することができる。また、Ｃ
ＰＵのホールト状態でＡ／Ｄ変換するので、ノイズがよ
り少ない状態でのＡ／Ｄ変換が可能となり、精度がアッ
プする。
【００１９】本発明に係る請求項９の液晶タブレット装
置は、タブレットに対するＸ方向またはＹ方向のいずれ
かの押し圧を測定し、次いでタブレットにおいて指示点
のＸ座標およびＹ座標を測定し、その後に未だ測定して
いない方の方向の押し圧を測定するように構成してあ
る。最後に押し圧測定を行うから、その前に行われたＸ
座標およびＹ座標の測定の信頼性が高いものとなる。
置は、タブレットに対するＸ方向またはＹ方向のいずれ
かの押し圧を測定し、次いでタブレットにおいて指示点
のＸ座標およびＹ座標を測定し、その後に未だ測定して
いない方の方向の押し圧を測定するように構成してあ
る。最後に押し圧測定を行うから、その前に行われたＸ
座標およびＹ座標の測定の信頼性が高いものとなる。
【００２０】本発明に係る請求項１０の液晶タブレット
装置は、タブレットに対するＸ方向およびＹ方向の押し
圧を測定し、次いでタブレットにおいて指示点のＸ座標
およびＹ座標を測定し、その後に再びＸ方向およびＹ方
向の押し圧を測定するように構成してある。指示点のＸ
座標・Ｙ座標の測定の前と後の両方においてＸ方向・Ｙ
方向の押し圧の測定をはさむようにして実行するから、
測定に時間がかかっても、タブレットに対する押し操作
の状態がきわめて正常である条件下でＸ座標・Ｙ座標を
測定するので、その測定の信頼性が充分に高いものとな
る。
装置は、タブレットに対するＸ方向およびＹ方向の押し
圧を測定し、次いでタブレットにおいて指示点のＸ座標
およびＹ座標を測定し、その後に再びＸ方向およびＹ方
向の押し圧を測定するように構成してある。指示点のＸ
座標・Ｙ座標の測定の前と後の両方においてＸ方向・Ｙ
方向の押し圧の測定をはさむようにして実行するから、
測定に時間がかかっても、タブレットに対する押し操作
の状態がきわめて正常である条件下でＸ座標・Ｙ座標を
測定するので、その測定の信頼性が充分に高いものとな
る。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る液晶タブレッ
ト装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
ト装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００２２】〔実施の形態１〕図１は実施の形態１に係
る液晶タブレット装置の電気的構成を示すブロック図で
ある。図１において、１１は演算処理を行うＣＰＵ（中
央演算処理装置）、１２はプログラムを格納しているＲ
ＯＭ（リードオンリーメモリ）、１３は各種データの一
時記憶を行うＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、１４
は液晶ディスプレイコントロール回路、１５は液晶ディ
スプレイ、１６はタブレットコントロール回路、１７は
抵抗膜方式で感圧型の透明なタブレット、１８はタブレ
ット１７が検出したアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号
をデジタルデータに変換するＡ／Ｄコンバータである。
図示は省略しているが、タブレット１７は液晶ディスプ
レイ１５の表面に貼り合わされている。また、液晶ディ
スプレイコントロール回路１４およびタブレットコント
ロール回路１６はＣＰＵ１１から延出のバスライン１９
に対して所要のインターフェイス（図示せず）を介して
接続されている。
る液晶タブレット装置の電気的構成を示すブロック図で
ある。図１において、１１は演算処理を行うＣＰＵ（中
央演算処理装置）、１２はプログラムを格納しているＲ
ＯＭ（リードオンリーメモリ）、１３は各種データの一
時記憶を行うＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、１４
は液晶ディスプレイコントロール回路、１５は液晶ディ
スプレイ、１６はタブレットコントロール回路、１７は
抵抗膜方式で感圧型の透明なタブレット、１８はタブレ
ット１７が検出したアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号
をデジタルデータに変換するＡ／Ｄコンバータである。
図示は省略しているが、タブレット１７は液晶ディスプ
レイ１５の表面に貼り合わされている。また、液晶ディ
スプレイコントロール回路１４およびタブレットコント
ロール回路１６はＣＰＵ１１から延出のバスライン１９
に対して所要のインターフェイス（図示せず）を介して
接続されている。
【００２３】図２は液晶ディスプレイコントロール回路
１４において生成されるラインパルスＬＰと交流化信号
Ｍとタブレット１７に誘起されるノイズＸＬの関係を示
している。ラインパルスＬＰが“Ｈ”レベルとなってア
クティブになったタイミングｔ1 ，ｔ3 ，ｔ5 ，ｔ7 や
交流化信号Ｍの立ち上がり・立ち下がりのエッジで表示
信号の極性が反転されたタイミングｔ5 ，ｔ11において
強いインパルス状の電磁波が発生し、この電磁波がタブ
レット１７においてノイズＸＬを誘起する。特に、交流
化信号Ｍのエッジのタイミングｔ5 ，ｔ11ではノイズＸ
Ｌのレベルが大きくなっている。ラインパルスＬＰのみ
に起因して発生するノイズは、発生から時間Ｔ1 （＝ｔ
2 −ｔ1 ）の経過後にゼロレベルとなる。交流化信号Ｍ
に起因して発生するノイズが発生からゼロレベルになる
までの時間Ｔ2 （＝ｔ6 −ｔ5 ）はＴ1 よりも大きい。
１４において生成されるラインパルスＬＰと交流化信号
Ｍとタブレット１７に誘起されるノイズＸＬの関係を示
している。ラインパルスＬＰが“Ｈ”レベルとなってア
クティブになったタイミングｔ1 ，ｔ3 ，ｔ5 ，ｔ7 や
交流化信号Ｍの立ち上がり・立ち下がりのエッジで表示
信号の極性が反転されたタイミングｔ5 ，ｔ11において
強いインパルス状の電磁波が発生し、この電磁波がタブ
レット１７においてノイズＸＬを誘起する。特に、交流
化信号Ｍのエッジのタイミングｔ5 ，ｔ11ではノイズＸ
Ｌのレベルが大きくなっている。ラインパルスＬＰのみ
に起因して発生するノイズは、発生から時間Ｔ1 （＝ｔ
2 −ｔ1 ）の経過後にゼロレベルとなる。交流化信号Ｍ
に起因して発生するノイズが発生からゼロレベルになる
までの時間Ｔ2 （＝ｔ6 −ｔ5 ）はＴ1 よりも大きい。
【００２４】タブレット１７をペン等で圧迫すると、そ
の圧迫された指示点のＸ座標信号とＹ座標信号がアナロ
グの形で出力され、Ａ／Ｄコンバータ１８においてデジ
タルデータに変換され、ＣＰＵ１１に取り込まれる。
の圧迫された指示点のＸ座標信号とＹ座標信号がアナロ
グの形で出力され、Ａ／Ｄコンバータ１８においてデジ
タルデータに変換され、ＣＰＵ１１に取り込まれる。
【００２５】もし、ランダムなタイミングでタブレット
１７の検出座標信号をＡ／Ｄコンバータ１８においてＡ
／Ｄ変換すると、ＣＰＵ１１はノイズ成分を含んだ誤っ
たデータを取り込んでしまうことになる。そこで、ライ
ンパルスＬＰがアクティブになったタイミングから一定
時間Ｔ2 （レベルの大きい方のノイズがゼロレベルとな
るまでの時間）だけ待った後に検出座標信号をＡ／Ｄ変
換すれば、ノイズの悪影響を回避でき、座標測定精度を
改善できる。ここで従来技術との対比上注意すべき点
は、一定時間を待つ基点が交流化信号Ｍのエッジのタイ
ミングではなく、ラインパルスＬＰがアクティブになっ
たタイミングであるということである。
１７の検出座標信号をＡ／Ｄコンバータ１８においてＡ
／Ｄ変換すると、ＣＰＵ１１はノイズ成分を含んだ誤っ
たデータを取り込んでしまうことになる。そこで、ライ
ンパルスＬＰがアクティブになったタイミングから一定
時間Ｔ2 （レベルの大きい方のノイズがゼロレベルとな
るまでの時間）だけ待った後に検出座標信号をＡ／Ｄ変
換すれば、ノイズの悪影響を回避でき、座標測定精度を
改善できる。ここで従来技術との対比上注意すべき点
は、一定時間を待つ基点が交流化信号Ｍのエッジのタイ
ミングではなく、ラインパルスＬＰがアクティブになっ
たタイミングであるということである。
【００２６】そのようにする制御動作を図３のフローチ
ャートに基づいて説明する。このフローチャートにおい
ては、すでに、タブレット１７のある点がペン等により
圧迫されたことが検出されているものとする（ペンタッ
チ）。ステップＳ１１においてラインパルスＬＰがアク
ティブ（“Ｈ”レベル）に立ち上がるのを待ってステッ
プＳ１２に進み、一定時間Ｔ2 のアイドリングを行う。
そして、ステップＳ１３においてＡ／Ｄコンバータ１８
のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレッ
ト１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナ
ログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換
し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ
１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標
測定を行う。
ャートに基づいて説明する。このフローチャートにおい
ては、すでに、タブレット１７のある点がペン等により
圧迫されたことが検出されているものとする（ペンタッ
チ）。ステップＳ１１においてラインパルスＬＰがアク
ティブ（“Ｈ”レベル）に立ち上がるのを待ってステッ
プＳ１２に進み、一定時間Ｔ2 のアイドリングを行う。
そして、ステップＳ１３においてＡ／Ｄコンバータ１８
のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレッ
ト１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナ
ログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換
し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ
１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標
測定を行う。
【００２７】必要な待ち時間Ｔ2 は貼り合わされている
液晶ディスプレイ１５とタブレット１７との間隔等によ
って変動するが、ラインパルスＬＰの周期を６０μｓｅ
ｃとして、例えば、Ｔ2 を５０μｓｅｃと設定すること
ができる。なお、Ｔ1 は３０μｓｅｃ程度である。この
場合、時刻ｔ6 からｔ7 までの１０μｓｅｃの間にＡ／
Ｄ変換を完了すればよい。
液晶ディスプレイ１５とタブレット１７との間隔等によ
って変動するが、ラインパルスＬＰの周期を６０μｓｅ
ｃとして、例えば、Ｔ2 を５０μｓｅｃと設定すること
ができる。なお、Ｔ1 は３０μｓｅｃ程度である。この
場合、時刻ｔ6 からｔ7 までの１０μｓｅｃの間にＡ／
Ｄ変換を完了すればよい。
【００２８】一定時間Ｔ2 が経過する間にノイズは減衰
し、その時間の経過直後においてノイズは実質的にゼロ
となっているから、Ａ／Ｄ変換されたＸ座標データ・Ｙ
座標データにはノイズ成分は含まれておらず、座標測定
精度が高いものとなる。
し、その時間の経過直後においてノイズは実質的にゼロ
となっているから、Ａ／Ｄ変換されたＸ座標データ・Ｙ
座標データにはノイズ成分は含まれておらず、座標測定
精度が高いものとなる。
【００２９】一定時間Ｔ2 を待つ基点を周期の長い交流
