CN102411098A - 基板测试系统及其方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基板测试系统及其方法。该基板测试系统包括一基板夹具,用于固定基板并与基板的测试点电连接;一数据输出和采集装置,用于输出或采集测试信号;一数据处理装置,用于控制数据输出和采集装置发送和采集测试信号,并处理测试信号;其中该基板夹具、数据输出和采集装置以及数据处理装置依次电连接。该基板测试系统通过独立设置数据处理装置、数据输出和采集装置以及可替换的基板夹具,使得该基板测试系统通用于多种空调机种,从而减少了专业测试设备费用及超大的储存场地,此外由于只需要更换不同的基板夹具就可以用于不同的基板测试,因而减少了测试设备开发的时间周期,提高了新空调机种开发的效率,从而降低了生产成本。
Description
技术领域
本发明涉及一种基板测试系统及其方法,特别是涉及一种空调基板的测试系统及其方法。
背景技术
过去的空调测试大多都是针对单个台位的几个功能进行测试,如水冷冷水测试、风机盘管测试、焓差测试、换热测试等。随着市场需求的增加,空调企业的生产规模的相应扩大,对测试的要求也越来越高,其中基板电性能测试就是其中之一。
在空调基板电性能测试过程中,需要有测量该基板的一些仪器仪表以及模拟信号源等设备。为了便于生产,会将这些通用设备整合在一起,形成专用测试设备,由于空调机种很多,因此需要制作较多的专用测试设备,从而在生产多种空调机种后,就会相应的制作多种的专用测试设备,因而造成了随着空调机种的增加,相应的专用测试设备也随着增加,导致了高昂的专用测试设备费用及超大的储存场地,从而提高了生产的成本,同时由于需要专用测试设备开发的时间周期,也导致了新空调机种开发周期相应的延长,从而降低了新产品开发效率。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中针对多种空调机种需要多种的专用测试设备,从而导致了高昂的专用测试设备费用及超大的储存场地的缺陷,提供一种通用于多种空调机种的基板测试系统及其方法。
本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:
本发明提过了一种基板测试系统,其特点是该基板测试系统包括:
一基板夹具,用于固定基板并与基板的测试点电连接;
一数据输出和采集装置,用于输出或采集测试信号;
一数据处理装置,用于控制数据输出和采集装置发送和采集测试信号,并处理测试信号;
其中该基板夹具、数据输出和采集装置以及数据处理装置依次电连接。
较佳地,该基板夹具包括一用于固定安装基板的基座,一支架以及一针床,其中该针床通过支架安装在基座的上方,并且该针床分别与数据输出和采集装置和基板的测试点电连接。
较佳地,该针床包括若干测试针、若干电导线、一与数据输出和采集装置电连接的接口以及一用于固定测试针的固定板,其中所述测试针与基板的测试点电连接,并且还通过电导线与接口电连接。
较佳地,该接口为一排线接口。
较佳地,该针床通过一排线与该数据输出和采集装置电连接。
较佳地,该数据输出和采集装置包括:
一测试信号输出模块、一测试信号采集模块;
一第一通讯模块,用于与该数据处理装置进行数据交换;
一数模模数转换模块,用于转换测试信号为数字或模拟模式;
其中该数模模数转换模块分别与该测试信号输出模块、测试信号采集模块以及第一通讯模块电连接,该测试信号输出模块和测试信号采集模块与基板夹具电连接,该第一通讯模块与数据处理装置电连接。
较佳地,该数据输出和采集装置还包括一电源转换模块,用于转换电源的模式,该电源转换模块分别与测试信号输出模块和第一通讯模块电连接。
较佳地,该数据处理装置包括:
一第二通讯模块,用于与该数据输出和采集装置进行数据交换;
一CPU,用于处理接收到的测试信号并向第二通讯模块发送测试信号。
较佳地,该基板测试系统还包括一输入装置,该输入装置与数据处理装置电连接,用于输入测试信号。
较佳地,该基板测试系统还包括一显示装置,该显示装置与数据处理装置电连接,用于显示测试结果。
