JP2002525581A - 電荷流を周波数信号に変換する装置及び方法 - Google Patents

電荷流を周波数信号に変換する装置及び方法

Info

Publication number
JP2002525581A
JP2002525581A JP2000570592A JP2000570592A JP2002525581A JP 2002525581 A JP2002525581 A JP 2002525581A JP 2000570592 A JP2000570592 A JP 2000570592A JP 2000570592 A JP2000570592 A JP 2000570592A JP 2002525581 A JP2002525581 A JP 2002525581A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
charge
threshold
threshold signal
stream
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000570592A
Other languages
English (en)
Inventor
バドゥーラ (Eugen Badura) オイゲン
Original Assignee
ジー エス アイ ゲゼルシャフト フュア シュベールイオーネンフォルシュンク エム ベー ハー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ジー エス アイ ゲゼルシャフト フュア シュベールイオーネンフォルシュンク エム ベー ハー filed Critical ジー エス アイ ゲゼルシャフト フュア シュベールイオーネンフォルシュンク エム ベー ハー
Publication of JP2002525581A publication Critical patent/JP2002525581A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/24Arrangements for measuring quantities of charge

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Networks Using Active Elements (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 電荷流を周波数信号に変換する装置及び方法が提案される。 【解決手段】 この装置は、電荷流を交互に受け取るように構成され、且つその各々が、スイッチ要素(40;40’)と積分器(10;10’)と比較器(30;30’)との直列接続を有する2つの平行な回路ブランチ(Z;Z’)を有しており、前記スイッチ要素(40;40’)が、前記電荷流を前記2つの回路ブランチ(Z;Z’)の一方に供給するように作用し、受領している回路ブランチ(Z;Z’)では、前記積分器(10;10’)が、前記電荷流を積分するように作用しかつリセット可能に構成されていて、前記比較器(30;30’)が、前記積分された電荷流が特定の閾値信号に一致すると信号を発するように構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 本発明は、電荷流を周波数信号に変換する装置及び方法に関する。 そのような装置は、電荷−周波数変換器としても知られているが、電荷流を測
定するために使用される電子回路である。
【0002】 電荷−周波数変換器の既知の回路構成では、積分器と比較器とが直列に接続さ
れる。電荷は、回路の入力を介して入力側でこの構成に供給されて、積分器によ
って積分される。積分器は、供給された電荷の積分に対応する電圧信号を増幅器
