JPH1038914A - 装置と試験リードとの接続装置 - Google Patents

装置と試験リードとの接続装置

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JPH1038914A
JPH1038914A JP9071605A JP7160597A JPH1038914A JP H1038914 A JPH1038914 A JP H1038914A JP 9071605 A JP9071605 A JP 9071605A JP 7160597 A JP7160597 A JP 7160597A JP H1038914 A JPH1038914 A JP H1038914A
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 シールドされた試験リードバナナプラグおよ
びそれに対応する入力コンセントを提供する。 【解決手段】 このプラグは、内部導体と、それと同心
でそれから離れて配置されその先端を超えて延びる第1
の非導電性シュラウドと、それと同心でその外側にあり
その端より引っ込んだ導電性シールドと、シールドを同
心でそれから離れて配置され内部導体の先端を超えて延
びる非導電性外部シュラウドとを含む。シールドされた
バナナプラグと組合せるのに適した入力コンセントは、
内部導体を受けるための導電性内部スリーブと、内部ス
リーブと同心でありその外側にあり内部スリーブを超え
て延びる非導電性シュラウドと、導電性シールドを受け
るための導電性外部スリーブとを含む。入力コンセント
はまた従来のシールドされていないバナナプラグと組合
せるのにも適している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の分野】この発明は、一般的には計測試験のリー
ドプラグおよび入力コンセントに関し、より特定的に
は、電子試験ならびに測定装置のためのシールドされた
試験リードプラグおよびそれと対応する入力コンセント
に関する。
【0002】電子試験および測定装置は、電圧、電流、
およびインピーダンスなどのさまざまな電気的パラメー
タを測定するために用いられる。装置に差込まれた1つ
または2つ以上の試験リードが、典型的には、装置と、
測定するべき信号またはパラメータとを結合する。試験
リードの一方端はプローブを含み、他方端はプラグから
なり、これは装置の入力コンセントに挿入することがで
きる。従来の試験リードプラグは通常バナナプラグと呼
ばれる。バナナプラグはシールドされていない単一の導
体の試験リードとともに使用される。いくつかのバナナ
プラグは導体との偶然の接触を避けるために非導電性の
シュラウドを有する。シュラウドはまたより高い定格電
圧をプラグに提供するだろう。
【0003】従来のバナナプラグを有する試験リードを
用いた装置によって測定を行なうためには、使用者は、
2つの試験リードを装置の対応する2つの入力コンセン
トに接続しなければならない。従来のバナナプラグを備
えた試験リードを用いることの欠点の1つは、多くの
(少なくとも2つの)試験リードと入力コンセントとが
必要であるということである。多くの入力コンセントに
より装置の値段は上がり貴重な空間が取られる。
【0004】従来のバナナプラグはシールドされておら
ず、したがってこれらの試験リードによって行なわれる
測定は、近くの電場および磁場の影響を受けるであろ
う。その結果、低振幅または高周波の信号の測定は、典
型的には、シールドされた試験リードを用いて行なわれ
る。同軸ケーブルのような従来のシールドされた試験リ
ードは、バナナプラグを用いた試験リードに比べより低
い電圧で使用するよう典型的に格付けされた小型配電ケ
ーブル用接続器(BNC接続器)を使用している。より
高い電圧が存在する場所で用いるときには、信号を10
または100の係数で減衰するシールドされたプローブ
が、BNC接続器および入力コンセントにおいて存在す
る電圧レベルを減じるために使用されるだろう。減衰器
プローブはシールドされていないリードおよびバナナプ
ラグと用いられる従来のプローブよりも高価である。
【0005】したがって、電子試験および測定装置とと
もに用いられ、かなり低いまたは高い電圧での応用に使
用でき、同時に通常シールドされた試験リードを必要と
する応用に使用できる試験リードが必要である。この発
明は、シールドされた試験リードバナナプラグおよびそ
れに対応する入力コンセントに向けられており、これら
の目標を達成するよう設計されている。
【0006】
