JPH11103041A - 光電変換装置およびその作製方法 - Google Patents
光電変換装置およびその作製方法Info
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 21
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 145
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 36
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 30
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 26
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 24
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 14
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 13
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 claims description 8
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 claims description 8
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 5
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 5
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 claims description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 4
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims description 4
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 4
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 4
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 claims description 3
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 claims description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 25
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 13
- ORQBXQOJMQIAOY-UHFFFAOYSA-N nobelium Chemical compound [No] ORQBXQOJMQIAOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 2
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N lawrencium atom Chemical compound [Lr] CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14603—Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14625—Optical elements or arrangements associated with the device
- H01L27/14627—Microlenses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
- H01L27/14632—Wafer-level processed structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14665—Imagers using a photoconductor layer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0232—Optical elements or arrangements associated with the device
- H01L31/02327—Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements being integrated or being directly associated to the device, e.g. back reflectors
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S438/00—Semiconductor device manufacturing: process
- Y10S438/942—Masking
- Y10S438/948—Radiation resist
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
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- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
る。 【解決手段】信号転送素子101と光電変換素子102
が積層してなる光電変換装置において、光電変換素子1
02の下部電極104に湾曲部を有させ、均一に光閉じ
込めを行うことによって感度を向上させる。
Description
方に光電変換素子を積層してなる光電変換装置に関す
る。特に、光電変換装置の感度向上に関する。
装置である。光電変換素子とは、光エネルギーを電気エ
ネルギーに変換する素子と電気エネルギーを光エネルギ
ーに変換する素子である。光電変換素子のうち、光エネ
ルギー(光信号)を電気エネルギー(電気信号)に変換
する素子は、エネルギー発生を目的とした光起電力素子
(太陽電池)と、信号処理を行なうための受光素子とが
ある。この受光素子は、光起電力効果を用いたホトダイ
オード、ホトトランジスタや、光導電効果を用いた光導
電セル等がある。光電変換装置の一つであるイメージセ
ンサは、集積回路技術の進歩により、ホトダイオードや
光導電セルと信号転送素子とを同一素子基板上に集積化
した装置であり、広く用いられるようになってきてい
る。
一般に光エネルギー(光信号)を効率よく電気エネルギ
ー(電気信号)に変換するため、様々な工夫がなされて
いる。例えば光電変換素子の電極をテクスチャー構造に
して光電変換素子の中で光を散乱させ、光電変換素子
(太陽電池)のエネルギー発生量を向上させている。し
かしテクスチャー構造の光散乱は確率論的な乱反射であ
るので意識的に制御できず、均一に電気エネルギー(電
気信号)を増すことはできない。
ているのはイメージセンサである。イメージセンサを用
いたデジタルスチルカメラ、カムコーダ等がマルチメデ
ィアの到来に伴って急速に普及しており、イメージセン
サに入った光信号を電気信号に変換する効率(変換効
率)を向上させる試みが盛んになされている。イメージ
センサは同一素子基板の同一平面上に光電変換素子と信
号転送素子などが配置される結果、イメージセンサの信
号転送素子の領域は光電変換のできないデッドスペース
となる。そこで光信号を光電変換装置の光電変換素子の
領域に集光させるため、マイクロレンズを設けたイメー
ジセンサが提案されている。
層させ、光電変換機能と信号転送機能とを垂直方向に機
能分担させる図2に示すような積層型のイメージセンサ
が提案されている。図2に示すのは積層型のイメージセ
ンサの一画素の断面図である。積層型のイメージセンサ
は、信号転送素子201を集積化した基板上に光電変換
素子202を形成するものである。図2に示すような積
層型のイメージセンサの構造にすると、同一平面上に光
電変換素子と信号転送素子が配置されるイメージセンサ
と比べデッドスペースをほとんどなくすことができるの
で、イメージセンサの光電変換素子の領域を増やすこと
ができる。また、図2では信号転送素子201にトップ
ゲート型のMOSトランンジスタを用いたMOS形イメ
ージセンサを示したが、信号転送素子にMOSキャパシ
タを利用したCCDイメージセンサや、他の信号転送素
子を用いたイメージセンサを積層型のイメージセンサに
用いることもできる。
に小型、さらに安価とすることが要求されている。現
に、イメージセンサの大きさは年々小さくなりつつあ
り、イメージセンサの大きさを決定する光学系の大きさ
が80年代の2/3インチから現在の1/4インチにま
でなっており、実際に1/4インチカメラ用のイメージ
センサーが商品化されている。また、イメージセンサの
光学系の大きさが小さくなると安価なイメージセンサを
作製できる。イメージセンサの大きさを小さくし、なお
かつ従来と同じ解像度または従来よりも高い解像度を有
する高画質なイメージセンサを得ようとすると、一画素
の大きさを小さくした高密度なイメージセンサが必要に
なる。実際に、イメージセンサの光学系の縮小に伴い画
素の大きさも小さくなっており、一画素の大きさが10
μm×10μm以下のイメージセンサも商品化されてい
る。そして、今後も画素の大きさの縮小化はさらに進む
と予想される。
なると、一画素に入る光信号はそれだけ小さくなる。そ
して、イメージセンサの光電変換素子で変換される電気
