JPH11118884A - 試験システムおよびその制御方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 目的やゴールの選択から操作を開始すること
ができる試験システムおよびその制御方法を提供するこ
と。 【解決手段】 仮想計測器は、試験タスク手段から渡さ
れた試験ゴールが保有する試験項目に対応した試験クラ
スを利用して、試験パラメータを生成する。そして、仮
想計測器は、試験データと試験データを表示するための
表示シートを生成する。次に、仮想計測器は、試験パラ
メータを試験要素に設定し、試験要素を制御して試験を
行い、試験要素から試験データを取得する。そして、仮
想計測器は、試験要素から取得した試験データを試験デ
ータに格納し、表示シートに試験データの表示を依頼す
る。最後に、仮想計測器は、試験クラスを利用して、試
験要素から取得した試験データから試験項目に対応する
試験結果を算出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、試験制御装置と１
あるいは複数の試験装置を相互接続して被測定物の試験
を行う試験システムおよびその制御方法に関する。本明
細書において、被測定物（ＤＵＴ：Device Under Test
）とは、本発明の試験システムによって試験される装
置、システム、機器、または機器の構成要素をいう。試
験には、製造評価、品質管理、修正、校正、アライメン
ト、調整、性能評価、診断、製品受入検査などの周知の
試験目的のために行われる各種の行為が含まれる。

【０００２】また、本明細書で用いられる「試験装置」
とは、例えば、信号発生器、変調器、復調器、入力／出
力装置、増幅器、ミキサ、符号器、復号器、オシロスコ
ープ、歪み率計、電力計、マルチメータ、変調器、減衰
器、検出器、スペクトラム・アナライザ、ネットワーク
・アナライザ、半導体試験装置、シンセサイザ、恒温
槽、測定装置などのような１つまたはそれ以上の電子機
器、もしくは電子装置を評価するための評価、試験、枚
正、修理、調整などをするために必要な受動型、または
能動型の装置や計測器を含むものとする。

【０００３】本明細書で用いられる「試験タスク」と
は、試験項目、試験条件、高速に試験するか高精度に試
験するかの試験のトレードオフ、試験要素、試験を含む
ものとする。ここで、試験項目とは、例えば高調波測定
などのようなＤＵＴを試験する項目を示すものである。
試験条件とは、上述した高調波測定の例で説明すると、
基本波周波数と測定する高調波の次数などの試験項目の
パラメータと、試験に利用する試験要素の試験パラメー
タからなるものである。また、試験項目に対応する試験
結果とは、試験要素から取得した試験データに、試験項
目に対応する演算を行うことにより得られるデータであ
る。例えば上述した高調波測定の例で説明すると、基本
彼と高調波の電力比が試験項目に対応する試験結果とな
る。

【０００４】また、本明細書で用いられる「プログラム
要素」とは、上述した試験タスクと、試験タスクの実行
順序を制御するための、例えばビギン、エンド、ポー
ズ、ウェイト、開始時間を指定するウェイト、およびこ
れらを複合するループ、条件ループなどを表す。

【０００５】また、本明細書で用いられる「メモリ」と
は、ＲＡＭ、ＲＯＭ、およびＥＰＲＯＭや、フロッピー
・ディスク、ハードディスク、ＣＤＲＯＭなどの永久記
録保存装置、ならびに当該技術分野で周知の他の種類の
メモリを含むものとする。

【０００６】

【従来の技術】簡易型携帯電話システム（ＰＨＳ）やセ
ルラーシステムを試験するには、スペクトラム・アナラ
イザやネットワーク・アナライザ等の複数台の試験装置
を用いる必要がある。このような試験環境では、試験シ
ステムの利用者は、全ての試験装置に関して熟練者では
ありえない。

【０００７】従来の試験システムは、試験プログラムを
可視化するアプローチを採用し、試験装置に関して熟練
者でなくとも利用できる環境を提供している。可視化と
は、プログラムをデータの取得や演算、グラフ表示など
を行うプログラム部品であるアイコン（icon）という絵
文字の集まりとして表示し、試験制御装置としてのコン
ピュータの画面上で押しボタン付きポインティング装置
などを用いて、表示されているアイコン間を結線するこ
とにより、プログラム実行順番を指定する手法をいう。

【０００８】試験システムの利用者は、メニューもしく
はツール・ボックスに格納されているこれらのアイコン
を押しボタン付きポインティング装置でポイントする
（ポインティング装置の押しボタンを押して、ポインテ
ィング装置を移動せずにポインティング装置の押しボタ
ンをリリースする）ことにより選択する。そして、プロ
グラミング用のウインドウ画面上で再度ポイントするこ
とにより各アイコンが画面上に配置される。それぞれの
アイコンごとに定まったいくつかの結線点が設定されて
おり、結線は、結線開始に対応するアイコンの結線点と
結線終了に対応するアイコンの結線点とを、押しボタン
付きポインティング装置によってそれぞれポイントする
ことにより行われる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】

（ａ）目的／ゴールの選択から操作を開始できる試験シ
ステムの実現：上述したように、従来の試験システムで
のプログラミング手法は、データの取得や演算、グラフ
表示などを行うプログラム部品を、それぞれのアイコン
ごとに定まった点をポイントして結線する方式を採用し
ている。このような結線方式では、アイコンに対応した
機能と、各結線点の機能を深く理解しなければ、有効に
利用することができないという問題があった。このた
め、試験システムの利用者は、ＤＵＴの評価方法を考え
るより、‘試験システムから提供されているプログラミ
ング部品をどのように組み合わせるか’というプログラ
ムの仕方に多くの労力を必要としていた。

【００１０】特に、複数台の試験装置を用いなければＤ
ＵＴの試験を行うことができない環境において的確な試
験を実施しようとすると、試験システムを熟知していな
くてもＤＵＴの評価内容に利用者の意識を集中できる試
験システムが必要である。

【００１１】仮に、試験目的やゴールの選択から操作を
開始することができる試験システムがあれば、試験シス
テムの利用者は、意識をＤＵＴの評価方法に集中するこ
とができる。このため、試験目的やゴールの選択から操
作できる試験システムが望まれている。

【００１２】（ｂ）試験の高速化、高精度化を指定でき
る試験システムの実現：試験装置や試験システムを利用
するときには、高速に試験するか高精度に試験するかを
択一的に選択しなければならず、試験の高速化と高精度
化との間にはトレードオフの関係がある。つまり、高速
に試験するためには、試験精度を犠牲にしなければなら
ない。反対に、高精度に試験するためには、試験時間が
長くなる。

【００１３】しかし、このような試験の高速化および高
精度化のトレードオフの関係は、従来の試験システムで
は明確にされておらず、何回か試行錯誤で試験を実施し
ないと、「試験装置をどのように使うか」のトレードオ
フに対応した詳細設定に、利用者はたどりつけない。ま
た、利用者が試験装置のハードウエア構成や対応する試
験パラメータを熟知していなければ、この試行錯誤の試
験の実施も行うことができないという問題があった。

【００１４】このため、試験システムや試験装置内部の
詳細構成や試験パラメータを熟知していなくても、高速
高精度試験のトレードオフが簡単に指定できる試験シス
テムが望まれていた。

【００１５】（ｃ）試験結果であるグラフ表示上のある
座標を指定すると、指定範囲に適応するサービスが起動
される試験システムの実現：試験システムでは、ＤＵＴ
の試験データをグラフ化して表示し、これにより例えば
期待していないスプリアスの電力値を迅速および高い確
度で求めることが要求される。しかし、例えば従来の試
験システムでスプリアスの電力値を求めようとすると、
試験を中断する、試験データの加算を行うプログラ
ムを構築する、再度試験を実行し電力値を求める、な
どのプログラミングと再操作を行わなければならなかっ
た。このとき、電力を求めるスプリアスが試験データの
一部であった場合には、グラフ表示上のスプリアスの位
置座標から、対応する試験データ内の配列データを探し
出し、探し出した配列データの加算を行うプログラムを
追加しなければならない。このように、従来の試験シス
テムでは、単にグラフ表示上のスプリアスの電力値を求
めるだけでも、多くの労力を必要とした。

【００１６】このため、プログラムを変えずに、試験結
果であるグラフ表示上のある座標を指定すると、指定範
囲に対応するサービスを起動できる試験システムがあれ
ば便利である。

【００１７】（ｄ）試験要素から得られた結果のグラフ
表示上の指定範囲から、試験要素の新たな試験パラメー
タを生成し、生成した試験パラメータにより新たな試験
を起動できる試験システムの実現：上述したように、期
待していないスプリアスの周波数を詳細に分析すると
き、スプリアスを包含する周波数範囲を新たな試験パラ
メータとした再試験が必要になる。特にスプリアスなど
の場合、試験の主目的となる信号のレベルに対するスプ
リアスのレベルや周波数が問題となる。このため、試験
の主目的となる信号レベルとスプリアスを同時に表示
し、これらの信号を比較することができる環境が必要と
なる。

【００１８】従来の試験システムでも、測定器パネルを
表示し、中心周波数やスパンなどのハードウェアの制御
を行うようにプログラムすることにより、試験パラメー
タを再設定できる環境を実現することができる。しか
し、予期していない複数のスプリアスを分析するために
は、新たなハードウェアを制御する計測器パネルを新た
に表示できるように、試験システムの利用者がプログラ
ムを変更し、表示する計測器パネル上で中心周波数やス
パンなどの試験パラメータを調整しなければならない。

【００１９】仮に、グラフ表示上でスプリアスを発見し
たときに、発見したスプリアスのグラフ表示上の範囲を
指定することにより新たな試験パラメータを生成できる
仕組みがあると、試験システムの利用者は、スプリアス
を発見するたびに試験プログラムを変更する必要がなく
なる。また、自動生成された試験パラメータが、スプリ
アスを分析するための測定器に自動設定されると、試験
システムの利用者は、グラフ表示からスプリアスの周波
数などを読み取り、新たに作成した測定器パネルに試験
パラメータを設定する必要がなくなる。これらの機能に
より、試験システムの利用者の負担を大幅に削減するこ
とができる。この結果、試験システムの利用者は、プロ
グラムの変更にとらわれずにスプリアスの分析に集中で
きるようになる。しかし、従来の試験システムでは、こ
のような機能が提供されていない。

【００２０】このため、プログラムを組み直さずに、試
験要素から得られた結果のグラフ表示上の指定範囲か
ら、試験要素の新たな試験パラメータを生成し、生成し
た試験パラメータにより新たな試験を起動することがで
きる試験システムが望まれている。

【００２１】（ｅ）試験要素から得られた結果のグラフ
表示上の指定範囲から、別の試験要素の新たな試験パラ
メータを生成し、生成した試験パラメータにより別の試
験要素の新たな試験を起動できる試験システムの実現：
上述したようなスプリアスの分析を行うには、試験機器
として、スペクトラム・アナライザ、周波数カウンタ、
パワーメータなどが必要になる。試験システムにこれら
試験機器が接続されている場合に、適切な試験機器によ
り評価を行うことができると、必要とする試験精度で効
率よく分析を行うことができる。例えばスペクトラム・
アナライザによる試験においてスプリアスを発見したと
きに、分析したいスプリアスのあるグラフ表示上の範囲
から、周波数カウンタなどを用いた試験ができると、ス
プリアスの周波数を高い確度で試験することができる。

【００２２】仮に、グラフ表示上でスプリアスを発見し
たときに、指定されたグラフ表示上の範囲から、スプリ
アスを分析するための試験パラメータが自動生成され、
スプリアスを分析するための試験要素に自動設定される
と、試験システムの利用者は、スプリアスを発見したグ
ラフ表示からスプリアスの周波数などを読み取り、新た
に作成した測定器パネルに試験パラメータを手動で設定
する必要がなくなる。この結果、試験システムの利用者
は、プログラムの変更にとらわれずに、スプリアスの分
析に意識を集中できるようになる。しかし、従来の試験
システムでは、このような機能が提供されていない。

【００２３】このため、プログラムを組み直さずに、別
の試験要素の新たな試験パラメータを生成し、生成した
試験パラメータにより別の試験要素に対応した新たな試
験を起動することができる試験システムが望まれてい
た。

【００２４】本発明は、このような点に鑑みて創作され
たものであり、その第１の目的は、目的やゴールの選択
から操作を開始することができる試験システムを提供す
ることにある。また、本発明の第２の目的は、高速に試
験するか高精度に試験するかを指定できる試験システム
を提供することにある。本発明の第３の目的は、プログ
ラムを組み直さずに、試験結果であるグラフ表示上のあ
る座標を指定すると、指定範囲に適応するサービスを起
動することができる試験システムを提供することにあ
る。本発明の第４の目的は、プログラムを組み直さず
に、試験要素から得られた結果であるグラフ表示上の指
定範囲から、試験要素の新たな試験パラメータを生成
し、生成した試験パラメータによる新たな試験を起動す
ることができる試験システムを提供することにある。本
発明の第５の目的は、プログラムを組み直さずに、ある
試験要素から得られた結果であるグラフ表示上の指定範
囲から、別の試験要素の新たな試験パラメータを生成
し、生成した試験パラメータによる新たな試験を起動す
ることができる試験システムおよびその制御方法を提供
することにある。

【００２５】

【課題を解決するための手段】本発明の内容を説明する
前にオブジェクトの概念について説明する。

【００２６】（１）オブジェクトの継承関係 オブジェクトとは、属性（データ）と処理とを一体化
し、メモリに格納したものである。図１は、オブジェク
トの継承関係を示す図である。また、図２はオブジェク
トのメモリ上での構成を示す図である。図１に示すよう
に、派生オブジェクトから基底オブジェクトに“継承”
と記された矢印が引かれている。これは、派生オブジェ
クトが基底オブジェクトから継承されたオブジェクトで
あることを示している。図２には、このような関係にあ
る基底オブジェクトと派生オブジェクトのメモリ上の構
成が示されている。

【００２７】派生オブジェクトは、メモリの先頭に基底
オブジェクトをもつ。このため、派生オブジェクトのエ
ントリ・ポイントは、派生オブジェクトが内部にもつ基
底オブジェクトのエントリ・ポイントと同じアドレスを
示す。すなわち、派生オブジェクトを基底オブジェクト
としてあつかうことができる。このように派生オブジェ
クトがメモリの先頭に基底オブジェクトをもつことを
‘派生オブジェクトは、基底オブジェクトを継承する’
と表現する。また、派生オブジェクトが基底オブジェク
トを継承するとき、基底オブジェクトを親のオブジェク
ト、派生オブジェクトを子のオブジェクトと表現する。

【００２８】図２に示す例では、派生オブジェクト内に
２つの‘処理１’が実装されている。メモリ上の派生オ
ブジェクトのエントリ・ポイント近くにある‘処理１’
は、基底オブジェクトで定義された処理である。別の
‘処理１’は、派生オブジェクトで定義される処理であ
る。

【００２９】この派生オブジェクトに‘処理１’を要求
すると、次の手順で派生オブジェクトで定義される‘処
理１’が実行される。 （ａ）オブジェクトに‘処理１’の実行を要求する。 （ｂ）オブジェクトは、要求された処理を子のオブジェ
クトから親のオブジェクトへと検索する。 （ｃ）オブジェクトは、要求した処理の名称、処理の戻
り値、引数が一致した処理を検出し、それを実行する。

【００３０】このため、派生オブジェクトを基底オブジ
ェクトとしてあつかうときでも、‘処理１’の実行を要
求すると、派生オブジェクトで定義されている‘処理
１’が実行される。ただし、子のオブジェクトであって
も、親のオブジェクトを指定して、親のオブジェクトの
処理を実行することはできる。また、親の基底オブジェ
クトに‘処理１’が実装されていないときは、基底オブ
ジェクトとしてあつかったオブジェクトに‘処理１’の
実行を要求できない。基底オブジェクトに実行を要求で
きるのは、基底オブジェクト内に定義されている処理だ
けである。

【００３１】基底オブジェクトがもつ‘基底オブジェク
トの属性１’に対して、派生オブジェクトが内容を参照
したり、内容を変更したりすることが可能である。

【００３２】（２）オブジェクトの保有関係 図３は、オブジェクトの保有関係の表記例を示す図であ
る。図３において、“保有元オブジェクト”から“保有
先オブジェクト”に「保有」と記された線が引かれ、
“保有元オブジェクト”側にひし形の記号が記載されて
いる。これは、“保有元オブジェクト”が“保有先オブ
ジェクト”を保有していることを示している。図４は、
このような“保有元オブジェクト”と“保有先オブジェ
クト”のメモリ上の構成を示す図である。

【００３３】“保有元オブジェクト”が“保有先オブジ
ェクト”を１つだけ保有するときは、“保有先オブジェ
クト”のメモリ上のエントリポイントを“保有元オブジ
ェクト”のメモリ上に記憶する。また、“保有元オブジ
ェクト”が保有先のオブジェクトを複数保有するときに
は、“保有先のオブジェクト”のメモリ上のエントリポ
イントのセット（配列データ）を“保有元オブジェク
ト”のメモリ上に記憶する。この構造により、保有元の
オブジェクトは、保有元のオブジェクトが管理するメモ
リ内を参照することで、保有先のオブジェクトのメモリ
上のエントリポイントが入手でき、保有先のオブジェク
トがもつ処理を起動することが可能となる。

【００３４】また、“保有先オブジェクト”の子のオブ
ジェクトであっても、親の“保有先オブジェクト”とし
て保有することができる。さらに、“保有元オブジェク
ト”の子のオブジェクトは、内包する“保有元オブジェ
クト”の保有するオブジェクトを参照したり、保有する
オブジェクトを変更することができる。

【００３５】次に、本発明の内容を説明する。〔試験タ
スク手段〕従来の試験システムは、試験目的／ゴールを
選択できなかったために、プログラムの実現方法に多く
の労力を必要とし、ＤＵＴの評価内容を中心に考えるこ
とができなかった。また、従来の試験システムでは、何
回か試行錯誤しないと、高速に試験するか高精度に試験
するかのトレードオフに対応した試験システムの詳細設
定を利用者が発見できなかった。これらの課題を解決す
るために、本発明においては、新たに試験タスク手段を
追加した。

【００３６】試験タスク手段とは、試験目的・ゴールを
定めるためのＧＵＩを提供するためのものである。試験
タスク手段は、試験を行うための指定された試験要素
と、少なくとも１つの試験ゴールを記憶する。この試験
ゴールには、試験項目、試験条件、高速に試験するか高
精度に試験するかの試験のトレードオフ等が含まれてい
る。そして、試験システムの利用者の要求にしたがっ
て、少なくとも１つ以上の試験項目が指定された試験ゴ
ールが仮想計測器手段に送られ、測定が起動される。

【００３７】図５は、上述した試験タスク手段を実現す
るために必要な基本オブジェクトの構造を示す図であ
る。図５に示すように、試験タスク手段を実現する基本
オブジェクトには、“試験項目”、“試験条件ファイル
名”、“試験トレードオフ”、“試験ゴール”、“試験
要素名”、“試験タスク”がある。以下、各オブジェク
トについて説明する。

【００３８】“試験項目”：試験の項目名を属性として
メモリ上に記憶するためのオブジェクトである。“試験
項目”は、試験システムの利用者が試験項目を指定した
ときに、試験システムの利用者が試験項目で利用できる
試験条件をメモリ上に記憶する“試験条件ファイル名”
を保有する。“試験項目”は、“試験項目”のアイコン
を表示する機能をもつ。

【００３９】“試験条件ファイル名”：メモリに記憶し
た試験条件の名前を属性としてメモリ上に記憶するオブ
ジェクトである。“試験条件ファイル名”は、“試験条
件ファイル名”のアイコンを表示する機能をもつ。

【００４０】“試験トレードオフ”：高速に試験するか
高精度に試験するかの試験のトレードオフ情報を属性と
してメモリ上に記憶するオブジェクトである。試験トレ
ードオフは、試験タスクが記憶する試験要素名を参照し
て、高速試験と高精度試験に対応した試験要素アイコン
を表示する機能をもつ。

【００４１】“試験ゴール”：試験条件、試験トレード
オフ、試験項目を保有するオブジェクトである。

【００４２】“試験要素名”：試験に利用する試験要素
の名称を属性としてメモリ上に記憶するオブジェクトで
ある。また、試験要素で利用できる複数の“試験項目”
を保有する。例えば、周波数カウンタのように唯一の試
験項目をもつようなデフォルト値で試験項目が定められ
る試験要素も存在する。このような試験要素を表すとき
に、“試験要素名”は、デフォルトで起動する“試験項
目”を属性としてメモリ上に記憶する。“試験要素名”
は、試験要素を表すアイコンを表示する機能をもつ。