に供給する。積分された電圧信号は、比較器内で、あらかじめ設定された電荷比
較値と比較される。信号が、この比較値に大きさに関して達していれば、比較器
は構成の出力にパルスを発する。積分器はそれからリセットされて、積分及び比
較手順が新たに開始される。したがって、構成の出力では時間と共にパルスシー
ケンスが生成され、その瞬時周波数が、単位時間当たりに供給された電荷量の測
定尺度、すなわち電荷流である。
【0003】 この構成の欠点は、積分器がリセット動作中に動作できないこと、すなわち、
電荷量が測定できない不感時間が存在することである。時間が重要になる適用例
、すなわち、供給される電荷量が急激に変化して非常に迅速に測定されなければ
ならない適用例では、回路中の積分器のリセットによって失われる時間が多すぎ
ることになる。これによって不正確な測定になる可能性があるが、このようなこ
とは、例えばイオンビーム療法のように安全性が考慮事項になる適用例では、本
質的に許容されない。
【0004】 したがって、本発明の目的は、正確で迅速に且つ信頼できる電荷の測定を確実
にする、電荷流を周波数信号へ変換する装置及び方法を提供することである。こ
の目的は請求項1及び14による特徴を有する装置、並びに請求項8及び21に
よる特徴を有する方法によって達成される。好適な発展形態は従属請求項に規定
されている。
【0005】 本発明による装置及び本発明による方法には多くの利点が付随している。 2つの平行な回路ブランチの設置によって、一方の回路ブランチにおける電荷
流があらかじめ設定された閾値に到達し、関連する積分器がリセットされなけれ
ばならなくなると、電荷流の測定は、もう一方の回路ブランチにて継続されるこ
とができる。したがって、測定中における積分器のリセットのための不感時間が
なくなる。
【0006】 各比較器に対する様々な閾値の設定の結果、拡大可能な測定範囲を有する回路
が得られる。加えて、回路ブランチの切り替え頻度が少なくなるので、それらの
切り替え動作に関連する切り替え時間及び不感時間も、最小化される。 測定が一方の回路ブランチで行われている間であっても他方の回路ブランチに
接続することによって、一方のブランチ回路からもう一方への移行における残り
の切り替え時間をなくすこともできる。これより、電荷流が連続的に、すなわち
不感時間無しに測定できる装置及び方法が提供される。
【0007】 加えて、この回路は商業的に入手可能な構成要素から製造されていて、したが
って経済的に製造されることができる。加えて、この回路の設計特性は、大規模
生産において信頼性良く再現されることができる。
【0008】 本発明は、図面を参照して更に詳細に説明される。
【0009】 図1は、本発明の第1の実施形態にしたがった電荷−周波数変換器の構成を、
ブロック回路図のかたちで示す。この電荷−周波数変換器は、同一に製造された
本質的に2つの平行な回路ブランチ(単一パルス群とも称する)Z、Z’からな
っている。回路ブランチZ、Z’は各々、スイッチ要素40、40’によって、
お互いに逆位相で出力1に接続されるか又はそこから切り離される。各ブランチ
は積分器10、10’を有しており、これらは、たったいま閉じたばかりのスイ
ッチ要素40又は40’を介して供給される電荷流を合計し、その積分に対応す
る電圧信号を発するように機能する。積分器の出力は、増幅器20、20’に接
続されている。電圧信号は、比較器30、30’に供給される。比較器30、3
0’の第2の入力には、閾値電圧信号が比較信号の形で印加される。この閾値電
圧信号−直流電圧−は、その大きさに関して分圧器によって設定される。
【0010】 2つの比較器30、30’は、その出力側で加算器4を介してD−フリップフ
ロップ3に結合され、これによって、積分器10又は10’がそれぞれの時間遅
