JP2002273676A - 工作機械の制御方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 パラレルリンク機構を高精度に制御し得る工
作機械の制御方法を提供する。 【解決手段】 トラベリングプレートに取付けられた測
定器と、テーブルに載置される測定治具とにより、指令
値に従って移動した工具先端（測定器の各ダイヤルゲー
ジの先端）の目標位置に対する駆動制御の誤差を実測
し、その測定値から算出した各機構パラメータを制御装
置の内部パラメータに置き換えることによって、直交座
標系で与えられる工具先端の位置および姿勢の指令値か
ら各サーボモータの出力値への高精度変換を可能にする
手法において、トラベリングプレートの全可動領域を複
数に分割し、各領域でそれぞれ各機構パラメータを前記
測定手段で測定、計算し、各領域毎に機構パラメータを
切り替えて直交座標系で与えられる工具先端の位置およ
び姿勢の指令値から各サーボモータの出力値への変換を
することにより高精度化する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、工作機械の制御方
法に関するもので、特にパラレルリンク機構による工作
機械の制御方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、パラレルリンク機構を用いた工作
機械として、特開平11-114777号公報に開示される「工
作機械の制御方法」がある。これによると、直交座標系
で与えられる工具先端の位置および姿勢の指令値に対し
この指令値を各アクチュエータの出力値（各サーボモー
タの回転角）に変換している。

【０００３】即ち、図１３の模式図に示すようなパラレ
ルリンク機構による工作機械の場合、直交座標系の指令
値（Ｘ１，Ｙ１，Ｚ１，Ａ１，Ｂ１，Ｃ１）から出力座
標系の指令値（Ｕ１，ｕ１，Ｖ１，ｖ１，Ｗ１，ｗ１）
への変換は、例えばｕ軸においては、所定角度Ｋで基台
１に固定されているｕ軸（ボールネジ４ｕ）の直交座標
系における直線の方程式を求め、次に第１番目の指令値
（Ｘ１，Ｙ１，Ｚ１，Ａ１，Ｂ１，Ｃ１）にトラベリン
グプレート２が移動されたときのボールジョイント７ｕ
の座標Ｔｕを直交座標系にて算出した後、この座標Ｔｕ
を中心とした半径Ｒ（ロッド５ｕの長さＲ）の球の方程
式を求め、更にこの球の方程式と先に求めた直線の方程
式とから当該球と直線の交点を算出しこの交点とｕ軸の
原点Ｏｕとの距離を求めてこの値を出力座標系に変換さ
れた指令値ｕ１とすることにより行われる。

【０００４】そして、この変換には、基台１に固定され
るボールネジ４の所定角度Ｋやロッド５の長さＲの他、
基台１に対するボールネジ４の取付位置によるオフセッ
ト値、トラベリングプレート２に対するロッド５の取付
位置によるオフセット値等の機構パラメータが必要であ
り、それぞれ特開平11-114777号に開示されるキャリブ
レーション手法により求めた計算値を用いるのが通常で
ある。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
11-114777号に代表されるキャリブレーション手法で考
慮される機構パラメータの数は限定されており、キャリ
ブレーション手法で求まる機構パラメータの計算値は製
造誤差の影響を含んだ機構パラメータの真の値を表して
いるわけではない。特開平11-114777号に代表されるキ
ャリブレーション手法では前記トラベリングプレートの
位置および姿勢の実測値とに基づいて、あるいは前記ト
ラベリングプレートと所定点との距離の測定値に基づい
て、駆動制御の誤差を補正する媒介変数を算出し、この
媒介変数を前記機構パラメータの計算値としている。こ
の機構パラメータの計算値に基づき、直交座標系で与え
られる指令値を前記アクチュエータの出力値に変換す
る。この特開平11-114777号に代表されるキャリブレー
ション手法は機構パラメータの計算値を求めるために使
用した前記トラベリングプレートの位置または所定点で
の、指令値とこの指令値による駆動制御後の前記トラベ
リングプレートの実位置との間の距離を最小にするため
に必要な機構パラメータを求めているのであり、必ずし
も設計値に製造誤差を含んだ機構パラメータの真の値を
求めているわけではない。

【０００６】この特開平11-114777号に代表されるキャ
リブレーション手法は前述したように機構パラメータの
計算値を求めるために使用した前記トラベリングプレー
トの位置または所定点での指令値とこの指令値による駆
動制御後の前記トラベリングプレートの実位置との間の
距離を最小にするが、その他の点では必ずしも指令値に
基づく指令位置と実位置の間の誤差量が最小になるわけ
ではないという問題があった。この問題を解決する手段
として機構パラメータの計算値を求めるのに必要な前記
所定点の数を増やすという手法が考えられるが、この手
法では指令位置の数が少ないと、指令位置と実位置の間
の誤差量が大きくなるという問題があった。

【０００７】本発明は、上述した課題を解決するために
なされたものであり、その目的とするところは、パラレ
ルリンク機構を高精度に制御し得る工作機械の制御方法
を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１の制御方法では、外部に固定される基台
と、この基台にパラレルリンク機構を介して保持される
トラベリングプレートと、このトラベリングプレートに
取付けられる工具と、前記パラレルリンク機構を駆動す
る複数のアクチュエータと、直交座標系で与えられる指
令値を前記アクチュエータの出力値に変換して前記アク
チュエータを制御する制御装置と、を備えた工作機械の
制御方法であって、前記制御装置は、前記トラベリング
プレートの可動領域を複数に分割し、この分割された可
動領域に駆動制御の誤差を補正する媒介変数を持ち、直
交座標系で与えられる指令値を、前記指令値の存在する
可動領域に対応する前記媒介変数に基づき前記アクチュ
エータの出力値に変換し、前記アクチュエータを制御す
ることを技術的特徴とする。

【０００９】また、請求項２では、前記媒介変数を複数
に分割した前記トラベリングプレートの可動領域内それ
ぞれにおいて前記トラベリングプレートの位置および姿
勢に対する指令値とこの指令値による駆動制御後の前記
トラベリングプレートの位置および姿勢の実測値とに基
づいて算出するか、あるいは前記トラベリングプレート
と所定点との距離の測定値に基づいて算出したことを技
術的特徴とする。また、請求項３では、前記複数に分割
した前記トラベリングプレートの可動領域の分割数は全
可動領域の大きさと、実現しようとする位置決め精度の
値を勘案して決定する。全可動領域の大きさが一定の場
合、実現しようとする位置決め精度を高くする場合は分
割数を増やし、位置決め精度を低くする場合は分割数を
減らすことを技術的特徴とする。

