JPH11142475A - パッケージハンドリング装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 センサを構成する受、発光素子の数を削減す
ることができ、しかも長さの異なる各種のデバイスを確
実に検出し得るようにする。 【解決手段】 デバイス分離部１８に２個のデバイス３
-1，３-2が存在するか否かを検出するデバイス検出装置
２４を配置する。このデバイス検出装置２４は、デバイ
ス分離部１８に１個目のデバイス３-1が存在するか否か
を検出する第１のセンサ２６と、２個目のデバイス３-2
が存在するか否かを検出する第２のセンサ２７と、第２
のセンサ２７をデバイス３の移動方向に移動させる駆動
装置３２とでする。長さの異なるデバイスの特性検出時
に、駆動装置３２によって第２のセンサ２７をその長さ
に応じた位置に移動させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、組立完了したＩ
Ｃ、ディスクリートデバイス等の被測定デバイスを自動
的にテストシステムのテストヘッドに供給し、そのテス
ト結果に基づいて自動的に分類収納するハンドラなどの
パッケージハンドリング装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来から、被測定デバイス（以下、デバ
イスと呼ぶ）の電気的特性の検査に当たっては、ハンド
ラの測定部ユニットによってデバイスをテスティング装
置のテストヘッドに供給し、そのリードをテストヘッド
のコンタクトに接触させるようにしている。リードがコ
ンタクトに接触すると、テスティング装置は電流または
電圧を印加し、そのときの電流値または電圧値の変化を
測定することによりデバイスの電気的特性を検査する。
検査が終了すると、ハンドラはデバイスをそのテスト結
果に応じて複数のカテゴリ、例えば良品、不良品、再検
査などに分類し、各カテゴリ毎に収納するようにしてい
る。

【０００３】デバイスの搬送方式としては、水平搬送方
式と自重落下方式の２方式がある。前者は、一般に真空
吸着装置を用いてデバイスの搬送を行なうものである。
後者は、デバイスの搬送のための通路を傾斜した通路と
垂直な通路とで形成し、デバイスの搬送を自重による自
然落下によって行うもので、本発明は後者の自重落下方
式を採用した装置の改良に関する。

【０００４】図９は従来の自重落下方式を採用したハン
ドラの概略構成を示す図で、１はローダ部、２は複数個
のデバイス３を収納するマガジン、４は測定部、５は測
定が終了したデバイス３をそのテスト結果に応じて分類
し収納するアンローダ部である。

【０００５】デバイス３の特性検査に際して、未検査の
デバイス３は一端が開放するマガジン２内に収納されて
おり、このマガジン２を検査時に所定角度傾斜させるこ
とにより、下端側開口部からデバイス３を自重により１
つずつ排出してプールシュート６に供給する。

【０００６】プールシュート６に供給されたデバイス３
は、フィードシャトル７によって複数個のフィードシュ
ート８に順次振り分けられる。また、各フィードシュー
ト８に振り分けられたデバイス３は、さらに表裏反転装
置９によって前後方向はそのままで表裏のみを反転され
た後、複数個の垂直な測定部シュート１０に適宜振り分
けられて測定部４に導かれ、テスティング装置の各テス
トヘッド１１に押し付けられることにより特性が測定さ
れる。測定終了後は測定部シュート１０を通って分類シ
ャトル１２に導かれると、そのテスト結果に応じて複数
のカテゴリ、例えば良品、不良品、再検査などに分類さ
れて各カテゴリ毎に設けた排出シュート１３に振り分け
られ、アンローダ部５に設置されているチューブ１４に
カテゴリごとに順次収納される。なお、図９において
は、テスティング装置のテストヘッド１１が設けられる
測定部４を便宜上水平面内において９０°回転させて示
している。