化信号Ｍのエッジのタイミングとするのではなく、周期
が短いラインパルスＬＰのアクティブのタイミングを基
点としているので、どのようなタイミングでタブレット
１７がペン等により圧迫されたとしても、Ｘ座標信号・
Ｙ座標信号のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるまでの待
ち時間が短くなり、タブレット１７に対する入力座標点
の測定に要する実時間を短縮化することができる。
化信号Ｍのエッジのタイミングとするのではなく、周期
が短いラインパルスＬＰのアクティブのタイミングを基
点としているので、どのようなタイミングでタブレット
１７がペン等により圧迫されたとしても、Ｘ座標信号・
Ｙ座標信号のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせるまでの待
ち時間が短くなり、タブレット１７に対する入力座標点
の測定に要する実時間を短縮化することができる。
【００３０】さらに、より根本的な機能として、交流化
信号Ｍのエッジに起因したノイズの悪影響だけでなくラ
インパルスＬＰのアクティブ化に起因したノイズの悪影
響をも回避することができるのである。もちろん、交流
化信号ＭのエッジのタイミングとラインパルスＬＰのア
クティブ化のタイミングとが時間的に重なった場合で
も、ノイズの悪影響を回避することができる。
信号Ｍのエッジに起因したノイズの悪影響だけでなくラ
インパルスＬＰのアクティブ化に起因したノイズの悪影
響をも回避することができるのである。もちろん、交流
化信号ＭのエッジのタイミングとラインパルスＬＰのア
クティブ化のタイミングとが時間的に重なった場合で
も、ノイズの悪影響を回避することができる。
【００３１】〔実施の形態２〕実施の形態２は、タブレ
ットコントロール回路１６に内蔵のタブレット測定回路
を起動した後に、タブレットコントロール回路１６内の
トランジスタが安定してからタブレット１７上の指示点
の座標測定を行うものである。
ットコントロール回路１６に内蔵のタブレット測定回路
を起動した後に、タブレットコントロール回路１６内の
トランジスタが安定してからタブレット１７上の指示点
の座標測定を行うものである。
【００３２】タブレット測定回路は常時的にアクティブ
になっているものではなく、タブレット１７がペン等に
よって圧迫されたことを感圧で検出し、そのタイミング
からタブレット測定回路がアクティブになる。このよう
に構成することにより電力消費を抑えている。したがっ
て、タブレット測定回路を起動した直後はトランジスタ
が安定しておらず、トランジスタの不安定の状態で指示
点の座標測定を行うと座標測定精度が低下することにな
る。しかし、前述したように一定時間を待つタイミング
の基点をラインパルスＬＰがアクティブになったタイミ
ングに定めると、ラインパルスＬＰの周期が短いことか
ら、タブレット測定回路のトランジスタが不安定の状態
で指示点の座標測定を開始してしまうおそれがある。こ
の不都合を解消するのが本実施の形態２に係る液晶タブ
レット装置である。
になっているものではなく、タブレット１７がペン等に
よって圧迫されたことを感圧で検出し、そのタイミング
からタブレット測定回路がアクティブになる。このよう
に構成することにより電力消費を抑えている。したがっ
て、タブレット測定回路を起動した直後はトランジスタ
が安定しておらず、トランジスタの不安定の状態で指示
点の座標測定を行うと座標測定精度が低下することにな
る。しかし、前述したように一定時間を待つタイミング
の基点をラインパルスＬＰがアクティブになったタイミ
ングに定めると、ラインパルスＬＰの周期が短いことか
ら、タブレット測定回路のトランジスタが不安定の状態
で指示点の座標測定を開始してしまうおそれがある。こ
の不都合を解消するのが本実施の形態２に係る液晶タブ
レット装置である。
【００３３】実施の形態２の場合の制御動作を図４のフ
ローチャートに基づいて説明する。このフローチャート
においては、すでに、タブレット１７のある点がペン等
により圧迫されたことが検出されているものとする。ス
テップＳ２１においてタブレットコントロール回路１６
に内蔵のタブレット測定回路をアクティブにする。ライ
ンパルスＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルになった
回数を示す変数をＡとする。ステップＳ２２において変
数Ａをゼロクリアして初期化する。ステップＳ２３にお
いてラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルになるのを待って
ステップＳ２４に進み、ラインパルスＬＰが次に“Ｈ”
レベルになるのを待ってステップＳ２５に進み、変数Ａ
を１だけインクリメントする。すなわち、変数Ａはライ
ンパルスＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルに変化し
た回数をカウントしている。そして、ステップＳ２６に
おいて変数Ａが所定値Ｎになったかどうかを判断し、な
っていないときはステップＳ２３に戻り、ラインパルス
ＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルになった回数のカ
ウントを続ける。タブレット測定回路をアクティブ（そ
のトランジスタをＯＮ）にしてからトランジスタが安定
するに至ったときには変数Ａが所定値Ｎになっているよ
うにあらかじめ所定値Ｎの値を定めておく。変数Ａが所
定値ＮになったときはステップＳ２７に進み、一定時間
Ｔ2 のアイドリングを行う。このアイドリングは前述の
とおりラインパルスＬＰがアクティブになったことに起
因するノイズはもちろん交流化信号Ｍのエッジに起因す
るノイズのゼロレベルへの減衰を待つものである。した
がって、アイドリングも座標測定の処理の期間に含まれ
る。換言すれば、トランジスタが安定してから座標測定
の処理に入るのである。そして、ステップＳ２８におい
てＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスタートさ
せることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバータ１
８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号
をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標データ
・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等により
圧迫された指示点の座標測定を行う。
ローチャートに基づいて説明する。このフローチャート
においては、すでに、タブレット１７のある点がペン等
により圧迫されたことが検出されているものとする。ス
テップＳ２１においてタブレットコントロール回路１６
に内蔵のタブレット測定回路をアクティブにする。ライ
ンパルスＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルになった
回数を示す変数をＡとする。ステップＳ２２において変
数Ａをゼロクリアして初期化する。ステップＳ２３にお
いてラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルになるのを待って
ステップＳ２４に進み、ラインパルスＬＰが次に“Ｈ”
レベルになるのを待ってステップＳ２５に進み、変数Ａ
を１だけインクリメントする。すなわち、変数Ａはライ
ンパルスＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルに変化し
た回数をカウントしている。そして、ステップＳ２６に
おいて変数Ａが所定値Ｎになったかどうかを判断し、な
っていないときはステップＳ２３に戻り、ラインパルス
ＬＰが“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルになった回数のカ
ウントを続ける。タブレット測定回路をアクティブ（そ
のトランジスタをＯＮ）にしてからトランジスタが安定
するに至ったときには変数Ａが所定値Ｎになっているよ
うにあらかじめ所定値Ｎの値を定めておく。変数Ａが所
定値ＮになったときはステップＳ２７に進み、一定時間
Ｔ2 のアイドリングを行う。このアイドリングは前述の
とおりラインパルスＬＰがアクティブになったことに起
因するノイズはもちろん交流化信号Ｍのエッジに起因す
るノイズのゼロレベルへの減衰を待つものである。した
がって、アイドリングも座標測定の処理の期間に含まれ
る。換言すれば、トランジスタが安定してから座標測定
の処理に入るのである。そして、ステップＳ２８におい
てＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスタートさ
せることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバータ１
８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標信号
をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標データ
・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等により
圧迫された指示点の座標測定を行う。
【００３４】所定値Ｎの値についての例を以下に示す。
ラインパルスＬＰの周期が例えば１００μｓｅｃであ
り、トランジスタの安定時間が例えば５０μｓｅｃであ
るとすると、Ｎ＝２に設定すればよい。トランジスタが
ＯＮになった直後にラインパルスＬＰがアクティブにな
った場合を想定すると、これで変数Ａ＝１であるが、ト
ランジスタの安定時間５０μｓｅｃが経過した後にライ
ンパルスＬＰがアクティブになったことを検出して初め
てトランジスタの安定化が保証され、このとき変数Ａ＝
２となるからである。また、ラインパルスＬＰの周期が
例えば７０μｓｅｃであり、トランジスタの安定時間が
例えば８０μｓｅｃであるとすると、Ｎ＝３に設定すれ
ばよい。トランジスタがＯＮになった直後にラインパル
スＬＰがアクティブになった場合を想定すると、これで
変数Ａ＝１であるが、トランジスタの安定時間８０μｓ
ｅｃが経過するまでにつまり７０μｓｅｃの経過により
次のラインパルスＬＰがアクティブとなり変数Ａ＝２と
なっている。この時点ではまだトランジスタは安定化し
ていない。トランジスタ安定時間８０μｓｅｃが経過し
た後にラインパルスＬＰがアクティブになったことを検
出して初めてトランジスタの安定化が保証されるが、こ
のとき変数Ａ＝３となるからである。
ラインパルスＬＰの周期が例えば１００μｓｅｃであ
り、トランジスタの安定時間が例えば５０μｓｅｃであ
るとすると、Ｎ＝２に設定すればよい。トランジスタが
ＯＮになった直後にラインパルスＬＰがアクティブにな
った場合を想定すると、これで変数Ａ＝１であるが、ト
ランジスタの安定時間５０μｓｅｃが経過した後にライ
ンパルスＬＰがアクティブになったことを検出して初め
てトランジスタの安定化が保証され、このとき変数Ａ＝
２となるからである。また、ラインパルスＬＰの周期が
例えば７０μｓｅｃであり、トランジスタの安定時間が
例えば８０μｓｅｃであるとすると、Ｎ＝３に設定すれ
ばよい。トランジスタがＯＮになった直後にラインパル
スＬＰがアクティブになった場合を想定すると、これで
変数Ａ＝１であるが、トランジスタの安定時間８０μｓ
ｅｃが経過するまでにつまり７０μｓｅｃの経過により
次のラインパルスＬＰがアクティブとなり変数Ａ＝２と