【００１０】さらに請求項４では請求項１〜２におい
て、前記パラレルリンク機構が、前記基台に所定の傾斜
角度αで放射状に固定され、２本ずつ等間隔に配置され
た６本のガイドと、前記ガイドの長手方向に移動可能に
各々のガイドに設けられた６つのスライドテーブルと、
前記６つのスライドテーブルを独立して移動させる駆動
装置と、一端が第１対偶を介して前記スライドテーブル
の各々に連結され、他端が第２対偶を介して前記トラベ
リングプレートに連結される６本のロッドと、から構成
されることを技術的特徴とする。

【００１１】また、請求項５では、請求項1〜３におい
て、前記媒介変数は、(1) 前記第１対偶の回転中心と
第２対偶の回転中心の間の離隔量Ｌ、(2) 前記基台に
対する前記ガイドの垂直面内における傾斜角度α、(3)
前記基台の厚さ方向基準位置から前記ガイドの基台固
定位置までの離隔量Ｂ３、(4) 前記基台の中心に垂直
に位置する基台第１軸に直交しかつ前記ガイドの反基台
方向に延びる基台第２軸から前記ガイドの基台固定位置
までの離隔量Ｂ２、(5) 前記基台第１軸および第２軸
にそれぞれ直交する基台第３軸から前記ガイドの基台固
定位置までの離隔量Ｂ１、(6) 前記基台第２軸に対す
る前記ガイドの水平面内における傾斜角度β、(7) 前
記トラベリングプレートの厚さ方向基準位置から前記第
２対偶の回転中心までの離隔量ＴＰ３、(8) 前記トラ
ベリングプレートの中心に垂直に位置するトラベリング
プレート第１軸に直交しかつ前記ロッドの前記第１対偶
側に延びるトラベリングプレート第２軸から前記第２対
偶の回転中心までの離隔量ＴＰ２、(9) 前記トラベリ
ングプレート第１軸および第２軸にそれぞれ直交するト
ラベリングプレート第３軸から前記第２対偶の回転中心
までの離隔量ＴＰ１、のうちの少なくとも１つであるこ
とを技術的特徴とする。

【００１２】請求項１の発明では、駆動制御の誤差を補
正する媒介変数を、トラベリングプレートの全可動領域
を複数に分割した可動範囲毎に有し、この稼動範囲毎の
媒介変数に基づき直交座標系で与えられる指令値をアク
チュエータの出力値に変換し、その出力値により制御さ
れるアクチュエータによってパラレルリンク機構が駆動
される。即ち、パラレルリンク機構を構成する機構部品
に加工誤差や組付誤差等があっても、直交座標系で与え
られる工具先端の位置および姿勢の指令値を各アクチュ
エータの出力値に高精度に変換することができ、パラレ
ルリンク機構を高精度に制御することができる。また、
請求項２のように各可動範囲の媒介変数を求めるように
すると、比較的高精度かつ簡単に媒介変数を求めること
ができる。

【００１３】請求項３の発明では、全可動領域の大きさ
と、実現しようとする位置決め精度の値を勘案して可動
範囲の分割数を決めるため、全可動領域の大きさが小さ
いとき、または実現しようとする位置決め精度の値が大
きいときは全可動領域の分割数を少なくし、媒介変数を
もとめる手間を減らすことができ、全可動領域が大きい
とき、または実現しようとすつ位置決め精度の値が小さ
いときは全可動領域の分割数を多くして、要求される位
置決め精度を満たすことができる。

【００１４】請求項４の発明では、工作機械のパラレル
リンク機構は、基台に所定の傾斜角度αで放射状に固定
されるガイドと、このガイドの長手方向に移動可能に設
けられたスライドテーブルと、このスライドテーブルを
独立して移動させる駆動装置と、一端が第１対偶を介し
てスライドテーブルの各々に連結され、他端が第２対偶
を介してトラベリングプレートに連結されるロッドとか
らなる。したがって、パラレルリンク機構を構成するこ
れらの機構部品に加工誤差や組付誤差等があっても、直
交座標系で与えられる工具先端の位置および姿勢の指令
値を各アクチュエータの出力値に高精度に変換すること
ができ、パラレルリンク機構を高精度に制御することが
できる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明による工作機械の制
御方法の実施形態について図を参照して説明する。図１
９a、図１９bは本実施形態の工作機械の可動範囲を示
す。実際の全可動範囲はもっと広く複雑な形状をしてい
るため、説明を簡易化するために円柱形状（図１９a）
や直方体形状（図１９b）を代用して全可動範囲を表
す。図１９aでは全領域をZ方向に3分割し、さらにX-Y平
面内で4分割して合計12分割している。分割された後の
それぞれの領域をa1,b1,c1,d1,a2,b2,c2,d2,a3,b3,c3,d
3(b2,c2,d2,b3,c3,d3は図中に示していない)とし、それ
ぞれの領域内で媒介変数をあらかじめ求め，後述する制
御装置70内に保持している。

【００１６】図１９bでは全領域をZ方向に2分割し、さ
らにX-Y平面内で4分割して合計12分割している。分割さ
れた後のそれぞれの領域をa1,b1,c1,d1,a2,b2,c2,d2(c
2,d2は図中に示していない)とし、それぞれの領域内で
媒介変数をあらかじめ求め，制御装置70内に保持してい
る。図２０に軌跡計算時のフローチャートを示す。ま
ず、制御装置70がNC指令値を読み込む（Ｓ１）。次に制
御装置70はNC指令値に基づき内挿点を生成する（Ｓ
２）。NC指令値および内挿点のそれぞれについて、各点
がどの領域にあるかの判定をおこなう（Ｓ３）。判定
後、各領域に対応する媒介変数を読み込み（Ｓ４）、こ
の読み込んだ媒介変数に基づいてNC指令値または内挿点
をアクチュエータ出力値に変換する（Ｓ５）。以下に各
領域毎での媒介変数の求め方を示す。

【００１７】図１は本実施形態の工作機械１０を適用し
た工作機械全体の構成を示した図である。工作機械１０
は門型のフレーム５０の天井に支持柱５１を介して取付
けられており、この支柱５１の下方にはテーブル５２が
位置している。そして、このテーブル５２には、加工時
には図示しない工作物が載置され、また後述する機構パ
ラメータの測定時には測定治具６０が載置される。

