KR101445866B1 - 엘이디 램프용 에이징 장치 - Google Patents

엘이디 램프용 에이징 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101445866B1
KR101445866B1 KR1020130045740A KR20130045740A KR101445866B1 KR 101445866 B1 KR101445866 B1 KR 101445866B1 KR 1020130045740 A KR1020130045740 A KR 1020130045740A KR 20130045740 A KR20130045740 A KR 20130045740A KR 101445866 B1 KR101445866 B1 KR 101445866B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
tray
aging
conveyor
stopper
photosensor
Prior art date
Application number
KR1020130045740A
Other languages
English (en)
Inventor
전병주
최정헌
Original Assignee
주식회사 에이유테크
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 에이유테크 filed Critical 주식회사 에이유테크
Priority to KR1020130045740A priority Critical patent/KR101445866B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101445866B1 publication Critical patent/KR101445866B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635—Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/67333—Trays for chips
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 엘이디 램프용 에이징 장치에 관한 것으로, 더욱 자세히 설명하면, 에이징룸으로 투입되는 시간 및 엘이디 램프가 놓여있는 트레이의 개수를 포토센서를 이용하여 카운팅하고 또한, 에이징이 완료된 엘이디 램프가 에이징룸에서 배출되는 시간 및 개수를 포토센서를 이용하여 카운팅하여 에이징룸에서 에이징하는 엘이디 램프의 개수와 에이징 시간을 사용자가 외부에서 제어할 수 있는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프용 에이징 장치에 관한 것이다.