【００４３】“試験タスク”：“試験タスク”は、複数
の“試験ゴール”と１つの“試験要素名”を保有するオ
ブジェクトである。“試験タスク”は、プログラム要素
の１つであり、‘実行する’処理をもつ。“試験タス
ク”の‘実行する’処理では、保有する“試験要素名”
に対応する“仮想計測器”の派生オブジェクトに、保有
する“試験ゴール”を送って試験を起動する。

【００４４】上述した“試験タスク”は、複数の“試験
ゴール”と１つの“試験要素名”を保有することによ
り、試験目的／ゴールを定めるためのＧＵＩを提供す
る。

【００４５】図６および図７は、試験タスク手段によっ
て提供される工程の手順を示す流れ図である。なお、試
験タスク手段は、グラフィカル・ディスプレイ上にオー
バラップ表示できる第１の表示領域を生成する。

【００４６】まず、試験タスク手段は、第１の表示領域
上に少なくても１つ以上の“試験要素名”を表すアイコ
ンを表示し（ステップａ１）、この第１の表示領域上に
ＤＵＴを表すアイコンを表示する（ステップａ２）。

【００４７】この状態において、試験システムの利用者
がポインティング装置を利用して、“試験要素名”を選
択する（ステップａ３）。試験タスク手段は、選択され
た“試験要素名”を“試験タスク”の保有関係に設定し
（ステップａ４）、高速試験と高精度試験に対応した
“試験要素名”を表すアイコンを表示する（ステップａ
５）。そして試験タスク手段は、“試験要素名”が保有
する“試験項目”を表すアイコンを第１の表示領域上に
表示する（ステップａ６）。

【００４８】試験タスク手段は、この表示において試験
システムの利用者によって“試験項目”のアイコンが選
択されたか否かを判定し（ステップａ７）、選択された
場合には、次に第１の表示領域上の選ばれたアイコンを
表示する位置に、選択された“試験項目”を表すアイコ
ンを移動し（ステップａ８）、“試験タスク”が保有す
る“試験ゴール”に選択された“試験項目”を設定し保
有させる（ステップａ９）。また、試験タスク手段は、
第１の表示領域上に、選択された“試験項目”が保有す
る“試験条件ファイル名”を表すアイコンを表示する
（ステップａ１０）。

【００４９】次に、試験タスク手段は、試験システムの
利用者が“試験条件ファイル名”のアイコンを選択した
か否かを判定する（ステップａ１１）。このアイコンが
選択されると、次に試験タスク手段は、第1の表示領域
上の選ばれたアイコンを表示する位置に、選択された
“試験条件ファイル名”を表すアイコンを移動し（ステ
ップａ１２）、“試験タスク”が保有する“試験ゴー
ル”に選択された“試験条件ファイル名”を設定し保有
する（ステップａ１３）。

【００５０】次に、あるいは上述したステップａ７また
はステップａ１１において否定判断がなされた場合に
は、試験タスク手段は、試験システムの利用者によって
高速試験が選択されたか否かを判定し（ステップａ１
４）、高速試験が選択された場合には、ＤＵＴを表すア
イコンと高速試験に対応した“試験要素名”を表すアイ
コンとを結線する。ＤＵＴを表すアイコンと高速試験に
対応した“試験要素名”を表すアイコンが結線される
と、“試験タスク”は、高速試験のトレードオフ情報を
属性としてメモリ上に記憶する“試験トレードオフ”を
生成し、保有する試験ゴールの保有関係に設定する（ス
テップａ１５）。そして、試験タスク手段は、仮想計測
器手段に生成した“試験ゴール”を送り、試験を起動す
る。

【００５１】また、試験システムの利用者が高精度試験
を選択するときは、ＤＵＴを表すアイコンと高精度試験
に対応した“試験要素名”を表すアイコンとを結線す
る。ＤＵＴを表すアイコンと高精度試験に対応した“試
験要素名”を表すアイコンが結線されると、“試験タス
ク”は、“試験トレードオフ”を生成し、高精度試験の
トレードオフ情報を属性として記憶し、試験ゴールに
“試験トレードオフ”を保有させる（ステップａ１
６）。次に、試験タスク手段は、生成した“試験ゴー
ル”を仮想計測器手段に送り、試験を起動する。

【００５２】上述した一連の処理は、試験の目的を定め
るためのものである。

【００５３】〔試験パラメータ記憶手段〕試験パラメー
タ記憶手段は、試験要素により試験を行うのに必要な試
験パラメータをメモリ上に記憶する。図８は、試験パラ
メータ記憶手段を実現するための基本オブジェクトの構
造を示す図である。図８に示すように、試験パラメータ
記憶手段を実現する基本オブジェクトには、“試験パラ
メータ項目”と“試験パラメータ”がある。以下、各オ
ブジェクトについて説明する。

【００５４】“試験パラメータ項目”：“試験パラメー
タ名”と“試験パラメータ”を属性としてメモリ上に記
憶するオブジェクトである。

【００５５】“試験パラメータ”：試験要素により試験
を行うのに必要な少なくとも１つ以上の“試験パラメー
タ項目”を保有する。また“試験パラメータ”を利用し
て得られるデータを格納する１つの“試験データ”を保
有する。

【００５６】〔試験データ記憶手段〕仮想計測器が試験
で取得したデータをメモリ上に記憶する。図８に示すよ
うに、試験データ記憶手段を実現するための基本オブジ
ェクトには、“試験データ”がある。

【００５７】“試験データ”：仮想計測器が試験で取得
した試験データを属性としてメモリ上に記憶する。“試
験データ”は、試験データを取得するために利用した
“試験パラメータ”を１つ保有する。

【００５８】〔仮想計測器手段〕仮想計測器手段は、目
的／ゴールから試験を行うためのものである。仮想計測
器手段は、試験タスク手段により指定された測定ゴール
の情報から、試験クラス手段を利用して試験パラメータ
を生成し、生成した試験パラメータを試験要素に送り、
試験要素を制御して試験を実行する。そして、試験要素
から試験データを取得し、取得したデータを試験データ
記憶手段によりメモリ上に記憶する。図８に示すよう
に、仮想計測器手段を実現するための基本オブジェクト
は、“仮想計測器”である。

【００５９】“仮想計測器”：“仮想計測器”は、“試
験データ”と“試験パラメータ”とを複数保有する。ま
た、試験結果をグラフィック・ディスプレイ上に表示す
るための複数の“表示シート”を保有する。さらに、試
験データの演算などのサービスを行う複数の“仮想計測
器のサービス”を保有する。仮想計測器は、“測定ゴー
ル”を指定した測定の起動を処理する。

【００６０】〔表示シート手段〕表示シート手段とは、
試験要素から取得したデータを表示するための手段であ
る。また、試験データ記憶手段、スロット情報手段と結
合して、ポインティング装置によるグラフ表示上での範
囲指定から“スロット情報”を生成することができる。
図８に示すように、表示シート手段を実現するための基
本オブジェクトには、“表示シート”がある。

【００６１】“表示シート”：“表示シート”は、１つ
の“試験データ”や“試験データ”を取得した“仮想計
測器”を保有し、“試験データ”の内容をグラフ表示す
る。また、“表示シート”は、ポインティング装置によ
るグラフ表示上での範囲指定から“スロット情報”を生
成することができる。“表示シート”は、複数の“スロ
ット情報”を保有する。“表示シート”は、グラフ表示
上での操作を支援するために、保有する“仮想計測器”
が保有する“仮想計測器のサービス”のアイコンや、
“インタラクタ”を参照して、利用できる試験要素を表
示する機能をもつ。

【００６２】〔スロット情報手段〕スロット情報手段と
は、ポインティング装置によりグラフ表示上で範囲指定
された範囲をメモリ上に記憶するオブジェクトである。
図８に示すように、スロット情報手段を実現するための
基本オブジェクトには“スロット情報”がある。

【００６３】“スロット情報”：スロット情報とは、範
囲データを属性としてメモリ上に記憶するオブジェクト
である。そして、範囲データの元となる“試験データ”
を１つ保有する。また、保有する“試験データ”のグラ
フ表示上に範囲データの外枠を表示する機能がある。ま
た“スロット情報”は、グラフ表示上の範囲データが示
す領域で選択された“仮想計測器のサービス”や“仮想
計測器”を属性としてメモリ上に記憶する機能をもつ。

【００６４】〔仮想計測器のサービス手段〕仮想計測器
のサービス手段は、試験結果のグラフ表示上の指定され
た範囲での演算などのサービスを提供するための手段で
ある。仮想計測器手段とスロット情報手段と試験クラス
手段と試験データ記憶手段とを結合してグラフ表示上の
ある範囲での演算などのサービスを実現する。図８に示
すように、仮想計測器のサービス手段を実現するための
基本オブジェクトには、“仮想計測器のサービス”があ
る。

【００６５】“仮想計測器のサービス”：“仮想計測器
のサービス”は、“仮想計測器”が取得した試験データ
の指定範囲での演算などのサービス処理を提供するため
のオブジェクトである。‘サービス処理’をもつ。

【００６６】仮想計測器のサービスには、例えば、試験
データの指定範囲内のピーク値を求める“ピーク・サー
チ”や、試験データの指定範囲内の電力を求める“パワ
ーの算出”などがある。“ピーク・サーチ”や“パワー
の算出”などは、“仮想計測器のサービス”から派生し
たオブジェクトである。“仮想計測器のサービス”の
‘サービス処理’は、“ピーク・サーチ”や“パワーの
算出”などの子のオブジェクトのために定義された処理
である。利用するオブジェクトが‘サービス処理’であ
ろうが“ピーク・サーチ”であろうが、“仮想計測器の
サービス”としてあつかい、‘サービス処理’を実行す
ると、‘サービス処理’もしくは“ピーク・サーチ”の
‘サービス処理’が実行され、‘サービス処理’もしく
は“ピーク・サーチ”の演算結果を取得することができ
る。

【００６７】〔インタラクタ手段〕インタラクタ手段
は、仮想計測機手段とスロット情報手段と試験クラス手
段とを結合して新しい試験項目の問い合わせや新しい試
験の起動と新しい試験データのグラフ表示を行う手段で
ある。また、試験システムで利用できる試験要素を表す
アイコンを表示する機能をもつ。図８に示すように、イ
ンタラタタ手段を実現するための基本オブジェクトに
は、“インタラクタ”がある。

【００６８】“インタラクタ”：指定された“試験要素
名”に対応する“仮想計測器”と、指定された“試験項
目”に対応する“試験クラス”を利用して“試験パラメ
ータ”を生成し、生成した“試験パラメータ”を“仮想
計測器”に送り試験を行う。インタラクタは、利用でき
る複数の仮想計測器を保有するオブジェクトである。

【００６９】〔試験クラス手段〕試験クラス手段とは、
目的／ゴールから試験要素の試験パラメータに変換する
手段である。また、変換した試験パラメータを利用する
ことにより試験要素から取得したデータから測定項目に
対応する試験結果を算出する機能をもつ。試験クラス手
段は、仮想計測器手段やインタラクタ手段からの要求に
応じて、試験条件、高速に試験するか高精度に試験する
かの試験のトレードオフ、Ｘ軸とＹ軸に対応する試験範
囲などの情報から指定された試験要素の試験パラメータ
を生成することができる。また、仮想計測器手段からの
要求に応じて、試験データから試験項目に対応する試験
結果を算出することができる。

【００７０】図９は、試験クラス手段を実現するための
基本オブジェクトの構造を示す図である。同図に示すよ
うに、試験クラス手段を実現する基本オブジェクトに
は、“試験クラス”、“リーフ試験クラス”、“試験ク
ラスのインプリメンタ”、“コンポジット試験クラス”
がある。

【００７１】“試験クラス”：試験クラスの子のオブジ
ェクトが備える処理を定義した抽象オブジェクトであ
る。このオブジェクトは、試験条件、Ｘ軸とＹ軸に対応
する試験範囲などの情報から指定された試験要素の試験
パラメータの生成や試験データから測定項目に対応する
試験結果を算出するなど、子のオブジェクトが備える処
理を定義する。

【００７２】“リーフ試験クラス”：試験項目が試験要
素の基本試験に対応するとき、抽象的な試験パラメータ
を生成するオブジェクトである。“リーフ試験クラス”
は、さらに、この抽象的な試験パラメータを“仮想計測
器”の試験パラメータに変換するための“試験クラスの
インプリメンタ”を１つ保有する。例えば、試験要素が
スペクトラム・アナライザのときに、“リーフ試験クラ
ス”は、ある周波数帯域でのスペクトラムを測定する
“パワースペクトラム測定”やある周波数でのスペクト
ラムを測定する“線スペクトラム測定”である。これら
の“パワースペクトラム測定”や“線スペクトラム測
定”などは、“リーフ試験クラス”から派生したオブジ
ェクトとなる。

【００７３】“試験クラスのインプリメンタ”：‘パワ
ースペクトラム測定’は、スペクトラム・アナライザだ
けではなく、ＦＦＴアナライザなどのいくつかの試験要
素により測定することが可能である。これらの試験要素
では、試験パラメータが異る。例えば、スペクトラム・
アナライザでは、周波数分解能帯域幅が測定分解能を定
める試験パラメータ項目となるが、ＦＦＴアナライザで
は、表示ポイント数が測定分解能を定める試験パラメー
タ項目となる。このため、“リーフ試験クラス”が生成
した抽象的な試験パラメータを各“仮想計測器”ごとの
具体的な試験パラメータに変換するオブジェクトが必要
となる。“試験クラスのインプリメンタ”は、“仮想計
測器”を利用して、“仮想計測器”ごとの具体的な試験
パラメータに変換するオブジェクトである。具体的な
“仮想計測器”の試験パラメータへの変換を受け持つの
は、“試験クラスのインプリメンタ”から派生したオブ
ジェクトとなる。

【００７４】“コンポジット試験クラス”：試験項目が
試験要素の基本試験を組み合わせたものであるとき、抽
象的な試験パラメータを生成するオブジェクトである。
例えば、“高調波測定”は、基本信号と高調波の電力の
差を測定するものである。“高調波測定”は、基本信号
と高調波信号を含む周波数帯域で測定すると、試験要素
の１回の掃引で高速に各信号の電力を測定できる。ま
た、基本信号と高調波信号を試験要素の別々の掃引で精
度高く測定することもできる。前者の測定は、“リーフ
試験クラス”から派生した“パワースペクトラム測定”
により測定できる。後者の測定は、“リーフ試験クラ
ス”から派生した“線スペクトラム測定”により測定で
きる。例えば、基本信号と高調波信号を試験要素の１回
の掃引で高速試験するものを高速試験、基本信号と高調
波信号を試験要素の別々の掃引で精度高く測定すること
を高精度測定という。“コンポジット試験クラス”は、
このような高速試験のための“リーフ試験クラス”と高
精度試験のための“リーフ試験クラス”を複数保有する
オブジェクトである。また、“高調波測定”は、“コン
ポジット試験クラス”から派生したオブジェクトであ
る。

【００７５】〔試験プラン手段〕試験プラン手段は、プ
ログラム要素や複合プログラム要素を組み合わせて、試
験タスクの実行順序の制御を定めるプログラムの作成や
実行を行う。試験タスクは、プログラム要素の１つであ
る。試験プラン手段は、これらのプログラム要素や複合
プログラム要素をグラフィック・ディスプレイ上に表示
し、試験システムの利用者にプログラムの作成や実行を
行えるＧＵＩを提供する。図１０は、試験プラン手段を
実現する基本オブジェクトの構造を示す図である。同図
に示すように、試験プラン手段を実現する基本オブジェ
クトには、“タスク・コンポーネント”、“ビギン”、
“エンド”、“ポーズ”、“ウエイト”、“指定時間ま
でのウエイト”、“コンポジット・タスク”、“ルー
プ”、“スイッチ”、“条件ループ”、“試験プラン”
がある。

【００７６】“タスク・コンポーネント”：プログラム
要素を抽象的にあつかうためのオブジェクトである（全
てのプログラム要素、複合プログラム要素は“タスク・
コンポーネント”から派生したオブジェクトである）。
“タスク・コンポーネント”は、抽象的な‘実行する’
処理をもつ。“タスク・コンポーネント’から派生した
プログラム要素のオブジェクトが具体的な‘実行する’
処理を実装する。上述した‘オブジェクトの継承関係’
に示したように、“タスク・コンポーネント”から派生
したプログラム要素を“タスク・コンポーネント”とし
てあつかうと、どのようなプログラム要素であるかがわ
からなくても、‘実行する’処理を実行することができ
る。

【００７７】“ビギン”：プログラムの開始を示すプロ
グラム要素である。“ビギン”を保有する“試験プラ
ン”を検出し、検出した“試験プラン”の‘実行する’
処理を起動する‘実行する’処理をもつプログラム要素
である。

【００７８】“エンド”：プログラムの終了を示すプロ
グラム要素である。“エンド”の‘実行する’処理で
は、何も行われない。

【００７９】“ポーズ”：ポインティング装置からの入
力があるまでプログラムを停止する‘実行する’処理を
もつプログラム要素である。

【００８０】“ウエイト”：指定された時間プログラム
を停止する‘実行する’処理をもつプログラム要素であ
る。“ウエイト”は、プログラムの停止時間を属性とし
てメモリ上に記憶する。

【００８１】“指定時間までのウエイト”：指定された
時刻までプログラムを停止する‘実行する’処理をもつ
プログラム要素である。“指定時間までのウエイト”は
属性としてメモリ上に記憶する。

【００８２】“コンポジット・タスク”：複合プログラ
ム要素を抽象的にあつかうためのオブジェクトである。
“コンポジット・タスク”は、複数の“タスク・コンポ
ーネント”を保有するオブジェクトである。保有関係で
は、各オブジェクトのメモリ上のエントリポイントを配
列データとしてメモリ上に記憶する。“コンポジット・
タスク”の‘実行する’処理では、保有した“タスク・
コンポーネント”の‘実行する’処理を、配列データの
先頭から順番に実行する。

【００８３】“ループ”：内包する“コンポジット・タ
スク”の‘実行する’処理を指定回数実行する‘実行す
る’処理をもつ複合プログラム要素である。“ループ”
は、実行回数を属性としてメモリ上に記憶する。

【００８４】“スイッチ”：条件が一致したときに内包
する“コンポジット・タスク”の‘実行する’処理を起
動する‘実行する’処理をもつ複合プログラム要素であ
る。“スイッチ”は、条件を属性としてメモリ上に記憶
する。

【００８５】“条件ループ”：指定した条件になるま
で、内包する“コンポジット・タスク”の‘実行する’
処理をもつ複合プログラム要素である。“条件ループ”
は、条件を属性としてメモリ上に記憶する。

【００８６】“試験プラン”：“試験プラン”とは、
“コンポジット・タスク”を利用して“ビギン”から
“エンド”までのプログラム要素を保有する１つのプロ
グラムである。“試験プラン”の‘実行する’処理で
は、内包する“コンポジット・タスク”の‘実行する’
処理を実行する。“試験プラン”は、利用できるプログ
ラム要素を記憶するために、複数の“タスク・コンポー
ネント”を保有する。

【００８７】この他、“試験タスク”も、“タスク・コ
ンポーネント”から派生したプログラム要素である。本
発明による試験システムのプログラミングとは、“試験
プラン”を構築することになる。試験を行うプログラム
要素は、試験タスク”のみである。“試験タスク”以外
のプログラム要素は、“試験タスク”の実行順番などを
制御するものとなる。

【００８８】試験プラン手段は、このようなプログラミ
ングを行うためのＧＵＩを“試験プラン”を利用して試
験システムの利用者に提供する。図１１は、試験プラン
手段が提供する工程を示す流れ図である。試験プラン手
段は、グラフィカル・ディスプレイ上にオーバラップ表
示できる第２の表示領域を生成する。また、試験タスク
手段により、第１の表示領域が生成されていて、第１の
表示領域に“測定タスク”のアイコンが既に表示されて
いるものと仮定する。

