JPH0835987A - プローブ - Google Patents
プローブInfo
- Publication number
- JPH0835987A JPH0835987A JP16941094A JP16941094A JPH0835987A JP H0835987 A JPH0835987 A JP H0835987A JP 16941094 A JP16941094 A JP 16941094A JP 16941094 A JP16941094 A JP 16941094A JP H0835987 A JPH0835987 A JP H0835987A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- transformer
- grounding line
- suppressed
- line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数のプローブを多チャンネルオシロスコー
プで測定する場合、それぞれのプローブのアース線間に
電流が流れ干渉し振動波形が測定信号に重畳されて測定
誤差となることがあり、これを軽減することと目的とす
る。 【構成】 プローブのオシロスコープ本体側の終端ボッ
クス内の基板上にコモンモードトランスを挿入し、プロ
ーブのアース線を経由して流れようとする高周波電流、
特にパルス性のノイズ電流を抑圧する。
プで測定する場合、それぞれのプローブのアース線間に
電流が流れ干渉し振動波形が測定信号に重畳されて測定
誤差となることがあり、これを軽減することと目的とす
る。 【構成】 プローブのオシロスコープ本体側の終端ボッ
クス内の基板上にコモンモードトランスを挿入し、プロ
ーブのアース線を経由して流れようとする高周波電流、
特にパルス性のノイズ電流を抑圧する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は例えばオシロスコープ等
の測定器に使用するプローブの改良に関するものであ
る。
の測定器に使用するプローブの改良に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来は図３に示すようにプローブ側のア
ースと本体側のアースは直接接続されている。同図で
２′はボックス内基板、３は接栓、４はプローブチッ
プ。
ースと本体側のアースは直接接続されている。同図で
２′はボックス内基板、３は接栓、４はプローブチッ
プ。
【０００３】例えば２ｃｈ入力を備えたオシロスコープ
の例を図２に示す。同図において、１はプローブボック
ス、５はプローブ本体、１１は被測定基板、１２はオシ
ロスコープである。このように同じ被測定回路基板上の
２点の信号を同時に観測する場合、２つの測定点のアー
ス点Ａ、Ｂにプローブのアースリードを接続するとプロ
ーブを経由したアースループが形成される。被測定回路
内のアースのインピーダンスが高いなどの影響でアース
点Ａ、Ｂ間に電位差を生じ、２本のプローブ間に電流ｉ
が流れると、プローブから本体までのアース線のインピ
ーダンスによって測定点Ａ、Ｂと本体間に電位差を生
じ、信号に加算される形となり、測定誤差となる。この
電流ｉはディジタル回路を含む場合、高周波のパルス電
流が多く、プローブのアース線の共振振動として現われ
る場合が多い。
の例を図２に示す。同図において、１はプローブボック
ス、５はプローブ本体、１１は被測定基板、１２はオシ
ロスコープである。このように同じ被測定回路基板上の
２点の信号を同時に観測する場合、２つの測定点のアー
ス点Ａ、Ｂにプローブのアースリードを接続するとプロ
ーブを経由したアースループが形成される。被測定回路
内のアースのインピーダンスが高いなどの影響でアース
点Ａ、Ｂ間に電位差を生じ、２本のプローブ間に電流ｉ
が流れると、プローブから本体までのアース線のインピ
ーダンスによって測定点Ａ、Ｂと本体間に電位差を生
じ、信号に加算される形となり、測定誤差となる。この
電流ｉはディジタル回路を含む場合、高周波のパルス電
流が多く、プローブのアース線の共振振動として現われ
る場合が多い。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前述の従来のプローブ
では、複数のプローブで多チャンネルを測定する場合、
それぞれのプローブのアース線間に電流が流れ干渉し、
共振振動などを生じ測定誤差を生じるという欠点があっ
た。
では、複数のプローブで多チャンネルを測定する場合、
それぞれのプローブのアース線間に電流が流れ干渉し、
共振振動などを生じ測定誤差を生じるという欠点があっ
た。
【０００５】本発明の第１の目的はこれらの不要な干渉
や共振などのノイズを減少させ、測定精度を向上させる
ことにある。また、第２の目的は、オシロスコープ本体
のアースを経由し、プローブのアース線をアンテナとし
て放射する不要電波を抑制することにある。
や共振などのノイズを減少させ、測定精度を向上させる
ことにある。また、第２の目的は、オシロスコープ本体
のアースを経由し、プローブのアース線をアンテナとし