れ要素15、15’によってリセットされ、スイッチ要素40、40’が駆動さ
れる。D−フリップフロップ3の2つの相補出力Q、(アンダーバーQ)の各
々は、2つのスイッチ要素40、40’の一つに接続されている。その結果、こ
れら2つのスイッチ要素は、お互いに逆位相になるように接続される。加算器4
の下流には、出力信号のためのピックオフ42が存在する。
【0011】 したがって、2つのブランチZ、Z’は交互に活性化される。すなわち、接続
されたブランチでは、電荷流が積分されて増幅され、閾値電圧と比較されている
。不活性化されているブランチは動作しておらず、その中の積分器が零にリセッ
トされるために十分な時間が存在する。
【0012】 接続されているブランチの積分器10、10’は、回路の入力から供給された
電荷流信号を積分し、積分された電荷流信号を電圧信号に変換する。この電圧信
号は増幅器20、20’で増幅され、それから比較器30、30’の入力の一つ
に供給される。比較器30、30’は、その信号と他方の入力に与えられた閾値
電圧とを、大きさに関して比較する。積分された電荷流信号が閾値電圧に達する
と、比較器はその出力にパルスを出力する。そのパルスは、加算器4を経由して
D−フリップフロップ3まで移動する。D−フリップフロップ3は、その状態を
変える。すなわち、その出力Q、(アンダーバーQ)における信号が、各々反
転される。結果として、先に開いていたスイッチ要素が閉じ、先に閉じていたス
イッチ要素が開いて、関連する積分器がリセットされる。この場合のリセットは
直ちに行われるが、リセットのキャンセルは、問題となっているブランチが接続
された後の短時間(典型的な値:50ns)まで生じない。この目的のために時
間遅れ要素15、15’が設けられていて、これらは、問題となるブランチが接
続されるときに発生する電流サージが積分器10、10’によって積分されて測
定が誤ったものになるという事態を防ぐ。
【0013】 上記のシーケンスがその後に他方のブランチで行われ、その間、先に活性状態
にあったブランチは非動作状態にある。
【0014】 したがって、2つのブランチは交互にパルスを加算器4に供給し、ピックオフ
42にて、時間と共にパルスシーケンスが生成される。その周波数は、単位時間
当たりの入力側電荷流を示している。
【0015】 この回路の解像度は10pC/パルスであり、電荷流は25μC/秒である。
この回路を使用して、毎秒10〜10個の粒子というビーム強度に対して、
1MHzまでの周波数の出力信号を生成することができる。この場合の誤り率は
、3%よりも低いままである。
【0016】 この誤り率は、2つのブランチの間での切り替えの頻度をより少なくすれば、
さらに減少させることができる。これは、図2A及びBにしたがった回路により
達成される。図2Aは、本発明の第2の実施形態にしたがった電荷−周波数変換
器の構成を、ブロック回路図の形で示す。図1の回路と比較して、この回路では
、異なる閾値電圧値を生成するために構成要素50、60及び50’、60’が
追加されている。閾値電圧値は、様々な抵抗器51〜54及び51’〜54’を
演算増幅器60、60’の入力に接続することによって生成される。閾値電圧値
の一つの接続はバイナリカウンタモジュール50、50’によって行われるが、
これらの各バイナリカウンタモジュール50、50’は、比較器30、30’か
らの出力信号のパルスによってトリガされる。したがって、4つの抵抗器51〜
54及び51’〜54’によって、16個の異なる閾値電圧値(又は階段状電圧
)を生成することができる。したがって、2つの隣接する抵抗器の間の抵抗比が
2:1である場合は、測定範囲は15倍まで拡大される。この実施形態でも、2
つのブランチZ、Z’のディメンジョンは回路構成に関して同一である。
【0017】 第1の実施形態におけるように、測定されるべき電荷流信号は、2つのスイッ