【００１８】工作機械１０は、本来、図示された測定器
４０の代わりに図示しない工具を取付け、それを制御装
置７０による移動制御によって所望の位置に移動させ工
作物を加工するものであるが、ここでは、工場出荷前調
整時や現地調整時における工作機械１０の第１実施形
態、即ち、機構パラメータを算出するために用いる測定
器４０を取付けた工作機械１０およびその制御方法につ
いて説明する。

【００１９】図２に示すように工作機械１０は、主に、
支持柱５１によって外部に固定される基台１１と、測定
器４０やドリル等の工具を取付けるトラベリングプレー
ト１２と、このトラベリングプレート１２を前述の基台
１１に連結する６本のアーム１４Ｕ、１４ｕ、１４Ｖ、
１４ｖ、１４Ｗ、１４ｗとから構成されている。（以
下、特に断らない限り「１４Ｕ、１４ｕ、１４Ｖ、１４
ｖ、１４Ｗ、１４ｗ」等の記載を「１４Ｕ−ｗ」等と総
称して記載する。）

【００２０】基台１１は６角形状からなる平板部材であ
り、周囲に３組の支持部１１Ｕと１１ｕ、１１Ｖと１１
ｖ、１１Ｗと１１ｗが等間隔に設けられており、この各
支持部１１Ｕ−ｗに後述するアーム１４Ｕ−ｗが平行す
る２本を１組として３方向に放射状に取付けられてい
る。

【００２１】各アーム１４Ｕ−ｗの構成は、全て同様で
あるため、アーム１４Ｕを代表して説明すると、アーム
１４Ｕはロッド１５Ｕおよびガイド２０Ｕとから構成さ
れており、後述するようにロッド１５Ｕの長さは所定長
さＬに設定されている。ガイド２０Ｕは、ベース２２
Ｕ、スライドテーブル２６Ｕ、ボールネジ２４Ｕおよび
モータ位置検出用エンコーダ３１Ｕが取付けられたサー
ボモータ２５Ｕから構成されている。

【００２２】ベース２２Ｕは断面形状がコ型をした部材
であり、ベース２２Ｕは基台１１に対して所定角度α
（例えば４５度）に傾斜して放射状に基台１１の支持部
１１Ｕに固定されている。そして、このベース２２Ｕに
はその長手方向にスライドテーブル２６Ｕが摺動可能に
支持されている。また、ベース２２Ｕにはスライドテー
ブル２６Ｕの図示しないナットと螺合するボールネジ２
４Ｕが回動可能に支持されており、ベース２２Ｕに固定
され前記ボールネジ２４Ｕに連結されるサーボモータ２
５Ｕを駆動することにより、ボールネジ２４Ｕを回動
し、結果としてスライドテーブル２６Ｕをベース２２Ｕ
の長手方向に移動するようになっている。

【００２３】前述したスライドテーブル２６Ｕにはロッ
ド１５Ｕがボールジョイント１６Ｕにより連結され、ボ
ールジョイント１６Ｕを支点としてロッド１５Ｕはスラ
イドテーブル２６Ｕに対して３次元方向に揺動可能とな
っている。また、ロッド１５の他端はトラベリングプレ
ート１２Ｕにボールジョイント１７Ｕにて連結され、ボ
ールジョイント１７Ｕを支点としてロッド１５Ｕはトラ
ベリングプレート１２Ｕに対して３次元方向に揺動可能
となっている。

【００２４】トラベリングプレート１２は基台１１より
も小さな６角形状からなる平板部材であり、前述したロ
ッド１５Ｕの他端がボールジョイント１７Ｕにより同一
平面上に連結されている。トラベリングプレート１２の
下部は測定器４０やドリル等の工具を取付可能な形状を
有している。

【００２５】引き続き、第１実施形態に係る測定方法に
ついて説明する。図３および図４に示すように、測定器
４０は、主に、トラベリングプレート１２の下部に取付
けられるダイヤルゲージ４４、４５、４６、ミラー４９
と、トラベリングプレート１２の上部に取付けられる角
度計４７、４８とから構成されており、トラベリングプ
レート１２のＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向の位置誤差量をダイ
ヤルゲージ４４、４５、４６によりそれぞれ測定し、Ａ
軸、Ｂ軸、Ｃ軸の角度誤差量を角度計４７、４８、ミラ
ー４９によりそれぞれ測定する。

【００２６】ダイヤルゲージ４４、４５、４６は支持部
４１を介してトラベリングプレート１２に取付けられて
おり、その取付位置は、後述するように測定時のトラベ
リングプレート１２が前記可動領域の分割された領域内
の所定位置に移動したときにそれぞれの測定部４４ａ、
４５ａ、４６ａが測定治具６０の基準ピン６３に当接可
能な部位に設定されている。ダイヤルゲージ４４により
測定されたＸ軸方向の位置誤差量、ダイヤルゲージ４５
により測定されたＹ軸方向の位置誤差量、ダイヤルゲー
ジ４６により測定されたＺ軸方向の位置誤差量は、後述
する制御装置７０にそれぞれ出力され機構パラメータを
算出するために用いられる。

【００２７】ミラー４９も支持部４１を介してトラベリ
ングプレート１２に取付けられており、図３の紙面垂直
方向から照射されるレーザ光を反射可能に位置してい
る。ミラー４９の鏡面４９ａに反射するレーザ光を図略
のセンサにより受光することによってＣ軸の角度誤差を
測定する。

【００２８】一方、トラベリングプレート１２の上部に
取付けられる角度計４７、４８は、トラベリングプレー
ト１２の傾き状態を検出することで、それぞれＡ軸、Ｂ
軸の角度誤差量を測定している。そして、角度計４７に
より測定されたＡ軸の角度誤差量および角度計４８によ
り測定されたＢ軸の角度誤差量もそれぞれ制御装置７０
に出力され、前述したセンサによるＣ軸の角度誤差量と
併せて機構パラメータを算出するため用いられる。

【００２９】次に、図５を参照して測定治具６０の構成
を説明する。測定治具６０は、例えば円板状に形成され
たプレート６１とその面上に設けられる複数（例えば９
本）の基準ピン６３とから構成される。この基準ピン６
３が設けられる位置および基準ピン６３の姿勢（長さ、
太さ等の形状）は、所定の条件によって決められてお
り、位置については図６による平面図に示すように例え
ば同一円周上に等間隔に配置される。

