JPH11114777A - 工作機械の制御方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 パラレルリンク機構を高精度に制御し得る工
作機械の制御方法を提供する。 【解決手段】 トラベリングプレート１２に取付けられ
た測定器４０と、テーブル５２に載置される測定治具６
０とにより、指令値に従って移動した工具先端（測定器
４０の各ダイヤルゲージの先端）の目標位置に対する駆
動制御の誤差を実測し、その測定値から算出した各機構
パラメータを制御装置７０の内部パラメータに置き換え
ることによって、直交座標系で与えられる工具先端の位
置および姿勢の指令値から各サーボモータの出力値への
高精度変換を可能にしている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、工作機械の制御方
法に関するもので、特にパラレルリンク機構による工作
機械の制御方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、パラレルリンク機構を用いた工作
機械として、特開平９−６６４８０号公報に開示される
「工具ハンドおよびそれを用いた工作機械」がある。こ
れによると、直交座標系で与えられる工具先端の位置お
よび姿勢の指令値に対しこの指令値を各アクチュエータ
の出力値（各サーボモータの回転角）に変換している。

【０００３】即ち、図１３の模式図に示すようなパラレ
ルリンク機構による工作機械の場合、直交座標系の指令
値（Ｘ１，Ｙ１，Ｚ１，Ａ１，Ｂ１，Ｃ１）から出力座
標系の指令値（Ｕ１，ｕ１，Ｖ１，ｖ１，Ｗ１，ｗ１）
への変換は、例えばｕ軸においては、所定角度Ｋで基台
１に固定されているｕ軸（ボールネジ４ｕ）の直交座標
系における直線の方程式を求め、次に第１番目の指令値
（Ｘ１，Ｙ１，Ｚ１，Ａ１，Ｂ１，Ｃ１）にトラベリン
グプレート２が移動されたときのボールジョイント７ｕ
の座標Ｔｕを直交座標系にて算出した後、この座標Ｔｕ
を中心とした半径Ｒ（ロッド５ｕの長さＲ）の球の方程
式を求め、更にこの球の方程式と先に求めた直線の方程
式とから当該球と直線の交点を算出しこの交点とｕ軸の
原点Ｏｕとの距離を求めてこの値を出力座標系に変換さ
れた指令値ｕ１とすることにより行われる。

【０００４】そして、この変換には、基台１に固定され
るボールネジ４の所定角度Ｋやロッド５の長さＲの他、
基台１に対するボールネジ４の取付位置によるオフセッ
ト値、トラベリングプレート２に対するロッド５の取付
位置によるオフセット値等の機構パラメータが必要であ
り、それぞれ設計値を用いるのが通常である。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この種
のパラレルリンク機構の工作機械によると、前述した機
構パラメータは、ボールネジ４、ロッド５、ボールジョ
イント６、７等の機構部品の加工誤差や組付誤差等によ
って設計値と異なる値になり、少なからずとも誤差を有
する。そのため、この機構パラメータの誤差が要因とな
って、直交座標系の指令値からアクチュエータの出力値
への変換にも誤差を生じ、実際の工具先端の位置および
姿勢制御に誤差が発生するという問題がある。

【０００６】この機構パラメータの誤差は、例えばマシ
ニングセンタのような各軸（Ｘ，Ｙ，Ｚ）を重ね合わせ
た構成による機構であれば独立した各軸の位置決め誤差
を測定することで比較的容易に求めることができるが、
全ての機構パラメータの誤差の合成値が位置決め誤差と
なるパラレルリンク機構においては、単に位置決め誤差
を測定しただけでは各機構パラメータを求めることはで
きない。また、工場出荷前の調整や客先での再調整等に
おいて、数十個に及ぶ全ての機構パラメータを極めて正
確に、例えば１０μｍ以内の誤差で測定することは現実
的ではない。

【０００７】本発明は、上述した課題を解決するために
なされたものであり、その目的とするところは、パラレ
ルリンク機構を高精度に制御し得る工作機械の制御方法
を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１の工作機械の制御方法では、外部に固定さ
れる基台と、この基台にパラレルリンク機構を介して保
持されるトラベリングプレートと、このトラベリングプ
レートに取付けられる工具と、前記パラレルリンク機構
を駆動する複数のアクチュエータと、直交座標系で与え
られる指令値を前記アクチュエータの出力値に変換して
前記アクチュエータを制御する制御装置と、を備えた工
作機械の制御方法であって、前記制御装置は、前記トラ
ベリングプレートの位置および姿勢に対する指令値とこ
の指令値による駆動制御後の前記トラベリングプレート
の位置および姿勢の実測値とに基づいて、駆動制御の誤
差を補正する媒介変数を算出し、直交座標系で与えられ
る指令値を、前記媒介変数に基づき前記アクチュエータ
の出力値に変換し、前記アクチュエータを制御すること
を技術的特徴とする。

【０００９】また、請求項２では、請求項１において、
前記実測値は、既知の位置および形状からなる複数の突
起部と、前記突起部に相対する前記トラベリングプレー
トの位置および姿勢を測定可能に前記トラベリングプレ
ートに設けられる測定装置と、により測定されることを
技術的特徴とする。

【００１０】上述した目的を達成するため、請求項３の
工作機械の制御方法では、外部に固定される基台と、こ
の基台にパラレルリンク機構を介して保持されるトラベ
リングプレートと、このトラベリングプレートに取付け
られる工具と、前記パラレルリンク機構を駆動する複数
のアクチュエータと、直交座標系で与えられる指令値を
前記アクチュエータの出力値に変換して前記アクチュエ
ータを制御する制御装置と、を備えた工作機械の制御方
法であって、前記制御装置は、前記トラベリングプレー
トの位置および姿勢の指令値とこの指令値による駆動制
御後の前記トラベリングプレートと所定点との距離の測
定値に基づいて、駆動制御の誤差を補正する媒介変数を
算出し、直交座標系で与えられる指令値を、前記媒介変
数に基づき前記アクチュエータの出力値に変換し、前記
アクチュエータを制御することを技術的特徴とする。

【００１１】また、請求項４では、請求項３において、
前記測定値は、前記トラベリングプレートに配設される
治具と、前記所定点と前記治具との間に介在し、両者の
距離を測定する測定装置とを用い、前記所定点として３
点以上の点のそれぞれについて、前記工具軸線上の２点
もしくは同一直線上にない３点との距離が測定されるこ
とを技術的特徴とする。