【０００７】このようなハンドラにおいて、誤分類を避
けるために良品、不良品を問わず１個ずつ分類する必要
がある。そのため、測定部４のテストヘッド１１にデバ
イス３を１個ずつ確実に供給する機構として、図１０に
示すように通路の途中に設けたデバイス分離部１８に２
個落ち防止用のストッパ機構２０を設け、このストッパ
機構２０によってデバイス３を１個ずつ分離して測定部
４に供給するようにしている。ストッパ機構２０として
は、デバイス分離部１８に供給される１個目のデバイス
３-1を係止する進退自在な第１のストッパ２２と、この
第１のストッパ２２より上流側に進退自在に設けられ、
次に供給される２個目のデバイス３ー2を係止する第２の
ストッパ２３とで構成されている。

【０００８】さらに、デバイス分離部１８では、２個の
デバイス３-1，３ー2が存在するか否かをデバイス検出装
置２４によって検出し、その信号に基づいて制御部２５
が前記ストッパ機構２０を制御するようにしている。デ
バイス検出装置２４は、１個目のデバイス３-1を光学的
に検出する第１のセンサ２６と、２個目のデバイス３ー2
を同じく光学的に検出する第２のセンサ２７とを備えて
いる。第１のセンサ２６としては、発光素子２６ａと受
光素子２６ｂが用いられる。一方、第２のセンサ２７に
ついては、長さの異なる各種のデバイス３に対応し得る
ように複数個の発光素子２７ａ-1，２７ａ-2，２７ａ-3
・・と受光素子２７ｂ-1，２７ｂ-2，２７ｂ-3・・・を
互いに対向するようにデバイス３の搬送方向に離間させ
て固定配置し、長さの異なるデバイスの特性検査時に
は、その長さに応じた位置の発光素子と受光素子、例え
ば発光素子２７ａ-2と受光素子２７ｂ-2のみをＯＮに
し、他の発光素子２７ａ-1，２７ａ-3と受光素子２７ｂ
-1，２７ｂ-3をＯＦＦにしてデバイスを検出するように
している。なお、この種のハンドラにおいては、測定部
４の直前の通路部分以外で、デバイス３を１個ずつ分離
して供給する必要がある箇所、すなわちフィードシャト
ル７の直前および分類シャトル１２の直前の通路部分も
デバイス分離部１８を形成し、同様なストッパ機構とデ
バイス検出装置が設けられている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】上記したように従来の
ハンドラは、デバイス分離部１８においてストッパ機構
２０によりデバイス３を１個ずつ分離する際、１個目と
２個目のデバイス３-1，３ー2がデバイス分離部１８に存
在するか否かをデバイス検出装置２４によって検出して
いた。しかしながら、このデバイス検出装置２４は、第
２のセンサ２７をそれぞれ複数個の発光素子２７ａ-1，
２７ａ-2，２７ａ-3・・・と受光素子２７ｂ-1，２７ｂ
-2，２７ｂ-3・・・によって構成し、長さの異なるデバ
イスを測定する際にはこれら素子を切り替えて使用して
いたため、発光素子２７ａと受光素子２７ｂの数が増加
するという問題があった。特に、最近ではデバイス３の
種類が多品種でかつ小型になってきているためますます
発光素子２７ａと受光素子２７ｂの数が増加し、素子の
形状、大きさ等によっては素子どうしを互いに干渉しな
いように配置することが難しく、デバイス３によっては
検出できない位置が生じるため対応しきれないという問
題があった。

【００１０】本発明は上記した従来の問題を解決するた
めになされたもので、その目的とするところは、センサ
を構成する受、発光素子の数を削減することができ、し
かも長さの異なる各種のデバイスを確実に検出し得るよ
うにしたパッケージハンドリング装置を提供することに
ある。

