JPH1083847A - 基板用コネクタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、回路基板上に実装され、その回路
基板と外部のプラグなどとを電気的に接触させる基板用
コネクタに関し、回路基板の動作検査を正確かつ容易に
行うことができる基板用コネクタを提供することを目的
とする。 【解決手段】 回路基板（１５）に対し電気的に接続さ
れる複数の接続片（１３）と、複数の接続片（１３）を
収納し、かつこれらの接続片（１３）の一端を表出させ
て外部のプラグなどに電気的に接触させるハウジング
（１２）とを備えた基板用コネクタにおいて、接続片
（１３）の中途を分岐して検査用端子（１４）を形成
し、該検査用端子（１４）をハウジング（１２）から突
設させて構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、回路基板上に実装
され、その回路基板と外部のプラグなどとを電気的に接
触させる基板用コネクタに関し、特に、検査用の端子を
備えた基板用コネクタに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、通信機器や大型コンピュータなど
は、ラック状の筐体内に複数の回路基板を組み込んで構
成される。このラック状の筐体内には、電源や信号など
が往き来する共通バスラインが張り巡らされる。筐体内
に組み込まれる回路基板は、基板用コネクタを介して、
この共通バスラインと電気的に接続され、電源および信
号のやり取りを行う。

【０００３】図５は、この種の回路基板４０に実装され
る基板用コネクタの従来例を示す図である。図５におい
て、基板用コネクタ４１は、Ｌ字状の接続片４３を、絶
縁材料からなるハウジング４２に複数収納して構成され
る。この接続片４３の一端は、ハウジング４２の下面側
に突出し、回路基板４０のランド４４に半田付けされ
る。また、接続片４３の他端は、ハウジング４２の側面
側に突出し、筐体側の共通バスラインなどに電気的に接
触する。

【０００４】このような構成の回路基板４０は、ラック
状の筐体内から取り外され、単体での動作検査が行われ
る。図６は、この種の動作検査を説明する図である。図
６において、基板用コネクタ４１には、検査用のプラグ
５２が接続される。検査用のプラグ５２には分岐ケーブ
ル５３の一端が圧着接続される。この分岐ケーブル５３
は途中で２つに分岐し、一方の分岐先には検査治具５４
が接続され、他方の分岐先には検査用端子５５が接続さ
れる。

【０００５】この検査治具５４からは、実際の使用状態
と同等の電源または信号が回路基板４０に供給される。
このような接続状態において、検査者は、測定器５６の
測定プローブ５７を検査用端子５５に押し当てて、動作
状態における信号の適否や、基板用コネクタ４１の接続
状態の良否などを検査していた。

【０００６】図７は、回路基板４０に対する別の動作検
査を説明する図である。図７において、回路基板４０
は、半田ディップ面を上にして配置される。この回路基
板４０の基板用コネクタ４１には、検査用のプラグ６２
が接続される。このプラグ６２は、多芯ケーブル６３を
介して検査治具６４に接続される。この検査治具６４か
らは、実際の使用状態と同等の電源または信号が回路基
板４０に供給される。

【０００７】このような接続状態において、検査者は、
基板用コネクタ４１のランド４４などに測定器６６の測
定プローブ６７を押し当てて、動作状態における信号の
適否などを検査していた。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところで、図６に示し
た動作検査では、回路基板４０から離れた検査用端子５
５において信号を観測する。

【０００９】そのため、検査用端子５５において観測さ
れる信号には、途中の分岐ケーブル５３などを介して雑
音や干渉が入りやすく、信号を正確に観測することがで
きないという問題点があった。特に、高周波信号におい
ては、分岐ケーブル５３の浮遊容量やインピーダンス不
整合のために信号の位相が大きく変化し、信号を正確に
観測することができないという問題点があった。

【００１０】一方、図７に示した動作検査では、測定プ
ローブ６７の先をランド４４に押し当てた状態を維持し
ながら信号観測を行わなければならない。そのため、検
査作業が煩雑で、作業効率が低いという問題点があっ
た。また、ランド４４のピッチ間隔が小さい場合には、
測定プローブ６７の先が隣のパターンに短絡してしまう
という問題点があった。

