JP2006237365A - 半導体特性評価装置の管理方法及びそのプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 制御部12と、記憶部60と、入出力部13、14、15とを備えた半導体特性評価装置10におけるデータの管理方法であって、複数のウエハタイプを試験する試験プログラムを含むワークスペースを選択し、この選択されたワークスペースの中での試験結果を履歴として格納し、この格納された試験結果の履歴から所望の試験結果を検索するステップを含む管理方法。
【選択図】 図1
Description
11 被測定対象(DUT)
12 制御部
13 キーボード
14 モニタ
15 マウス
16 格納部
18 検索部
20、21、22 測定ユニット
60 記憶部
62、64、66 ワークスペースエリア
70、76、82 試験プログラム履歴エリア
72、77、84 設定データ履歴エリア
74、78、86 試験結果履歴エリア
Claims (7)
- 制御部と、記憶部と、入出力部を備えた半導体特性評価装置における、データの管理方法であって、
複数のウエハタイプを試験する試験プログラムを含むワークスペースを選択し、
前記選択されたワークスペースの中での試験結果を履歴として格納し、
前記格納された試験結果の履歴から所望の試験結果を検索する
ステップを含む半導体特性評価装置における管理方法。 - 前記選択されたワークスペースの中で設定データを履歴として格納し、
前記格納された設定データの履歴から、所望の設定データを検索する
ステップをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の管理方法。 - 前記試験結果を格納するステップと、前記試験結果を検索するステップと、前記設定データを格納するステップと、前記設定データを検索するステップは、複数のウエハタイプに対して行われることを特徴とする請求項2に記載の管理方法。
- 前記試験結果を検索するステップは、試験の日付及び時刻について検索することを特徴とする請求項1に記載の管理方法。
- 前記試験結果を格納するステップは、ファイル名を入力しないことを特徴とする請求項4に記載の管理方法。
- 前記ワークスペースは、複数のウエハ開発プロジェクトを試験する試験プログラムを含むことを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の管理方法。
- 請求項1ないし6のいずれかに記載の方法を実行するコンピュータプログラム。
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