KR101366188B1 - 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치 - Google Patents

측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명과 관련된 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치는, 두부 및 나사부를 갖는 나사 제품을 이송할 수 있게 구성된 이송유닛; 상기 이송유닛 상에서 이송중인 상기 제품을 일 위치에서 촬영할 수 있게 배치된 카메라; 상기 제품의 상측에 배치되고, 상기 두부의 측면 및 상기 나사부의 측면에서 반사된 광을 반사시켜 상기 카메라로 입사되도록 구성된 제1광학유닛; 및 상기 제1광학유닛의 외측에 배치되고, 상기 두부의 표면에서 반사된 광이 반사되어 상기 카메라로 입사되도록 구성된 제2광학유닛을 포함할 수 있다.

Description

측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치{VISION INSPECTION APPARATUS HAVING SIDE SURFACE AND HEAD SURFACE INSPECTING FUNCTION}
본 발명은 비전을 이용하여 체결요소 부품의 표면을 검사할 수 있는 비전 검사 장치에 관한 것이다.
전자 산업의 비약적인 발전 및 수요 증대에 힘입어 체결요소 부품도 전자제품의 트렌드를 따라 소형화·정밀화되고 있다. 이러한 전자제품의 고품질화에는 체결요소 부품의 품질 신뢰도 향상도 수반하게 되었으며, 체결요소 부품의 검사는 품질관리의 중요한 부분으로 정착되고 있다.
체결요소 부품의 검사 방식으로서 일찍이 육안 검사법이 시행되고 있으나, 인력에 의존하는 것이므로 시간과 비용의 소요가 과대하며 신뢰도를 보장하기 어렵다. 머리 규격의 대소, 미성형 등을 검사하기 위하여 롤과 같은 기계식 선별기도 사용하고 있으나, 검사 내용이 한정적이어서 다른 검사법에 의하여 보완되어야 한다는 한계가 있다.
체결요소 부품의 자동화 검사 장비의 하나로서 비전 검사 장치는 자동화된 공급장치와 광학장치 및 소프트웨어를 이용하여 제품의 외관을 검사할 수 있게 구성된 것으로, 제품을 촬영한 이미지를 토대로 제품의 불량을 판별한다. 비전 검사 장치에 의해 선별되는 항목도 제품의 크기 또는 표면의 크랙의 존재여부 등으로서 이전의 검사방법에 비해 증가되었다.
비전 검사 장치는 기본적으로 제품의 영상을 획득하기 위한 카메라 및 광학계를 포함하고 있다. 그런데, 검사 대상이 확대됨에 따라 카메라의 수도 증가하게 되는데, 이는 검사 장치의 부피를 크고 복잡하게 할 뿐만 아니라 비용 면에서도 불리할 수 있다.
본 발명은 상기한 점을 감안한 것으로, 하나의 카메라로 검사할 수 있는 항목을 극대화시켜 카메라의 수 및 전체 장치 비용도 줄이는데 그 목적이 있다.
본 발명의 다른 목적은 제품의 측면 검사와 헤드면 검사를 하나의 단계에서 수행하도록 하는데 있다.
상기한 점을 해결하기 위하여, 본 발명과 관련된 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치는, 두부 및 나사부를 갖는 나사 제품을 이송할 수 있게 구성된 이송유닛; 상기 이송유닛 상에서 이송중인 상기 제품을 일 위치에서 촬영할 수 있게 배치된 카메라; 상기 제품의 상측에 배치되고, 상기 두부의 측면 및 상기 나사부의 측면에서 반사된 광을 반사시켜 상기 카메라로 입사되도록 구성된 제1광학유닛; 및 상기 제1광학유닛의 외측에 배치되고, 상기 두부의 표면에서 반사된 광이 반사되어 상기 카메라로 입사되도록 구성된 제2광학유닛을 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 제1광학유닛은 상기 카메라 쪽으로 벌어진 콘미러(cone mirror) 형태로 형성될 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 이송유닛은 회전 구동되는 투광성의 회전 원판을 포함하고, 상기 제품은 상기 회전 원판의 상면에 역상으로 놓여질 수 있게 공급될 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 제2광학유닛은, 상기 회전 원판의 하부에 배치되는 제1반사경; 및 상기 제1반사경으로부터 반사된 광이 상기 카메라로 입사되도록 상기 제1광학유닛의 외측에 배치되는 제2반사경을 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 제1반사경은 상기 회전 원판에 평행하게 배치된 평판미러 형태로 형성되고, 상기 제2반사경은 상기 제품의 상측에 상기 제품 쪽으로 벌어진 콘미러 형태로 형성될 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 제1반사경은 상기 회전 원판에 대하여 경사지게 배치된 평판미러 형태로 형성되고, 상기 제2반사경은 상기 회전 원판의 일측에 배치되며, 상기 제1반사경에 의해 반사된 광을 상기 카메라로 반사시킬 수 있게 평판미러 형태로 형성될 수 있다.
