KR100381694B1 - 발광 다이오드의 검사장치 - Google Patents

발광 다이오드의 검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100381694B1
KR100381694B1 KR10-2000-0056052A KR20000056052A KR100381694B1 KR 100381694 B1 KR100381694 B1 KR 100381694B1 KR 20000056052 A KR20000056052 A KR 20000056052A KR 100381694 B1 KR100381694 B1 KR 100381694B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
diode
unit
genuine
resistance
ramp
Prior art date
Application number
KR10-2000-0056052A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20010000374A (ko
Inventor
정운환
Original Assignee
성호반도체 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 성호반도체 주식회사 filed Critical 성호반도체 주식회사
Priority to KR10-2000-0056052A priority Critical patent/KR100381694B1/ko
Publication of KR20010000374A publication Critical patent/KR20010000374A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100381694B1 publication Critical patent/KR100381694B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Centrifugal Separators (AREA)

Abstract

본 발명은 원심분리기를 이용하여 순차적으로 공급되는 발광 다이오드의 저항값을 정확히 검출하여 불량품을 취출해 내는 한편, 합격판정을 받은 정품은 케이스에 자동으로 삽입 포장하여 작업의 효율성을 높일 수 있는 발광 다이오드의 검사 장치에 관한 것으로, 이 검사장치는 회전판이 설치되어 있는 본체(2)와, 원심력에 의해 다이오드(1)가 하나씩 순차적으로 가이드 레일(24)을 따라 이송되도록 하는 원심분리기(12)와, 가이드 레일(24)을 따라 이송되는 다이오드(1)의 유입상태를 검출하는 공급량 조절부(30)와, 유입된 다이오드가 1개씩 회전판(20)의 수납홈(22)으로 공급되도록 하는 제 1이송 제지부(40)와, 수납홈(22)에 수납된 다이오드(1)의 저항값을 검출해 내는 저항 검출부(50)와, 정품의 여부에 따라 불량품과 정품을 취출해 내는 불량품 취출부(60) 및 정품 취출부(70)와, 경사대(16)로 낙하된 다이오드(1)의 이송을 선택적으로 제지하는 제 2이송 제지부(80)와, 경사대(16)를 따라 이송되는 다이오드(1)의 수량을 측정하는 카운팅부(90)와, 케이스를 가압하여 교체하는 케이스 가압부(100)와, 조작부(4) 및 각종 센서로부터의 입력신호를 바탕으로 각종 구동 모터 및 솔레노이드에 제어신호를 출력하는 제어유닛으로 구성된다.

Description

발광 다이오드의 검사장치{DEVICE FOR CHECKING RADIATION DIODES}
본 발명은 발광 다이오드의 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 원심분리기를 이용하여 순차적으로 공급되는 발광 다이오드의 저항값을 정확히 검출하여 불량품을 취출해 내는 한편, 합격판정을 받은 정품은 케이스에 자동으로 삽입 포장할 수 있도록 구성된 발광 다이오드의 검사장치에 관한 것이다.
가령, 퍼스널 컴퓨터와 같은 각종 전자제품에는 동작상태를 표시하기 위한 여러 가지 형태의 발광 다이오드가 구비되어 있다. 발광 다이오드는 단색 2색으로 발광하면서 해당 전자제품이 정상적으로 동작하고 있는지를 나타낸다. 이러한 역할을 하는 발광 다이오드는 규정된 저항값을 지니고 있어야만 소정의 조도로 발광하면서 동작상태를 외부에 표시할 수 있게 되며, 이를 위해 조립에 앞서서 발광 다이오드의 정상 여부를 정확히 검사할 필요가 있다.
종래의 발광 다이오드 검사장치 및 방법으로는 1993. 11. 19. 공개된 일본특허 평성5-308259호가 있다. 이것은 검사대상물로부터의 빛의 강도에 의거하여 검사대상물의 화상을 형성하는 화소신호를 얻고, 이때 얻어진 화소신호에 대해서 인접한 것과의 번화율을 산출해 내며, 산출된 변화율값과 미리 설정된 판정 기준값을 비교하여 외관의 정상여부를 판정하는 것으로서, 발광다이오드의 외관 결함부분을 정량적으로 파악할 수 있는 이점이 있다.