【発明の概要】上述の要約から認識されるように、この
発明は電子試験および測定装置とともに使用するに適し
たシールドされたバナナプラグおよび入力コンセントを
提供する。この発明の好ましい実施例によれば、シール
ドされたバナナプラグは内部導体と、内部導体と同心で
あり、かつそれから間隔をおいて配置された非導電性内
部シュラウドとを含む。内部シュラウドは内部導体の外
側にあり、内部導体の先端を超えて延びている。導電性
シールドは第1の非導電性シュラウドと同心でありその
外部にあり、内部シュラウドの端から引っ込んでいる。
非導電性外部シュラウドはシールドから間隔をおいて配
置され、それと同心であり、内部導体の先端を超えて延
びている。入力コンセントは内部導体を受けるための導
電性内部スリーブと、内部スリーブと同心でありその外
側にあり、内部スリーブを超えて延びている非導電性シ
ースと、導電性シールドを受けるための導電性外部スリ
ーブとを含む。入力コンセントはまた従来のシールドさ
れていないバナナプラグとの組合せにも適している。
【0007】この要約から認識されるように、この発明
は試験および測定装置とともに使用するに適したシール
ドされたバナナプラグおよび両立できる入力コンセント
を提供する。
【0008】この発明の上述の、および他の利点は、付
した図とともに、以下の好ましい実施例の以下の説明を
参照すると、よりよく理解され、より容易に認識される
であろう。
【0009】
【詳細な説明】図1は、側断面図において、先行技術の
バナナプラグ10および入力コンセント12を示す。プ
ラグ10の一方端はケーブル14と接続され、試験およ
び測定装置とともに使用されるのに適した試験リードの
一部を形成している。プラグ10は非導電性外部シュラ
ウド16および内部導体18を含む。内部導体18の一
方端はケーブルの導体(たとえばワイヤ)20と接続さ
れている。シュラウド16の一方端はケーブル14にお
いて終端する。シュラウド16の他方端は内部導体18
のケーブル14と反対側の端を超えて延びる。シュラウ
ド16の一部は内部導体18から間隔をあけて配置され
ている。
【0010】入力コンセント12は導電性内部スリーブ
22を含み、これは一方端で開放され他方端で装置の回
路と接続されている。スリーブ22はその側部を非導電
性シュラウド24によって囲まれている。シュラウド2
4の一方端は開放で、スリーブ22の開放端へと延びて
いる。図1に示されるコンセントは装置ハウジングまた
はケース26の中に引っ込んでいる。ケース26はスリ
ーブ22およびシュラウド24の開放端近くに開口部を
含む。ケースの一部はシュラウドから間隔をおいて配置
されており、よってシュラウド24とケース26との間
に空洞が形成されている。
【0011】プラグとコンセントとは組合せられたとき
(示されていない)、コンセント12がプラグ10を受
けるような寸法を有している。内部導体18はスリーブ
22に受けられ、これと電気的に接触する。シュラウド
24はプラグ10の内部導体18とシュラウド16との
間の空洞に受けられる。したがってプラグが完全にコン
セントに固定されるとき、試験リードケーブルは装置の
測定回路と電気的に接続される。プラグ10とコンセン
ト12が接続されていないときは、またはそれらが接続
されようとするときは、シュラウド16、24およびケ
ース26は使用者がプラグまたはコンセントの導電性部
分に触れないようにすることである程度の安全を提供す
る。
【0012】図2は側断面図において、この発明の好ま
しい実施例によるシールドされたバナナプラグ30およ
び入力コンセント32を示している。プラグ30は内部
導体34および非導電性内部シュラウド36を含み、非
導電性内部シュラウド36の一部は内部導体34から間
隔をあけて配置されている。内部導体は導電性で、シー
ルドされた試験リード40の導体(たとえばワイヤ)3
8と接続するための第1の端を含む。内部シュラウド3
6は内部導体34を取囲み、内部導体34の第1の端に
近接して第1の端を含む。シュラウドの第2の端を含む
内部シュラウド36の一部は内部導体34の側部から間
隔をあけて配置されており、内部導体の第2の端を超え
て延びている。導電性シールド42は非導電性シュラウ
ド36の外部表面に隣接している。シールド42の第1
の端は試験リード40のシールドと接続されてもよい。
シールド42の第2の端はシュラウド36の第2の端よ
りも短く終端している。非導電性外部シュラウド44は
シールド42を取囲み、シールド42の外部表面に近接