【００８９】まず、試験プラン手段は、“試験プラン”
の保有する‘利用できるプログラム要素’のアイコンを
第２の表示領域上に表示（ステップｂ１）するととも
に、“試験プラン”が保有する“ビギン”と“エンド”
のアイコンを第２の表示領域に表示し（ステップｂ
２）、これらの“ビギン”と“エンド”の各アイコンを
第２の表示領域上で結線表示する（ステップｂ３）。

【００９０】次に、試験プラン手段は、試験タスク手段
により提供される第１の表示領域の“試験タスク”アイ
コン、あるいは、第２の表示領域上に表示されているプ
ログラム要素アイコンから、アイコンを選択する（ステ
ップｂ４）。そして、選択したプログラム要素アイコン
を生成し表示する位置を、“ビギン”と“エンド”のア
イコン間から選択する（ステップｂ５）。

【００９１】そして、試験プラン手段は、“ビギン”と
“エンド”のアイコン間の結線表示をすべて消去し（ス
テップｂ６）、選択されたプログラム要素のアイコンを
第２の表示領域上の指定位置に生成する（ステップｂ
７）。次に、“ビギン”から“エンド”までのアイコン
を整列し（ステップｂ８）、“ビギン”から“エンド”
までの隣り合うアイコン間を第２の表示領域上で結線表
示する（ステップｂ９）。

【００９２】その後、“試験プラン”が内包する“コン
ポジット・タスク”の保有関係にプログラム要素を記憶
する（ステップｂ１０）。このとき、表示されている
“ビギン”から“エンド”までのアイコン間のプログラ
ム要素アイコンの表示順序に一致するように、“コンポ
ジット・タスク”が保有関係として記憶するプログラム
要素のエントリポイントの配列データを並べ替える。さ
らに、新たなプログラム要素を選択するときは、ステッ
プｂ４に戻って処理が繰り返される。このような操作に
より、プログラムを構築することができる。

【００９３】次に、上述した各手段を組み合わせた場合
に実現することができる機能や効果について説明する。

【００９４】（１）試験タスク手段、試験パラメータ記
憶手段、試験データ記憶手段、仮想計測器手段、表示シ
ート手段、試験クラス手段の組み合わせ（第１の組み合
わせ） 試験タスク手段により試験目的／ゴールから操作を行う
ことができ、操作の結果として、試験を行う試験要素に
対応する“仮想計測器”が選択され、試験目的／ゴール
に対応する“試験ゴール”が生成される。試験タスク手
段は、生成された“試験ゴール”を選択されている仮想
計測器手段の“仮想計測器”に渡し、試験を起動する。

【００９５】試験と試験結果の表示は、仮想計測器手
段、試験パラメータ記憶手段、試験クラス手段、試験デ
ータ記憶手段、表示シート手段が組み合わされた構造で
実行される。まず、“仮想計測器”は、試験タスク手段
から渡された“試験ゴール”が保有する“試験項目”に
対応した“試験クラス”を利用して、“試験パラメー
タ”を生成する。そして、“仮想計測器”は、“試験デ
ータ”と試験データを表示するための“表示シート”を
生成する。次に、“仮想計測器”は、“試験パラメー
タ”を試験要素に設定し、試験要素を制御して試験を行
い、試験要素から試験データを取得する。そして、“仮
想計測器”は、試験要素から取得した試験データを“試
験データ”に格納し、“表示シート”に試験データの表
示を依頼する。最後に、“仮想計測器”は、“試験クラ
ス”を利用して、試験要素から取得した試験データから
試験項目に対応する試験結果を算出する。

【００９６】このように、試験タスク手段、試験パラメ
ータ記憶手段、試験データ記憶手段、仮想計測器手段、
表示シート手段、試験クラス手段を組み合わせると、試
験目的／ゴールから操作を行うことができ、試験目的／
ゴールをもとに試験し、試験結果を表示する試験システ
ム（第１の目的）が実現できる。さらに、試験タスク手
段では、高速に試験するか高精度に試験するかのトレー
ドオフを試験目的／ゴールとして指定できる機能（第２
の目的）をもつことができる。

【００９７】ところで、従来の試験システムでのプログ
ラミング手法は、データの取得や演算、グラフ表示など
を行うプログラム部品を、それぞれのアイコンごとに定
まった点をポイントする結線方式を採用していた。この
ような結線方式では、アイコンの機能と各接続点の機能
を深く理解しなければならず、誰でもが簡単にこのプロ
グラミング手法を利用することができなかった。また、
試験システムの利用者が試験機器のハードウェア構成や
対応する試験パラメータを熟知していなければ、この試
行錯誤も行うことができなかった。これに対し、上述し
た各手段を組み合わせると、従来の試験システムでは実
現していない、試験項目、試験条件、高速に試験するか
高精度に試験するかの試験のトレードオフの選択から試
験要素の試験パラメータを生成する試験クラス手段を利
用することにより、試験のトレードオフの選択も含め、
試験目的／ゴールから繰作が行え、試験目的／ゴールを
もとに試験し、試験結果を表示する試験システムが実現
できる。この結果、試験システムの利用者は、試験機器
のハードウェア構成や対応する試験パラメータや試験シ
ステムのプログラム部品の詳細を熟知していなくても試
験が行えるため、ＤＵＴの評価内容に意識を集中させる
ことができる。

【００９８】（２）試験タスク手段、試験パラメータ記
憶手段、試験データ記憶手段、仮想計測器手段、表示シ
ート手段、試験クラス手段に、スロット情報手段と仮想
計測器のサービス手段を組み合わせる（第２の組み合わ
せ） 上述した第１の組み合わせに対して、スロット情報手段
と仮想計測器のサービス手段を組み合わせたものであ
る。スロット情報手段は、表示シート手段と結合して、
ポインティング装置によりグラフ表示上のある範囲の選
択を可能とする。また、仮想計測器のサービス手段は、
“スロット情報”をもとに試験結果のグラフ表示上の指
定された範囲での演算などのサービスを提供する。した
がって、試験結果であるグラフ表示上のある座標を指定
すると、指定範囲に適応するサービスを起動できる機能
を実現できる。これらサービスは、試験タスク手段が生
成したグラフィック・ディスプレイ上の第１の表示領域
での操作により起動される。つぎに、指定範囲に適応す
るサービスを起動する行程を示す。

【００９９】まず“表示シート”は、ポインティング装
置によりグラフ表示上のある範囲が選択されると、指定
された範囲をメモリ上に記憶する“スロット情報”を生
成する。“スロット情報”は、グラフ表示上の選択範囲
の外枠をグラフに重ねて表示する。

【０１００】次に、“表示シート”は、保有する“仮想
計測器”を参照する。そして、“仮想計測器”が保有す
る“仮想計測器のサービス”のアイコンを第１の表示領
域に表示する。“仮想計測器のサービス”が選択される
と、“スロット情報”は、選択された“仮想計測器のサ
ービス”を“スロット情報”の属性に記録する。“スロ
ット情報”は、選択されたアイコンをグラフ表示上に表
示し、“仮想計測器のサービス”がもつ‘サービス処
理’を実行する。

【０１０１】“仮想計測器のサービス”は、‘サービス
処理’が実行されると、グラフ表示上の選択範囲に対す
る演算などのサービスを行い、サービスにより得られた
結果を第１の表示領域上に表示する。すなわち、第２の
組み合わせによって、第３の目的を達成することができ
る。

【０１０２】ところで、従来の試験システムで例えばス
プリアスの電力値を求めるものとすると、ａ）試験を中
断する、ｂ）試験データの加算を行うプログラムを構築
する、ｃ）再度試験を実行し電力値を求める、などのプ
ログラミングと操作を行わなければならない。このと
き、電力を求めるスプリアスが試験データの一部であっ
たときは、グラフ表示上のスプリアスの位置座標から、
試験データの位置座標に対応する配列データを探し出
し、探し出した配列データの加算を行うプログラムを追
加しなければならない。このように、従来の試験システ
ムでは、単にグラフ表示上のスプリアスの電力値を求め
るだけでも、多くの労力を必要とした。

【０１０３】これに対し、上述した第２の組み合わせに
よると、試験結果であるグラフ表示上のある座標をポイ
ンティング装置で指定し、“仮想計測器のサービス”の
アイコンを選択するのみで、グラフ表示上の選択範囲に
対する演算などのサービスが行え、サービスにより得ら
れた結果がグラフィック・ディスプレイ上に表示され
る。

【０１０４】試験データの一部であるスプリアスの電力
値を従来の試験システムで求めるためには、上述したよ
うなプログラムを組まなければ電力値を求められなかっ
たが、第２の組み合わせを用いることにより、プログラ
ムを全く変更することなく、ポインティング装置による
２回の操作のみで実現することができる。

【０１０５】（３）試験タスク手段、試験パラメータ記
憶手段、試験データ記憶手段、仮想計測器手段、表示シ
ート手段、試験クラス手段に、スロット情報手段とイン
タラクタ手段を組み合わせる（第３の組み合わせ） 上述した第１の組み合わせに対して、スロット手段とイ
ンタラクタ手段を組み合わせたものである。スロット情
報手段は、表示シート手段と結合して、ポインティング
装置によりグラフ表示上のある範囲の選択を可能とす
る。また、インタラクタ手段は、仮想計測器手段とスロ
ット情報手段と試験クラス手段とを結合して新しい試験
項目の問い合わせや新しい試験の起動と新しい試験デー
タのグラフ表示を行う。したがって、ａ）プログラムを
組み直さずに、試験要素から得られた結果であるグラフ
表示上の指定範囲から、試験要素の新たな試験パラメー
タを生成し、生成した試験パラメータによる新たな試験
を起動する機能と、ｂ）ある試験要素から得られた結果
であるグラフ表示上の指定範囲から、別の試験要素の新
たな試験パラメータを生成し、生成した試験パラメータ
による新たな試験を起動する機能を実現することができ
る。以下に、上述したａ）とｂ）とを実現する工程を示
す。

【０１０６】まず、“表示シート”は、ポインティング
装置によりグラフ表示上のある範囲が選択されると、範
囲指定された範囲をメモリ上に記憶する“スロット情
報”を生成する。“スロット情報”は、グラフ表示上の
選択範囲の外枠をグラフ上に重ねて表示する。

【０１０７】次に、“表示シート”は、“インタラク
タ”を参照する。そして、“インタラクタ”が保有する
“仮想計測器”に対応する“試験要素名”のアイコンを
第１の表示領域に表示する。“仮想計測器”が選択され
ると、“スロット情報”は、選択された“試験要素名”
を“スロット情報”の属性に記録する。“スロット情
報”は、選択されたアイコンをグラフ表示上に表示し、
“インタラクタ”に指定された範囲での測定を依頼す
る。

【０１０８】“インタラクタ”は、選択された“試験要
素名”を参照して、“試験要素名”の属性にデフォルト
で起動する“試験項目”が記憶されていたときに、記憶
されていた“試験項目”での測定を起動する。選択され
た“試験要素名”を参照して、“試験要素名”の属性に
デフォルトで起動する“試験項目”が記憶されてなかっ
たときは、“インタラクタ”は、指定された“試験要素
名”を参照して、“試験要素名”が保有する“試験項
目”のアイコンを表示する。そして、“試験項目”のア
イコンが選択されると“インタラクタ”は、選択された
“試験項目”での測定を起動する。

【０１０９】まず、“インタラクタ”は、測定を起動す
ると、“スロット情報”を“試験項目”に対応する“測
定クラス”に送り、選択された“試験要素名”に対応す
る“仮想計測器”の“試験パラメータ”を生成する。次
に、“インタラクタ”は、選択された“試験要素名”に
対応する“仮想計測器”に生成した“試験パラメータ”
を送り、“仮想計測器”から試験を行った結果である
“試験データ”を受け取る。最後に“インタラクタ”
は、表示シート手段を利用して、“試験データ”の内容
をグラフ表示する。このように第３の組み合わせを用い
ることにより、第４の目的と第５の目的を達成すること
ができる。

【０１１０】ところで、例えば、期待していないスプリ
アスの周波数を詳細に分析するときに、従来の試験シス
テムでは、測定器パネルを表示し、中心周波数やスパン
などのハードウェアの制御を行うようにプログラムする
ことにより、試験パラメータを再設定できる環境を実現
できる。しかし、予期していない複数のスプリアスを分
析するためには、新たなハードウェアを制御する計測器
パネルを表示できるように試験システムの利用者がプロ
グラムを変更し、表示する計測器パネル上で中心周波数
やスパンなどの試験パラメータを調整しなければならな
い。

【０１１１】ところが、上述した第３の組み合わせを用
いることにより、試験結果であるグラフ表示上のある座
標をポインティング装置で指定し、“試験要素名”のア
イコンを選択するのみで、試験要素から得られた結果の
グラフ表示上の指定範囲から、任意の試験要素の新たな
試験パラメータを生成し、生成した試験パラメータによ
り新たな試験が行われ、新たな試験により得られた結果
がグラフィック・ディスプレイ上に表示される。ただ
し、新たな試験を起動する試験要素でデフォルトで起動
する試験項目を決められないときは、“試験要素名”の
アイコンを選択した後に、“試験項目”のアイコンを選
択する操作が追加される。

【０１１２】特に、期待していないスプリアスなどの周
波数を詳細に分析するためには、従来であれば、上述し
たようにプログラムを変更しなければならなかったが、
第３の組み合わせを用いることにより、プログラムを全
く変更することなく、多くて３回のポインティング装置
による操作のみで実現することができる。

【０１１３】（４）試験タスク手段、試験パラメータ記
憶手段、試験データ記憶手段、仮想計測器手段、表示シ
ート手段、試験クラス手段に、試験プラン手段を組み合
わせる（第４の組み合わせ） 上述した第１の組み合わせに試験プラン手段を組み合わ
せたものである。試験プラン手段を追加することによ
り、プログラム要素や複合プログラム要素を組み合わせ
ることができ、第１、第２、第４、第５の目的に加え
て、試験タスクの実行順序や実行順序の制御を行うこと
ができるプログラムの作成や実行が可能となる。

【０１１４】（５）試験タスク手段、試験パラメータ記
憶手段、試験データ記憶手段、仮想計測器手段、表示シ
ート手段、試験クラス手段に、スロット情報手段、仮想
計測器のサービス手段、インタラクタ手段、試験プラン
手段を組み合わせる（第５の組み合わせ） 上述した第１の組み合わせに、さらにスロット情報手
段、仮想計測器のサービス手段、インタラクタ手段、試
験プラン手段を組み合わせたものである。試験タスク手
段、試験パラメータ記憶手段、試験データ記憶手段、仮
想計測器手段、表示シート手段、試験クラス手段を組み
合わせにより、第１の目的と第２の目的を達成すること
ができ、これらにスロット情報手段と仮想計測器のサー
ビス手段を追加することにより、新たに第３の目的を達
成することができる。また、スロット情報手段とインタ
ラクタ手段をさらに追加すると、新たに第４の目的と第
５の目的を達成することができ、さらに、試験プラン手
段を追加することにより、プログラム要素や複合プログ
ラム要素を組み合わせることができ、試験タスクの実行
順序を設定したり、実行順序の制御を行うことが可能と
なる。

【０１１５】

【発明の実施の形態】図１２は、本発明を適用した一実
施形態の試験システムの構成を示す図である。同図に示
す本実施形態の試験システムは、ＧＵＩ処理部１００と
複数の試験機器１１０とを含んで構成されている。ＧＵ
Ｉ処理部１００は、利用者に対してビジュアルなフィー
ドバックを与えるＧＵＩ環境を実現するためのものであ
り、パーソナルコンピュータやワークステーションある
いはこれらの機能を有する処理ボード等によって実現さ
れる。また、ＧＵＩ処理部１００はバスインタフェース
部２００に接続されており、このバスインタフェース部
２００を通して、試験機器接続バス２１０に接続された
複数の試験機器１１０と接続されている。試験機器接続
バス２１０は、例えばＴＣＰ／ＩＰ等のコンピュータ・
ネットワークやシリアルポートあるいはパラレルポー
ト、ＩＥＥＥ４８８ポート等やこれらを組み合わせたも
のが用いられる。

【０１１６】上述したＧＵＩ処理部１００は、ＣＰＵ１
０、ビデオＲＡＭ１２、グラフィックプロセッサ１４、
ホストインタフェース部１６、ＲＡＭ ＤＡＣ１８、グ
ラフィックディスプレイ装置２４、メモリ２６、ポイン
ティング装置インタフェース部２８、ポインティング装
置３０、ポインティングカーソル表示処理部３２、ＧＵ
Ｉ生成管理部３４を含んで構成されている。

【０１１７】ＣＰＵ１０は、ホストインタフェース部１
６、メモリ２６、ポインティング装置インタフェース部
２８、ポインティングカーソル表示処理部３２、ＧＵＩ
生成管理部３４とバス接続されており、ＧＵＩ処理部１
００の全体を制御する。ビデオＲＡＭ１２は、グラフィ
ックディスプレイ装置２４に表示する画像データをドッ
ト単位で格納する。例えば、ビデオＲＡＭ１２は、パッ
クド・ピクセル（Packed Pixel）方式で構成されてお
り、グラフィックディスプレイ装置２４の表示画面の１
ドットが１バイトの大きさを持つ１ピクセル値に対応す
る。パックド・ピクセル方式では、通常は、ビデオＲＡ
Ｍ１２の表示画面のドット数に対応するメモリ領域を表
示領域として使用し、残りのメモリ領域（非表示領域）
をウインドウ画像やアイコン画像などのＧＵＩ部品の構
築や記憶に使用する。

【０１１８】グラフィックプロセッサ１４は、ＣＰＵ１
０から送られてくるコマンドを受け付け、ビデオＲＡＭ
１２の設定を行う。また、グラフィックプロセッサ１４
は、画面表示に必要な同期信号を生成するとともに、こ
の生成した同期信号に同期させてビデオＲＡＭ１２の表
示領域のピクセルデータを読み出してＲＡＭ ＤＡＣ１
８に送る。メモリ２６は、グラフィックプロセッサ１４
等の初期化や、フォントあるいは画像データの記憶等に
使用される。

【０１１９】ＲＡＭ ＤＡＣ１８は、グラフィックプロ
セッサ１４から送られてきたピクセルデータをビデオ信
号に変換するためのものであり、この変換されたビデオ
信号がグラフィックディスプレイ装置２４に送られる。
このＲＡＭ ＤＡＣ１８は、ルックアップテーブル２０
とＤＡＣ２２を含んでいる。

【０１２０】また、グラフィックディスプレイ装置２４
における表示画面のＧＵＩ制御は、ポインティング装置
３０によって行われる。ポインティング装置３０は、押
しボタンスイッチを有しており、移動情報の他に押しボ
タンスイッチのオンオフ情報（例えば押しボタンを押下
した状態がオン状態に、押しボタンから指等を離したリ
リース状態がオフ状態に対応する）をポインティング装
置インタフェース部２８を介してＣＰＵ１０に送る。ポ
インティングカーソル表示処理部３２は、ポインティン
グ装置３０が指し示すグラフィックディスプレイ装置２
４の画面上の位置にポインティングカーソルを表示す
る。具体的には、ポインティングカーソル表示処理部３
２は、カーソル表示位置と、ビデオＲＡＭ１２の非表示
領域に格納されているカーソル画像の位置を記憶し、こ
のビデオＲＡＭ１２の非表示領域に格納されているカー
ソル画像を、ビデオＲＡＭ１２の表示領域上のカーソル
表示位置を転送することによりカーソル表示を行う。こ
のポインティングカーソル表示処理部３２は、システム
起動時にデフォルトのカーソル画像をビデオＲＡＭ１２
の非表示領域上に生成し、この生成したカーソル画像の
領域を記憶する。その後のカーソル表示位置はポインテ
ィング装置３０の移動を検出することにより取得する。

【０１２１】また、ＧＵＩ生成管理部３４は、オブジェ
クト生成部４０、オブジェクト管理部４２、オブジェク
ト検出部４４、イベント検出通知部４６を含んでいる。
オブジェクト生成部４０は、オブジェクトを生成し、生
成したオブジェクトをメモリ２６に記憶するものであ
る。オブジェクト管理部４２は、オブジェクト生成部４
０で生成されたメモリ２６上のオブジェクトを管理す
る。このオブジェクトの管理は、オブジェクトの種類、
名称、オブジェクトのエントリポイントのテーブルをメ
モリ２６上に持つことにより行われる。