【００３０】ここで、基準ピン６３の本数を９本に設定
しているが、これは後述するように算出する機構パラメ
ータの数が９個であることに起因しているため、諸条件
から求める機構パラメータの数が６個であれば６本の基
準ピン６３により測定治具６０を構成しても良い。

【００３１】引き続き、図６を参照して制御装置７０の
構成について説明する。制御装置７０は、ＣＰＵ７１、
メモリ７２、インタフェイス（Ｉ／Ｆ）７３、７４から
構成されている。メモリ７２には後述する機構パラメー
タ算出処理および実加工処理を実行するためのプログラ
ムが記憶されている。インタフェイス７３には、前述し
たサーボモータ２５Ｕ−ｗを駆動するデジタルサーボユ
ニット８１〜８６が接続されている。各デジタルサーボ
ユニット８１〜８６はＣＰＵ７１からの指令値に基づい
てサーボモータ２５Ｕ−ｗをそれぞれ駆動し、各モータ
位置検出用エンコーダ３１Ｕ−ｗからのに出力によって
フィードバック制御を行う。そして、サーボモータ２５
Ｕ−ｗによって駆動されるスライドテーブル２６Ｕ−ｗ
を所望の位置にそれぞれ移動することにより、結果とし
て、６本のロッド１５Ｕ−ｗを介して連結されるトラベ
リングプレート１２を所望の位置および姿勢に制御する
ようになっている。

【００３２】インタフェイス７４には、後述する加工デ
ータ等を入力するキーボード（ＫＢ）７６、加工データ
や現在の工作機械１０の状態等を表示する画像表示装置
（ＣＲＴ）７７、加工データを記憶する外部記憶装置
（例えばハードディスク）７８が接続されている。

【００３３】次に、図７〜１２を参照して機構パラメー
タを算出するための制御装置７０による工作機械１０の
制御方法を説明する。機構パラメータは各アーム１４Ｕ
−ｗのそれぞれの軸（Ｕ、ｕ、Ｖ、ｖ、Ｗ、ｗ）につき
９個ずつ存在するが、前述したように各アーム１４Ｕ−
ｗの構成は全て同様であるため、ここでは代表的にアー
ム１４Ｕに着目して各機構パラメータを説明する。

【００３４】図８〜１２に示すように、９個の機構パラ
メータは、(1) ボールジョイント１６Ｕの回転中心と
ボールジョイント１７Ｕの回転中心の間の離隔量Ｌ、
(2)基台１１に対するガイド２０Ｕの垂直面内における
傾斜角度α、(3) 基台１１の厚さ方向基準位置Ｋ１に
対して、ガイド２０Ｕが固定される支持部１１Ｕの基準
位置Ｋ２のオフセット量Ｂ３、(4) Ｘ軸に対するガイ
ド２０Ｕが固定される支持部１１Ｕの基準位置Ｋ２のオ
フセット量Ｂ２、(5) Ｙ軸に対するガイド２０Ｕが固
定される支持部１１Ｕの基準位置Ｋ２のオフセット量Ｂ
１、(6) Ｘ軸に対するガイド２０の水平面内における
傾斜角度β、(7) トラベリングプレート１２の厚さ方
向基準位置Ｋ４に対するボールジョイント１７Ｕの回転
中心Ｋ５のオフセット量ＴＰ３、(8) Ｘ軸に対するボ
ールジョイント１７Ｕの回転中心のオフセット量ＴＰ
２、(9) Ｙ軸に対するボールジョイント１７Ｕの回転
中心のオフセット量ＴＰ１である。

【００３５】したがって、機構パラメータの総数は９
（Ｌ，α，β，Ｂ１〜３，ＴＰ１〜３）個×６（Ｕ，
ｕ，Ｖ，ｖ，Ｗ，ｗ）軸＝５４個になるため、工作機械
１０の出荷前の調整時や客先メンテナンスにおける再調
整時において、これらの機構パラメータを１０μｍ以内
の誤差で測定して求めることは、極めて困難であり現実
的ではない。

【００３６】そこで、第１実施形態では、可動領域を分
割したそれぞれの領域内の各所定位置について解析的に
機構パラメータを算出することにより、前述した問題を
解決している。つまり、先に説明したトラベリングプレ
ート１２に取付けられた測定器４０と、テーブル５２に
載置される測定治具６０とにより、可動領域を分割した
それぞれの領域内の各所定位置に測定器４０を位置決め
する指令値に従って移動した工具先端（ここでは測定器
４０の各ダイヤルゲージの先端）の目標位置に対する駆
動制御の誤差を実測し、そのから算出した各機構パラメ
ータを媒介変数として制御装置７０の内部パラメータに
置き換えることによって、直交座標系で与えられる工具
先端の位置および姿勢の指令値から各サーボモータ３１
Ｕ−ｗの出力値への高精度変換を可能にしている。な
お、この第１実施例で媒介変数は上記測定から算出され
た機構パラメータそのものとして扱っているが、上記測
定から算出された機構パラメータと予め理論的に求めら
れた機構パラメータとの差分（誤差分）を媒介変数とし
てもよい。

【００３７】次に、測定器４０による測定値から各機構
パラメータを求める具体的な演算方法について説明す
る。まず、アクチュエータの座標から工具先端の座標に
変換する数式を次の数１に示す。

【００３８】

【数１】

【００３９】この数１によって、工具先端を目的位置に
移動させるにはアクチュエータ軸（ボール２４Ｕ）上の
スライドテーブル２６Ｕをどこまで移動させなければな
らないかを求めることができる。ここで、工具先端座標
（Ｘ，Ｙ，Ｚ，Ａ，Ｂ，Ｃ）を定数とした場合、数１は
機構パラメータの関数として捉えることができるため、
数１を次式の数２に変形する。

【００４０】

【数２】

【００４1】この数２は、各アクチュエータ軸（ｉ＝１
〜６）ごとに成り立ち、また１軸に対して９個の機構パ
ラメータが存在する。したがって、各アクチュエータ軸
ごとの９個の変数を求めるために軸ごとに９元連立方程
式を解く必要がある。そのため、上述したように測定治
具６０によって９本の基準ピン６３を用いて９箇所の目
標位置に対する駆動制御の誤差を実測するのである。こ
れにより、９つの式が得られるため、アクチュエータ軸
ごとに個々に９元連立方程式を解き、６軸分合計５４個
の機構パラメータを算出する。

