JPH1098382A - Ad変換器の機能性の監視方法 - Google Patents

Ad変換器の機能性の監視方法

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JPH1098382A
JPH1098382A JP9211561A JP21156197A JPH1098382A JP H1098382 A JPH1098382 A JP H1098382A JP 9211561 A JP9211561 A JP 9211561A JP 21156197 A JP21156197 A JP 21156197A JP H1098382 A JPH1098382 A JP H1098382A
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signal
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voltage
central unit
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Wolfgang Kosak
コザク ヴォルフガング
Guenter Braun
ブラウン ギュンター
Margit Mueller
ミュラー マルギット
Dietmar Blessing
ブレッシング ディートマール
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Robert Bosch GmbH
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10Calibration or testing
    • H03M1/1071Measuring or testing
    • H03M1/109Measuring or testing for dc performance, i.e. static testing
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 アナログ信号をデジタル化するように構成さ
れているAD変換器の機能性を、AD変換器の通常の作
動期間中にも監視できる方法。 【解決手段】 AD変換器の外部において、該AD変
換器によってデジタル化すべきアナログ信号UAに基づ
いて、デジタルパルス列P2を生成し、該デジタルパル
ス列のうち少なくとも幅または繰り返し周波数がアナロ
グ信号に依存しており、かつ該デジタルパルス列および
同じアナログ信号に基づいてAD変換器によって生成さ
れたデジタル値が相互に対応しているかどうかを検査す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、請求項1の上位概
念に記載の方法、即ちアナログ信号をデジタル化するよ
うに構成されているAD変換器の機能性を監視する方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】この形式の方法は例えば、ドイツ連邦共
和国特許出願公開第3621937号公報、米国特許第
5063383号明細書およびヨーロッパ特許出願公開
第0579235号公報から公知である。これら刊行物
に記載された方法は、監視すべきアナログ/デジタル変
換器(AD変換器)に特別なテストフェーズにおいて既
知のアナログテスト信号が印加されかつこれらテスト信
号から監視すべきAD変換器によって生成されるデジタ
ル値が既知の目標値との比較を用いてその正しさについ
て検査される点で共通している。
【0003】AD変換器のこの形式の検査の期間(テス
トフェーズ)、上記方法は「通常」のAD変換に対して
使用することができないか或いはいずれにせよ制限され
てしか使用可能ではない。この理由から殊にまた、検査
は連続的に行うことができないばかりでなく、比較的大
きな時間間隔においてしか行うことができない。
【0004】この問題を取り除くための可能性は、監視
すべきAD変換器に並列に、多かれ少なかれ同一の第2
のAD変換器を設け、かつこのAD変換器によって生成
されるデジタル値をその一致について検査することが考
えられる。しかしこの形式の監視方法の具体化には殊
に、第2のAD変換器を設けることで、比較的大きな技
術コストが必要であり、それに応じて高価である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】それ故に本発明の課題
は、請求項1の上位概念に記載の方法を、これにより簡