【０１２２】オブジェクト検出部４４は、オブジェクト
の種類と名称を指定することにより、オブジェクトのエ
ントリポイントを検出する機能を有する。この機能は、
オブジェクト管理部４２が持つテーブルを参照すること
により実現される。また、オブジェクト検出部４４は、
グラフィックディスプレイ装置２４の画面上の任意の位
置座標でのポインティング装置３０のイベント処理を担
当するオブジェクトを検出する機能を有する。

【０１２３】イベント検出通知部４６は、ポインティン
グ装置３０からのイベントを検出し、イベントが発生し
た画面上の位置座標を取得する。そして、イベント検出
通知部４６は、ポインティング装置３０のイベント入力
に対応して、表示画像を管理するオブジェクトをオブジ
ェクト検出部４４により検出し、この検出したオブジェ
クトに対してイベントの通知処理を行う。このイベント
検出通知部４６が検出するイベントは、ポインティング
装置３０によるものであり、このイベントはボタンダウ
ン、ボタンアップ、ドラッグのいずれかである。

【０１２４】図１３は、イベント検出通知部４６による
イベントの検出通知処理の動作手順を示す流れ図であ
る。まず、イベント検出通知部４６は、ポインティング
装置３０の押しボタンの状態を検出して（ステップｃ
１）、押しボタンが押下された状態（押しボタンが押下
された状態を「ボタンダウン」と称する）にあるか否か
を判定する（ステップｃ２）。押しボタンが押下されな
い場合には、ステップｃ１に戻って処理が繰り返され
る。

【０１２５】押しボタンが押下された場合には、‘ボタ
ンダウン終了通知処理’が行われる（ステップｃ３）。
‘ボタンダウン終了通知処理’では、イベント検出通知
部４６は、オブジェクト検出部４４を用いてイベント処
理を行うオブジェクトを検出し、イベントが発生した位
置座標を引数にして、検出したオブジェクトの‘ボタン
ダウン終了処理’を実行する。

【０１２６】次に、イベント検出通知部４６は、ポイン
ティング装置３０の移動を検出し（ステップｃ４）、移
動が行われたか否かを判定する（ステップｃ５）。ポイ
ンティング装置３０の移動が行われた場合には、イベン
ト検出通知部４６は、‘ドラッグ通知処理’を行い（ス
テップｃ６）、移動が行われなかった場合には、ポイン
ティング装置３０の押しボタンの状態を検出する（ステ
ップｃ７）。

【０１２７】ステップｃ６における‘ドラッグ通知処
理’では、イベント検出通知部４６は、オブジェクト検
出部４４を用いてイベント処理を行うオブジェクトを検
出し、検出したオブジェクトによる‘ドラッグ処理’を
位置座標を引数として実行する。この‘ドラッグ処理’
が実行された後に、ステップｃ７に進んで、ポインティ
ング装置３０の押しボタンの状態検出が行われる。

【０１２８】次に、イベント検出通知部４６は、ステッ
プｃ７におけるポインティング装置３０の押しボタンの
状態の検出結果に基づいて、押しボタンから利用者の指
や手が離されてリリース状態（この状態を「ボタンアッ
プ」と称する）にあるか否かを判定する（ステップｃ
８）。ボタンアップ状態にない場合には、上述したステ
ップｃ４に戻って処理が繰り返される。また、ボタンア
ップの状態の場合には、イベント検出通知部４６は、ド
ラッグ処理が行われたか否かを判定する（ステップｃ
９）。ドラッグ処理が行われたか否かは、押しボタンが
押下された状態でのポインティング装置３０の移動の有
無によって判断することができる。押しボタンが押下さ
れた状態でポインティング装置３０の移動があった場合
には、ドラッグ処理が行われたものと判断され、次に
‘ドラッグ終了通知処理’が行われる（ステップｃ１
０）。また、ドラッグ処理が行われなかった場合には、
次に‘ボタンアップ終了通知処理’が行われる（ステッ
プｃ１１）。

【０１２９】ステップｃ１０における‘ドラッグ終了通
知処理’では、イベント検出通知部４６は、オブジェク
ト検出部４４を用いてイベント処理を行うオブジェクト
を検出し、検出したオブジェクトによる‘ドラッグ終了
通知処理’をポインティングカーソルの位置座標を引数
として実行する。また、ステップｃ１１における‘ボタ
ンアップ終了通知処理’では、イベント検出通知部４６
は、オブジェクト検出部４４を用いてイベント処理を行
うオブジェクトを検出し、検出したオブジェクトによる
‘ボタンアップ終了通知処理’をボタンアップが発生し
たポインティングカーソルの位置座標を引数として実行
する。その後、上述したステップｃ１に戻って処理が繰
り返される。

【０１３０】ところで、各オブジェクトは、‘ボタンダ
ウン処理’、‘ドラッグ処理’、‘ドラッグ終了処
理’、‘ボタンアップ終了処理’により起動する処理が
定義されている‘イベントに対応する処理テーブル’を
もっている。そして、それぞれの処理が実行されると、
予め設定されている‘イベントに対応する処理テーブ
ル’が参照され、発生したイベントに対応する処理が実
行される。

【０１３１】次に、オブジェクト生成部４０の概要を各
具体例に基づいて示す。 〔具体例１〕具体例１は、試験パラメータ記憶手段、試
験データ記憶手段、仮想計測器手段、仮想計測器のサー
ビス手段、表示シート手段、試験クラス手段、スロット
情報手段、インタラクタ手段、試験プラン手段の各機能
を有するオブジェクト生成部４０を用いた場合が示され
ている。試験パラメータ記憶手段、試験データ記憶手
段、仮想計測器手段、仮想計測器のサービス手段、表示
シート手段、試験クラス手段、スロット情報手段、イン
タラクタ手段、試験プラン手段が利用するオブジェクト
の親のオブジェクト、保有関係、属性、処理の詳細を以
下に示す。

【０１３２】“試験項目”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］：“試験ファイル名” “試験項目”が利用できる複数の“試験条件ファイル
名”を保有する。 ［属性］： ・名称 試験項目の名称を表す文字列をメモリ２６上に記憶する
領域である。 ・表示画像 “試験項目”のアイコンの表示画像をメモリ２６上に記
憶する領域である。 ［処理］： ・アイコンを生成する（位置座標、表示領域） 引数で与えられた表示領域上の引数で与えられた位置座
標に、‘表示画像’属性を参照して“試験項目”のアイ
コンを表示する。 ・利用できる試験条件ファイル名のアイコンを表示する
（表示領域） 引数で与えられた表示領域に、保有する“試験条件ファ
イル名”の‘アイコンを生成する’処理を利用すること
により、“試験条件ファイル名”のアイコンを生成す
る。

【０１３３】“試験条件ファイル名”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］：なし ［属性］： ・名称 メモリ２６に記憶した試験条件ファイルの名前をメモリ
２６上に記憶する領域である。 ・表示画像 “試験条件ファイル名”のアイコンの表示画像をメモリ
２６上に記憶する領域である。 ［処理］： ・アイコンを生成する（位置座標、表示領域） 引数で与えられた表示領域上の引数で与えられた位置座
標に、‘表示画像’属性を参照して“試験条件ファイル
名”のアイコンを表示する。

【０１３４】“試験トレードオフ”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］：なし ［属性］： ・トレードオフ情報 高速に試験するか高精度に試験するかの試験のトレード
オフ情報を文字列としてメモリ上に記憶する領域であ
る。 ・高速試験に対応した“試験要素名”のアイコンの位置
座標 高速試験に対応した“試験要素名”のアイコンのグラフ
ィカル・ディスプレイ上の位置座標をメモリ２６上に記
憶する領域である。 ・高精度試験に対応した“試験要素名”のアイコンの位
置座標 高精度試験に対応した“試験要素名”のアイコンのグラ
フィカル・ディスプレイ上の位置座標をメモリ２６上に
記憶する領域である。

【０１３５】［処理］： ・アイコンを表示する（グラフィカル・ディスプレイ上
の表示領域、“試験要素名”のエントリポイント） 引数で与えられたグラフィカル・ディスプレイ上の表示
領域に、高速試験と高精度試験に対応した“試験要素
名”のアイコンを生成する。生成するアイコンの画像
は、引数で与えられた“試験要素名”の‘表示画像’属
性を参照する。生成した高速試験と高精度試験に対応し
た“試験要素名”のアイコンの引数で与えられたグラフ
ィカル・ディスプレイ上の表示領域上の位置座標は、そ
れぞれ‘高速試験に対応した“試験要素名”のアイコン
の位置座標’‘高精度試験に対応した“試験要素名”の
アイコンの位置座標’属性に記憶する。 ・トレードオフを設定する（座標位置） ‘高速試験に対応した“試験要素名”のアイコンの位置
座標’と‘高精度試験に対応した“試験要素名”のアイ
コンの位置座標’属性を参照する。そして、引数で与え
られた座標位置にあるアイコンが、高速試験に対応した
“試験要素名”のアイコンであったとき、‘高速測定’
の文字列を‘トレードオフ情報’属性に格納する。引数
で与えられた座標位置にあるアイコンが、高精度試験に
対応した“試験要素名”のアイコンであったとき、‘高
精度試験’の文字列を‘トレードオフ情報’属性に格納
する。

【０１３６】“試験ゴール”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］： ・“試験項目” １つの試験項目を保有する。 ・“試験条件ファイル名” １つの試験条件ファイル名を保有する。１つの“試験ト
レードオフ”を保有する。 ［属性］：なし ［処理］ ・試験項目を設定する（“試験項目”のエントリポイン
ト） 保有関係に引数で与えられた“試験項目”のエントリポ
イントを設定する。・試験条件ファイル名を設定する
（“試験条件ファイル名”のエントリポイント） 保有関係に引数で与えられた“試験条件ファイル名”の
エントリポイントを設定する。 ・試験トレードオフを設定する（“試験トレードオフ”
のエントリポイント） 保有関係に引数で与えられた“試験トレードオフ”のエ
ントリポイントを設定する。

【０１３７】“試験要素名”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］： ・“試験項目” 試験要素で利用できる複数の“試験項目”を保有する。 ［属性］： ・名称 試験要素名を表す文字列をメモリ２６上に記憶する領域
である。 ・表示画像 “試験要素名”のアイコンの表示画像を、メモリ２６上
に記憶する領域である。 ・デフォルトで起動する試験項目 デフォルトで起動する“試験項目”のエントリポイント
を記憶する領域である。 ［処理］： ・アイコンを生成する（位置座標、表示領域） 引数で与えられた表示領域上の引数で与えられた位置座
標に、‘表示画像’属性を参照して“試験要素名”のア
イコンを表示する。 ・利用できる試験項目のアイコンを表示する（表示領
域） 引数で与えられた表示領域に、保有する“試験項目”の
‘アイコンを生成する’処理を利用して、“試験項目”
のアイコンを生成する。

【０１３８】“試験タスク”： ［親のオブジェクト］：タスク・コンポーネント ［保有関係］： ・“試験ゴール” 複数の“試験ゴール”を保有する。 ・“試験要素名” 1つの“試験要素名”を保有する。 ［属性］： ・名称 試験タスクを表す文字列をメモリ２６上に記憶する領域
である。 ・試験タスクの表示画像 試験タスクのアイコンの表示画像をメモリ２６上に記憶
する領域である。 ・ＤＵＴ表示画像 ＤＵＴのアイコンの表示画像をメモリ２６上に記憶する
領域である。 ・試験タスクのベース・キャンバス 試験タスクが利用するグラフィカル・ディスプレイ上の
表示領域をメモリ２６上に記憶する領域である。

【０１３９】試験タスク・キャンバス 試験タスクが利用する試験タスクのべ一ス・キャンバス
上の表示領域をメモリ２６上に記憶する領域である。 ・試験項目キャンバス 利用できる試験項目を表示するための試験タスク・キャ
ンバス上の表示領域をメモリ２６上に記憶する領域であ
る。 ・試験条件キャンバス 利用できる試験条件ファイル名を表示するための試験タ
スク・キャンバス上の表示領域をメモリ２６上に記憶す
る領域である。 ・ワークスペース ＤＵＴアイコン、高速試験と高精度試験に対応した“試
験要素名”のアイコン、選択された“試験項目”のアイ
コン、選択された“試験条件ファイル名”のアイコンな
どを表示するための試験タスク・キャンバス上の表示領
域をメモリ２６上に記憶する領域である。 ・試験要素表示キャンバス 利用できる試験要素を表示するための試験タスクのベー
ス・キャンバス上の表示領域をメモリ２６上に記憶する
領域である。

【０１４０】［処理］： ・試験タスクのイニシャライズ（） ‘試験タスクのイニシャライズ’処理では、次の処理を
行う。 （１）‘表示領域を生成する’処理を実行する。 （２）オブジェクト検出手段により“インタラクタ”を
検出して、“インタラクタ”が保有する“仮想計測器”
に対応する“試験要素名”のアイコンを、引数で与えら
れた表示領域上に表示する。 （３）‘試験要素表示キャンバス’属性に格納されてい
る表示領域を指定して‘アイコンを生成する’処理を実
行する。 （４）‘ワークスペース’属性に格納されている表示領
域と表示座標を指定して‘ＤＵＴアイコンを生成する’
処理を実行する。 ・表示領域を生成する（） ‘試験タスクのベース・キャンバス’、‘試験タスク・
キャンバス’、‘試験項目キャンバス’、‘ワークスペ
ース’、‘試験要素表示キャンバス’属性に対応する表
示領域をグラフィカル・ディスプレイ上に生成して、各
属性に記憶する。 ・アイコンを生成する（位置座標、表示領域） 引数で与えられた表示領域上の引数で与えられた位置座
標に、‘試験タスクの表示画像’属性を参照して“試験
タスク”のアイコンを表示する。 ・ＤＵＴアイコンを生成する（位置座標、表示領域） 引数で与えられた表示領域上の引数で与えられた位置座
標に、‘ＤＵＴ表示画像’属性を参照してＤＵＴのアイ
コンを表示する。

【０１４１】試験要素名を選択する（“試験要素名”の
エントリポイント） ‘試験要素名を選択する’処理は“試験要素名”のアイ
コンが‘ワークスペース’属性が示す領域にドロップさ
れたとき、実行される処理である。‘試験要素名を選択
する’処理では、まず、引数で与えられた“試験要素
名’のエントリポイントを保有関係に設定する。次に
“試験トレードオフ”を生成し、生成した“試験トレー
ドオフ”のエントリポイントを指定して“試験ゴール”
の‘試験トレードオフを設定する’処理を実行する。そ
して、‘ワークスペース’属性に記憶された表示領域を
引数に、生成した“試験トレードオフ”の‘アイコンを
表示する’処理を実行する。最後に、“試験条件キャン
バス’属性に記憶された表示領域を引数に、引数で与え
られた“試験要素名”の‘利用できる試験項目のアイコ
ンを表示する’処理を実行する。 ・試験項目を選択する（“試験項目”のエントリポイン
ト） ‘試験項目を選択する’処理は、“測定項目”のアイコ
ンが‘ワークスペース’属性が示す領域にドロップされ
たとき、実行される処理である。試験項目を選択する’
処理では、まず、引数で与えられた“試験項目”のエン
トリポイントを指定して、“試験タスク”が保有する
“試験ゴール”の‘試験項目を設定する’処理を実行す
る。そして、試験項目キャンバス上にある選択された
“測定項目”のアイコンを消去する。次に‘ワークスペ
ース’属性に記憶された表示領域と位置座標を指定し
て、引数で与えられた“試験項目”の‘アイコンを生成
する’処理を実行する。最後に、‘試験条件キャンバ
ス’属性に記憶された表示領域を指定して、引数で与え
られた“試験項目”の‘利用できる試験条件ファイル名
のアイコンを表示する。

【０１４２】試験条件ファイル名を選択する（“試験条
件ファイル名”のエントリポイント） ‘試験条件ファイル名を選択する’処理は、“試験条件
ファイル名”のアイコンが‘ワークスペース’属性が示
す領域にドロップされたとき、実行される処理である。
‘試験条件ファイル名を選択する’処理では、まず、引
数で与えられた“試験条件ファイル名”のエントリポイ
ントを指定して、“試験タスク”が保有する“試験ゴー
ル”の‘試験条件ファイル名を設定する’処理を実行す
る。次に、試験条件キャンバス上にある選択された“試
験条件ファイル名”のアイコンを消去する。最後に、
‘ワークスペース’属性に記憶された表示領域と位置座
標を指定して、引数で与えられた“試験条件ファイル
名”の‘アイコンを生成する’処理を実行する。 ・ＤＵＴアイコンのドロップ処理（位置座標） ‘ＤＵＴアイコンのドロップ処理’処理は、ＤＵＴのア
イコンが‘ワークスペース’属性が示す領域にドロップ
されたとき、実行される処理である。‘ＤＵＴアイコン
のドロップ処理’では、引数で与えられた位置座標に高
速試験と高精度試験に対応した“試験要素名”のアイコ
ンがあったときのみ、次の処理を実行する。まず、“試
験タスク”が保有する“試験ゴール”から、“試験ゴー
ル”が保有する“試験トレードオフ”を検出して、引数
で与えられた位置座標を指定して“試験トレードオフ”
の‘トレードオフを設定する’処理を実行する。次に引
数で与えられた位置座標を指定して“ＤＵＴアイコンと
試験要素名アイコンを結線する”の‘トレードオフを設
定する’処理を実行する。最後に、実行処理を起動す
る。

【０１４３】ＤＵＴアイコンと試験要素名アイコンを結
線する（位置座標） 引数で指定された位置座標にある高速試験に対応した
“試験要素名”のアイコンもしくは高精度試験に対応し
た“試験要素名”のアイコンのどちらか一方とＤＵＴア
イコンを結線表示する。 ・実行する（試験項目に対応する試験結果の文字列のエ
ントリポイント） ‘実行処理’では、まず、“試験要素名”に対応する
“仮想計測器”を検出する。次に保有する“試験ゴー
ル”と引数で与えられた試験項目に対応する試験結果の
文字列のエントリポイントを指定して、検出した“仮想
計測器”の‘試験を起動する’処理を実行する。

【０１４４】“試験パラメータ項目”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］：なし ［属性］： ・試験パラメータ項目名 試験パラメータ項目の名称を表す文字列をメモリ２６上
に記憶する領域である。 ・パラメータ 試験パラメータ項目のパラメータをメモリ２６上に格納
する領域である。 ［処理］：なし “試験パラメータ” ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］：“試験パラメータ項目” “仮想計測器”が１回の試験を行うために必要な複数の
“試験パラメータ項目”を保有する。

【０１４５】“試験データ” “試験パラメータ”を利用して得られるデータを格納す
る１つの“試験データ”を保有する。 ［属性］：なし ［処理］： ・アタッチ（“試験パラメータ項目”のエントリポイン
ト） 引数で与えられた“試験パラメータ項目”を、保有関係
に設定する処理である。

【０１４６】“試験データ”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］：“試験パラメータ” 試験データを取得するために利用した、１つの“試験パ
ラメータ”を保有する。 ［属性］： ・Ｘ軸データ 試験要素から取得した例えば浮動小数点型の配列データ
をメモリ２６上に記憶する領域である。 ・Ｙ軸データ 試験要素から取得した例えば浮動小数点型の配列データ
をメモリ２６上に記憶する領域である。 ［処理］： ・Ｘ軸のデータを取得する（配列位置） 引数で与えられた配列位置にある‘Ｘ軸データ’属性の
データを読み出すための処理である。 ・Ｙ軸のデータを取得する（配列位置） 引数で与えられた配列位置にある‘Ｙ軸データ’属性の
データを読み出すための処理である。

