JP4573096B2 - 温度センサ及びアナログ/デジタル変換器 - Google Patents

温度センサ及びアナログ/デジタル変換器 Download PDF

Info

Publication number
JP4573096B2
JP4573096B2 JP2004243707A JP2004243707A JP4573096B2 JP 4573096 B2 JP4573096 B2 JP 4573096B2 JP 2004243707 A JP2004243707 A JP 2004243707A JP 2004243707 A JP2004243707 A JP 2004243707A JP 4573096 B2 JP4573096 B2 JP 4573096B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
switch
frequency signal
capacitor
voltage
temperature sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2004243707A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006064391A (ja
Inventor
直樹 前田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP2004243707A priority Critical patent/JP4573096B2/ja
Publication of JP2006064391A publication Critical patent/JP2006064391A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4573096B2 publication Critical patent/JP4573096B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、故障診断が可能な温度センサ及びアナログ/デジタル変換器に関し、特に、フィールド機器内に用いるに好適な温度センサ及びアナログ/デジタル変換器に関する。
従来の温度センサは、ダイオードの両端に発生するアナログ電圧をディジタル値に変換する構成を備えるものもある(例えば、特許文献1参照。)。
図4は、従来の温度センサを示す構成図である。図4の従来例の構成を説明する。コンデンサCの一端は共通電位COMに接続する。さらに、抵抗RはコンデンサCと並列に接続する。
また、比較器3の非反転入力はコンデンサCの他端に接続し、比較器3の反転入力はダイオードDのアノードに接続する。そして、比較器3は、コンデンサCの電圧Vcとダイオード順方向電圧Vdとを比較する。
さらに、ダイオードDのアノードは定電流源2に接続し、ダイオードDのカソードは共通電位COMに接続する。そして、ダイオードDの順方向電圧Vdは温度に基づいて変化する。
また、Dフリップフロップ4のディレイ入力は比較器3の出力に接続し、Dフリップフロップ4のクロック入力はクロック信号CLに接続する。
さらに、論理積回路5の一方の入力はDフリップフロップ4の出力Qの反転に接続し、論理積回路5の他方の入力はクロック信号CLの反転に接続する。
また、このようなDフリップフロップ4と論理積回路5とは、比較器3の出力信号COUTに基づき、クロック信号CLを変調し周波数信号FOUTを生成する変調手段を形成する。そして、出力信号COUTが変化すると、周波数信号FOUTが変化する。
さらに、第1スイッチであるスイッチSW1の入力は定電流源1に接続し、スイッチSW1の一方の出力PはコンデンサCの他端に接続し、スイッチSW1の他方の出力Qは共通電位COMに接続し、スイッチSW1の制御端子は論理積回路5の出力に接続する。
また、カウンタ6は論理積回路5の出力に接続する。そして、カウンタ6は論理積回路5の出力のエッジ(例えば、立上りエッジ)を計数する。
そして、コンデンサCの他端とスイッチSW1の出力Pと抵抗Rと比較器3の非反転入力との接続点の電圧を電圧Vcとする。また、定電流源2とダイオードDのアノードと比較器3の反転入力との接続点の電圧を順方向電圧Vdとする。さらに、比較器3の出力とDフリップフロップのディレイ入力との接続点の信号を出力信号CONTとする。また、論理積回路5の出力とスイッチSW1の制御端子とカウンタ6との接続点の信号を周波数信号FOUTとする。
さらに、スイッチSW1は、論理積回路5の出力(周波数信号FOUT)がハイのとき、出力Pを選択し、定電流源1をコンデンサCの他端へ接続する。また、スイッチSW1は、論理積回路5の出力(周波数信号FOUT)がロウのとき、出力Qを選択し、定電流源1を共通電位COMに接続する。
このような図4の従来例の動作について図5を用いて説明する。図5は、図4の従来例の動作波形を示す図である。図5の横軸は時間を示す。そして、図5(a)は電圧Vcと順方向電圧Vdとの波形を示し、図5(b)は出力信号COUTの波形を示し、図5(c)はクロック信号CLの波形を示し、図5(d)は周波数信号FOUTを示す。
電圧Vcが順方向電圧Vdよりも小さいとき出力信号COUTはロウとなり、Dフリップフロップ4の出力Qはクロック信号CLと同じとなり、周波数信号FOUTはクロック信号CLの反転となる。
また、電圧Vcが順方向電圧Vdよりも大きいとき出力信号COUTはハイとなり、Dフリップフロップ4の出力Qはハイとなり、周波数信号FOUTはロウとなる。
さらに、周波数信号FOUTがハイのとき、定電流源1はスイッチSW1の出力Pを介してコンデンサCを充電し、電圧Vcは上昇する。