본 발명과 관련된 비전 검사 장치는, 두부 및 나사부를 갖는 나사 제품을 이송할 수 있게 구성된 이송유닛; 상기 이송유닛 상에서 이송중인 상기 제품을 일 위치에서 촬영할 수 있게 배치된 카메라; 및 상기 제품의 상측에 상기 제품을 둘러쌀 수 있게 배치되고, 상기 두부 및 상기 나사부의 측면에서 반사된 광을 반사시켜 상기 카메라로 입사되도록 형성된 표면 반사면과, 상기 두부의 표면에서 반사된 광을 반사시켜 상기 카메라로 입사되도록 형성된 내부 전반사면을 갖는 투광성의 광학유닛을 포함하는 형태일 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 표면 반사면은 상기 카메라 방향으로 벌어진 콘 형태로 형성되고, 상기 내부 전반사면은 상기 제품 방향으로 벌어진 콘 형태로 형성될 수 있다.
본 발명과 관련된 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치에 의하면, 제1광학유닛 및 제2광학유닛에 의하여 제품의 측면 및 헤드면 영상을 하나의 카메라로 획득할 수 있다. 표면 검사를 하나의 카메라를 이용하여 수행하므로 카메라의 수를 줄일 수 있으며, 집약적인 검사가 가능하게 된다. 또한 저비용으로 고효율의 장치 설계가 가능한 이점이 있다.
도 1은 본 발명과 관련된 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치(100)에 의하여 검사를 하는 일 태양을 보인 평면도
도 2는 본 발명과 관련된 표면 검사부(150)를 보인 측면도
도 3은 본 발명과 관련된 표면 검사부(150)에 의하여 촬상된 정상 제품의 이미지의 일 예를 보인 도면
도 4는 본 발명과 관련된 표면 검사부(150)에 의하여 촬상된 불량 제품의 이미지의 일 예를 보인 도면
도 5는 본 발명과 관련된 다른 예에 따른 표면 검사부(250)를 보인 부분 단면도
도 6은 본 발명과 관련된 또 다른 예에 따른 표면 검사부(350)를 보인 측면도
이하, 본 발명과 관련된 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치를 첨부한 도면을 참조로 하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명과 관련된 비전 검사 장치(100)에 의하여 검사를 하는 일 태양을 보인 평면도이다. 자동화된 검사를 위하여, 제품(101)은 공급부(110), 정렬부(120), 이송유닛(130) 및 배출부(180)를 통하여 배출되기까지 일련의 과정을 거치게 된다. 제품(101)은 두부(head) 및 나사부(threaded body)를 갖는 형태로서, 대표적으로 나사가 이에 해당될 수 있다. 다만, 이외에도 검사대상으로서 측면을 갖는 다른 형태의 양산품(예: 리벳, 핀, 샤프트 등)의 검사 장치에도 적용될 수 있다.
공급부(110)는 호퍼(hopper) 형태로 형성되어 있으며, 제품(101)을 시간당 일정 양만큼 정렬부(120)에 공급한다.
정렬부(120)는 서로 모여져 있는 제품(101)을 겹치지 않게 낱개단위로 분리하고 일정한 자세로 정렬시킨다. 구성면에 있어서, 정렬부(120)는 볼(bowl) 피더(121), 직선 피더(122), 스페이서(123)를 포함할 수 있다.