Description

엘이디 램프용 에이징 장치{Aging Device for LED Lamps}
본 발명은 엘이디 램프용 에이징 장치에 관한 것으로, 더욱 자세히 설명하면, 에이징룸으로 투입되는 시간 및 엘이디 램프가 놓여있는 트레이의 개수를 포토센서를 이용하여 카운팅하고 또한, 에이징이 완료된 엘이디 램프가 에이징룸에서 배출되는 시간 및 개수를 포토센서를 이용하여 카운팅하여 에이징룸에서 에이징하는 엘이디 램프의 개수와 에이징 시간을 사용자가 외부에서 제어할 수 있는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프용 에이징 장치에 관한 것이다.
일반적으로 에이징테스트는 50 ∼ 60℃ 정도의 고온 환경의 에이징 챔버 내에서 제품의 내구성을 테스트하기 위해 이루어지며, 이를 위해 에이징챔버 내에는 히터 등과 같이 테스트 환경을 제공하기 위한 설비와 제품을 탑재한 팔레트를 일정한 피치로 이송하기 위해 무한궤도형의 체인이나 체인롤러가 회전축의 스프로킷에 연결되어 모터에 의하여 구동되는 것이 대부분이다.
또한, 에이징장치는 다수의 제품을 테스트를 위해 일정 이상의 길이를 가지는 단위체인 베이스는 층상구조를 가지도록 설계되어 설비공간이 필연적으로 넓어질 수 밖에 없으며, 따라서 상기와 같은 에이징장치 의 설비를 효율적으로 배치하여야 할 필요가 있다.
이때 에이징장치가 구비되는 에이징챔버 내에는 상기와 같이 히터 등에 의해 테스트하기 위한 고온의 환경을 조성하게 되는데, 이 경우 그 설비공간이 넓어지면 테스트를 위한 환경 조성을 위해 많은 에너지를 공급해야 하는 문제가 있으며, 또한, 상기 무한궤도형의 체인이나 체인롤러 등의 부재의 마모 및 늘어짐 현상과 이에 의한 진동으로 발생하는 팔레트의 떨림현상으로 팔레트 하부에 마련된 전기적인 접점의 접속불량으로 완전한 테스트를 하기 어려운 점, 그리고, 테스트를 위해 고온의 환경을 유지하여야 하기 때문에 이러한 환경에 부적절한 모터의 사용으로 인한 누유현상 등이 발생할 수 있다는 문제점을 안고 있었다.
도 1 은 종래의 일 실시예에 따른 형광램프 자동 에이징 장치의 구조를 도시하는 측면도이다. 도 2 는 종래의 일 실시예에 따른 에이징 모듈의 구조 및 구동 모습을 도시하는 평면도이다. 도 3 은 종래의 일 실시예에 따른 에이징 모듈의 구동 모습을 도시하는 측면도이다.
종래의 형광램프 자동 에이징 장치(300)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 에이징 프레임(100)과 형광램프 반출입모듈(200)을 포함하여 구성된다.
먼저 에이징 프레임(100)은, 다수개의 에이징(aging) 모듈(110)이 프레임 (120) 에 수직으로 적층되어 마련되며, 다수개의 형광램프가 탑재되어 에이징되는 구성요소이다.
상기 에이징 모듈(110)이 바닥면과 평행하게 배치되며, 각 에이징 모듈에는 다수개의 형광램프가 바닥면과 평행하게 일정한 간격으로 이격되어 탑재된 상태에서 에이징 과정이 진행된다.
따라서 종래의 에이징 모듈(110)을, 형광램프 탑재대(112); 탑재대 이동부(114);를 포함하도록 구성한다. 먼저 형광램프 탑재대(112)는, 다수개의 형광램프가 탑재되어 에이징되는 구성요소이다. 즉, 하나의 형광램프 탑재대에 수평 방향으로 다수개의 형광램프가 나란하게 탑재되어 동시에 에이징 과정이 진행되는 것이다.
이를 위해 본 실시예에서는 상기 형광램프 탑재대(112)를 다수개의 전극 지지부(112a); 및 인버터부(112b);로 구성하되, 다수개가 상기 형광램프 탑재대(112) 상에서 일정한 간격으로 이격되어 배치되는 구조를 가진다.
여기에서 상기 전극 지지부(112a)는, 도 2 에 도시된 바와 같이, 탑재되는 형광램프의 길이 만큼 이격되어 형광램프의 전극부를 지지하도록 좌우 한 쌍으로 마련된다. 그리고 상기 인버터부(112b)는 각 전극 지지부(112a)와 연결되어 각 전극 지지부에 전원을 인가한다. 이때 각 인버터부와 각전극 지지부간의 간격은 모두 일정하게 유지되도록 하여, 각 형광램프가 동일한 조건하에서 에이징 과정이 진행되도록 한다.