また、周波数信号FOUTがロウのとき、スイッチSW1の出力Pはオープンとなり、コンデンサCは抵抗Rを介して放電し、電圧Vcは低下する。
そして、周波数信号FOUTがハイとなって電圧Vcが上昇し、電圧Vcが順方向電圧Vdよりも大きくなると、周波数信号FOUTはロウとなり、その後、電圧Vcが低下する。また、周波数信号FOUTがロウとなって電圧Vcが低下し、電圧Vcが順方向電圧Vdよりも小さくなると、周波数信号FOUTはクロック信号CLの反転となり、その後、電圧Vcが上昇する。
したがって、電圧Vcはノコギリ状の波形となる。
まず、図4の従来例の正常動作を説明する。
温度が上昇すると、順方向電圧Vdは低下し、電圧Vcも低下し、周波数信号FOUTのエッジの数が減少し、カウンタ6の値が減少する。また、温度が低下すると、順方向電圧Vdは上昇し、電圧Vcも上昇し、周波数信号FOUTのエッジの数が増加し、カウンタ6の値が増加する。
つまり、温度が変化するとカウンタ6の値が変化する。このようにして、図4の従来例は、温度を測定する。
次に、図4の従来例において、コンデンサCがオープンモードで故障した場合の動作を説明する。このとき、周波数信号FOUTがハイとなると、電圧Vcは直ちにハイで飽和し、出力信号COUTはハイとなる。また、周波数信号FOUTがロウとなると、電圧Vcは直ちにロウで飽和し、出力信号COUTはロウとなる。そして、周波数信号FOUTのエッジの数はクロック信号CLにおけるエッジの数の半分(1/2)となる。
特開2004−85384号公報
しかしながら、周波数信号FOUTのエッジの数がクロック信号CLのエッジにおける数の半分(1/2)となるときは、正常動作で生ずることもあり、図4の従来例は、コンデンサCがオープンモードで故障したかどうかを判定できないという課題がある。
また、一般的に、図4の従来例において、コンデンサCがオープンモードで故障したかどうかを判定するためには、コンデンサCに対して特別な回路を用意する必要があり、複雑・高価という課題がある。
本発明の目的は、以上説明した課題を解決するものであり、内蔵するコンデンサが故障したかどうかを簡便に判定可能な温度センサ及びアナログ/デジタル変換器を提供することにある。
このような目的を達成する本発明は、次の通りである。
(1)コンデンサの電圧と温度に基づくダイオードの順方向電圧とを比較する比較器と、前記比較器の出力信号に基づきクロック信号を変調し周波数信号を生成する変調手段と、前記周波数信号に基づき前記コンデンサの充電と放電とを切替える第1スイッチと、前記周波数信号のエッジを計数するカウンタとを備える温度センサにおいて、前記第1スイッチの切替えの時刻から前記出力信号が変化する時刻までの長さに基づき前記コンデンサの故障を検出する検出回路を備えることを特徴とする温度センサ。
(2)前記第1スイッチを所定の時間優先的に切替える第2スイッチを備えることを特徴とする(1)記載の温度センサ。
(3)前記検出回路は、前記第2スイッチの切替えの時刻から前記周波数信号が変化する時刻までの長さに基づき前記コンデンサの故障を検出することを特徴とする(2)記載の温度センサ。
(4)前記変調回路は、ディレイ入力に前記出力信号を接続し、クロック入力に前記クロック信号を接続するDフィリップフロップを備えることを特徴とする(3)記載の温度センサ。
(5)フィールド機器内に形成することを特徴とする(4)記載の温度センサ。
(6)コンデンサの電圧とアナログ電圧とを比較する比較器と、前記比較器の出力信号に基づきクロック信号を変調し周波数信号を生成する変調手段と、前記周波数信号に基づき前記コンデンサの充電と放電とを切替える第1スイッチと、前記周波数信号のエッジを計数するカウンタとを備えるアナログ/デジタル変換器において、前記第1スイッチの切替えの時刻から前記出力信号が変化する時刻までの長さに基づき前記コンデンサの故障を検出する検出回路を備えることを特徴とするアナログ/デジタル変換器。
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。
本発明によれば、内蔵するコンデンサが故障したかどうかを簡便・低コストに判定可能な温度センサ及びアナログ/デジタル変換器を提供できる。
また、本発明の温度センサ及びアナログ/デジタル変換器をフィールド機器内の回路に適用した場合は次のような効果がある。本発明によれば、安全性が高いフィールド機器を提供できる。また、本発明によれば、低いメンテナンスコストが小さいフィールド機器を提供できる。さらに、本発明によれば、製造コストが小さいフィールド機器を提供できる。
以下に図1に基づいて本発明を詳細に説明する。図1は、本発明の一実施例を示す構成図である。図4の従来例と同一の要素には同一符号を付し、説明を省略する。
図1の実施例の特徴は、第2スイッチであるスイッチSW2と検出回路12とに係る構成にある。
第2スイッチであるスイッチSW2の一方の入力を1に接続し、スイッチSW2の他方の入力を0に接続する。そして、スイッチSW2の入力は1または0の何れか一方を選択する。
また、論理和回路11の一方の入力は論理積回路5の出力(周波数信号FOUT)に接続し、論理和回路11の他方の入力はスイッチS2の出力に接続し、論理和回路11の出力はスイッチSW1の制御端子に接続する。つまり、第1スイッチであるスイッチSW1の制御端子は、論理和回路11を介して、論理積回路5の出力に接続する。
さらに、検出回路12は、クロック信号CLとスイッチS2の出力と周波数信号FOUTとに接続する。また、検出回路12は、スイッチS2の出力が変化する時刻から周波数信号FOUTが変化する時刻までの長さ(時間)Tを測定する。そして、時間Tがクロック信号CLに対して小さいときコンデンサCが故障と判定する。