チ要素40、40’の位相によって2つのブランチのうちの一つに供給される。
第1の実施形態とは異なって、この場合の2つのブランチは、お互いに正確に逆
位相で接続されるものでなく、時間的にわずかに重複して接続される。すなわち
、2つのスイッチ要素の閉成時間が、各位相の開始及び終了時に重複している。
【0018】 ブランチZが活性ブランチであるとする。活性ブランチのある位相の開始時に
、積分器10は零にセットされ、最小の閾値電圧値が比較器30に印加される。
増幅器20によって供給された積分電荷流信号が、その大きさに関して第1の閾
値電圧値に到達すると、その時点で、第1の実施形態におけるように、パルスが
出力に発せられる。しかし、第1の実施形態の電荷−周波数変換器とは異なって
、積分器はリセットされず、さらにどちらのスイッチ要素も切り替えられない。
すなわち、ブランチZは活性なままである。バイナリカウンタ50がここで駆動
されて、これが、次に高い閾値電圧値を、抵抗器51〜54の異なる組み合わせ
を接続することによって生成し、その値を比較器30の入力に印加する。積分動
作は、積分された電荷流信号が大きさに関して現在の閾値電圧値に到達するまで
継続される。それから、パルスが再び発せられて、サイクルが新たに始まる。そ
のサイクルは、16個の閾値電圧値の最後のものが到達されるまで繰り返される
。活性ブランチZが切り離されて積分器10がリセットされるのは、その時点に
なってからである。
【0019】 しかし、他方のブランチZ’が接続されるのは、もう一つのブランチZの最後
の閾値電圧値が到達されたときではなく、最後から2番目の閾値電圧値が到達さ
れたときである。したがって、最後の測定フェーズの間は、両ブランチZ、Z’
が活性である。結果として、スイッチ要素がブランチ位相の開始時に接続された
ときに発生する遅れに起因する測定誤りを、除去することができる。
【0020】 上記のサイクルは、それからブランチZ’に対して同じように繰り返される。
【0021】 図3は、電荷−周波数変換器のアナログ部の回路図であり、これは本発明の両
実施形態に共通である。各積分器10、10’は、容量性フィードバック回路1
5、15’を有する演算増幅器(OPAMP)によって実現され、供給された電
荷流はスイッチ要素40、40’を介して反転入力に切り替えられる。増幅器2
0、20’及び比較器30、30’は、対応する回路構成を有するさらなるOP
AMPによって実現される。
【0022】 図4は、本発明の第2の実施形態にしたがった電荷−周波数変換器のデジタル
部分及び閾値電圧生成器の回路図である。
【0023】 この閾値電圧生成器は、原理的には様々な方法で実現されることができるが、
各パルス(約10nsまで)にて、100nsよりも短い時間内に確実に新しい
電圧パルスを出力に生成することが重要である。閾値電圧を異った仕方で累進さ
せることができることが、理解されるであろう。そのときには、閾値電圧生成器
は、対応するようにより多数又はより少数の抵抗器と、適切に合わせられた桁数
のカウンタとを含む。
【0024】 バイナリカウンタの代わりに、階段状電圧を順に選択することができる異なる
回路を使用することも可能である。
【0025】 異なる抵抗値を演算増幅器60、60’に接続することによって様々な電圧値
を生成する代わりに、閾値電圧生成器50、50’;60、60’を、2進数を
電圧値に変換するデジタル/アナログ変換器によって実現することもできる。図
2Bは、この点で改変された図2Aの実施形態を示している。
【0026】 第2の実施形態による回路では、図3及び図4に示された構成要素を使用して
、10−14〜10−4C/秒の電荷流を測定することができる。
【0027】 図5は、本発明の第2の実施形態にしたがった電荷−周波数変換器に対する特