다음으로 탑재대 이동부(114)는, 상기 형광램프 탑재대(112)를 수평 방향으로 이동시켜, 상기 에이징 프레임(100)의 전방으로 출입시키는 구성요소이다. 형광램프 탑재대(112)에 다수개의 형광램프를 로딩하고 언로딩하기 위해서는 상기 형광
램프 탑재대가 에이징 프레임으로부터 외부로 인출되는 것이 바람직하다. 따라서 본 실시예에서는 상기 탑재대 이동부(114)를 이용하여 형광램프 탑재대(112)를 수평 방향으로 이동시키는 것이다.
이때 상기 탑재대 이동부(114)는 상기 형광램프 반출입 모듈(200)의 동작과 연동되어 구동되도록 제어된다.
그리고 상기 탑재대 이동부(114)를, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 형광램프 탑재대의 하부와 결합하여 형광램프 탑재대의 수평 이동 경로를 제공하는 수평이동가이드(114a)와 상기 형광램프 탑재대(112)를 수평 이동시키는 동력을 제공하는 모터(114b)로 구성한다.
다음으로 형광램프 반출입 모듈(200)은, 상기 에이징 프레임(100)의 전측방에 결합되어 상하 이동하며, 각 에이징 모듈(110)에 형광램프를 공급하고 배출하는 구성요소이다.
이 형광램프 반출입 모듈(200)을, 형광램프 공급수단(210); 과 형광램프 배출수단(220); 및 상하 구동수단(230)으로 구성한다.
먼저 형광램프 공급수단(210)은, 수평 방향으로 이동하면서 상기 형광램프 탑재대(112)에 형광램프를 자동으로 공급하는 구성요소이다.
본 발명은 종래의 에이징 장치를 개선한 것으로, 다층으로 구성된 에이징 컨베이어에서 투입되는 입구과 배출되는 출구쪽에 각각 포토센서를 설치하여 엘이디 램프가 에이징 컨베이어로 투입되는 시간 및 엘이디 램프의 개수를 포토센서를 이용하여 카운팅하고 또한, 에이징이 완료된 엘이디 램프가 에이징룸에서 배출되는 시간 및 개수를 포토센서를 이용하여 카운팅하여 에이징룸에서 에이징하는 엘이디 램프의 개수와 에이징 시간을 사용자가 외부에서 제어할 수 있는 엘이디 램프용 에이징 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징장치는, 엘이디 램프용 에이징장치로서,
중앙에 다수개의 엘이디 램프가 에이징을 위하여 수용되어 있는 다수개의 트레이가 놓여지는 에이징 컨베이어 (10) 가 구성되고,
상기 에이징 컨베이어 (10) 의 좌우에는 각각의 트레이의 입출을 담당하는 리프트 (60, 62) 가 각각 설치되고,
상기 에이징 컨베이어 (10) 는 다수개의 엘이디 램프들이 수용되는 트레이가 놓여지는 다단의 층으로 구성되고,
상기 에이징 컨베이어 (10) 속으로 상기 트레이가 투입이 되는 순간에 에이징 컨베이어 (10) 의 각각의 층의 우측 입구에는 포토센서 (20) 가 설치되어 투입되는 각각의 트레이가 센싱되면서 투입되는 각각의 트레이의 숫자와 투입시간이 체크되고, 에이징 시간이 끝난 후에는 상기 각층의 트레이가 상기 에이징 컨베이어 (10) 의 각층의 출구에 설치된 포토센서 (20) 에 의해 트레이가 센싱되면서 배출되는 트레이의 숫자와 배출시간이 체크되는 것을 특징으로 하고,
상기 에이징 컨베이어 (10) 에는 엘이디 램프가 설치된 트레이가 놓여져 이송되는 체인 (28), 상기 체인 (28) 을 구동시키는 모터 (30), 상기 에이징이 끝난 엘이디 램프가 설치된 트레이가 배출리프트 (10) 로 배출되면서 배출되는 트레이를 센싱하면서 숫자를 세는 포토센서 (20) 및 센싱 미러 (22) 가 설치되어 있는 것을 특징으로 하고,
상기 에이징 컨베이어 (10) 에서 상기 트레이가 배출되는 쪽에는 제 1 스토퍼 (26), 리미트 스위치 (24), 제 2 스토퍼 (27) 가 차례대로 설치되고,
상기 에이징이 끝난 트레이가 배출되는 경우, 상기 제 1 스토퍼 (26) 가 아래로 회전하면서 움직여서 더 이상 상기 트레이를 스톱시키지 않고 상기 트레이가 배출 리프트 (62) 쪽으로 이송되게 하고,
상기 트레이가 이송이 되는 동안 상기 리미트 스위치 (24) 가 왼쪽으로 기울어져 있고, 상기 트레이가 이송이 된 후에 상기 리미트 스위치 (24) 가 다시 원위치로 회복하면서 제 2 스토퍼 (27) 가 아래방향으로 움직여 제 2 스토퍼 (27) 에 의해 대기하는 트레이를 더 이상 스토핑 하지 않고, 상기 트레이가 상기 제 1 스토퍼 (26) 까지 이동하게 하는 것을 특징으로 하고,