て放射する不要電波を抑制することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は第１、第２の目
的を達成するため、プローブの終端部のボックス内に本
体側のアースと測定側アースを分離するコモンモードチ
ョークコイルを挿入したものである。
的を達成するため、プローブの終端部のボックス内に本
体側のアースと測定側アースを分離するコモンモードチ
ョークコイルを挿入したものである。
【０００７】
【作用】その結果、オシロスコープ本体側のアースとプ
ローブ側のアースは高周波では分離され、複数のチャネ
ルのプローブのアース線を経由した電流は抑制すること
ができる。
ローブ側のアースは高周波では分離され、複数のチャネ
ルのプローブのアース線を経由した電流は抑制すること
ができる。
【０００８】また、信号波形は差動電流としてコモンモ
ードチョーク内を流れるので、大きな影響を受けること
はない。
ードチョーク内を流れるので、大きな影響を受けること
はない。
【０００９】
【実施例】以下この発明の一実施例を図１により説明す
る。１はプローブの終端ボックス、２はその終端回路を
搭載する基板、３はオシロスコープ本体との接続用接栓
である。ボックス内の基板２の入力側にコモンモードチ
ョークトランスＴを設ける。プローブ本体５のアースリ
ード６から高周波電流ｉが流れようとするとこのトラン
スＴにより抑制され流れにくくなる。一方、信号成分は
差動電流としてトランスＴを通過するので、トランスを
挿入したことによる影響はほとんどない。
る。１はプローブの終端ボックス、２はその終端回路を
搭載する基板、３はオシロスコープ本体との接続用接栓
である。ボックス内の基板２の入力側にコモンモードチ
ョークトランスＴを設ける。プローブ本体５のアースリ
ード６から高周波電流ｉが流れようとするとこのトラン
スＴにより抑制され流れにくくなる。一方、信号成分は
差動電流としてトランスＴを通過するので、トランスを
挿入したことによる影響はほとんどない。
【００１０】使用するトランスは外径５ｍｍ程度のトロ
イダルコアに数回ツイスト線もしくは平行線を巻いたも
ので良く、数ＭＨｚ以上の振動成分が抑圧できれば良
い。
イダルコアに数回ツイスト線もしくは平行線を巻いたも
ので良く、数ＭＨｚ以上の振動成分が抑圧できれば良
い。
【００１１】
【発明の効果】本発明によって複数の被測定信号を多チ
ャンネルオシロスコープで観測する場合のプローブのア
ースループによる干渉、高周波ノイズでの混入を抑圧す
ることができ小型のトロイダルコアに数回巻いた程度の
コモンモードトランスを挿入するだけで数ＭＨｚ以上の
高周波パルスノイズなどを除去できる。
ャンネルオシロスコープで観測する場合のプローブのア
ースループによる干渉、高周波ノイズでの混入を抑圧す
ることができ小型のトロイダルコアに数回巻いた程度の
コモンモードトランスを挿入するだけで数ＭＨｚ以上の
高周波パルスノイズなどを除去できる。
【００１２】また、オシロスコープ本体のアースを通じ
放射する不要輻射電波は、プローブやインターフェース
ケーブルなどのケーブルを接続した場合にそのケーブル
の長さによって共振しアンテナとなって増強されるが、
本発明により追加したコモンモードチョークコイルの効
果により、プローブのアースラインに流れ出す電流も抑
制され、その結果プローブを接続したことによる不要電
波の放射を抑制することができる。
放射する不要輻射電波は、プローブやインターフェース
ケーブルなどのケーブルを接続した場合にそのケーブル
の長さによって共振しアンテナとなって増強されるが、
本発明により追加したコモンモードチョークコイルの効
果により、プローブのアースラインに流れ出す電流も抑
制され、その結果プローブを接続したことによる不要電
波の放射を抑制することができる。
【図１】本発明の一実施例を示す回路図。
【図２】従来の測定例を示す接続図。
【図３】従来のプローブ回路図。
１ プローブボックス ２ 基板 ３ 接栓 ４ プローブチップ ５ プローブ本体 ７ プローブ同軸ケーブル ８、９ 抵抗 １０ 補償用可変コンデンサ １１ 被測定基板 １２ オシロスコープ Ｔ コモンモードチョークトランス ＲG 被測定回路のアースインピンダンス ＶN 被測定回路のアースノイズ電圧
Claims (2)
- 【請求項１】 測定用プローブの測定器側接栓部の終端
回路部に、プローブ側の信号線とアース線を入力端子と
し、その出力端を測定器本体の信号線とアース線にそれ
ぞれ接続したコモンモードトランスを設けたことを特徴
とするプローブ。 - 【請求項２】 請求項１のコモンモードトランスをオシ
ロスコープ用プローブの終端ボックス内に設けたことを
特徴とするプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16941094A JPH0835987A (ja) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16941094A JPH0835987A (ja) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | プローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0835987A true JPH0835987A (ja) | 1996-02-06 |