なっている。この時点ではまだトランジスタは安定化し
ていない。トランジスタ安定時間８０μｓｅｃが経過し
た後にラインパルスＬＰがアクティブになったことを検
出して初めてトランジスタの安定化が保証されるが、こ
のとき変数Ａ＝３となるからである。
【００３５】本実施の形態２によれば、タブレット測定
回路を起動した後においてトランジスタが確実に安定化
してから座標測定の処理を開始するので、周期の短いラ
インパルスＬＰがアクティブになったタイミングを一定
時間Ｔ2 の待ちの基点としているにもかかわらず、座標
測定精度を高い状態に保つことができる。
回路を起動した後においてトランジスタが確実に安定化
してから座標測定の処理を開始するので、周期の短いラ
インパルスＬＰがアクティブになったタイミングを一定
時間Ｔ2 の待ちの基点としているにもかかわらず、座標
測定精度を高い状態に保つことができる。
【００３６】〔実施の形態３〕実施の形態３は、ライン
パルスＬＰがアクティブになったとしても、交流化信号
Ｍが反転したタイミングであるのなら、座標測定の処理
に進まないようにするものである。図２に示すように交
流化信号Ｍの反転に起因したノイズが大きいので座標測
定の誤差が大きくなりがちであるためである。それに、
交流化信号Ｍの反転に起因したノイズがゼロレベルまで
減衰するのに要する時間Ｔ2 が長く、次のラインパルス
ＬＰがアクティブになるまでの間（ｔ6 〜ｔ7 ）の時間
が短く、この短い時間内にＡ／Ｄ変換を完了することが
むずかしくなるからである。
パルスＬＰがアクティブになったとしても、交流化信号
Ｍが反転したタイミングであるのなら、座標測定の処理
に進まないようにするものである。図２に示すように交
流化信号Ｍの反転に起因したノイズが大きいので座標測
定の誤差が大きくなりがちであるためである。それに、
交流化信号Ｍの反転に起因したノイズがゼロレベルまで
減衰するのに要する時間Ｔ2 が長く、次のラインパルス
ＬＰがアクティブになるまでの間（ｔ6 〜ｔ7 ）の時間
が短く、この短い時間内にＡ／Ｄ変換を完了することが
むずかしくなるからである。
【００３７】実施の形態３の場合の制御動作を図５のフ
ローチャートに基づいて説明する。このフローチャート
においては、すでに、タブレット１７のある点がペン等
により圧迫されたことが検出されているものとする。ス
テップＳ３１においてラインパルスＬＰが“Ｌ”レベル
になるのを待ってステップＳ３２に進み、変数Ｂに交流
化信号Ｍのレベル（“Ｈ”レベルか“Ｌ”レベルかいず
れか一方）を設定し、ステップＳ３３においてまだライ
ンパルスＬＰが“Ｌ”レベルであるか否かをチェックす
る。もし、ラインパルスＬＰがアクティブになって
“Ｈ”レベルになっているのであればステップＳ３１に
戻り、交流化信号Ｍのレベルを変数Ｂに設定し直すが、
まだラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルのままであれば次
のステップＳ３４に進む。このようにするのは、変数Ｂ
に設定した交流化信号ＭのレベルがラインパルスＬＰが
継続して“Ｌ”レベルとなっているときのものであるこ
とを保証するためである。
ローチャートに基づいて説明する。このフローチャート
においては、すでに、タブレット１７のある点がペン等
により圧迫されたことが検出されているものとする。ス
テップＳ３１においてラインパルスＬＰが“Ｌ”レベル
になるのを待ってステップＳ３２に進み、変数Ｂに交流
化信号Ｍのレベル（“Ｈ”レベルか“Ｌ”レベルかいず
れか一方）を設定し、ステップＳ３３においてまだライ
ンパルスＬＰが“Ｌ”レベルであるか否かをチェックす
る。もし、ラインパルスＬＰがアクティブになって
“Ｈ”レベルになっているのであればステップＳ３１に
戻り、交流化信号Ｍのレベルを変数Ｂに設定し直すが、
まだラインパルスＬＰが“Ｌ”レベルのままであれば次
のステップＳ３４に進む。このようにするのは、変数Ｂ
に設定した交流化信号ＭのレベルがラインパルスＬＰが
継続して“Ｌ”レベルとなっているときのものであるこ
とを保証するためである。
【００３８】次に、座標測定の処理を開始する前提とし
て、ステップＳ３４においてラインパルスＬＰがアクテ
ィブ（“Ｈ”レベル）に立ち上がるのを待つ。そして、
ステップＳ３５に進み、そのときの交流化信号Ｍのレベ
ルと変数Ｂに設定している交流化信号Ｍのレベルとが一
致するかどうかを判断する。つまり、両方とも“Ｈ”レ
ベルであるか、それとも両方とも“Ｌ”レベルである
か、換言すれば、交流化信号Ｍの反転が生じていないか
どうかを判定する。この判断が否定的となるときつまり
交流化信号Ｍに反転が生じたときにはステップＳ３６か
らの座標測定の処理には進まず、ステップＳ３１に戻っ
て交流化信号Ｍが反転しなくなる状態まで待つ。交流化
信号Ｍに反転が生じておらずステップＳ３５の判断が肯
定的となったときはステップＳ３６に進んで一定時間Ｔ
1 のアイドリングを行う。このアイドリングの時間Ｔ1
は実施の形態１や実施の形態２の場合のステップＳ１
２，Ｓ２７のアイドリングの時間Ｔ2 よりも小さい。そ
れは交流化信号Ｍの反転によるノイズの影響をもとから
避けているためであり、ラインパルスＬＰがアクティブ
になったことに起因する相対的に小さいノイズの減衰を
待つだけでよいからである。このときの一定時間Ｔ1 は
例えば３０μｓｅｃである。そして、ステップＳ３７に
おいてＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスター
トさせることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバー
タ１８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標
信号をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標デ
ータ・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等に
より圧迫された指示点の座標測定を行う。
て、ステップＳ３４においてラインパルスＬＰがアクテ
ィブ（“Ｈ”レベル）に立ち上がるのを待つ。そして、
ステップＳ３５に進み、そのときの交流化信号Ｍのレベ
ルと変数Ｂに設定している交流化信号Ｍのレベルとが一
致するかどうかを判断する。つまり、両方とも“Ｈ”レ
ベルであるか、それとも両方とも“Ｌ”レベルである
か、換言すれば、交流化信号Ｍの反転が生じていないか
どうかを判定する。この判断が否定的となるときつまり
交流化信号Ｍに反転が生じたときにはステップＳ３６か
らの座標測定の処理には進まず、ステップＳ３１に戻っ
て交流化信号Ｍが反転しなくなる状態まで待つ。交流化
信号Ｍに反転が生じておらずステップＳ３５の判断が肯
定的となったときはステップＳ３６に進んで一定時間Ｔ
1 のアイドリングを行う。このアイドリングの時間Ｔ1
は実施の形態１や実施の形態２の場合のステップＳ１
２，Ｓ２７のアイドリングの時間Ｔ2 よりも小さい。そ
れは交流化信号Ｍの反転によるノイズの影響をもとから
避けているためであり、ラインパルスＬＰがアクティブ
になったことに起因する相対的に小さいノイズの減衰を
待つだけでよいからである。このときの一定時間Ｔ1 は
例えば３０μｓｅｃである。そして、ステップＳ３７に
おいてＡ／Ｄコンバータ１８のＡ／Ｄ変換動作をスター
トさせることによりタブレット１７からＡ／Ｄコンバー
タ１８に出力されているアナログのＸ座標信号・Ｙ座標
信号をデジタルデータに変換し、その変換後のＸ座標デ
ータ・Ｙ座標データをＣＰＵ１１に取り込んでペン等に
より圧迫された指示点の座標測定を行う。
【００３９】本実施の形態３によれば、交流化信号Ｍが
反転したタイミングでは座標測定の処理を避けるから、
交流化信号Ｍの反転に起因した大きなノイズによる座標
測定の誤差の影響を受けないですむ。また、アイドリン
グの時間Ｔ1 が短く、早めにＡ／Ｄ変換を済ませること
ができ、また、次のラインパルスＬＰがアクティブにな
るまでの間（ｔ2 〜ｔ3 ）の時間が長く、その時間内に
確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
反転したタイミングでは座標測定の処理を避けるから、
交流化信号Ｍの反転に起因した大きなノイズによる座標
測定の誤差の影響を受けないですむ。また、アイドリン
グの時間Ｔ1 が短く、早めにＡ／Ｄ変換を済ませること
ができ、また、次のラインパルスＬＰがアクティブにな
るまでの間（ｔ2 〜ｔ3 ）の時間が長く、その時間内に
確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
【００４０】〔実施の形態４〕実施の形態４は一部の機
能をハードウェアで達成するように構成したものであ
る。後述する実施の形態５についても同様である。
能をハードウェアで達成するように構成したものであ
る。後述する実施の形態５についても同様である。
【００４１】図６は実施の形態４で用いるハードウェア
構成を示すブロック図である。図６において、２１はタ
ブレット測定回路のトランジスタの安定時間を計測する
ためにシステムクロックをカウントする第１のカウン
タ、２２は第１のカウンタ２１のカウントアップ値を設
定するための第１のレジスタ、２３は液晶ディスプレイ
コントロール回路１４から入力したラインパルスＬＰを
カウントするための第２のカウンタ、２４は第２のカウ
ンタ２３のカウントアップ値を設定するための第２のレ
ジスタ、２５はラインパルスＬＰがアクティブになって
からＡ／Ｄ変換スタートまでの待ち時間を計測するため
にシステムクロックをカウントする第３のカウンタ、２
６は第３のカウンタ２５のカウントアップ値を設定する
ための第３のレジスタ、２７は交流化信号Ｍの反転を検
出する交流化信号反転検出回路である。各レジスタ２
２，２４，２６にはそれぞれ個別的にＣＰＵ１１より所
定のカウントアップ値が設定されるようになっている。
各カウンタ２１，２３，２５はイネーブル端子／ＥＮが
“Ｌ”になったときにカウントを開始する。また、デー
タ端子Ｄに各レジスタ２２，２４，２６からのカウント
アップ値が入力され、カウント値がカウントアップ値に
一致したときに出力端子Ｏのレベルを“Ｈ”から“Ｌ”
に切り換えて出力するようになっている。第１のカウン
タ２１はそのイネーブル端子／ＥＮにＣＰＵ１１からイ
ネーブル信号ＯＥＮを入力し、第２のカウンタ２３のイ
ネーブル端子／ＥＮは第１のカウンタ２１の出力端子Ｏ
に接続され、第３のカウンタ２５のイネーブル端子／Ｅ
Ｎは第２のカウンタ２３の出力端子Ｏに接続されてい
る。交流化信号反転検出回路２７は液晶ディスプレイコ
ントロール回路１４から交流化信号Ｍを入力し、交流化
信号Ｍが反転したときに出力端子Ｃを“Ｈ”レベルから
“Ｌ”レベルにするようになっている。この出力端子Ｃ
は第２のカウンタ２３と第３のカウンタ２５の各リセッ
ト端子／Ｒに接続されており、リセット端子／Ｒが
“Ｌ”レベルになったときはいかなるカウント値の状態
であっても各カウンタ２３，２５はリセットされて
“０”となり、最初からカウントをスタートすることに
なる。
構成を示すブロック図である。図６において、２１はタ
ブレット測定回路のトランジスタの安定時間を計測する
ためにシステムクロックをカウントする第１のカウン
タ、２２は第１のカウンタ２１のカウントアップ値を設
定するための第１のレジスタ、２３は液晶ディスプレイ
コントロール回路１４から入力したラインパルスＬＰを
カウントするための第２のカウンタ、２４は第２のカウ
ンタ２３のカウントアップ値を設定するための第２のレ