【００４２】しかし、前記機構パラメータの関数は非線
形方程式であるため、数２の数式からは直接、各機構パ
ラメータを求めることはできない。そこで、数３に示す
ニュートン法による収束計算、即ち(ベクトルｄin−ベ
クトルｄin+1)の値が収束するまで数３の計算を繰り返
すことにより機構パラメータを求める。

【００４３】

【数３】

【００４４】具体的には、機構パラメータの理想値をベ
クトルＰiの初期値ベクトルＰi1とし、ある点Ｘjにおけ
るアクチュエータ座標の計算値（ベクトルＰ＝ベクトル
Ｐi1）を次式の数４にし、測定器４０による測定値をｄ
i0とすると、

【００４５】

【数４】

【００４６】数３により、次式の数５が得られる。この
数５の収束計算によりアクチュエータ軸１軸に対する機
構パラメータが算出される。したがって、この収束計算
を各軸（ｉ＝１〜６）ごとに行うことで、５４個すべて
の機構パラメータを求めることができる。

【００４７】

【数５】

【００４８】なお、工具先端座標（Ｘ，Ｙ，Ｚ，Ａ，
Ｂ，Ｃ）のうち、工作機械１０の使用条件から機能や性
能等に影響しない座標が存在すれば、その座標に関する
誤差は測定を省略することができる。例えばＺ軸の回転
方向がドリル（工具）の回転方向に対応する場合には、
Ｃ軸の誤差は加工に影響を及ぼさないので特に測定する
必要がなく、Ｃ軸の誤差は０であるとして上記の演算を
行って機構パラメータを算出することができる。

【００４９】制御装置７０による工作機械１０の制御
は、図７に示す機構パラメータ算出処理によって行われ
る。まず制御装置７０には、目標位置とする可動領域を
決める変数ｍの初期化処理を行い（Ｓ２１）、続いて第
１番目の可動領域（図１９ａにおいては領域ａ1）を目
標領域にするため変数ｍを０から１にするインクリメン
ト処理を行う（Ｓ２３）。次に可動領域を分割した領域
のうち、第１番目の領域に置かれた測定治具６０の各基
準ピンの直交座標系の指令値（Ｘ，Ｙ，Ｚ，Ａ，Ｂ，
Ｃ）が入力される（Ｓ２５）。即ち、前述した基準ピン
６３においては９本分の指令値が入力される。次に、目
標位置とする基準ピン６３の番号を決める変数ｎの初期
化処理を行い（Ｓ２７）、続いて第１番目の基準ピン６
３の所定位置を目標位置にするため変数ｎを０から１に
するインクリメント処理を行う（Ｓ２９）。

【００５０】そして、第１番目の基準ピン６３の直交座
標系指令値を出力座標系指令値（Ｕ，ｕ，Ｖ，ｖ，Ｗ，
ｗ）に変換した出力指令値を各サーボモータ２５Ｕ−ｗ
に出力する処理（Ｓ３１）を行い、測定器４０が取付け
られたトラベリングプレート１２を目標とする第１番目
の基準ピン６３の位置に移動させる。トラベリングプレ
ート１２の移動が完了すると、測定器４０を構成するダ
イヤルゲージ４４、４５、４６、角度計４７、４８およ
びセンサによって、トラベリングプレート１２のＸ軸、
Ｙ軸、Ｚ軸方向の位置誤差量およびＡ軸、Ｂ軸、Ｃ軸の
角度誤差量をそれぞれ測定する（Ｓ３３）。

【００５１】第１番目の基準ピン６３による各誤差量の
測定を終えると、測定を終えた基準ピンが最後の基準ピ
ンであるか否かを判断する（Ｓ３５）。ここでは、まだ
第１番目の基準ピン６３を測定したばかりであるから、
この判断はＮｏとなり、前述したステップ２９の変数ｎ
のインクリメント処理に処理を移行する。即ち、次の第
２番目の基準ピン６３に移るために変数ｎを２に変更す
る。

【００５２】第２番目の基準ピン６３についても前述の
第１番目の基準ピンと同様にステップ３１、３３の処理
を行い、第２番目の基準ピン６３による各誤差量を測定
する。このようにして第２番目から第９番目までの基準
ピン６３の各誤差量を測定し終えたところで、最後の基
準ピンになる第９番目の基準ピンにおいては先に説明し
たステップ３５の判断処理がＹｅｓになるため、次のス
テップ３７に処理を移行する。

【００５３】ステップ３７では、第１番目から第９番目
までの全ての基準ピンに対し測定した各誤差量から上述
した各機構パラメータ（媒介変数）を算出する処理を行
い、次いでこの算出した各機構パラメータを、予め設定
されていた第１番目の可動領域の内部パラメータに置き
換える処理を行う（Ｓ３９）。

【００５４】なお、各機構パラメータの算出は、測定し
た各誤差をキーボード７６から入力することにより、制
御装置７０によって行うことができる。この場合、算出
した各機構パラメータを、メモリ７２に記憶された内部
パラメータに直接置き換えることができる。また、測定
した各誤差を外部コンピュータに入力することにより、
外部コンピュータによって各機構パラメータを算出する
ようにしても良い。この場合は、外部コンピュータによ
り算出された各機構パラメータをキーボード７６から入
力することによって、メモリ７２に記憶された内部パラ
メータと書き換える必要がある。

【００５５】さらに、ステップＳ４１では、測定を終え
た可動領域が最後の領域であるか否かを判断する。ここ
では、まだ第１番目の可動領域を測定したばかりである
から、この判断はＮｏとなり、前述したステップ２３の
変数ｍのインクリメント処理に処理を移行する。即ち、
次の第２番目の可動領域に移るために変数ｍを２に変更
する。第２番目の可動領域についても前述の第１番目の
可動領域と同様にステップ２５〜ステップ３９の処理を
行い、第２番目の可動領域における機構パラメータを内
部パラメータに置き換える。このようにして全ての可動
領域の内部パラメータを置き換えたところで、最後の可
動領域においては先に説明したステップ４１の判断処理
がＹｅｓになるため、全て処理を終了する。以上説明し
たように、既知の位置および姿勢からなる複数の基準ピ
ン６３に対して得られる各誤差量を基に解析的に算出さ
れる各機構パラメータを、分割した可動領域毎に算出
し、制御装置７０の内部パラメータに置き換えることに
よって、直交座標系で与えられる工具先端の位置および
姿勢の指令値を各サーボモータ３１Ｕ−ｗの出力値に高
精度に変換することができる。これにより、ボールネジ
２４Ｕ−Ｗ、ロッド１５Ｕ−ｗ、ボールジョイント１６
Ｕ−ｗ、１７Ｕ−ｗ等の機構部品に加工誤差や組付誤差
等が生じ設計値と異なる値になっても機械的に校正をす
ることなく、トラベリングプレート１２を高精度に制御
でき、工場出荷前調整時や現地調整時における調整工数
を大幅に削減する効果がある。

