JP2020043687A - パワー素子診断装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】パワー素子診断装置において、新たな測定器や測定回路を追加せずにパワー素子のゲート閾値電圧の診断を行う。【解決手段】オン時間取得部6により、電力変換回路2に設けられたSiC MOSFETから成るパワー素子のオン時間の積算値を取得する。オフ時間取得部5により、パワー素子のオフ時間の積算値を取得する。閾値電圧変動テーブル7は、オン時間の積算値およびオフ時間の積算値に対応するゲート閾値電圧の変動値を収納する。異常診断部8は、オン時間取得部6で取得したオン時間の積算値およびオフ時間取得部5で取得したオフ時間の積算値に対応するゲート閾値電圧の変動値αと変動閾値βon,βoffとを比較して、パワー素子に異常が生じたか否かを診断する。結果通知部9は、異常診断部8の診断結果を通知する。【選択図】図3

Description

本発明は、電力変換回路に設けられたSiC MOSFETから成るパワー素子のゲート閾値電圧の診断装置に関する。
図12は特許文献1における電力変換装置を示す構成図である。特許文献1には、直流電源の短絡事故を抑制する方法が開示されている。具体的には、自己消弧型半導体素子(GTO)がターンオフの実行を開始すると、制御手段がGTOのゲート電極とカソード電極間の電圧が閾値を超えるまでに要する時間を計測し、その時間からGTOの遮断電流を推定する。
図13は特許文献2における電力変換装置を示す構成図である。特許文献2には、1つまたは複数の単位変換器を直列接続して構成されたアームを備える電力変換装置が開示されている。系統の擾乱などによって直流コンデンサ電圧が変動すると、ゲート制御不能などの制御装置と単位変換器との通信異常が発生する恐れがある。特許文献2では、閾値電圧(直流コンデンサ電圧)を監視することで、前述した通信異常が発生した場合においても、各単位変換器の保護を実現している。
特許第3636615号 WO2016/203516A1
Aivars J. Lelis ,Ron Green ,Daniel B. Habersat, Mooro El,"Basic Mechanisms of Threshold‐Voltage Instability and Implications for Reliability Testing of SiC MOSFETs" IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, VOL62, NO. 2,pp316‐323,FEBRUARY2015. 中川明夫,川口雄介," 電源用パワーデバイスの技術動向,"IEEJJournal,VOL125,No.12,pp758‐761,2005
しかし、特許文献1はマルチレベル電力変換装置等の短絡事故抑制方法を開示しているが、パワー素子のゲート閾値電圧の上昇は検知しない。
また、特許文献2はマルチレベル電力変換装置等の各単位変換器の保護方法を開示しているが、閾値電圧を直流コンデンサ電圧としている。そのため、パワー素子のゲート閾値電圧の上昇は検知しない。
また、特許文献1,2は装置の実現に電力変換回路以外の推定回路やセンサなどが別途必要となり、小型化には向いていない。
以上示したようなことから、パワー素子診断装置において、新たな測定器や測定回路を追加せずにパワー素子のゲート閾値電圧の診断を行うことが課題となる。
本発明は、前記従来の問題に鑑み、案出されたもので、その一態様は、電力変換回路に設けられたSiC MOSFETから成るパワー素子のオン時間の積算値を取得するオン時間取得部と、前記パワー素子のオフ時間の積算値を取得するオフ時間取得部と、オン時間の積算値およびオフ時間の積算値に対応するゲート閾値電圧の変動値を収納する閾値電圧変動テーブルと、前記オン時間取得部で取得した前記オン時間の積算値および前記オフ時間取得部で取得したオフ時間の積算値に対応するゲート閾値電圧の変動値と変動閾値とを比較して、前記パワー素子に異常が生じたか否かを診断する異常診断部と、前記異常診断部の診断結果を通知する結果通知部と、を備えたことを特徴とする。
また、その一態様として、前記電力変換回路は、3レベル以上のマルチレベル電力変換回路であり、前記異常診断部は、各パワー素子同士のオン時間の積算値の差、および、各パワー素子同士のオフ時間の積算値の差が時間差閾値よりも大きい場合に、前記パワー素子に異常が生じたと判断することを特徴とする。
また、その一態様として、前記ゲート閾値電圧の変動値に0<k<1の係数kを乗算することを特徴とする。
本発明によれば、パワー素子診断装置において、新たな測定器や測定回路を追加せずにパワー素子のゲート閾値電圧の診断を行うことが可能となる。