ジスタ、２５はラインパルスＬＰがアクティブになって
からＡ／Ｄ変換スタートまでの待ち時間を計測するため
にシステムクロックをカウントする第３のカウンタ、２
６は第３のカウンタ２５のカウントアップ値を設定する
ための第３のレジスタ、２７は交流化信号Ｍの反転を検
出する交流化信号反転検出回路である。各レジスタ２
２，２４，２６にはそれぞれ個別的にＣＰＵ１１より所
定のカウントアップ値が設定されるようになっている。
各カウンタ２１，２３，２５はイネーブル端子／ＥＮが
“Ｌ”になったときにカウントを開始する。また、デー
タ端子Ｄに各レジスタ２２，２４，２６からのカウント
アップ値が入力され、カウント値がカウントアップ値に
一致したときに出力端子Ｏのレベルを“Ｈ”から“Ｌ”
に切り換えて出力するようになっている。第１のカウン
タ２１はそのイネーブル端子／ＥＮにＣＰＵ１１からイ
ネーブル信号ＯＥＮを入力し、第２のカウンタ２３のイ
ネーブル端子／ＥＮは第１のカウンタ２１の出力端子Ｏ
に接続され、第３のカウンタ２５のイネーブル端子／Ｅ
Ｎは第２のカウンタ２３の出力端子Ｏに接続されてい
る。交流化信号反転検出回路２７は液晶ディスプレイコ
ントロール回路１４から交流化信号Ｍを入力し、交流化
信号Ｍが反転したときに出力端子Ｃを“Ｈ”レベルから
“Ｌ”レベルにするようになっている。この出力端子Ｃ
は第２のカウンタ２３と第３のカウンタ２５の各リセッ
ト端子／Ｒに接続されており、リセット端子／Ｒが
“Ｌ”レベルになったときはいかなるカウント値の状態
であっても各カウンタ２３，２５はリセットされて
“０”となり、最初からカウントをスタートすることに
なる。
【００４２】各レジスタ２２，２４，２６に設定するカ
ウントアップ値について説明する。システムクロックＣ
ＬＫが例えば１３ＭＨｚ、タブレット測定回路のトラン
ジスタの安定時間が例えば５０μｓｅｃであるとした場
合、第１のレジスタ２２に設定するカウントアップ値
は、 ５０×１０-6÷（１／１３×１０6）＝６５０ となる。第２のレジスタ２４に設定するカウントアップ
値としては、通常、第１のカウンタ２１がカウントアッ
プしてその出力端子Ｏが“Ｌ”となり、第２のカウンタ
２３がカウントを開始したときはタブレット測定回路の
トランジスタはすでに安定しているので、１回目のライ
ンパルスＬＰの入力でカウントアップとしてよいことか
ら、第２のレジスタ２４に設定するカウントアップ値
は、“１”としてよい。また、ラインパルスＬＰのアク
ティブのタイミングからノイズがゼロレベルまで減衰す
るのに要する時間Ｔ1 を例えば３０μｓｅｃとすると、
第３のレジスタ２６に設定するカウントアップ値は、 ３０×１０-6÷（１／１３×１０6）＝３９０ となる。以上のカウントアップ値があらかじめの計算に
より求められたら、ＲＯＭ１２に格納するプログラムを
作成するときに、その値を設定しておく。ＣＰＵ１１が
プログラムを読んで、各カウントアップ値を各レジスタ
２２，２４，２６に設定するのである。このように、カ
ウンタとレジスタとに分け、レジスタに対してＣＰＵか
らカウントアップ値を設定できるように構成したのは次
のような理由による。それは図６のハードウェア構成を
汎用型にするためである。液晶タブレット装置の機種が
変更になったり仕様が変更になったときでも、それぞれ
の機種・仕様に合わせて、カウントアップ値を計算し、
プログラムに組み込んでおけば、様々の機種・仕様に汎
用的に対応することができる。
ウントアップ値について説明する。システムクロックＣ
ＬＫが例えば１３ＭＨｚ、タブレット測定回路のトラン
ジスタの安定時間が例えば５０μｓｅｃであるとした場
合、第１のレジスタ２２に設定するカウントアップ値
は、 ５０×１０-6÷（１／１３×１０6）＝６５０ となる。第２のレジスタ２４に設定するカウントアップ
値としては、通常、第１のカウンタ２１がカウントアッ
プしてその出力端子Ｏが“Ｌ”となり、第２のカウンタ
２３がカウントを開始したときはタブレット測定回路の
トランジスタはすでに安定しているので、１回目のライ
ンパルスＬＰの入力でカウントアップとしてよいことか
ら、第２のレジスタ２４に設定するカウントアップ値
は、“１”としてよい。また、ラインパルスＬＰのアク
ティブのタイミングからノイズがゼロレベルまで減衰す
るのに要する時間Ｔ1 を例えば３０μｓｅｃとすると、
第３のレジスタ２６に設定するカウントアップ値は、 ３０×１０-6÷（１／１３×１０6）＝３９０ となる。以上のカウントアップ値があらかじめの計算に
より求められたら、ＲＯＭ１２に格納するプログラムを
作成するときに、その値を設定しておく。ＣＰＵ１１が
プログラムを読んで、各カウントアップ値を各レジスタ
２２，２４，２６に設定するのである。このように、カ
ウンタとレジスタとに分け、レジスタに対してＣＰＵか
らカウントアップ値を設定できるように構成したのは次
のような理由による。それは図６のハードウェア構成を
汎用型にするためである。液晶タブレット装置の機種が
変更になったり仕様が変更になったときでも、それぞれ
の機種・仕様に合わせて、カウントアップ値を計算し、
プログラムに組み込んでおけば、様々の機種・仕様に汎
用的に対応することができる。
【００４３】実施の形態４の液晶タブレット装置の動作
を図７のフローチャートに従って説明する。このフロー
チャートにおいては、すでに、タブレット１７のある点
がペン等により圧迫されたことが検出されているものと
する。実施の形態４においては、交流化信号反転検出回
路２７は使用しないものとする。ステップＳ４１におい
てＣＰＵ１１はＲＯＭ１２のプログラムを読んでそこに
書き込まれているカウントアップ値（６５０，１，３９
０）を各レジスタ２２，２４，２６に設定する。ステッ
プＳ４２においてＣＰＵ１１は第１のカウンタ２１に対
してイネーブル信号ＯＥＮを出力し、そのイネーブル端
子／ＥＮを“Ｌ”に切り換えることにより第１のカウン
タ２１がシステムクロックをカウントする動作をスター
トさせる。そして、ステップＳ４３に進んでＣＰＵ１１
自体はホールト（停止）する。あとは図６のハードウェ
アが動作する。ＣＰＵ１１が第１のカウンタ２１のイネ
ーブル端子／ＥＮを“Ｌ”に切り換える手段としては、
イネーブル端子／ＥＮの前にＣＰＵ１１より書き込み可
能な１ビットのフリップフロップを設けておけばよい。
ＣＰＵ１１がホールトしても第１のカウンタ２１の動作
は継続される。ＣＰＵ１１は割り込み（インタラプト）
がかかるまでホールト状態で待機しておればよい。
を図７のフローチャートに従って説明する。このフロー
チャートにおいては、すでに、タブレット１７のある点
がペン等により圧迫されたことが検出されているものと
する。実施の形態４においては、交流化信号反転検出回
路２７は使用しないものとする。ステップＳ４１におい
てＣＰＵ１１はＲＯＭ１２のプログラムを読んでそこに
書き込まれているカウントアップ値（６５０，１，３９
０）を各レジスタ２２，２４，２６に設定する。ステッ
プＳ４２においてＣＰＵ１１は第１のカウンタ２１に対
してイネーブル信号ＯＥＮを出力し、そのイネーブル端
子／ＥＮを“Ｌ”に切り換えることにより第１のカウン
タ２１がシステムクロックをカウントする動作をスター
トさせる。そして、ステップＳ４３に進んでＣＰＵ１１
自体はホールト（停止）する。あとは図６のハードウェ
アが動作する。ＣＰＵ１１が第１のカウンタ２１のイネ
ーブル端子／ＥＮを“Ｌ”に切り換える手段としては、
イネーブル端子／ＥＮの前にＣＰＵ１１より書き込み可
能な１ビットのフリップフロップを設けておけばよい。
ＣＰＵ１１がホールトしても第１のカウンタ２１の動作
は継続される。ＣＰＵ１１は割り込み（インタラプト）
がかかるまでホールト状態で待機しておればよい。
【００４４】図６のハードウェアの動作を説明する。第
１のカウンタ２１はイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”にな
った瞬間からシステムクロックのカウントを開始し、常
にそのカウント値を第１のレジスタ２２に設定のカウン
トアップ値（６５０）と比較し、カウントアップするま
では出力端子Ｏを“Ｈ”レベルの状態に保っている。第
１のカウンタ２１のカウント値がカウントアップ値に達
すると、その出力端子Ｏを“Ｌ”レベルに切り換えるた
め、第２のカウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮが
“Ｌ”となり、第２のカウンタ２３がラインパルスＬＰ
のカウントを開始する。一般的には、イネーブル端子／
ＥＮが“Ｌ”となった瞬間にはラインパルスＬＰの入力
はなく、しばらく時間がたってからラインパルスＬＰが
入力され、第２のカウンタ２３のカウント値が“１”と
なり、第２のレジスタ２４に設定のカウントアップ値と
一致すると（ということは結局、ラインパルスＬＰが１
つ入力されると）、その出力端子Ｏを“Ｈ”レベルから
“Ｌ”レベルに切り換える。すると、第３のカウンタ２
５のイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”レベルとなるため、
第３のカウンタ２５がシステムクロックのカウントを開
始し、常にそのカウント値を第３のレジスタ２６に設定
のカウントアップ値（３９０）と比較し、カウントアッ
プするまでは出力端子Ｏを“Ｈ”レベルの状態に保って
いる。第３のカウンタ２５のカウント値がカウントアッ
プ値に達すると、その出力端子Ｏを“Ｌ”レベルに切り
換える。第３のカウンタ２５の出力端子ＯはＣＰＵ１１
のインタラプト端子／ＩＮＴに接続されており、これが
“Ｌ”レベルに反転するためＣＰＵ１１に割り込みがか
かる。
１のカウンタ２１はイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”にな
った瞬間からシステムクロックのカウントを開始し、常
にそのカウント値を第１のレジスタ２２に設定のカウン
トアップ値（６５０）と比較し、カウントアップするま
では出力端子Ｏを“Ｈ”レベルの状態に保っている。第
１のカウンタ２１のカウント値がカウントアップ値に達
すると、その出力端子Ｏを“Ｌ”レベルに切り換えるた
め、第２のカウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮが
“Ｌ”となり、第２のカウンタ２３がラインパルスＬＰ
のカウントを開始する。一般的には、イネーブル端子／
ＥＮが“Ｌ”となった瞬間にはラインパルスＬＰの入力
はなく、しばらく時間がたってからラインパルスＬＰが
入力され、第２のカウンタ２３のカウント値が“１”と
なり、第２のレジスタ２４に設定のカウントアップ値と
一致すると（ということは結局、ラインパルスＬＰが１
つ入力されると）、その出力端子Ｏを“Ｈ”レベルから
“Ｌ”レベルに切り換える。すると、第３のカウンタ２
５のイネーブル端子／ＥＮが“Ｌ”レベルとなるため、
第３のカウンタ２５がシステムクロックのカウントを開
始し、常にそのカウント値を第３のレジスタ２６に設定
のカウントアップ値（３９０）と比較し、カウントアッ
プするまでは出力端子Ｏを“Ｈ”レベルの状態に保って
いる。第３のカウンタ２５のカウント値がカウントアッ
プ値に達すると、その出力端子Ｏを“Ｌ”レベルに切り
換える。第３のカウンタ２５の出力端子ＯはＣＰＵ１１
のインタラプト端子／ＩＮＴに接続されており、これが
“Ｌ”レベルに反転するためＣＰＵ１１に割り込みがか
かる。
【００４５】すなわち、ステップＳ５１において割り込
みを検出すると、ＣＰＵ１１はホールト状態から動作を
再開し、ステップＳ５２に進んでＡ／Ｄコンバータ１８
のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレッ
ト１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナ
ログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換
し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ
１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標
測定を行う。
みを検出すると、ＣＰＵ１１はホールト状態から動作を
再開し、ステップＳ５２に進んでＡ／Ｄコンバータ１８
のＡ／Ｄ変換動作をスタートさせることによりタブレッ
ト１７からＡ／Ｄコンバータ１８に出力されているアナ
ログのＸ座標信号・Ｙ座標信号をデジタルデータに変換
し、その変換後のＸ座標データ・Ｙ座標データをＣＰＵ
１１に取り込んでペン等により圧迫された指示点の座標
測定を行う。
【００４６】本実施の形態４によれば、ＣＰＵ１１は第
１のカウンタ２１のイネーブル端子／ＥＮをアクティブ
にした後は次に割り込みがかかるまでホールト（停止）
できるから、電力消費を抑えることができる。
１のカウンタ２１のイネーブル端子／ＥＮをアクティブ
にした後は次に割り込みがかかるまでホールト（停止）
できるから、電力消費を抑えることができる。
【００４７】また、液晶タブレット装置の機種が変更に
なったり仕様が変更になったときでも、それぞれの機種
・仕様に合わせて、カウントアップ値を計算し、プログ
ラムに組み込んでおけば、様々の機種・仕様に汎用的に
対応することができる。
なったり仕様が変更になったときでも、それぞれの機種
・仕様に合わせて、カウントアップ値を計算し、プログ
ラムに組み込んでおけば、様々の機種・仕様に汎用的に
対応することができる。
【００４８】タブレット測定回路のトランジスタとして
安定時間が比較的に長い安価なものを採用した場合に
は、第１のレジスタ２２に設定するカウントアップ値を
より大きく設定すればよい。逆に安定時間が短いトラン
ジスタを採用したときはより小さなカウントアップ値を
設定することで待ち時間を短縮化するとよい。また、ノ
イズが立ち上がってからゼロレベルに減衰するまでの時
間が長い機種・仕様においては、第３のレジスタ２６に
設定するカウントアップ値をより大きく設定し、その減
衰の時間が短い機種・仕様においては、カウントアップ
値をより小さく設定すればよい。このように機種・仕様
が変更になり、トランジスタの安定時間やノイズの持続
時間が変化しても、それぞれに最適なカウントアップ値
を設定することができる。
安定時間が比較的に長い安価なものを採用した場合に
は、第１のレジスタ２２に設定するカウントアップ値を
より大きく設定すればよい。逆に安定時間が短いトラン
ジスタを採用したときはより小さなカウントアップ値を
設定することで待ち時間を短縮化するとよい。また、ノ
イズが立ち上がってからゼロレベルに減衰するまでの時
間が長い機種・仕様においては、第３のレジスタ２６に
設定するカウントアップ値をより大きく設定し、その減
衰の時間が短い機種・仕様においては、カウントアップ
値をより小さく設定すればよい。このように機種・仕様
が変更になり、トランジスタの安定時間やノイズの持続
時間が変化しても、それぞれに最適なカウントアップ値
を設定することができる。
【００４９】なお、本実施の形態の変形として、第３の
レジスタ２６および第３のカウンタ２５を省略するもの
が考えられる。この場合、第２のカウンタ２３の出力端
子ＯをＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接続す
るものとする。そして、制御フローとして、図７のステ
ップＳ５１とステップＳ５２との間に、図５のステップ
Ｓ３６と同様に一定時間Ｔ1 のアイドリングを行うステ
ップを挿入すればよい。このアイドリングの時間Ｔ1 は
ラインパルスＬＰがアクティブになったことに起因する
相対的に小さいノイズの減衰を待つだけの時間で、第３
のカウンタ２５のカウントアップに要する時間と同じく
３０μｓｅｃである。
レジスタ２６および第３のカウンタ２５を省略するもの
が考えられる。この場合、第２のカウンタ２３の出力端
子ＯをＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接続す
るものとする。そして、制御フローとして、図７のステ
ップＳ５１とステップＳ５２との間に、図５のステップ
Ｓ３６と同様に一定時間Ｔ1 のアイドリングを行うステ
ップを挿入すればよい。このアイドリングの時間Ｔ1 は
ラインパルスＬＰがアクティブになったことに起因する
相対的に小さいノイズの減衰を待つだけの時間で、第３
のカウンタ２５のカウントアップに要する時間と同じく
３０μｓｅｃである。
【００５０】また、機種・仕様の変更に対応しないので
あれば、ＣＰＵ１１から各レジスタへのカウントアップ
値の設定の動作は必要ないし、さらには各レジスタを省
略して、各カウンタとしてカウントアップ値内蔵の専用
カウンタを使用するようにしてもよい。
あれば、ＣＰＵ１１から各レジスタへのカウントアップ
値の設定の動作は必要ないし、さらには各レジスタを省
略して、各カウンタとしてカウントアップ値内蔵の専用
カウンタを使用するようにしてもよい。
【００５１】〔実施の形態５〕実施の形態５は液晶ディ
スプレイコントロール回路１４および液晶ディスプレイ
１５が駆動されておらず、したがってラインパルスＬＰ
が出力されていない状態でも、タブレット１７をペン等
により圧迫して指示したときには座標測定の処理を行え
るようにしたものである。すなわち、図６のハードウェ
ア構成であると、第２のカウンタ２３にラインパルスＬ
Ｐが入力されてこない場合には、いくら時間待ちをして
も第２のカウンタ２３の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切
り換わらず、したがって第３のカウンタ２５もいくら時
間待ちをしてもその出力端子Ｏは“Ｌ”レベルに切り換
わることがなく、ＣＰＵ１１に対して割り込みがかから
ないことになる。実施の形態５はこのような不都合を解
消するものである。
スプレイコントロール回路１４および液晶ディスプレイ
１５が駆動されておらず、したがってラインパルスＬＰ
が出力されていない状態でも、タブレット１７をペン等
により圧迫して指示したときには座標測定の処理を行え
るようにしたものである。すなわち、図６のハードウェ
ア構成であると、第２のカウンタ２３にラインパルスＬ
Ｐが入力されてこない場合には、いくら時間待ちをして
も第２のカウンタ２３の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切
り換わらず、したがって第３のカウンタ２５もいくら時
間待ちをしてもその出力端子Ｏは“Ｌ”レベルに切り換
わることがなく、ＣＰＵ１１に対して割り込みがかから
ないことになる。実施の形態５はこのような不都合を解
消するものである。
【００５２】実施の形態５を図８のブロック図を用いて
説明する。２８はシステムクロックをカウントする第４
のカウンタ、２９は第４のカウンタ２８のカウントアッ
プ値を設定するための第４のレジスタ、３０は第２のカ
ウンタ２３の出力端子Ｏと第４のカウンタ２８の出力端
子Ｏとをその２入力端子に接続し、その出力端子を次段
の第３のカウンタ２５のイネーブル端子／ＥＮに接続す
るＡＮＤゲートである。第４のカウンタ２８のイネーブ
ル端子／ＥＮは第２のカウンタ２３のイネーブル端子／
ＥＮとともに前段の第１のカウンタ２１の出力端子Ｏに
接続されている。その他の構成は実施の形態４（図６）
と同様であるので、対応する部分に同一符号を付すにと
どめ、説明を省略する。
説明する。２８はシステムクロックをカウントする第４
のカウンタ、２９は第４のカウンタ２８のカウントアッ
プ値を設定するための第４のレジスタ、３０は第２のカ
ウンタ２３の出力端子Ｏと第４のカウンタ２８の出力端
子Ｏとをその２入力端子に接続し、その出力端子を次段
の第３のカウンタ２５のイネーブル端子／ＥＮに接続す
るＡＮＤゲートである。第４のカウンタ２８のイネーブ
ル端子／ＥＮは第２のカウンタ２３のイネーブル端子／
ＥＮとともに前段の第１のカウンタ２１の出力端子Ｏに
接続されている。その他の構成は実施の形態４（図６）
と同様であるので、対応する部分に同一符号を付すにと
どめ、説明を省略する。
【００５３】ラインパルスＬＰの周期が例えば１００μ
ｓｅｃとして、その間に生じるシステムクロックの数を
計算すると、 １００×１０-6÷（１／１３×１０6）＝１３００ であるから、第４のレジスタ２９に例えば“１４００”
を設定するものとする。
ｓｅｃとして、その間に生じるシステムクロックの数を
計算すると、 １００×１０-6÷（１／１３×１０6）＝１３００ であるから、第４のレジスタ２９に例えば“１４００”
を設定するものとする。
【００５４】第２のカウンタ２３は第１のカウンタ２１
の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わった瞬間からラ
インパルスＬＰのカウントを開始する。第４のカウンタ
２８は第１のカウンタ２１の出力端子Ｏが“Ｌ”レベル
に切り換わった瞬間からシステムクロックのカウンタを
開始する。第２のカウンタ２３および第４のカウンタ２
８がカウントアップせず、それぞれの出力端子Ｏが
“Ｈ”レベルのときはＡＮＤゲート３０の出力も“Ｈ”
レベルであり、第３のカウンタ２５のイネーブル端子／
ＥＮが“Ｈ”であるため、第３のカウンタ２５は起動し
ない。ラインパルスＬＰをカウントする第２のカウンタ
２３は、液晶ディスプレイコントロール回路１４および
液晶ディスプレイ１５が動作しておらず、したがってラ
インパルスＬＰが入力されてこないときはカウントアッ
プすることがなく、第２のカウンタ２３の出力端子Ｏは
“Ｈ”レベルのままとなる。しかし、第４のカウンタ２
８はシステムクロックをカウントし、やがてそのカウン
ト値が第４のレジスタ２９に設定のカウントアップ値に
達することとなり、そうすると第４のカウンタ２８の出
力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わるため、ＡＮＤゲー
ト３０の出力が“Ｌ”となって第３のカウンタ２５を起
動する。すなわち、液晶ディスプレイ１５が非動作の状
態でもタブレット１７をペン等で圧迫して指示すると、
その指示点の座標測定の処理が実行されるのである。こ
のような機能により、電子手帳などの携帯情報処理機器
において、液晶ディスプレイ１５のＯＦＦ状態で例えば
電卓の表示領域を指示して、その表示領域を表示させる
といった利用が考えられる。
の出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わった瞬間からラ
インパルスＬＰのカウントを開始する。第４のカウンタ
２８は第１のカウンタ２１の出力端子Ｏが“Ｌ”レベル
に切り換わった瞬間からシステムクロックのカウンタを
開始する。第２のカウンタ２３および第４のカウンタ２
８がカウントアップせず、それぞれの出力端子Ｏが
“Ｈ”レベルのときはＡＮＤゲート３０の出力も“Ｈ”
レベルであり、第３のカウンタ２５のイネーブル端子／
ＥＮが“Ｈ”であるため、第３のカウンタ２５は起動し
ない。ラインパルスＬＰをカウントする第２のカウンタ
２３は、液晶ディスプレイコントロール回路１４および
液晶ディスプレイ１５が動作しておらず、したがってラ
インパルスＬＰが入力されてこないときはカウントアッ