【００５６】引き続き、第２実施形態に係る工作機械の
制御方法について図１４〜図１８を参照して説明する。
この第２実施形態の工作機械及び制御装置の構成は、図
１及び図６を参照して上述した第１実施形態とほぼ同様
である。但し、第１実施形態では、図６を参照して上述
したように制御装置７０に測定器４０が接続され、Ｘ、
Ｙ、Ｚの座標、Ａ、Ｂ、Ｃ軸を測定して機構パラメータ
を推定したが、この第２実施形態においては、２点間の
距離の変位を測定するＤＢＢ（ダブルボールバー）１６
０が測定器４０の代わりに接続される。

【００５７】図１４は、第２実施形態の制御方法におけ
る測定の概要を示している。この第２実施形態では、２
点間の距離の変位を測定するＤＢＢ１６０を用いて、ト
ラベリングプレート１２を移動しながら、固定点（ボー
ルの中心）Ｓとの距離を測定することで、機構パラメー
タを推定する。

【００５８】図１５（Ａ）に断面を示すようにＤＢＢ１
６０は、両端にボール（鉄球）１６４、１６６の配設さ
れたバー１６２から成る。バー１６２は、一対のバー１
６２Ａ、１６２Ｂを収縮可能に組み合わせてあり、内部
に収縮した変位量を出力する検出装置１６８が配設され
ている。この検出装置（ＤＢＢ１６０）１６８からの変
位量に基づき、制御装置７０（図６参照）は、該バー１
６２の長さ、即ち、ボール１６４の中心とボール１６６
の中心との距離ｒを検出する。

【００５９】ここで、トラベリングプレート１２に治具
１４０を取り付け、図１に示すテーブル５２に設けられ
た定盤（図示せず）にその位置が既知の固定点Ｓ１を設
ける。この治具１４０と固定点Ｓ１の先端は、ＤＢＢ１
６０の鉄球１６４、１６６を保持できるように磁化され
ている。ここでＤＢＢ１６０を４５°程度傾けること
で、トラベリングプレート１２のＺ方向の誤差を距離ｒ
から検出できるようにする。この状態でトラベリングプ
レート１２を動かし円を描かせる。この描かせる円（指
令値）の平面図（図１４を上側から見た図）を図１５
（Ｂ）に示す。そして、実際にトラベリングプレート１
２が描いた軌跡を図１５（Ｃ）に示す。図中に示すよう
に上述した機構パラメータの誤差量に応じて軌跡が指令
値上の円形から外れる。このため、トラベリングプレー
ト１２の移動中の距離ｒを何ポイントか求め、後述する
ように測定した距離ｒから最小自乗法により、誤差が最
小となるように機構パラメータを推定する。

【００６０】この測定について、図１６、図１７を参照
して更に詳細に説明する。ここでは、その位置が既知の
固定点として３点（固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３）を取り測
定を行う。図１７中に示すように固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ
３の内、固定点Ｓ１を工作機械１０のＸ軸上に取り、固
定点Ｓ２と固定点Ｓ３とをＹ軸と平行に取り、固定点Ｓ
１、Ｓ２、Ｓ３が正三角形になるようする。ここでは、
固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３を１辺３００mmの正三角形とす
ることで、長さ３００mmのＤＢＢ１６０にて位置を更正
し、固定点間の距離を正確に設定できるようにしてあ
る。

【００６１】図１６（Ａ）に示すように固定点Ｓ１、固
定点Ｓ２、固定点Ｓ３からの距離を測定することで、ト
ラベリングプレート１２に取り付けられた第１の治具１
４０の先端座標（Ｘ、Ｙ、Ｚ座標）が分かる。更に、第
１の治具１４０を長さの長い第２の治具１４２に付け替
えて、同様に、固定点Ｓ１、固定点Ｓ２、固定点Ｓ３か
らの距離を測定することで、トラベリングプレート１２
のＡ軸及びＢ軸の姿勢が分かる。

【００６２】まず、固定点Ｓ１に対して、短い第１の治
具１４０の取り付けられた状態で図中に示すように円を
描かせ、該円上の１０ポイント程度における距離ｒを測
定する。そして、固定点Ｓ２、固定点Ｓ３に対して、同
様に短い第１の治具１４０の取り付けられた状態で円を
描かせ、１０ポイント程度において距離ｒを測定する。
引き続き、治具を第２の長い治具１４２に付け替え、各
固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３に対して、円を描かせ、１０ポ
イント程度において距離ｒを測定する。この測定した距
離ｒに基づき後述するように機構パラメータを推定す
る。

【００６３】なお、上述した６回の測定では、工具の回
転方向の姿勢（Ｃ軸）することができない。これは、パ
ラレルリンク式の工作機械においては、Ｃ軸の誤差は問
題とならないので測定を省略したのである。ここで、Ｃ
軸の誤差を推定する際には、図１６（Ｂ）に示すよう
な，同一直線上にない３箇所にＤＤＢ１６０の鉄球１６
４を保持できるようにした治具１４３を用いて、それぞ
れの固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３とこの同一直線上にない３
点との距離を測定することで、Ｃ軸の姿勢を測定するこ
とも可能である。

【００６４】上述した例では、長さの異なる治具を付け
替えて測定を行っているが、工具軸線上の２点と各固定
点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３との距離が測定できさえすればよい
ので、工具軸線上の２箇所にＤＢＢ１６０の鉄球１６４
を保持できるようにした単一の治具を用いても同様に測
定できる。更に、上述した例では、トラベリングプレー
ト１２に円を描かせた。これは、ＤＢＢ１６０のバー１
６２の伸縮範囲、即ち、測定できる距離の範囲が狭いた
め、距離を大きく変えることなく複数のポイントにおい
て測定できるようにするためである。即ち、トラベリン
グプレート１２を半円状、矩形状に移動させ、複数のポ
イントで距離の測定を行うことでも可能であるが、円形
に移動させる方が測定は行い易いからである。更に、上
述した例では、固定点Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３を正確に正三角
形を描かせるように配置することで、測定誤差を小さく
しているが、固定点は、任意の位置に配置することがで
きる。