して第1の端を含む。シュラウドの第2の端を含む外部
シュラウド44の一部はシールド42の側部から間隔を
あけて配置されており、内部シュラウド36の第2の端
に延びている。
【0013】入力コンセントは第1の端で開放の導電性
の内部スリーブ50を含む。内部スリーブ50の第2の
端は装置の回路と接続されてもよい。非導電性シュラウ
ド52はスリーブ50を囲み、スリーブ50の第1の開
放端を超えて延びる第1の端を有する。導電性の外部ス
リーブ54はシュラウド52を取囲み、それから間隔を
あけて配置されている。外部スリーブ54は第1の端で
開放であり、この端はシュラウド52の開放端よりも短
く終端している。図2に示されているように入力コンセ
ント32は装置のハウジングまたはケース56の中に引
っ込んでいる。ケース56はスリーブ50およびシュラ
ウド52の開放端の近くに開口部を含む。ケースの一部
は外部スリーブ54から間隔をあけて配置され、それに
よってスリーブ54とケース56との間に空洞を形成し
ている。
【0014】図3で示されているように、プラグ30お
よびコンセント32は、組合されたときにコンセント3
2がプラグ30を受けるような寸法を有している。内部
導体34は内部スリーブ50によって受けられ、これと
電気的に接触する。プラグの内部シュラウド36および
シールド42は、コンセントのシュラウド52およびス
リーブ54の間の空洞によって受けられる。外部シュラ
ウド44はケース56と外部スリーブ54によって形成
される空洞の中に受けられる。シールド42は外部スリ
ーブ54と電気的に接触している。このようにしてプラ
グ30が完全にコンセント32に固定されたとき、試験
リードケーブルの導体およびシールドは装置の回路に電
気的に接続される。プラグ30およびコンセント32が
接続されていないとき、または接続されようとするとき
は、プラグ30のシュラウド36および44、ならびに
コンセント32のシュラウド52およびケース56によ
って使用者がプラグまたはコンセントの導電性部分に触
れることを防ぎ、それによってある程度の安全が提供さ
れる。
【0015】図4(A)および(B)に移ると、コンセ
ント32およびシールドされたプラグ30が端面図で示
されている。好ましい実施例により、そして図4(A)
および(B)に示されているように、シールドされたバ
ナナプラグ30および入力コンセント32はその端面図
において円形であり、一般に導電性のおよび非導電性の
材料からなる同心の円を含む。
【0016】図4(A)のコンセント32の中央から始
めて、外側に向かって進んでいくと、内部スリーブ50
がシュラウド52に取囲まれている。外部スリーブ54
は内部スリーブ50と同心であり、シュラウド52の外
部にあり、それから間隔をあけて配置されている。好ま
しい実施例によれば、外部スリーブ54は分割されて2
つの部分を形成する。分割されたスリーブ54により装
置回路への多数の帰路が可能となり、装置が付加的な情
報、たとえば試験リードがコンセントに差込まれている
かどうかといった情報を処理することを可能にする。し
かしながら、スリーブ54が分割されているという特徴
はこの発明の重要な構成要件ではない。最後にケース5
6はスリーブ54と同心であり、それから間隔をあけて
配置されている。
【0017】プラグ30に移ると、図4(B)に示され
ているように、内部導体34はプラグ30の中心部にあ
る。内部シュラウド36は内部導体と同心であり、それ
から間隔をあけて配置されている。導電性シールド42
は内部シュラウド36と同心であり、それを囲んでい
る。外部シュラウド44はシールド42と同心であり、
それから間隔をあけて配置されている。
【0018】入力コンセント32はまた従来のシールド
されていないバナナプラグを受けるのにも適している。
この特徴は図5に最もよく示されている。従来のシール
ドされていないバナナプラグ10の内部導体18は、内
部スリーブ50によって受けられ、そしてそれと電気的
に接触する。プラグ10のシュラウド16はコンセント
32の外部スリーブ54と内部スリーブ52との間の空
洞によって受けられる。したがって、この発明による入
力コンセントを有する装置は、従来のバナナプラグまた
はこの発明のシールドされたバナナプラグのいずれを有
する試験リードでも使用できる。
【0019】好ましい実施例が示され説明されてきた
が、この発明の精神および範囲をそれることなくさまざ
まな変更がなされ得ることは理解されるであろう。たと
えば、入力コンセントとシールドされたバナナプラグ
は、それらが組合せられるように、適合する形および寸