本发明还提供了一种如上所述的基板测试系统的基板测试方法,其特点是该基板测试方法包括:
S101、数据处理装置发送测试信号至数据输出和采集装置;
S102、该数据输出和采集装置输出接收到的测试信号至测试夹具,并采集测试夹具反馈的测试信号;
S103、该数据输出和采集装置将采集的测试夹具反馈的测试信号发送至数据处理装置;
S104、该数据处理装置处理接收到的测试信号。
较佳地,在步骤S101之前还包括步骤S100:从该输入装置读入测试信号,并发送至数据处理装置。
较佳地,在步骤S104之后还包括步骤S105:从数据处理装置读取测试信号的处理结果并显示该测试信号的处理结果。
较佳地,在步骤S102之前还包括步骤S1021:该电源转换模块控制测试信号输出模块输出的电源大小。
本发明的积极进步效果在于:
本发明的基板测试系统通过独立设置数据处理装置、数据输出和采集装置以及可替换的基板夹具,使得该基板测试系统通用于多种空调机种,从而减少了专业测试设备费用及超大的储存场地,此外由于只需要更换不同的基板夹具就可以用于不同的基板测试,因而减少了测试设备开发的时间周期,提高了新空调机种开发的效率,从而降低了生产成本。
附图说明
图1为本发明的基板测试系统的较佳实施例的系统结构框图。
图2为本发明的较佳实施例中测试夹具的结构示意图。
图3为本发明的测试夹具中针床的结构示意图。
图4为本发明的较佳实施例中数据输出和采集装置的结构框图。
图5为本发明的较佳实施例中数据处理装置的结构框图。
图6为本发明的基板测试方法的较佳实施例的流程图。
具体实施方式
下面结合附图给出本发明较佳实施例,以详细说明本发明的技术方案。
图1所示为本发明基板测试系统的较佳实施例的系统结构框图,其中该基板测试系统包括一基板夹具1、一数据输出和采集装置2、一数据处理装置3、一输入装置4以及一显示装置5,其中该基板夹具1、数据输出和采集装置2与数据处理装置3依次电连接,该数据处理装置3还分别与输入装置4和显示装置5电连接。其中该基板夹具1用于固定基板并与基板的测试点电连接,该数据输出和采集装置2用于输出或采集测试信号,该数据处理装置3用于控制数据输出和采集装置2发送和采集测试信号,并处理测试信号,该输入装置4和显示装置5用于输入测试信号和显示测试结果,并且该输入装置4和显示装置5是本领域技术人员公知的技术,本领域的技术人员可以采用现有技术中的电路,装置等来实现该输入装置4和显示装置5的输入和显示的功能。
其中,该基板夹具1的结构示意图如图2所示,该基板夹具1包括一基座11、一针床12以及一支架13,该支架13固定与基座11上,该基座11用于固定待测试的基板,该支架13上安装有针床12,其中该针床12分别与基板的测试点和数据输出和采集装置2电连接。
该针床12的结构示意图如图3所示,其中该针床12包括一固定板121、150个测试针122(图2中未全部显示)、150根导线123(图2中未全部显示)、一排线接口124以及一排线125。所述的150个测试针122安装在固定板121上,并通过150根导线123电连接到排线接口124,该排线接口124中接有排线125,并且通过接入其中的排线125电连接到数据输出和采集装置2。其中本领域的工作人员可以根据待测试基板的需要,选用不同数量的测试针,以及不同类型的接口与数据输出和采集装置电连接来实现相同的将基板的测试点与数据输出和采集装置的电连接,此外通过采用不同数量的测试针的基板夹具1还实现了测试多种基板的通用功能。
本实施例中的数据输出和采集装置2的结构框图如图4所示,其中该数据输出和采集装置2包括一数模模数转换模块21、一通讯模块22、一测试信号输出模块23、一测试信号采集模块24以及电源转换模块25,其中该数模模数转换模块21分别与该测试信号输出模块23、测试信号采集模块24以及通讯模块22电连接,该测试信号输出模块23和测试信号采集模块24与基板夹具1电连接,该通讯模块22与数据处理装置电连接3,该电源转换模块25分别与测试信号输出模块23和通讯模块22电连接。其中该通讯模块22用于与该数据处理装置3进行数据交换,该数模模数转换模块21用于转换测试信号为数字或模拟模式,该电源转换模块25用于控制测试信号输出模块23输出的电源大小,其中本领域的工作人员可以根据需要选用不同的芯片、电路或装置来实现与通讯模块22、数模模数转换模块21、测试信号输出模块23、测试信号采集模块24以及电源转换模块25相应的通讯、数模模数转换、信号输出和采集以及控制输出电源大小的功能。