プすることがなく、第２のカウンタ２３の出力端子Ｏは
“Ｈ”レベルのままとなる。しかし、第４のカウンタ２
８はシステムクロックをカウントし、やがてそのカウン
ト値が第４のレジスタ２９に設定のカウントアップ値に
達することとなり、そうすると第４のカウンタ２８の出
力端子Ｏが“Ｌ”レベルに切り換わるため、ＡＮＤゲー
ト３０の出力が“Ｌ”となって第３のカウンタ２５を起
動する。すなわち、液晶ディスプレイ１５が非動作の状
態でもタブレット１７をペン等で圧迫して指示すると、
その指示点の座標測定の処理が実行されるのである。こ
のような機能により、電子手帳などの携帯情報処理機器
において、液晶ディスプレイ１５のＯＦＦ状態で例えば
電卓の表示領域を指示して、その表示領域を表示させる
といった利用が考えられる。
【００５５】〔実施の形態６〕実施の形態６は図６にお
ける交流化信号反転検出回路２７を使用するものであ
り、これは実施の形態３（図５）の場合の処理（ライン
パルスＬＰがアクティブになったとしても、交流化信号
Ｍが反転したタイミングであるのなら、座標測定の処理
に進まないようにする）をハードウェアで実現するもの
である。
ける交流化信号反転検出回路２７を使用するものであ
り、これは実施の形態３（図５）の場合の処理（ライン
パルスＬＰがアクティブになったとしても、交流化信号
Ｍが反転したタイミングであるのなら、座標測定の処理
に進まないようにする）をハードウェアで実現するもの
である。
【００５６】ラインパルスＬＰを第２のカウンタ２３で
カウントしているとき、あるいは第３のカウンタ２５が
システムクロックをカウントしているとき、交流化信号
Ｍが反転したとする。すると、交流化信号反転検出回路
２７がその反転を検出し、その出力端子Ｃを“Ｌ”レベ
ルに切り換え、第２のカウンタ２３および第３のカウン
タ２５のリセット端子／Ｒに入力するので、両カウンタ
２３，２５をリセットする。両カウンタ２３，２５は
“０”からのカウントをリスタートすることになる。第
３のカウンタ２５がカウントアップし座標測定の処理が
開始されるのは、交流化信号反転検出回路２７が交流化
信号Ｍの反転を検出しない場合に限られることになる。
したがって、ラインパルスＬＰがアクティブになっても
交流化信号Ｍが反転したときには座標測定の処理に移ら
ないため、交流化信号Ｍの反転に起因した大きなノイズ
による座標測定の誤差の影響を受けないですむ。
カウントしているとき、あるいは第３のカウンタ２５が
システムクロックをカウントしているとき、交流化信号
Ｍが反転したとする。すると、交流化信号反転検出回路
２７がその反転を検出し、その出力端子Ｃを“Ｌ”レベ
ルに切り換え、第２のカウンタ２３および第３のカウン
タ２５のリセット端子／Ｒに入力するので、両カウンタ
２３，２５をリセットする。両カウンタ２３，２５は
“０”からのカウントをリスタートすることになる。第
３のカウンタ２５がカウントアップし座標測定の処理が
開始されるのは、交流化信号反転検出回路２７が交流化
信号Ｍの反転を検出しない場合に限られることになる。
したがって、ラインパルスＬＰがアクティブになっても
交流化信号Ｍが反転したときには座標測定の処理に移ら
ないため、交流化信号Ｍの反転に起因した大きなノイズ
による座標測定の誤差の影響を受けないですむ。
【００５７】〔実施の形態７〕実施の形態７はＣＰＵ１
１のホールト時間をより長くするものである。図６にお
ける第３のカウンタ２５の出力端子ＯをＣＰＵ１１のイ
ンタラプト端子／ＩＮＴに接続することに代えて、図９
に示すようにＡ／Ｄコンバータ１８のスタート端子／Ｓ
ＴＡＲＴに接続し、Ａ／Ｄコンバータ１８のエンド端子
／ＥＮＤをＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接
続してある。Ａ／Ｄコンバータ１８のデータ入力端子は
タブレット１７の出力端子に接続され、データ出力端子
はＣＰＵ１１のデータ入力ポートに接続されている。そ
の他の構成は実施の形態４（図６）と同様であるので、
対応する部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略す
る。
１のホールト時間をより長くするものである。図６にお
ける第３のカウンタ２５の出力端子ＯをＣＰＵ１１のイ
ンタラプト端子／ＩＮＴに接続することに代えて、図９
に示すようにＡ／Ｄコンバータ１８のスタート端子／Ｓ
ＴＡＲＴに接続し、Ａ／Ｄコンバータ１８のエンド端子
／ＥＮＤをＣＰＵ１１のインタラプト端子／ＩＮＴに接
続してある。Ａ／Ｄコンバータ１８のデータ入力端子は
タブレット１７の出力端子に接続され、データ出力端子
はＣＰＵ１１のデータ入力ポートに接続されている。そ
の他の構成は実施の形態４（図６）と同様であるので、
対応する部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略す
る。
【００５８】ＣＰＵ１１は第１のカウンタ２１を起動し
た後はホールト状態になっている。第３のカウンタ２５
がカウントアップしてその出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに
切り換わると、Ａ／Ｄコンバータ１８のスタート端子／
ＳＴＡＲＴが“Ｌ”レベルとなってＡ／Ｄコンバータ１
８が起動し、タブレット１７から入力したアナログのＸ
座標信号・Ｙ座標信号をデジタルのＸ座標データ・Ｙ座
標データに変換する動作がスタートする。変換されたＸ
座標データ・Ｙ座標データはＣＰＵ１１に送出される。
このＡ／Ｄ変換が終了すると、エンド端子／ＥＮＤが
“Ｌ”レベルに切り換わり、ＣＰＵ１１のインタラプト
端子／ＩＮＴに割り込みがかかる。
た後はホールト状態になっている。第３のカウンタ２５
がカウントアップしてその出力端子Ｏが“Ｌ”レベルに
切り換わると、Ａ／Ｄコンバータ１８のスタート端子／
ＳＴＡＲＴが“Ｌ”レベルとなってＡ／Ｄコンバータ１
８が起動し、タブレット１７から入力したアナログのＸ
座標信号・Ｙ座標信号をデジタルのＸ座標データ・Ｙ座
標データに変換する動作がスタートする。変換されたＸ
座標データ・Ｙ座標データはＣＰＵ１１に送出される。
このＡ／Ｄ変換が終了すると、エンド端子／ＥＮＤが
“Ｌ”レベルに切り換わり、ＣＰＵ１１のインタラプト
端子／ＩＮＴに割り込みがかかる。
【００５９】本実施の形態７によれば、Ａ／Ｄコンバー
タ１８のＡ／Ｄ変換動作が終了するまでＣＰＵ１１をホ
ールトすることができるので、電力消費をより削減する
ことができる。また、ＣＰＵ１１のホールト状態でＡ／
Ｄ変換するので、ノイズがより少ない状態でのＡ／Ｄ変
換が可能となり、精度がアップする。
タ１８のＡ／Ｄ変換動作が終了するまでＣＰＵ１１をホ
ールトすることができるので、電力消費をより削減する
ことができる。また、ＣＰＵ１１のホールト状態でＡ／
Ｄ変換するので、ノイズがより少ない状態でのＡ／Ｄ変
換が可能となり、精度がアップする。
【００６０】〔実施の形態８〕実施の形態８はタブレッ
ト測定回路のトランジスタの安定時間をカウントするた
めの第１のカウンタ２１を省略し、第１のカウンタ２１
の機能を第２のカウンタ２３に併せもたせるものであ
る。
ト測定回路のトランジスタの安定時間をカウントするた
めの第１のカウンタ２１を省略し、第１のカウンタ２１
の機能を第２のカウンタ２３に併せもたせるものであ
る。
【００６１】システムクロックＣＬＫが例えば１３ＭＨ
ｚ、タブレット測定回路のトランジスタの安定時間が例
えば５０μｓｅｃであるとした場合、第１のレジスタ２
２に設定するカウントアップ値は、 ５０×１０-6÷（１／１３×１０6）＝６５０ であった。
ｚ、タブレット測定回路のトランジスタの安定時間が例
えば５０μｓｅｃであるとした場合、第１のレジスタ２
２に設定するカウントアップ値は、 ５０×１０-6÷（１／１３×１０6）＝６５０ であった。
【００６２】２9＝５１２＜６５０＜２10＝１０２４ より、第１のカウンタ２１を構成するフリップフロップ
の数は１０個となり、第１のカウンタ２１は比較的に複
雑なものとなる。また、第１のレジスタ２２も必要であ
る。
の数は１０個となり、第１のカウンタ２１は比較的に複
雑なものとなる。また、第１のレジスタ２２も必要であ
る。
【００６３】トランジスタの安定時間５０μｓｅｃはラ
インパルスＬＰの周期１００μｓｅｃ内のものとなるか
ら、５０μｓｅｃを１３ＭＨｚのクロックの６５０カウ
ントで計測することに代えて、ラインパルスＬＰを１つ
余分にカウントすればよい。そこで、第２のレジスタ２
４にカウントアップ値として“２”を設定するようにす
る。第２のカウンタ２３を構成するフリップフロップは
２個でよい。
インパルスＬＰの周期１００μｓｅｃ内のものとなるか
ら、５０μｓｅｃを１３ＭＨｚのクロックの６５０カウ
ントで計測することに代えて、ラインパルスＬＰを１つ
余分にカウントすればよい。そこで、第２のレジスタ２
４にカウントアップ値として“２”を設定するようにす
る。第２のカウンタ２３を構成するフリップフロップは
２個でよい。
【００６４】実施の形態８の場合、図６の構成におい
て、第１のカウンタ２１と第１のレジスタ２２を省略
し、ＣＰＵ１１からのイネーブル信号ＯＥＮを第２のカ
ウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮに入力するように構
成すればよい。
て、第１のカウンタ２１と第１のレジスタ２２を省略
し、ＣＰＵ１１からのイネーブル信号ＯＥＮを第２のカ
ウンタ２３のイネーブル端子／ＥＮに入力するように構
成すればよい。
【００６５】〔実施の形態９〕実施の形態９はペン等に
よるタブレット１７上の所望の点の指示のための圧迫が
不充分な状態での座標測定を回避し、座標測定精度を向
上させるものである。
よるタブレット１７上の所望の点の指示のための圧迫が
不充分な状態での座標測定を回避し、座標測定精度を向
上させるものである。
【００６６】図１０のフローチャートに基づいて制御動
作を説明する。タブレット１７に対してペン等により所
望の点を圧迫して指示点を指定する。この圧迫によりタ
ブレット１７を構成する２枚の導電膜が指示点において
接触する。この接触抵抗が所定値かどうかでタブレット
１７に対する押し圧が測定される。Ｘ方向に電圧勾配を
作る導電膜とＹ方向に電圧勾配を作る導電膜とは別であ
る。押し圧も各導電膜ごとに測定される。この場合に、
Ｘ方向に電圧勾配を作る導電膜での押し圧の測定を「Ｘ
方向の押し圧」と称し、Ｙ方向に電圧勾配を作る導電膜
での押し圧の測定を「Ｙ方向の押し圧」と称することと
する。
作を説明する。タブレット１７に対してペン等により所
望の点を圧迫して指示点を指定する。この圧迫によりタ
ブレット１７を構成する２枚の導電膜が指示点において
接触する。この接触抵抗が所定値かどうかでタブレット
１７に対する押し圧が測定される。Ｘ方向に電圧勾配を
作る導電膜とＹ方向に電圧勾配を作る導電膜とは別であ
る。押し圧も各導電膜ごとに測定される。この場合に、
Ｘ方向に電圧勾配を作る導電膜での押し圧の測定を「Ｘ
方向の押し圧」と称し、Ｙ方向に電圧勾配を作る導電膜
での押し圧の測定を「Ｙ方向の押し圧」と称することと
する。
【００６７】ステップＳ６１においてタブレット１７に
対するＸ方向の押し圧Ｐ1 の測定を行い、ステップＳ６
２において押し圧Ｐ1 が所定値Ｐ0 以上あってタブレッ
ト１７に対する圧迫が正常か否かを判断し、所定値Ｐ0
未満であればステップＳ６８に進んでタブレット１７が
正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了す
る。Ｘ方向の押し圧Ｐ1 が所定値Ｐ0 以上あるときはス
テップＳ６３に進み、タブレット１７における指示点の