그러나, 상기 특허에 개시된 검사방법은 발광 다이오드의 외관의 정상여부를 판정하는 것으로서 출하전의 저항값을 정확히 계측하여 정상 조도로 발광할 수 있는지의 여부를 판정할 수 없는 문제가 있다.
이와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명은 원심분리기에 의해서 순차적으로 공급되는 발광 다이오드의 저항값을 정확히 측정하여 불량인 제품을 취출해 낼 수 있는 발광 다이오드의 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 다른 목적은 정품 발광 다이오드를 소정의 수량씩 정확하게 카운팅하여 케이스 내에 삽입 포장될 수 있도록 하는 발광 다이오드의 검사장치를 제공 하는데 그 목적이 있다.
도 1은 본 발명에 따른 발광 다이오드의 검사장치를 개략적으로 나타낸 사시도,
도 2는 도 1에 도시한 장치의 평면도,
도 3은 도 1에서의 공급량 조절부를 보인 단면도,
도 4는 도 1에서의 제 1이송 제지부를 보인 사시도,
도 5는 도 1에서의 저항 검출부를 보인 단면도,
도 6은 도 1에서의 불량품 취출부를 보인 사시도,
도 7은 도 1에서의 정품 취출부를 보인 사시도,
도 8은 도 1에서의 제 2이송 제지부를 보인 사시도,
도 9는 도 1에서의 카운팅부를 보인 사시도,
도 10은 도 1에서의 케이스 가압부를 보인 평면도.
♣도면의 주요부분에 대한 부호의 설명♣
2:본체 4:조작부
8:계기함 9:디스플레이
12:원심분리기 14:낙하 레일
16:경사대 18:케이스 고정대
20:회전판 22:수납홈
24:가이드 레일 30:공급량 조절부
40, 80:제 1, 2이송 제지부 50:저항 검출부
60:불량품 취출부 70:정품 취출부
90:카운팅부 100:케이스 가압부
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 발광 다이오드의 검사장치는 전방과 후방에 각각 조작부와 계기함이 구비되어 있고 중앙에는 다수의 수납홈을 지닌 회전판이 설치되어 있으며 일측에는 받침대 및 경사대가 구비되어 있는 본체와, 상기 받침대상에 배치되며 원심력에 의해 다이오드가 하나씩 순차적으로 가이드 레일을 따라 이송되도록 하는 원심분리기와, 상기 가이드 레일을 따라 이송되는 다이오드의 유입상태를 검출하는 유입검출센서를 지닌 공급량 조절부와, 상기 가이드 레일을 따라 유입된 다이오드가 1개씩 상기 회전판의 수납홈으로 공급되도록 이송을 단속적으로 제지하는 제 1이송 제지부와, 상기 수납홈에 수납된 다이오드의 리드와 접촉하여 저항값을 검출해 내는 저항검출센서를 지닌 저항 검출부와, 상기 저항 검출부에 의해 불량품으로 판정된 다이오드를 취출해 내는 제 1스텝모터를 지닌 불량품 취출부와, 상기 저항 검출부에 의해 정품으로 판정된 다이오드를 낙하 레일을 통해 경사대로 낙하시키는 제 2스텝모터를 지닌 정품 취출부와, 차단판을 돌출시켜 상기 경사대로 낙하된 다이오드의 이송을 선택적으로 제지하는 솔레노이드를 지닌 제 2이송 제지부와, 상기 경사대를 따라 이송되는 다이오드를 검출하여 수량을 측정하기 위한 카운팅센서를 지닌 카운팅부와, 상기 카운팅부에서의 측정 수량에 따라 밀판을 가압하여 충진된 케이스를 가압하는 케이스 가압부와, 상기 조작부로부터의 조작신호를 비롯하여, 상기 유입검출센서로부터의 입력신호, 상기 저항검출센서로부터의 입력신호, 상기 카운팅센서로부터의 계수량을 바탕으로 각종 구동 모터 및 솔레노이드에 제어신호를 출력하는 제어유닛 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 발광 다이오드의 검사장치에 대하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 발광 다이오드의 검사장치를 개략적으로 나타낸 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시한 장치의 평면도이다.
