JPH11116271A - 電極被覆に適した低融点ガラス組成物 - Google Patents

電極被覆に適した低融点ガラス組成物

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JPH11116271A
JPH11116271A JP27771997A JP27771997A JPH11116271A JP H11116271 A JPH11116271 A JP H11116271A JP 27771997 A JP27771997 A JP 27771997A JP 27771997 A JP27771997 A JP 27771997A JP H11116271 A JPH11116271 A JP H11116271A
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JP
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glass
low
pbo
melting
melting glass
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JP27771997A
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Tsuneo Manabe
恒夫 真鍋
Shuji Taguchi
修二 田口
Hitoshi Onoda
仁 小野田
Yumiko Aoki
由美子 青木
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AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/24Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders
    • C03C8/245Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders containing more than 50% lead oxide, by weight
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/02Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form
    • C03C8/10Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form containing lead

Abstract

(57)【要約】 【課題】スズがドープされた酸化インジウムあるいは酸
化スズ等の透明電極を保護するために形成される低融点
絶縁ガラス被覆組成物に関するものである。 【解決手段】酸化物基準重量%で、PbO:60〜80
%、B23 :0〜5%、SiO2 :20〜40%から
実質的になることを特徴とする、電極被覆に適した低融
点ガラス組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ITOあるいは酸
化スズ等の透明電極を保護するために形成される低融点
絶縁ガラス被覆材料およびその方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、薄型の平板型カラー表示装置が注
目を集めている。このような表示装置においては、画像
を形成する画素における表示状態を制御するために各画
素に電極を形成しなくてはならない。このような電極材
料として、画像の質を低下させないためには透明な電極
材料が好ましい。このような電極材料としては、板ガラ
ス表面上に形成されたITO(スズがドープされた酸化
インジウム)または酸化スズの薄膜が多く用いられてい
る。
【0003】このような透明電極薄膜は、特に上記表示
装置において、精細な画像を実現するために、細い線状
に加工される。そして各画素を独自に制御させるために
は、このような微細に加工された透明電極の電極間の絶
縁性を確保する必要がある。
【0004】ところが、板ガラスの表面に水分や板ガラ
ス中のアルカリ成分が介在した場合、この板ガラス表面
を介して若干の電流が流れてしまう場合がある。このよ
うな、電流を防止するには、透明電極間に絶縁層を形成
する方法が有効である。
【0005】このような絶縁層を形成する方法として
は、各種絶縁材料でこれら電極上に被覆層を形成する方
法が知られている。しかし、透明であり信頼性の高い絶