【０１４７】“仮想計測器”： ［親のオブジェクト］：“仮想計測器” ［保有関係］：“試験データ” 試験の結果得られた複数の“試験デー
タ”を保有する。

【０１４８】“試験パラメータ”試験に利用した複数の
“試験パラメータ”を保有する。

【０１４９】“表示シート”試験データをグラフィック
・ディスプレイ上に表示するための複数の“表示シー
ト”を保有する。 ［属性］：なし ［処理］： ・測定を起動する（“試験ゴール”のエントリポイン
ト、試験項目に対応する試験結果の文字列のエントリポ
イント） ‘測定を起動する’処理では、次の処理を行う。 （１）“試験パラメータ”を生成し、生成した“試験パ
ラメータ項目”を“試験パラメータ項目”のエントリポ
イントを指定して、生成した“試験パラメータ”の‘ア
タッチ’処理を実行する。 （２）“仮想計測器”が１回の試験に必要な“試験パラ
メータ項目”をすべて生成し、生成した“試験パラメー
タ項目”を“試験パラメータ項目”のエントリポイント
を指定して、生成した“試験パラメータ”の‘アタッ
チ’処理を実行する。 （３）引数で与えられた“試験ゴール”が保有する“試
験項目”に対応する“試験クラス”を生成する。 （４）“仮想計測器”のエントリポイントを指定して、
生成した“試験クラス”の‘イニシャライズ’を実行す
る。

【０１５０】（５）引数で与えられた“試験ゴール”が
“試験条件ファイル名”を保有していたとき、“試験ゴ
ール”が保有する“試験条件ファイル名”のエントリポ
イントを指定して、生成した“試験クラス”の‘試験条
件を設定する’処理を実行する。 （６）生成した“試験パラメータ”と“仮想計測器”の
エントリポイントを指定し、生成した“試験クラスの
‘試験パラメータを生成する’処理を実行する。 （７）生成した“試験条件パラメータ”のエントリポイ
ントを指定して‘試験データを生成する’処理を実行
し、“試験データ”を生成する。 （８）生成した“試験データ”のエントリポイントを指
定して‘表示シートを生成する’処理を実行し、“表示
シート”を生成する。 （９）生成した“試験パラメータ”のエントリポイント
を指定して‘試験を実行する’処理を実行する。 （１０）生成した“試験データ”のエントリポイントの
セットと試験項目に対応する試験結果の文字列のエント
リポイントを指定して、生成した“試験クラス”の‘試
験項目に対応する試験結果を得る’処理を実行する。

【０１５１】試験項目とスロット情報により試験パラメ
ータを生成する（“試験項目”のエントリポイント、
“スロット情報”のエントリ情報のエントリポイント） ‘試験パラメータを生成する’処理では、次の処理を行
う。 （１）“試験パラメータ”を生成し、“仮想計測器”の
保有関係に設定する。 （２）“仮想計測器”が１回の試験に必要な“試験パラ
メータ項目”をすべて生成し、生成した“試験パラメー
タ項目”を“試験パラメータ項目”のエントリポイント
を指定して、生成した“試験パラメータ”の‘アタッ
チ’処理を実行する。 （３）引数で与えられた“試験項目”に対応する“試験
クラス”を生成する。 （４）“仮想計測器”のエントリポイントを指定して、
生成した“試験クラス”の‘イニシャライズ’を実行す
る。 （５）引数で与えられた“スロット情報”のエントリポ
イントを指定して、生成した“試験クラス”の‘スロッ
ト情報を設定する’処理を実行する。 （６）生成した“試験パラメータ”と“仮想計測器”の
エントリポイントを指定して、生成した“試験クラス”
の‘試験パラメータを生成する’処理を実行する。 （７）生成した“試験パラメータ”のエントリポイント
を指定して‘試験データを生成する’処理を実行し、
“試験データ”を生成する。 （８）生成した“試験データ”のエントリポイントを指
定して‘表示シートを生成する’処理を実行し、“表示
シート”を生成する。

【０１５２】試験データを生成する（“試験パラメー
タ”のエントリポイント） ‘試験データを生成する’処理は、まず、“試験デー
タ”を生成する。そして、生成した“試験データ”を、
“仮想計測器”の保有関係に設定する。次に、生成した
“試験データ”の保有関係に、引数で与えられた“試験
パラメータ”を設定する。最後に、生成した“試験デー
タ”を、引数で与えられた“試験パラメータ”の保有関
係に設定する。 ・表示シートを生成する（“試験データ”のエントリポ
イント） ‘表示シートを生成する’処理は、“表示シート”を生
成し、生成した“表示シート”の保有関係に引数で与え
られた“試験データ”を設定する。 ・試験を実行する（“試験パラメータ”のエントリポイ
ント） ‘試験を実行する’処理は、引数で与えられた“試験パ
ラメータ”が保有する“試験パラメータ項目”を試験要
素に設定し、試験要素を制御して測定を行い、試験要素
から試験データを取得する。取得した試験データは引数
で与えられた“試験パラメータ”が保有する“試験デー
タ”の‘Ｘ軸データ’と‘Ｙ軸データ’属性のメモリ上
の領域に記憶する。そして、“試験データ”を保有する
“表示シート”を検出して、検出した“表示シート”の
‘アップデート’処理を実行する。 ・試験パラメータ項目を設定する（データ、試験パラメ
ータ項目名、“試験パラメータ”のエントリポイント） ‘試験パラメータ項目を設定する’処理は、まず、引数
で与えられた“試験パラメータ”の保有する“試験パラ
メータ項目”から“試験パラメータ項目”の‘名称’属
性が、引数で与えられた試験パラメータ項目名である
“試験パラメータ項目”を検出する。次に、検出した
“試験パラメータ項目”の‘パラメータ’属性に引数で
与えられたデータを設定する。

【０１５３】“仮想計測器のサービス”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］：なし ［属性］： ・表示画像 “仮想計測器のサービス”のアイコンの表示画像をメモ
リ上に記憶する領域である。 ［処理］： ・サービスを実行する（“スロット情報”のエントリポ
イント） “ピークサーチ”などの子のオブジェクトを“仮想計測
器のサービス”としてあつかっても、子のオブジェクト
の‘サービスを実行する’処理を実行できるように用意
した処理である。 ・アイコンを生成する（位置座標、表示領域） 引数で与えられた表示領域上の引数で与えられた位産座
標に、‘表示画像’属性を参照して“仮想計測器のサー
ビス”のアイコンを表示する。

【０１５４】“ピークサーチ”： ［親のオブジェクト］： ・“仮想計測器のサービス” ［保有関係］：なし ［属性］：なし ［処理］： ・サービスを実行する（“スロット情報”のエントリポ
イント） ‘サービスを実行する’処理では、まず、引数で与えら
れた“スロット情報”が保有する“試験データ”から、
“スロット情報”により与えられる指定範囲内のＸ軸と
Ｙ軸の配列データを取得する。そして、得られたＹ軸の
配列データからピーク値をもつ配列番号を検出する。次
に、ピーク値を持つ配列番号のＸ軸とＹ軸のデータをグ
ラフ表示上に表示する。最後に、ピーク値をもつ配列番
号に対応するグラフ表示上の位置にピークを表すアイコ
ンを表示する。

【０１５５】“表示シート”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］： ・“仮想計測器” “表示シート”を生成した“仮想計測器”を１つ保有す
る。 ・“試験データ” グラフ表示する試験データを持つ１つの“試験データ”
を保有する。 ・“スロット情報” “表示シート”が生成された複数の“スロット情報”を
保有する。 ［属性］：なし ［処理］： ・試験結果を表示する() ‘試験結果を表示する’処理は、次の処理を行う。 （１）試験結果を表示するためのグラフィック・ディス
プレイ上の領域を生成する。 （２）保有する“試験データ”を参照してグラフを表示
する。 ・アップデート() ‘アップデート処理’は、表示しているグラフを消去
し、保有する“試験データ”を参照してグラフを再表示
する。 ・ハイライト（Ｘ軸上の最小値、Ｘ軸上の最大値、Ｙ軸
上の最小値、Ｙ軸上の最大値） ‘ハイライト’処理とは、“表示シート”が作成したグ
ラフ表示上でのポインティング装置３０の繰作により、
ある範囲が指定されたときに、イベント検出通知部４６
から実行される処理である。‘ハイライト処理’では、
つぎの処理を行う。 （１）引数で与えられたＸ軸上の最小値、Ｘ軸上の最大
値、Ｙ軸上の最小値、Ｙ軸上の最大値を指定して‘スロ
ット情報を生成する’処理を実行し、“スロット情報”
を生成する。 （２）生成した“スロット情報”の‘アップデート’処
理を実行する。 （３）‘利用できる仮想計測器のサービスを表示する’
処理を実行する。 （４）‘利用できる試験要素名を表示する’処理を実行
する。

【０１５６】スロット情報を生成する（Ｘ軸上の最小
値、Ｘ軸上の最大値、Ｙ軸上の最小値、Ｙ軸上の最大
値） ‘スロット情報を生成する’処理の処理内容を下記に示
す。 （１）“スロット情報”を生成し、“スロット情報”の
‘表示シート’属性に‘表示シート’自身のエントリポ
イントを設定する。 （２）引数で与えられたＸ軸上の最小値を指定して‘Ｘ
軸の位置座標に対応するＸ軸のデータを取得する’処理
を実行し、Ｘ軸上の最小値に対応するＸ軸のデータを取
得する。 （３）引数で与えられたＸ軸上の最大値を指定して‘Ｘ
軸の位置座標に対応するＸ軸のデータを取得する’処理
を実行し、Ｘ軸上の最大値に対応するＸ軸のデータを取
得する。 （４）引数で与えられたＹ軸上の最小値を指定して‘Ｙ
軸の位置座標に対応するＹ軸のデータを取得する’処理
を実行し、Ｙ軸上の最小値に対応するＹ軸のデータを取
得する。 （５）引数で与えられたＹ軸上の最大値を指定して‘Ｙ
軸の位置座標に対応するＹ軸のデータを取得する’処理
を実行し、Ｙ軸上の最大値に対応するＹ軸のデータを取
得する。 （６）取得した、Ｘ軸上の最小値に対応するＸ軸のデー
タ、Ｘ軸上の最大値に対応するＸ軸のデータ、Ｙ軸上の
最小値に対応するＹ軸のデータ、Ｙ軸上の最大値に対応
するＹ軸のデータを指定して、生成した“スロット情
報”の‘イニシャライズ’処理を実行する。 ・利用できる仮想計測器のサービスを表示する（表示領
域） ‘利用できる仮想計測器のサービスを表示する’処理で
は、保有する“仮想計測器”を参照して、“仮想計測
器”が保有する“仮想計測器のサービス”のアイコン
を、引数で与えられた表示領域上に表示する。

【０１５７】利用できる試験要素名を表示する（表示領
域） ‘利用できる仮想計測器のサービスを表示する’処理で
は、オブジェクト検出手段により“インタラクタ”を検
出して、“インタラクタ”が保有する“仮想計測器”に
対応する“試験要素名”のアイコンを、引数で与えられ
た表示領域上に表示する。 ・Ｘ軸の位置座標に対応するＸ軸のデータを取得する
（位置座標） ‘Ｘ軸の位置座標に対応するＸ軸のデータを取得する’
処理では、保有する“試験データ”を参照して、引数で
与えられた位置座標に対応するＸ軸のデータを得る処理
である。 ・Ｙ軸の位置座標に対応するＹ軸のデータを取得する
（位置座標） ‘Ｙ軸の位置座標に対応するＹ軸のデータを取得する’
処理では、保有する“試験データ”を参照して、引数で
与えられた位置座標に対応するＹ軸のデータを得る処理
である。

【０１５８】“試験クラス”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］：なし ［属性］：なし ［処理］： ・イニシャライズ（“仮想計測器”のエントリポイン
ト） “試験クラス”の‘イニシャライズ’処理は何も行わな
い。子のオブジェクトを“試験クラス”としてあつかっ
ても、子のオブジェクトの‘イニシャライズ’処理を実
行できるように用意した処理である。 ・試験条件を設定する（“試験条件ファイル名”のエン
トリポイント） “試験クラス”の‘試験条件を設定する’処理は何も行
わない。子のオブジェクトを“試験クラス”としてあつ
かっても、子のオブジェクトの‘試験条件を設定する’
処理を実行できるように用意した処理である。 ・スロット情報を設定する（“スロット情報”のエント
リポイント） “試験クラス”の‘スロット情報を設定する’処理は何
も行わない。子のオブジェクトを“試験クラス”として
あつかっても、子のオブジェクトの‘スロット情報を設
定する’処理を実行できるように用意した処理である。 ・試験パラメータを生成する（“試験パラメータ”のエ
ントリポイント） “試験クラス”の‘試験パラメータを生成する’処理は
何も行わない。子のオブジェクトを“試験クラス”とし
てあつかっても、子のオブジェクトの‘試験パラメータ
を生成する’処理を実行できるように用意した処理であ
る。 ・試験項目に対応する試験結果を得る（“試験データ”
のエントリポイントのセット、試験項目に対応する試験
結果の文字列のエントリポイント） “試験クラス”の‘試験項目に対応する試験結果を得
る’処理は何も行わない。子のオブジェクトを“試験ク
ラス”としてあつかっても、子のオブジェクトの‘試験
パラメータを生成する’処理を実行できるように用意し
た処理である。

【０１５９】“リーフ試験クラス”： ［親のオブジェクト］：試験クラス ［保有関係］： ・“試験クラスのインプリメンタ”：“リーフ試験クラ
ス”が生成した抽象的な試験パラメータを各“仮想計測
器”ごとの具体的な試験パラメータに変換する“試験ク
ラスのインプリメンタ”を１つ保有する。 ［属性］：なし ［処理］： ・試験パラメータを生成する（“試験パラメータ”のエ
ントリポイント） 引数で与えられた“試験パラメータ”のエントリポイン
トを指定して、保有する“試験クラスのインプリメン
タ”の‘試験パラメータを生成する’処理を実行する。

【０１６０】“パワースペクトラム測定”： ［親のオブジェクト］：リーフ試験クラス ［保有関係］：なし ［属性］： ・中心周波数 パワースペクトラムを測る中心周波数を、メモリ２６上
に記憶する領域である。 ・周波数スパン パワースペクトラムを測る周波数スパンをメモリ２６上
に記憶する領域である。 ［処理］：・イニシャライズ（“仮想計測器”のエント
リポイント） ‘イニシャライズ’処理は、引数で与えられた“仮想計
測器”と“パワースペクトラム測定”に対応する“試験
クラスのインプリメンタ”を生成し、“リーフ試験クラ
ス”の保有関係に設定する。そして、引数で与えられた
“仮想計測器”と“パワースペクトラム測定”自身のエ
ントリポイントを指定して“試験クラスのインプリメン
タ”の‘イニシャライズ’処理を実行する。

【０１６１】試験条件を設定する（“試験条件ファイル
名”のエントリポイント） ‘試験条件を設定する’処理は、引数で与えられた“試
験条件ファイル名”の‘名称’属性と名前が一致するメ
モリ上の試験条件ファイルを読み込む。そして、‘中心
周波数’と‘周波数スパン’属性に読み込んだ内容を設
定する。 ・スロット情報を設定する（“スロット情報”のエント
リポイント） ‘スロット情報を設定する’処理は、引数で与えられた
“スロット情報”を参照して、‘中心周波数’と‘周波
数スパン’属性の内容を設定する。‘中心周波数’属性
には、引数で与えられた“スロット情報”の‘Ｘ軸上の
最小値に対応するＸ軸のデータ’と‘Ｘ軸上の最大値に
対応するＸ軸のデータ’属性を参照して、‘Ｘ軸上の最
小値に対応するＸ軸のデータ’と‘Ｘ軸上の最大値に対
応するＸ軸のデータ’の中心の周波数を設定する。‘周
波数スパン’属性には、引数で与えられた“スロット情
報”の‘Ｘ軸上の最小値に対応するＸ軸のデータ’と
‘Ｘ軸上の最大値に対応するＸ軸のデータ’属性を参照
して、‘Ｘ軸上の最小値に対応するＸ軸のデータ’と
‘Ｘ軸上の最大値に対応するＸ軸のデータ’の差の周波
数を設定する。

【０１６２】“線スペクトラム測定”： ［親のオブジェクト］：リーフ試験クラス ［保有関係］：なし ［属性］： ・測定周波数 線スペクトラム測定を行う測定周波数を、メモリ２６上
に記憶する領域である。 ［処理］ ・イニシャライズ（“仮想計測器”のエントリポイン
ト） ‘イニシャライズ’処理は、引数で与えられた“仮想計
測器”と“線スペクトラム測定”に対応する“試験クラ
スのインプリメンタ”を生成し、“リーフ試験クラス”
の保有関係に設定する。そして、引数で与えられた“仮
想計測器”と“線スペクトラム測定”自身のエントリポ
イントを指定して“試験クラスのインプリメンタ”の
‘イニシャライズ’処理を実行する。 ・試験条件を設定する（“試験条件ファイル名”のエン
トリポイント） ‘試験条件を設定する’処理は、引数で与えられた“試
験条件ファイル名”の‘名称’属性と名前が一致するメ
モリ２６上の試験条件ファイルを読み込む。そして、
‘測定周波数’属性に読み込んだ内容を設定する。 ・スロット情報を設定する（“スロット情報”のエント
リポイント） ‘スロット情報を設定する’処理は、引数で与えられた
“スロット情報”を参照して、‘測定周波数’属性の内
容を設定する。‘測定周波数’属性には、引数で与えら
れた“スロット情報”の‘Ｘ軸上の最小値に対応するＸ
軸のデータ’と‘Ｘ軸上の最大値に対応するＸ軸のデー
タ’属性を参照して、‘Ｘ軸上の最小値に対応するＸ軸
のデータ’と‘Ｘ軸上の最大値に対応するＸ軸のデー
タ’の中心の周波数を設定する。

【０１６３】“コンポジット試験クラス”： ［親のオブジェクト］：試験クラス ［保有関係］： ・高速測定のための“測定クラス” 高速測定のための１つの“測定クラス”を保有する。 ・高精度測定のための“測定クラス” 高精度測定のための複数の“測定クラス”を保有する。 ［属性］：なし ［処理］：なし “高調波測定”： ［親のオブジェクト］：コンポジット試験クラス ［保有関係］：なし ［属性］： ・基本波周波数 基本波周波数をメモリ２６上に記憶する領域である。 ・測定次数 測定する最大の高調波次数をメモリ２６上に記憶する領
域である。

【０１６４】［処理］：・イニシャライズ（“仮想計測
器”のエントリポイント） ‘イニシャライズ’処理は、次の処理を行う。 （１）高速測定のための“パワースペクトラム測定”を
１つ生成し、内包する“コンポジット試験クラス”の高
速測定のための“測定クラス”に設定する。 （２）生成した“パワースペクトラム測定”の‘中心周
波数’と‘周波数スパン’属性を設定する。‘中心周波
数’は、基本波と最大次数の高調波の中間の周波数であ
る。‘周波数スパン’は、基本波と最大次数の高調波の
差分以上の周波数となる。 （３）引数で与えられた“仮想計測器”のエントリポイ
ントを指定して、生成した“パワースペクトラム測定”
の‘イニシャライズ’処理を実行する。 （４）高精度測定のための“線スペクトラム測定”を測
定する基本波と測定する高調波の次数分生成し、内包す
る“コンポジット試験クラス”の高精度のための“測定
クラス”に設定する。 （５）基本波と測定する高調波の周波数を、生成した
“線スペクトラム測定”の各‘測定周波数’属性に設定
する。 （６）引数で与えられた“仮想計測器”のエントリポイ
ントを指定して、生成したすべての“線スペクトラム測
定”‘イニシャライズ’処理を実行する。 ・試験条件を設定する（“試験条件ファイル名”のエン
トリポイント） ‘試験条件を設定する’処理は、引数で与えられた“試
験条件ファイル名”の‘名称’属性と名前が一致するメ
モリ２６上の試験条件ファイルを読み込む。そして、
‘基本波周波数’と‘測定次数’属性に読み込んだ内容
を設定する。 ・試験項目に対応する試験結果を得る（“試験データ”
のエントリポイントのセット、試験項目に対応する試験
結果の文字列のエントリポイント） ‘試験項目に対応する試験結果を得る’処理では、引数
で与えられた“試験データ”のエントリポイントのセッ
トを参照し、基本波と高調波の電力比を算出する。そし
て、引数で与えられた試験項目に対応する試験結果の文
字列のエントリポイントが示す領域に、算出した結果を
文字列に変換して格納する。