単な形式および手法で監視すべきAD変換器の連続的な
監視がその「通常」の作動期間に可能になるように、改
良することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この課題は本発明によれ
ば、請求項1の特徴部分に記載の構成によって解決され
る。
【0007】即ち、AD変換器の外部において、該AD
変換器によってデジタル化すべきアナログ信号に基づい
て、デジタルパルス列の列を生成し、該デジタルパルス
列のうち少なくとも幅または繰り返し周波数がアナログ
信号に依存しており、かつ該デジタルパルス列および同
じアナログ信号に基づいて前記AD変換器によって生成
されたデジタル値が相互に対応しているかどうかを検査
するのである。
【0008】従って、デジタル化すべきアナログ信号
は、一方において監視すべきAD変換器によってデジタ
ル化されかつ他方においてアナログ信号に依存する結果
を以て(それとは)異なった信号処理に委ねられ、その
際この信号処理は監視すべきAD変換器から独立した、
別個の信号処理回路において行われ、この信号処理回路
は、AD変換器と比べて明らかに簡単に構成することが
できるものである。
【0009】それから選択されたアナログ信号から、相
互に無関係に1つのアナログ信号を表す2つのデジタル
信号が形成され、これらはAD変換器および上述の信号
処理回路の機能が正常である場合には、それらが同一の
アナログ信号に帰する限りにおいては相応している。
【0010】AD変換器の機能性の監視が最終的に2つ
の相互に独立した実際に発生される信号の対比によって
行われるという事実により、予め定められたテスト信号
の導入を省略することが可能になる。選択されるアナロ
グ信号はむしろ、AD変換器の「通常」の作動において
変換すべきアナログ信号の任意のものであってよい。
【0011】これによりAD変換器の機能性の監視は、
連続的にかつ全体として、「通常」の変換過程への何等
の操作なしに行うことができる。
【0012】従って、極めて簡単な形式および方法にお
いて監視すべきAD変換器の連続的な監視をその「通
常」の作動期間中に可能にする方法が見付け出されたの
である。
【0013】本発明の方法による監視は更に、今日まで
唯一の形式であるエラー検出方法によって特徴付けられ
ている。即ち、選択されたアナログ信号から相互に独立
して、アナログ信号を異なった方法で再現する2つのデ
ジタル信号を形成するという事実によって、AD変換器
における障害の検出の他に、 AD変換器の構成におけ
るエラーの検出も可能になる。
【0014】本発明の有利な実施例はその他の請求項に
記載されている。
【0015】
【実施例】次に本発明を図示の実施例につき図面を用い
て詳細に説明する。
【0016】監視すべきAD変換器は以下に説明する実
施例においてそれぞれ、中央ユニット(マイクロプロセ
ッサ、マイクロコントローラ、信号プロセッサ等)に集
積されている。このユニットは車両制御装置の主計算機
を形成するものである。
【0017】それぞれの中央ユニットはそれぞれ、多数
の(図には一部しか図示されていない)アナログ信号接
続端子ADxを有しており、これら接続端子には、AD
変換器によってデジタル化すべき多数のアナログ信号が
印加可能である。
【0018】デジタル化すべきアナログ信号は、センサ
の出力信号、例えば車両におけるペダル値発生器の目標
値ポテンショメータの出力信号とすることができる。
【0019】しかしこれに限定されるものではない。監
視すべきAD変換器は、中央ユニットにおいて集積され
ている必要もないし、監視すべきAD変換器を含んでい
る中央ユニットが多数のアナログ信号接続端子を有して
いる必要もない。AD変換器は車両の制御のために用い
られるものである必要もない。従って、デジタル化すべ
きアナログ信号は任意の出処の任意のアナログ信号であ
ってよい。
【0020】監視すべきAD変換器を含んでいる中央ユ
ニットは、図1において参照記号ZEによって示されて
いる。それ自体図示されていないAD変換器によってデ
ジタル化すべきアナログ信号は中央ユニットZEのアナ
ログ信号接続端子AD1を介して中央ユニットに入力さ
れる。
【0021】デジタル化すべきアナログ信号は、図1に
示されている回路装置に入力端子Eを介して供給され
る。アナログ信号はまず、抵抗R1およびR2並びにコ
ンデンサC1から成る入力回路網を通って、それから分
岐点Vに達する。この分岐点Vから、以下にUAと表す
アナログ信号は一方において中央ユニットZEの既述の
アナログ信号接続端子AD1に達しかつ他方において破