이들 도면을 참조하여 본 발명에 따른 발광 다이오드 검사장치의 전체적인 구성을 보면, 회전판이 설치되어 있는 본체(2)와, 원심력에 의해 다이오드(1)가 하나씩 순차적으로 가이드 레일(24)을 따라 이송되도록 하는 원심분리기(12)와, 가이드 레일(24)을 따라 이송되는 다이오드(1)의 유입상태를 검출하는 공급량 조절부(30)와, 유입된 다이오드가 1개씩 회전판(20)의 수납홈(22)으로 공급되도록 하는 제 1이송 제지부(40)와, 수납홈(22)에 수납된 다이오드(1)의 저항값을 검출해 내는 저항 검출부(50)와, 정품의 여부에 따라 불량품과 정품을 취출해 내는 불량품 취출부(60) 및 정품 취출부(70)와, 경사대(16)로 낙하된 다이오드(1)의 이송을 선택적으로 제지하는 제 2이송 제지부(80)와, 경사대(16)를 따라 이송되는 다이오드(1)의 수량을 측정하는 카운팅부(90)와, 케이스를 가압하여 교체하는 케이스 가압부(100)와, 조작부(4) 및 각종 센서로부터의 입력신호를 바탕으로 각종 구동 모터 및 솔레노이드에 제어신호를 출력하는 제어유닛으로 이루어져 있다.
여기에서, 본체(2)의 전방에는 조작부(4)가 구비되어 있다. 조작부(4)는 장치 전체의 작동상태를 조작하기 위한 각종 스위치, 가령, 순간작동 스위치, 연속작동 스위치, 정지 스위치와 함께, 검사 완료된 정품 다이오드의 수량을 표시하는 카운터가 설치되어 있다. 본체(2)의 후방에 배치되는 작업대(6)상에는 다이오드의 저항값을 표시하기 위한 디스플레이(9)를 비롯하여 기계의 정상 작동여부를 표시하는 각종 계기들이 설치된 계기함(8)이 구비되어 있다.
한편, 도면에서 보아 본체(2)의 좌측 작업대(10)상에는 원심분리기(12)가 구비되어 있다. 이 원심분리기(12)의 내주면에는 가이드 레일(24)이 나선형으로 감겨져 있어 원심분리기(12)가 회전하게 되면, 내부에 들어 있는 다이오드(1)가 가이드레일(24)을 타고 하나씩 외부로 인출하게 된다. 본체(2)의 우측에는 경사대(16)가설치되어 있다. 경사대(16)는 검사를 거치면서 합격된 정품이 낙하 레일(14)을 타고 흘러내리는 곳으로, 경사대(16)로 낙하된 다이오드(1)는 케이스에 담겨져 보관 장소로 운반된다.
본체(2)의 대략 중앙 부분에는 다수의 수납홈(22)이 구비된 회전판(20)이 설치되어 있다. 회전판(20)은 본체(2)의 내부에 장착된 메인 모터(도시생략)의 작동에 따라서 소정의 속도로 회전되면서 가이드 레일(24)을 타고 유입되는 다이오드(1)는 회전시키면서 검사 및 배출공정으로 이송하는 역할을 한다.
회전판(20)의 둘레에는 각종 센서와 구동수단이 배치되어 있는데 그에 대한 위치를 도 2에 개략적으로 나타내었다. 즉, 가이드 레일(24)로부터 경사대(16)쪽으로 가면서 원심분리기(12)로부터 배출되는 다이오드의 공급량을 조절하기 위한 공급량 조절부(30)를 비롯하여, 제 1이송 제지부(30), 저항 검출부(50), 불량품 취출부(60), 정품 취출부(70), 제 2이송 제지부(80), 카운팅부(90), 케이스 가압부(100)가 차례대로 배치되어 있는데 이를 도 3 내지 도 10을 참조하면서 구체적으로 설명한다.