信号も小さくなり、すなわち発生する電荷の量が少なく
なるので、発生する電荷の量に対し装置内外の電気的影
響により発生するノイズの相対的な割合が増し、感度が
低下する。
小さなイメージセンサを得るために、イメージセンサの
一画素の大きさを小さくしていくと、イメージセンサの
感度が低下するという問題が生じる。画素の縮小に伴う
イメージセンサの感度低下を解決するためには、従来の
マイクロレンズを設けたり、光電変換素子と信号転送素
子を積層化させるだけでは不十分である。
めて、発生する電荷量を向上させれば感度を向上させる
ことができる。しかし、テクスチャー構造の電極を有す
る光電変換素子をイメージセンサに用いると、散乱光を
制御できず、各画素毎の感度にばらつきが生じる。
向上させ、かつ各画素毎の感度の均一性を持ったイメー
ジセンサを得ることを目的とする。また、本発明はイメ
ージセンサに限らず、光電変換素子を有する光電変換装
置の感度を向上させ、かつ感度の均一性を持った光電変
換装置を得ることを目的とする。
素子に入った光信号(以後光とする)をむだなく電気信
号(以後電荷とする)に変換させることによって感度を
上げることができる。特に均一に光を閉じ込めるために
本発明は、光の反射、集光、分散を利用して光を集めて
制御することを特徴とする。そこで、本発明は光電変換
装置の光電変換素子に用いられている電極に注目した。
置において、信号転送素子の上方に有機樹脂膜が設けら
れ、有機樹脂膜の上方に光電変換素子が設けられ、光電
変換素子の下部電極は湾曲部を有することを特徴とする
光電変換装置である。
示しているのは、信号転送素子101と光電変換素子1
02が積層してなる光電変換装置の一画素の断面図であ
る。光電変換素子102は下部電極104、光電変換層
106、上部電極105からなる。信号転送素子101
の上方に有機樹脂膜103が設けられ、有機樹脂膜10
3の上方に光電変換素子102が設けられ、光電変換素
子の下部電極104は湾曲部を有する。図1は光電変換
装置の一画素分の断面を示しており、一画素の下部電極
にに3個の湾曲部が設けられている。すなわち図1に示
す光電変換装置は一画素に3×3の9個の湾曲部が形成
されている。湾曲部を有する下部電極104は光閉じ込
めの効果が大きい。また集光機能を有しているので光を
均一に閉じ込めることができる。また各画素毎の感度の
ばらつきを防ぐため下部電極の湾曲部の配置を各画素毎
に同じ配置とすると好ましい。さらに下部電極104で
集光された光が上部電極105で再反射される際に上部
電極も湾曲部を有すると、この上部電極によって意識的
に光を分散させることができ、上下の電極で分散、集光
を繰り返すことにより、感度を均一に向上できる。
1の構成において、光電変換素子の下部電極の材料、特
に表面材料は、アルミニウム、モリブデン、タンタル、
チタン、金、銀、白金から選択された金属材料であるこ
とを特徴とする光電変換装置である。本発明の第1の構
成は光電変換素子の下部電極が湾曲部を有し、下部電極
の湾曲部を用いて電荷に変換されなかった光を反射、集
光させることを特徴としている。すなわち下部電極での
反射光を集光させることを特徴としており、その下部電
極の表面材料に反射率の高い材料を設けることは必須で
ある。
の構成または本発明の第2の構成において、光電変換素
子の下部電極の湾曲部の高低差は0.25μm〜4μm
であることを特徴とする光電変換装置である。高低差は
湾曲部を形成する時に用いるレジストの紫外線透過厚に
よって限定される。光電変換素子の下部電極の湾曲部の
高低差(図1の110)は反射角度に影響する。この湾
曲部を利用して光を反射、集光させるので、ある程度高
低差の大きい湾曲部、すなわちある程度の反射角度を有
する湾曲部を必要とする。また光電変換素子の下部電極
の湾曲部は、球面レンズ状でなくともシリンドリカルレ
ンズ状でもかまわない。
1乃至第3の構成において、光電変換素子の下部電極の
湾曲部は、下部電極と信号転送素子とを接続するための
コンタクトホールより大きく、一画素の大きさより小さ
いことを特徴とする光電変換装置である。図1を用いて
本発明の第4の構成を説明する。光電変換素子の下部電
極の湾曲部の大きさ111は、下部電極104と信号転
送素子101とを接続するためのコンタクトホール11
2より大きく、一画素の大きさ113より小さければよ
い。図1の光電変換装置の断面図は、3個の湾曲部を有
する構造としたが、1個や2個でも、また3個よりさら
に複数でもかまわない。
1乃至第4の構成において、有機樹脂膜の材料は、ポリ
イミド、ポリアミド、ポリイミドアミド、またはアクリ
ル樹脂から選択された有機樹脂であることを特徴とする
光電変換装置である。
は、光電変換素子で変換された電気信号の蓄積機能と、
信号蓄積と読み取りの切り換え機能と、画素位置の選択
機能とを少なくとも有する信号転送素子全てを含む。さ
らに、読み取り機能の他に、増幅機能を備えた信号転送
素子も含む。ゆえに、図1の信号転送素子にはMOSト