【０１６５】“試験クラスのインプリメンタ”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］：なし ［属性］： ・仮想計測器 試験パラメータを生成する対象となる“仮想計測器”の
エントリポイントを記憶する領域である。 ・リーフ試験クラス “試験クラスのインプリメンタ”を生成した“リーフ試
験クラス”のエントリポイントを記憶する領域である。 ［処理］： ・イニシャライズ（“仮想計測器”のエントリポイント
“リーフ試験クラス”のエントリポイント） ‘イニシャライズ’処理は、引数で与えられた“仮想計
測器”を、‘仮想計測器’属性に記憶する。また、引数
で与えられた“リーフ試験クラス”を、‘リーフ試験ク
ラス’属性に記憶する。 ・試験パラメータを生成する（“試験パラメータ”のエ
ントリポイント） “試験クラスのインプリメンタ”の‘試験パラメータを
生成する’処理は何も行わない子のオブジェクトを“試
験クラスのインプリメンタ”としてあつかっても、子の
オブジェクトの‘試験パラメータを生成する’処理を実
行できるように用意した処理である。

【０１６６】“仮想スペクトラム・アナライザ用パワー
スペクトラム測定のインプリメンタ”： ［親のオブジェクト］：試験クラスのインプリメンタ ［保有関係］：なし ［属性］：なし ［処理］： ・試験パラメータを生成する（“試験パラメータ”のエ
ントリポイント） ‘試験パラメータを生成する’処理は、次の処理を行
う。 （１）内包する“試験クラスのインプリメンタ”の‘仮
想計測器’属性を参照し、“仮想計測器”のエントリポ
イントを入手する。 （２）内包する“試験クラスのインプリメンタ”の‘リ
ーフ試験クラス’属性として記憶する“パワースペクト
ラム測定”の‘中心周波数’属性を読みだす。 （３）引数で与えられた“試験パラメータ”のエントリ
ポイントと、‘中心周波数’属性の値と、中心周波数の
名称を指定して、入手した“仮想計測器”の‘試験パラ
メータ項目を設定する’処理を実行する。 （４）内包する“試験クラスのインプリメンタ”の‘リ
ーフ試験クラス’属性として記憶する“パワースペクト
ラム測定”の‘周波数スパン’属性を読出す。 （５）引数で与えられた“試験パラメー夕”のエントリ
ポイントと、‘周波数スパン’属性の値と、周波数スパ
ンの名称を指定して、入手した“仮想計測器”の‘試験
パラメータ項目を設定する’処理を実行する。

【０１６７】“仮想スペクトラム・アナライザ用線スペ
クトラム測定インプリメンタ”： ［親のオブジェクト］：試験クラスのインプリメンタ ［保有関係］：なし ［属性］：なし ［処理］： ・試験パラメータを生成する（“試験パラメータ”のエ
ントリポイント） ‘試験パラメータを生成する’処理は、次の処理を行
う。 （１）内包する“試験クラスのインプリメンタ”の‘仮
想計測器’属性を参照し、“仮想計測器”のエントリポ
イントを入手する。 （２）内包する“試験クラスのインプリメンタ”の‘リ
ーフ試験クラス’属性として記憶する“線スペクトラム
測定”の‘測定周波数’属性を読みだす。 （３）引数で与えられた“試験パラメータ”のエントリ
ポイントと、‘測定周波数’属性の値と、中心周波数の
名称を指定して、入手した“仮想計測器”の‘試験パラ
メータ項目を設定する’処理を実行する。

【０１６８】“スロット情報”； ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］： ・“試験データ”“スロット情報”は生成したグラフ表
示の基となる“試験データ”を保有する。 ［属性］： ・Ｘ軸上の最小値に対応するＸ軸のデータ Ｘ軸上の最小値に対応するＸ軸のデータを記憶する領域
である。 ・Ｘ軸上の最大値に対応するＸ軸のデータ Ｘ軸上の最大値に対応するＸ軸のデータを記憶する領域
である。 ・Ｙ軸上の最小値に対応するＹ軸のデータ Ｙ軸上の最小値に対応するＹ軸のデータを記憶する領域
である。 ・Ｙ軸上の最大値に対応するＹ軸のデータ Ｙ軸上の最小値に対応するＹ軸のデータを記憶する領域
である。 ・指定された仮想計測器のサービス “仮想計測器のサービス”のエントリポイントの配列デ
ータを記憶する領域である。 ・指定された仮想計測器 “仮想計測器”のエントリポイントの配列データを記憶
する領域である。 ・表示シート “スロット情報”が生成した“表示シート”のエントリ
ポイントを保有する領域である。

【０１６９】［処理］： ・イニシャライズ（Ｘ軸上の最小値に対応するＸ軸のデ
ータ、Ｘ軸上の最大値に対応するＸ軸のデータ、Ｙ軸上
の最小値に対応するＹ軸のデータ、Ｙ軸上の最大値に対
応するＹ軸のデータ） 引数で与えられたＸ軸上の最小値に対応するＸ軸のデー
タ、Ｘ軸上の最大値に対応するＸ軸のデータ、Ｙ軸上の
最小値に対応するＹ軸のデータ、Ｙ軸上の最大値に対応
するＹ軸のデータを、‘Ｘ軸上の最小値に対応するＸ軸
のデータ’、‘Ｘ軸上の最大値に対応するＸ軸のデー
タ’、‘Ｙ軸上の最小値に対応するＹ軸のデータ’、
‘Ｙ軸上の最大値に対応するＹ軸のデータ’属性に記憶
する。 ・アップデート() ‘Ｘ軸上の最小値に対応するＸ軸のデータ’、‘Ｘ軸上
の最大値に対応するＸ軸のデータ’、‘Ｙ軸上の最小値
に対応するＹ軸のデータ’、‘Ｙ軸上の最大値に対応す
るＹ軸のデータ’属性の値が示す範囲の外枠を、‘表示
シート’属性が示す“表示シート”のグラフ表示上に表
示する。 ・試験要素名を指定する（“試験要素名”のエントリポ
イント） ‘試験要素名を指定する’処理は、まず、グラフ表示上
に引数で与えられた“試験要素名”のアイコンを表示す
る。次に、“インタラクタ”を検出し、引数で与えられ
た“試験要素名”と“スロット情報”自身のエントリポ
イントを指定して、“インタラクタ”の‘新しい試験を
起動する’処理を実行する。 ・仮想計測器のサービスを指定する（“仮想計測器のサ
ービス”のエントリポイント） ‘仮想計測器のサービスを指定する’処理は、“スロッ
ト情報”自身のエントリポイントを指定して、引数で与
えられた“仮想計測器のサービス”の‘サービスを実行
する’処理を実行する。

【０１７０】“インタラクタ”： ［親のオブジェクト］：なし ［保有関係］： ・“仮想計測器” 試験システムで利用できる複数の“仮想計測器”を保有
する。 ［属性］：なし ［処理］： ・新しい試験を起動する（“試験要素名”のエントリポ
イント、“スロット情報”のエントリポイント） ‘新しい試験を起動する’処理では、引数で与えられた
“試験要素名”の‘デフォルトで起動する試験項目’を
参照して、次の処理を行う。 （ａ）デフォルトで起動する試験項目が記憶されていた
とき デフォルトで起動する“試験項目”と引数で与えられた
“試験要素名”と“スロット情報”のエントリポイント
を指定して、‘測定を実行する’処理を実行する。

【０１７１】（ｂ）デフォルトで起動する試験項目が記
憶されていなかったとき （１）グラフ表示領域を指定して、引数で与えられた
“試験要素名”が保有する“試験項目”のアイコンをグ
ラフ表示上に表示し、アイコンがポインティング装置３
０のポイント（ポインティング装置３０のボタンを押
し、ポインティング装置を移動しないでポインティング
装置３０のボタンをリリーフする）により選択されるま
で待つ。 （２）“試験項目”のアイコンが選択されると、選択さ
れたアイコンに対応する“試験項目”と、引数で与えら
れた“試験要素名”と“スロット情報”のエントリポイ
ントを指定して、‘測定を実行する’処理を実行する。 ・測定を実行する（“試験項目”のエントリポイント、
“スロット情報”のエントリポイント、“試験要素名”
のエントリポイント） ‘測定を実行する’処理では、次の処理を行う。 （１）引数で与えられた‘試験要素名”に対応する“仮
想計測器”を、検出する。 （２）引数で与えられた“試験項目”と“スロット情
報”のエントリポイントを指定して、検出した“仮想計
測器”の‘試験項目とスロット情報により試験パラメー
タを生成する’処理を実行する。 （３）生成した“試験パラメータ”のエントリポイント
を指定して、検出した“仮想計測器”の‘試験を実行す
る’処理を実行する。

【０１７２】“タスク・コンポーネント”： ［親のオブジェクト］：なし ［属性］： ・名称 名称を表す文字列をメモリ２６上に記憶する領域であ
る。 ・表示画像 アイコンの表示画像をメモリ２６上に記憶する領域であ
る。 ・アイコンのＸ軸方向の大きき 表示しているアイコンのＸ軸方向の大ききを記憶する領
域である。 ・アイコンのＹ軸方向の大きさ 表示しているＹ軸方向の大きさを記憶する領域である。 ［処理］： ・実行する（試験項目に対応する試験結果の文字列のエ
ントリポイント） “タスク・コンポーネント”の‘実行する’処理は何も
行わない。子のオブジェクトを“タスク・コンポーネン
ト”としてあつかっても、子のオブジェクトの‘実行す
る’処理を実行できるように用意した処理である。 ・アタッチ（“タスク・コンポーネント”のエントリポ
イント、座標位置） ‘アタッチ処理’は、プログラム要素のアイコンが“タ
スク・コンポーネント”のアイコンにドロップされたと
き、実行される処理である。“タスク・コンポーネン
ト”の‘アタッチ’処理は何も行わない。子のオブジェ
クトを“タスク・コンポーネント’としてあつかって
も、子のオブジェクトの‘アタッチ’処理を実行できる
ように用意した処理である。

【０１７３】結線する() “タスク・コンポーネント”の‘結線する’処理は何も
行わない。子のオブジェクトを“タスク・コンポーネン
ト”としてあつかっても、子のオブジェクトの‘結線す
る’処理を実行できるように用意した処理である。 ・結線を消去する() “タスク・コンポーネント”の‘結線を消去する’処理
は何も行わない。子のオブジェクトを“タスク・コンポ
ーネント”としてあつかっても、子のオブジェクトの’
結線を消去する’処理を実行できるように用意した処理
である。 ・整列する “コンポーネント”の‘整列する’処理は何も行わな
い。子のオブジェクトを“タスク・コンポーネント”と
してあつかっても、子のオブジェクトの‘整列する’処
理を実行できるように用意した処理である。 ・アイコンを生成する（座標位置、表示領域） 引数で与えられた表示領域上の引数で与えられた位置座
標に、‘表示画像’属性を参照してアイコンを表示す
る。 ・アイコンの大きさを取得する（Ｘ軸方向の大ききデー
タのエントリポイント、Ｙ軸方向の大ききデータのエン
トリポイント） ‘アイコンの大きさを取得する’処理では、まず、表示
するアイコンのＸ軸方向の大きさを引数のＸ軸方向の大
きさデータのエントリポイントが示す領域に格納する。
次に、表示するアイコンのＹ軸方向の大ききを引数のＹ
軸方向の大ききデータのエントリポイントが示す領域に
格納する。

【０１７４】“ビギン”： ［親のオブジェクト］：タスク・コンポーネント ［保有関係］：なし ［属性］：なし ［処理］： ・実行する（試験項目に対応する試験結果の文字列のエ
ントリポイント） “ビギン”の‘実行する’処理は、“ビギン”のアイコ
ンがポイントされたときに実行される処理である。“ビ
ギン”を保有する“試験プラン”を検出し、検出した
“試験プラン”の‘実行する’処理を実行する。

【０１７５】“エンド”： ［親のオブジェクト］：タスク・コンポーネント ［保有関係］：なし ［属性］：なし ［処理］：なし “ポーズ”： ［親のオブジェクト］：タスク・コンポーネント ［保有関係］：なし ［属性］：なし ［処理］： ・実行する（試験項目に対応する試験結果の文字列のエ
ントリポイント） ポインティング装置３０からの入力があるまでプログラ
ムを停止する。

【０１７６】“ウエイト”： ［親のオブジェクト］：タスク・コンポーネント ［保有関係］：なし ［属性］： ・ウエイト時間 プログラムをウエイトする時間を記憶する領域である。 ［処理］： ・実行する（試験項目に対応する試験結果の文字列のエ
ントリポイント） ‘ウエイト時間’属性に指定された時間、プログラムを
ウエイトする。

【０１７７】“指定時間までのウエイト”： ［親のオブジェクト］：タスク・コンポーネント ［保有関係］：なし ［属性］： ・開始時間 プログラムを開始する時間を記憶する領域である。 ［処理］： ・実行する（試験項目に対応する試験結果の文字列のエ
ントリポイント） ‘開始時間’になるまで、プログラムを停止する処理で
ある。

【０１７８】“コンポジット・タスク”： ［親のオブジェクト］：タスク・コンポーネント ［保有関係］： ・“タスク・コンポーネント” プログラムを構成する複数の“タスク・コンポーネン
ト”を保有する。 ［属性］：なし ［処理］： ・実行する（試験項目に対応する試験結果の文字列のエ
ントリポイント） 保有した“タスク・コンポーネント”の‘実行する’処
理を、保有関係を記憶する配列データの先頭から順番に
実行する。ただし、‘ビギン’は実行しない。アタッチ（“タスク・コンポーネント”のエントリポイ
ント、座標位置） アタッチ処理では、次の処理を行う。 （１）‘結線を消去する’処理を実行する。 （２）引数で与えられた“タスク・コンポーネント”の
コピーを生成する。 （３）引数で与えられた位置座標と、“コンポジット・
タスク”のアイコン領域を指定して、生成した“タスク
・コンポーネント”の‘アイコンを生成する’処理であ
る。 （４）‘整列する’処理を実行する。 （５）‘結線する’処理を実行する。 （６）表示されている“ビギン”から“エンド”までの
アイコン間のプログラム要素アイコンの表示順序に一致
するように、生成した“タスク・コンポーネント”を加
え、“コンポジット・タスク”が保有関係として記憶す
るプログラム要素のエントリポイントの配列データを並
べ替える。 ・結線する() “ビギン”から“エンド”までの隣り合うアイコン間を
結線表示する。 ・結線を消去する() “ビギン”から“エンド”までの結線表示を消去する。 ・整列する() まず、“ビギン”から“エンド”までのアイコンの大き
さを‘アイコンの大きさを取得する’処理を利用して、
結線表示を加え、すべてのアイコンが表示できる大きさ
に“コンポジット・タスク”自身の大きさのアイコンを
変更する。次に、“ビギン”から“エンド”までのアイ
コンを結線表示できるように整列する。最後に、“コン
ポジット・タスク”自身の保有元の“コンポジット・タ
スク”があったとき、保有元の“コンポジット・タス
ク”の‘整列する’処理を実行する。

【０１７９】“ループ”： ［親のオブジェクト］：コンポジット・タスク ［保有関係］：なし ［属性］： ・ループ回数 ループする回数を記憶する領域である。 ［処理］： ・実行する（試験項目に対応する試験結果の文字列のエ
ントリポイント） 内包する“コンポジット・タスク”の‘実行する’処理
を‘ループ回数’で指定された回数実行する。 ・アイコンを生成する（座標位置、表示領域） 引数で与えられた表示領域上の引数で与えられた位置座
標に、ループの画像と入カパネルを持つアイコンを表示
する。

【０１８０】“スイッチ”： ［親のオブジェクト］：コンポジット・タスク ［保有関係］：なし ［属性］： ・実行条件 実行条件を文字列として記憶する領域である。 ［処理］： ・実行する（試験項目に対応する試験結果の文字列のエ
ントリポイント） ‘実行条件’属性は、数値と等号負号からなる文字列か
らなるものである。‘実行する’処理では、まず、引数
で与えられた試験項目に対応する試験結果の文字列に対
応する数値が、例えばある数値よりも大きいか、ある上
限値と下限値の範囲内であるかなど‘実行条件’属性に
したがって判定をおこなう。そして、‘実行する’処理
は、‘実行条件’属性で与えられた条件を満たしたと
き、内包する“コンポジット・タスク”の‘実行する’
処理を実行する。 ・アイコンを生成する（座標位置、表示領域） 引数で与えられた表示領域上の引数で与えられた位置座
標に、分岐の画像と入力パネルをもつアイコンを表示す
る。

【０１８１】“条件ループ”： ［親のオブジェクト］：コンポジット・タスク ［保有関係］：なし ［属性］： ・終了条件 ループを終了する条件を文字列として記憶する領域であ
る。 ［処理］： ・実行する（試験項目に対応する試験結果の文字列のエ
ントリポイント） ‘終了条件’は、数値と等号負号からなる文字列からな
るものである。実行する処理の処理内容を次に示す。 （１）内包する“コンポジット・タスク”の‘実行す
る’処理を実行し、この処理の結果として与えられる試
験項目に対応する試験結果の文字列を得る。 （２）そして、得られた文字列に対応する数値が、例え
ばある数値よりも大きいか、ある上限値と下限値の範囲
内であるかなど‘終了条件’属性で与えられた判定を行
う。 （３）‘実行する’処理は、‘終了条件’属性で与えら
れた条件を満たしたとき処理を終了する。条件を満たさ
なかったとき、再度（１）からの処理を行う。 ・アイコンを生成する（座標位置、表示領域） 引数で与えられた表示領域上の引数で与えられた位置座
標に、分岐の画像と入カパネルを持つアイコンを表示す
る。

【０１８２】“試験プラン”： ［親のオブジェクト］：コンポジット・タスク ［保有関係］： ・“コンポジット・タスク” 利用できるプログラム要素である複数の“タスク・コン
ポーネント”を保有する。 ［属性］： ・試験プランのベース・キャンバス 試験プランが利用するグラフィカル・ディスプレイ上の
表示領域をメモリ２６上に記憶する領域である。 ・プログラム要素表示キャンバス 利用できるプログラム要素を表示するための試験プラン
のベース・キャンバス上の表示領域をメモリ上に記憶す
る領域である。 ・試験プラン・キャンバス プログラムを作成するための試験プランのベース・キャ
ンバス上の表示領域をメモリ上に記憶する領域である。 ［処理］： ・試験プランのイニシャライズ() ‘試験プランのイニシャライズ処理’では、次の処理を
行う。 （１）‘表示領域を生成する’処理を実行する。 （２）プログラムに利用できるプロクラム要素を生成
し、“試験プラン”の“コンポジット・タスク”の保有
関係に設定する。そして、利用できるプログラム要素を
‘プログラム要素表示キャンバス’属性の示す領域に表
示する。 （３）“ビギン”と“エンド”を生成し、生成した“ビ
ギン”と“エンド”を包含する“コンポジット・タス
ク”の保有関係に設定する。そして、“ビギン”と“エ
ンド”のアイコンを生成し、試験プラン・キャンバス上
に表示する。 （４）‘整列する’処理を実行する。 （５）‘結線する’処理を実行する。 ・表示領域を生成する() ‘試験プランのベース・キャンバス’、‘プログラム要
素表示キャンバス’、‘試験プラン・キャンバス’属性
に対応する表示領域をグラフィカル・ディスプレイ上に
生成し、各属性に記憶する。 ・利用できるプログラム要素を表示する（表示領域） 引数で与えられた表示領域に、保有する“試験条件ファ
イル名”のアイコンを生成する。 ・実行する（試験項目に対応する試験結果の文字列のエ
ントリポイント） 内包する“コンポジット・タスク”の‘実行する’処理
を実行する。

【０１８３】次に、上述した各オブジェクトを使用して
実施される各種の処理例を説明する。なお、以下には上
述した各オブジェクトを利用したときの試験ゴールの指
定と試験の起動処理の概略について説明を行う。また、
各処理内容の詳細については、各オブジェクトの処理で
説明しているため、以下では各オブジェクトがどのよう
に起動されるが示されている。

【０１８４】（１）高速に試験するか高精度に試験する
かを指定でき、試験目的／ゴールの選択から操作をスタ
ートすることができる試験システムの処理例 （１．１）試験目的／ゴールの選択から操作をスタート
できる試験システムのＧＵＩの実現例： 図１４は、試験
目的／ゴールの選択から操作をスタートしてゆける試験
システムにおけるＧＵＩの実現例を示す図である。同図
に示すように、試験タスクのベース・キャンバス３００
内に、試験要素表示キャンバス３１０、試験データ表示
キャンパス３２０、試験タスク・キャンバス３３０が含
まれている。