【００１２】さらに、請求項５では、請求項１〜４にお
いて、前記パラレルリンク機構は、前記基台に所定の傾
斜角度αで放射状に固定され、２本ずつ等間隔に配置さ
れた６本のガイドと、前記ガイドの長手方向に移動可能
に各々のガイドに設けられた６つのスライドテーブル
と、前記６つのスライドテーブルを独立して移動させる
駆動装置と、一端が第１対偶を介して前記スライドテー
ブルの各々に連結され、他端が第２対偶を介して前記ト
ラベリングプレートに連結される６本のロッドと、から
なることを技術的特徴とする。

【００１３】さらにまた、請求項６では、請求項１〜５
において、前記媒介変数は、(1) 前記第１対偶の回転中
心と第２対偶の回転中心の間の離隔量Ｌ、(2) 前記基台
に対する前記ガイドの垂直面内における傾斜角度α、
(3) 前記基台の厚さ方向基準位置から前記ガイドの基台
固定位置までの離隔量Ｂ３、(4) 前記基台の中心に垂直
に位置する基台第１軸に直交しかつ前記ガイドの反基台
方向に延びる基台第２軸から前記ガイドの基台固定位置
までの離隔量Ｂ２、(5) 前記基台第１軸および第２軸に
それぞれ直交する基台第３軸から前記ガイドの基台固定
位置までの離隔量Ｂ１、(6) 前記基台第２軸に対する前
記ガイドの水平面内における傾斜角度β、(7) 前記トラ
ベリングプレートの厚さ方向基準位置から前記第２対偶
の回転中心までの離隔量ＴＰ３、(8) 前記トラベリング
プレートの中心に垂直に位置するトラベリングプレート
第１軸に直交しかつ前記ロッドの前記第１対偶側に延び
るトラベリングプレート第２軸から前記第２対偶の回転
中心までの離隔量ＴＰ２、(9) 前記トラベリングプレー
ト第１軸および第２軸にそれぞれ直交するトラベリング
プレート第３軸から前記第２対偶の回転中心までの離隔
量ＴＰ１、のうちの少なくとも１つであることを技術的
特徴とする。

【００１４】請求項１又は３の発明では、直交座標系で
与えられる指令値が駆動制御の誤差を補正する媒介変数
に基づきアクチュエータの出力値に変換され、その出力
値により制御されるアクチュエータによってパラレルリ
ンク機構が駆動される。即ち、パラレルリンク機構を構
成する機構部品に加工誤差や組付誤差等があっても、直
交座標系で与えられる工具先端の位置および姿勢の指令
値を各アクチュエータの出力値に高精度に変換すること
ができ、パラレルリンク機構を高精度に制御することが
できる。

【００１５】請求項２の発明では、駆動制御後のトラベ
リングプレートの位置および姿勢の実測値は、既知の位
置および形状からなる複数の突起部に相対するトラベリ
ングプレートの位置および姿勢を測定可能な測定装置に
よって測定される。即ち、トラベリングプレートに設け
られる測定装置により、既知の位置および形状からなる
突起部に対するトラベリングプレートの移動誤差量を測
定することで、駆動制御の誤差を補正する媒介変数を容
易に算出することができる。

【００１６】請求項４の発明では、３点以上のそれぞれ
の所定点についてトラベリングプレートとの距離を、工
具軸線上の２点もしくは同一直線上にない３点との距離
を測定する。即ち、３点以上の所定点からの距離を測定
することで、トラベリングプレートのＸ、Ｙ、Ｚ座標が
分かり、長さの異なる治具を交換し（或るいは、長さの
異なる測定装置に交換）、更に該所定点からの距離を測
定することで、トラベリングプレートのＡ軸、Ｂ軸を特
定することができる。そして、トラベリングプレートを
移動しながら上記距離を測定することで、駆動制御の誤
差を補正する媒介変数を算出することができる。

【００１７】請求項５の発明では、工作機械のパラレル
リンク機構は、基台に所定の傾斜角度αで放射状に固定
されるガイドと、このガイドの長手方向に移動可能に設
けられたスライドテーブルと、このスライドテーブルを
独立して移動させる駆動装置と、一端が第１対偶を介し
てスライドテーブルの各々に連結され、他端が第２対偶
を介してトラベリングプレートに連結されるロッドとか
らなる。したがって、パラレルリンク機構を構成するこ
れらの機構部品に加工誤差や組付誤差等があっても、直
交座標系で与えられる工具先端の位置および姿勢の指令
値を各アクチュエータの出力値に高精度に変換すること
ができ、パラレルリンク機構を高精度に制御することが
できる。

【００１８】請求項６の発明では、媒介変数は、前記
(1) から(9) までのうちの少なくとも１つであることか
ら、これらのうちで少なくとも誤差を知りたい媒介変数
の数と同数の既知の位置および形状からなる突起部を設
け、トラベリングプレートに取付けられた測定装置によ
り、これらの突起部に対するトラベリングプレートの移
動誤差を測定して駆動制御の誤差を補正する媒介変数を
算出することができる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明による工作機械の制
御方法の実施形態について図を参照して説明する。図１
は本実施形態の工作機械１０を適用した工作機械全体の
構成を示した図である。工作機械１０は門型のフレーム
５０の天井に支持柱５１を介して取付けられており、こ
の支柱５１の下方にはテーブル５２が位置している。そ
して、このテーブル５２には、加工時には図示しない工
作物が載置され、また後述する機構パラメータの測定時
には測定治具６０が載置される。

【００２０】工作機械１０は、本来、図示された測定器
４０の代わりに図示しない工具を取付け、それを制御装
置７０による移動制御によって所望の位置に移動させ工
作物を加工するものであるが、ここでは、工場出荷前調
整時や現地調整時における工作機械１０の第１実施形
態、即ち、機構パラメータを算出するために用いる測定
器４０を取付けた工作機械１０およびその制御方法につ
いて説明する。

【００２１】図２に示すように工作機械１０は、主に、
支持柱５１によって外部に固定される基台１１と、測定
器４０やドリル等の工具を取付けるトラベリングプレー
ト１２と、このトラベリングプレート１２を前述の基台
１１に連結する６本のアーム１４Ｕ、１４ｕ、１４Ｖ、
１４ｖ、１４Ｗ、１４ｗとから構成されている。（以
下、特に断らない限り「１４Ｕ、１４ｕ、１４Ｖ、１４
ｖ、１４Ｗ、１４ｗ」等の記載を「１４Ｕ−ｗ」等と総
称して記載する。）