SiC MOSFETに正のゲート電圧を印加した場合のゲート閾値電圧変動を示すグラフ。 SiC MOSFETに負のゲート電圧を印加した場合のゲート閾値電圧変動を示すグラフ。 実施形態1の制御ブロック図。 実施形態1の動作を示すフローチャート。 実施形態1における異常診断部の動作を示すフローチャート(オン時間)。 実施形態1における異常診断部の動作を示すフローチャート(オフ時間)。 3レベルインバータの回路例(1相分)を示す図。 電圧指令値と搬送波を示すグラフ。 3レベルインバータのスイッチングパターン例(1相分)を示す図。 実施形態2における異常診断部の動作を示すフローチャート(オン時間)。 実施形態2における異常診断部の動作を示すフローチャート(オフ時間)。 特許文献1における電力変換装置を示す概略図。 特許文献2における電力変換装置を示す概略図。
以下、本願発明におけるパワー素子診断装置の実施形態1〜3を図1〜図11に基づいて詳述する。
[実施形態1]
実施形態1は、2レベル以上の電力変換回路に適用することを想定している。
現在流通しているSiC MOSFETはゲート−ソース間に電圧を印加すると、ゲート閾値電圧が変動するという問題がある。図1,図2に示すように、一般に、このゲート閾値電圧の変動ΔVthの変動量は印加する電圧値や印加時間に依存する。また、正のゲート−ソース間電圧を印加するとゲート閾値電圧が増加方向に変動し、負のゲート−ソース間電圧を印加するとゲート閾値電圧が減少方向に変動することが知られている(非特許文献1参照)。
SiC MOSFETは機器の高パワー密度化を目的に使用されることが考えられる。その場合、新たな測定回路や測定機器を追加することは機器の大型化につながる。
図3に本実施形態1におけるパワー素子診断装置を示す。図3に示すように、ゲートドライブ制御部1から出力されたゲート信号が電力変換回路2内のパワー素子(SiC MOSFET)に入力される。電力変換回路2は、パワー素子がスイッチングすることにより直流電力を交流電力に変換し、負荷3に出力する。
パワー素子診断装置4は、オフ時間取得部5と、オン時間取得部6と、閾値電圧変動テーブル7と、異常診断部8と、結果通知部9と、を備える。
オフ時間取得部5は、パワー素子のオフ時間を取得し、積算する。オン時間取得部6は、パワー素子のオン時間を取得し、積算する。閾値電圧変動テーブル7には、事前に取得したオン時間の積算値毎およびオフ時間の積算値毎のゲート閾値電圧の変動値αが収納してある。異常診断部8は、オン時間取得部6で取得したオン時間の積算値、オフ時間取得部5で取得したオフ時間の積算値、および、閾値電圧変動テーブル7から得た情報から、パワー素子を診断する。結果通知部9は、診断結果を通知する。
本実施形態1におけるパワー素子診断装置4の動作を示すフローチャートを図4に示す。S1において、電力変換回路2を駆動させる。次に、S2において、S1の電力変換回路2の駆動と同時に、オン時間取得部6、オフ時間取得部5により、オン時間およびオフ時間を任意の周期で取得し、積算する。S3では、オン時間取得部6で取得したオン時間の積算値およびオフ時間取得部5で取得したオフ時間の積算値に基づいて閾値電圧変動テーブル7を参照する。
S4において、異常診断部8は事前に用意した閾値電圧変動テーブル7からオン時間の積算値に対応するゲート閾値電圧Vthの変動値α、オフ時間の積算値に対応するゲート閾値電圧Vthの変動値αを推測し、パワー素子に異常が生じているか判断する。パワー素子に異常が生じていない場合は、S5に移行し、電力変換回路2の駆動を継続し、S1に戻る。パワー素子に異常が生じている場合は、S6へ移行し、その結果を結果通知部9で表示することで、当該回路の使用者は結果通知部9の表示を確認してパワー素子の異常を確認できる。
オン時間は、例えばゲートドライブ制御部1において、ゲート信号がオフからオンに切り替わったタイミングから、ゲート信号がオンからオフに切り替わったタイミングまでのオン時間を計測することで取得できる。
オフ時間は、例えばゲートドライブ制御部1において、ゲート信号がオンからオフに切り替わったタイミングから、ゲート信号がオフからオンに切り替わったタイミングまでのオフ時間を計測することで取得できる。
また、事前に取得する閾値電圧変動テーブルは、例えば以下のような方法で作成する。まず、パワー素子に使用する値のDC正ゲート−ソース電圧を一定時間継続して印加し、時間毎のゲート閾値電圧の変動をプロットしたもの用意する。これらのプロットの外挿から、電力変換回路の設計寿命時間までにDC正ゲート−ソース電圧を継続して印加した場合の閾値電圧変動テーブル(正の閾値電圧変動テーブル)を得ることができる。
同様に、まずパワー素子に使用する値のDC負ゲート−ソース電圧を一定時間継続して印加し、時間毎のゲート閾値電圧の変動をプロットしたもの用意する。これらのプロットの外挿から、電力変換回路の設計寿命時間までにDC負ゲート−ソース電圧を継続して印加した場合の閾値電圧変動テーブル(負の閾値電圧変動テーブル)を得ることができる。このようにして、電力変換回路の設計寿命時間までの閾値電圧変動テーブルを作成できる。
次に、異常診断部8(S4)を図5に基づいて説明する。S11において、取得したオン時間の積算値、オフ時間の積算値を異常診断部8に入力する。S12において、正の閾値電圧変動テーブルからオン時間取得部6で取得したオン時間の積算値に対応する正のゲート閾値電圧の変動値αを取得する。
S13において、異常診断部8は異常を通知する正側の変動閾値βonと正のゲート閾値電圧の変動値αを比較し、正のゲート閾値電圧の変動値αが正側の変動閾値βonより小さい場合は、S19へ移行し、電力変換回路の駆動を継続する。正のゲート閾値電圧の変動値αが正側の変動閾値βon以上の場合、S14でパワー素子に異常が生じたと判断し、S15で結果通知部9にパワー素子の異常を通知する。異常が通知された場合、電力変換回路の使用者は装置の点検、メンテナンス等を行う。
パワー素子のオン抵抗はゲート閾値電圧に依存するため、例えば、一つのパワー素子のゲート閾値電圧が増加方向に変動した場合、オン抵抗の増加を招く恐れがある。そのため損失が増加し、当該パワー素子が異常発熱する恐れがある。そのため、正側の変動閾値βonは、パワー素子が異常発熱する値に基づいて設定する。また、正側の変動閾値βonはメーカで設定された値を用いてもよい。
次に、負のゲート閾値電圧の変動値αと負側の変動閾値βoffを比較する方法を図6に基づいて説明する。
ゲート閾値電圧変動のバラツキは、例えば一つのパワー素子のゲート閾値電圧が減少方向に変動した場合、当該素子が誤点弧しやすくなり、短絡する恐れがある(非特許文献2)。
図6は図5と同様の構成で動作し、負のゲート閾値電圧の変動値αの推定(S23)、異常診断部8の動作(S23)のアルゴリズムのみ異なる。
S22において、負の閾値電圧変動テーブルから、オフ時間取得部5で取得したオフ時間の積算値に対応する負のゲート閾値電圧の変動値αを取得する。
S23において、異常診断部8は負側の変動閾値βoffと負のゲート閾値電圧の変動値αを比較し、負のゲート閾値電圧の変動値αが負側の変動閾値βoff以上の時、パワー素子に異常が生じたと判断する。
なお、負側の変動閾値βoffは、各回路構成に応じて、パワー素子の誤点呼、短絡しない値に設定する。
本実施形態1の構成によれば、電力変換回路に新たな測定器や測定回路の追加せずに、パワー素子のゲート閾値電圧を診断する装置ならびに当該診断装置を備えた電力変換回路を提供することが可能となる。
また、本実施形態1によれば、パワー素子のオン抵抗が増加し、パワー素子が異常発熱することを抑制すると共に、パワー素子の誤点呼、短絡を抑制することが可能となる。
[実施形態2]
本実施形態2は、3レベル電力変換回路に適用することを想定している。3レベル以上のマルチレベル電力変換回路は、負荷(例えばモータ)の運転状態によって、各パワー素子のスイッチングパターンが異なり、各パワー素子でオン時間、オフ時間が異なる。
図7は、3レベルインバータの回路例(1相分)を示す概略図である。図7に示すように、第1,第2直流電源DC1,DC2が直列接続される。第1直流電源DC1の正極と第2直流電源DC2の負極との間には、第1,第4パワー素子Q1,Q4が直列接続される。第1,第2直流電源DC1,DC2の接続点と第1,第4パワー素子Q1,Q4の接続点との間に第2,第3パワー素子Q2,Q3が逆直列接続される。第1,第4パワー素子Q1,Q4の接続点が交流端子ACとなる。
図8に示すように、電圧指令値と第1,第2パワー素子Q1,Q2の搬送波および第3,第4パワー素子Q3,Q4の搬送波が比較され、図9に示すように、第1〜第4パワー素子Q1〜Q4のオンオフが決定される。
このように、3レベル以上のマルチレベル電力変換回路は、運転状況によって各パワー素子のオン時間、オフ時間が異なるため、ゲート閾値電圧の変動に大きなバラツキが生じる可能性がある。
そこで、本実施形態2では、正のゲート閾値電圧の変動値αと正側の変動閾値βon,負のゲート閾値電圧の変動値αと負側の変動閾値βoffを比較するのみではなく、各パワー素子同士のオン時間の積算値の差,オフ時間の積算値の差を算出する。各パワー素子のオン時間の積算値の差,オフ時間の積算値の差が大きい場合は、制御が不安定、出力波形が歪む、デッドタイム以上の差となると短絡する恐れがある。そのため、本実施形態2では、各パワー素子のオン時間の積算値の差、オフ時間の積算値の差が時間差閾値以上の場合は異常が生じている可能性があると判断する。