【００６５】引き続き、距離ｒから機構パラメータを算
出する方法について説明する。上述した第１実施形態で
は、ニュートン法を使用したが、第２実施形態では、Ｔ
ａｙｌｏｒの微分補正法を応用して機構パラメータを推
定する。まず、ＤＢＢ１６０のデータは、距離（円の半
径）ｒの一次元量である。そこで、半径ｒとアクチュエ
ータ座標、機構パラメータとの関係を次の数６のように
置く。なお、図１４中に示すように、固定点側のボール
の中心Ｓは、固定座標となるため、半径ｒはアクチュエ
ータ座標と機構パラメータの関数となる。

【数６】

【００６６】ここで、両辺をパラメータの変化について
全微分すると次の数７のようになる。上述した第１実施
形態と同様に、各アクチュエータ軸（ｉ＝１〜６）毎に
９個の機構パラメータ（６×９＝５４）が存在してい
る。

【数７】

【００６７】dpiの推定値をepiとし、その計算結果とdr
との差を残差e、∂ｇ／∂piをαiとすると上記数７は、
次の数８のように表すことができる。

【数８】

【００６８】上記数６中のgの関数形は分からないた
め、機構パラメータを図１７のグラフに示すように設計
値（pi）の近傍で適当にふって（pi−Δp、pi＋Δp）、
順変換を行い、線形に近似したときの傾きをαiとす
る。また、この値はアクチュエータ座標の値によっても
異なるので、アクチュエータ座標の各点において逐次計
算する。ｎ個の測定点に対する残差の平方和をＳｅとす
ると、次の数９のように表すことができる。

【数９】

【００６９】ここで各パラメータについて偏微分を行う
と次の数１０が成立する。

【数１０】 同様に他のパラメータについても計算できる。

【００７０】偏微分値を０とすると次の数１１としてパ
ラメータを表すことができる。

【数１１】 この数１１から、各パラメータの誤差（機構パラメー
タ）を求める。即ち、上述した半径（距離）ｒのデータ
について計算を繰り返し、機構パラメータの値を収束さ
せる。

【００７１】この第２実施形態では、第１実施形態と測
定方法と比較して測定器としてＤＢＢ１６０のみを用意
すれば良く、また、測定が容易であるため、測定を短時
間で完了できる利点がある。

【００７２】以上説明したように、第２実施形態の制御
方法においては、測定器（ＤＢＢ）１６０にて測定した
距離ｒを基に解析的に算出される各機構パラメータを、
制御装置７０の内部パラメータに置き換えることによっ
て、直交座標系で与えられる工具先端の位置および姿勢
の指令値を各サーボモータ３１Ｕ−ｗの出力値に高精度
に変換することができる。これにより、ボールネジ２４
Ｕ−Ｗ、ロッド１５Ｕ−ｗ、ボールジョイント１６Ｕ−
ｗ、１７Ｕ−ｗ等の機構部品に加工誤差や組付誤差等が
生じ設計値と異なる値になっても機械的に校正をするこ
となく、トラベリングプレート１２を高精度に制御で
き、工場出荷前調整時や現地調整時における調整工数を
大幅に削減する効果がある。

【００７３】

【発明の効果】請求項１又は２の発明では、トラベリン
グプレートの全可動範囲を分割し、各分割された領域の
中で、直交座標系で与えられる指令値が駆動制御の誤差
を補正する各分割された領域毎に固有の媒介変数に基づ
きアクチュエータの出力値に変換し、その出力値により
制御されるアクチュエータによってパラレルリンク機構
が駆動されるため、パラレルリンク機構を構成する機構
部品に加工誤差や組付誤差等があっても、直交座標系で
与えられる工具先端の位置および姿勢の指令値を各アク
チュエータの出力値に高精度に変換することができる。
この場合のアクチュエータの出力値は全可動範囲で共通
の媒介変数を用いて出力されたアクチュエータの出力値
よりも高精度に変換することができる効果がある。

【００７４】請求項３の発明では、全可動領域の大きさ
と、実現しようとする位置決め精度の値を勘案して分割
数を決定するため全可動領域の大きさが小さい場合や実
現しようとする位置決め精度が低い場合は分割数を減ら
して分割した領域で媒介変数を求める手間を減らし、全
可動領域の大きさが大きい場合や実現しようとする位置
決め精度が高い場合は分割数を増やして柔軟に対応する
ことができる効果がある。請求項５の発明では、要求さ
れる位置決め精度や予めわかっている数値のみを使用し
て媒介変数を求めることで簡単に高精度な位置決めを達
成することができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係る工作機械の制御方法
により制御される工作機械全体の機械的構成を示す斜視
図である。

【図２】図１に示す工作機械の機械的構成を示す斜視図
である。

【図３】測定器と基準ピンを示す説明図である。

【図４】図４に示すIV方向矢視による矢視図である。

【図５】測定治具を示す平面図である。

【図６】図１に示す工作機械の制御装置の構成を示すブ
ロック図である。

【図７】第１実施形態の制御装置による各処理の流れを
示すフローチャートである。

【図８】機構パラメータＬ、α、Ｂ１を示す説明図であ
る。

【図９】機構パラメータＴＰ１、ＴＰ２を示す説明図で
ある。

【図１０】図８に示すＪ１部分を拡大した説明図で、機
構パラメータＢ３を示すものである。

【図１１】図８に示すＪ２部分を拡大した説明図で、機
構パラメータＴＰ３を示すものである。

【図１２】図１０に示すXII方向矢視による説明図で、
機構パラメータβ、Ｂ２を示すものである。

【図１３】パラレルリンク機構による工作機械の座標系
を示す模式図である。

【図１４】第２実施形態に係るパラレルリンク機構の測
定を示す模式図である。

【図１５】図１５（Ａ）はＤＢＢの断面図であり、図１
５（Ｂ）はパラレルリンク機構の移動指令値に基づく軌
跡であり、図１５（Ｃ）のパラレルリンク機構の実際の
移動軌跡である。