【００２２】基台１１は６角形状からなる平板部材であ
り、周囲に３組の支持部１１Ｕと１１ｕ、１１Ｖと１１
ｖ、１１Ｗと１１ｗが等間隔に設けられており、この各
支持部１１Ｕ−ｗに後述するアーム１４Ｕ−ｗが平行す
る２本を１組として３方向に放射状に取付けられてい
る。

【００２３】各アーム１４Ｕ−ｗの構成は、全て同様で
あるため、アーム１４Ｕを代表して説明すると、アーム
１４Ｕはロッド１５Ｕおよびガイド２０Ｕとから構成さ
れており、後述するようにロッド１５Ｕの長さは所定長
さＬに設定されている。ガイド２０Ｕは、ベース２２
Ｕ、スライドテーブル２６Ｕ、ボールネジ２４Ｕおよび
モータ位置検出用エンコーダ３１Ｕが取付けられたサー
ボモータ２５Ｕから構成されている。

【００２４】ベース２２Ｕは断面形状がコ型をした部材
であり、ベース２２Ｕは基台１１に対して所定角度α
（例えば４５度）に傾斜して放射状に基台１１の支持部
１１Ｕに固定されている。そして、このベース２２Ｕに
はその長手方向にスライドテーブル２６Ｕが摺動可能に
支持されている。また、ベース２２Ｕにはスライドテー
ブル２６Ｕの図示しないナットと螺合するボールネジ２
４Ｕが回動可能に支持されており、ベース２２Ｕに固定
され前記ボールネジ２４Ｕに連結されるサーボモータ２
５Ｕを駆動することにより、ボールネジ２４Ｕを回動
し、結果としてスライドテーブル２６Ｕをベース２２Ｕ
の長手方向に移動するようになっている。

【００２５】前述したスライドテーブル２６Ｕにはロッ
ド１５Ｕがボールジョイント１６Ｕにより連結され、ボ
ールジョイント１６Ｕを支点としてロッド１５Ｕはスラ
イドテーブル２６Ｕに対して３次元方向に揺動可能とな
っている。また、ロッド１５の他端はトラベリングプレ
ート１２Ｕにボールジョイント１７Ｕにて連結され、ボ
ールジョイント１７Ｕを支点としてロッド１５Ｕはトラ
ベリングプレート１２Ｕに対して３次元方向に揺動可能
となっている。

【００２６】トラベリングプレート１２は基台１１より
も小さな６角形状からなる平板部材であり、前述したロ
ッド１５Ｕの他端がボールジョイント１７Ｕにより同一
平面上に連結されている。トラベリングプレート１２の
下部は測定器４０やドリル等の工具を取付可能な形状を
有している。

【００２７】引き続き、第１実施形態に係る測定方法に
ついて説明する。図３および図４に示すように、測定器
４０は、主に、トラベリングプレート１２の下部に取付
けられるダイヤルゲージ４４、４５、４６、ミラー４９
と、トラベリングプレート１２の上部に取付けられる角
度計４７、４８とから構成されており、トラベリングプ
レート１２のＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の位置誤差量をダイ
ヤルゲージ４４、４５、４６によりそれぞれ測定し、Ａ
軸、Ｂ軸、Ｃ軸の角度誤差量を角度計４７、４８、ミラ
ー４９によりそれぞれ測定する。

【００２８】ダイヤルゲージ４４、４５、４６は支持部
４１を介してトラベリングプレート１２に取付けられて
おり、その取付位置は、後述するように測定時のトラベ
リングプレート１２が所定位置に移動したときにそれぞ
れの測定部４４ａ、４５ａ、４６ａが測定治具６０の基
準ピン６３に当接可能な部位に設定されている。ダイヤ
ルゲージ４４により測定されたＸ軸方向の位置誤差量、
ダイヤルゲージ４５により測定されたＹ軸方向の位置誤
差量、ダイヤルゲージ４６により測定されたＺ軸方向の
位置誤差量は、後述する制御装置７０にそれぞれ出力さ
れ機構パラメータを算出するために用いられる。

【００２９】ミラー４９も支持部４１を介してトラベリ
ングプレート１２に取付けられており、図３の紙面垂直
方向から照射されるレーザ光を反射可能に位置してい
る。ミラー４９の鏡面４９ａに反射するレーザ光を図略
のセンサにより受光することによってＣ軸の角度誤差を
測定する。

【００３０】一方、トラベリングプレート１２の上部に
取付けられる角度計４７、４８は、トラベリングプレー
ト１２の傾き状態を検出することで、それぞれＡ軸、Ｂ
軸の角度誤差量を測定している。そして、角度計４７に
より測定されたＡ軸の角度誤差量および角度計４８によ
り測定されたＢ軸の角度誤差量もそれぞれ制御装置７０
に出力され、前述したセンサによるＣ軸の角度誤差量と
併せて機構パラメータを算出するため用いられる。

【００３１】次に、図５を参照して測定治具６０の構成
を説明する。測定治具６０は、例えば円板状に形成され
たプレート６１とその面上に設けられる複数（例えば９
本）の基準ピン６３とから構成される。この基準ピン６
３が設けられる位置および基準ピン６３の姿勢（長さ、
太さ等の形状）は、所定の条件によって決められてお
り、位置については図６による平面図に示すように例え
ば同一円周上に等間隔に配置される。

【００３２】ここで、基準ピン６３の本数を９本に設定
しているが、これは後述するように算出する機構パラメ
ータの数が９個であることに起因しているため、諸条件
から求める機構パラメータの数が６個であれば６本の基
準ピン６３により測定治具６０を構成しても良い。

【００３３】引き続き、図６を参照して制御装置７０の
構成について説明する。制御装置７０は、ＣＰＵ７１、
メモリ７２、インタフェイス（Ｉ／Ｆ）７３、７４から
構成されている。メモリ７２には後述する機構パラメー
タ算出処理および実加工処理を実行するためのプログラ
ムが記憶されている。インタフェイス７３には、前述し
たサーボモータ２５Ｕ−ｗを駆動するデジタルサーボユ
ニット８１〜８６が接続されている。各デジタルサーボ
ユニット８１〜８６はＣＰＵ７１からの指令値に基づい
てサーボモータ２５Ｕ−ｗをそれぞれ駆動し、各モータ
位置検出用エンコーダ３１Ｕ−ｗからのに出力によって
フィードバック制御を行う。そして、サーボモータ２５
Ｕ−ｗによって駆動されるスライドテーブル２６Ｕ−ｗ
を所望の位置にそれぞれ移動することにより、結果とし
て、６本のロッド１５Ｕ−ｗを介して連結されるトラベ
リングプレート１２を所望の位置および姿勢に制御する
ようになっている。