ランジスタを用いたが、MOSキャパシタ、MOSトラ
ンジスタやMOSキャパシタを組み合わせた信号転送素
子、または他の信号転送素子を用いることもできる。そ
して、図1のイメージセンサにはMOS形イメージセン
サを用いているが、CCDイメージセンサ、CIDイメ
ージセンサ、CPDイメージセンサ、及びそれらを組み
合わせたイメージセンサを用いることもできる。また、
本発明を用いると、光電変換層の表面積を広げることが
でき、光電変換効率を上げることができる。
方法、つまり光電変換素子の下部電極表面に湾曲部を形
成する方法は、下部電極を等方性エッチングして形成さ
せてもよいが、均一で滑らかな湾曲部を形成するため、
本発明の第6の構成では下部電極の下方の有機樹脂膜に
湾曲部を形成し、その上方に湾曲部を有する下部電極を
形成する。
成の光電変換装置の作製方法である。すなわち図1に示
す光電変換装置の作製方法である。本発明の第6の構
成、すなわち図1の光電変換素子の作製方法を図1、図
3、及び図6に示す。まず図3(a)に示すように、基
板107上に信号転送素子101を形成し、信号転送素
子101の上方に有機樹脂の平坦化膜301を形成す
る。次に、図3(b)に示すように平坦化膜301上に
レジスト302を形成する。次に、図3(c)に示すよ
うに、レジスト302に湾曲部を形成する。そして、平
坦化膜302をレジスト303の湾曲部とほぼ同じ形状
にエッチングして、図3(d)に示す構造を得る。その
後、図1に示すように、コンタクトホールを形成し、光
電変換素子の下部電極104を形成し、下部電極104
の上に光電変換層106と上部電極105を形成して、
第1の構成の光電変換装置を作製する。
1に湾曲部を形成する方法は、レジスト302にパター
ニングによって湾曲部を形成しそれをエッチングする方
法を用いる。パターニング方法にはパターンを密着さ
せて一括露光する方法と、パターンを基板から離して
焦点を合わせて露光するステッパやミラープロジェクシ
ョンアライナ(MPA)を用いる方法や、プロキシミテ
ィ方式がある。
できるだけ良くするよう検討されている。例えば、の
方法を用いた場合、マスクパターンを解像度よく基板に
投影するために、光学系を用いる等をしている。本発明
は逆に、解像度を低くして像をぼかし、パターニング形
状を不明瞭とし、湾曲部を形成するものである。基板と
マスクが離れているため光のまわりこみが生じることも
合わせて考慮すると、湾曲部を形成することは可能であ
る。
点深度と基板の位置を合わせるのが一般的だが、本発明
では逆に焦点深度と基板の位置を意識的にずらす。光学
系を調節して焦点深度をずらすか、基板の位置を動かす
せば焦点深度と基板の位置をずらすことができる。以
下、図6および図7を用いながら、湾曲部の具体的な形
成方法を説明する。図6(a)は、円形がくり抜かれた
パターンが印刷されるマスクである。図6(b)に示す
のは、図6(a)のマスク601のA−B断面図とポジ
型のレジスト602の断面図である。マスクの上方から
矢印で示す光605が入射し、マスクと離して置かれて
いるポジ型のレジストを露光する。マスクと離してレジ
ストを置くため光のまわり込みが生じ、一部の光607
は斜めに進む。そして焦点が合っている状態からマスク
とレジストとの距離603を少しずらして露光すると、
図6(c)に示すパターニング形状の不明瞭な凹湾曲部
を有するレジスト604を形成できる。
とほぼ逆転させた、図7(a)に示す円形のパターンが
印刷されているマスク701を用いて、図7(b)に示
すようにポジ型のレジスト702を図6のマスクを用い
たときと同様に露光すると、今度は図7(c)に示す凸
湾曲部を形成できる。また図6、図7では球面レンズ状
の湾曲部を形成したが、シリンドリカルレンズ状に湾曲
部を形成したい場合には細長い長方形のパターンが印刷
されたマスクを用いるて形成することができる。
レジストのどちらを用いてもよい。同じ種類のレジスト
を用いた場合、図6、図7で示したようにマスクパター
ンを逆転させれば、凹凸が逆になった湾曲部を形成でき
る。また、同じマスクパターンを用いた場合、ポジ型レ
ジスト、ネガ型レジストを使い分ければ、凹湾曲部も凸
湾曲部も形成することができる。すなわち、マスクパタ
ーンとレジストの選択により凸湾曲部も凹湾曲部も形成
できる。さらに有機樹脂膜(例えば図3(a)の30
1)に感光性ポリイミドを用いて、その感光性ポリイミ
ドを図6に示すように直接パターニングで形成すること
でレジストを用いることなく直接有機樹脂膜に湾曲部を
形成できる。感光性ポリイミドとしては、商品名ホトニ
ースのネガ型のレジスト等がある。
0は、レジスト厚611により限定される。ここでレジ
スト厚とはレジストを露光できうる厚み、すなわちレジ
ストの紫外線透過厚であり、現在の技術ではレジスト厚
0.25μm〜4μmである。ゆえに湾曲部の高低差は
0.25μm〜4μmとなる。
りコントロールでき、湾曲部の大きさと湾曲部の高低差
をコントロールすることにより湾曲部の形状を変えるこ