【００１１】上記目的を達成するために第１の発明は、
テスティング装置のテストヘッドが設けられる垂直な通
路を含む測定部を有し、この測定部に１個ずつデバイス
を供給し、検査後そのテスト結果に基づき分類収納する
パッケージハンドリング装置において、シュートの途中
に設けたデバイス分離部に供給される１個目のデバイス
を係止する第１のストッパと、この第１のストッパより
上流側に設けられ、次に供給される２個目のデバイスを
係止する第２のストッパとからなる２個落ち防止用スト
ッパ機構と、前記デバイス分離部に２個のデバイスが存
在するか否かを検出するデバイス検出装置と、このデバ
イス検出装置からの信号に基づいて前記２個落ち防止用
ストッパ機構を制御する制御部とを備え、前記デバイス
検出装置を、前記デバイス分離部に１個目のデバイスが
存在するか否かを検出する第１のセンサと、前記デバイ
ス分離部に２個目のデバイスが存在するか否かを検出す
る第２のセンサと、これらの第１、第２のセンサのうち
のいずれか一方をデバイスの移動方向に移動させる駆動
装置とで構成したことを特徴とする。

【００１２】また、第２の発明は、上記第１の発明にお
いて、第１のセンサまたは第２のセンサを移動させる駆
動装置を、モータと、このモータの回転を直線運動に変
換して前記第１のセンサまたは第２のセンサに伝達する
伝達機構とで構成したことを特徴とする。

【００１３】第１の発明において、第１のストッパはデ
バイス分離部に供給される１個目のデバイスを係止し、
第２のストッパは２個目のデバイスを係止する。デバイ
ス検出装置は第１、第２のセンサによって２個のデバイ
スがデバイス分離部に存在するか否かを検出する。第１
または第２のセンサは、デバイスの長さに応じて移動さ
れることで、１つの発光素子と受光素子で構成すること
ができる。したがって、素子数が少なく、長さの異なる
各種のデバイスの検出が可能となる。第２の発明におい
て、駆動装置としてはモータが用いられ、伝達機構とし
てはラックとピニオン、プーリとタイミングベルト等が
用いられる。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に基づいて詳
細に説明する。図１は本発明の基本的構成を説明するた
めの図である。なお、従来技術の欄で示した構成部材等
と同一のものについては同一符号をもって示し、その説
明を適宜省略する。

【００１５】本発明においては、２個目のデバイス３-2
を検出する第２のセンサ２７をそれぞれ１個からなる発
光素子２７ａと受光素子２７ｂとで構成し、この第２の
センサ２７と２個目のデバイス３-2を係止する第２のス
トッパ２３をユニット化してデバイス３の搬送方向に移
動自在な可動ユニット３１とし、この可動ユニット３１
を測定すべきデバイス３の長さに応じて駆動装置３２に
より移動させるようにした点、および制御装置２５が第
１、第２のセンサ２６，２７からの検出信号に基づきス
トッパ機構２０および前記駆動装置３２を駆動制御する
点が図９および図１０に示した従来装置と異なってい
る。

【００１６】第２のセンサ２７の発光素子２７ａと受光
素子２７ｂは、１個目のデバイス３-1を係止する第１の
ストッパ２２よりデバイス１個分より上方でかつ２個分
より低い位置に通路を挟んで対向するように設けられ
る。ただし、デバイス３-2の両側に対向して配置される
ものであってもよい。また、発光素子２７ａから出た光
を２本の光ファイバ３３，３４によって受光素子２７ｂ
に導くようにしてもよい。さらに、１個目のデバイス３
-1を検出する第１のセンサ２６についても、その発光素
子２６ａから出た光を２本の光ファイバ３５，３６によ
って受光素子２６ｂに導くようにしてもよい。

【００１７】駆動装置３２としては、パルスモータ等が
用いられ、その回転はギア、ベルト等の適宜な伝達機構
によって直線運動に変換され前記可動ユニット３１に伝
達される。

【００１８】次に、本発明の実施の形態について説明す
る。図２は本発明をハンドラに適用した一実施の形態を
示す要部の概略正面図、図３は側面図、図４はストッパ
機構とセンサの取付構造を示す断面図、図５は要部の一
部を破断して示す平面図である。本実施の形態において
は、４つのレーンＲ1 〜Ｒ4 を備えたハンドラの測定部
４の直前のデバイス分離部１８に適用した例を示す。