【００３４】インタフェイス７４には、後述する加工デ
ータ等を入力するキーボード（ＫＢ）７６、加工データ
や現在の工作機械１０の状態等を表示する画像表示装置
（ＣＲＴ）７７、加工データを記憶する外部記憶装置
（例えばハードディスク）７８が接続されている。

【００３５】次に、図７〜１２を参照して機構パラメー
タを算出するための制御装置７０による工作機械１０の
制御方法を説明する。機構パラメータは各アーム１４Ｕ
−ｗのそれぞれの軸（Ｕ、ｕ、Ｖ、ｖ、Ｗ、ｗ）につき
９個ずつ存在するが、前述したように各アーム１４Ｕ−
ｗの構成は全て同様であるため、ここでは代表的にアー
ム１４Ｕに着目して各機構パラメータを説明する。

【００３６】図８〜１２に示すように、９個の機構パラ
メータは、(1) ボールジョイント１６Ｕの回転中心とボ
ールジョイント１７Ｕの回転中心の間の離隔量Ｌ、(2)
基台１１に対するガイド２０Ｕの垂直面内における傾斜
角度α、(3) 基台１１の厚さ方向基準位置Ｋ１に対し
て、ガイド２０Ｕが固定される支持部１１Ｕの基準位置
Ｋ２のオフセット量Ｂ３、(4) Ｘ軸に対するガイド２０
Ｕが固定される支持部１１Ｕの基準位置Ｋ２のオフセッ
ト量Ｂ２、(5) Ｙ軸に対するガイド２０Ｕが固定される
支持部１１Ｕの基準位置Ｋ２のオフセット量Ｂ１、(6)
Ｘ軸に対するガイド２０の水平面内における傾斜角度
β、(7) トラベリングプレート１２の厚さ方向基準位置
Ｋ４に対するボールジョイント１７Ｕの回転中心Ｋ５の
オフセット量ＴＰ３、(8) Ｘ軸に対するボールジョイン
ト１７Ｕの回転中心のオフセット量ＴＰ２、(9) Ｙ軸に
対するボールジョイント１７Ｕの回転中心のオフセット
量ＴＰ１である。

【００３７】したがって、機構パラメータの総数は９
（Ｌ，α，β，Ｂ１〜３，ＴＰ１〜３）個×６（Ｕ，
ｕ，Ｖ，ｖ，Ｗ，ｗ）軸＝５４個になるため、工作機械
１０の出荷前の調整時や客先メンテナンスにおける再調
整時において、これらの機構パラメータを１０μｍ以内
の誤差で測定して求めることは、極めて困難であり現実
的ではない。

【００３８】そこで、第１実施形態では、所定数の測定
値を基に解析的に機構パラメータを算出することによ
り、前述した問題を解決している。つまり、先に説明し
たトラベリングプレート１２に取付けられた測定器４０
と、テーブル５２に載置される測定治具６０とにより、
指令値に従って移動した工具先端（ここでは測定器４０
の各ダイヤルゲージの先端）の目標位置に対する駆動制
御の誤差を実測し、その測定値から算出した各機構パラ
メータを制御装置７０の内部パラメータに置き換えるこ
とによって、直交座標系で与えられる工具先端の位置お
よび姿勢の指令値から各サーボモータ３１Ｕ−ｗの出力
値への高精度変換を可能にしている。

【００３９】ここで、測定器４０による測定値から各機
構パラメータを求める演算方法について説明する。ま
ず、アクチュエータの座標から工具先端の座標に変換す
る数式を次の数１に示す。

【００４０】

【数１】

【００４１】この数１によって、工具先端を目的位置に
移動させるにはアクチュエータ軸（ボール２４Ｕ）上の
スライドテーブル２６Ｕをどこまで移動させなければな
らないかを求めることができる。ここで、工具先端座標
（Ｘ，Ｙ，Ｚ，Ａ，Ｂ，Ｃ）を定数とした場合、数１は
機構パラメータの関数として捉えることができるため、
数１を次式の数２に変形する。

【００４２】

【数２】

【００４３】この数２は、各アクチュエータ軸（ｉ＝１
〜６）ごとに成り立ち、また１軸に対して９個の機構パ
ラメータが存在する。したがって、各アクチュエータ軸
ごとの９個の変数を求めるために軸ごとに９元連立方程
式を解く必要がある。そのため、上述したように測定治
具６０によって９本の基準ピン６３を用いて９箇所の目
標位置に対する駆動制御の誤差を実測するのである。こ
れにより、９つの式が得られるため、アクチュエータ軸
ごとに個々に９元連立方程式を解き、６軸分合計５４個
の機構パラメータを算出する。

【００４４】しかし、前記機構パラメータの関数は非線
形方程式であるため、数２の数式からは直接、各機構パ
ラメータを求めることはできない。そこで、数３に示す
ニュートン法による収束計算、即ち( ベクトルｄin−ベ
クトルｄin+1) の値が収束するまで数３の計算を繰り返
すことにより機構パラメータを求める。

【００４５】

【数３】

【００４６】具体的には、機構パラメータの理想値をベ
クトルＰi の初期値ベクトルＰi1とし、ある点Ｘj にお
けるアクチュエータ座標の計算値（ベクトルＰ＝ベクト
ルＰi1）を次式の数４にし、測定器４０による測定値を
ｄi0とすると、

【００４７】

【数４】

【００４８】数３により、次式の数５が得られる。この
数５の収束計算によりアクチュエータ軸１軸に対する機
構パラメータが算出される。したがって、この収束計算
を各軸（ｉ＝１〜６）ごとに行うことで、５４個すべて
の機構パラメータを求めることができる。

【００４９】

【数５】

【００５０】なお、工具先端座標（Ｘ，Ｙ，Ｚ，Ａ，
Ｂ，Ｃ）のうち、工作機械１０の使用条件から機能や性
能等に影響しない座標が存在すれば、その座標に関する
誤差は測定を省略することができる。例えばＺ軸の回転
方向がドリル（工具）の回転方向に対応する場合には、
Ｃ軸の誤差は加工に影響を及ぼさないので特に測定する
必要がなく、Ｃ軸の誤差は０であるとして上記の演算を
行って機構パラメータを算出することができる。