性曲線を示すグラフである。水平時間軸に対してプロットされたグラフは、下側
のグラフがブランチZの比較器30の2つの入力における電圧曲線、真中のグラ
フがブランチZ’の比較器30’の2つの入力における電圧曲線、上側のグラフ
が出力4に供給された出力信号を、示している。閾値電圧値は、−4Vと4Vと
の間で等間隔に階段状である。比較器に供給される積分電圧信号Uout1又はUou
t2は、ここでは入力1での電荷流を示していて、これは時間に対して一定である
。Uout1及びUout2と閾値電圧値との各交点は、出力信号における電圧パルスに
対応する。2つのスイッチ40、40’の位相重複により、重複期間に供給され
た電荷が両ブランチZ1、Z2に分配されることになる。これにより、各上昇側
面Uout1又はUout2の終わりが、他方のブランチにて後に続く上昇側面Uout2又
はUout1の開始に、時間的に重複する結果となる。したがって、次の閾値電圧値
はわずかに遅れて到達され、そのときには、わずかにより大きい中断が電圧信号
に現れる。
【0028】 スイッチ要素40、40’の切り替えによって発生する不感時間を完全に除去
する必要がないならば、第2の実施形態にしたがった回路構成要素50、60及
び50’、60’による測定レンジの拡大の原理を、第1の実施形態における電
荷−周波数変換器に直接的に組み合わせることができる。
【0029】 本発明にしたがった電荷−周波数変換器及び本発明にしたがった方法は、広い
範囲の適用例を有する。図6は、ある適用例のブロック回路図を示しており、こ
こでは、本発明にしたがった電荷−周波数変換器が、放射線療法における重イオ
ンビームの強度を測定するために使用されている。このイオンビームに対する検
出器は、イオンビーム中に配置されたイオン化チャンバ100によって提供され
ており、ここでは、通過するイオンビームが電荷を生成する。生成された電荷の
量は、イオン化チャンバを通過するイオンに比例する。電荷は、電荷−周波数変
換器200に供給される。電荷−周波数変換器の出力信号は、信号処理ユニット
300を介して強度モニタ400に供給されて、ここで、照射のモニタ又はビー
ムの停止の目的で測定信号の評価が行われる。本発明にしたがった装置によって
達成される迅速で信頼できる正確な強度測定が最も重要であるのは、まさにその
ような適用例にとってである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施形態にしたがった電荷−周波数変換器のブロック回路図で
ある。
【図2A】 本発明の第2の実施形態にしたがった電荷−周波数変換器のブロック回路図で
ある。
【図2B】 本発明の第2の実施形態にしたがった電荷−周波数変換器のブロック回路図で
ある。
【図3】 本発明の第2の実施形態にしたがった電荷−周波数変換器のアナログ部分の回
路図である。
【図4】 本発明の第2の実施形態にしたがった電荷−周波数変換器のデジタル部分及び
閾値電圧生成器の回路図である。
【図5】 本発明の第2の実施形態にしたがった電荷−周波数変換器に対する特性曲線を
示すグラフである。
【図6】 本発明にしたがった電荷−周波数変換器の適用例のブロック回路図である。
【符号の説明】
1 出力 3 D−フリップフロップ 4 加算器 10、10’ 積分器 15、15’ 時間遅れ要素(容量性フィードバック回路) 20、20’ 増幅器 30、30’ 比較器 40、40’ スイッチ要素 42 ピックオフ 50、50’ 回路構成要素(バイナリカウンタモジュール、閾値電圧生
成器) 51〜54、51’〜54’ 抵抗器 60、60’ 回路構成要素(演算増幅器、閾値電圧生成器) 100 イオン化チャンバ 200 電荷−周波数変換器 300 信号処理ユニット 400 強度モニタ Q、 相補出力 Uout1、Uout2 積分電圧信号 Z、Z’、Z1、Z2 回路ブランチ