먼저, 도 3은 가이드 레일(24)을 따라 이송되는 다이오드(1)의 유입상태를 검출하여 공급량을 조절하는 공급량 조절부(30)가 도시되어 있다. 지지판(38)의 상방에는 브라켓(36)을 개재하여 유입검출센서(32)가 설치되어 있다. 따라서, 원심분리기(12)로부터 가이드 레일(24)을 따라 하나씩 배출되는 다이오드(1)는 유입검출센서(32)에 의해 감지되며, 이 유입검출센서(32)에 의해 감지한 다이오드(1)의 입력정보는 와이어(34)를 통해서 본체(2)내에 장착된 제어유닛(도시생략)으로 전달된다. 제어유닛은 유입검출센서(32)에서 전달된 입력신호를 바탕으로 다이오드(1)의 공급속도에 맞게 원심분리기(12)의 회전상태를 제어함으로써, 다이오드(1)의 공급량을 조절함과 동시에 원심분리기(12)에 과부하가 가해지는 것을 막는다.
다음에, 도 4에는 유입된 다이오드가 1개씩 회전판(20)의 수납홈(22)으로 공급되도록 하는 제 1이송 제지부(40)가 도시되어 있다. 이 제 1이송 제지부(40)는 가이드 레일(24)을 따라 이송되는 다이오드(1)가 전진되는 것을 차단함으로써 회전판(20)의 수납홈(22)으로 공급되는 양을 조절하게 된다. 이를 위해서, 가이드 레일(24)상에는 도시하지 않은 솔레노이드의 작동에 따라서 상승되는 스토퍼(42)가 설치되어 있다. 따라서, 제어유닛에 의해 솔레노이드가 통전되면 스토퍼(42)가 상승하면서 다이오드(1)의 일측과 밀착되어 전진을 제지하고 있던 제지단(42a)이 상승되면서 다이오드(1)가 가이드 레일(24)을 따라 이송될 수 있도록 한다. 하나의 다이오드(1)가 통과하면, 제어유닛은 솔레노이드를 오프시키게 되며, 그에 따라 스토퍼(42)가 하강되면서 제지단(42a)에 의해 다이오드(1)의 전진을 방지함으로써, 다이오드(1)가 적정한 시간간격으로 이송되면서 소정의 간격으로 이격되어 있는 회전판(20)의 수납홈(22)에 정확하게 수납될 수 있도록 타이밍을 조절하게 된다.
도 5는 회전판(20)의 수납홈(22)에 수납된 다이오드(1)의 저항값을 검출해 내는 저항 검출부(50)를 나타낸다. 저항 검출부(50)에는 다이오드(1)의 리드(1a)에 대응하는 2개의 접점 스위치(54)를 지닌 저항검출센서(52)가 설치되어 있다. 따라서, 접점 스위치(54)를 통해 읽어들인 다이오드(1)의 저항값은 와이어(56)를 통해서 제어유닛으로 보내지게 되며, 제어유닛은 저항검출센서(52)로부터 입력된 저항값을 바탕으로 디스플레이(9)에 측정 저항을 표시함과 동시에, 다이오드(1)의 정품 여부를 판단하게 된다.
도시하지는 않았으나, 저항검출센서(52)는 제어유닛으로부터 전달되는 신호에 따라 통전되는 통상의 솔레노이드에 의해서 작동된다. 즉, 솔레노이드의 통전에 따라 로드(53)가 하강하게 되면, 로드(53)에 감겨진 리턴 스프링(55)의 탄성력을 이기고 저항검출센서(52)가 하강하면서 2개의 접점 스위치(54)를 다이오드(1)의 리드(1a)와 접촉시켜 측정이 이루어지도록 한다. 측정이 완료된 다음에 솔레노이드는 오프상태로 되며, 로드(53)에 감겨져 있는 스프링(55)에 의해 저항검출센서(52)가 상승되면서 원래의 위치로 복귀되어 다음 다이오드의 진입을 대기하게 된다.
다음에, 도 6과 도 7에는 정품의 여부에 따라 불량품과 정품을 취출해 내는 불량품 취출부(60) 및 정품 취출부(70)가 차례대로 도시되어 있다.
여기에서, 불량품 취출부(60)에는 제 1스텝모터(62)가 설치되어 있으며, 제 1스텝모터(62)의 모터축 선단에는 제 1브러쉬(64)가 고정되어 있다. 따라서, 저항검출부(50)로부터의 입력값을 바탕으로 수납홈(22)에 들어있는 다이오드(1)가 불량으로 판정된 경우, 제어유닛은 제 1스텝모터(62)에 전기를 공급하여 이를 회전 소정의 시간동안 회전시키며, 그에 따라 제 1브러쉬(64)가 함께 회전하면서 수납홈(22)에 들어있는 불량 다이오드(1)를 배출 레일(66)쪽으로 배출시킨다.