상기 에이징 컨베이어 (10) 에서 트레이가 투입되는 각각의 층의 입구마다 설치된 상기 포토센서 (20) 에 의해 엘이디가 수용된 트레이가 에이징 컨베이어 (10) 의 각각의 층으로 투입되는 시간과 개수를 측정하고,
상기 각각의 층의 배출되는 배출구마다 설치된 또 다른 포토센서 (20) 에 의해 에이징이 끝난 트레이가 배출되는 시간과 개수를 측정하여 기록하는 PLC 프로그램과 사용자가 시각적으로 볼 수 있는 모니터가 설치되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징 장치는 에이징 컨베이어에 설치된 포토센서를 이용하여 에이징 컨베이어로 투입되는 트레이의 투입시간 및 배출시간을 측정하고, 또한 에이징 컨베이어로 투입되는 트레이의 개수 및 배출되는 트레이의 개수를 확인할 수 있는 현저한 효과가 있다.
본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징 장치에서 외부에서 잘 볼 수 없는 에이징룸 속에 설치된 에이징 컨베이어로 투입되는 트레이의 시간 및 개수를 정확하게 파악할 수 있기 때문에 다수개의 엘이디 램프 제품에 대한 정확한 신뢰성 테스트를 통제할 수 있는 현저한 효과가 있다.
도 1 은 종래의 일 실시예에 따른 형광램프 자동 에이징 장치의 구조를 도시하는 측면도이다.
도 2 는 종래의 일 실시예에 따른 에이징 모듈의 구조 및 구동 모습을 도시하는 평면도이다.
도 3 은 종래의 일 실시예에 따른 에이징 모듈의 구동 모습을 도시하는 측면도이다.
도 4 는 본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징 장치의 전체 모습을 도시한 정면도이다.
도 5 (a) 및 도 5 (b) 는 본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징 컨베이어의 일부분 및 전체부분의 사시도이다.
도 6 은 본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징 장치에서 에이징 컨베이어의 일부분의 정면도이다.
도 7 는 도 6 의 B 부분의 확대된 정면도이다.
도 4 는 본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징 장치의 전체 모습을 도시한 정면도이다.
도 4 는 본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징 장치는 엘이디 램프에 대하여 신뢰성을 검사하기 위한 단계로서 에이징을 하기 위한 에이징 룸에 설치되는 장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징장치는 중앙에 다수개의 엘이디 램프가 에이징을 위하여 수용되어 있는 다수개의 트레이가 놓여지는 에이징 컨베이어 (10) 가 구성되고 상기 에이징 컨베이어 (10) 의 좌우에는 각각의 트레이의 입출을 담당하는 리프트 (60, 62) 가 각각 설치되어 있다.
본 발명에 따른 에이징 컨베이어 (10) 는 다수개의 엘이디 램프들이 수용되는 트레이가 놓여지는 다단의 층으로 구성되어 있다.
본 발명에 따른 리프트 (60, 62) 는 엘이디 램프가 수용된 트레이를 하나씩 에이징 컨베이어 (10) 속으로 투입시키는 투입리프트 (60) 와 에이징이 끝난 엘이디 램프의 트레이를 배출시키는 배출리프트 (62) 로 구성되어 있다.
본 발명의 리프트 (60, 62) 는 리프트체인에 리프트판이 연결되게 설치되고, 트레이가 놓여지는 리프트판이 상하로 움직일 수 있도록 구동하는 구동모터가 설치되어 있다.
본 발명에 따른 에이징 컨베이어 (10) 속으로 트레이가 투입이 되는 순간에 에이징 컨베이어 (10) 의 각층의 우측 입구에 설치된 포토센서 (20) 에 의해 투입되는 트레이가 센싱되면서 투입되는 각각의 트레이의 숫자와 투입시간이 체크된다.
미리 프로그램된 에이징 시간이 끝난 후에는 트레이가 에이징 컨베이어 (10) 의 각층의 출구에 설치된 포토센서 (20) 에 의해 트레이가 센싱되면서 배출되는 트레이의 숫자와 배출시간이 체크된다.
도 5 (a) 및 도 5 (b) 는 본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징 컨베이어의 일부분 및 전체부분의 사시도이다.