【００５１】制御装置７０による工作機械１０の制御
は、図７に示す機構パラメータ算出処理によって行われ
る。まず制御装置７０には、測定治具６０に設けられた
各基準ピンの直交座標系の指令値（Ｘ，Ｙ，Ｚ，Ａ，
Ｂ，Ｃ）が入力される（Ｓ２１）。即ち、前述した基準
ピン６３においては９本分の指令値が入力される。次
に、目標位置とする基準ピン６３の番号を決める変数ｎ
の初期化処理を行い（Ｓ２３）、続いて第１番目の基準
ピン６３の所定位置を目標位置にするため変数ｎを０か
ら１にするインクリメント処理を行う（Ｓ２５）。

【００５２】そして、第１番目の基準ピン６３の直交座
標系指令値を出力座標系指令値（Ｕ，ｕ，Ｖ，ｖ，Ｗ，
ｗ）に変換した出力指令値を各サーボモータ２５Ｕ−ｗ
に出力する処理（Ｓ２７）を行い、測定器４０が取付け
られたトラベリングプレート１２を目標とする第１番目
の基準ピン６３の位置に移動させる。トラベリングプレ
ート１２の移動が完了すると、測定器４０を構成するダ
イヤルゲージ４４、４５、４６、角度計４７、４８およ
びセンサによって、トラベリングプレート１２のＸ軸、
Ｙ軸、Ｚ軸方向の位置誤差量およびＡ軸、Ｂ軸、Ｃ軸の
角度誤差量をそれぞれ測定する（Ｓ２９）。

【００５３】第１番目の基準ピン６３による各誤差量の
測定を終えると、測定を終えた基準ピンが最後の基準ピ
ンであるか否かを判断する（Ｓ３１）。ここでは、まだ
第１番目の基準ピン６３を測定したばかりであるから、
この判断はＮｏとなり、前述したステップ２５の変数ｎ
のインクリメント処理に処理を移行する。即ち、次の第
２番目の基準ピン６３に移るために変数ｎを２に変更す
る。

【００５４】第２番目の基準ピン６３についても前述の
第１番目の基準ピンと同様にステップ２７、２９の処理
を行い、第２番目の基準ピン６３による各誤差量を測定
する。このようにして第２番目から第９番目までの基準
ピン６３の各誤差量を測定し終えたところで、最後の基
準ピンになる第９番目の基準ピンにおいては先に説明し
たステップ３１の判断処理がＹｅｓになるため、次のス
テップ３３に処理を移行する。

【００５５】ステップ３３では、第１番目から第９番目
までの全ての基準ピンに対し測定した各誤差量から上述
した各機構パラメータを算出する処理を行い、次いでこ
の算出した各機構パラメータを、予め設定されていた内
部パラメータに置き換える処理を行い（Ｓ３５）、全て
の処理が終了する。

【００５６】なお、各機構パラメータの算出は、測定し
た各誤差をキーボード７６から入力することにより、制
御装置７０によって行うことができる。この場合、算出
した各機構パラメータを、メモリ７２に記憶された内部
パラメータに直接置き換えることができる。また、測定
した各誤差を外部コンピュータに入力することにより、
外部コンピュータによって各機構パラメータを算出する
ようにしても良い。この場合は、外部コンピュータによ
り算出された各機構パラメータをキーボード７６から入
力することによって、メモリ７２に記憶された内部パラ
メータと書き換える必要がある。

【００５７】以上説明したように、既知の位置および姿
勢からなる複数の基準ピン６３に対して得られる各誤差
量を基に解析的に算出される各機構パラメータを、制御
装置７０の内部パラメータに置き換えることによって、
直交座標系で与えられる工具先端の位置および姿勢の指
令値を各サーボモータ３１Ｕ−ｗの出力値に高精度に変
換することができる。これにより、ボールネジ２４Ｕ−
Ｗ、ロッド１５Ｕ−ｗ、ボールジョイント１６Ｕ−ｗ、
１７Ｕ−ｗ等の機構部品に加工誤差や組付誤差等が生じ
設計値と異なる値になっても機械的に校正をすることな
く、トラベリングプレート１２を高精度に制御でき、工
場出荷前調整時や現地調整時における調整工数を大幅に
削減する効果がある。

【００５８】引き続き、第２実施形態に係る工作機械の
制御方法について図１４〜図１８を参照して説明する。
この第２実施形態の工作機械及び制御装置の構成は、図
１及び図６を参照して上述した第１実施形態とほぼ同様
である。但し、第１実施形態では、図６を参照して上述
したように制御装置７０に測定器４０が接続され、Ｘ、
Ｙ、Ｚの座標、Ａ、Ｂ、Ｃ軸を測定して機構パラメータ
を推定したが、この第２実施形態においては、２点間の
距離の変位を測定するＤＢＢ（ダブルボールバー）１６
０が測定器４０の代わりに接続される。

【００５９】図１４は、第２実施形態の制御方法におけ
る測定の概要を示している。この第２実施形態では、２
点間の距離の変位を測定するＤＢＢ１６０を用いて、ト
ラベリングプレート１２を移動しながら、固定点（ボー
ルの中心）Ｓとの距離を測定することで、機構パラメー
タを推定する。

【００６０】図１５（Ａ）に断面を示すようにＤＢＢ１
６０は、両端にボール（鉄球）１６４、１６６の配設さ
れたバー１６２から成る。バー１６２は、一対のバー１
６２Ａ、１６２Ｂを収縮可能に組み合わせてあり、内部
に収縮した変位量を出力する検出装置１６８が配設され
ている。この検出装置（ＤＢＢ１６０）１６８からの変
位量に基づき、制御装置７０（図６参照）は、該バー１
６２の長さ、即ち、ボール１６４の中心とボール１６６
の中心との距離ｒを検出する。