このような図1の実施例の動作を説明する。図1の実施例は、通常動作モードと故障診断動作モードとを有する。
まず、図1の実施例を定常動作させる場合の動作を説明する。このとき、スイッチSW2の出力は0とし、周波数信号FOUTと論理和回路11の出力とは同じとなる。よって、このときの図1の実施例を動作は、図4の従来例の正常動作と同じとなる。
次に、図1の実施例を故障診断動作させる場合の動作を説明する。このとき、スイッチSW2の入力を所定時間1とし、その後、スイッチSW2の入力を0とする。
なお、スイッチSW2の入力が1のとき、論理和回路11の出力は1となり、スイッチSW1は出力Pを選択し、定電流源1はコンデンサCを充電する。つまり、スイッチSW2はスイッチSW1を優先的に切替える。
この場合の動作を図2及び図3を用いて詳しく説明する。図2は、図1の実施例のコンデンサCが正常のときにおける故障診断動作の波形を示す図である。図2の横軸は時間を示す。そして、図2(a)はスイッチSW2の出力の波形を示し、図2(b)は電圧Vcと順方向電圧Vdとの波形を示し、図2(c)は出力信号COUTの波形を示し、図2(d)はクロック信号CLの波形を示し、図2(e)は周波数信号FOUTを示す。
時刻t1から時刻t2までの期間、即ち、時間(t2−t1)は、スイッチSW2の入力を1とする。このとき、論理和回路11の出力はハイとなり、定電流源1はスイッチSW1の出力Pを介してコンデンサCを充電し、電圧Vcは上昇する。そして、出力信号COUTはハイとなり周波数信号FOUTはロウとなる。また、時間(t2−t1)は、電圧Vcがハイで十分飽和するようにする。
時刻t2においてスイッチSW2の出力を0とすると、スイッチSW1の出力Pはオープンとなり、コンデンサCは抵抗Rを介して放電し、電圧Vcは緩やかに低下する。
そして、時刻t3になると、電圧Vcが順方向電圧Vdよりも小さくなると、出力信号COUTはロウとなる。その後、周波数信号FOUTはクロック信号CLの反転となって時刻t4にハイとなり、電圧Vcは上昇する。
よって、時刻t2から時刻t3までの長さはクロック信号CLに対して長い時間を要する。そして、検出回路12は、コンデンサCが正常と判断する。
また、図3は、図1の実施例のコンデンサCが故障のとき(オープンモードで故障した場合)における故障診断動作の波形を示す図である。図3の波形は図2の波形に対応している。
時間(t2−t1)は、スイッチSW2の出力を1とする。このとき、論理和回路11の出力はハイとなり、電圧Vcは直ちにハイで飽和する。そして、出力信号COUTはハイとなり周波数信号FOUTはロウとなる。
時刻t2においてスイッチSW2の出力を0とすると、電圧Vcは直ちにロウで飽和する。そして、電圧Vcが順方向電圧Vdよりも小さくなり、出力信号COUTはロウとなる。
その後、周波数信号FOUTはクロック信号CLの反転となって時刻t5にハイとなる。また、周波数信号FOUTがハイとなると、電圧Vcは直ちにハイで飽和し、出力信号COUTはハイとなる。そして、周波数信号FOUTのエッジの数はクロック信号CLのエッジの数の半分(1/2)となる。
よって、時刻t2から時刻t5までの長さはクロック信号CLに対して短い時間を要する。そして、検出回路12は、コンデンサCが故障と判断する。
このようにして、図1の実施例は、コンデンサCの故障を診断する。
そして、図1の実施例は、定電流源1、スイッチSW1、比較器3等をコンデンサの故障の検出に有効に利用する。したがって、図1の実施例は、簡便・低コストに温度センサを形成できる。また、図1の実施例は、部品点数が少なく、消費電力が小さい。
また、フィールド機器内の回路に図1の実施例を適用すると、好適な特性となる。詳しくは、コンデンサCの診断が遠隔から簡便にできる。また、フィールド機器(伝送器)の安全性が向上する。さらに、メンテナンスコストが容易となり、コストを小さくする。また、製造において不具合個所の特定を容易とする。
さらに、コンデンサCの診断の結果を、上位のシステム(図示せず)に簡便に通知することが可能となる。
また、前述の実施例では、検出回路12はスイッチSW2の出力をトリガとして動作する構成であったが、これとは別に、検出回路12はスイッチSW1の切替えをトリガとして動作する構成であっても実質的に同等であり、同様の作用効果が得られる。
さらに、前述の実施例では、検出回路12は周波数信号FOUTをトリガとして動作する構成であったが、これとは別に、検出回路12は出力信号COUTをトリガとして動作する構成であっても実質的に同等であり、同様の作用効果が得られる。
また、前述の実施例では、温度センサの場合を説明したが、これとは別に、図1の実施例において、ダイオードDの順方向電圧Vdを一般的なアナログ電圧とすれば、アナログ/デジタル変換器の場合であっても、実質的に同等となり、同様の作用効果が得られる。
以上のように、本発明は、前述の実施例に限定されることなく、その本質を逸脱しない範囲でさらに多くの変更及び変形を含むものである。
本発明の一実施例を示す構成図である。 図1の実施例のコンデンサCが正常のときにおける故障診断動作の波形を示す図である。 図1の実施例のコンデンサCが故障のときにおける故障診断動作の波形を示す図である。 従来の温度センサを示す構成図である。 図4の従来例の動作波形を示す図である。
符号の説明
1,2 定電流源
3 比較器
4 Dフリップフロップ
5 論理積回路
6 カウント
11 論理和回路
12 検出回路
C コンデンサ
D ダイオード
R 抵抗
SW1,SW2 スイッチ
CL クロック信号
FOUT 周波数信号
Vd 順方向電圧