法を有していなければならないが、必ずしも円形の断面
を有しなくてもよい。さらにプラグおよびコンセントの
さまざまな部品の間の相対的な間隔は、示され説明され
たのとは異なっていてもよい。内部導体は説明を明瞭に
するために中実のものとして説明されているが、中実ま
たは中空であってよい。結果的に、この発明は特にここ
で説明されたのとは別の形で実現することもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】先行技術におけるバナナプラグおよび入力コン
セントの側断面図である。
【図2】この発明によるシールドされたバナナプラグお
よび入力コンセントの側断面図である。
【図3】図2のシールドされたバナナプラグおよび入力
コンセントを組合せられた関係において示した側断面図
である。
【図4】(A)および(B)は図2の入力コンセントお
よびシールドされたバナナプラグのそれぞれの端面図で
ある。
【図5】従来のシールドされていないバナナプラグと、
この発明による入力コンセントとを組合せた側断面図で
ある。
【符号の説明】
30 シールドされたバナナプラグ 32 入力コンセント 34 内部導体 36 非導電性内部シュラウド 42 導電性シールド 44 非導電性外部シュラウド 50 導電性内部スリーブ 52 非導電性シュラウド 54 導電性外部スリーブ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 装置と試験リードとの接続装置であっ
    て、 (a) 内部導体と、前記内部導体から間隔をあけて配
    置される第1のシュラウドと、前記内部シュラウドを囲
    む導電性シールドと、前記シールドから間隔をあけて配
    置される第2のシュラウドとを有する、シールドされた
    バナナプラグ、および、 (b) 前記内部導体を受けるための開放端を有する内
    部スリーブと、前記内部スリーブを実質的に囲む非導電
    性シュラウドと、入力コンセントに前記プラグが挿入さ
    れるとき、前記導電性シールドを係合するための前記非
    導電性シュラウドを実質的に取囲み、それから間隔をあ
    けて配置された導電性シュラウドとを有する、入力コン
    セントを含む、装置と試験リードとのための接続装置。
  2. 【請求項2】 前記シールドされたバナナプラグの前記
    第1のシュラウドが前記内部導体の端を超えて延びる、
    請求項1に記載の接続装置。
  3. 【請求項3】 前記シールドされたバナナプラグの前記
    導電性シールドが前記内部シュラウドの端よりも短く終
    端する、請求項2に記載の接続装置。
  4. 【請求項4】 前記シールドされたバナナプラグの前記
    第2のシュラウドが前記導電性シールドの端を超えて延
    びる、請求項3に記載の接続装置。
  5. 【請求項5】 前記入力コンセントの前記非導電性シュ
    ラウドが前記内部スリーブの前記開放端を超えて延び
    る、請求項4に記載の接続装置。
  6. 【請求項6】 前記内部導体と、第1のシュラウドと、
    導電性シールドと、第2のシュラウドとが実質的に同軸
    である、請求項1に記載の接続装置。
  7. 【請求項7】 前記内部スリーブと、非導電性シュラウ
    ドと、導電性シュラウドとが実質的に同軸である、請求
    項6に記載の接続装置。
JP07160597A 1996-04-30 1997-03-25 測定装置と試験リードとの接続装置 Expired - Lifetime JP3172690B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/640387 1996-04-30
US08/640,387 US5703324A (en) 1996-04-30 1996-04-30 Shielded banana plug with double shroud and input receptacle

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JPH1038914A true JPH1038914A (ja) 1998-02-13
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EP (1) EP0805526B1 (ja)
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