【００６１】ここで、トラベリングプレート１２に治具
１４０を取り付け、図１に示すテーブル５２に設けられ
た定盤（図示せず）にその位置が既知の固定点Ｓ１を設
ける。この治具１４０と固定点Ｓ１の先端は、ＤＢＢ１
６０の鉄球１６４、１６６を保持できるように磁化され
ている。ここでＤＢＢ１６０を４５°程度傾けること
で、トラベリングプレート１２のＺ方向の誤差を距離ｒ
から検出できるようにする。この状態でトラベリングプ
レート１２を動かし円を描かせる。この描かせる円（指
令値）の平面図（図１４を上側から見た図）を図１５
（Ｂ）に示す。そして、実際にトラベリングプレート１
２が描いた軌跡を図１５（Ｃ）に示す。図中に示すよう
に上述した機構パラメータの誤差量に応じて軌跡が指令
値上の円形から外れる。このため、トラベリングプレー
ト１２の移動中の距離ｒを何ポイントか求め、後述する
ように測定した距離ｒから最小自乗法により、誤差が最
小となるように機構パラメータを推定する。

【００６２】この測定について、図１６、図１７を参照
して更に詳細に説明する。ここでは、その位置が既知の
固定点として３点（固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３）を取り測
定を行う。図１７中に示すように固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ
３の内、固定点Ｓ１を工作機械１０のＸ軸上に取り、固
定点Ｓ２と固定点Ｓ３とをＹ軸と平行に取り、固定点Ｓ
１、Ｓ２、Ｓ３が正三角形になるようする。ここでは、
固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３を１辺３００mmの正三角形とす
ることで、長さ３００mmのＤＢＢ１６０にて位置を更正
し、固定点間の距離を正確に設定できるようにしてあ
る。

【００６３】図１６（Ａ）に示すように固定点Ｓ１、固
定点Ｓ２、固定点Ｓ３からの距離を測定することで、ト
ラベリングプレート１２に取り付けられた第１の治具１
４０の先端座標（Ｘ、Ｙ、Ｚ座標）が分かる。更に、第
１の治具１４０を長さの長い第２の治具１４２に付け替
えて、同様に、固定点Ｓ１、固定点Ｓ２、固定点Ｓ３か
らの距離を測定することで、トラベリングプレート１２
のＡ軸及びＢ軸の姿勢が分かる。

【００６４】まず、固定点Ｓ１に対して、短い第１の治
具１４０の取り付けられた状態で図中に示すように円を
描かせ、該円上の１０ポイント程度における距離ｒを測
定する。そして、固定点Ｓ２、固定点Ｓ３に対して、同
様に短い第１の治具１４０の取り付けられた状態で円を
描かせ、１０ポイント程度において距離ｒを測定する。
引き続き、治具を第２の長い治具１４２に付け替え、各
固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３に対して、円を描かせ、１０ポ
イント程度において距離ｒを測定する。この測定した距
離ｒに基づき後述するように機構パラメータを推定す
る。

【００６５】なお、上述した６回の測定では、工具の回
転方向の姿勢（Ｃ軸）することができない。これは、パ
ラレルリンク式の工作機械においては、Ｃ軸の誤差は問
題とならないので測定を省略したのである。ここで、Ｃ
軸の誤差を推定する際には、図１６（Ｂ）に示すよう
な，同一直線上にない３箇所にＤＤＢ１６０の鉄球１６
４を保持できるようにした治具１４３を用いて、それぞ
れの固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３とこの同一直線上にない３
点との距離を測定することで、Ｃ軸の姿勢を測定するこ
とも可能である。

【００６６】上述した例では、長さの異なる治具を付け
替えて測定を行っているが、工具軸線上の２点と各固定
点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３との距離が測定できさえすればよい
ので、工具軸線上の２箇所にＤＢＢ１６０の鉄球１６４
を保持できるようにした単一の治具を用いても同様に測
定できる。更に、上述した例では、トラベリングプレー
ト１２に円を描かせた。これは、ＤＢＢ１６０のバー１
６２の伸縮範囲、即ち、測定できる距離の範囲が狭いた
め、距離を大きく変えることなく複数のポイントにおい
て測定できるようにするためである。即ち、トラベリン
グプレート１２を半円状、矩形状に移動させ、複数のポ
イントで距離の測定を行うことでも可能であるが、円形
に移動させる方が測定は行い易いからである。更に、上
述した例では、固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３を正確に正三角
形を描かせるように配置することで、測定誤差を小さく
しているが、固定点は、任意の位置に配置することがで
きる。

【００６７】引き続き、距離ｒから機構パラメータを算
出する方法について説明する。上述した第１実施形態で
は、ニュートン法を使用したが、第２実施形態では、Ｔ
ａｙｌｏｒの微分補正法を応用して機構パラメータを推
定する。まず、ＤＢＢ１６０のデータは、距離（円の半
径）ｒの一次元量である。そこで、半径ｒとアクチュエ
ータ座標、機構パラメータとの関係を次の数６のように
置く。なお、図１４中に示すように、固定点側のボール
の中心Ｓは、固定座標となるため、半径ｒはアクチュエ
ータ座標と機構パラメータの関数となる。

【数６】

【００６８】ここで、両辺をパラメータの変化について
全微分すると次の数７のようになる。上述した第１実施
形態と同様に、各アクチュエータ軸（ｉ＝１〜６）毎に
９個の機構パラメータ（６×９＝５４）が存在してい
る。

【数７】

【００６９】dpi の推定値をepi とし、その計算結果と
drとの差を残差e 、∂ｇ／∂piをαi とすると上記数７
は、次の数８のように表すことができる。

【数８】

【００７０】上記数６中のg の関数形は分からないた
め、機構パラメータを図１７のグラフに示すように設計
値（pi）の近傍で適当にふって（pi−Δp 、pi＋Δp
）、順変換を行い、線形に近似したときの傾きをαi
とする。また、この値はアクチュエータ座標の値によっ
ても異なるので、アクチュエータ座標の各点において逐
次計算する。ｎ個の測定点に対する残差の平方和をＳｅ
とすると、次の数９のように表すことができる。

【数９】

【００７１】ここで各パラメータについて偏微分を行う
と次の数１０が成立する。

【数１０】 同様に他のパラメータについても計算できる。

【００７２】偏微分値を０とすると次の数１１としてパ
ラメータを表すことができる。

【数１１】 この数１１から、各パラメータの誤差（機構パラメー
タ）を求める。即ち、上述した半径（距離）ｒのデータ
について計算を繰り返し、機構パラメータの値を収束さ
せる。

【００７３】この第２実施形態では、第１実施形態と測
定方法と比較して測定器としてＤＢＢ１６０のみを用意
すれば良く、また、測定が容易であるため、測定を短時
間で完了できる利点がある。