とができる。湾曲部は、球面レンズ状の近似的半円球面
もしくはシリンドリカルレンズ状の近似的半円柱面を有
する形状にすることが好ましい。本発明の第6の構成に
おいて、上記方法を用いて図3(c)に示す湾曲部を有
するレジスト303を形成し、そのレジスト303をエ
ッチングして図3に示す有機樹脂平坦化膜301に湾曲
部を形成する。エッチングはレジストと有機樹脂膜の選
択比が1対1から1対2、好ましくは選択比がほぼ1対
1の方法を用いて行なう。
膜の上方に光電変換素子の下部電極、光電変換層、上部
電極を形成する。下部電極は平坦にならないように無機
材料を用いて湾曲部を形成する。また光電変換層、上部
電極に無機材料を用いて湾曲部を形成すると上部電極も
湾曲部を有するのでさらに好ましい。
に、積層型の光電変換装置において、信号転送素子10
1の上方に有機樹脂膜103が設けられ、有機樹脂膜1
03の上方に光電変換素子102が設けられ、光電変換
素子の上部電極105の上にマイクロレンズ401が設
けられ、光電変換素子の下部電極104は湾曲部を有す
ることを特徴とする光電変換装置である。本構成は、本
発明の第1の構成の光電変換装置の上にマイクロレンズ
を設けた光電変換装置である。
め、一画素に1個のマイクロレンズを形成している。し
かし、積層型にすることによって、画素と光電変換素子
をほぼ同じ大きさとすることが可能となり、光を集める
必要はなくなってきている。一方、表面にマイクロレン
ズを形成すると、光をロスなく光電変換素子に取り入れ
ることができる。
は、一画素に1個のマイクロレンズを設けているが、画
素が角形でマイクロレンズが球形なので、画素の四つ角
にはレンズがない領域となる。そこで、1画素当りのマ
イクロレンズの個数に関しても検討した。
は、マイクロレンズの大きさを小さくし、一画素に複数
のマイクロレンズを間隔がほとんどゼロとなるように配
置することによって達成できる。さらに、マイクロレン
ズが厚いとマイクロレンズ自体に光が吸収されてしま
う。一画素に複数のマイクロレンズを設ければ、一つの
マイクロレンズは小さくなるので、マイクロレンズの厚
みを薄くでき、光のロスを少なくすることができる。さ
らに、複数のマイクロレンズを形成すると、複数の集光
点が生じ、変換効率を上げることができる。
子の下部電極の大きさと同じであっても違っていてもか
まわない。さらに、マイクロレンズの凸部と光電変換層
の凹部または凸部の位置は、揃っていてもずれていても
構わない。しかしマイクロレンズの凸部と下部電極の凹
部の位置を揃えると両凸マイクロレンズとなるので、片
凸マイクロレンズよりも効率がさらに上がり好ましい。
するため、各画素のマイクロレンズの配置を同じ配置と
する。その際、セルの境界付近にマイクロレンズがある
とパターニングが多少ずれただけでセルの感度に影響を
与えてしまう。よって、セルの境界線付近にはマイクロ
レンズを配置しないようにするとさらによい。
成の光電変換装置の作製方法である。図4に示す信号転
送素子101の上方に光電変換素子102を積層してな
る光電変換装置の作製方法であり、第1の構成の光電変
換装置の上方にマイクロレンズを形成した光電変換装置
の作製方法である。第1の光電変換装置を作製するまで
は、第6の構成と同じ方法を用いる。
ず、図5(a)に示すように、光電変換層の上部電極1
05の上方に有機樹脂の平坦化膜501を形成し、その
上にレジスト502を形成する。このレジストに例えば
ポジ型のレジストを用いた場合、図7に示すようなマス
ク701を用いてパターニングして、図7(c)に示す
凸湾曲部を有するレジスト704(すなわち図5(c)
の503)を形成する。そして、レジストと有機樹脂膜
のエッチング選択比が1対1から1対2、好ましくはほ
ぼ1対1となるようにエッチングして、図4のマイクロ
レンズを形成することができる。
04、光電変換層106、上部電極105からなる光電
変換素子102の下部電極104が湾曲部を有する積層
型のイメージセンサおよびその作製方法である。下部電
極104を湾曲部にすると、光を集めることができるの
で、光を均一に閉じ込めることができる。
断面図を示す。本実施例の光電変換装置には、ソース領
域120、チャンネル領域121、ドレイン領域122
を有する半導体層と、ゲート絶縁膜123、ゲート電極
124を有するトップゲート型のMOSトランジスタ1
01が設けられ、MOSトランジスタ101の上にポリ
イミド膜103が設けられている。
mである。しかし、画素の大きさは本実施例では10μ
m×10μmとしたが、この大きさに限定されることは
ない。またMOSトランジスタの上に設けられているポ
リイミド膜103の材料は、アクリル樹脂、ポリアミ
ド、ポリイミドアミド等の他の有機樹脂でもよい。
して本実施例ではPINダイオード102が設けられて
いる。PINダイオード102の下部電極としてアルミ
ニウム104、上部電極としてITO105が設けら
れ、アルミニウム104は湾曲部を有する。本実施例で