縁材料としてはガラス材料で被覆する方法が好ましい。
このようなガラス材料で被覆する方法としては、スパッ
タ法等真空下で被膜を形成する方法もあるが、低融点ガ
ラスの粉末を塗布し焼成する方法が経済的に好ましい。
【0006】特に、最近大型平面カラーディスプレイと
して期待されているプラズマディスプレイ表示装置の前
面板ガラスにおいては、この透明電極をプラズマから保
護するプラズマに対する耐性に優れた低融点ガラス被覆
層が必須である。
【0007】しかし、このような被覆を例えば700℃
を超えるような温度で行うと、透明電極の特性が低下し
てしまう。そこで、700℃以下の温度でこのような被
覆を形成することが必要であるが、このような温度で耐
水性等に優れ、緻密で信頼性の高い被覆を形成できる低
融点ガラスとしては、PbO−B23 −SiO2 系ガ
ラスが知られている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】このような低融点ガラ
スでITOまたは酸化スズ透明電極を被覆する場合、一
般的なPbO−B23 −SiO2 系ガラスを用いる
と、透明電極膜が低融点ガラスに浸食され電気抵抗が著
しく上昇したり、透明電極材料と低融点ガラス材料との
界面の反応により低融点ガラス中に気泡が生成し絶縁性
が損なわれてしまうという問題が生じていた。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するためになされたものであり、酸化物基準重量%
で、PbO:60〜80%、B23 :0〜5%、Si
2 :20〜40%から実質的になる電極被覆に適した
低融点ガラス組成物およびこのようなガラスを用いたプ
ラズマディスプレイ装置を提供するものである。
【0010】本発明のガラス材料は、その組成中に酸化
物重量基準重量%で、PbOを60〜80%含有する。
PbOはガラスを低融点化するために必須な成分であ
り、60%に満たない場合は、ガラスの軟化温度が高く
なってしまい700℃以下での透明で緻密な被覆が困難
となる。好ましくは65%以上である。80%を超えた
場合は、ガラス被覆層が黄色に着色するおそれがある。
好ましくは75%以下である。
【0011】B23 は必須ではないが、5%以下含有
できる。B23 はPbO系低融点ガラスを安定なガラ
スとする成分としては従来相当の量が必須と考えられて
いた成分であるが、このB23 を5%以下にするとI
TOや酸化スズといった透明電極材料に対する低融点ガ
ラスの被覆時の浸食性が著しく抑制されることを本発明
者らは新たに見いだした。好ましくは4%以下である。
【0012】SiO2 は20〜40%とする。SiO2
はPbO系低融点ガラスを安定なガラスとするために必
須な成分であるが、40%を超えるとガラスの軟化温度
が高くなるおそれがある。好ましくは、35%以下であ
る。20%に満たないと相対的に含有されるPbO量が
多くなり低融点ガラスが黄色に着色するおそれがある。
好ましくは25%以上である。
【0013】これらの成分の他にも、低融点ガラスの熱
膨張係数や化学的耐久性、軟化温度、透明性、ガラスの
安定性を調整するために、MgO、CaO、SrO、B
aO、ZnO、Al23 、La23 、TiO2 、S
nO2 、ZrO2 、CeO2等を合量で低融点ガラス組
成中の20重量%を超えない範囲で適宜含有させること
ができる。また、Li2 O、Na2 O、K2 O等のアル
カリ金属酸化物やF等のハロゲン成分もガラスの軟化温
度を低下させる成分として、合量で含有量が10重量%
を超えず、電気的特性等を阻害しない範囲で加えてもよ
い。
【0014】プラズマディスプレイ装置の前面板ガラス
のITOあるいは酸化スズを被覆する場合は、現在板ガ
ラスとしてソーダライムシリカガラスが一般的に用いら
れているため、その膨張特性、熱変形性と適合した低融
点ガラスが好ましい。その場合、酸化物基準重量%で、
PbO:65〜75%、B23 :0〜4%、SiO
2 :25〜35%よりなる低融点ガラスが特に好まし
い。
【0015】本発明の低融点ガラスは、50〜300℃
の平均熱膨張係数が70〜90×10-7/℃、特に70
〜85×10-7/℃であることが好ましい。ガラス基板
と熱膨張係数を整合し、基板のそりや基板強度の低下を
防止するためである。
【0016】また、軟化点は焼成温度にもよるが450
〜600℃程度とされることが好ましい。このようなガ
ラスを500〜600℃程度で焼成すると高い透明性が
得られるためである。
【0017】前記プラズマディスプレイ装置において
は、前記ITOやSnO2 といった透明電極のみでは電