【００７４】以上説明したように、第２実施形態の制御
方法においては、測定器（ＤＢＢ）１６０にて測定した
距離ｒを基に解析的に算出される各機構パラメータを、
制御装置７０の内部パラメータに置き換えることによっ
て、直交座標系で与えられる工具先端の位置および姿勢
の指令値を各サーボモータ３１Ｕ−ｗの出力値に高精度
に変換することができる。これにより、ボールネジ２４
Ｕ−Ｗ、ロッド１５Ｕ−ｗ、ボールジョイント１６Ｕ−
ｗ、１７Ｕ−ｗ等の機構部品に加工誤差や組付誤差等が
生じ設計値と異なる値になっても機械的に校正をするこ
となく、トラベリングプレート１２を高精度に制御で
き、工場出荷前調整時や現地調整時における調整工数を
大幅に削減する効果がある。

【００７５】

【発明の効果】請求項１又は３の発明では、直交座標系
で与えられる指令値が駆動制御の誤差を補正する媒介変
数に基づきアクチュエータの出力値に変換され、その出
力値により制御されるアクチュエータによってパラレル
リンク機構が駆動されるため、パラレルリンク機構を構
成する機構部品に加工誤差や組付誤差等があっても、直
交座標系で与えられる工具先端の位置および姿勢の指令
値を各アクチュエータの出力値に高精度に変換すること
ができる。これにより、パラレルリンク機構の加工誤差
や組付誤差等に拘らずパラレルリンク機構を高精度に制
御できる効果がある。

【００７６】請求項２の発明では、トラベリングプレー
トに設けられる測定装置により、既知の位置および形状
からなる突起部に対するトラベリングプレートの移動誤
差量を測定する。これにより、例えば工場出荷前の調整
や客先での再調整等において、数十個に及ぶ全ての機構
パラメータを個々に実測する必要がなく、駆動制御の誤
差を補正する媒介変数を容易に算出できる効果がある。

【００７７】請求項４の発明では、３点以上の所定点か
らの距離を測定することで、トラベリングプレートの
Ｘ、Ｙ、Ｚ座標が分かり、長さの異なる治具を交換し
（或るいは、長さの異なる測定装置に交換）、更に該所
定点からの距離を測定することで、トラベリングプレー
トのＡ軸、Ｂ軸を特定することができる。そして、トラ
ベリングプレートを移動しながら上記距離を測定するこ
とで、駆動制御の誤差を補正する媒介変数を算出するこ
とができる。

【００７８】請求項３の発明では、工作機械のパラレル
リンク機構は、基台に所定の傾斜角度αで放射状に固定
されるガイドと、このガイドの長手方向に移動可能に設
けられたスライドテーブルと、このスライドテーブルを
独立して移動させる駆動装置と、一端が第１対偶を介し
てスライドテーブルの各々に連結され、他端が第２対偶
を介してトラベリングプレートに連結されるロッドとか
らなる。したがって、パラレルリンク機構を構成するこ
れらの機構部品に加工誤差や組付誤差等があっても、直
交座標系で与えられる工具先端の位置および姿勢の指令
値を各アクチュエータの出力値に高精度に変換すること
ができ、パラレルリンク機構を高精度に制御可能にする
効果がある。

【００７９】請求項４の発明では、(1) 前記第１対偶の
回転中心と第２対偶の回転中心の間の離隔量Ｌ、(2) 前
記基台に対する前記ガイドの垂直面内における傾斜角度
α、(3) 前記基台の厚さ方向基準位置から前記ガイドの
基台固定位置までの離隔量Ｂ３、(4) 前記基台の中心に
垂直に位置する基台第１軸に直交しかつ前記ガイドの反
基台方向に延びる基台第２軸から前記ガイドの基台固定
位置までの離隔量Ｂ２、(5) 前記基台第１軸および第２
軸にそれぞれ直交する基台第３軸から前記ガイドの基台
固定位置までの離隔量Ｂ１、(6) 前記基台第２軸に対す
る前記ガイドの水平面内における傾斜角度β、(7) 前記
トラベリングプレートの厚さ方向基準位置から前記第２
対偶の回転中心までの離隔量ＴＰ３、(8) 前記トラベリ
ングプレートの中心に垂直に位置するトラベリングプレ
ート第１軸に直交しかつ前記ロッドの前記第１対偶側に
延びるトラベリングプレート第２軸から前記第２対偶の
回転中心までの離隔量ＴＰ２、(9) 前記トラベリングプ
レート第１軸および第２軸にそれぞれ直交するトラベリ
ングプレート第３軸から前記第２対偶の回転中心までの
離隔量ＴＰ１、のうちの少なくとも１つが媒介変数であ
ることから、これらのうちで少なくとも誤差を知りたい
媒介変数の数と同数の既知の位置および形状からなる突
起部を設け、トラベリングプレートに取付けられた測定
装置により、これらの突起部に対するトラベリングプレ
ートの移動誤差を測定して駆動制御の誤差を補正する媒
介変数を算出することができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係る工作機械の制御方法
により制御される工作機械全体の機械的構成を示す斜視
図である。

【図２】図１に示す工作機械の機械的構成を示す斜視図
である。

【図３】測定器と基準ピンを示す説明図である。

【図４】図４に示すIV方向矢視による矢視図である。

【図５】測定治具を示す平面図である。

【図６】図１に示す工作機械の制御装置の構成を示すブ
ロック図である。

【図７】第１実施形態の制御装置による各処理の流れを
示すフローチャートである。

【図８】機構パラメータＬ、α、Ｂ１を示す説明図であ
る。

【図９】機構パラメータＴＰ１、ＴＰ２を示す説明図で
ある。

【図１０】図８に示すＪ１部分を拡大した説明図で、機
構パラメータＢ３を示すものである。

【図１１】図８に示すＪ２部分を拡大した説明図で、機
構パラメータＴＰ３を示すものである。

【図１２】図１０に示すXII 方向矢視による説明図で、
機構パラメータβ、Ｂ２を示すものである。

【図１３】パラレルリンク機構による工作機械の座標系
を示す模式図である。

【図１４】第２実施形態に係るパラレルリンク機構の測
定を示す模式図である。

【図１５】図１５（Ａ）はＤＢＢの断面図であり、図１
５（Ｂ）はパラレルリンク機構の移動指令値に基づく軌
跡であり、図１５（Ｃ）のパラレルリンク機構の実際の
移動軌跡である。