はPINダイオードの下部電極として金属の中でも反射
率の大きいアルミニウムを設けているが、表面にアルミ
ニウムが設けられているような、チタンやモリブデンと
アルミニウムの積層膜でもよい。さらに、アルミニウム
以外の反射率の大きな金属材料である、チタン、モリブ
デン、タンタル、白金、金、銀を下部電極の表面材料に
用いることもできる。
INダイオードを設けているが、他のホトダイオードや
光導電セル等であってもよい。また感度の均一性を有さ
せるために、PINダイオードの下部電極であるアルミ
ニウム104の湾曲部の配置を各画素ごとに同じ配置と
するとさらによい。
が再びITO105で反射される際にITOも湾曲部を
有する場合には、反射光がこのITOの湾曲部によって
意図的に分散させることができ、上下の電極で光の分
散、集光を繰り返すことによりより感度を均一に向上で
きる。
光電変換素子の作製工程を示す。まず、図3(a)に示
すように、トップゲート型のMOSトランジスタ101
を形成し、その上方に厚み5μm〜10μmのポリイミ
ドの平坦化膜301を設ける。ポリイミドの平坦化膜3
01の上に、図3(b)に示すようにポジ型のレジスト
302を付ける。レジストは、1μm〜3.5μmの厚
みを持つように形成する。
から焦点深度を少しずらし、図6(a)に示す円が抜か
れたパターンが印刷されているマスク601を用い、ポ
ジ型レジスト302を図3(c)のように凹湾曲部を有
するレジスト303に加工する。図6(a)のマスク6
01は、一画素に相当するマスクを示しており、本実施
例では一画素に3×3の9個の湾曲部を形成する。この
マスクの円の大きさ606は2μm〜3μmであるよう
に設計されている。
ナ(MPA)を用いる。露光の再にMPAの光学系の焦
点深度を微妙にずらし、パターンをぼかしてレジスト露
光を行い、湾曲部にパターニングする。湾曲部の高低差
610はレジスト厚611とほぼ同じか、それより少し
小さい0.5μm〜3.5μmである。また、湾曲部の
大きさ612はほぼマスクの円の直径613と同じか、
それより少し大きい2μm〜3.5μmである。
とほぼ同じ形状にポリイミド301を形成するため、エ
ッチングレートがほぼ1対1となるような条件でRIE
異方性エッチングを行なう。エッチングは、CF4 /O
2 を5対95の割合で混合したエッチングガスを用いて
RIE異方性エッチングを行なう。このエッチングガス
を用いると、レジストと、ポリイミドのエッチング選択
比をほぼ1対1にすることができる。
ッチングガスを用いてRIE異方性エッチングを行なっ
たが、レジストとポリイミドのエッチング選択比を1対
1から1対2になるような、他の材料や他の条件でRI
E異方性エッチングすることも可能である。また、一般
のドライエッチングによっても可能である。このように
して、図3(d)に示す凹湾曲部を有するポリイミド3
04を形成することができる。
度を低めに設定しておき、ポリイミドをレジストとほぼ
同じ形状にエッチングした後ポリイミドを再度ベークし
て表面を滑らかにする工程を加えるとさらによい。この
場合プリベークは100〜200度で行い、2度目のベ
ークは250〜350度で行なう。
を形成したのち、図1に示すようにコンタクトホールを
形成し、アルミニウム104を形成する。アルミニウム
104もポリイミド膜103とほぼ同じ凹湾曲部を有す
る。このようにして反射率が大きく、光を集める働きを
有する凹湾曲部を下部電極に設ける。更に、アモルファ
スシリコン106、ITO105を形成し、図1に示す
目的のイメージセンサを作製する。このようにして作製
した図1に示す構造のイメージセンサは、画素を小さく
しても感度を均一に向上させることができる。
たが、焦点深度を調節できるようなステッパを用いて作
製することもできる。またプロキシミティ方式を用いる
こともできる。また、本実施例は、湾曲部の高低差を
0.5μm〜3.5μmに形成したが、0.25μm〜
4μmをとり得る。さらに、本実施例は、図1に示す湾
曲部の大きさ111が2μm〜3.5μmであるが、下
部電極と信号転送素子とを接続するためのコンタクトホ
ールより大きく、画素より小さければよい。
ージセンサの上部に複数のマイクロレンズを形成した光
電変換素子およびその作製方法である。1画素の光電変
換素子の上に複数のマイクロレンズを設けることで、変
換効率を上げることができる。
画素の断面図を示す。実施例1のイメージセンサの光電
変換素子102の上方にアクリル樹脂からなるマイクロ
レンズ401が断面上に3個設けられており、縦横3個
ずつの計9個のマイクロレンズが一画素に設けられてい
る。
5、図7に示す。まず、図5(a)に示すように、実施
例1のイメージセンサの光電変換層の上部電極であるI
TO105の上方に膜厚5μm〜10μmアクリル樹脂
の平坦化膜501を形成し、その上に膜厚2μm〜4μ
mのポジ型のレジスト502を形成する。
実施例1で用いたマスクとほぼ逆のマスクパターンが形
成されているマスク701(円パターンが印刷されてい