도 5 (a) 를 참조하면, 도 4 의 A 부분인 에이징 컨베이어 (10) 에서 에이징이 끝난 트레이가 배출리프트 (62) 쪽으로 배출되는 배출부 구성의 확대된 모습에서, 각각 다수개의 엘이디 램프가 설치된 트레이가 놓여져 이송되는 체인 (28), 상기 체인 (28) 을 구동시키는 모터 (30), 에이징이 끝난 엘이디 램프가 설치된 트레이가 배출리프트 (10) 로 배출되면서 배출되는 트레이를 센싱하면서 숫자를 세는 포토센서 (20) 및 센싱 미러 (22) 가 설치되어 있다.
본 발명의 에이징이 끝난 트레이가 배출되는 경우, 제 1 스토퍼 (26) 가 아래로 움직여서 더 이상 트레이를 스톱시키지 않고 트레이가 배출 리프트 (62) 쪽으로 이송되고, 이송이 되는 동안 리미트 스위치 (24) 가 왼쪽으로 기울어져 있고 트레이가 이송이 된 후에 리미트 스위치 (24) 가 다시 원위치로 회복하면서 제 2 스토퍼 (27) 가 아래방향으로 움직여 제 2 스토퍼 (27) 에 의해 대기하는 트레이를 더 이상 스토핑 하지 않고, 트레이가 제 1 스토퍼 (26) 까지 이동하게 한다.
도 6 은 본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징 장치에서 에이징 컨베이어의 일부분의 정면도이다. 도 7 은 도 6 의 B 부분의 확대된 정면도이다.
도 6 을 참조하면, 본 발명에 따른 엘이디 램프용 에이징 컨베이어 (10) 에서 B 부분의 확대된 도면이 도 7 에 도시되어 있다.
도 6 을 참조하면, 다수개의 엘이디 램프가 설치된 각각의 트레이가 놓여져 이송되는 체인 (28), 상기 체인 (28) 을 구동시키는 모터 (30), 에이징이 끝난 엘이디 램프가 설치된 트레이가 배출리프트 (62) 로 배출되면서 배출되는 각각의 트레이를 센싱하면서 각각의 트레이의 숫자를 세는 포토센서 (20), 상기 포토센서 (20) 위에는 센싱 미러 (22) 가 설치되어 트레이가 센싱 미러 (22) 를 지나가게 되면 포토센서 (20) 에서 트레이의 배출시간과 배출되는 트레이의 숫자를 카운팅 하게 된다.
본 발명에서 트레이를 배출리프트 (62) 쪽으로 배출하고자 하는 경우에는 제 1 스토퍼 (26) 가 아래 방향으로 움직여서 더 이상 트레이를 스톱시키지 않고 트레이가 체인 (28) 을 따라 배출 리프트 (62) 쪽으로 이송되고, 이송이 되는 동안 리미트 스위치 (24) 가 트레이의 밑면에 의해 눌려져 왼쪽으로 기울어져 눌려 있고, 트레이가 배출리프트 (62) 로 투입이 된 후에 리미트 스위치 (24) 가 다시 원위치로 회복하면서 제 1 스토퍼 (26) 는 윗방향으로 움직여 상부로 돌출되게 되고, 제 2 스토퍼 (27) 가 아래방향으로 움직여져 제 2 스토퍼 (27) 에 의해 대기하는 다른 트레이를 더 이상 스토핑 하지 않고, 제 2 스토퍼 (27) 에 의해 대기중이던 1 개의 트레이가 제 1 스토퍼 (26) 까지 이동하여 배출을 위한 대기를 하게 한다.
본 발명에서는 에이징컨베이어 (10) 에서 트레이가 투입되는 각각의 층의 입구마다 설치된 포토센서 (20) 에 의해 엘이디가 수용된 트레이가 에이징 컨베이어 (10) 의 각각의 층으로 투입되는 시간과 개수를 측정하고, 또한 각각의 층의 배출되는 배출구마다 설치된 또 다른 포토센서 (20) 에 의해 에이징이 끝난 트레이가 배출되는 시간과 개수를 측정하여 기록하는 PLC (Programmable Logic Controller) 프로그램 (미도시) 과 이를 사용자가 시각적으로 볼 수 있는 모니터가 별도로 설치되어 있다.
상기한 본 발명의 상세한 설명은 첨부된 도면에 따라 바람직한 실시예를 설명한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.
또한, 본 발명의 기술적 사상에 벗어남이 없이 다양한 형태로 변형된 것은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
10: 에이징 컨베이어 20: 포토센서
22: 센싱 미러 24: 리미트 스위치
26: 제 1 스토퍼 27: 제 2 스토퍼
28: 체인 30: 모터
60: 투입리프트 62: 배출리프트