【００１９】ハンドラは、フィードシュート８と、この
フィードシュート８の下端に接続された測定シュート１
０と、この測定シュート１０の下端に接続された排出シ
ュート１３を備えている。フィードシュート８は、上流
側が所定角度で傾斜し、下流側が下方に略垂直に折れ曲
がった通路を形成している。前記測定シュート１０は略
垂直な通路を形成し、テスティング装置のテストヘッド
１１に対向して設けられ、検査時にデバイス３をテスト
ヘッド１１に供給する進退自在な測定部ユニット２１と
共に測定部４を形成している。この測定シュート１０と
前記フィードシュート８との境部は、デバイス３を１個
ずつ分離するデバイス分離部１８を形成し、デバイス３
が２個落下するのを防止するストッパ機構２０と、１個
目と２個目のデバイス３-1，３-2を検出するデバイス検
出装置２４が配設されている。

【００２０】前記デバイス３は、図１に示すようにＩＣ
を合成樹脂によってモールドした本体３Ａと、この本体
３Ａ内のＩＣにそれぞれ接続され本体３Ａの両側に突出
する複数本（例えば、１６本）のリード３Ｂとで構成さ
れ、特性検査時に前記測定部ユニット２１により前記リ
ード３Ｂがテストヘッド１１のコンタクトに押付けられ
る。

【００２１】前記ストッパ機構２０は前記各レーンＲ1
〜Ｒ4 のフィードシュート８の裏面下端部にそれぞれ設
けられるもので、デバイス分離部１８の下部に進退自在
に設けられ１個目のデバイス３-1を係止する第１のスト
ッパ２２と、この第１のストッパ２２より上流側に進退
自在に設けられ次に供給される２個目のデバイス３-2を
係止する第２のストッパ２３とを備え、制御部２５（図
１）によってそれぞれ駆動制御されるように構成されて
いる。

【００２２】さらに、前記ストッパ機構２０の構成等を
図３〜図５に基づいて詳述すると、前記第１のストッパ
２２は回動レバー４０の下端に取付けられ、デバイス分
離部１８内に突出して１個目のデバイス３-1の下面を係
止し、測定部４への供給時にエアシリンダ４１によって
デバイス分離部１８から退出されるように構成されてい
る。前記回動レバー４０は、高さ方向の中間部が水平な
軸４２によって、第１のストッパ２２がデバイス分離部
１８に対して進退する方向に回動自在に軸支され、ばね
４３によって図３において時計方向の回動習性が付与さ
れることにより通常は前記第１のストッパ２２をデバイ
ス分離部１８内に突出させている。また、回動レバー４
０の上端にはローラ４５が取付けられ、このローラ４５
は前記ばね４３によって前記エアシリンダ４１のロッド
４１Ａに圧接されている。

【００２３】前記第２のストッパ２３は、エアシリンダ
４７のロッド４７Ａに連結部材４８を介して取付けられ
ており、デバイス３が正常に供給されている通常時にお
いては、デバイス分離部１８内に突出してその先端部上
面で２個目のデバイス３ー2の下面を係止し、第１のスト
ッパ２２が後退して１個目のデバイス３ー1を測定シュー
ト１０に落下させた後に元の状態に復帰すると、エアシ
リンダ４７によってデバイス分離部１８から退出される
ように構成されている。この場合、何らかの原因により
誤って２個目のデバイス３-2が通常よりも速く供給され
て１個目のデバイス３-1上に落下すると、この２個目の
デバイス３-2の本体３Ａを図１に示すように押圧して係
止する。連結部材４８はばね４９によってデバイス分離
部１８方向に付勢されている。