るマスク)を用いて実施例1と同様の方法でパターニン
グして図7(c)に示すような湾曲部を有するレジスト
704(図5(b)の503にあたる)を形成する。マ
スク701は一画素に相当するマスクであり、3×3の
円パターンが印刷されており、一画素に3×3の9個の
マイクロレンズを形成することができる。図7(a)の
マスクの円の大きさ710は2μm〜4μmに設計した
ものを用い、実施例1のマスクと同じ配置とする。本実
施例では、図7(a)の701で示すマスクを用いた
が、マスクのパターン形状は他の形状であってもかまわ
ない。
アクリル樹脂の平坦化膜501のエッチング選択比が1
対1から1対2、好ましくはほぼ1対1となるようにエ
ッチングして、図4のマイクロレンズ401を形成する
ことができる。CF4 /O2 を5対95の割合で混合し
たエッチングガスを用いてレジスト膜をエッチングし、
凸状曲面を有するアクリル樹脂を形成する。本実施例で
はCF4 /O2 系のエッチングガスを用いたが、レジス
ト503と有機樹脂膜501のエッチング選択比が1対
1であるような他のエッチング方法を用いてもよい。
変えると、同じポジ型レジストを用いても凸湾曲部を形
成できる。
を設けることで、変換効率を上げることができる。ま
た、本実施例のように、光電変換素子の下部電極のマス
クパターンとマイクロレンズのマスクパターンを対応さ
せると、両凸マイクロレンズ401を形成することがで
き、片凸マイクロレンズよりもさらに変換効率をあげる
ことができる。
して変換効率を上げることができ、イメージセンサの画
素の縮小に伴い問題となった感度を向上させることがで
きる。また、意識的に集光させて光を制御できるので、
特にイメージセンサで問題となった画素ごとの感度の均
一性を持たせることができる。また、本発明はイメージ
センサに限らず、光電変換素子を有する光電変換装置の
感度を向上させ、かつ感度の均一性を持たせることがで
きる。
て一画素の大きさの限界を縮めることが可能となる。
断面図
断面図
Claims (12)
- 【請求項1】信号転送素子の上方に光電変換素子を積層
してなる光電変換装置であって、 前記信号転送素子の上方に有機樹脂膜が設けられ、前記
有機樹脂膜の上方に前記光電変換素子が設けられ、前記
光電変換素子の下部電極は湾曲部を有することを特徴と
する光電変換装置。 - 【請求項2】信号転送素子の上方に光電変換素子を積層
してなる光電変換装置であって、 前記信号転送素子の上方に有機樹脂膜が設けられ、前記
有機樹脂膜の上方に前記光電変換素子が設けられ、前記
光電変換素子の上部電極の上にマイクロレンズが設けら
れ、前記光電変換素子の下部電極は湾曲部を有すること
を特徴とする光電変換装置。 - 【請求項3】請求項1または請求項2において、前記湾
曲部の高低差は0.25μm〜4μmであることを特徴
とする光電変換装置。 - 【請求項4】請求項1乃至請求項3において、前記湾曲
部は、前記下部電極と前記信号転送素子とを接続するた
めのコンタクトホールより大きく、画素より小さいこと
を特徴とする光電変換装置。 - 【請求項5】請求項1乃至請求項4において、前記光電
変換素子の下部電極の表面材料はアルミニウム、モリブ
デン、タンタル、チタン、金、銀、白金から選択された
金属材料であることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項6】請求項1乃至請求項5において、前記有機
樹脂膜の材料は、ポリイミド、ポリアミド、ポリイミド
アミド、またはアクリル樹脂から選択された有機樹脂で
あることを特徴とする光電変換装置。 - 【請求項7】信号転送素子の上方に光電変換素子を積層
してなる光電変換装置の作製方法であって、 基板上に信号転送素子を形成する工程と、前記信号転送
素子の上方に有機樹脂の平坦化膜を形成する工程と、前
記平坦化膜にレジストを形成する工程と、前記レジスト
に湾曲部を形成する工程と、前記平坦化膜を前記湾曲部
とほぼ同じ形状にエッチングする工程と、前記光電変換
素子の下部電極を形成する工程と、前記下部電極の上に
光電変換層と上部電極を形成する工程と、を有すること
を特徴とする光電変換装置の作製方法。 - 【請求項8】信号転送素子の上方に光電変換素子を積層
してなる光電変換装置の作製方法であって、 基板上に信号転送素子を形成する工程と、前記信号転送
素子の上方に有機樹脂の平坦化膜を形成する工程と、前
記平坦化膜にレジストを形成する工程と、前記レジスト
に湾曲部を形成する工程と、前記平坦化膜を前記湾曲部
とほぼ同じ形状にエッチングする工程と、前記光電変換
素子の下部電極を形成する工程と、前記下部電極の上に
光電変換層と上部電極を形成する工程と、前記上部電極
の上方にマイクロレンズを形成する工程と、を有する光
電変換装置の作製方法。 - 【請求項9】請求項7または請求項8において、前記湾
曲部の高低差を0.25μm〜4μmに形成することを