Claims (4)

  1. 엘이디 램프용 에이징장치로서,
    중앙에 다수개의 엘이디 램프가 에이징을 위하여 수용되어 있는 다수개의 트레이가 놓여지는 에이징 컨베이어 (10) 가 구성되고,
    상기 에이징 컨베이어 (10) 의 좌우에는 각각의 트레이의 입출을 담당하는 리프트 (60, 62) 가 각각 설치되고,
    상기 에이징 컨베이어 (10) 는 다수개의 엘이디 램프들이 수용되는 트레이가 놓여지는 다단의 층으로 구성되고,
    상기 에이징 컨베이어 (10) 속으로 상기 트레이가 투입이 되는 순간에 에이징 컨베이어 (10) 의 각각의 층의 우측 입구에는 포토센서 (20) 가 설치되어 투입되는 각각의 트레이가 센싱되면서 투입되는 각각의 트레이의 숫자와 투입시간이 체크되고,
    에이징 시간이 끝난 후에는 상기 각층의 트레이가 상기 에이징 컨베이어 (10) 의 각층의 출구에 설치된 포토센서 (20) 에 의해 트레이가 센싱되면서 배출되는 트레이의 숫자와 배출시간이 체크되는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프용 에이징 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 에이징 컨베이어 (10) 에는 엘이디 램프가 설치된 트레이가 놓여져 이송되는 체인 (28), 상기 체인 (28) 을 구동시키는 모터 (30), 상기 에이징이 끝난 엘이디 램프가 설치된 트레이가 배출리프트 (62) 로 배출되면서 배출되는 트레이를 센싱하면서 숫자를 세는 포토센서 (20) 및 센싱 미러 (22) 가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프용 에이징 장치
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 에이징 컨베이어 (10) 에서 상기 트레이가 배출되는 쪽에는 제 1 스토퍼 (26), 리미트 스위치 (24), 제 2 스토퍼 (27) 가 차례대로 설치되고,
    상기 에이징이 끝난 트레이가 배출되는 경우, 상기 제 1 스토퍼 (26) 가 아래방향으로 움직여서 더 이상 상기 트레이를 스톱시키지 않고 상기 트레이가 배출 리프트 (62) 쪽으로 이송되게 하고,
    상기 트레이가 이송이 되는 동안 상기 리미트 스위치 (24) 가 왼쪽으로 기울어져 있고,
    상기 트레이가 이송이 된 후에 상기 리미트 스위치 (24) 가 다시 원위치로 회복하면서 제 2 스토퍼 (27) 가 아래방향으로 움직여 제 2 스토퍼 (27) 에 의해 대기하는 트레이를 더 이상 스토핑 하지 않고, 상기 트레이가 상기 제 1 스토퍼 (26) 까지 이동하게 하는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프용 에이징 장치
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 에이징 컨베이어 (10) 에서 트레이가 투입되는 각각의 층의 입구마다 설치된 상기 포토센서 (20) 에 의해 엘이디가 수용된 트레이가 에이징 컨베이어 (10) 의 각각의 층으로 투입되는 시간과 개수를 측정하고,
    상기 각각의 층의 배출되는 배출구마다 설치된 또 다른 포토센서 (20) 에 의해 에이징이 끝난 트레이가 배출되는 시간과 개수를 측정하여 기록하는 PLC (Programmable Logic Controller) 프로그램과 사용자가 시각적으로 볼 수 있는 모니터가 설치되는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프용 에이징 장치.
KR1020130045740A 2013-04-24 2013-04-24 엘이디 램프용 에이징 장치 KR101445866B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130045740A KR101445866B1 (ko) 2013-04-24 2013-04-24 엘이디 램프용 에이징 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130045740A KR101445866B1 (ko) 2013-04-24 2013-04-24 엘이디 램프용 에이징 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101445866B1 true KR101445866B1 (ko) 2014-10-02