Claims (26)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電荷流を周波数信号に変換する装置であって、 電荷流を交互に受け取り、且つその各々が、スイッチ要素(40;40’)と
    積分器(10;10’)と比較器(30;30’)との直列接続を有する2つの
    平行な回路ブランチ(Z;Z’)を有しており、 前記スイッチ要素(40;40’)が、前記電荷流を前記2つの回路ブランチ
    (Z;Z’)の一方に供給するように作用し、 受領している回路ブランチ(Z;Z’)では、前記積分器(10;10’)が
    、前記電荷流を積分するように作用し且つリセット可能に構成されていて、前記
    比較器(30;30’)が、前記積分された電荷流が特定の閾値信号に一致する
    と信号を発するように構成されている装置。
  2. 【請求項2】 前記積分された電荷流が前記特定の閾値信号に一致するとき
    に、前記積分器(10;10’)をリセットし且つ前記スイッチ要素(40;4
    0’)を駆動させる制御手段(3、15、16;3’、15’、16’)を有す
    ることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  3. 【請求項3】 増幅器(20;20’)が、各々のスイッチ要素(40;4
    0’)と前記それぞれの積分器(10;10’)との間に接続されていることを
    特徴とする請求項1又は2に記載の装置。
  4. 【請求項4】 各々の場合に発せられる前記信号が、単一のパルスであるこ
    とを特徴とする請求項1から3の何れか一項に記載の装置。
  5. 【請求項5】 前記電荷流が、検出されたイオン粒子の測定尺度であること
    を特徴とする請求項1から4の何れか一項に記載の装置。
  6. 【請求項6】 前記回路ブランチ(Z;Z’)の各々が、閾値信号のシリー
    ズ及び前記特定の閾値信号からの一つの閾値信号の循環的選択のための回路(5
    0、60;50’、60’)を有し、前記積分された電荷流が、前記受領してい
    る回路ブランチ(Z;Z’)において前記選択された閾値信号に一致すると、前
    記比較器(30;30’)が信号を発し、前記サイクル中で次である閾値信号が
    前記シリーズから選択されることを特徴とする請求項2から5の何れか一項に記
    載の装置。
  7. 【請求項7】 前記閾値信号がそれらの値に関して昇順に並んでおり、隣接
    する閾値信号がお互いに関して一定の値の差を有することを特徴とする請求項6
    に記載の装置。
  8. 【請求項8】 電荷流を周波数信号に変換する方法であって、 電荷流を2つの回路ブランチの一つに供給するステップと、 受領している回路ブランチで、前記電荷流を積分するステップと 前記積分された電荷流を特定の閾値信号と比較するステップと、 前記積分された電荷流が前記特定の閾値信号に一致すると、 出力信号を生成し、 前記受領している回路ブランチの前記積分器をリセットし、 電荷流をもう一方の回路ブランチに供給するステップと、 からなるシーケンスを反復して実行する方法。
  9. 【請求項9】 前記積分された電荷流が電圧増幅されることを特徴とする請
    求項8に記載の方法。
  10. 【請求項10】 各々の場合に発せられる前記信号が、単一のパルスである
    ことを特徴とする請求項8又は9に記載の方法。
  11. 【請求項11】 前記電荷流が、検出されたイオン粒子の測定尺度であるこ
    とを特徴とする請求項8から10の何れか一項に記載の方法。
  12. 【請求項12】 前記受領しているブランチにおいて、閾値信号が、異なる
    閾値信号のシリーズ及び前記特定の閾値信号から循環的に選択され、前記積分さ
    れた電荷流が、前記受領している回路ブランチにおいて前記選択された閾値信号
    に一致すると、信号が発せられ、前記サイクル中で次である閾値信号が前記シリ
    ーズから選択されることを特徴とする請求項8から11の何れか一項に記載の方
    法。
  13. 【請求項13】 前記閾値信号がそれらの値に関して昇順に並んでおり、隣
    接する閾値信号がお互いに関して一定の値の差を有することを特徴とする請求項
    12に記載の方法。
  14. 【請求項14】 電荷流を周波数信号に変換する装置であって、 電荷流を受け取るように構成され、且つその各々が、スイッチ要素(40;4
    0’)と積分器(10;10’)と比較器(30;30’)と所定の閾値信号の
    シリーズから一つの閾値信号を循環的に選択する回路(50、60;50’、6
    0)との直列接続を有する、2つの平行な回路ブランチ(Z;Z’)を有してお
    り、 前記スイッチ要素(40;40’)の各々が、前記電荷流を関連する回路ブラ
    ンチ(Z;Z’)に供給するように作用し、 前記積分器(10;10’)の各々が、前記電荷流を積分するように作用し且
    つリセット可能に構成されていて、前記比較器(30;30’)が、前記積分さ