【００２４】また、第２のストッパ２３は、第１のスト
ッパ２２よりデバイス１個分より上方で、２個分より低
い位置に設けられている。さらに、第２のストッパ２３
の先端部は、図５に示すように前記フィードシュート８
の下端部裏面に形成した挿通孔５１に挿入されている。
フィードシュート８の内部には、全長にわたってデバイ
ス３の通路５２が形成され、この通路５２に前記挿通孔
５１が連通している。そして、このような第２のストッ
パ機構２３は、前記エアシリンダ４１および各レーン毎
に設けられるデバイス検出装置２４の第２のセンサ２７
と共にバー６０に取付けられてユニット化されることに
より上下方向に移動自在な可動ユニット３１を形成して
いる。

【００２５】前記デバイス検出装置２４は、図１に示し
たようにデバイス分離部１８に１個目のデバイス３-1が
存在するか否かを検出する第１のセンサ２６と、２個目
のデバイス３-2が存在するか否かを検出する第２のセン
サ２７とを備えている。

【００２６】前記第１のセンサ２６は、各レーンＲ1〜
Ｒ2毎に設けられる発光素子２６ａおよび受光素子２６
ｂ（図１参照）と、前記フィードシュート８の通路５２
を挟んでその前後に対向するように配置され、発光素子
２６ａから出た光を受光素子２６ｂに導く２本の光ファ
イバ３５，３６とを有している。発光素子２６ａ側の光
ファイバ３５は、フィードシュート８の裏面下端部に取
付けた水平な固定板６２に取付けられ、受光素子２６ｂ
側の光ファイバ３６は、フィードシュート８と共に垂直
な基板６３（図４）に取付けられている。このような発
光素子２６ａと受光素子２６ｂは、測定部４の直前にお
けるデバイス分離部１８においては、装置固定部側に固
定されている。発光素子２６ａから出た光は、光ファイ
バ３５を通り、第１のストッパ２２上にデバイス３が存
在すると遮光されるため受光素子２６ｂによって検出さ
れず、これによって１個目のデバイス３-1が検出され
る。第１のセンサ２６による検出信号は、前記制御部２
５に送出される。なお、前記光ファイバ３５，３６の内
部には発光素子２６ａからの光を集光する図示しないレ
ンズが組み込まれている。

【００２７】前記第２のセンサ２７は、第１のセンサ２
６と同様に各レーンＲ1〜Ｒ2毎に設けられる発光素子２
７ａおよび受光素子２７ｂ（図１参照）と、図５に示す
ように前記フィードシュート８の通路５２を挟んでその
両側に対向するように配置され、発光素子２７ａから出
た光を受光素子２７ｂに導く２本の光ファイバ３３，３
４とを有している。フィードシュート８の側面には、前
記発光素子２７ａからの光を受光素子２７ｂに導くため
の挿通孔５４が前記通路５２と連通して形成されてい
る。発光素子２７ａから出た光は、デバイス分離部１８
内にデバイス３が１個ずつ正常に供給されている状態で
は受光素子２７ｂによって受光され、図１に示すように
誤って２個のデバイス３-1，３-2が供給されると、２個
目のデバイス３-2によって遮られるため受光されず、こ
れによって２個のデバイス３-1，３-2が通路５２中に存
在することを検出することができる。第２のセンサ２７
による検出信号は、前記制御部２５に送出される。前記
光ファイバ３３，３４は前記第２のストッパ２３および
エアシリンダ４１と共に前記バー６０に取付けられてい
る。ここで、本実施の形態においては、光ファイバ３
３，３４を用いて発光素子２７ａの光を受光素子２７ｂ
に導くようにしているので、素子自体はバー６０に必ず
しも取付ける必要はない。なお、光ファイバ３３，３４
の内部には、前記光ファイバ３５，３６と同様に発光素
子２７ａからの光を集光する図示しないレンズが組み込
まれている。