Claims (6)

  1. コンデンサの電圧と温度に基づくダイオードの順方向電圧とを比較する比較器と、
    前記比較器の出力信号に基づきクロック信号を変調し周波数信号を生成する変調手段と、
    前記周波数信号に基づき前記コンデンサの充電と放電とを切替える第1スイッチと、
    前記周波数信号のエッジを計数するカウンタと
    を備える温度センサにおいて、
    前記第1スイッチの切替えの時刻から前記出力信号が変化する時刻までの長さに基づき前記コンデンサの故障を検出する検出回路を備えることを特徴とする温度センサ。
  2. 前記第1スイッチを所定の時間優先的に切替える第2スイッチを備えることを特徴とする請求項1記載の温度センサ。
  3. 前記検出回路は、前記第2スイッチの切替えの時刻から前記周波数信号が変化する時刻までの長さに基づき前記コンデンサの故障を検出することを特徴とする請求項2記載の温度センサ。
  4. 前記変調回路は、ディレイ入力に前記出力信号を接続し、クロック入力に前記クロック信号を接続するDフィリップフロップを備えることを特徴とする請求項3記載の温度センサ。
  5. フィールド機器内に形成することを特徴とする請求項4記載の温度センサ。
  6. コンデンサの電圧とアナログ電圧とを比較する比較器と、
    前記比較器の出力信号に基づきクロック信号を変調し周波数信号を生成する変調手段と、
    前記周波数信号に基づき前記コンデンサの充電と放電とを切替える第1スイッチと、
    前記周波数信号のエッジを計数するカウンタと
    を備えるアナログ/デジタル変換器において、
    前記第1スイッチの切替えの時刻から前記出力信号が変化する時刻までの長さに基づき前記コンデンサの故障を検出する検出回路を備えることを特徴とするアナログ/デジタル変換器。
JP2004243707A 2004-08-24 2004-08-24 温度センサ及びアナログ/デジタル変換器 Active JP4573096B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004243707A JP4573096B2 (ja) 2004-08-24 2004-08-24 温度センサ及びアナログ/デジタル変換器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004243707A JP4573096B2 (ja) 2004-08-24 2004-08-24 温度センサ及びアナログ/デジタル変換器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006064391A JP2006064391A (ja) 2006-03-09
JP4573096B2 true JP4573096B2 (ja) 2010-11-04