    れた電荷流が閾値信号に一致すると信号を発するように構成されていて、 受領している回路ブランチ(Z;Z’)において、前記積分された電荷流が閾
    値信号に一致すると、対応する前記比較器(30;30’)が信号を発し、前記
    回路(50、60;50’、60)では、前記サイクル中で次である閾値信号が
    選択され、 一つの回路ブランチ(10;10’)において前記閾値信号のシリーズからの
    第1の所定の閾値信号が到達されると、他方のブランチ(10;10’)におけ
    る前記スイッチ要素が接続され、前記一つの回路ブランチ(10;10’)にお
    いて前記閾値信号のシリーズからの第2の所定の閾値信号が到達されると、関連
    するスイッチ要素が不活性化されて、関連する積分器がリセットされる装置。
  15. 【請求項15】 増幅要素(20;20’)が各々のスイッチ要素(40;
    40’)と前記それぞれの積分器(10;10’)との間に接続されていること
    を特徴とする請求項14に記載の装置。
  16. 【請求項16】 各々の場合に発せられる前記信号が、単一のパルスである
    ことを特徴とする請求項14又は15に記載の装置。
  17. 【請求項17】 前記電荷流が、検出されたイオン粒子の測定尺度であるこ
    とを特徴とする請求項14から16の何れか一項に記載の装置。
  18. 【請求項18】 前記シリーズの閾値信号がそれらの値に関して昇順に並ん
    でおり、隣接する閾値信号がお互いに関して一定の値の差を有することを特徴と
    する請求項14から17の何れか一項に記載の方法。
  19. 【請求項19】 前記第1の所定の閾値信号が、値に関して2番目に大きく
    、前記第2のものが、値に関して前記シリーズの中で最大であることを特徴とす
    る請求項18に記載の方法。
  20. 【請求項20】 前記積分された電荷流が前記第2の特定の閾値信号に一致
    すると、前記積分器(10;10’)をリセットし且つ前記スイッチ要素(40
    ;40’)を駆動する制御手段(3、15、16;3’、15’、16’)を有
    することを特徴とする請求項14から19の何れか一項に記載の方法。
  21. 【請求項21】 電荷流を周波数信号に変換する方法であって、 電荷流を、2つの平行な回路ブランチの一つに供給するステップと、 電荷流を受領している回路ブランチで、前記電荷流を積分するステップと 前記積分された電荷流を、閾値信号のシリーズからの一つの閾値信号と比較す
    るステップと、 前記受領している回路ブランチにおける前記積分された電荷流が、前記閾値信
    号に一致すると、 出力信号を生成し、 前記サイクルにおいて次である閾値信号を前記シリーズから選択し、 前記受領している回路ブランチにおける前記積分された電荷流が第1の特定
    の閾値信号に一致するときには、電荷流を他方の回路ブランチにも供給し、 前記受領している回路ブランチにおける前記積分された電荷流が第2の特定
    の閾値信号に一致するときには、その回路ブランチを前記電荷流から切り離すス
    テップと、 からなるシーケンスを反復して実行する方法。
  22. 【請求項22】 前記積分された電荷流が電圧増幅されることを特徴とする
    請求項21に記載の方法。
  23. 【請求項23】 各々の場合に発せられる前記信号が、単一のパルスである
    ことを特徴とする請求項21又は22に記載の方法。
  24. 【請求項24】 前記電荷流が、検出されたイオン粒子の測定尺度であるこ
    とを特徴とする請求項21から23のいずれか一項に記載の方法。
  25. 【請求項25】 前記閾値信号がそれらの値に関して昇順に並んでおり、隣
    接する閾値信号がお互いに関して一定の値の差を有することを特徴とする請求項
    21から24のいずれか一項に記載の方法。
  26. 【請求項26】 前記第1の所定の閾値信号が、値に関して2番目に大きく
    、前記第2のものが、値に関して前記シリーズの中で最大であることを特徴とす
    る請求項25に記載の方法。
JP2000570592A 1998-09-10 1999-09-10 電荷流を周波数信号に変換する装置及び方法 Pending JP2002525581A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19841308A DE19841308A1 (de) 1998-09-10 1998-09-10 Vorrichtung und Verfahren zum Umwandeln von Ladungsfluß in ein Frequenzsignal
DE19841308.4 1998-09-10
PCT/EP1999/006716 WO2000016110A1 (de) 1998-09-10 1999-09-10 Vorrichtung und verfahren zum umwandeln von ladungsfluss in ein frequenzsignal