【００２８】前記可動ユニット３１を構成するバー６０
は、図２に示すように４つのレーンＲ1 〜Ｒ4 のフィー
ドシュート８を横断して配置され、両端部にはガイドレ
ール６７に沿って上下動するスライダ６６がそれぞれ取
付けられ、パルスモータ３２の回転がタイミングベルト
７０を介して伝達されることにより前記ガイドレール６
７に沿って上下動されるように構成されている。前記ガ
イドレール６７は、上下方向に長く延在し、装置固定部
側に取付けられている。前記タイミングベルト７０は、
上下に配設された２個の歯付きプーリ６９ａ，６９ｂ間
に張設されて途中に前記スライダ６６が固定され、下方
のプーリ６９ｂに前記パルスモータ３２の回転が伝達さ
れるように構成されている。

【００２９】次にこのような構造からなるハンドラの動
作について説明する。図６はストッパ機構２０の動作を
示すフローチャートである。ハンドラを稼働させてロー
ダ部に収納されているデバイスをプールシュート６（図
１０参照）を通ってフィードシュート８に一個ずつ供給
する。この時、第１のストッパ２２はデバイス分離部１
８内に突出し、第２のストッパ２３は退出している。し
たがって、１個目のデバイス３-1は第１のストッパ２２
上に落下して係止される。１個目のデバイス３-1が第１
のセンサ２６を通過して発光素子２６ａの光を遮ると、
この時の信号に基づき制御部２５が駆動信号をエアシリ
ンダ４７に送出する。そのため、エアシリンダ４７は駆
動して第２のストッパ２３をデバイス分離部１８内に突
出させる。したがって、続いて供給される２個目のデバ
イス３-2は、第２のストッパ２３上に落下して係止され
る。

【００３０】このようにデバイスが正常に供給されてい
る状態においては、第２のセンサ２７は２個目のデバイ
ス３-2を検出しないのでＯＮ状態に保持され（ステップ
８０）、その信号に基づき制御部２５が駆動信号を送出
して第１のエアシリンダ４１を駆動する。そのため、第
１のストッパ２２はデバイス分離部１８から退出して１
個目のデバイス３-1の係止を解除し、測定部４に供給す
る（ステップ８１）。そして、１個目のデバイス３-1が
落下すると、第１のストッパ２２は再び復帰してデバイ
ス分離部１８内に突出する。

【００３１】また、制御部２５は、第１のストッパ２２
が復帰してデバイス分離部１８内に進入すると、エアシ
リンダ４７に駆動信号を送出する。そのため、このエア
シリンダ４７は駆動して第２のストッパ２３をデバイス
分離部１８から退出させる。その結果、第２のストッパ
２３上に係止されていた２個目のデバイス３-2は第１の
ストッパ２２上に落下して次に測定部４に供給されるデ
バイスとなる。このような動作を繰り返すことにより、
デバイス３を１個ずつ連続的に測定部４に供給すること
ができる。

【００３２】次に、何らかの原因により誤って２個目の
デバイス３-2が通常より速く供給されて１個目のデバイ
ス３-1上に落下すると、この２個目のデバイス３-2は発
光素子２７ａから出た光を遮るため、第２のセンサ２７
はＯＦＦとなりデバイスが２個落下したことを検出し、
その検出信号を制御部２５に送出する。制御部２５は第
２のセンサ２７からの検出信号に基づきエアシリンダ４
７に駆動信号を出力する。これにより、エアシリンダ４
７は駆動して第２のストッパ２３をデバイス分離部１８
内に突出させ、２個目のデバイス３-2を押圧する（ステ
ップ８２）。次に、制御部２５からの駆動信号によって
エアシリンダ４１を駆動することにより、第１のストッ
パ２２をデバイス分離部１８から退出させ、１個目のデ
バイス３-1を測定部４に落下させる（ステップ８３）。
その後、第１のストッパ２２を元の状態に復帰させる
（ステップ８４）。続いて第２のストッパ２３をデバイ
ス分離部１８から退出させて２個目のデバイス３-2の係
止を解除し、第１のストッパ２２上に落下させる（ステ
ップ８５）。その後、第１のストッパ２２をデバイス分
離部１８から退出させて前記２個目のデバイスを測定部
４に落下させる（ステップ８６）。