Ｘ座標を測定する。引き続いてステップＳ６４において
タブレット１７における指示点のＹ座標を測定し、その
あとでステップＳ６５においてタブレット１７に対する
Ｙ方向の押し圧Ｐ2 の測定を行い、ステップＳ６６にお
いて押し圧Ｐ2 が所定値Ｐ0 以上あるか否かを判断し、
所定値Ｐ0未満であればステップＳ６８に進んでタブレ
ット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作
を終了するが、Ｙ方向の押し圧Ｐ2 が所定値Ｐ0 以上あ
るときはステップＳ６７に進み、タブレット１７が正常
に押し操作された状態で指示点のＸ座標・Ｙ座標が正し
く測定されたものと判定する。
対するＸ方向の押し圧Ｐ1 の測定を行い、ステップＳ６
２において押し圧Ｐ1 が所定値Ｐ0 以上あってタブレッ
ト１７に対する圧迫が正常か否かを判断し、所定値Ｐ0
未満であればステップＳ６８に進んでタブレット１７が
正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了す
る。Ｘ方向の押し圧Ｐ1 が所定値Ｐ0 以上あるときはス
テップＳ６３に進み、タブレット１７における指示点の
Ｘ座標を測定する。引き続いてステップＳ６４において
タブレット１７における指示点のＹ座標を測定し、その
あとでステップＳ６５においてタブレット１７に対する
Ｙ方向の押し圧Ｐ2 の測定を行い、ステップＳ６６にお
いて押し圧Ｐ2 が所定値Ｐ0 以上あるか否かを判断し、
所定値Ｐ0未満であればステップＳ６８に進んでタブレ
ット１７が正常に押し操作されていないと判定し、動作
を終了するが、Ｙ方向の押し圧Ｐ2 が所定値Ｐ0 以上あ
るときはステップＳ６７に進み、タブレット１７が正常
に押し操作された状態で指示点のＸ座標・Ｙ座標が正し
く測定されたものと判定する。
【００６８】従来の一般的な手順は、Ｘ方向押し圧測
定→Ｘ座標測定→Ｙ方向押し圧測定→Ｙ座標測定
の順であったが、この場合、のＹ座標測定の時点でＹ
方向押し圧が不足する状態になっている可能性があり、
Ｙ座標測定の精度の信頼性が低いという問題があった。
定→Ｘ座標測定→Ｙ方向押し圧測定→Ｙ座標測定
の順であったが、この場合、のＹ座標測定の時点でＹ
方向押し圧が不足する状態になっている可能性があり、
Ｙ座標測定の精度の信頼性が低いという問題があった。
【００６９】これに対し、本実施の形態９のように、Ｙ
座標測定の後にＹ方向の押し圧Ｐ2を測定して押し圧が
正常のときは全体として正常な測定が行われたと判定
し、押し圧が不足するときは測定は正常でないと判定す
るから、Ｘ座標・Ｙ座標ともに測定の信頼性が高いもの
となる。
座標測定の後にＹ方向の押し圧Ｐ2を測定して押し圧が
正常のときは全体として正常な測定が行われたと判定
し、押し圧が不足するときは測定は正常でないと判定す
るから、Ｘ座標・Ｙ座標ともに測定の信頼性が高いもの
となる。
【００７０】なお、ステップＳ６８の次にステップＳ６
１に戻って、測定を繰り返すようにしてもよい。
１に戻って、測定を繰り返すようにしてもよい。
【００７１】〔実施の形態１０〕実施の形態１０もペン
等によるタブレット１７上の所望の点の指示のための圧
迫が不充分な状態での座標測定を回避し、座標測定精度
を向上させるものである。
等によるタブレット１７上の所望の点の指示のための圧
迫が不充分な状態での座標測定を回避し、座標測定精度
を向上させるものである。
【００７２】図１１のフローチャートに基づいて制御動
作を説明する。ステップＳ７１においてタブレット１７
に対するＸ方向の押し圧Ｐ1 の測定を行い、ステップＳ
７２において押し圧Ｐ1 が所定値Ｐ0 以上あってタブレ
ット１７に対する圧迫が正常か否かを判断し、所定値Ｐ
0 未満であればステップＳ８２に進んでタブレット１７
が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了す
る。Ｘ方向の押し圧Ｐ1 が所定値Ｐ0 以上あるときはス
テップＳ７３に進み、今度はＹ方向の押し圧Ｐ2 の測定
を行い、ステップＳ７４において押し圧Ｐ2 が所定値Ｐ
0 以上か否かを判断し、所定値Ｐ0 未満であればステッ
プＳ８２に進んでタブレット１７が正常に押し操作され
ていないと判定し、動作を終了する。Ｙ方向の押し圧Ｐ
2 が所定値Ｐ0 以上あるときはステップＳ７５に進み、
タブレット１７における指示点のＸ座標を測定し、引き
続いてステップＳ７６においてタブレット１７における
指示点のＹ座標を測定する。そして、再びステップＳ７
７においてＸ方向の押し圧Ｐ1 の測定を行い、ステップ
Ｓ７８において押し圧Ｐ1 が所定値Ｐ0 以上あるか否か
を判断し、所定値Ｐ0 未満であればステップＳ８２に進
んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判
定し、動作を終了するが、所定値Ｐ0 以上あればステッ
プＳ７９に進んでＹ方向の押し圧Ｐ2 の測定を行い、ス
テップＳ８０において押し圧Ｐ2 が所定値Ｐ0 以上ある
か否かを判断し、所定値Ｐ0 未満であればステップＳ８
２に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていな
いと判定し、動作を終了するが、所定値Ｐ0 以上あれば
ステップＳ８１に進んでタブレット１７が正常に押し操
作された状態で指示点のＸ座標・Ｙ座標が正しく測定さ
れたものと判定する。
作を説明する。ステップＳ７１においてタブレット１７
に対するＸ方向の押し圧Ｐ1 の測定を行い、ステップＳ
７２において押し圧Ｐ1 が所定値Ｐ0 以上あってタブレ
ット１７に対する圧迫が正常か否かを判断し、所定値Ｐ
0 未満であればステップＳ８２に進んでタブレット１７
が正常に押し操作されていないと判定し、動作を終了す
る。Ｘ方向の押し圧Ｐ1 が所定値Ｐ0 以上あるときはス
テップＳ７３に進み、今度はＹ方向の押し圧Ｐ2 の測定
を行い、ステップＳ７４において押し圧Ｐ2 が所定値Ｐ
0 以上か否かを判断し、所定値Ｐ0 未満であればステッ
プＳ８２に進んでタブレット１７が正常に押し操作され
ていないと判定し、動作を終了する。Ｙ方向の押し圧Ｐ
2 が所定値Ｐ0 以上あるときはステップＳ７５に進み、
タブレット１７における指示点のＸ座標を測定し、引き
続いてステップＳ７６においてタブレット１７における
指示点のＹ座標を測定する。そして、再びステップＳ７
７においてＸ方向の押し圧Ｐ1 の測定を行い、ステップ
Ｓ７８において押し圧Ｐ1 が所定値Ｐ0 以上あるか否か
を判断し、所定値Ｐ0 未満であればステップＳ８２に進
んでタブレット１７が正常に押し操作されていないと判
定し、動作を終了するが、所定値Ｐ0 以上あればステッ
プＳ７９に進んでＹ方向の押し圧Ｐ2 の測定を行い、ス
テップＳ８０において押し圧Ｐ2 が所定値Ｐ0 以上ある
か否かを判断し、所定値Ｐ0 未満であればステップＳ８
２に進んでタブレット１７が正常に押し操作されていな
いと判定し、動作を終了するが、所定値Ｐ0 以上あれば
ステップＳ８１に進んでタブレット１７が正常に押し操
作された状態で指示点のＸ座標・Ｙ座標が正しく測定さ
れたものと判定する。
【００７３】つまり、Ｘ方向の押し圧Ｐ1 の測定とＹ方
向の押し圧Ｐ2 の測定とを対にして連続して実行し、次
に、指示点のＸ座標の測定とＹ座標の測定とを対にして
連続して実行し、最後に念をいれてもう一度Ｘ方向の押
し圧Ｐ1 の測定とＹ方向の押し圧Ｐ2 の測定とを対にし
て連続して実行している。
向の押し圧Ｐ2 の測定とを対にして連続して実行し、次
に、指示点のＸ座標の測定とＹ座標の測定とを対にして
連続して実行し、最後に念をいれてもう一度Ｘ方向の押
し圧Ｐ1 の測定とＹ方向の押し圧Ｐ2 の測定とを対にし
て連続して実行している。
【００７４】本実施の形態１０においては、Ｘ方向の押
し圧Ｐ1 の測定とＹ方向の押し圧Ｐ2 の測定とを２回ず
つ行うが、換言すると、指示点のＸ座標・Ｙ座標の測定
の前後にＸ方向・Ｙ方向の押し圧Ｐ1 ，Ｐ2 の測定をは
さむようにして実行するから、測定に時間がかかって
も、タブレット１７に対する押し操作の状態がきわめて
正常である条件下でＸ座標・Ｙ座標を測定するので、そ
の測定の信頼性が充分に高いものとなる。
し圧Ｐ1 の測定とＹ方向の押し圧Ｐ2 の測定とを２回ず
つ行うが、換言すると、指示点のＸ座標・Ｙ座標の測定
の前後にＸ方向・Ｙ方向の押し圧Ｐ1 ，Ｐ2 の測定をは
さむようにして実行するから、測定に時間がかかって
も、タブレット１７に対する押し操作の状態がきわめて
正常である条件下でＸ座標・Ｙ座標を測定するので、そ
の測定の信頼性が充分に高いものとなる。
【００７５】なお、ステップＳ８２の次にステップＳ７
１に戻って、測定を繰り返すようにしてもよい。
１に戻って、測定を繰り返すようにしてもよい。
【００７６】
【発明の効果】本発明に係る請求項１の液晶タブレット
装置によれば、一定時間を待つ基点を周期の長い交流化
信号のエッジのタイミングとするのではなく、周期が短
いラインパルスのアクティブのタイミングを基点として
いるので、Ｘ座標信号・Ｙ座標信号のＡ／Ｄ変換動作を
スタートさせるまでの待ち時間が短くなり、タブレット
に対する入力座標点の測定に要する実時間を短縮化する
ことができる。さらに、根本的には、交流化信号のエッ
ジに起因したノイズの悪影響だけでなくラインパルスの
アクティブ化に起因したノイズの悪影響をも回避するこ
とができる。
装置によれば、一定時間を待つ基点を周期の長い交流化
信号のエッジのタイミングとするのではなく、周期が短
いラインパルスのアクティブのタイミングを基点として
いるので、Ｘ座標信号・Ｙ座標信号のＡ／Ｄ変換動作を
スタートさせるまでの待ち時間が短くなり、タブレット
に対する入力座標点の測定に要する実時間を短縮化する
ことができる。さらに、根本的には、交流化信号のエッ
ジに起因したノイズの悪影響だけでなくラインパルスの
アクティブ化に起因したノイズの悪影響をも回避するこ
とができる。
【００７７】本発明に係る請求項２の液晶タブレット装
置によれば、タブレット測定回路を起動した後において
トランジスタなどのスイッチング素子が安定化してから
座標測定の処理を開始するので、周期の短いラインパル
スがアクティブになったタイミングを一定時間の待ちの
基点としているにもかかわらず、ノイズの悪影響を回避
して座標測定精度を高い状態に保つことができる。
置によれば、タブレット測定回路を起動した後において
トランジスタなどのスイッチング素子が安定化してから
座標測定の処理を開始するので、周期の短いラインパル
スがアクティブになったタイミングを一定時間の待ちの
基点としているにもかかわらず、ノイズの悪影響を回避
して座標測定精度を高い状態に保つことができる。
【００７８】本発明に係る請求項３の液晶タブレット装
置によれば、交流化信号が反転したタイミングでは座標
測定の処理を避けるから、交流化信号の反転に起因した
大きなノイズによる座標測定の誤差の影響を受けないで
すむ。また、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートするの
を待つ一定時間として、ラインパルスがアクティブにな
ったことに起因する相対的に小さいノイズが減衰するの
を待つより短い時間を設定すことが可能となり、早めに
Ａ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次のラインパ
ルスがアクティブになるまでの間の時間が長く、その時
間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
置によれば、交流化信号が反転したタイミングでは座標