線で囲まれた枠内に示されている信号処理回路SVに達
する。
【0022】中央ユニットZEのアナログ信号接続端子
AD1に達するアナログ信号UAは、中央ユニットに集
積された、図示されていないAD変換器によってデジタ
ル化される。
【0023】同時にこのアナログ信号は、以下に詳しく
説明するように、AD変換器とは別個に設けられている
信号処理回路SVにおいてアナログ信号に依存したデジ
タルパルス列に処理される。このデジタルパルス列は、
デジタル信号が入力されるように設計されている、中央
ユニットZEの入力接続端子(ポート)P2に入力され
る。
【0024】デジタルパルス列は、それがアナログ信号
UAを(このアナログ信号に基づいてデジタルパルス列
が生成された)一義的に表しかつ従って、AD変換器に
よって生成されるデジタル値に比較の目的で対比される
のに適しているような特性を持つものである。この対比
において(中央ユニットZE内で)、相互に対比され
る、アナログ信号を異なった方法で表している信号(デ
ジタル値ないしパルス列)が相互に相応しているか、即
ち同一のアナログ信号に基づいているかどうかが検査さ
れる。
【0025】比較の際、相互に対比される信号が相互に
相応していることが検出されると、AD変換器も信号処
理回路も障害なく動作しているものとして出発すること
ができる。
【0026】これに対して比較の際に、信号が相互に相
応していないことが検出されると、AD変換器および/
または信号処理回路SVにおいて障害が存在している。
この障害に(例えば機器の遮断またはこのような場合の
ために特有に設定されている障害時制御の実施によっ
て)適宜に応答しなければならない。
【0027】次に、信号処理回路SVの機能およびこれ
によって生成されるパルス列について説明する。
【0028】信号処理回路SVに入力されるアナログ信
号UAは、ダイオードD1が阻止されていないときかつ
阻止されていない限り、電圧ホロアとして用いられる演
算増幅器OP1,抵抗R3およびダイオードD1を介し
て保持機能を実施するコンデンサCH1に供給される。
コンデンサはこれにより、アナログ電圧に相応する電圧
UCHに充電される。
【0029】ダイオードD1が後に一層詳しく説明する
方法で阻止状態に移行されると、コンデンサCH1はア
ナログ電圧源からデカップリングされかつ多かれ少なか
れ迅速にこれに並列に接続されている抵抗RH1を介し
て放電される。これによりコンデンサCH1に存在する
電圧は低下し始める。
【0030】コンデンサCH1はコンパレータKOMP
1の第1入力接続端子に接続されている。コンパレータ
KOMP1の第2入力接続端子には、しきい値電圧UT
が加えられる。しきい値電圧は抵抗R4およびR5から
形成された分圧器によって取り出される。
【0031】コンパレータKOMP1はそれに加えられ
る電圧を、即ち(可変の)コンデンサ電圧UCHと(時
間的に一定の)しきい値電圧UTとを比較する。
【0032】同時に信号処理回路SVの出力信号であ
る、コンパレータKOMP1の出力信号は、コンデンサ
電圧UCHがしきい値電圧UTより大きいときかつ大き
い限り、高いレベルを有している。このことを、コンパ
レータKOMP1の出力側と比較電圧源VCCとの間に
接続されているコンパレータ抵抗RK1が考慮する。コ
ンデンサ電圧UCHが、例えばダイオードD1の阻止後
始められる、コンデンサ電圧UCHの放電によって規定
されて抵抗RH1を介して、しきい値電圧UT以下に低
下すると、コンパレータは切り替わり、かつその出力信
号は高レベルから低レベルに変化する。
【0033】コンデンサCH1におけるコンデンサ電圧
UCHがダイオードD1の阻止の時点において高ければ
高い程、この電圧が放電の結果としてしきい値電圧UT
より小さい値に低下するまでの時間はますます長くな
る。信号処理回路の出力信号に現れるこの効果によっ
て、以下に更に詳細に説明するように、信号処理回路S
Vの出力信号をAD変換器の監視のために使用すること
が可能になる。
【0034】ダイオードD1の、導通状態から阻止状態
への切換およびその逆の切換は、中央ユニットZEの出
力信号接続端子P1を介して出力される制御信号によっ
て行われる。
【0035】この制御信号は、抵抗R6およびR7に接
続形成されているトランジスタT1のベースに加えられ
る。このトランジスタのエミッタはアースに接続されて
おりかつコレクタは抵抗R3とダイオードD1との間の
接続点に接続されている。制御信号が低レベルにある限
り、トランジスタT1は阻止状態にあり、かつダイオー
ドD1は導通しておりかつ導通状態に留まる。制御信号