特徴とする光電変換装置の作製方法。 - 【請求項10】請求項7乃至請求項9において、前記湾
曲部を、前記下部電極と前記信号転送素子とを接続する
ためのコンタクトホールより大きく、画素より小さく形
成することを特徴とする光電変換装置の作製方法。 - 【請求項11】請求項7乃至請求項10において、前記
光電変換素子の下部電極の表面材料として、アルミニウ
ム、モリブデン、タンタル、チタン、金、銀、白金から
選択された金属材料を用いることを特徴とする光電変換
装置の作製方法。 - 【請求項12】請求項7乃至請求項11において、前記
有機樹脂膜の材料として、ポリイミド、ポリアミド、ポ
リイミドアミド、またはアクリル樹脂から選択された有
機樹脂を用いることを特徴とする光電変換装置の作製方
法。
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP27950297A JP4294745B2 (ja) | 1997-09-26 | 1997-09-26 | 光電変換装置の作製方法 |
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JPH11103041A true JPH11103041A (ja) | 1999-04-13 |
JP4294745B2 JP4294745B2 (ja) | 2009-07-15 |
Family
ID=17611949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27950297A Expired - Fee Related JP4294745B2 (ja) | 1997-09-26 | 1997-09-26 | 光電変換装置の作製方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
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- 1998-09-24 US US09/160,619 patent/US6288388B1/en not_active Expired - Lifetime
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- 2001-06-15 US US09/882,611 patent/US6423569B2/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20020158252A1 (en) | 2002-10-31 |
US6423569B2 (en) | 2002-07-23 |
US6288388B1 (en) | 2001-09-11 |
US20010030279A1 (en) | 2001-10-18 |
JP4294745B2 (ja) | 2009-07-15 |
US6803261B2 (en) | 2004-10-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Written amendment |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060418 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080603 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080730 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081021 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090120 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090311 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090407 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090409 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120417 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120417 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130417 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140417 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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