볼피더(121)는 제품(101)이 모여져 있는 상태에서 진동에 의하여 상호 분리되면서 특정 방향을 따라 안내되도록 구성되어 있으며, 이송되는 동안 가이드의 형상에 의하여 특정 자세를 갖도록 유도하거나 특정된 자세를 갖지 않는 제품들을 탈락시킨다. 종류에 있어서 볼피더(121)는 계단형, 원추형, 원통형, 접시형, 단종형 등 알려져 있는 다양한 타입이 적용 가능하다.
볼피더(121)에 의해 일정 자세로 공급된 제품(101)은 직선피더(122)에 의해 일렬로 이송유닛(130)에 정렬될 수 있도록 준비된다. 직선피더(122)는 제품(101)의 무게에 의해 자연적으로 이송되어 먼저 진행된 제품(101)에 밀착시킨다. 공급 속도를 증대시키고 상호간의 간격을 일정하게 유지하기 위해 직선피더(122)에는 공압 노즐과 같은 푸셔(pusher)가 구비될 수 있다. 직선피더(122)의 끝단에는 한꺼번에 제품(101)이 복수 개가 공급되는 것(잼)을 방지하기 위한 기계적 또는 전자적 장치를 포함할 수 있다. 그러한 잼방지 장치는 스프링에 의해 젖혀질 수 있는 암(arm) 또는 게이트(gate)나 롤러(roller) 등이 채택될 수 있다.
스페이서(123)는 직선피더(122)에 의하여 이송유닛(130)에 놓여진 제품(101)이 이송유닛(130) 상에서 일정한 위치에 놓여지도록 안내한다. 이송유닛(130)에 놓여진 제품(101)은 관성 또는 흔들림에 의해 설정된 위치에서 벗어나 있을 수 있으므로, 이를 맞추기 위해 스페이서(123)는 제품(101)이 스페이서(123)에 접촉하는 동안 이송유닛(130)의 반경방향으로 이동되도록 구성된다.
도 1에는 이송유닛(130)의 상면에 제품(101)이 '놓여지는' 방식으로서 정렬부(120)도 그에 적용될 수 있는 일 예를 보인 것이나, 정렬을 위한 메카니즘은 제품에 따라 다양한 형태가 될 수 있다. 그러한 예로서, 정렬부(120)는 제품(101)이 끼워지는 홈이 일정한 간격으로 외주 측면에 형성된 회전 원판을 포함할 수 있다.
이송유닛(130)은 일정한 회전 속도를 갖는 회전 원판을 갖는다. 제품(101)은 원판에 놓여지게 되며, 이송되는 동안 제품(101) 단계에 따라 측정을 받도록 하고 측정이 마쳐진 후 배출되도록 한다. 원판의 구동을 위하여 구동모터 및 속도 제어를 위한 감속 장치 등이 포함될 수 있다. 원판은 제품(101)을 상면에 배치하고 원판의 저면에서도 측정이 가능하도록 투명 글라스 형태로 형성될 수 있다. 이외에도 원판은 외주의 측면에 제품(101)이 끼워질 수 있는 홈이 일정 간격으로 형성된 타입으로도 형성될 수 있다. 도 1은 이중 투명 글라스 타입의 일 예를 든 것이다.
제품감지부(140)는 이송유닛(130)에 옮겨진 제품(101)을 감지한다. 제품감지부(140)는 제품(101)이 제품감지부(140)를 지나치는지를 감지하여 위치 및 제품간의 간격에 관한 정보를 시스템에 전송한다. 제품(101)의 감지를 위하여 광센서, 근접센서 등이 사용될 수 있다. 이외에도 제품감지부(140)는 엔코더 형태로 구현될 수 있다.
표면 검사부(150)는 제품(101)이 해당 위치에 왔을 때 카메라에 의하여 제품(101)의 360도 측면 영상 및 헤드면 영상을 얻을 수 있게 구성된다. 얻어진 측면 영상 및 헤드면 영상은 나사산의 결손이나 결함 또는 크랙의 존재, 헤드면의 표면 결함(크랙), 비트홈의 길이, 편심 여부 등을 평가하는데 활용된다. 표면 검사부(150)의 상세한 구성 및 작용에 대하여는 도 2를 참조로 하여 후술한다.