本实施例中的数据处理装置电连接3的结构框图如图5所示,其中包括一CPU31(中央处理器)以及一通讯模块32,其中该CPU31与该通讯模块32电连接,该通讯模块还与数据输出和采集装置2的通讯模块22电连接,其中本领域的工作人员可以根据需要选用不同的芯片、电路或装置来实现与通讯模块32和CPU31相应的通讯、控制以及处理的功能。
本实施例中该基板测试系统的工作原理如下:
将待测试的基板安装在基板夹具1的基座11上,将安装在针床12上的测试针122与待测试的基板的测试点接触,从而完成测试针122与测试点的电连接。然后,通过排线125将基板夹具1与数据输出和采集装置2电连接,对于不同种类的基板,只要选用具有不同数量的测试针的基板夹具,然后再通过排线125与数据输出和采集装置2电连接,就实现了本发明的基板测试系统的通用性。
通过输入装置5输入测试信号至数据处理装置3,该数据处理装置3的CPU31接收并处理该测试信号,并通过通讯模块32发送该处理后的测试信号以及电源控制信号至数据输出和采集装置2,该数据输出和采集装置2的通讯模块22接收测试信号和电源控制信号,并将测试信号发送至数模模数转换模块21,将电源控制信号发送至电源转换模块25,然后数模模数转换模块21将测试信号转换为模拟模式,并发送至测试信号输出模块23,同时电源转换模块25通过接收的电源控制信号来控制该测试信号输出模块23输出的电源的大小,即输出电流和电压的大小,此后测试信号输出模块23将模拟形式的测试信号通过排线125发送至测试夹具1,并通过测试夹具1的测试针122将模拟形式的测试信号加载到待测试的基板。
当模拟形式的测试信号通过基板后产生的反馈测试信号通过测试夹具1的测试针122采集,并通过排线125反馈至数据输出和采集装置2,该数据输出和采集装置2的测试信号采集模块24接收反馈的测试信号,并发送至数模模数转换模块21,该数模模数转换模块21将反馈的测试信号转换为数字模式的测试信号兵发送至通讯模块22,该通讯模块发送该数字模式的测试信号至数据处理装置3,该数据处理装置3的通讯模块32接收该数字模式的测试信号,此后CPU31读取该数字模式的测试信号并进行处理,然后将处理产生的结果信号发送至显示模块5,该显示装置5显示接收到的结果信号。
此后如果要测试相同种类的基板,只要更换基板夹具1中的基板,然后再次重复上述步骤。若要测试不同种类的基板,只要选用与该基板相应的基板夹具1,再重复上述步骤。
综上所述,本发明的基板测试系统通过独立设置了数据处理装置、数据输出和采集装置以及可替换的基板夹具,使得该基板测试系统通用于多种基板的测试,从而减少了专业测试设备费用及超大的储存场地。
图6所示为本发明的基板测试方法的较佳实施例的流程图,其中包括:
步骤100,安装待测试的基板在基板夹具并初始化基板测试系统。
步骤101,从输入装置输入测试信号。
步骤102,数据处理装置接收并处理该测试信号,并通过数据处理装置的通讯模块发送处理后的测试信号和电源控制信号至数据输出和采集装置。
步骤103,数据输出和采集装置的通讯模块接收测试信号,并转换为模拟模式的测试信号,并且电源转换模块通过电源控制信号控制测试信号输出模块输出的电源大小。
步骤104,数据输出和采集装置的测试信号输出模块输出该模拟形式的测试信号至基板夹具的基板上。
步骤105,数据输出和采集装置的测试信号采集模块采集基板夹具的基板反馈的测试信号。
步骤106,数据输出和采集装置转换该反馈的测试信号为数字模式的测试信号,并通过通讯模块发送至数据处理装置。
步骤107,数据处理装置接收并处理该反馈的测试信号,并将生成的结果信号发送至显示装置。