【００３３】このようにして誤って２個落ちした１個目
と２個目のデバイス３-1，３-2の供給が終了すると、元
の正常な状態に戻るため、装置を一時停止させてデバイ
スを取り除く必要がなく、引き続きデバイスを連続して
測定部へ供給することができる。

【００３４】長さが異なるデバイスの特性検査を行う際
には、パルスモータ３２を駆動して可動ユニット３１を
上方または下方に移動させ、第２のストッパ２３と第２
のセンサ２７をその長さに応じた位置に移動させればよ
い。

【００３５】図７はセンサの動作フローを示す図であ
る。長さが異なるデバイスの特性検査に際しては、先ず
ステップ９０でデバイスのタイプを選択する。この選択
は、操作盤によって行う。次に、パルスモータ３２を駆
動して第２のセンサ２７を予めデバイス毎に設定してあ
るデバイスに応じた所定位置へ移動させる（ステップ９
１）。第２のセンサ２７を所定位置に移動させた後、デ
バイス３をシュートに供給して上記したと同様に特性検
査を行う。

【００３６】このように本発明においては、第２のセン
サ２７をパルスモータ３２によって移動させるように構
成したので、第２のセンサ２７としてそれぞれ１個から
なる発光素子２７ａと受光素子２７ｂを用いることがで
き、受、発光素子の数を削減することができる。したが
って、従来装置のように複数個の発光素子と受光素子を
デバイスの搬送方向に並設する必要がなく、また素子ど
うしが干渉することもないので、素子の選択の自由度が
拡大し、長さの異なる各種デバイスの検出が可能とな
り、装置としての汎用性を拡大することができる。

【００３７】図８は本発明の他の実施の形態を示す要部
の概略断面図である。この実施の形態においては、フィ
ードシャトル７（図９）の直前の通路部分に設けられる
デバイス分離部に適用した例を示している。デバイスの
２個落ちを防止するストッパ機構９５は、１個目のデバ
イス３-1を係止する進退自在な第１のストッパ９６と、
通路を挟んで対向する一対の切り出しローラ９７ａ，９
７ｂからなる第２のストッパ９７とで構成されている。

【００３８】デバイス検出装置９８は、１個目のデバイ
ス３-1を検出する第１のセンサ１０１と、２個目のデバ
イス３-2を検出する第２のセンサ１０２とを備えてい
る。第１のセンサ１０１は、デバイス３の搬送方向に移
動自在なスライダ１０３に通路を挟んで対向するように
設けられた発光素子１０５と受光素子１０６とで構成さ
れている。第２のセンサ１０２は、第１のセンサ１０１
より上流側に通路を挟んで対向するように配置された発
光素子１０７と受光素子１０８とで構成されている。こ
れらの発光素子１０７と受光素子１０８は装置固定部側
に固定されている。前記スライダ１０３は、長さの異な
るデバイスの特性検査時に駆動装置１１０によってデバ
イス３の搬送方向に移動されるように構成されている。
そのため、スライダ１０３の下面にはラック１１１が形
成され、このラック１１１は前記駆動装置１１０の回転
軸１１２を取付けたピニオン１１４に噛合している。駆
動装置１１０としては、パルスモータ等が用いられる。
なお、前記スライダ１０３には、前記第１のストッパ９
６が取付けられ、これらによって可動ユニットを形成し
ている。

【００３９】このような構成においては、従来装置の場
合第１のセンサとして複数個の発光素子と受光素子を用
いる必要があったのに対して、本発明においてはその必
要がなく、発光素子と受光素子の数を削減することがで
きる。したがって、上記した実施の形態と同様な効果が
得られる。