【図１６】図１６（Ａ）、図１６（Ｂ）は、第２実施形
態に係るパラレルリンク機構の測定を示す模式図であ
る。

【図１７】第２実施形態に係るパラレルリンク機構にお
ける測定時の固定点の平面図である。

【図１８】機構パラメータを順変換して線形に近似した
グラフである。

【符号の説明】

１０ 工作機械 １１ 基台 １２ トラベリングプレート １４Ｕ−ｗ アーム（パラレルリンク機構） １５Ｕ−ｗ ロッド（パラレルリンク機構） １６Ｕ−ｗ ボールジョイント（パラレルリンク機構、
第１対偶） １７Ｕ−ｗ ボールジョイント（パラレルリンク機構、
第２対偶） ２０Ｕ−ｗ ガイド（パラレルリンク機構） ２２Ｕ−ｗ ベース（パラレルリンク機構） ２４Ｕ−ｗ ボールネジ（パラレルリンク機構、アクチ
ュエータ） ２５Ｕ−ｗ サーボモータ（アクチュエータ） ２６Ｕ−ｗ スライドテーブル（パラレルリンク機構） ４０ 測定器（測定装置） ４４、４５、４６ ダイヤルゲージ（測定装置） ４７、４８ 角度計（測定装置） ４９ ミラー（測定装置） ６３ 基準ピン（突起部） ７０ 制御装置 １４０、１４２ 治具 １６０ ＤＢＢ（測定装置） １６４、１６６ ボール Ｋ１ （基台の厚さ方向基準位置） Ｋ２ （ガイドの基台固定位置） Ｋ４ （トラベリングプレートの厚さ方向基準位
置） Ｋ５ （第２対偶の回転中心） Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３ 固定点

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 外部に固定される基台と、この基台にパ
   ラレルリンク機構を介して保持されるトラベリングプレ
   ートと、このトラベリングプレートに取付けられる工具
   と、前記パラレルリンク機構を駆動する複数のアクチュ
   エータと、直交座標系で与えられる指令値を前記アクチ
   ュエータの出力値に変換して前記アクチュエータを制御
   する制御装置と、を備えた工作機械の制御方法であっ
   て、 前記制御装置は、 前記トラベリングプレートの位置および姿勢に対する指
   令値とこの指令値による駆動制御後の前記トラベリング
   プレートの位置および姿勢の実測値とに基づいて、駆動
   制御の誤差を補正する媒介変数を算出し、 直交座標系で与えられる指令値を、前記媒介変数に基づ
   き前記アクチュエータの出力値に変換し、 前記アクチュエータを制御することを特徴とする工作機
   械の制御方法。
2. 【請求項２】 前記実測値は、 既知の位置および形状からなる複数の突起部と、 前記突起部に相対する前記トラベリングプレートの位置
   および姿勢を測定可能に前記トラベリングプレートに設
   けられる測定装置と、 により測定されることを特徴とする請求項１記載の工作
   機械の制御方法。
3. 【請求項３】 外部に固定される基台と、この基台にパ
   ラレルリンク機構を介して保持されるトラベリングプレ
   ートと、このトラベリングプレートに取付けられる工具
   と、前記パラレルリンク機構を駆動する複数のアクチュ
   エータと、直交座標系で与えられる指令値を前記アクチ
   ュエータの出力値に変換して前記アクチュエータを制御
   する制御装置と、を備えた工作機械の制御方法であっ
   て、 前記制御装置は、 前記トラベリングプレートの位置および姿勢の指令値と
   この指令値による駆動制御後の前記トラベリングプレー
   トと所定点との距離の測定値に基づいて、駆動制御の誤
   差を補正する媒介変数を算出し、 直交座標系で与えられる指令値を、前記媒介変数に基づ
   き前記アクチュエータの出力値に変換し、 前記アクチュエータを制御することを特徴とする工作機
   械の制御方法。
4. 【請求項４】 前記測定値は、 前記トラベリングプレートに配設される治具と、 前記所定点と前記治具との間に介在し、両者の距離を測
   定する測定装置とを用い、 前記所定点として３点以上の点のそれぞれについて、前
   記工具軸線上の２点もしくは同一直線上にない３点との
   距離が測定されることを特徴とする請求項３記載の工作
   機械の制御方法。
5. 【請求項５】 前記パラレルリンク機構は、 前記基台に所定の傾斜角度αで放射状に固定され、２本
   ずつ等間隔に配置された６本のガイドと、 前記ガイドの長手方向に移動可能に各々のガイドに設け
   られた６つのスライドテーブルと、 前記６つのスライドテーブルを独立して移動させる駆動
   装置と、 一端が第１対偶を介して前記スライドテーブルの各々に
   連結され、他端が第２対偶を介して前記トラベリングプ
   レートに連結される６本のロッドと、 からなることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１つ
   に記載の工作機械の制御方法。
6. 【請求項６】 前記媒介変数は、 (1) 前記第１対偶の回転中心と第２対偶の回転中心の間
   の離隔量Ｌ、 (2) 前記基台に対する前記ガイドの垂直面内における傾
   斜角度α、 (3) 前記基台の厚さ方向基準位置から前記ガイドの基台
   固定位置までの離隔量Ｂ３、 (4) 前記基台の中心に垂直に位置する基台第１軸に直交
   しかつ前記ガイドの反基台方向に延びる基台第２軸から
   前記ガイドの基台固定位置までの離隔量Ｂ２、 (5) 前記基台第１軸および第２軸にそれぞれ直交する基
   台第３軸から前記ガイドの基台固定位置までの離隔量Ｂ
   １、 (6) 前記基台第２軸に対する前記ガイドの水平面内にお
   ける傾斜角度β、 (7) 前記トラベリングプレートの厚さ方向基準位置から
   前記第２対偶の回転中心までの離隔量ＴＰ３、 (8) 前記トラベリングプレートの中心に垂直に位置する
   トラベリングプレート第１軸に直交しかつ前記ロッドの
   前記第１対偶側に延びるトラベリングプレート第２軸か
   ら前記第２対偶の回転中心までの離隔量ＴＰ２、 (9) 前記トラベリングプレート第１軸および第２軸にそ
   れぞれ直交するトラベリングプレート第３軸から前記第
   ２対偶の回転中心までの離隔量ＴＰ１、 のうちの少なくとも１つであることを特徴とする請求項
   １〜５のいずれか１つに記載の工作機械の制御方法。