마찬가지로, 정품 취출부(70)에도 제 2스텝모터(72)가 설치되어 있으며, 제 2스텝모터(72)의 모터축 선단에는 제 2브러쉬(74)가 고정되어 있다. 따라서, 저항검출부(50)로부터의 입력값을 바탕으로 수납홈(22)에 들어있는 다이오드(1)가 정품으로 판정된 경우, 제어유닛은 제 2스텝모터(72)에 전기를 공급하여 이를 회전 소정의 시간동안 회전시키며, 그에 따라 제 2브러쉬(74)가 함께 회전하면서 수납홈(22)에 들어있는 불량 다이오드(1)를 낙하 레일(14)쪽으로 배출시킨다.
도 8에는 낙하 레일(14)을 통해 경사대(16)로 낙하된 다이오드(1)의 이송을 선택적으로 제지하는 제 2이송 제지부(80)가 도시되어 있다. 이 제 2이송 제지부(80)는 소정 갯수의 다이오드가 케이스에 수납되어 충진된 경우에, 교체를 위해 케이스가 이동되는 동안에 다이오드의 이송을 일시적으로 중단시키는 역할을 한다. 이를 위해서, 경사대(16)상에는 차단판(84)이 연결된 솔레노이드(82)가 설치되어 있다. 이 솔레노이드(82)는 다음에 설명한 카운팅부(90)로부터 전달되는 입력값을 바탕으로 제어유닛으로부터 전달되는 제어신호에 따라서 통전되어 차단판(84)을 수평 이동시킴으로써 다이오드의 이송을 선택적으로 제지하게 된다.
도 9에는 경사대(16)를 따라 이송되는 다이오드(1)의 수량을 측정하는 카운팅부(90)가 도시되어 있다. 카운팅부(90)에는 무접점 센서 형태의 카운팅센서(92)가 설치되어 있어, 경사대(16)를 타고 흘러내리는 다이오드(1)를 검지한 다음 와이어(94)를 통해서 제어유닛으로 보낸다. 제어유닛은 카운팅센서(92)로부터 입력된 신호를 바탕으로 다이오드(1)를 카운팅하여 조작부(4)의 카운터에 표시하는 한편, 소정 갯수(가령, 40개)의 다이오드가 통과하여 케이스에 수납된 경우에는 상술한 바와 같이 솔레노이드(82)를 통전시켜 다이오드의 이송을 일시적으로 정지시킴과 동시에, 다음에 설명할 케이스 가압부(100)에 제어신호를 보내 케이스의 교체작업이 진행되도록 한다.
도 10에는 충진된 케이스(110)를 가압하여 새 케이스(112)로 교체하기 위한 케이스 가압부(100)가 도시되어 있다. 케이스 가압부(100)에는 제어유닛으로부터 전달되는 제어신호에 따라 통전되어 밀판(104)을 가압하는 솔레노이드(102)가 설치되어 있다. 따라서, 솔레노이드(102)의 통전에 따라 밀판(104)이 전진하게 되면, 새 케이스(112)가 전진하면서 다이오드가 충진된 케이스(110)를 케이스 고정대(18)로부터 배출시킨다.
본체(2)에 내장된 제어유닛은 조작부(4)로부터의 조작신호를 비롯하여, 상기 유입검출센서(32)로부터의 입력신호, 상기 저항검출센서(52)로부터의 입력신호, 상기 카운팅센서(92)로부터의 계수량을 바탕으로 각종 구동 모터 및 솔레노이드에 제어신호를 보내 본 발명의 장치를 전체적으로 제어한다.
즉, 조작부(4)에 의해서 작동개시 신호가 입력되면, 제어유닛은 원심분리기(12)를 작동시켜 다이오드(1)가 배출되도록 한다. 원심분리기(12)로부터 가이드 레일을 따라 배출되는 다이오드(1)는 공급량 조절부(30)와 제 1이송 제지부(40)를 거치면서 1개씩 회전판(20)의 수납홈(22)에 수납된다. 다음에, 수납홈(22)에 수납된 다이오드(1)는 저항 검출부(50)를 통과하면서 정품 여부가 판정된다. 이때, 불량품일 경우에 제어유닛은 제 1스텝모터(62)를 통전시켜 불량 다이오드를 배출 레일(66)로 배출시키는 한편, 정품일 경우에 제어유닛은 제 2스텝모터(72)를 통전시켜 정품 다이오드를 낙하 레일(14)로 배출시킨다.