【０１８５】ベース・キャンバス３００は、試験目的／
ゴールを設定して試験を実行し、試験結果を表示するた
めに利用されるグラフィカル・ディスプレイ上の一部あ
るいは全部の表示領域である。また、試験要素表示キャ
ンバス３１０は、本実施形態の試験システムで利用でき
る試験要素を表示するための試験タスクのベース・キャ
ンバス３００上の表示領域である。

【０１８６】試験データ表示キャンバス３２０は、試験
データを表示するための試験タスクのベース・キャンバ
ス３００上の表示領域である。また、この試験データ表
示キャンバス３２０内に試験データを表示する領域３２
２が確保される。

【０１８７】試験タスク・キャンバス３３０は、試験ゴ
ールを指定し、試験を起動するための試験タスクのベー
ス・キャンバス３００上の表示領域である。この試験タ
スク・キャンバス３３０は、試験項目を表示するための
試験項目キャンバス３３２と、試験条件ファイル名を表
示するための試験条件キャンバス３３６と、ＤＵＴや選
ばれた試験項目、試験条件、高速試験や高精度試験に対
応する試験要素などの表示やＤＵＴや高速試験や高精度
試験に対応する試験要素などのアイコン間の結線作業に
利用されるワークスペース３４０、およびプログラム要
素として試験タスクを選ぶための“試験タスク”のアイ
コン３５０を含んでいる。

【０１８８】“試験タスク”の‘表示領域を生成する’
処理により、これらの各表示領域が生成される。そし
て、試験要素表示キャンバス３１０内に試験要素を表す
“試験要素名”のアイコン３１２、３１４や、ワーク・
スペース３４０内にＤＵＴのアイコン３４２等が生成さ
れ、試験システム利用者の操作待ちの状態になる。

【０１８９】次に、試験システム利用者が試験要素表示
キャンバス３１０から試験要素を表す“試験要素名”の
アイコンをドラッグし、ワークスペース３４０上にドロ
ップすると、ワークスペース３４０上に高速試験や高精
度試験に対応する“試験要素名”のアイコン３４４、３
４６が表示され、同時に各試験要素で利用できる“試験
項目”のアイコン３３４が試験項目キャンバス３３２に
表示される。

【０１９０】このような状態において、試験項目キャン
バス３１０上の“試験項目”のアイコン３３４をドラッ
グして、ワークスペース３４０上にドロップすると、
“試験項目”のアイコン３３４は消去され、新たにワー
クスペース３４０上に“試験項目”のアイコン３４８が
表示される。これと同時に“試験項目”で利用できる
“試験条件ファイル名”等のアイコン３３８が試験条件
キャンバス３３６上に表示される。

【０１９１】この試験条件キャンパス３３６上に表示さ
れる“試験条件ファイル名”のアイコン３３８をドラッ
グし、ワークスペース３４０上にドロップすると、“試
験条件ファイル名”のアイコン３３８は消去され、これ
と同時にワークスペース３４０上に“試験条件ファイル
名”のアイコン３４９が生成される。

【０１９２】試験項目キャンバス３３２や試験条件キャ
ンパス３３６は、アイコンが多く、これらの表示領域内
に収まらない場合には、その一部にスクロール・バーが
追加され、スクロールできるようになる。

【０１９３】次に、ＤＵＴアイコン３４２をドラッグし
て、高速試験や高精度試験に対応する“試験要素名”の
アイコン３４４、３４６のどちらかにドロップすると、
ＤＵＴアイコン３４２とドロップした先のアイコンが結
線表示され、高速試験もしくは高精度試験が実行され
る。すなわち、ＤＵＴアイコン３４２のドラッグ・アン
ド・ドロップの１回の操作により、高速試験もしくは高
精度試験の選択と、試験の実行が指示できる。

【０１９４】試験が行われると、試験データ表示キャン
パス３２０が表示され、試験データを取得した段階で、
グラフ表示が行われる。

【０１９５】（１．１）試験ゴールを指定し、試験を起
動する処理：図１５は、試験ゴールを指定して試験を起
動するときの動作手順を示す流れ図である。まず、試験
タスクのイニシャライズ処理（ステップｄ１）では、図
１３に示した試験タスクのべース・キャンバス３００、
試験要素表示キャンバス３１０、試験項目キャンバス３
３２、試験条件キャンバス３３６、ワークスペース３４
０をグラフィック・ディスプレイ上に表示し、利用でき
る“試験要素名”のアイコンを試験要素表示キャンバス
３１０に表示する。

【０１９６】このような状態において、試験要素表示キ
ャンバス３１０上の“試験要素名”のアイコンがドラッ
グされ、ワークスペース３４０にドロップされると、ワ
ークスペース３４０上に高速試験や高精度度試験に対応
する“試験要素名”のアイコンが表示され、同時に試験
要素で利用できる“試験項目”のアイコンが試験項目キ
ャンバス３３２上に表示される（ステップｄ２）。

【０１９７】次に、試験システムの利用者が“試験項
目”の選択を行うか否かで動作が分かれる（ステップｄ
３）。“試験項目”の選択が行われない場合には、後述
するステップｄ７に進む。また、“試験項目”の選択が
行われた場合、すなわち、試験項目キャンバス３３２上
の“試験項目”のアイコンがドラッグされ、ワークスペ
ース３４０上にドロップされると、試験タスクは、この
選択された“試験項目”を“試験ゴール”に設定（ステ
ップｄ４）するとともに、試験項目キャンバス３３２上
の選ばれた“試験項目”のアイコンを消去し、ワークス
ペース３４０上に選択された“試験項目”のアイコンを
表示する。また、これと同時に、“試験項目”で利用で
きる“試験条件ファイル名”のアイコンが試験条件キャ
ンバス３３６上に表示される。

【０１９８】次に、試験システムの利用者によって、試
験条件キャンバス３３６上の“試験条件ファイル名”の
アイコンがドラッグされ、ワークスペース３４０にドロ
ップされて、“試験条件ファイル名”の選択が行われる
と（ステップｄ５）、試験タスクは、選択された“試験
条件ファイル名”を“試験ゴール”に設定（ステップｄ
６）するとともに、試験条件キャンバス３３６上の選ば
れた“試験条件ファイル名”のアイコンを消去し、ワー
クスペース３４０上に選択された“試験条件ファイル
名”のアイコンを表示する。

【０１９９】次に、利用者によって“試験項目”も“試
験条件ファイル名”も選択されない場合に、ＤＵＴのア
イコンがワークスペース３４０にドロップされると（ス
テップｄ７）、試験タスクは、ＤＵＴアイコンがドロッ
プされた位置に高速試験に対応した“試験要素名”のア
イコンがあったときには、“試験ゴール”がもつ“試験
トレードオフ”に高速試験を設定する。また、ＤＵＴア
イコンがドロップされた位置に高精度試験に対応した
“試験要素名”のアイコンがあったときには、“試験ゴ
ール”がもつ“試験トレードオフ”に高精度試験が設定
される。

【０２００】次に、ＤＵＴアイコンとＤＵＴアイコンが
ドロップされた位置にある“試験要素名”のアイコンが
結線され（ステップｄ８）、該当する試験の実行処理が
起動される（ステップｄ９）。

【０２０１】（１．２）試験を実行して試験データを表
示する整理 図１６および図１７は、試験を実行してその結果である
試験データを表示する場合の動作手順を示す流れ図であ
る。同図に示す一連の動作は、上述した図１５のステッ
プｄ９における試験の実行処理を受けて行われるもので
ある。

【０２０２】図１５のステップｄ９において試験の実行
処理が起動されると、試験タスクによって“仮想計測
器”の‘試験を起動する’処理を実行する（ステップｅ
１）。これ以降の各ステップの動作は、“仮想計測器”
の‘試験を起動する’処理内容に対応する。また、この
“仮想計測器”の‘試験を起動する’処理は、既に生成
されている“試験ゴール”が引数として設定される。

【０２０３】まず、“仮想計測器”は、“試験パラメー
タ”を生成し（ステップｅ２）、生成した“試験パラメ
ータ”に“試験パラメータ項目”を設定する。また、
“試験ゴール”の内容が参照されて、対応する“試験ク
ラス”が生成される（ステップｅ３）。

【０２０４】次に、生成された“試験クラス”によって
‘イニシャライズ’処理が実行される（ステップｅ
４）。その後、“試験タスク”は“試験条件ファイル
名”が“試験ゴール”に設定されている否かを判断し
（ステップｅ５）、設定されている場合には、“試験ク
ラス”において‘試験条件を設定する’を実行し（ステ
ップｅ６）、“試験条件ファイル名”が示す試験条件を
“試験クラス”に設定する。

【０２０５】また、“仮想計測器”の‘試験を起動す
る’処理は、生成した“試験パラメータ”の内容を設定
するために、生成した“試験クラス”の‘試験パラメー
タを生成する’処理を実行する（ステップｅ７）。この
“試験クラス”の‘試験パラメータを生成する’処理で
は、“仮想計測器”の‘試験パラメータ項目を設定す
る’処理を利用して、生成した試験パラメータを“試験
パラメータ”の内容に設定する（ステップｅ８）。試験
パラメータの準備ができると、“仮想計測器”の‘試験
を起動する’処理は、試験要素から取得したデータを格
納するための“試験データ”を生成し（ステップｅ
９）、“試験データ”を表示するための‘表示シート’
を生成する（ステップｅ１０）。

【０２０６】その後、“仮想計測器”の‘試験を起動す
る’処理は、“仮想計測器”の‘試験を実行する’処理
を実行する（ステップｅ１１）。“仮想計測器”の‘試
験を実行する’処理は、生成した“試験パラメータ”を
試験要素に送り、試験要素を制御して所定の測定を行
い、試験要素から試験データを取得する。そして、“仮
想計測器”の‘試験を実行する’処理では、取得したデ
ータを“試験データ”に設定し、“試験データ”の内容
を表示するために“表示シート”の‘アップデート’処
理を実行する（ステップｅ１２）。

【０２０７】試験データの表示が終わると、“仮想計測
器”の‘試験を起動する’処理では、生成した“試験ク
ラス”の‘試験項目に対応する試験結果を得る’処理を
実行し（ステップｅ１３）、試験項目に対応する試験結
果を得る。

【０２０８】（２）試験要素から得られた試験結果のグ
ラフ表示上のある座標を指定すると指定範囲に適応する
サービスを起動する機能の処理例 （２．０）ＧＵＩの実現例 図１８は、試験結果のグラフ表示上のある座標を指定し
たときに、対応するサービスを起動するＧＵＩの実現例
を示す図である。

【０２０９】試験が行われると、試験データ表示キャン
バス３２０が表示され、試験データを取得した段階で、
その一部である試験データを表示する領域３２２におい
てグラフ表示が行われる。

【０２１０】このような状態において、利用者がグラフ
上の一部の範囲３２３を指定すると、利用できる仮想計
測器のサービスのアイコンを表示するための領域である
サービス選択キャンバス３７０と、利用できる試験要素
を表示するための領域である試験要素選択キャンバス３
６０とが試験データ表示キャンバス３２０上に生成され
る。そして、試験要素選択キャンバス３６０上に“試験
要素名”のアイコン３６２、３６４が表示される。さら
に、サービス選択キャンバス３７０上に、利用できる
“仮想計測器のサービス”のアイコンが表示される。図
１８においては、“仮想計測器のサービス”から派生し
たオブジェクトである“ピークサーチ”のアイコン３７
２が表示された例が示されている。

【０２１１】サービス選択キャンバス３７０上にある
“ピークサーチ”のアイコン３７２をドラッグして、グ
ラフ上の一部の領域３２３にドロップすると、領域３２
３内のピーク値に対応してピークを示すアイコン３２４
が表示され、これと同時にピーク値のＸ、Ｙ軸上の値３
２５が表示される。

【０２１２】このように、試験要素から得られた試験結
果のグラフ表示上のある座標を指定することにより、指
定範囲に適応するサービスを起動することができる。

【０２１３】（２．１）試験要素から得られた試験結果
のグラフ表示上の指定範囲のピーク値を求めるサービス
の実行 図１９は、指定範囲のピーク値を求めるサービスを実行
する動作手順を示す流れ図である。

【０２１４】試験要素から得られた試験結果のグラフ表
示上で、ある範囲が指定されると、“表示シート”の
‘ハイライト’処理が実行される（ステップｆ１）。
“表示シート”の‘ハイライト処理’では、まず、“ス
ロット情報”を生成し（ステップｆ２）、“スロット情
報”の‘アップデート’処理を実行する（ステップｆ
３）。“スロット情報”の‘アップデート’処理では、
グラフ上の一部の領域３２３の外枠をグラフ表示上に生
成する。

【０２１５】次に、“表示シート”の‘ハイライト処
理’では、“表示シート”の‘利用できる仮想計測器の
サービスを表示する’処理を実行して、サービス選択キ
ャンバス３７０を生成し、生成したサービス選択キャン
バス３７０上に“仮想計測器のサービス”のアイコン３
７２を表示する（ステップｆ４）。また、“表示シー
ト”の‘ハイライト’処理では、“表示シート”の‘利
用できる試験要素名を表示する’処理を実行して、試験
要素選択キャンバス３６０を生成し、生成した試験要素
選択キャンバス３６０上に“試験要素名”のアイコンを
表示する（ステップｆ５）。

【０２１６】この状態において、例えばサービス選択キ
ャンバス３７０上にある“ピークサーチ”のアイコン３
７２がドラッグされ、グラフ上の一部の範囲３２３にド
ロップされると、“スロット情報”の‘仮想計測器のサ
ービスを指定する’処理が実行される（ステップｆ
６）。この処理が実行されると、“仮想計測器のサービ
ス”の‘サービスを実行する’処理が実行される（ステ
ップｆ７）。

【０２１７】この例では、“ピークサーチ”の‘サービ
スを実行する’処理が実行される。この処理では、グラ
フ上の一部の範囲３２３内のピーク値を求め、ピーク値
に対応した位置にピークを表すアイコンを表示する。こ
れと同時に、ピーク値のＸ、Ｙ軸上の値をグラフ上に表
示する。

【０２１８】（３）試験要素から得られた試験結果のグ
ラフ表示上の指定範囲から、任意の試験要素の新たな試
験パラメータを生成し、生成した試験パラメータによる
新たな試験を起動する処理例 （３．０）ＧＵＩの実現例 図２０は、試験結果のグラフ表示上の指定範囲から新た
な試験パラメータを生成して試験を起動するＧＵＩの実
現例を示す図である。

【０２１９】試験が行われると、試験データ表示キャン
バス３２０が表示され、試験データを取得した段階で、
その一部である試験データを表示する領域３２２におい
てグラフ表示が行われる。

【０２２０】このような状態において、利用者がグラフ
上の一部の範囲３２３を指定すると、利用できる仮想計
測器のサービスのアイコンを表示するための領域である
サービス選択キャンバス３７０と、利用できる試験要素
を表示するための領域である試験要素選択キャンバス３
６０とが試験データ表示キャンバス３２０上に生成され
る。そして、試験要素選択キャンバス３６０上に“試験
要素名”のアイコン３６２、３６４が表示される。さら
に、サービス選択キャンバス３７０上に、利用できる
“仮想計測器のサービス”のアイコン３７２が表示され
る。

【０２２１】試験要素選択キャンバス３６０上にある
“試験要素名”のアイコンをドラッグして、グラフ上の
一部の領域３２３にドロップすると、領域３２３上に
“試験要素名”のアイコン３２６が表示される。続け
て、以下の表示動作が行われる。

【０２２２】（ａ）“試験要素名”がデフォルトで起動
する試験項目を記憶してないとき 試験タスクのベース・キャンバス３００上に試験項目選
択キャンバス３８０が表示される。そして、試験項目選
択キャンバス３８０上に選択した試験要素で行える“試
験項目”のアイコン３８２、３８４が表示される。この
選択された“試験項目”のアイコン３８２、３８４の中
のいずれかをポインティング装置３０でポイントする
と、新たな試験データ表示キャンバス４００が生成され
る。選択した試験要素で試験が行われ、試験が終了する
と、試験データ表示キャンバス４００上にグラフ４１０
が表示される。

【０２２３】（ｂ）“試験要素名”がデフォルトで起動
する試験項目を記憶していたとき 新たな試験データ表示キャンバス４００が生成される。
選択した試験要素で試験が行われれ、試験が終了する
と、試験データ表示キャンバス４００上にグラフ４１０
が表示される。このように、試験要素から得られた試験
結果のグラフ表示上の指定範囲から、任意の試験要素の
新たな試験パラメータを生成し、生成した試験パラメー
タによる新たな試験を起動する。

【０２２４】（３．１）試験要素から得られた試験結果
のグラフ表示上の指定範囲から、任意の試験要素の新た
な試験パラメータを生成し、生成した試験パラメータに
よる新たな試験の実行処理 図２１および図２２は、試験結果のグラフ表示上の指定
範囲から新たな試験パラメータを生成して新たな試験を
起動する場合の動作手順を示す流れ図である。ステップ
ｆ１〜ｆ５の動作手順は、上述した図１９に示した動作
と同じであり、その次の動作手順から説明を行う。

【０２２５】ステップｆ５において試験要素選択キャン
バス３６０に表示された“試験要素名”のアイコンがド
ラッグされ、グラフの一部の範囲３２３にドロップされ
ると、“スロット情報”の‘試験要素名を指定する’処
理が実行される（ステップｇ１）。この“スロット情
報”による‘試験要素名を指定する’処理では、“イン
タラクタ”の‘新しい試験を起動する’処理が実行され
る（ステップｇ２）。

【０２２６】“インタラクタ”の‘新しい試験を起動す
る’処理では、まず、選択された“試験要素名”にデフ
ォルトの“試験項目”が登録されているか否かが判断さ
れ（ステップｇ３）、デフォルトの“試験項目”が登録
されていない場合には、試験システムの利用者に試験項
目の問い合わせを行う（ステップｇ４）。この問い合わ
せは、試験タスクのベース・キャンバス３００上の試験
項目選択キャンバス３８０に、試験要素で行える“試験
項目”のアイコン３８２等を表示することにより行われ
る。

【０２２７】デフォルトの“試験項目”が登録されてい
る場合や、利用者が問い合わせに応じて試験項目選択キ
ャンバス３８０に表示された“試験項目”のアイコン３
８２等をポインティング装置３０でポイントした場合に
は、“インタラクタ”の‘測定を実行する’処理が実行
される（ステップｇ５）。“インタラクタ”の‘測定を
実行する’処理では、まず、“仮想計測器”の‘試験項
目とスロット情報により試験パラメータを生成する’処
理が実行され（ステップｇ６）、新しい“試験パラメー
タ”、“試験データ”、“表示シート”を生成する。こ
の“試験パラメータ”の生成には、“試験クラス”が利
用される。つぎに、“インタラクタ”の‘測定を実行す
る’処理では、“仮想計測器”の‘試験を実行する”処
理を実行することにより、新しい測定パラメータによる
測定が行われる。

【０２２８】（４）プログラムを作成する処理例 （４．０）プログラムを作成するＧＵＩの実現例 図２３は、プログラムを作成して実行するためのＧＵＩ
の実現例である。同図に示すように、試験プランのベー
ス・キャンバス５００内に、プログラム要素表示キャン
バス６００と試験プラン・キャンバス７００とが含まれ
ている。

【０２２９】試験プランのベース・キャンバス５００
は、プログラムを作成し、作成したプログラムを実行す
るためのグラフィカル・ディスプレイ上の一部あるいは
全部の表示領域である。プログラム要素表示キャンバス
６００は、利用できるプログラム要素を表示するための
試験プランのベース・キャンバス５００上の表示領域で
ある。試験プラン・キャンバス７００は、プログラムを
作成するための試験プランのベース・キャンバス５００
上の表示領域である。

【０２３０】プログラムを開始する時点では、プログラ
ム要素表示キャンバス６００上のプログラム要素のアイ
コン６１０〜６７０と、試験プラン・キャンバス７００
上の“ビギン”のアイコン７１０と“エンド”のアイコ
ン７５０が提供される（“ビギン”と“エンド”のアイ
コンは、結線表示されている状態である）。

【０２３１】プログラムに“試験タスク”を登録するに
は、図１４の試験タスク・キャンバス３３０上の“試験
タスク”のアイコン３５０をドラッグして、試験プラン
・キャンバス７００上にドロップする。すると、“試験
タスク”のアイコン７２０が試験プラン・キャンバス７
００上に生成される。