【００１１】そこで、請求項１に記載の発明は、上述の
問題点を解決するために、信号を正確に観測しつつ、検
査作業の効率を高めることができる基板用コネクタを提
供することを目的とする。

【００１２】請求項２に記載の発明は、請求項１の目的
と併せて、検査用端子の短絡を防止することができる基
板用コネクタを提供することを目的とする。請求項３に
記載の発明は、請求項２の目的と併せて、検査用端子の
短絡を一層確実に防止することができる基板用コネクタ
を提供することを目的とする。請求項４に記載の発明
は、請求項１の目的と併せて、検査用端子を確実かつ容
易につかむことができる基板用コネクタを提供すること
を目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】以下、図１に示す実施形
態の参照番号に対応付けて、課題を解決するための手段
を説明する。請求項１に記載の発明は、回路基板（１
５）に対し電気的に接続される複数の接続片（１３）
と、複数の接続片（１３）を収納し、かつこれらの接続
片（１３）の一端を表出させて外部のプラグなどに電気
的に接触させるハウジング（１２）とを備えた基板用コ
ネクタ（１１）において、接続片（１３）の中途を分岐
して検査用端子（１４）を形成し、該検査用端子（１
４）をハウジング（１２）から突設させたことを特徴と
する。

【００１４】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の基板用コネクタ（１１）において、ハウジング（１
２）の面には凹部（１７）が設けられ、検査用端子（１
４）は該凹部（１７）に突設することを特徴とする。請
求項３に記載の発明は、請求項２に記載の基板用コネク
タ（１１）において、ハウジング（１２）には、凹部
（１７）を覆って検査用端子（１４）を隠蔽するカバー
部材（１８）が設けられることを特徴とする。

【００１５】請求項４に記載の発明は、請求項１乃至請
求項３のいずれか１項に記載の基板用コネクタ（１１）
において、検査用端子（１４）は、ハウジング（１２）
から千鳥状に突設することを特徴とする。

【００１６】（作用）請求項１にかかわる基板用コネク
タでは、接続片の中途に検査用端子が形成される。その
ため、回路基板と検査用端子との距離は極めて短くな
る。したがって、回路基板と検査用端子との間に飛び込
む雑音や干渉を、極度に少なくすることができる。

【００１７】また、回路基板と検査用端子との間に生じ
る浮遊容量やインピーダンス不整合を格段に小さく抑え
ることもできる。さらに、検査用端子は、基板コネクタ
のハウジングから突設されるので、測定プローブなどで
容易に掴むことができる。請求項２にかかわる基板用コ
ネクタでは、検査用端子がハウジングの凹面に突設す
る。

【００１８】したがって、検査用端子に不用意に触れる
おそれが少なくなる。請求項３にかかわる基板用コネク
タでは、検査用端子がカバー部材により隠蔽されるの
で、検査用端子に不用意に触れるおそれが一層少なくな
る。また、カバー部材で覆うことにより、検査用端子に
塵などが付着することがなくなる。さらに、カバー部材
を導電材料で形成すれば、検査用端子を電磁波シールド
することもできる。

【００１９】請求項４にかかわる基板用コネクタでは、
検査用端子が千鳥状に突設する。したがって、検査用端
子のピッチ間隔が広くなり、検査用端子を測定プローブ
などで容易に掴むことができる。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明にお
ける実施の形態を説明する。

【００２１】図１は、請求項１〜４に対応する実施形態
を示す図である。図２は、本実施形態を上方から見た斜
視図である。これらの図において、基板用コネクタ１１
は、ハウジング１２に、接続片１３を並列に複数収納し
て構成される。これらの接続片１３の中途には、図３に
示すように、検査用端子１４が互い違いに設けられる。
これらの検査用端子１４の先端部には、測定プローブな
どを係止するための穴が個々に設けられる。