【００４０】なお、上記した実施の形態においては、フ
ィードシュート８と測定シュート１０との境部のデバイ
ス分離部と、フィードシャトル７の直前のデバイス分離
部にそれぞれ適用した例を示したが、図９に示した分類
シャトル１２の直前のデバイス分離部にも適用すること
ができる。また、上記した実施の形態においては、駆動
装置としてパルスモータを用い、その回転を第２のセン
サに伝達する伝達機構として、タイミングベルト７０
と、ラック１１１およびピニオン１１２を用いた例を示
したが、本発明はこれらに何等特定されるものではな
い。

【００４１】

【発明の効果】以上説明したように本発明に係るパッケ
ージハンドリング装置によれば、センサを構成する発光
素子と受光素子の数を削減することができるため素子の
選択の自由度が拡大し、しかも長さの異なる各種のデバ
イスの検出が可能で、装置としての汎用性を向上させる
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の基本的構成を説明するための図であ
る。

【図２】 本発明をハンドラに適用した一実施の形態を
示す要部の概略正面図である。

【図３】 側面図である。

【図４】 ストッパ機構とセンサの取付構造を示す断面
図である。

【図５】 要部の一部を破断して示す平面図である。

【図６】 ストッパ機構の動作を示すフローチャートで
ある。

【図７】 センサの動作フローを示す図である。

【図８】 本発明の他の実施の形態を示す概略断面図で
ある。

【図９】 従来のハンドラの概略構成を示す図である。

【図１０】 従来のストッパ機構とデバイス検出装置を
示す図である。

【符号の説明】 １…ローダ部、２…マガジン、３…デバイス、３Ａ…本
体、３Ｂ…リード、３-1…１個目のデバイス、３-2…２
個目のデバイス、４…測定部、５…アンローダ部、６…
プールシュート、７…フィードシャトル、８…フィード
シュート、１０…測定シュート、１１…テストヘッド、
１３…排出シュート、１８…デバイス分離部、２０…ス
トッパ機構、２２…第１のストッパ、２３…第２のスト
ッパ、２４…デバイス検出装置、２５…制御部、２６…
第１のセンサ、２６ａ…発光素子、２６ｂ…受光素子、
２７…第２のセンサ、２７ａ…発光素子、２７ｂ…受光
素子、３２…駆動装置、３１…可動ユニット、３３〜３
６…光ファイバ、７０…タイミングベルト、１１１…ラ
ック、１１２…ピニオン。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮本 英教 神奈川県川崎市高津区溝口890番地 桑野 電機株式会社内

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 テスティング装置のテストヘッドが設け
   られる垂直な通路を含む測定部を有し、この測定部に１
   個ずつデバイスを供給し、検査後そのテスト結果に基づ
   き分類収納するパッケージハンドリング装置において、 シュートの途中に設けたデバイス分離部に供給される１
   個目のデバイスを係止する第１のストッパと、この第１
   のストッパより上流側に設けられ次に供給される２個目
   のデバイスを係止する第２のストッパとからなる２個落
   ち防止用ストッパ機構と、 前記デバイス分離部に２個のデバイスが存在するか否か
   を検出するデバイス検出装置と、 このデバイス検出装置からの信号に基づいて前記２個落
   ち防止用ストッパ機構を制御する制御部とを備え、 前記デバイス検出装置を、前記デバイス分離部に１個目
   のデバイスが存在するか否かを検出する第１のセンサ
   と、前記デバイス分離部に２個目のデバイスが存在する
   か否かを検出する第２のセンサと、これらの第１、第２
   のセンサのうちのいずれか一方をデバイスの移動方向に
   移動させる駆動装置とで構成したことを特徴とするパッ
   ケージハンドリング装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載のパッケージハンドリング
   装置において、 第１のセンサまたは第２のセンサを移動させる駆動装置
   を、モータと、このモータの回転を直線運動に変換して
   前記第１のセンサまたは第２のセンサに伝達する伝達機
   構とで構成したことを特徴とするパッケージハンドリン
   グ装置。