気抵抗が高すぎる場合、これら透明電極上にAgやAl
やCr−Cu−Cr等の金属細線を形成する場合があ
る。これらの金属電極が介在する場合、一般の低融点ガ
ラスでは被覆形成時の熱処理において、これら金属電極
が浸食されたり、金属電極の介在によりITOや酸化ス
ズ等の透明電極の浸食が促進されたりする現象がある
が、本発明の低融点ガラスを使用することによりこれら
の現象を有効に抑制することも可能であった。
【0018】低融点ガラスの被覆形成方法としては、ガ
ラスを微粉末に粉砕し、かかる微粉末ガラスを有機溶剤
中に分散混合しインク状にし、スクリーン印刷等の手法
で透明電極が形成された板ガラス上に塗布し、有機溶剤
を乾燥後、焼成し、低融点ガラスを緻密に焼結する方法
が一般的である。しかし、本発明の目的が達成できる被
覆形成が可能な方法であればこの限りではない。
【0019】
【実施例】以下、本発明の低融点ガラス組成物を実施例
に基づいて詳細に説明する。表に示すような組成となる
ように、酸化鉛、無水ホウ酸、ケイ砂、酸化亜鉛、炭酸
カルシウムを混合し、1300℃1時間白金ルツボ中で
溶融し、薄板状のガラスに成形した後、ボールミルで粉
砕し、低融点ガラス粉末を得た。なお、例6〜8は比較
例である。これら粉末ガラスの軟化点を示差熱分析計で
測定し、さらに、粉末ガラスを形成して表に示す焼成温
度(単位:℃)で表に示す焼成時間(単位:分)焼成し
て得た焼成体を直径5mm、長さ2cmの円柱状に加工
し、熱膨張計で50〜350℃の線膨張係数(単位:×
10-7/℃)を測定した。それぞれの値を表に示す。こ
の粉末100gを、ジエチレングリコールモノブチルエ
ーテルアセテートにエチルセルロースを7重量%熔解し
た有機ビヒクル25gと混練し、ペースト状インクを作
製した。
【0020】膜厚が2000Åで幅が0.5mmのIT
O透明電極膜を形成した10cm角厚み2.8mmのソ
ーダライムガラス板を用意して、透明電極の上に30m
m角の面積に該ペーストを均一にスクリーン印刷をし、
120℃10分間乾燥させた。かかる板を昇温速度毎分
10℃で表1記載の所定の温度に加熱し、所定の温度で
10分間保ち、焼成を行った。
【0021】焼成後の低融点ガラスの膜厚を測定し外観
を観察するとともに、透明電極の電気抵抗を焼成前後で
測定した。ペーストを印刷しないITO透明電極膜を同
一条件で焼成した後の電気抵抗に対する上記電気抵抗の
比を求めたところ、表の「電気抵抗比」の欄に記載の結
果を得た。電気抵抗比は2.0以下であることが好まし
いと考えられる。比較例6〜8はいずれも電気抵抗比が
大きくなっている。また、例7、8は気泡が成長して、
透明性が低くなっている。
【0022】
【表1】
【0023】
【表2】
【0024】
【発明の効果】以上のように本発明の低融点ガラス組成
物は、ITO等の透明電極材料の特性を著しく低下させ
ることなく、透明な絶縁ガラス膜を形成できるため、平
面ディスプレイ用途に好適である。
フロントページの続き (72)発明者 小野田 仁 神奈川県横浜市神奈川区羽沢町1150番地 旭硝子株式会社内 (72)発明者 青木 由美子 神奈川県横浜市神奈川区羽沢町1150番地 旭硝子株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】酸化物基準重量%で、 PbO :60〜80%、 B23 : 0〜 5%、 SiO2 :20〜40%、 から実質的になる電極被覆に適した低融点ガラス組成
    物。
  2. 【請求項2】酸化物基準重量%で、 PbO :60〜80%、 B23 : 0〜 5%、 SiO2 :20〜40%、 から実質的になるガラス層をITO電極または酸化スズ
    の電極に被覆した構造を有することを特徴とするプラズ
    マディスプレイ装置。
JP27771997A 1997-10-09 1997-10-09 電極被覆に適した低融点ガラス組成物 Withdrawn JPH11116271A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017048061A (ja) * 2015-08-31 2017-03-09 日本電気硝子株式会社 ガラスペースト組成物及び被膜形成ガラス部材の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2017048061A (ja) * 2015-08-31 2017-03-09 日本電気硝子株式会社 ガラスペースト組成物及び被膜形成ガラス部材の製造方法

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