が高レベルに変化すると、トランジスタT1は導通しか
つ抵抗R3とダイオードD1との間の接続点をアース電
位に引っ張り、結果としてダイオードD1の、阻止状態
への切換が行われる。
【0036】ここで注目すべきは、ダイオードD1の阻
止、即ちコンデンサCH1の、アナログ電圧からの分離
が、AD変換のためにアナログ信号接続端子AD1を介
して中央ユニットZEに入力されるアナログ電圧UAに
(ここでは中間介挿されている電圧ホロアOP1に基づ
いて)完全に影響を及ぼさずかつ従ってこの信号の、A
D変換器によるデジタル化に僅かなりとも影響しないな
いし妨害しない形式および方法で行われるということで
ある。
【0037】ダイオードD1の、阻止状態への切換によ
って、コンデンサCH1の放電が始まり、この放電によ
り、既述したように、最終的には、コンパレータの出力
信号の、高レベルから低レベルへの切換が行われる。
【0038】ダイオードD1の、阻止状態への切換か
ら、コンパレータの出力信号の、高レベルから低レベル
への切換までに経過する時間は、アナログ電圧としきい
値電圧との間の初期の差に対する基準と認められる。し
かも理想的な場合には、この時間とこの電圧差との間に
は直接的な比例関係がある。この時間としきい値電圧の
大きさが分かれば、基礎となっているアナログ電圧の大
きさを求めることができる。これによって、監視すべき
AD変換器によって同じアナログ電圧に基づいて生成さ
れるデジタル値を正当性(相応性)について検査するこ
とが可能になる。
【0039】上述の時間は、中央ユニットZEにおい
て、ダイオードD1の、阻止状態への切換時点の検出に
おいておよびコンパレータの出力信号の、高レベルから
低レベルへの切換時点の検出において容易に求められ
る。ダイオードD1の、阻止状態への切換時点は、中央
ユニットZEでは既知である。というのは、中央ユニッ
ト自体が切換を引き起す制御信号をポートP1を介して
送出するからである。コンパレータの出力信号の、高レ
ベルから低レベルへの切換時点は、中央ユニットによっ
てこの(中央ユニットZEのポートP2に入力される)
信号のレベルの監視によって求めることができる。
【0040】しきい値電圧UTは、抵抗R4およびR5
から成る分圧器によって固定的に設定されておりかつ中
央ユニットにとっては既知である。
【0041】中央ユニットZEはそれにとって既知のデ
ータに基づいてかつそれに信号処理回路から供給され
る、同じアナログ信号に依存した出力信号の評価によっ
て、集積されたAD変換器をその「通常」の作動期間に
略実時間においてその機能性に関して監視することがで
きる。
【0042】一層詳しく説明するために以下に、図2を
参照して、信号処理回路SVにおいて行われる過程の正
確な時間経過について詳細に検討する。
【0043】まず、中央ユニットZEのポートR1から
出力される、ここでは同様にP1と表す制御信号、コン
デンサCH1に生じるコンデンサ電圧UCHおよび中央
ユニットZEのポートP2に供給される、ここでは同様
にP2によって表される、コンパレータKOMP1の出
力電圧UKのみについて考察する。P2′で示されてい
る信号経過は、図1に示されている信号処理回路SVの
変形に関しかつ後で説明する。
【0044】図2でT0で示されている時点の前では、
中央ユニットZEのポートP1を介して出力される制御
信号(信号P1)は低レベルにある。従ってダイオード
D1は導通状態にあり、かつコンデンサCH1に生じる
コンデンサ電圧UCHは追従しかつ実質的に信号処理回
路SVに入力されるアナログ電圧UAに相応している。
この電圧は図示の時間間隔の期間は一定でありかつ比較
的高いものとすることができる。コンパレータKOMP
1の出力電圧UK(信号P2)は、コンデンサ電圧UC
Hがしきい値電圧UTより大きいという理由から、高レ
ベルにある。
【0045】時点T0において、中央ユニットZEのポ
ートP1を介して出力される制御信号(信号P1)が低
レベルから高レベルに変化する。これによりダイオード
D1は導通状態から阻止状態に切り換えられ、このため
に、実質的にアナログ電圧に充電されたコンデンサCH
1はアナログ電圧から分離されることになる。
【0046】それ故にコンデンサCH1は抵抗RH1を
介して放電し始め、この結果として、コンパレータKO
MP1にも加わるコンデンサ電圧UCHは低下すること
になる。コンデンサ電圧UCHがしきい値電圧UTより
なお大きい限り、中央ユニットZEのポートP2に入力
される、コンパレータKOMP1の出力電圧UK(信号
P2)は高レベルに留まる。