형상 측정부(160)는 제품(101)의 두부 규격, 나사부의 길이 나사부의 길이, 피치, 나사산의 직경 등 다양한 크기적 요소를 측정할 수 있게 구성된다. 형상 측정부(160)는 제품(101)의 일측에 배치되는 광원(백라이트)과, 광원의 반대쪽에 배치되는 카메라를 갖춤으로써 제품(101)의 실루엣을 검사할 수 있게 구성된다.
배출부(170)는 검사가 완료되었거나 측정되지 않은 제품(101)을 분류하여 배출시킨다. 배출부(170)는 적어도 하나의 양품 배출부(171, 172), 불량품 배출부(173), 미분류 배출부(174)를 포함할 수 있다. 정확한 배출을 위하여 배출부(170)는 공압노즐을 포함할 수 있다.
이외에도 비전 검사 장치(100)는 각 전자 부품들을 제어하거나 감지 또는 측정된 결과를 받는 컴퓨터와, 검사 상태를 시각적으로 표시하기 위한 디스플레이를 포함할 수 있다. 컴퓨터는 양품과 불량품을 구별하기 위한 알고리즘이 포함된 소프트웨어를 내장하며, 사용자의 조작 또는 알림을 용이하게 하기 위한 시각적 사용자 인터페이스(graphic user interface: GUI)를 갖출 수 있다.
도 2는 본 발명과 관련된 표면 검사부(150)를 보인 측면도이다. 도시된 바와 같이, 제품(101)은 두부(101a) 및 나사부(101b)를 가지고 있으며, 나사부(101b)의 표면에는 나사산(101c)이 형성되어 있다.
표면 검사부(150)는 이송유닛(130)의 상측에 배치되어 있는 카메라(151), 제품(101)의 측면에서 반사된 광을 카메라(151)로 반사시키기 위한 제1광학유닛(152) 및 제품(101)의 헤드부 표면에서 반사된 광을 카메라(151)로 반사시키기 위한 제2광학유닛(154, 155)을 포함하고 있다.
제1광학유닛(154)은 두부(101a)의 측면 및 나사부(101b)의 측면에서 반사된 광을 반사시켜 카메라(151)로 입사되도록 한다. 제1광학유닛(152)은 제품(101)의 상측에 배치되어 있으며, 카메라(151)를 향하여 벌어진 콘미러 형태로 형성되어 있다. 이러한 형상을 갖는 제1광학유닛(152)은 제품(101)의 나사부(101b)의 측면 및 두부(101a)의 측면에서 반사된 빛을 반사시켜 상측에 있는 카메라(151)로 입사되도록 한다. 이들 나사부(101b)의 측면 영상 및 두부(101a)의 측면 영상이 순차적으로 배치되도록 제1광학유닛(152)의 위치 및 벌어짐각은 조절될 수 있다. 도 2에 의하면, 제1광학유닛(152)이 반사된 나사부(101b)의 측면에서 반사된 광과 및 두부(101a)의 측면에서 반사된 광이 평행하게 수직방향으로 카메라(151)에 입사되도록 배치된 예를 보이고 있다.
제1광학유닛(152)은 전반사를 이용한 콘렌즈 또는 프리즘 형태로도 형성될 수 있다. 이 경우 제1광학유닛(152)은 내부가 채워진 테이퍼 형태의 투광성 봉재 형태가 될 수 있다.
제2광학유닛(154,155)은 제품(101)의 두부(101a)의 표면에서 반사된 빛이 카메라(151)로 입사되도록 빛의 경로를 변경할 수 있게 구성되어 있다. 도 2에 의하면, 제2광학유닛(154,155)은 제1반사경(154)과 제2반사경(155)을 포함하는 형태로 되어 있다. 제1반사경(154)은 이송유닛(130)에 평행하게 배치된 평판미러 형태로 형성되어 있으며, 제2반사경(155)은 제품(101) 쪽으로 벌어진 콘미러 형태로 형성되어 있다. 제2반사경(155)은 제1광학유닛(152)에 대하여 동심상으로 배치될 수 있다. 이와 같은 배치를 통하여, 두부(101a)의 표면에서 반사된 광은 투광성의 회전원판(130)을 투과한 뒤 제1반사경(154)에 입사하여 제2반사경(155)으로 반사된다. 제2반사경(155)에 도달한 두부(101a)의 표면 영상은 반사되어 카메라(151)로 입사된다. 제2반사경(155)은 제1광학유닛(152)과 같이 콘미러 형태 외에도 전반사를 이용한 콘렌즈 또는 프리즘 형태로 형성될 수 있다.