測定の処理を避けるから、交流化信号の反転に起因した
大きなノイズによる座標測定の誤差の影響を受けないで
すむ。また、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートするの
を待つ一定時間として、ラインパルスがアクティブにな
ったことに起因する相対的に小さいノイズが減衰するの
を待つより短い時間を設定すことが可能となり、早めに
Ａ／Ｄ変換を済ませることができ、また、次のラインパ
ルスがアクティブになるまでの間の時間が長く、その時
間内に確実にＡ／Ｄ変換を完了させることができる。
【００７９】本発明に係る請求項４の液晶タブレット装
置によれば、ノイズが減衰するまでの時間をカウントす
るカウンタがカウントアップするまではＣＰＵをホール
トさせておくので、電力消費を抑えることができる。
置によれば、ノイズが減衰するまでの時間をカウントす
るカウンタがカウントアップするまではＣＰＵをホール
トさせておくので、電力消費を抑えることができる。
【００８０】本発明に係る請求項５の液晶タブレット装
置によれば、タブレット測定回路を起動した後において
トランジスタなどのスイッチング素子が安定化してから
座標測定の処理を開始するので、周期の短いラインパル
スがアクティブになったタイミングを一定時間の待ちの
基点としているにもかかわらず、ノイズの悪影響を回避
して座標測定精度を高い状態に保つことができる。ま
た、ＣＰＵのホールト開始のタイミングが早く、電力消
費をよりよく抑制する。
置によれば、タブレット測定回路を起動した後において
トランジスタなどのスイッチング素子が安定化してから
座標測定の処理を開始するので、周期の短いラインパル
スがアクティブになったタイミングを一定時間の待ちの
基点としているにもかかわらず、ノイズの悪影響を回避
して座標測定精度を高い状態に保つことができる。ま
た、ＣＰＵのホールト開始のタイミングが早く、電力消
費をよりよく抑制する。
【００８１】本発明に係る請求項６の液晶タブレット装
置によれば、液晶タブレット装置の機種が変更になった
り仕様が変更になり、ノイズの持続時間が変化したり、
タブレット測定回路のスイッチング素子の安定時間が変
化したとしても、それぞれの機種・仕様に合わせて、カ
ウントアップ値を計算し、プログラムに組み込んでおけ
ば、様々の機種・仕様に汎用的に対応することができ
る。
置によれば、液晶タブレット装置の機種が変更になった
り仕様が変更になり、ノイズの持続時間が変化したり、
タブレット測定回路のスイッチング素子の安定時間が変
化したとしても、それぞれの機種・仕様に合わせて、カ
ウントアップ値を計算し、プログラムに組み込んでおけ
ば、様々の機種・仕様に汎用的に対応することができ
る。
【００８２】本発明に係る請求項７の液晶タブレット装
置によれば、ラインパルスが出力されない液晶ディスプ
レイが非駆動の状態であっても、タブレットにタッチ指
示したときには、その指示点の座標測定の処理を実行さ
せることができる。
置によれば、ラインパルスが出力されない液晶ディスプ
レイが非駆動の状態であっても、タブレットにタッチ指
示したときには、その指示点の座標測定の処理を実行さ
せることができる。
【００８３】本発明に係る請求項８の液晶タブレット装
置によれば、Ａ／ＤコンバータのＡ／Ｄ変換動作が終了
するまでＣＰＵをホールトすることができるので、電力
消費をより削減することができる。また、ＣＰＵのホー
ルト状態でＡ／Ｄ変換するので、ノイズがより少ない状
態でのＡ／Ｄ変換が可能となり、座標測定の精度をアッ
プさせることができる。
置によれば、Ａ／ＤコンバータのＡ／Ｄ変換動作が終了
するまでＣＰＵをホールトすることができるので、電力
消費をより削減することができる。また、ＣＰＵのホー
ルト状態でＡ／Ｄ変換するので、ノイズがより少ない状
態でのＡ／Ｄ変換が可能となり、座標測定の精度をアッ
プさせることができる。
【００８４】本発明に係る請求項９の液晶タブレット装
置によれば、最後に押し圧測定を行うから、その前に行
われたＸ座標およびＹ座標の測定の信頼性を高いものと
できる。
置によれば、最後に押し圧測定を行うから、その前に行
われたＸ座標およびＹ座標の測定の信頼性を高いものと
できる。
【００８５】本発明に係る請求項１０の液晶タブレット
装置によれば、指示点のＸ座標・Ｙ座標の測定の前と後
の両方においてＸ方向・Ｙ方向の押し圧の測定をはさむ
ようにして実行するから、測定に時間がかかっても、タ
ブレットに対する押し操作の状態がきわめて正常である
条件下でＸ座標・Ｙ座標を測定するので、その測定の信
頼性を充分に高いものとできる。
装置によれば、指示点のＸ座標・Ｙ座標の測定の前と後
の両方においてＸ方向・Ｙ方向の押し圧の測定をはさむ
ようにして実行するから、測定に時間がかかっても、タ
ブレットに対する押し操作の状態がきわめて正常である
条件下でＸ座標・Ｙ座標を測定するので、その測定の信
頼性を充分に高いものとできる。
【図１】本発明の実施の形態１に係る液晶タブレット装
置の電気的構成を示すブロック図
置の電気的構成を示すブロック図
【図２】液晶ディスプレイコントロール回路において生
成されるラインパルスと交流化信号とタブレットに誘起
されるノイズの関係を示す波形図
成されるラインパルスと交流化信号とタブレットに誘起
されるノイズの関係を示す波形図
【図３】実施の形態１の場合の動作説明に供するフロー
チャート
チャート
【図４】実施の形態２の場合の動作説明に供するフロー
チャート
チャート
【図５】実施の形態３の場合の動作説明に供するフロー
チャート
チャート
【図６】実施の形態４の液晶タブレット装置に用いるハ
ードウェア構成を示すブロック図
ードウェア構成を示すブロック図
【図７】実施の形態４の場合の動作説明に供するフロー
チャート
チャート
【図８】実施の形態５に係る液晶タブレット装置の電気
的構成を示すブロック図
的構成を示すブロック図
【図９】実施の形態７に係る液晶タブレット装置の電気
的構成を示すブロック図
的構成を示すブロック図
【図１０】実施の形態９の場合の動作説明に供するフロ
ーチャート
ーチャート
【図１１】実施の形態１０の場合の動作説明に供するフ
ローチャート
ローチャート
１１……ＣＰＵ １２……ＲＯＭ １３……ＲＡＭ １４……液晶ディスプレイコントロール回路 １５……液晶ディスプレイ １６……タブレットコントロール回路 １７……タブレット １８……Ａ／Ｄコンバータ ２１……タブレット測定回路のトランジスタの安定時間
をカウントするための第１のカウンタ ２２……第１のカウンタにカウントアップ値を設定する
ための第１のレジスタ２３……ラインパルスをカウント
するための第２のカウンタ ２４……第２のカウンタにカウントアップ値を設定する
ための第１のレジスタ ２５……ノイズが減衰するまでの時間をカウントするた
めの第３のカウンタ ２６……第３のカウンタにカウントアップ値を設定する
ための第１のレジスタ ２７……交流化信号反転検出回路 ２８……ラインパルスの入力がなく第２のカウンタが動
作しないときでも第３のカウンタを起動するための第４
のカウンタ ２９……第４のカウンタにカウントアップ値を設定する
ための第１のレジスタ ３０……ＡＮＤゲート
をカウントするための第１のカウンタ ２２……第１のカウンタにカウントアップ値を設定する
ための第１のレジスタ２３……ラインパルスをカウント
するための第２のカウンタ ２４……第２のカウンタにカウントアップ値を設定する
ための第１のレジスタ ２５……ノイズが減衰するまでの時間をカウントするた
めの第３のカウンタ ２６……第３のカウンタにカウントアップ値を設定する
ための第１のレジスタ ２７……交流化信号反転検出回路 ２８……ラインパルスの入力がなく第２のカウンタが動
作しないときでも第３のカウンタを起動するための第４
のカウンタ ２９……第４のカウンタにカウントアップ値を設定する
ための第１のレジスタ ３０……ＡＮＤゲート
Claims (10)
- 【請求項１】 液晶ディスプレイ上に透明なタブレット
が貼り合わされており、タブレット上にタッチ指示され
た点の座標信号をＡ／Ｄコンバータでデジタルの座標デ
ータに変換するように構成された液晶タブレット装置で
あって、液晶ディスプレイコントロール回路が生成する
ラインパルスがアクティブになったタイミングから一定
時間後に前記Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせる
ように構成してあることを特徴とする液晶タブレット装
置。 - 【請求項２】 液晶ディスプレイ上に透明なタブレット
が貼り合わされており、タブレット上にタッチ指示され
た点の座標信号をＡ／Ｄコンバータでデジタルの座標デ
ータに変換するように構成された液晶タブレット装置で
あって、液晶ディスプレイコントロール回路が生成する
ラインパルスがアクティブになったタイミングからこの
ラインパルスの数をカウントし、そのカウント値がタブ
レット測定回路のスイッチング素子が安定するに足る時
間に対応したカウント値になったときから一定時間後に
前記Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせるように構
成してあることを特徴とする液晶タブレット装置。 - 【請求項３】 液晶ディスプレイコントロール回路が生
成する交流化信号の反転を検出し、その反転検出があっ
たときは他の条件が満たされていてもＡ／Ｄコンバータ
の動作をスタートさせないように構成してある請求項１
または請求項２に記載の液晶タブレット装置。 - 【請求項４】 ラインパルスのアクティブのタイミング
からノイズが減衰するまでの時間をカウントするカウン
タを備え、このカウンタがカウントアップしたときにそ
れまでホールト状態にしていたＣＰＵに割り込みをか
け、Ａ／Ｄコンバータの動作をスタートさせるように構
成してある液晶タブレット装置。 - 【請求項５】 タブレット測定回路のスイッチング素子
が起動してから安定するまでの時間をカウントするカウ
ンタを備え、このカウンタがカウント開始したときから
ＣＰＵをホールトし、このカウンタがカウントアップし
た後にラインパルスのアクティブ後にノイズが減衰する
までの時間をカウントするようにした請求項４に記載の
液晶タブレット装置。 - 【請求項６】 カウンタに対してカウントアップ値を設
定するレジスタを備えている請求項４または請求項５に
記載の液晶タブレット装置。 - 【請求項７】 ノイズが減衰するまでの時間をカウント
するカウンタの起動がラインパルスの入力無しのために
行われない場合でも、そのカウンタの起動をシステムク
ロックの所定値のカウントアップに基づいて実行するよ
うに構成してある請求項４から請求項６までのいずれか
に記載の液晶タブレット装置。 - 【請求項８】 ノイズが減衰するまでの時間をカウント
するカウンタがカウントアップしたときにＡ／Ｄコンバ
ータをカウンタ出力により直接に動作させ、そのＡ／Ｄ
変換動作の終了までＣＰＵをホールトするように構成し
てある請求項４に記載の液晶タブレット装置。 - 【請求項９】 タブレットに対するＸ方向またはＹ方向
のいずれかの押し圧を測定し、次いでタブレットにおい
て指示点のＸ座標およびＹ座標を測定し、その後に未だ
測定していない方の方向の押し圧を測定するように構成
してある液晶タブレット装置。 - 【請求項１０】 タブレットに対するＸ方向およびＹ方
向の押し圧を測定し、次いでタブレットにおいて指示点
のＸ座標およびＹ座標を測定し、その後に再びＸ方向お
よびＹ方向の押し圧を測定するように構成してある液晶
タブレット装置。
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