【0047】時点T1において、コンデンサ電圧UCH
はしきい値電圧UTを下回る。その結果として、コンパ
レータKOMP1の出力電圧UK(信号P2)は高レベ
ルから低レベルに変化する。
【0048】時点T2において、中央ユニットZEのポ
ートP1を介して出力される制御信号(信号P1)は再
び低レベルに戻る。この結果、ダイオードD1は阻止状
態から導通状態に切り換えられ、これによりコンデンサ
CH1およびコンパレータKOMP1において再びアナ
ログ電圧が導通接続される。このために、コンパレータ
KOMP1の出力電圧UK(信号P2)は低レベルから
高レベルに上昇しかつコンデンサCH1はアナログ電圧
に相応する電圧に充電されることになる。
【0049】これにより再び、時点T0の前に生じてい
た状態に達し、かつ(中央ユニットZEのポートP1か
ら出力される制御信号の、高レベルへの新たな変化によ
って)次の比較サイクルをスタートすることができる。
この種の比較サイクルの繰り返される実施において、信
号処理回路によってパルス列が生成される。このパルス
列の幅はアナログ信号に依存しておりかつこのパルス列
は、AD変換器の機能性の連続的な監視を、AD変換器
の「通例」の作動を所定のテスト信号または類似のもの
の送り込みによって中断する必要なしに、可能にするも
のである。
【0050】図1に図示の信号処理回路SVは、図1に
示されているように、コンパレータ抵抗RK1に給電電
圧VCCが加えられるのではなくて、中央ユニットZE
のポートP1に接続されているように変形することがで
きる。
【0051】この結果として、コンパレータKOMP1
の出力信号UKは、コンデンサ電圧UCHがしきい値電
圧UTより大きい時間の期間は、中央ユニットZEのポ
ートP1から出力される制御信号のその都度のレベルを
とることになる。従って結果として、中央ユニットZE
のポートP2に、図2にP2′で示されているような電
圧経過が得られる。
【0052】従って、図1に図示の、信号処理回路の構
成とは異なって、ポートP2には、アナログ信号再構成
のために必要な時間(T0とT1との間の時間)をこの
信号だけを考慮して、即ちポートP1から出力される制
御信号の時間的な経過を付加的に考慮することなく求め
ることを可能にする電圧経過が得られる。即ちここで
は、求められた時間は、ポートP2に入力される信号の
高レベルフェーズの持続時間に正確に相応する。
【0053】信号処理回路のこのように変形された構成
は、中央ユニットZEが例えば80C166/167の
ように、所謂ゲーテド・タイマー・モードを使用可能で
あるとき殊に有利である。
【0054】図1に図示の信号処理回路SVの上述した
第1の変形例とは無関係に設定することができる、信号
処理回路の第2の変形例によれば、コンデンサCH1が
放電される抵抗RH1が定電流源によって置換される。
【0055】図3に図示の定電流源は、図3に示されて
いるように接続形成されている、抵抗R11,R12,
R13およびR14(例えば26.1kΩ,1kΩ,1
kΩおよび1kΩの値を有している)、演算増幅器OP
11(例えばLM2904)およびトランジスタT11
(例えばBCW60)から成っている。
【0056】しかしこの定電流源は勿論それぞれ別様に
構成されかつ別様に回路定数が定められているものであ
っても、コンデンサCH1を一定の電流によって放電す
ることができる。図2に示されている、コンデンサCH
1の放電の際のコンデンサ電圧UCHの経過はこのよう
にして必要の場合には線形化する、即ち直線に近似する
ことができる。このことは、出力電圧・しきい値電圧差
とT0およびT1間の時間間隔との間に線形な関係が形
成されるというプラス効果も有している。
【0057】本発明の方法を実施するために適している
回路装置の第2の実施例が図4に示されている。
【0058】図1とは異なって、図4は実質的に、信号
処理回路SVに限定されて示されている。しかしこのこ
とは図4には示されていないが、ここでも、デジタル化
すべきアナログ信号UAは一方において直接中央ユニッ
トZEないしそこに集積されているAD変換器に入力さ
れかつ他方において信号処理回路SVに入力される。
【0059】信号処理回路に入力されるアナログ電圧U
Aは図4に図示の回路装置において直接コンパレータK
OMP2に入力される。コンパレータの別の入力接続端
子にはこの場合も、しきい値電圧が入力される。しかし
このしきい値電圧はここでは第1の実施例とは異なって
おりかつ後に更に詳しく説明するように、時間に依存し
て変化する。
【0060】コンパレータKOMP2の出力電圧は、第