Family

ID=36111018

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004243707A Active JP4573096B2 (ja) 2004-08-24 2004-08-24 温度センサ及びアナログ/デジタル変換器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4573096B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103063326A (zh) * 2011-09-21 2013-04-24 中兴通讯股份有限公司 一种测量电解电容器温度的方法和系统
US11686766B2 (en) 2019-12-27 2023-06-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8136987B2 (en) * 2008-12-31 2012-03-20 Intel Corporation Ratio meter for temperature sensor
JP5447979B2 (ja) * 2010-07-13 2014-03-19 横河電機株式会社 温度測定器

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59182721U (ja) * 1983-05-19 1984-12-05 株式会社東芝 温度制御装置
JPH09201500A (ja) * 1996-01-30 1997-08-05 Sanyo Electric Co Ltd 電気アイロン
JP2004085384A (ja) * 2002-08-27 2004-03-18 Seiko Epson Corp 温度センサ回路、半導体集積回路及びその調整方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59182721U (ja) * 1983-05-19 1984-12-05 株式会社東芝 温度制御装置
JPH09201500A (ja) * 1996-01-30 1997-08-05 Sanyo Electric Co Ltd 電気アイロン
JP2004085384A (ja) * 2002-08-27 2004-03-18 Seiko Epson Corp 温度センサ回路、半導体集積回路及びその調整方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103063326A (zh) * 2011-09-21 2013-04-24 中兴通讯股份有限公司 一种测量电解电容器温度的方法和系统
CN103063326B (zh) * 2011-09-21 2017-03-15 中兴通讯股份有限公司 一种测量电解电容器温度的方法和系统
US11686766B2 (en) 2019-12-27 2023-06-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Built-in self-test circuit and temperature measurement circuit including the same

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006064391A (ja) 2006-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8174802B2 (en) Switching regulator and operations control method thereof
KR100892210B1 (ko) 차지 펌프의 모드 변환 조절 회로 및 방법
JP3763415B1 (ja) 平均電流検出回路
US8144047B2 (en) Current-mode dual-slope temperature-digital conversion device
JP4845613B2 (ja) 電力用コンデンサ寿命診断機能付き充電装置
US10312806B1 (en) Voltage converter for simulating inductor current control
TW201108578A (en) Control device for an interleaving power factor corrector
JP2006502626A (ja) パルス幅変調アナログデジタル変換
JP4812368B2 (ja) 電力用コンデンサの寿命診断機能付き充電装置
JP2011077847A (ja) A/dコンバータ及びそのオープン検出方法
JP4573096B2 (ja) 温度センサ及びアナログ/デジタル変換器
JP2021097541A (ja) 半導体集積回路装置
US11287462B2 (en) Status detection of alarm sounding parts
US20150234420A1 (en) Clock Switching Circuit
JP5320929B2 (ja) 電流測定装置
US7405649B2 (en) Communication control apparatus
JP2003189598A (ja) スイッチング電源装置
US6963194B2 (en) Analog signal measuring device and method
JP5144292B2 (ja) スイッチング電源回路及びそれを備えた車両
US20190146547A1 (en) Semiconductor integrated circuit device
US20200073334A1 (en) Capaticance-to-digital converter
JP2020043687A (ja) パワー素子診断装置
CN210807104U (zh) 一种正弦波逆变器电压电流的控制电路
US20220276286A1 (en) Voltage hold circuit, voltage monitoring circuit, and semiconductor integrated circuit
US20200088771A1 (en) Semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061205

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091225

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100722

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100804

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4573096

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130827

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140827

Year of fee payment: 4