【０２３２】また、“試験タスク”の実行順番を制御す
るプログラム要素を選択するには、プログラム要素表示
キャンバス６００上の試験要素のアイコンをドラッグし
て、試験プラン・キャンバス７００上にドロップする。
例えば“ループ”のアイコン６４０をプログラム要素表
示キャンバス６００上からドラッグして、試験プラン・
キャンバス７００上にドロップする。“ループ”のアイ
コン６４０を試験プラン・キャンバス７００上にドロッ
プすると、“ループ”のアイコン７４０と、ループ回数
を指定するための入力部品７４２が表示される。

【０２３３】繰り返し実行する“試験タスク”を指定す
るには、“試験タスク”のアイコン３５０を“ループ”
のアイコン７４０上でドロップする。“試験タスク”の
アイコン３５０を“ループ”のアイコン７４０上でドロ
ップすると、“ループ”のアイコン７４０上に“試験タ
スク”のアイコン７４１が生成される。

【０２３４】このようにして作成したプログラムを実行
するには、“ビギン”のアイコン７１０をポインティン
グ装置３０によりポイントする。すると、試験タスク７
２０が実行され、つぎに“ループ”が実行される。“ル
ープ”が実行されると、入力部品７４２で入力された回
数だけ内包する“試験タスク”が実行される（この例で
は、３回実行される）。

【０２３５】このように、プログラムを作成でき、作成
したプログラムを実行することができる。

【０２３６】（４．１）プログラムの作成 図２４は、プログラムを作成するときの動作手順を示す
流れ図である。図２３を用いて説明したプログラム作成
の手順が示されている。

【０２３７】まず、“試験プラン”による‘試験プラン
のイニシャライズ’処理が行われ（ステップｈ１）、プ
ログラムを開始する時点のＧＵＩの状態が生成される。
次に、“試験プラン”が包含する“コンポジット・タス
ク”の‘アタッチ’処理が実行される（ステップｈ
２）。この処理は図１４に示した“試験タスク”のアイ
コン３５０をドラッグして、試験プラン・キャンバス７
００上にドロップする操作により起動される。この“試
験プラン”が包含する“コンポジット・タスク”の‘ア
タッチ’処理の結果、“試験タスク”のアイコン７２０
が表示される。

【０２３８】次に、“試験プラン”が包含する“コンポ
ジットタスク”の‘アタッチ処理’が行われる（ステッ
プｈ３）。この処理は“ループ”のアイコン６４０をプ
ログラム要素表示キャンバス６００上からドラッグし
て、試験プラン・キャンバス７００上にドロップする操
作により起動される。この“試験プラン”が包含する
“コンポジット・タスク”の‘アタッチ’処理の結果、
“ループ”が生成され、入力部品のアイコン７４２を含
む“ループ”のアイコン７４０が表示される。

【０２３９】次に、生成された“ループ”が包含する
“コンポジット・タスク”の‘アタッチ’処理が実行さ
れる（ステップｈ４）。これは、“試験タスク”のアイ
コンを“ループ”のアイコン７４０上でドロップする操
作により起動される。この“ループ”が包含する“コン
ポジットタスク”の‘アタッチ’処理の結果、ループの
アイコン７４０上に“試験タスク”のアイコン７４１が
生成される。

【０２４０】（４．２）プログラムの実行 図２５は、プログラムを実行するときの動作手順を示す
流れ図である。図２３を用いて説明したプログラム実行
の手順が示されている。

【０２４１】まず、“ビギン”の‘実行する’処理が行
われる（ステップｊ１）。これは、“ビギン”のアイコ
ン７１０をポインティング装置３０によりポイントする
ことにより起動される。“ビギン”の‘実行する’処理
では、“ビギン”を保有する“試験プラン”を検出し、
検出した“試験プラン”の‘実行する’処理が実行され
る（ステップｊ２）。“試験プラン”の‘実行する’処
理では、内包する“コンポジット・タスク”の‘実行す
る’処理が実行される。“コンポジット・タスク”の
‘実行する’処理は、保有した“タスク・コンポーネン
ト”の‘実行する’処理を、保有関係を記憶する配列デ
ータの先頭から順番に実行する。ただし、‘ビギン’は
実行しない。この例では、配列データの先頭にあるプロ
グラム要素は、“ビギン”である。このため、“試験プ
ラン”の内包する“コンポジット・タスク”に次に保有
しているのは、アイコン７２０に対応する“試験タス
ク”である。したがって、“試験プラン”の‘実行す
る’処理は、アイコン７２０に対応する“試験タスク”
の‘実行する’処理を実行する（ステップｊ３）。

【０２４２】また、“試験プラン”の内包する“コンポ
ジット・タスク”がアイコン７２０に対応する“試験タ
スク”の後に保有するプログラム要素は、“ループ”で
ある。このため、“試験プラン”の‘実行する’処理
は、“ループ”の‘実行する’処理を実行する（ステッ
プｊ４）。

【０２４３】“ループ”の‘実行する’処理は、“ルー
プ”の内包する“コンポジット・タスク”の‘実行す
る’処理をループ回数分実行する。この例ではループ回
数は３回であり、“ループ”の内包する“コンポジット
・タスク”の保有するプログラム要素は、アイコン７４
１で示される“試験タスク”だけである。このため、
“試験タスク”の‘実行する’処理が３回実行される
（ステップｊ５〜ｊ７）。

【０２４４】また、“試験プラン”の内包する“コンポ
ジット・タスク”が“ループ”の後に保有するプログラ
ム要素は、“エンド”である。このため、“エンド”の
‘実行する’処理を実行する（ステップｊ８）。この
後、“試験プラン”の内包する“コンポジット・タス
ク”は、保有するプログラム要素をもたないため、“試
験プラン”の‘実行する’処理は終了する。

【０２４５】このように、本実施形態の試験システムの
ＧＵＩ処理部１００に含まれるＧＵＩ生成管理部３４
は、試験タスク手段、試験パラメータ手段、試験データ
記憶手段、仮想計測器手段、表示シート手段、試験クラ
ス手段、スロット情報手段、計測器のサービス手段、イ
ンタラクタ手段、試験プラン手段としての機能を有して
おり、目的やゴールの選択から操作を開始することが
でき、高速に試験するか高精度に試験するかを指定で
き、プログラムを組み直さずに、試験結果であるグラ
フ表示上のある座標を指定すると、指定範囲に適応する
サービスを起動することができ、プログラムを組み直
さずに、試験要素から得られた結果であるグラフ表示上
の指定範囲から、試験要素の新たな試験パラメータを生
成し、生成した試験パラメータによる新たな試験を起動
することができ、プログラムを組み直さずに、ある試
験要素から得られた結果であるグラフ表示上の指定範囲
から、別の試験要素の新たな試験パラメータを生成し、
生成した試験パラメータによる新たな試験を起動するこ
とができる。

【０２４６】

【発明の効果】上述したように、本発明によれば、試験
タスク手段、試験パラメータ記憶手段、試験データ記憶
手段、仮想計測器手段、表示シート手段、試験クラス手
段を組み合わせることにより、試験目的／ゴールから操
作を行うことができ、さらに高速に試験するか高精度に
試験するかのトレードオフを試験目的／ゴールとして指
定できる。

【０２４７】また、上述した組み合わせに対して、スロ
ット情報手段と仮想計測器のサービス手段を追加するこ
とにより、試験結果であるグラフ表示上のある座標を指
定すると、指定範囲に適応するサービスを起動できる機
能を実現することができる。あるいは、上述した組み合
わせに対して、スロット手段とインタラクタ手段を追加
することにより、ａ）プログラムを組み直さずに、試験
要素から得られた結果であるグラフ表示上の指定範囲か
ら、試験要素の新たな試験パラメータを生成し、生成し
た試験パラメータによる新たな試験を起動する機能と、
ｂ）ある試験要素から得られた結果であるグラフ表示上
の指定範囲から、別の試験要素の新たな試験パラメータ
を生成し、生成した試験パラメータによる新たな試験を
起動する機能を実現することができる。

【０２４８】また、上述した組み合わせに対して、試験
プラン手段を追加することにより、プログラム要素や複
合プログラム要素を組み合わせることができ、試験タス
クの実行順序の設定や実行順序の制御を行うことができ
るプログラムの作成や実行が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】オブジェクトの継承関係を示す図である。

【図２】基底オブジェクトと派生オブジェクトのメモリ
の構成を示す図である。

【図３】オブジェクトの保有関係の表記例を示す図であ
る。

【図４】保有元オブジェクトと保有先オブジェクトのメ
モリの構成を示す図である。

【図５】試験タスク手段を実現するために必要な基本オ
ブジェクトの構造を示す図である。

【図６】試験タスク手段によって提供される工程の手順
を示す流れ図である。

【図７】試験タスク手段によって提供される工程の手順
を示す流れ図である。

【図８】試験パラメータ記憶手段、試験データ記憶手
段、スロット情報手段、表示シート手段、インタラクタ
手段、仮想計測器のサービス手段、仮想計測器手段を実
現するための基本オブジェクトの構造を示す図である。

【図９】試験クラス手段を実現するための基本オブジェ
クトの構造を示す図である。

【図１０】試験プラン手段を実現する基本オブジェクト
の構造を示す図である。

【図１１】試験プラン手段が提供する工程を示す流れ図
である。

【図１２】一実施形態の試験システムの構成を示す図で
ある。

【図１３】イベント検出通知部によるイベントの検出通
知処理の動作手順を示す流れ図である。

【図１４】試験目的／ゴールの選択から操作をスタート
する試験システムにおけるＧＵＩの実現例を示す図であ
る。

【図１５】試験ゴールを指定して試験を起動するときの
動作手順を示す流れ図である。

【図１６】試験を実行してその結果である試験データを
表示する場合の動作手順を示す流れ図である。

【図１７】試験を実行してその結果である試験データを
表示する場合の動作手順を示す流れ図である。

【図１８】試験結果のグラフ表示上のある座標を指定し
たときに、対応するサービスを起動するＧＵＩの実現例
を示す図である。

【図１９】指定範囲のピーク値を求めるサービスを実行
する動作手順を示す流れ図である。

【図２０】試験結果のグラフ表示上の指定範囲から新た
な試験パラメータを生成して試験を起動するＧＵＩの実
現例を示す図である。

【図２１】試験結果のグラフ表示上の指定範囲から新た
な試験パラメータを生成して新たな試験を起動する場合
の動作手順を示す流れ図である。

【図２２】試験結果のグラフ表示上の指定範囲から新た
な試験パラメータを生成して新たな試験を起動する場合
の動作手順を示す流れ図である。

【図２３】プログラムを作成して実行するためのＧＵＩ
の実現例である。

【図２４】プログラムを作成するときの動作手順を示す
流れ図である。

【図２５】プログラムを実行するときの動作手順を示す
流れ図である。

【符号の説明】

１０ ＣＰＵ １２ ビデオＲＡＭ １４ グラフィックプロセッサ ２４ グラフィックディスプレイ装置 ２６ メモリ ３０ ポインティング装置 ３４ ＧＵＩ生成管理部 ４０ オブジェクト生成部 ４２ オブジェクト管理部 ４４ オブジェクト検出部 ４６ イベント検出通知部 １００ ＧＵＩ処理部 １１０ 試験機器

Claims (17)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定物を試験するための試験機器を制
   御するアプリケーションの操作を、画面上にアイコンや
   ボタンなどの画像を表示し、ポインティング装置を用い
   てこれらの画像を選択することにより行う試験システム
   であって、 前記被測定物の試験を行う試験要素と試験ゴールとを管
   理する試験タスク手段と、 前記試験ゴールに基づいて試験パラメータを選定する試
   験クラス手段と、 前記試験クラス手段によって設定された前記試験パラメ
   ータを用いて、前記試験要素による試験を実施する仮想
   計測器手段と、 前記仮想計測器手段によって実施された試験により得ら
   れた試験データを記憶する試験データ記憶手段と、 前記試験クラス手段によって設定された前記試験パラメ
   ータを記憶する試験パラメータ記憶手段と、 前記試験要素から取得したデータを表示する表示シート
   手段と、 を備えることを特徴とする試験システム。
2. 【請求項２】 請求項１において、 前記表示シート手段による試験結果の表示位置情報と、
   前記ポインティング装置からの入力情報とを対応させる
   スロット手段と、 前記スロット手段によって試験結果の表示の所定範囲が
   指定されたときに、演算等の所定のサービスを提供する
   仮想計測器のサービス手段と、 をさらに備えることを特徴とする試験システム。
3. 【請求項３】 請求項１において、 前記表示シート手段による試験結果の表示位置情報と、
   前記ポインティング装置からの入力情報とを対応させる
   スロット手段と、 前記仮想計測器手段と前記試験クラス手段と前記スロッ
   ト手段とを結合して新しい試験を実施するインタラクタ
   手段と、 をさらに備えることを特徴とする試験システム。
4. 【請求項４】 請求項１〜３のいずれかにおいて、 前記試験タスク手段の実行順序の制御を定めるプログラ
   ムの作成や実行を行う試験プラン手段をさらに備えるこ
   とを特徴とする試験システム。
5. 【請求項５】 被測定物を試験するための試験機器を制
   御するアプリケーションの操作を、画面上のアイコンや
   ボタンなどの画像を表示し、ポインティング装置を用い
   てこれらの画像を選択することにより行う試験システム
   の制御方法であって、 表示画面に含まれる第１の表示領域上に被測定物を表す
   第１のアイコンを表示する第１の工程と、 選択された試験要素を表す第２のアイコンを前記第１の
   表示領域上に表示する第２の工程と、 前記第１の表領域上で、前記第１のアイコンと前記第２
   のアイコンとを結線表示する第３の工程と、 選択された前記試験要素の試験パラメータを生成する第
   ４の工程と、 前記第４の工程において生成された前記試験パラメータ
   を設定して所定の試験を行い、前記試験要素から試験デ
   ータを取得する第５の工程と、 前記第５の工程において取得された前記試験データを前
   記第１の表示領域上に表示する第６の工程と、 を備えることを特徴とする試験システムの制御方法。
6. 【請求項６】 請求項５において、 前記第３の工程の前に、 選択された前記試験要素に対応した１つ以上の試験項目
   を表す第３のアイコンを前記第１の表示領域上に表示す
   る第７の工程と、 前記第７の工程において表示された１つ以上の前記第３
   のアイコンのいずれかを選択することにより、試験項目
   の選択を行う第８の工程と、 を備えることを特徴とする試験システムの制御方法。
7. 【請求項７】 請求項６において、 前記第８の工程と前記第３の工程との間に、 選択された前記試験項目に対応して、予め用意されてい
   る試験条件を表す第４のアイコンを前記第１の表示領域
   上に表示する第９の工程と、 前記第９の工程において表示された前記第４のアイコン
   を選択することにより、試験条件の選択を行う第１０の
   工程と、 を備えることを特徴とする試験システムの制御方法。
8. 【請求項８】 請求項５〜７のいずれかにおいて、 前記第２の工程の後に、あるいは前記第２の工程と並行
   して、 選択された前記試験要素に対応し、前記第２のアイコン
   と識別可能な第５のアイコンを前記第１の表示領域上に
   表示する第１１の工程を備え、 前記第２のアイコンと前記第５のアイコンを高速試験と
   高精度試験のいずれかに対応した前記試験要素を表すア
   イコンとして用いることを特徴とする試験システムの制
   御方法。
9. 【請求項９】 請求項８において、 前記第６の工程に代えて、 前記高速試験あるいは前記高精度試験に対応した試験デ
   ータを前記第１の表示領域上に表示する第１２の工程を
   備えることを特徴とする試験システムの制御方法。
10. 【請求項１０】 請求項５〜９のいずれかにおいて、 前記第１の表示領域上への前記試験データの表示は、所
    定形式のグラフ表示によって行われており、 前記第１の表示領域上に表示された前記試験データのグ
    ラフ表示上のある範囲が選択されたときに、この選択範
    囲の外枠を前記グラフ表示上に重ねて表示する第１３の
    工程を備えることを特徴とする試験システムの制御方
    法。
11. 【請求項１１】 請求項１０において、 前記第１３の工程の後に、 前記グラフ表示上で実施可能な所定のサービスを表す１
    つ以上の第６のアイコンを前記第１の表示領域上に表示
    する第１４の工程と、 前記第６のアイコンの中のいずれかが選択されたとき
    に、対応する前記サービスを実施してその結果を前記第
    １の表示領域上に表示する第１５の工程と、 を備えることを特徴とする試験システムの制御方法。
12. 【請求項１２】 請求項１０または１１において、 前記第１３の工程の後に、 前記グラフ表示上で実施可能な試験要素を表す１つ以上
    の第７のアイコンを前記第１の表示領域上に表示する第
    １６の工程と、 前記第１６の工程において表示された前記第７のアイコ
    ンを選択することにより、試験要素の選択を行う第１７
    の工程と、 グラフ表示上の前記選択範囲の位置座標に基づいて、得
    られた前記測定データの中から試験範囲を設定する第１
    ８の工程と、 前記第１７の工程において選択された前記試験要素の試
    験パラメータを生成する第１９の工程と、 選択された前記試験要素に前記第１９の工程において生
    成された前記試験パラメータを設定して所定の試験を行
    い、新たな試験データを取得する第２０の工程と、 前記第２０の工程において取得された前記試験データを
    前記第１の表示領域上に表示する第２１の工程と、 を備えることを特徴とする試験システムの制御方法。
13. 【請求項１３】 請求項１２において、 前記第１６の工程の後に、 選択された前記試験要素に対応する１つ以上の試験項目
    を表す第８のアイコンを前記第１の表示領域上に表示す
    る第２２の工程と、 前記第２２の工程において表示された１つ以上の前記第
    ８のアイコンのいずれかを選択することにより、試験項
    目の選択を行う第２３の工程と、 を備え、 前記第１９の工程に代えて、 前記第２３の工程において選択された前記試験項目と前
    記第１８の工程において設定された前記試験範囲とに基
    づいて、前記第１７の工程において選択された前記試験
    要素の試験パラメータを生成する第２４の工程を備える
    ことを特徴とする試験システムの制御方法。
14. 【請求項１４】 請求項５〜１３のいずれかにおいて、 前記表示画面に含まれる第２の表示領域上あるいは前記
    第１の表示領域上に、１つ以上のプログラム要素を表す
    第９のアイコンを表示する第２５の工程と、 前記第２の表示領域上に試験の開始を表す第１０のアイ
    コンと試験の終了を表す第１１のアイコンとを表示し、
    これら第１０および第１１のアイコンを前記第２の表示
    領域上で結線表示する第２６の工程と、 前記第２の表示領域上あるいは前記第１の表示領域上に
    表示された前記第９のアイコンのいずれかを選択するこ
    とにより、プログラム要素の選択を行う第２７の工程
    と、 前記第１０および第１１のアイコン間で、前記第２７の
    工程において選択された前記プログラム要素に対応する
    第１２のアイコンを表示する位置を選択する第２８の工
    程と、 前記第２６の工程で行われた前記第１０および第１１の
    アイコン間の結線表示を消去する第２９の工程と、 前記第２８の工程において選択された前記第２の表示領
    域上の所定位置に前記第１２のアイコンを表示する第３
    ０の工程と、 前記第３０の工程の後に、前記第１０および第１１のア
    イコンと、こられの間にある１つ以上の前記第１２のア
    イコンとの整列を行う第３１の工程と、 前記第３１の工程の後に、前記第１０、第１１、第１２
    のアイコン間を所定の順番で結線表示する第３２の工程
    と、 を備えることを特徴とする試験システムの制御方法。
15. 【請求項１５】 請求項１４において、 試験の開始を表す前記第１０のアイコンと試験の終了を
    表す前記第１１のアイコンの間にある前記第１２のアイ
    コンの順番が入れ替え可能であることを特徴とする試験
    システムの制御方法。
16. 【請求項１６】 請求項１４または１５において、 前記プログラム要素は、複合プログラム要素を含んでい
    ることを特徴とする試験システムの制御方法。
17. 【請求項１７】 請求項１４〜１６のいずれかにおい
    て、 試験の開始を表す前記第１０のアイコンが選択されたと
    きに、前記第１０のアイコンに近い前記１２のアイコン
    に対応する前記プログラム要素を順に実行することを特
    徴とする試験システムの制御方法。