【００２２】接続片１３の一端は、ハウジング１２の下
面側にそれぞれ突出し、回路基板１５のランド１６に半
田付けされる。また、接続片１３の他端は、ハウジング
１２の側面側にそれぞれ突出し、外部のプラグなどと電
気的に接触する。ハウジング１２の上面には、窪んだ凹
部１７が設けられ、この凹部１７から複数の検査用端子
１４が千鳥状に突出する。

【００２３】ハウジング１２には、凹部１７を覆うよう
にカバー１８が取り付けられる。カバー１８の前縁部に
は、くさび状の係合爪１８ａが設けられ、ハウジング１
２には鉤状の係合部１２ａが設けられる。この係合爪１
８ａおよび係合部１２ａが係合することにより、カバー
１８がハウジング１２に取り付けられる。図４は、回路
基板１５の動作検査を説明する図である。

【００２４】図４において、回路基板１５は、半田ディ
ップ面を下にして配置される。この回路基板１５の基板
用コネクタ１１には、検査用のプラグ３０が接続され
る。このプラグ３０は、多芯ケーブル３１を介して検査
治具３２に接続される。この検査治具３２には、電源回
路３３および信号発生回路３４が搭載され、これらの回
路３３，３４からは、実際の使用状態と同等の電源およ
び信号が、回路基板１５に供給される。

【００２５】このような接続状態において、検査者は、
測定器３５の測定プローブ３６を検査用端子１４に係止
しつつ、信号観測を行う。以上説明したように、本実施
形態では、接続片１３の中途から検査用端子１４を分岐
するので、回路基板１５と検査用端子１４とが極めて近
くなる。

【００２６】したがって、回路基板１５と検査用端子１
４との間に飛び込む雑音や干渉が極端に低減する。ま
た、回路基板１５と検査用端子１４との間の浮遊容量や
インピーダンス不整合を小さく抑えることもできる。さ
らに、検査用端子１４はハウジング１２から突設される
ので、回路基板１５上の込み入ったパターンを測定プロ
ーブ３６で当接する場合と異なり、検査用端子１４を測
定プローブ３６で確実かつ容易に掴むことができる。し
たがって、検査作業が容易になり、検査作業の効率が格
段に高くなる。

【００２７】また、検査用端子１４は凹部１７に設けら
れ、かつカバー１８により隠蔽されるので、検査用端子
１４に不用意に触れるおそれが少なく、不測の短絡を確
実に防止することができる。また、カバー１８で覆うこ
とにより、検査用端子１４に塵などが付着することがな
く、検査用端子１４を常に清浄に保つことができる。

【００２８】ところで、検査用端子１４はハウジング１
２から突設されるために、先端部から輻射ノイズが発生
しやすく、周辺の回路基板に余計な干渉を与えやすい。
しかしながら、カバー１８を導電材料などで形成するこ
とにより、検査用端子１４を的確に電磁波シールドする
ことができるので、このような干渉を確実に防止するこ
とができる。

【００２９】さらに、検査用端子１４が千鳥状に突出す
るので、検査用端子１４のピッチ間隔は広く、測定プロ
ーブ３６で確実かつ容易に掴むことができる。なお、上
述した実施形態では、係合爪１８ａおよび係合部１２ａ
の係合によりカバー１８をハウジング１２に着脱してい
るが、その取り付け構造に限定されるものではない。例
えば、カバー１８の一端をハウジング１２に回動自在に
取り付け、カバー１８を回動することにより検査用端子
１４を露出させてもよい。

【００３０】また、上述した実施形態では、基板用コネ
クタ１１にプラグ３０を差し込んでいるが、その構成に
限定されるものではない。例えば、基板用コネクタ１１
の接続片１３に多芯ケーブルなどを直接つなげてもよ
い。

【００３１】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
発明では、基板用コネクタの接続片の中途から検査用端
子を分岐するので、回路基板と検査用端子との距離を極
めて短くすることができる。

【００３２】したがって、回路基板と検査用端子との間
に飛び込む雑音や干渉が格段に減少し、信号を正確に観
測することができる。また、回路基板と検査用端子との
間に生じる浮遊容量やインピーダンス不整合を格段に小
さく抑えることもできるので、高周波信号を正確に観測
することができる。