제 2스텝모터(72)의 작동으로 낙하 레일(14)을 따라 경사대(16)로 낙하된 정품 다이오드(1)는 카운팅부(90)를 통과하면서 갯수가 측정되며 제어유닛은 카운팅부(90)로부터의 입력신호를 바탕으로 제 2이송 제지부(80)와 케이스 가압부(100)에 신호를 보내 케이스의 교체작업이 진행되도록 함과 동시에, 교체작업 동안에 다이오드(1)의 이송이 일시적으로 중단되도록 한다.
이상으로 설명한 본 발명에 의하면, 원심분리기에 의해서 순차적으로 공급되는 발광 다이오드의 저항값을 정확히 측정하여 불량인 제품을 취출해 낼 수 있는 한편, 합격판정을 받은 정품 발광 다이오드는 소정의 수량씩 정확하게 카운팅하여 케이스 내에 삽입 포장될 수 있으므로 작업의 효율성이 높고 제품의 불량률을 낮춰 신뢰성을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.

Claims (3)

  1. 전방과 후방에 각각 조작부(4)와 계기함(8)이 구비되어 있고 중앙에는 다수의 수납홈(22)을 지닌 회전판이 설치되어 있으며 일측에는 받침대(10) 및 경사대(16)가 구비되어 있는 본체(2)와,
    상기 받침대(10)상에 배치되며 원심력에 의해 다이오드(1)가 하나씩 순차적으로 가이드 레일(24)을 따라 이송되도록 하는 원심분리기(12)와,
    상기 가이드 레일(24)을 따라 이송되는 다이오드(1)의 유입상태를 검출하는 유입검출센서(32)를 지닌 공급량 조절부(30)와,
    상기 가이드 레일(24)을 따라 유입된 다이오드가 1개씩 상기 회전판(20)의 수납홈(22)으로 공급되도록 이송을 단속적으로 제지하는 제 1이송 제지부(40)와,
    상기 수납홈(22)에 수납된 다이오드(1)의 리드와 접촉하여 저항값을 검출해 내는 저항검출센서(52)를 지니고, 다이오드(1)의 리드(1a)에 대응하는 2개의 접점 스위치(54)가 구비되어 있는 저항 검출부(50)와,
    상기 저항 검출부(50)에 의해 불량품으로 판정된 다이오드(1)를 취출해 내는 제 1스텝모터(62)를 지닌 불량품 취출부(60)와,
    상기 저항 검출부(50)에 의해 정품으로 판정된 다이오드(1)를 낙하 레일(14)을 통해 경사대(16)로 낙하시키는 제 2스텝모터(72)를 지닌 정품 취출부(70)와,
    차단판(84)을 돌출시켜 상기 경사대(16)로 낙하된 다이오드(1)의 이송을 선택적으로 제지하는 솔레노이드(82)를 지닌 제2이송 제지부(80)와,
    상기 경사대(16)를 따라 이송되는 다이오드(1)를 검출하여 수량을 측정하기 위한 카운팅센서(92)를 지닌 카운팅부(90)와,
    상기 카운팅부(90)에서의 측정 수량에 따라 밀판(104)을 가압하여 충진된 케이스를 가압하는 케이스 가압부(100)와,
    상기 조작부(4)로부터의 조작신호를 비롯하여, 상기 유입검출센서(32)로부터의 입력신호, 상기 저항검출센서(52)로부터의 입력신호를 바탕으로 상기 제 1스텝모터(62)와 제 2스텝모터(72)중 어느 하나를 선택적으로 구동시켜 발광 다이오드를 양부에 따라 선별적으로 배출시키며, 상기 카운팅센서(92)로부터의 계수량을 바탕으로 각종 구동 모터 및 솔레노이드에 제어신호를 출력하는 제어유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 검사장치.
  2. 삭제
  3. 상기 불량품 취출부(60)의 제 1스텝모터(62)와 상기 정품 취출부(70)의 제 2스텝모터(72)에는 각각, 제 1 및 제 2 브러쉬(64), (74)가 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 검사장치.