Family

ID=51996145

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130045740A KR101445866B1 (ko) 2013-04-24 2013-04-24 엘이디 램프용 에이징 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101445866B1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105203970A (zh) * 2015-09-16 2015-12-30 北京中丽制机电气有限公司 一种led灯板老化装置
CN105759140A (zh) * 2016-02-17 2016-07-13 柳州市乾阳机电设备有限公司 光收发一体模块的老化监控装置
CN115872084A (zh) * 2022-12-31 2023-03-31 中山市博测达电子科技有限公司 一种智能高柔性立库老化单元生产线

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010000374A (ko) * 2000-09-23 2001-01-05 정운환 발광 다이오드의 검사장치
JP2005249425A (ja) 2004-03-01 2005-09-15 Nittetsu Elex Co Ltd 発光パネルのエイジング検査装置及びその方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010000374A (ko) * 2000-09-23 2001-01-05 정운환 발광 다이오드의 검사장치
JP2005249425A (ja) 2004-03-01 2005-09-15 Nittetsu Elex Co Ltd 発光パネルのエイジング検査装置及びその方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105203970A (zh) * 2015-09-16 2015-12-30 北京中丽制机电气有限公司 一种led灯板老化装置
CN105203970B (zh) * 2015-09-16 2019-03-12 北京中丽制机电气有限公司 一种led灯板老化装置
CN105759140A (zh) * 2016-02-17 2016-07-13 柳州市乾阳机电设备有限公司 光收发一体模块的老化监控装置
CN115872084A (zh) * 2022-12-31 2023-03-31 中山市博测达电子科技有限公司 一种智能高柔性立库老化单元生产线

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9315335B2 (en) Conveyance system
KR102039261B1 (ko) 배터리셀 선별수납장치
US9773691B2 (en) Substrate conveying system
KR101445866B1 (ko) 엘이디 램프용 에이징 장치
KR102181281B1 (ko) 물품이송장치
KR20150032774A (ko) 처리 대상물 반송 시스템 및 기판 검사 시스템
TW201731751A (zh) 工件的分離系統及方法
CN111717673A (zh) 托盘输送装置及面板输送系统
KR101957667B1 (ko) 선형 축 이동 구조의 엑스레이 검사 장치
KR100926048B1 (ko) 엘시디 인버터 기판 자동 에이징 시험장치
JP5611027B2 (ja) 樹脂製品の製造システム
JP2019156502A (ja) パレタイズ装置
TWI698385B (zh) 電容測試系統
KR20060135160A (ko) 건조장치
JP2012171625A (ja) 箱詰め装置
KR100472984B1 (ko) 박막 디스플레이 에이징테스트 장치
KR101383045B1 (ko) 셀 인서트 시스템
KR200394547Y1 (ko) 건조장치
KR200387641Y1 (ko) 엘시디 백라이트 유니트 자동검사장치
KR101505923B1 (ko) 인쇄회로기판 프로세스 장치
KR20070019423A (ko) 평판표시소자 제조장치
JP2012152129A (ja) 天板自動供給装置
JP2020105006A (ja) 搬入装置、搬入方法、および位置決め機構
JP2015111118A (ja) 搬送装置、及び分析装置
KR200269388Y1 (ko) 복수개 적층된 광물성 섬유보드를 투입하는 장치

Legal Events

Date Code Title Description
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170911

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180725

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190725

Year of fee payment: 6