【００３３】さらに、検査用端子は、基板コネクタのハ
ウジングから突設されるので、回路基板の込み入ったパ
ターンを測定プローブなどで当接する場合と異なり、検
査用端子を測定プローブなどで確実かつ容易に掴むこと
ができる。したがって、検査作業が容易になり、検査作
業の効率を格段に高めることができる。請求項２に記載
の発明では、検査用端子がハウジングの凹面に突設する
ので、検査用端子に不用意に触れるおそれが少なくな
り、不測の短絡を未然に防ぐことができる。

【００３４】請求項３に記載の発明では、検査用端子が
カバー部材により隠蔽されるので、検査用端子に不用意
に触れるおそれが一層少なくなる。したがって、不測の
短絡を一層確実に防止することができる。また、カバー
部材で覆うことにより、検査用端子に塵などが付着する
ことがなくなり、検査用端子を常に清浄に保つことがで
きる。

【００３５】ところで、検査用端子はハウジングから突
設されるために、先端部に高電界を生じて輻射ノイズが
発生しやすく、周辺の回路基板に余計な干渉を与えやす
い。しかしながら、請求項３の発明では、カバー部材を
導電材料などで形成することにより、検査用端子を容易
に電磁波シールドすることができるので、このような干
渉を確実に防止することができる。

【００３６】請求項４に記載の発明では、検査用端子が
千鳥状に突設するので、検査用端子のピッチ間隔を大幅
に広げることができる。したがって、検査用端子を測定
プローブなどで確実かつ容易に掴むことができる。以上
説明したように、本発明の基板用コネクタを実装した回
路基板は、動作検査の作業性を格段に向上させ、回路基
板が組み込まれた機器全体の保守性を格段に高めること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】請求項１〜４に対応する実施形態を示す図であ
る。

【図２】本実施形態を上方から見た斜視図である。

【図３】交互に配置される接続片１３の形状を示す図で
ある。

【図４】動作検査時の接続状態を説明する図である。

【図５】基板用コネクタの従来例を示す図である。

【図６】従来の動作検査を説明する図である。

【図７】従来の動作検査を説明する図である。

【符号の説明】

１１ 基板用コネクタ １２ ハウジング １２ａ 係合部 １３ 接続片 １４ 検査用端子 １５ 回路基板 １６ ランド １７ 凹部 １８ カバー １８ａ 係合爪 ３０ 検査用のプラグ ３１ 多芯ケーブル ３２ 検査治具 ３３ 電源回路 ３４ 信号発生回路 ３５ 測定器 ３６ 測定プローブ ４０ 回路基板 ４１ 基板用コネクタ ４２ ハウジング ４３ 接続片 ４４ ランド ５２ 検査用のプラグ ５３ 分岐ケーブル ５４ 検査治具 ５５ 検査用端子 ５６ 測定器 ５７ 測定プローブ ６２ 検査用のプラグ ６３ 多芯ケーブル ６４ 検査治具 ６６ 測定器 ６７ 測定プローブ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 回路基板に対し電気的に接続される複数
   の接続片と、 前記複数の接続片を収納し、かつこれらの接続片の一端
   を表出させて外部のプラグなどに電気的に接触させるハ
   ウジングとを備えた基板用コネクタにおいて、 前記接続片の中途を分岐して検査用端子を形成し、該検
   査用端子を前記ハウジングから突設させたことを特徴と
   する基板用コネクタ。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の基板用コネクタにおい
   て、 前記ハウジングの面には凹部が設けられ、前記検査用端
   子は該凹部に突設することを特徴とする基板用コネク
   タ。
3. 【請求項３】 請求項２に記載の基板用コネクタにおい
   て、 前記ハウジングには、 前記凹部を覆って前記検査用端子を隠蔽するカバー部材
   が設けられることを特徴とする基板用コネクタ。
4. 【請求項４】 請求項１乃至請求項３のいずれか１項に
   記載の基板用コネクタにおいて、 前記検査用端子は、 前記ハウジングから千鳥状に突設することを特徴とする
   基板用コネクタ。