KR10-2000-0056052A 2000-09-23 2000-09-23 발광 다이오드의 검사장치 KR100381694B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2000-0056052A KR100381694B1 (ko) 2000-09-23 2000-09-23 발광 다이오드의 검사장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2000-0056052A KR100381694B1 (ko) 2000-09-23 2000-09-23 발광 다이오드의 검사장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010000374A KR20010000374A (ko) 2001-01-05
KR100381694B1 true KR100381694B1 (ko) 2003-04-26

Family

ID=19690159

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2000-0056052A KR100381694B1 (ko) 2000-09-23 2000-09-23 발광 다이오드의 검사장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100381694B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101368231B1 (ko) 2012-09-10 2014-02-28 (주)에이피텍 엘이디 테이핑 장치
KR101890773B1 (ko) * 2010-07-16 2018-09-28 엘지디스플레이 주식회사 광원유닛의 제조장치 및 제조방법

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101121729B1 (ko) * 2009-09-16 2012-03-22 서울반도체 주식회사 발광소자의 단자 교정장치 및 발광소자의 검사 및 교정 시스템
KR101106711B1 (ko) * 2010-01-29 2012-01-18 (주)에이피텍 발광 다이오드 검사 및 포장 통합장치
KR101445866B1 (ko) * 2013-04-24 2014-10-02 주식회사 에이유테크 엘이디 램프용 에이징 장치
WO2015170791A1 (ko) * 2014-05-05 2015-11-12 테크밸리 주식회사 반도체 테이프릴의 칩 카운팅방법, 그 디스플레이시스템, 칩 카운팅장치
KR101439245B1 (ko) * 2014-05-05 2014-09-19 테크밸리 주식회사 반도체 테이프릴의 카운팅장치
CN105575844B (zh) * 2016-01-29 2018-06-26 华灿光电(苏州)有限公司 一种发光二极管芯片的计数方法和装置
CN112077767B (zh) * 2018-12-29 2021-10-15 苏州市东挺河智能科技发展有限公司 一种二极管性能检测设备上的定位导轨结构
CN110967611B (zh) * 2019-12-25 2021-10-22 金鹏飞 一种新型二极管检测装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101890773B1 (ko) * 2010-07-16 2018-09-28 엘지디스플레이 주식회사 광원유닛의 제조장치 및 제조방법
KR101368231B1 (ko) 2012-09-10 2014-02-28 (주)에이피텍 엘이디 테이핑 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR20010000374A (ko) 2001-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4588292A (en) Universal document validator
KR100381694B1 (ko) 발광 다이오드의 검사장치
US6082732A (en) System for detecting superposed sheets
US4680464A (en) Optical detecting system for article counting machine
US4859863A (en) Label inspection apparatus sensing reflectivity values
KR101742507B1 (ko) 전자부품 분류장치
EP0117402B1 (en) Apparatus for inspecting capsules
KR102171867B1 (ko) 캐리어 파손 감소를 위한 선별 장치
CN211937943U (zh) 玻璃转盘线激光一体机
KR101366188B1 (ko) 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치
JP2021169322A (ja) 食品包装シートに表示された品名及び識別コードの正誤判定装置
CN218517234U (zh) 一种包装盒质量检测机
JP2011167579A (ja) ガラス壜の検査装置
CN112106351A (zh) 用于检查容器的方法和设备
US4684182A (en) Burn-in board for use with automated unloader
EP0061797A2 (en) Apparatus for in-line checking of the liquid level in phials
GB2148865A (en) Automated burn-in board unloader and IC package sorter
JPS6222095B2 (ko)
KR100783595B1 (ko) 듀얼 전자부품 검사장치에서의 전자부품 분류방법
US20090009192A1 (en) System and Method For Package Inspection
JPH10279067A (ja) ハンドラのトレイ搬送装置
JPH0145022B2 (ko)
KR970706502A (ko) 반도체장치 시험장치 및 복수의 반도체장치 시험장치를 구비한 반도체장치 시험시스템
KR100825059B1 (ko) 포장주화양부감별장치
KR960007149Y1 (ko) 분류기의 리드불량 디바이스 취출장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee