JPH0325274Y2 - - Google Patents
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- JPH0325274Y2 JPH0325274Y2 JP2565183U JP2565183U JPH0325274Y2 JP H0325274 Y2 JPH0325274 Y2 JP H0325274Y2 JP 2565183 U JP2565183 U JP 2565183U JP 2565183 U JP2565183 U JP 2565183U JP H0325274 Y2 JPH0325274 Y2 JP H0325274Y2
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- capacitor
- channel
- switch
- thermocouple
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 37
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、フライングキヤパシタ方式のキヤパ
シタの容量を大きくした場合でも高速かつ正確に
バーンアウト検出が行えるようにした多点アナロ
グ信号測定装置に関する。
シタの容量を大きくした場合でも高速かつ正確に
バーンアウト検出が行えるようにした多点アナロ
グ信号測定装置に関する。
フライングキヤパシタ方式のマルチプレクサを
もった多点アナログ信号測定装置を用いて温度測
定を行う場合、熱電対の断線(バーンアウト)の
検出は次のようにして行われる。第1図は、従来
装置のバーンアウト検出回路の一例を示す電気的
構成図である。図は1チヤネル分を示す。図にお
いて、Coがキヤパシタを示す。該キヤパシタは、
連動して動作するスイツチSW1,SW1′によって、
熱電対側と本体側に切換えることができるように
なっている。1は熱電対、2は比較器、3はキヤ
パシタ充電用のパルスを発生するパルス発生器、
4は比較器2の出力を受けてバーンアウトしたか
どうかを判別して警報信号を発生するアラーム検
出器である。パルス発生器3の第1の出力は、ス
イツチSW2,抵抗Rを介してキヤパシタCoに印
加され充電される。また、パルス発生器3の第2
の出力は比較器2の一方の入力に接続され、他方
の入力にはパルス発生器3の他方の出力が抵抗R
を介して接続され、更にスイツチSW1,SW1′の
接点がそれぞれ比較器2の別々の入力に接続され
ている。
もった多点アナログ信号測定装置を用いて温度測
定を行う場合、熱電対の断線(バーンアウト)の
検出は次のようにして行われる。第1図は、従来
装置のバーンアウト検出回路の一例を示す電気的
構成図である。図は1チヤネル分を示す。図にお
いて、Coがキヤパシタを示す。該キヤパシタは、
連動して動作するスイツチSW1,SW1′によって、
熱電対側と本体側に切換えることができるように
なっている。1は熱電対、2は比較器、3はキヤ
パシタ充電用のパルスを発生するパルス発生器、
4は比較器2の出力を受けてバーンアウトしたか
どうかを判別して警報信号を発生するアラーム検
出器である。パルス発生器3の第1の出力は、ス
イツチSW2,抵抗Rを介してキヤパシタCoに印
加され充電される。また、パルス発生器3の第2
の出力は比較器2の一方の入力に接続され、他方
の入力にはパルス発生器3の他方の出力が抵抗R
を介して接続され、更にスイツチSW1,SW1′の
接点がそれぞれ比較器2の別々の入力に接続され
ている。
このように構成された回路のバーンアウト検出
方法を説明すると、以下のとおりである。スイツ
チSW1の接点がb側に、スイツチSW1′の接点が
b′側にあったときにスイツチSW2を閉じてパルス
発生器3から充電用パルスを発生させ、キヤパシ
タCoを一定時間だけ充電する。しかる後、スイ
ツチSW1をa側、SW1′をa′側に倒す。熱電対1
が断線していない場合、キヤパシタCoに蓄積さ
れていた電荷は熱電対の閉ループで速やかに放電
する。一方、熱電対1がA点で断線した場合、キ
ヤパシタCoに蓄積された電荷は放電しない。そ
こで、再びスイツチSW1,SW1′をb,b′側に倒
してキヤパシタCoの両端の電位を比較器2に与
える。熱電対1が断線している場合、比較器2に
印加される電圧があるレベルよりも大きくなるの
で該比較器が作動し、その出力を受けたアラーム
検出器4が動作してバーンアウトを知らせるよう
になっている。
方法を説明すると、以下のとおりである。スイツ
チSW1の接点がb側に、スイツチSW1′の接点が
b′側にあったときにスイツチSW2を閉じてパルス
発生器3から充電用パルスを発生させ、キヤパシ
タCoを一定時間だけ充電する。しかる後、スイ
ツチSW1をa側、SW1′をa′側に倒す。熱電対1
が断線していない場合、キヤパシタCoに蓄積さ
れていた電荷は熱電対の閉ループで速やかに放電
する。一方、熱電対1がA点で断線した場合、キ
ヤパシタCoに蓄積された電荷は放電しない。そ
こで、再びスイツチSW1,SW1′をb,b′側に倒
してキヤパシタCoの両端の電位を比較器2に与
える。熱電対1が断線している場合、比較器2に
印加される電圧があるレベルよりも大きくなるの
で該比較器が作動し、その出力を受けたアラーム
検出器4が動作してバーンアウトを知らせるよう
になっている。
この種の検出回路では、キヤパシタCoはノー
マルモードのノイズ除去特性を向上させるため大
きい容量(例えば数100μF)のものが用いられる
のが普通である。キヤパシタCoの容量が大きく
なってくると、以下のような問題点が生じてく
る。
マルモードのノイズ除去特性を向上させるため大
きい容量(例えば数100μF)のものが用いられる
のが普通である。キヤパシタCoの容量が大きく
なってくると、以下のような問題点が生じてく
る。
(1) Coの容量が大きいため、1回の充電でチヤ
ージされる電荷の量が小さい。このため、充電
電圧が小さくなり、検出器の感度、精度が要求
されるため検出回路が高価になる。
ージされる電荷の量が小さい。このため、充電
電圧が小さくなり、検出器の感度、精度が要求
されるため検出回路が高価になる。
(2) Coに充電される電圧を十分に大きくするに
は充電期間を長くしなければならない。従っ
て、多点のアナログ電圧を測定する場合サンプ
ル周期が長くなり、データの処理時間が低速と
なる。本考案は、このような点に鑑みてなされ
たものであって、当該チヤネルの温度を測定し
た後そのチヤネルにキヤパシタに微少な定電流
を流して充電し、ある時点での温度データ測定
値と、前記時点から一定時間経過した時の温度
データ測定値とを比較しその差が、基準値以上
になったときにバーンアウトと判断するように
して、キヤパシタの容量を大きくした場合でも
高速データ処理ができる多点アナログ信号測定
装置を実現したものである。以下、図面を参照
して本考案を詳細に説明する。
は充電期間を長くしなければならない。従っ
て、多点のアナログ電圧を測定する場合サンプ
ル周期が長くなり、データの処理時間が低速と
なる。本考案は、このような点に鑑みてなされ
たものであって、当該チヤネルの温度を測定し
た後そのチヤネルにキヤパシタに微少な定電流
を流して充電し、ある時点での温度データ測定
値と、前記時点から一定時間経過した時の温度
データ測定値とを比較しその差が、基準値以上
になったときにバーンアウトと判断するように
して、キヤパシタの容量を大きくした場合でも
高速データ処理ができる多点アナログ信号測定
装置を実現したものである。以下、図面を参照
して本考案を詳細に説明する。
第2図は、本考案の一実施例を示す電気的構成
図である。図において、T1乃至Tn(nは整数)
は熱電対、C1乃至Cnはそれぞれ対応する熱電対
の両端にスイツチ(後述)を介して接続されるキ
ヤパシタでその容量としては、例えば100μF程度
である。S11とS11′乃至S1oとS1o′は、それぞれ対
応するフライングキヤパシタの両端に接続され、
接点が必要に応じて熱電対側か本体側かに切換え
られるように構成されたスイツチである。S11と
S11′の対をなすスイツチは、常に連動して動作す
るようになっている。
図である。図において、T1乃至Tn(nは整数)
は熱電対、C1乃至Cnはそれぞれ対応する熱電対
の両端にスイツチ(後述)を介して接続されるキ
ヤパシタでその容量としては、例えば100μF程度
である。S11とS11′乃至S1oとS1o′は、それぞれ対
応するフライングキヤパシタの両端に接続され、
接点が必要に応じて熱電対側か本体側かに切換え
られるように構成されたスイツチである。S11と
S11′の対をなすスイツチは、常に連動して動作す
るようになっている。
10は熱電対出力をデイジタルデータに変換す
るA/D変換器、11は該A/D変換器の制御を
行うとともに、各種スイツチ群の制御信号を発生
する制御回路である。該制御回路としては、ロジ
ツク回路で構成できる他マイクロプロセツサを用
いることもできる。12はA/D変換器10の出
力を格納するメモリ、13は各種演算制御をつか
さどるMPU(Micro Processing Unit)、DBはデ
ータバスである。S2は電源14の電圧を断続的に
キヤパシタに印加するためのスイツチ、S3も同じ
く電源15の電圧を断続的にキヤパシタに印加す
るためのスイツチ、S4,S4′はA/D変換器10
の入口部に接続され連動して動作するスイツチで
ある。このように構成された装置の動作を説明す
れば、以下のとおりである。
るA/D変換器、11は該A/D変換器の制御を
行うとともに、各種スイツチ群の制御信号を発生
する制御回路である。該制御回路としては、ロジ
ツク回路で構成できる他マイクロプロセツサを用
いることもできる。12はA/D変換器10の出
力を格納するメモリ、13は各種演算制御をつか
さどるMPU(Micro Processing Unit)、DBはデ
ータバスである。S2は電源14の電圧を断続的に
キヤパシタに印加するためのスイツチ、S3も同じ
く電源15の電圧を断続的にキヤパシタに印加す
るためのスイツチ、S4,S4′はA/D変換器10
の入口部に接続され連動して動作するスイツチで
ある。このように構成された装置の動作を説明す
れば、以下のとおりである。
第1チヤネルについて説明する。通常の測定の
場合、スイツチS11,S11′が熱電対T1側に倒され
キヤパシタC1には熱起電力がチヤージされる。
今度は、スイツチS11,S11′が本体側に切換わっ
て測定モードになる。測定モードでは、スイツチ
S2,S3はオフ、S4,S4′がオンになりA/D変換
器10の入力にはキヤパシタC1にチヤージされ
ていた電圧が印加される。この電圧(熱起電力)
はA/D変換器10によってデイジタルデータに
変換された後、メモリ12に格納される。
場合、スイツチS11,S11′が熱電対T1側に倒され
キヤパシタC1には熱起電力がチヤージされる。
今度は、スイツチS11,S11′が本体側に切換わっ
て測定モードになる。測定モードでは、スイツチ
S2,S3はオフ、S4,S4′がオンになりA/D変換
器10の入力にはキヤパシタC1にチヤージされ
ていた電圧が印加される。この電圧(熱起電力)
はA/D変換器10によってデイジタルデータに
変換された後、メモリ12に格納される。
A/D変換が終了すると、スイツチS2′,S3が
オンに、S4,S4′がオフになり充電モードになる。
充電モードでは、電源14,15からキヤパシタ
C1に短かい一定時間に微少の電荷がチヤージさ
れる。しかる後、再びキヤパシタを熱電対側に接
続して第2チヤネルに移る。このような操作をn
回繰り返して、1スキヤンを終了する。この間メ
モリ12に格納されたデータは生データであるの
で、MPU13は所定の演算処理を行って温度デ
ータに変換した後、出力する。出力の態様として
は、CRTに表示する方法やプリンタに印字させ
る方法等がある。
オンに、S4,S4′がオフになり充電モードになる。
充電モードでは、電源14,15からキヤパシタ
C1に短かい一定時間に微少の電荷がチヤージさ
れる。しかる後、再びキヤパシタを熱電対側に接
続して第2チヤネルに移る。このような操作をn
回繰り返して、1スキヤンを終了する。この間メ
モリ12に格納されたデータは生データであるの
で、MPU13は所定の演算処理を行って温度デ
ータに変換した後、出力する。出力の態様として
は、CRTに表示する方法やプリンタに印字させ
る方法等がある。
さて、1スキヤン終了後、最初の第1チヤネル
に戻って再び測定モードで熱起電力を測定するも
のとする。通常の状態では、キヤパシタC1にチ
ヤージされていた電荷は熱電対T1の閉ループで
放電して無くなり、測定時には正常な熱起電力が
測定できる。ところが、熱電対T1がD点で断線
した場合、キヤパシタC1にチヤージされた電荷
は放電されずそのまま残っている。図に示す回路
では健全なチヤネルの応答速度をおとさぬため1
回のスキヤンではわずかの電荷しかチヤージされ
ないようになっている。このため、m回スキヤン
した後のキヤパシタに累積された電圧をA/D変
換する。そして、MPU13は、m回前の同一チ
ヤネルの測定データと今回の測定データとを比較
し、両者の差が基準値以上になったときにパーン
アウトと判断する。熱電対に断線が無い場合は、
両データの差は一般に極めて小さいので或る値よ
りも大きくなることはなくこのときはパーンアウ
トなしと判断することができる。このような操作
を各チヤネルごとに行うと、各チヤネルの熱電対
の断線を自動的に検出することができる。熱電対
の断線事故は、CRT等により外部に表示され、
操作者に知らせる。
に戻って再び測定モードで熱起電力を測定するも
のとする。通常の状態では、キヤパシタC1にチ
ヤージされていた電荷は熱電対T1の閉ループで
放電して無くなり、測定時には正常な熱起電力が
測定できる。ところが、熱電対T1がD点で断線
した場合、キヤパシタC1にチヤージされた電荷
は放電されずそのまま残っている。図に示す回路
では健全なチヤネルの応答速度をおとさぬため1
回のスキヤンではわずかの電荷しかチヤージされ
ないようになっている。このため、m回スキヤン
した後のキヤパシタに累積された電圧をA/D変
換する。そして、MPU13は、m回前の同一チ
ヤネルの測定データと今回の測定データとを比較
し、両者の差が基準値以上になったときにパーン
アウトと判断する。熱電対に断線が無い場合は、
両データの差は一般に極めて小さいので或る値よ
りも大きくなることはなくこのときはパーンアウ
トなしと判断することができる。このような操作
を各チヤネルごとに行うと、各チヤネルの熱電対
の断線を自動的に検出することができる。熱電対
の断線事故は、CRT等により外部に表示され、
操作者に知らせる。
第3図は、各部の動作を示すタイミングチヤー
トである。(イ)は第1チヤネルスイツチS11,
S11′のオンオフを、(ロ)は第2チヤネル、(ハ)は第3
チヤネル、(ニ)は第nチヤネルのそれぞれチヤネル
スイツチのオンオフを示し、(ホ)はスイツチS2′,
S3のオンオフを、(ヘ)はスイツチS4,S4′のオンオ
フをそれぞれ示している。Δt1はA/D変換時
間、Δt2はフライングキヤパシタの充電時間であ
る。mは同一点のスキヤン回数で、m回目毎にバ
ーンアウト検出判断用のデータが保持される。こ
のようにA/D変換の空き時間を利用してキヤパ
シタの充電を行っているので、無駄な時間が無
く、高速のデータ処理が行える。このことは、マ
ルチプレクサそれぞれについて第1図のような検
出器を設ける必要がないことを意味し、安価な装
置を実現できる。また、周期的に充電する電圧を
特に大きくする必要がないので放電を測定に影響
を与えない程度まで減衰させるに要する時間が短
くてすみ、サンプリング周期が短かくなり、より
高速のデータアクイジヨンステムを構成すること
ができる。更に、A/D変換する時にコンデンサ
に充電するため、水銀リレーによるフライングキ
ヤパシタ方式の他FET等による半導体スイツチ
のフライングキヤパシタ方式にも適用することが
できる。このため、1個のA/D変換器に対して
何種類かのマルチプレクサを取扱うことができ
る。なお、本考案装置は、熱電対による温度測定
の他にも、圧力、流量、電圧等の物理量を測定す
ることができることはいうまでもない。
トである。(イ)は第1チヤネルスイツチS11,
S11′のオンオフを、(ロ)は第2チヤネル、(ハ)は第3
チヤネル、(ニ)は第nチヤネルのそれぞれチヤネル
スイツチのオンオフを示し、(ホ)はスイツチS2′,
S3のオンオフを、(ヘ)はスイツチS4,S4′のオンオ
フをそれぞれ示している。Δt1はA/D変換時
間、Δt2はフライングキヤパシタの充電時間であ
る。mは同一点のスキヤン回数で、m回目毎にバ
ーンアウト検出判断用のデータが保持される。こ
のようにA/D変換の空き時間を利用してキヤパ
シタの充電を行っているので、無駄な時間が無
く、高速のデータ処理が行える。このことは、マ
ルチプレクサそれぞれについて第1図のような検
出器を設ける必要がないことを意味し、安価な装
置を実現できる。また、周期的に充電する電圧を
特に大きくする必要がないので放電を測定に影響
を与えない程度まで減衰させるに要する時間が短
くてすみ、サンプリング周期が短かくなり、より
高速のデータアクイジヨンステムを構成すること