1の実施例の場合のように、入力信号として中央ユニッ
トZEのポートP2に入力される。コンパレータ抵抗R
K2は(第1の実施例の第1の変形例の場合と同様に)
中央ユニットのポートP1とポートP2との間に設けら
れておりかつ、コンパレータKOMP2の出力信号が可
変のしきい値電圧がアナログ電圧より大きい時間間隔の
間は、中央ユニットのポートP1から出力される制御信
号のレベルをとるように考慮する。しかしコンパレータ
抵抗RK2はこれに代わって、図1におけるコンパレー
タ抵抗RK1のように、給電電圧VCCに接続すること
もできる。
【0061】ポートP1から出力される制御信号によっ
て、この実施例において、コンデンサCH2が給電電圧
VCCに接続されているのかまたはこれとは分離されて
いるのかが決定される。
【0062】ポートP1から出力される制御信号が低い
方のレベルを有しているときおよび有している限り、コ
ンデンサCH2は、抵抗R21およびR22と図示のよ
うに接続形成されているその時導通しているトランジス
タT21を介して給電電圧VCCに接続されておりかつ
抵抗R23を介して給電電圧VCCに相応する電圧に充
電される。その際給電電圧は少なくとも、生じる最大の
アナログ電圧と等しいが、有利にはそれより大きい。
【0063】比較サイクルは、第1の実施例においても
そうであるように、ポートP1から出力される制御信号
の、低レベルから高レベルへの変化によって始まる。こ
のために、トランジスタT21の阻止、従ってコンデン
サCH2の、給電電圧VCCからの分離が行われる。同
時にコンデンサは、これに並列に設けられている抵抗R
H2を介して放電を開始する。
【0064】コンデンサ電圧は、図4から明らかである
ように、同時にコンパレータKOMP2に入力されるし
きい値電圧である。
【0065】このフェーズにおいて、即ち中央ユニット
ZEのポートP1から出力される制御信号の高レベルフ
ェーズの間、しきい値電圧がアナログ電圧より大きい限
り、コンパレータの出力信号は高レベル(コンパレータ
の出力信号を抵抗RK2を介して接続する制御信号のレ
ベル)にある。しきい値電圧がコンデンサCH2の持続
的な放電のためにアナログ電圧を下回るとき、コンパレ
ータの出力信号は低レベルに降下する。
【0066】中央ユニットZEのポートP1から出力さ
れる制御信号が高レベルに上昇した後所定の時間を経
て、制御信号は再び低レベルに復帰し、これによりコン
デンサCH2は再び給電電圧VCCに放電される。これ
により考察の比較サイクルは終了する。
【0067】アナログ電圧が高ければ高い程、アナログ
電圧をコンデンサCH2の放電のために低下するしきい
値電圧が下回るまでに経過する時間はますます短い。
【0068】結果的に、中央ユニットZEのポートP2
に、図2においてP′において示されているような電圧
経過が得られる。しかしこの信号の高レベルフェーズは
この実施例においては、徐々に低下するしきい値電圧が
アナログ電圧より大きい時間に相当する。
【0069】上述の時間は、既に第1の実施例の場合の
ように、アナログ電圧としきい値電圧との初期の差に対
する尺度である。従ってこの場合も、上述の時間としき
い値電圧の(初期の)大きさ、即ち給電電圧VCCの大
きさが分かっていれば、基礎としているところのアナロ
グ電圧を求めることができる。この場合も、監視すべき
AD変換器によって同じアナログ信号に基づいて生成さ
れたデジタル値を正しさ(相応性)について検査するこ
とが可能である。更なる詳細に関しては、前に説明した
第1の実施例に相応しているのでそれを参照されたい。
【0070】既に第1の実施例におけるように、今説明
した第2の実施例の場合も、上述の比較サイクルの繰り
返される実施において信号処理回路によってパルスの列
が生成され、このパルス列の幅はアナログ信号に依存し
ておりかつこのパルス列は、規定のテスト信号または類
似のものを送り込むことによって「通常」の作動を中断
する必要なしに、AD変換器の機能性の連続的な監視を
可能にする。
【0071】初期のアナログ電圧としきい値電圧との差
と、ポートP2に入力される電圧経過の高レベルフェー
ズの持続時間との間の一層良好な線形性を実現するため
に、既に第1の実施例の場合のようにこの場合も、コン
デンサCH2が放電する抵抗RH2に代わって、コンデ
ンサ放電の際の電流の流れを一定に保持しかつ従ってコ
ンデンサの同じように迅速な放電を考慮する定電流源を
設けることができる。このために例えば、図3に示され
ておりかつ既述した定電流源を使用することができる。
【0072】図4を参照して説明した第2の実施例は、
第1の実施例に比べて殊に次のような利点を有してい
る; 1)AD変換器の機能性を監視するために用いることが
できるアナログ電圧はその大きさに関して何らの制限も
受けておらず、かつ 2)必要な素子コストは最小限に低減されている。
【0073】次に図5を参照して、本発明の方法を実施
するための適している回路装置の第3の実施例について
説明する。
【0074】図4に示されているように、図5でも実質
的に信号処理回路SVに限って図示されている。このこ
とは図5に図示されていないが、ここでもデジタル化す
べきアナログ信号UAは一方において中央ユニットZE
ないしそこに集積されているAD変換器に直接入力され
かつ他方において信号処理回路SVに入力される。
【0075】信号処理回路SVにおいて、この回路に入
力されたアナログ信号は、適当に接続形成された演算増
幅器OP31によって形成されている電圧ホロアを介し
て、電圧制御される周波数発振器VCOに達する。この
周波数発振器は、中央ユニットのポートP2に入力信号
として入力されるパルス列を生成し、このパルス列の周
波数はそこに印加される電圧、即ちアナログ電圧の大き
さに依存している。
【0076】周波数発振器VCOはこの実施例では、図
5に示されているように接続形成されている、抵抗R3
1ないしR36,コンデンサC31および演算増幅器O
P32から成っている。
【0077】図5に示されている信号処理回路SVは、
1つのポートしか、即ちここでは中央ユニットZEのポ
ートP2しか必要としないという利点を有している。ポ
ートP1および図5に示されているこのポートの接続形
成(抵抗R37ないしR39,トランジスタT31およ
びダイオードD31)は必ずしも必要でなく、省略する
ことができる。
【0078】上述の接続形成素子が図5に示されている
ように使用されているないし設けられていることは、有
利な実施例の説明のために用いられる。しかしこれらを
設けることは図示の回路装置の通常の機能に対する前提
条件ではない。即ち、図示の形式および方法において、
発振器VCOの正規化、正確に言えば、コンデンサC3
1の公差の低減が実現される。
【0079】即ちポートP1を介して高レベルを有する
信号が出力されると、これによりトランジスタT31が
導通制御され、ひいてはダイオードD31が阻止状態に
移行される。発振器VCOが阻止されているダイオード
D31のために約0Vの電圧によって制御されるこの段
階において、発振器によって生成されかつ出力される周
波数を求めかつこれに基づいて中央ユニットZEにおい
て行われる周波数・アナログ電圧対応を正規化すれば、
これにより場合により存在する素子の公差の低減が可能
になる。しかもこの場合製造による公差のみならず、老
化および環境の影響が原因である公差も低減される。
【0080】ポートP2に入力される電圧経過の評価は
周波数を求めることでまたはオンオフ比が一定の時に
は、第1の実施例および第2の実施例の場合のように、
それぞれの高レベルフェーズおよび/またはテレベルフ
ェーズの持続時間の評価に基づいて行うことができる。
【0081】このことに無関係に、信号処理回路によっ
て生成されたアナログ信号に依存したパルス列から、こ
れが基礎としているところのアナログ信号が再構成さ
れ、その結果この信号も、AD変換器の「通常」の作動
の期間にAD変換器の機能性を連続的に監視するために
適している。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の方法を実施するために適している回路
装置の第1の実施例の回路略図である。
【図2】図1の示されている回路装置の機能を説明する
ための時間的な信号経過を示す波形図である。
【図3】コンデンサの時間的に一定の放電のための定電
流源の回路略図である。
【図4】本発明の方法を実施するために適している回路
装置の第2の実施例の回路略図である。
【図5】本発明の方法を実施するために適している回路
装置の第3の実施例の回路略図である。
【符号の説明】
UA アナログ信号、 ZE 中央ユニット、 P1
(制御信号),P2(パルス列) ポート、 AD1
アナログ信号接続端子、 SV 信号処理回路、KOM
P1 コンパレータ、 CH1;CH2 コンデンサ、
VCO 電圧制御発振器、 VCC 給電電圧
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ギュンター ブラウン ドイツ連邦共和国 ビーティッヒハイム エーゲルシュトラーセ 23 (72)発明者 マルギット ミュラー ドイツ連邦共和国 アスペルク エーベル ハルトシュトラーセ 15 (72)発明者 ディートマール ブレッシング ドイツ連邦共和国 ホルツゲルリンゲン メーギストルシュトラーセ 22