【図１６】図１６（Ａ）、図１６（Ｂ）は、第２実施形
態に係るパラレルリンク機構の測定を示す模式図であ
る。

【図１７】第２実施形態に係るパラレルリンク機構にお
ける測定時の固定点の平面図である。

【図１８】機構パラメータを順変換して線形に近似した
グラフである。

【図１９】全可動領域分割説明図

【図２０】領域分割を考慮した座標変換のフローチャー
ト

【符号の説明】

１０ 工作機械 １１ 基台 １２ トラベリングプレート １４Ｕ−ｗ アーム（パラレルリンク機構） １５Ｕ−ｗ ロッド（パラレルリンク機構） １６Ｕ−ｗ ボールジョイント（パラレルリンク機構、
第１対偶） １７Ｕ−ｗ ボールジョイント（パラレルリンク機構、
第２対偶） ２０Ｕ−ｗ ガイド（パラレルリンク機構） ２２Ｕ−ｗ ベース（パラレルリンク機構） ２４Ｕ−ｗ ボールネジ（パラレルリンク機構、アクチ
ュエータ） ２５Ｕ−ｗ サーボモータ（アクチュエータ） ２６Ｕ−ｗ スライドテーブル（パラレルリンク機構） ４０ 測定器（測定装置） ４４、４５、４６ ダイヤルゲージ（測定装置） ４７、４８ 角度計（測定装置） ４９ ミラー（測定装置） ６３ 基準ピン（突起部） ７０ 制御装置 １４０、１４２ 治具 １６０ ＤＢＢ（測定装置） １６４、１６６ ボール Ｋ１ （基台の厚さ方向基準位置） Ｋ２ （ガイドの基台固定位置） Ｋ４ （トラベリングプレートの厚さ方向基準位置） Ｋ５ （第２対偶の回転中心） Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３ 固定点 a1,b1,c1,d1,a2,b2,c2,d2,a3,b3,c3,d3 分割後領域

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｆ１６Ｈ 21/46 Ｇ０５Ｂ 19/02 Ｗ ５Ｈ３０３ Ｇ０５Ｂ 19/02 Ｇ０５Ｄ 3/12 Ｔ Ｇ０５Ｄ 3/12 Ｂ２３Ｑ 1/14 Ｃ Ｆターム(参考） 3C001 KA01 KB10 TA02 TB02 3C007 AS05 BS24 HT08 HT11 LT12 LV04 MT04 3C048 BC02 BC03 DD00 3J062 AA21 AB28 BA14 BA35 CB04 CB28 CB33 5H219 AA08 BB06 CC11 CC19 DD04 EE05 FF01 FF09 GG01 HH05 HH26 HH28 5H303 AA01 BB03 BB09 BB11 CC01 DD01 DD25 DD26 EE01 EE03 EE09 FF09 GG06 GG11 HH05 HH07 KK22 LL03

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 外部に固定される基台と、この基台にパ
   ラレルリンク機構を介して保持されるトラベリングプレ
   ートと、このトラベリングプレートに取付けられる工具
   と、前記パラレルリンク機構を駆動する複数のアクチュ
   エータと、直交座標系で与えられる指令値を前記アクチ
   ュエータの出力値に変換して前記アクチュエータを制御
   する制御装置と、を備えた工作機械の制御方法であっ
   て、前記制御装置は、前記トラベリングプレートの可動
   領域を複数に分割し、この分割された可動領域毎に駆動
   制御の誤差を補正する媒介変数を持ち、直交座標系で与
   えられる指令値を、前記指令値の存在する可動領域に対
   応する前記媒介変数に基づき前記アクチュエータの出力
   値に変換し、前記アクチュエータを制御することを特徴
   とする工作機械の制御方法。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の工作機械の制御方法に
   おいて、前記媒介変数は、複数に分割した前記トラベリ
   ングプレートの可動領域内それぞれにおいて前記トラベ
   リングプレートの位置および姿勢に対する指令値とこの
   指令値による駆動制御後の前記トラベリングプレートの
   位置および姿勢の実測値とに基づいて算出するか、ある
   いは前記トラベリングプレートと所定点との距離の測定
   値に基づいて算出したことを特徴とする工作機械の制御
   方法。
3. 【請求項３】 請求項1又は請求項２に記載の工作機械
   の制御方法において、前記複数に分割した前記トラベリ
   ングプレートの可動領域の分割数を、全可動領域の大き
   さを一定としたとき、要求される位置決め精度が高くな
   るほど分割数を増やすようにしたことを特徴とする工作
   機械の制御方法。
4. 【請求項４】 請求項１〜３の何れか１つに記載の工作
   機械の制御方法において、前記パラレルリンク機構は、
   前記基台に所定の傾斜角度αで放射状に固定され、２本
   ずつ等間隔に配置された６本のガイドと、前記ガイドの
   長手方向に移動可能に各々のガイドに設けられた６つの
   スライドテーブルと、前記６つのスライドテーブルを独
   立して移動させる駆動装置と、一端が第１対偶を介して
   前記スライドテーブルの各々に連結され、他端が第２対
   偶を介して前記トラベリングプレートに連結される６本
   のロッドと、からなることを特徴とする工作機械の制御
   方法。
5. 【請求項５】 請求項１〜４の何れか１つに記載の工作
   機械の制御装置において、前記媒介変数は、(1) 前記
   第１対偶の回転中心と第２対偶の回転中心の間の離隔量
   Ｌ、(2) 前記基台に対する前記ガイドの垂直面内にお
   ける傾斜角度α、(3) 前記基台の厚さ方向基準位置か
   ら前記ガイドの基台固定位置までの離隔量Ｂ３、(4)
   前記基台の中心に垂直に位置する基台第１軸に直交しか
   つ前記ガイドの反基台方向に延びる基台第２軸から前記
   ガイドの基台固定位置までの離隔量Ｂ２、(5) 前記基
   台第１軸および第２軸にそれぞれ直交する基台第３軸か
   ら前記ガイドの基台固定位置までの離隔量Ｂ１、(6)
   前記基台第２軸に対する前記ガイドの水平面内における
   傾斜角度β、(7) 前記トラベリングプレートの厚さ方
   向基準位置から前記第２対偶の回転中心までの離隔量Ｔ
   Ｐ３、(8) 前記トラベリングプレートの中心に垂直に
   位置するトラベリングプレート第１軸に直交しかつ前記
   ロッドの前記第１対偶側に延びるトラベリングプレート
   第２軸から前記第２対偶の回転中心までの離隔量ＴＰ
   ２、(9) 前記トラベリングプレート第１軸および第２
   軸にそれぞれ直交するトラベリングプレート第３軸から
   前記第２対偶の回転中心までの離隔量ＴＰ１、のうちの
   少なくとも１つであることを特徴とする工作機械の制御
   方法。