Family
ID=15886088
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16941094A Pending JPH0835987A (ja) | 1994-07-21 | 1994-07-21 | プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0835987A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7355420B2 (en) | 2001-08-21 | 2008-04-08 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
| US7420381B2 (en) | 2004-09-13 | 2008-09-02 | Cascade Microtech, Inc. | Double sided probing structures |
| US7492172B2 (en) | 2003-05-23 | 2009-02-17 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
| CN103675367A (zh) * | 2012-09-25 | 2014-03-26 | Vega格里沙贝两合公司 | 包括终端电阻器的同轴探针 |
| CN104076210A (zh) * | 2013-03-25 | 2014-10-01 | 深圳市祈飞科技有限公司 | 纹波噪声测试装置 |
| US9429638B2 (en) | 2008-11-21 | 2016-08-30 | Cascade Microtech, Inc. | Method of replacing an existing contact of a wafer probing assembly |
-
1994
- 1994-07-21 JP JP16941094A patent/JPH0835987A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7355420B2 (en) | 2001-08-21 | 2008-04-08 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
| US7492175B2 (en) | 2001-08-21 | 2009-02-17 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
| US7492172B2 (en) | 2003-05-23 | 2009-02-17 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
| US7876115B2 (en) | 2003-05-23 | 2011-01-25 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
| US7420381B2 (en) | 2004-09-13 | 2008-09-02 | Cascade Microtech, Inc. | Double sided probing structures |
| US9429638B2 (en) | 2008-11-21 | 2016-08-30 | Cascade Microtech, Inc. | Method of replacing an existing contact of a wafer probing assembly |
| US10267848B2 (en) | 2008-11-21 | 2019-04-23 | Formfactor Beaverton, Inc. | Method of electrically contacting a bond pad of a device under test with a probe |
| CN103675367A (zh) * | 2012-09-25 | 2014-03-26 | Vega格里沙贝两合公司 | 包括终端电阻器的同轴探针 |
| US9709430B2 (en) | 2012-09-25 | 2017-07-18 | Vega Grieshaber Kg | Coaxial probe comprising terminating resistor |
| CN103675367B (zh) * | 2012-09-25 | 2018-02-27 | Vega格里沙贝两合公司 | 包括终端电阻器的同轴探针 |
| CN104076210A (zh) * | 2013-03-25 | 2014-10-01 | 深圳市祈飞科技有限公司 | 纹波噪声测试装置 |
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