本実施形態2における処理を図10,図11に示す。図10は実施形態1にS16〜S18を追加したものであり、S11〜S15,S19は実施形態1と同様であるため、説明を省略する。
正のゲート閾値電圧の変動値αが正側の変動閾値βon以上でない場合、S16において、各パワー素子同士のオン時間の積算値の差(以下、オン時間差と称する)γonを算出する。S17において、正側の時間差閾値δonとオン時間差γonを比較する。オン時間差γonが正側の時間差閾値δon以上の時、S14でパワー素子に異常が生じたと判断し、S15でその結果を結果通知部で表示することで、当該回路の使用者は結果通知部9の表示を確認してパワー素子の異常を確認できる。オン時間差γonが正側の時間差閾値δon以上でない場合、S18において、パワー素子に異常が生じていないと判断し、S19において、電力変換回路2での駆動を継続する。
また、図11に示すように、負のゲート閾値電圧の変動値αが負側の変動閾値βoff以上でない場合、S26において、各パワー素子同士のオフ時間の積算値の差(以下、オフ時間差と称する)γoffを算出し、S27において、負側の時間差閾値δoffとオフ時間差γoffを比較する。オフ時間差γoffが負側の時間差閾値δoff以上の時、S14において、パワー素子に異常が生じたと判断し、S15において、その結果を結果通知部9で表示することで、当該電力変換回路2の使用者は結果通知部9の表示を確認してパワー素子の異常を確認できる。オフ時間差γoffが負側の時間差閾値δoff以上でない場合、S18でパワー素子に異常が生じていないと判断し、S19で電力変換回路の駆動を継続する。
なお、正側の時間差閾値δon、負側の時間差閾値δoffは、ゲート閾値電圧の変動により制御が不安定になる、出力波形が歪む、短絡が生じる等の問題が生じる時間差を回路構成等に応じて予め決定するものとする。
以上示したように、本実施形態2によれば、実施形態1の作用効果に加え、各パワー素子のオン時間の積算値の差、オフ時間の積算値の差により、制御が不安定になる、出力波形が歪む、短絡が生じる等の問題が生じるのを抑制することが可能となる。
[実施形態3]
図1、図2で示したゲート閾値電圧の変動ΔVthは、正の電圧を印加し続けた場合、負の電圧を印加し続けた場合のチャートである。しかし、実際運転する場合は、正の電圧、負の電圧を連続して印加し続けることはなく、正の電圧を印加したり、負の電圧を印加したりしている。
そのため、実際のゲート閾値電圧の変動は、図1,図2に示すよりも小さな値となる。すなわち、図1,図2は、最悪の場合を想定したものであり、実際とは異なる。そこで、本実施形態3では、正のゲート閾値電圧の変動値α、負のゲート閾値電圧の変動値αに係数kを乗算する。ここで、係数kは0<k<1とする。
これにより、ゲート閾値電圧の変動値αを、より実際に近いものとすることが可能となる。
以上、本発明において、記載された具体例に対してのみ詳細に説明したが、本発明の技術思想の範囲で多彩な変形および修正が可能であることは、当業者にとって明白なことであり、このような変形および修正が特許請求の範囲に属することは当然のことである。
1…ゲートドライブ制御部
2…電力変換回路
3…負荷
4…パワー素子診断装置
5…オフ時間取得部
6…オン時間取得部
7…閾値電圧変動テーブル
8…異常診断部
9…結果通知部

Claims (3)

  1. 電力変換回路に設けられたSiC MOSFETから成るパワー素子のオン時間の積算値を取得するオン時間取得部と、
    前記パワー素子のオフ時間の積算値を取得するオフ時間取得部と、
    オン時間の積算値およびオフ時間の積算値に対応するゲート閾値電圧の変動値を収納する閾値電圧変動テーブルと、
    前記オン時間取得部で取得した前記オン時間の積算値および前記オフ時間取得部で取得したオフ時間の積算値に対応するゲート閾値電圧の変動値と変動閾値とを比較して、前記パワー素子に異常が生じたか否かを診断する異常診断部と、
    前記異常診断部の診断結果を通知する結果通知部と、
    を備えたことを特徴とするパワー素子診断装置。
  2. 前記電力変換回路は、3レベル以上のマルチレベル電力変換回路であり、
    前記異常診断部は、
    各パワー素子同士のオン時間の積算値の差、および、各パワー素子同士のオフ時間の積算値の差が時間差閾値よりも大きい場合に、前記パワー素子に異常が生じたと判断することを特徴とする請求項1記載のパワー素子診断装置。
  3. 前記ゲート閾値電圧の変動値に0<k<1の係数kを乗算することを特徴とする請求項1または2記載のパワー素子診断装置。
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