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002525581A true JP2002525581A (ja) 2002-08-13

Family

ID=7880440

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000570592A Pending JP2002525581A (ja) 1998-09-10 1999-09-10 電荷流を周波数信号に変換する装置及び方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6462553B1 (ja)
EP (1) EP1031040B1 (ja)
JP (1) JP2002525581A (ja)
AT (1) ATE283493T1 (ja)
DE (2) DE19841308A1 (ja)
RU (1) RU2222025C2 (ja)
WO (1) WO2000016110A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014506094A (ja) * 2011-02-22 2014-03-06 ユニバーシテット ヤギエロンスキ 電荷計測システム

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2320430A3 (en) 2000-12-08 2012-09-05 Loma Linda University Medical Center Proton beam therapy control system
CA2465511C (en) 2001-10-30 2007-12-18 Loma Linda University Medical Center Method and device for delivering radiotherapy
WO2004060486A1 (en) 2003-01-02 2004-07-22 Loma Linda University Medical Center Configuration management and retrieval system for proton beam therapy system
EP2420288A1 (en) 2003-08-12 2012-02-22 Loma Linda University Medical Center Patient positioning system for radiation therapy system
WO2005018734A2 (en) 2003-08-12 2005-03-03 Loma Linda University Medical Center Patient positioning system for radiation therapy system
US7049853B2 (en) * 2003-10-20 2006-05-23 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Resetable control circuit devices for sense amplifiers
EP2095374A4 (en) 2006-11-21 2012-05-30 Univ Loma Linda Med DEVICE AND METHOD FOR FIXING PATIENTS FOR BRUSH-RADIATION THERAPY
DE102013108511A1 (de) 2013-08-07 2015-02-26 Gsi Helmholtzzentrum Für Schwerionenforschung Gmbh Ladungsfluss-Frequenz-Wandler mit Fehler-Indikator
DE102013108510B4 (de) 2013-08-07 2019-04-04 GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenfoschung GmbH Ladungsfluss-Frequenz-Wandler mit unterschiedlicher Ladungsfluss-Richtung
RU2698526C1 (ru) * 2018-09-03 2019-08-28 Максим Юрьевич Дидик Способ измерения заряда импульсов тока
CN114859393B (zh) * 2022-04-26 2023-02-03 中国科学院近代物理研究所 一种具有自恢复功能的放疗剂量监测装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5754056A (en) * 1996-04-23 1998-05-19 David Sarnoff Research Center, Inc. Charge detector with long integration time

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014506094A (ja) * 2011-02-22 2014-03-06 ユニバーシテット ヤギエロンスキ 電荷計測システム

Also Published As

Publication number Publication date
DE19841308A1 (de) 2000-04-06
ATE283493T1 (de) 2004-12-15
RU2222025C2 (ru) 2004-01-20
EP1031040A1 (de) 2000-08-30
WO2000016110A1 (de) 2000-03-23
DE59911140D1 (de) 2004-12-30
US6462553B1 (en) 2002-10-08
EP1031040B1 (de) 2004-11-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002525581A (ja) 電荷流を周波数信号に変換する装置及び方法
US7508217B2 (en) Test apparatus and test module
US9716954B2 (en) DC impedance detection circuit and method for speaker
JP2006502626A (ja) パルス幅変調アナログデジタル変換
JP2005150550A (ja) ソレノイド駆動装置
CN110163015B (zh) 乘法器电路、对应的设备和方法
US3560864A (en) Voltage to pulse frequency converter
US3981586A (en) Continuously monitoring ratiometer
US6067035A (en) Method for monitoring the operability of an analog to digital converter configured for digitizing analog signals
JPH048372A (ja) 放射線発生装置
US6160325A (en) Power switching circuit for use in a power distribution system
US3349251A (en) Level sensor circuit
US6172507B1 (en) Circuit configuration for measuring resistance and leakage
JPH05266687A (ja) ダイナミックバイアス回路
US11686615B2 (en) Light to frequency modulators
US3752980A (en) Apparatus for measuring electroluminescent device parameters
JP2011027621A (ja) 時間計測回路
JP3189866B2 (ja) 抵抗計校正装置
JPS59134911A (ja) 精密電流源装置
Gelato et al. Improved radial pick-up electronics for use over a wide dynamic range
US6549033B2 (en) Signal processing device and process and electrical apparatus comprising such a device
JPH06102312A (ja) バーンイン方法及び装置
EP3534150B1 (en) Fluid measuring device
US3514634A (en) Circuit for converting voltage to time
Saini et al. Test and characterisation of STS/MuCh-XYTER and integration with multiple detectors of CBM-MuCh detector systems

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060830

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090406

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090701

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090708

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20091201