ができる。更に、A/D変換する時にコンデンサ
に充電するため、水銀リレーによるフライングキ
ヤパシタ方式の他FET等による半導体スイツチ
のフライングキヤパシタ方式にも適用することが
できる。このため、1個のA/D変換器に対して
何種類かのマルチプレクサを取扱うことができ
る。なお、本考案装置は、熱電対による温度測定
の他にも、圧力、流量、電圧等の物理量を測定す
ることができることはいうまでもない。
以上、詳細に説明したように、本考案によれば
当該チヤネルの温度を測定した後そのチヤネルの
キヤパシタを充電しておき、所定回数経過後のス
キヤン時に測定したデータと所定回数前のデータ
とを比較することにより容易にパーンアウトを検
出することができ、キヤパシタ容量を大きくして
も高速のデータ処理が行え、かつ比較的高速にバ
ーンアウト検出が行える。
当該チヤネルの温度を測定した後そのチヤネルの
キヤパシタを充電しておき、所定回数経過後のス
キヤン時に測定したデータと所定回数前のデータ
とを比較することにより容易にパーンアウトを検
出することができ、キヤパシタ容量を大きくして
も高速のデータ処理が行え、かつ比較的高速にバ
ーンアウト検出が行える。
第1図は従来装置のバーンアウト検出回路の一
例を示す電気的構成図、第2図は本考案の一実施
例を示す電気的構成図、第3図はタイミングチヤ
ートである。 1,T1〜Tn…熱電対、Co,C1〜Cn…フライ
ングキヤパシタ、SW1,SW1′,SW2,S11〜S1n,
S11′〜S1n′,S2,S3,S4,S4′…スイツチ、2…比
較器、3…パルス発生器、4…アラーム検出器、
10…A/D変換器、11…制御回路、12…メ
モリ、13…MPU、14,15…電源。
例を示す電気的構成図、第2図は本考案の一実施
例を示す電気的構成図、第3図はタイミングチヤ
ートである。 1,T1〜Tn…熱電対、Co,C1〜Cn…フライ
ングキヤパシタ、SW1,SW1′,SW2,S11〜S1n,
S11′〜S1n′,S2,S3,S4,S4′…スイツチ、2…比
較器、3…パルス発生器、4…アラーム検出器、
10…A/D変換器、11…制御回路、12…メ
モリ、13…MPU、14,15…電源。
Claims (1)
- フライングキヤパシタ方式のマルチプレクサを
もつた多点アナログ信号測定装置において、各チ
ヤネルごとのA/D変換終了後に当該チヤネルの
キヤパシタに微少な定電流により充電する手段
と、各入力の時点の異なる測定値間の差分を所定
の基準値と比較してバーンアウトを検出する手段
を具備したことを特徴とする多点アナログ信号測
定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2565183U JPS59134897U (ja) | 1983-02-23 | 1983-02-23 | 多点アナログ信号測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2565183U JPS59134897U (ja) | 1983-02-23 | 1983-02-23 | 多点アナログ信号測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59134897U JPS59134897U (ja) | 1984-09-08 |
JPH0325274Y2 true JPH0325274Y2 (ja) | 1991-05-31 |
Family
ID=30156629
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2565183U Granted JPS59134897U (ja) | 1983-02-23 | 1983-02-23 | 多点アナログ信号測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59134897U (ja) |
-
1983
- 1983-02-23 JP JP2565183U patent/JPS59134897U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59134897U (ja) | 1984-09-08 |
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