이와 같은 광학 배치에 의하여, 카메라(151)가 있는 위치에 도달한 제품(101)은 제1광학유닛(152)과 제2광학유닛(154,155)을 통하여 나사부(101b) 및 두부(101a)의 측면 영상과 두부(101a)의 표면 영상이 한꺼번에 카메라(151)에 의하여 획득된다.
도 3은 본 발명과 관련된 표면 검사부(150)에 의하여 촬상된 정상 제품의 이미지의 일 예를 보인 도면이다. 도 3과 같이, 나사부(101b) 및 두부(101a)의 측면과 표면의 영상은 360도 둘레방향을 따라 평면에 펼쳐진 형태로 되어 있다. 즉, 영상의 중심부에 두부(101a)의 표면 영상(101d')이 위치하고 있으며, 주변 방향으로 나사부(101b)의 나사산(101c)의 영상(101c') 및 두부(101a)의 측면 영상(101a')이 순차적으로 위치하고 있다. 이와 같은 이미지는 중심에서 멀어질수록 더 확대되는 왜곡된 영상이 된다. 그러나, 정상 제품에 대하여 이러한 왜곡된 이미지를 기준화상으로 설정하면 불량 제품에 대한 검사가 가능하게 된다. 도 3과 달리, 두부(101a)의 측면 영상은 나사부(101b) 및 두부(101a)의 측면 영상(101c', 101a')으로부터 분리되어 별도의 인접된 곳에 위치되도록 설정될 수 있다.
도 4는 본 발명과 관련된 표면 검사부(150)에 의하여 촬상된 불량 제품의 이미지의 일 예를 보인 도면이다. 검사시 위와 같은 광학 시스템에 의하여 촬영된 영상은 도 3에서 보인 정상 이미지와 대비하여 판단하게 된다. 제품(101)의 측면 또는 두부(101a)의 표면에 형성된 결함 즉, 나사산 결손이나 크랙(F)은 유형화되어 저장될 수 있으며, 제어부에 의하여 판단시 이를 불량 제품으로 처리할 수 있다.
도 5는 본 발명과 관련된 다른 예에 따른 표면 검사부(250)를 보인 부분 단면도이다.
본 예에서, 표면 검사부(250)는 앞에서 설명한 제1광학유닛(152)과 제2광학유닛(154,155)의 역할을 담당하는 하나의 광학유닛(254)을 포함하는 형태로 되어 있다. 즉, 광학유닛(254)은 제품(201)의 상측에 제품(201)을 둘러쌀 수 있게 배치된 일종의 투광성의 링(ring)형 렌즈 또는 링형 프리즘 형태로 되어 있다. 광학유닛(254)은 두부(201a) 및 나사부(201b)의 측면에서 반사된 광을 반사시켜 카메라(251)로 입사되도록 형성된 표면 반사면(254a)과, 두부(201a)의 표면에서 반사된 광을 반사시켜 카메라(251)로 입사되도록 형성된 내부 전반사면(254b)을 갖는다. 표면 반사면(254a)은 카메라(251) 방향으로 벌어진 콘 형태로 형성되고, 내부 전반사면(254b)은 제품(201) 방향으로 벌어진 콘 형태로 형성되어 있다. 따라서, 표면 반사면(254a)은 앞의 제1광학유닛(152)에 대응되고, 내부 전반사면(254b)은 제2반사경(155)에 대응된다. 광의 경로는 앞의 실시예 설명과 유사한 형태로 진행된다. 하나의 링 형태로 형성된 광학유닛(254)은 부품 수를 줄일 수 있으며, 설치와 조립이 용이한 장점이 있다.
도 6은 본 발명과 관련된 또 다른 예에 따른 표면 검사부(350)를 보인 측면도이다.