步骤108,显示装置显示接收到的结果信号。
步骤109,流程结束。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式,但是本领域的技术人员应当理解,这些仅是举例说明,本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下,可以对这些实施方式做出多种变更或修改,但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。
Claims (14)
1.一种基板测试系统,其特征在于,该基板测试系统包括:
一基板夹具,用于固定基板并与基板的测试点电连接;
一数据输出和采集装置,用于输出或采集测试信号;
一数据处理装置,用于控制数据输出和采集装置发送和采集测试信号,并处理测试信号;
其中该基板夹具、数据输出和采集装置以及数据处理装置依次电连接。
2.如权利要求1所述的基板测试系统,其特征在于,该基板夹具包括一用于固定安装基板的基座,一支架以及一针床,其中该针床通过支架安装在基座的上方,并且该针床分别与数据输出和采集装置和基板的测试点电连接。
3.如权利要求2所述的基板测试系统,其特征在于,该针床包括若干测试针、若干电导线、一与数据输出和采集装置电连接的接口以及一用于固定测试针的固定板,其中所述测试针与基板的测试点电连接,并且还通过电导线与接口电连接。
4.如权利要求3所述的基板测试系统,其特征在于,该接口为一排线接口。
5.如权利要求4所述的基板测试系统,其特征在于,该针床通过一排线与该数据输出和采集装置电连接。
6.如权利要求1所述的基板测试系统,其特征在于,该数据输出和采集装置包括:
一测试信号输出模块、一测试信号采集模块;
一第一通讯模块,用于与该数据处理装置进行数据交换;
一数模模数转换模块,用于转换测试信号为数字或模拟模式;
其中该数模模数转换模块分别与该测试信号输出模块、测试信号采集模块以及第一通讯模块电连接,该测试信号输出模块和测试信号采集模块与基板夹具电连接,该第一通讯模块与数据处理装置电连接。
7.如权利要求6所述的基板测试系统,其特征在于,该数据输出和采集装置还包括一电源转换模块,用于转换电源的模式,该电源转换模块分别与测试信号输出模块和第一通讯模块电连接。
8.如权利要求1所述的基板测试系统,其特征在于,该数据处理装置包括:
一第二通讯模块,用于与该数据输出和采集装置进行数据交换;
一CPU,用于处理接收到的测试信号并向第二通讯模块发送测试信号。
9.如权利要求1所述的基板测试系统,其特征在于,该基板测试系统还包括一输入装置,该输入装置与数据处理装置电连接,用于输入测试信号。
10.如权利要求1所述的基板测试系统,其特征在于,该基板测试系统还包括一显示装置,该显示装置与数据处理装置电连接,用于显示测试结果。
11.一种使用权利要求1所述的基板测试系统的基板测试方法,其特征在于,该基板测试方法包括:
S101、数据处理装置发送测试信号至数据输出和采集装置;
S102、该数据输出和采集装置输出接收到的测试信号至测试夹具,并采集测试夹具反馈的测试信号;
S103、该数据输出和采集装置将采集的测试夹具反馈的测试信号发送至数据处理装置;
S104、该数据处理装置处理接收到的测试信号。
12.如权利要求11所述的基板测试方法,其中基板测试系统还包括一输入装置,其特征在于,在步骤S101之前还包括步骤S100:从该输入装置读入测试信号,并发送至数据处理装置。
13.如权利要求11所述的基板测试方法,其中基板测试系统还包括一显示装置,其特征在于,在步骤S104之后还包括步骤S105:从数据处理装置读取测试信号的处理结果并显示该测试信号的处理结果。
14.如权利要求11所述的基板测试方法,其中该数据输出和采集装置还包括一电源转换模块和一测试信号输出模块,其特征在于,在步骤S102之前还包括步骤S1021:该电源转换模块控制测试信号输出模块输出的电源大小。
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