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アナログ信号をデジタル化するように構
    成されているAD変換器の機能性を監視する方法におい
    て、AD変換器の外部において、該AD変換器によって
    デジタル化すべきアナログ信号(UA)に基づいて、デ
    ジタルパルス列(P2)を生成し、該デジタルパルス列
    のうち少なくとも幅または繰り返し周波数がアナログ信
    号に依存しており、かつ該デジタルパルス列および同じ
    アナログ信号に基づいて前記AD変換器によって生成さ
    れたデジタル値が相互に対応しているかどうかを検査す
    ることを特徴とするAD変換器の機能性の監視方法。
  2. 【請求項2】 監視すべきAD変換器は中央ユニット
    (ZE)に集積されており、該中央ユニットは多数のア
    ナログ信号接続端子(Adx)を有しており、該接続端
    子に該AD変換器によってデジタル化すべきアナログ信
    号(UA)を印加可能であり、かつ前記パルス列を生成
    する信号処理回路(SV)は前記中央ユニットの外部に
    設けられている請求項1記載のAD変換器の機能性の監
    視方法。
  3. 【請求項3】 前記信号処理回路(SV)によって繰り
    返し比較サイクルを実施し、該比較サイクルの開始およ
    び終了はその都度、前記中央ユニット(ZE)から該信
    号処理回路(SV)に送出可能な制御信号(P1)によ
    って決定可能である請求項2記載のAD変換器の機能性
    の監視方法。
  4. 【請求項4】 比較サイクルにおいてその都度、比較サ
    イクルの開始の前に実質的にアナログ電圧(UA)に充
    電されかつ比較サイクルの開始によってアナログ電圧か
    ら分離されるコンデンサ(CH1)が、それが時間的に
    一定に保持されるしきい値電圧(UT)を下回るところ
    まで放電される時点を求める請求項3記載のAD変換器
    の機能性の監視方法。
  5. 【請求項5】 前記コンデンサ(CH1)の、アナログ
    電圧(UA)からの分離を、前記信号処理回路(SV)
    内の、デジタル化のために中央ユニット(ZE)にも入
    力されるアナログ信号への影響が妨げられるような個所
    でまたは該影響が妨げられるような形式および手法で行
    う請求項4記載のAD変換器の機能性の監視方法。
  6. 【請求項6】 比較サイクルにおいてその都度、比較サ
    イクルの開始の前に最大のアナログ電圧(UA)より大
    きい給電電圧(VCC)に充電されかつ比較サイクルの
    開始によって給電電圧から分離されるコンデンサ(CH
    2)が、それがアナログ電圧を下回るところまで放電さ
    れる時点を求める請求項3記載のAD変換器の機能性の
    監視方法。
  7. 【請求項7】 その都度放電されるべきコンデンサ(C
    H1;CH2)が一定の電流で放電されるように考慮す
    る請求項4から6までのいずれか1項記載のAD変換器
    の機能性の監視方法。
  8. 【請求項8】 前記求められた時点においてその都度、
    それぞれの比較サイクル内でその他の場合には変化され
    ずに保持される、前記パルス列を表す、前記信号処理回
    路(SV)からの出力信号(P2)のレベルの変化を行
    う請求項4から7までのいずれか1項記載のAD変換器
    の機能性の監視方法。
  9. 【請求項9】 前記アナログ信号(UA)を、電圧制御
    される周波数発振器(VCO)に対する制御電圧として
    使用する請求項1または2記載のAD変換器の機能性の
    監視方法。
  10. 【請求項10】 前記パルス列を表す、前記信号処理回
    路(SV)からの出力信号(P2)を前記中央ユニット
    (ZE)のデジタル信号入力接続端子に評価のために入
    力する請求項2から9までのいずれか1項記載のAD変
    換器の機能性の監視方法。
JP9211561A 1996-08-08 1997-08-06 Ad変換器の機能性の監視方法 Pending JPH1098382A (ja)

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