본 예에서, 제1광학유닛(352)은 제품(301)의 상측에 위치되어 있으며, 제2광학유닛(354,355)은 회전 원판(330)의 일측에 배치되어 있다. 제2광학유닛(354,355)은 제1반사경(354) 및 제2반사경(355)을 포함하고 있다. 제1반사경(354)은 회전 원판(330)에 대하여 경사지게 배치된 평판미러 형태로 형성된다. 제2반사경(355)은 회전 원판(330)의 일측에 배치되며, 제1반사경(354)에 의해 반사된 광을 카메라(351)로 반사시킬 수 있게 평판미러 형태로 형성되어 있다. 제2광학유닛(354, 355)을 이와 같이 배치함으로써 카메라(351)는 제품(301)의 측면 영상 외에 두부의 표면 영상을 한꺼번에 획득할 수 있다. 제1반사경(354)과 제2반사경(355)은 상호 연결되어 일체형으로 구성될 수도 있다.
상기와 같이 설명된 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치는 위에서 설명된 실시예들의 구성과 방법이 한정되게 적용되지 않는다. 상기 실시예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다.
100: 비전 검사 장치 110: 공급부
120: 정렬부 130: 이송유닛
140: 제품 감지부 150: 표면 검사부
151: 카메라 152: 제1광학유닛
154, 155: 제2광학유닛 160: 형상 검사부
170: 배출부

Claims (8)

  1. 회전 구동되는 투광성의 회전 원판을 포함하고, 상기 회전 원판의 상면에 두부 및 나사부를 갖는 나사 제품이 역상으로 놓여진 상태로 이송될 수 있게 구성되는, 이송유닛;
    상기 이송유닛 상에서 이송중인 상기 제품을 일 위치에서 촬영할 수 있게 배치된 카메라;
    상기 제품의 상측에 배치되고, 상기 두부의 측면 및 상기 나사부의 측면에서 반사된 광을 반사시켜 상기 카메라로 입사되도록 구성된 제1광학유닛; 및
    상기 제1광학유닛의 외측에 배치되고, 상기 두부의 표면에서 반사된 광이 반사되어 상기 카메라로 입사되도록 구성된 제2광학유닛을 포함하고,
    상기 제2광학유닛은,
    상기 회전 원판의 하부에 배치되는 제1반사경; 및
    상기 제1반사경으로부터 반사된 광이 상기 카메라로 입사되도록 상기 제1광학유닛의 외측에 배치되는 제2반사경을 포함하는, 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1광학유닛은 상기 카메라 쪽으로 벌어진 콘미러(cone mirror) 형태로 형성된 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치.
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제1반사경은 상기 회전 원판에 평행하게 배치된 평판미러 형태로 형성되고,
    상기 제2반사경은 상기 제품의 상측에 상기 제품 쪽으로 벌어진 콘미러 형태로 형성된 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제1반사경은 상기 회전 원판에 대하여 경사지게 배치된 평판미러 형태로 형성되고,
    상기 제2반사경은 상기 회전 원판의 일측에 배치되며, 상기 제1반사경에 의해 반사된 광을 상기 카메라로 반사시킬 수 있게 평판미러 형태로 형성된 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치.
  7. 회전 구동되는 투광성의 회전 원판을 포함하고, 상기 회전 원판의 상면에 두부 및 나사부를 갖는 나사 제품이 역상으로 놓여진 상태로 이송될 수 있게 구성되는, 이송유닛;
    상기 이송유닛 상에서 이송중인 상기 제품을 일 위치에서 촬영할 수 있게 배치된 카메라;
    상기 제품의 상측에 배치되고, 상기 두부 및 상기 나사부의 측면에서 반사된 광을 반사시켜 상기 카메라로 입사되도록 형성된 표면 반사면과, 상기 두부의 표면에서 반사된 광을 반사시켜 상기 카메라로 입사되도록 형성된 내부 전반사면을 갖는 투광성의 광학유닛; 및
    상기 회전 원판의 하부에 위치되며, 상기 두부의 표면에서 반사된 광이 상기 내부 전반사면으로 향할 수 있도록 설치된 반사경을 포함하는, 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 표면 반사면은 상기 카메라 방향으로 벌어진 콘 형태로 형성되고,
    상기 내부 전반사면은 상기 제품 방향으로 벌어진 콘 형태로 형성된 측면 및 표면 검사기능을 갖는 비전 검사 장치.
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